CN115015661A - 射频电磁场抗扰度测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及通讯检测的领域，尤其是涉及一种射频电磁场抗扰度测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括获取预设的目标区域对应的干扰信息，目标区域为电子产品的销售地区，干扰信息包括干扰频率区间、干扰强度以及干扰密度；基于干扰信息生成至少两个测试信号，之后基于所有测试信号对电子产品进行测试。本申请能够提高射频电磁场辐射抗扰度测试结果的可靠性。

Description

射频电磁场抗扰度测试方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本申请涉及通讯检测的领域，尤其是涉及一种射频电磁场抗扰度测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

现代环境中处处充斥着电磁杂讯，80MHz~2000MHz以上频率范围内射频辐射源产生的电磁场，比如电台、电视台、固定或移动式无线电发射台以及各种工业辐射源产生的电磁场；在该电磁场中运行的电气、电子产品会受到该电磁场的作用，从而影响设备的正常运行，因此各类电子产品出厂销往目的地区之前，需要进行电磁兼容性测试(EMC)。

射频电磁场辐射抗扰度测试是对电气、电子产品进行测试，看射频电磁场辐射时的产品的性能。此项测试需要在符合国际及国家标准的电波暗室中进行，通常在测试时，均是采用某一个固定的电磁信号频段进行测试，但是在实际中，不同地区之间的电磁干扰类型也不尽相同，因此电子产品遇到的干扰源也可能是多样的，这就导致测试结果的可靠性较低。

发明内容

为了提高射频电磁场辐射抗扰度测试结果的可靠性，本申请提供一种射频电磁场抗扰度测试方法、装置、电子设备及存储介质。

第一方面，本申请提供一种射频电磁场抗扰度测试方法、装置、电子设备及存储介质，采用如下的技术方案：

射频电磁场抗扰度测试方法，包括：

获取预设的目标区域对应的干扰信息，所述目标区域为电子产品的销售地区，所述干扰信息包括干扰频率区间、干扰强度以及干扰密度；

基于所述干扰信息生成至少两个测试信号；

基于所有所述测试信号对电子产品进行测试。

通过采用上述技术方案，电子设备获取需要测试的电子产品的销售的目标区域的干扰信息后，基于干扰信息生成符合目标区域环境的测试信息对该批次的电子产品进行测试，使得销售到不同地区的电子产品均能有针对性的测试信号，提高了测试结果的可靠性；同时测试信号至少有两组，同样也能够使得对电子产品的测试结果的可靠性更高。

在一种可能实现的方式中，基于所述干扰信息生成至少两个测试信号，包括：

基于所述干扰频率区间确定测试频率区间；

基于所述干扰强度确定测试强度，所述测试强度大于等于所述干扰强度；

基于所述干扰密度确定测试密度，所述测试密度大于等于所述干扰密度；

基于所述测试频率区间、所述测试强度以及所述测试密度生成至少两个测试信号。

通过采用上述技术方案，测试频率区间和干扰频率区间相同，以使得测试环境更接近目标区域的干扰环境；测试密度大于等于干扰密度，以及测试强度大于等于干扰强度，使得测试强度不小于目标区域实际的干扰程度，以使得测试结果更准确可靠。

在一种可能实现的方式中，所述基于所述测试频率区间、所述测试强度以及所述测试密度生成至少两个测试信号，包括：

从所述测试频率区间内随机确定至少两个固定频率或者至少两个频率子区间；

基于每个所述固定频率或者每个所述频率子区间生成测试信号，每个所述测试信号的强度均为所述测试强度。

在一种可能实现的方式中，所述基于所有所述测试信号对电子产品进行测试，包括：

基于预设的随机排序算法对所有所述测试信号进行排序，得到测试顺序表；

基于所有所述测试信号按照所述测试顺序表对所述电子电子产品进行测试。

通过采用上述技术方案，通过对测试信号进行随机排序，能够减少测试顺序这个变量对测试结果的影响，便于测试结果的可靠性。

在一种可能实现的方式中，判断所述测试强度是否大于预设的第一阈值；

若是，则确定每个所述测试信号的测试周期为第一时长；

若否，则确定每个所述测试信号的测试周期为第二时长，所述第一时长大于所述第二时长。

通过采用上述技术方案，测试强度大于第一阈值时，说明测试强度较高，因此对其进行更长时间的测试，即第一时长，便于得到更可靠的结果；测试强度小于第一阈值时，说明测试强度较低，因此测试的时间也就相对较短，即为第二时长。

在一种可能实现的方式中，在获取预设的目标区域对应的干扰信息，之前还包括：

生成预设的校准信号并控制预设设备输出；

获取测试环境针对所述校准信号反馈的反馈信号，基于所述反馈信号以及预设标准判断测试环境是否合格。

通过采用上述技术方案，在测试之前，电子设备生成校准信号控制预设设备输出，通过反馈信号以及预设标准来判断测试环境是否合格，进而能够在测试之前知晓测试环境是否合格，以减少在不合格的环境下进行测试的情况发生。

在一种可能实现的方式中，所述方法还包括：

从历史测试记录中获取标记信号，所述标记信号为能够使预设数量的电子产品异常的测试信号；

将所述标记信号补充至所述测试信号中。

通过采用上述技术方案，从历史测试记录中获取引起多个电子蟾片故障的标记信号，进而将标记信号作为新的测试信号进行测试，以测试当前的电子产品在标记信号下的状态，进而便于使得测试结果更可靠。

第二方面，本申请提供一种射频电磁场抗扰度测试装置，采用如下的技术方案：

一种射频电磁场抗扰度测试装置，包括：

干扰信息获取模块，用于获取预设的目标区域对应的干扰信息，所述目标区域为电子产品的销售地区，所述干扰信息包括干扰频率区间、干扰强度以及干扰密度；

生成模块，用于基于所述干扰信息生成至少两个测试信号；

测试模块，用于基于所有所述测试信号对电子产品进行测试。

通过采用上述技术方案，该装置获取需要测试的电子产品的销售的目标区域的干扰信息后，基于干扰信息生成符合目标区域环境的测试信息对该批次的电子产品进行测试，使得销售到不同地区的电子产品均能有针对性的测试信号，提高了测试结果的可靠性；同时测试信号至少有两组，同样也能够使得对电子产品的测试结果的可靠性更高。

在一种可能实现的方式中，当生成模块基于所述干扰信息生成至少两个测试信号时，具体用于：

基于所述干扰频率区间确定测试频率区间；

基于所述干扰强度确定测试强度，所述测试强度大于等于所述干扰强度；

基于所述干扰密度确定测试密度，所述测试密度大于等于所述干扰密度；

基于所述测试频率区间、所述测试强度以及所述测试密度生成至少两个测试信号。

在一种可能实现的方式中，当生成模块基于所述测试频率区间、所述测试强度以及所述测试密度生成至少两个测试信号时，具体用于：

从所述测试频率区间内随机确定至少两个固定频率或者至少两个频率子区间；

基于每个所述固定频率或者每个所述频率子区间生成测试信号，每个所述测试信号的强度均为所述测试强度。

在一种可能实现的方式中，当测试模块基于所有所述测试信号对电子产品进行测试时，具体用于：

基于预设的随机排序算法对所有所述测试信号进行排序，得到测试顺序表；

基于所有所述测试信号按照所述测试顺序表对所述电子产品进行测试。

在一种可能实现的方式中，所述装置还包括：

判断模块，用于判断所述测试强度是否大于预设的第一阈值；

第一确定模块，用于确定每个所述测试信号的测试周期为第一时长；

第二确定模块，用于确定每个所述测试信号的测试周期为第二时长，所述第一时长大于所述第二时长。

在一种可能实现的方式中，所述装置还包括：

输出模块，用于生成预设的校准信号并控制预设设备输出；

反馈信号获取模块，用于获取测试环境针对所述校准信号反馈的反馈信号，基于所述反馈信号以及预设标准判断测试环境是否合格。

在一种可能实现的方式中，所述装置还包括：

标记信号获取模块，用于从历史测试记录中获取标记信号，所述标记信号为能够使预设数量的电子产品异常的测试信号；

补充模块，用于将所述标记信号补充至所述测试信号中。

第三方面，本申请提供一种电子设备，采用如下的技术方案：

一种电子设备，该电子设备包括：

至少一个处理器；

存储器；

至少一个应用程序，其中所述至少一个应用程序被存储在存储器中并被配置为由至少一个处理器执行，所述至少一个应用程序配置用于：执行上述射频电磁场抗扰度测试方法。

第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，采用如下的技术方案：

一种计算机可读存储介质，包括：存储有能够被处理器加载并执行上述射频电磁场抗扰度测试方法的计算机程序。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

电子设备获取需要测试的电子产品的销售的目标区域的干扰信息后，基于干扰信息生成符合目标区域环境的测试信息对该批次的电子产品进行测试，使得销售到不同地区的电子产品均能有针对性的测试信号，提高了测试结果的可靠性；同时测试信号至少有两组，同样也能够使得对电子产品的测试结果的可靠性更高；

测试频率区间和干扰频率区间相同，以使得测试环境更接近目标区域的干扰环境；测试密度大于等于干扰密度，以及测试强度大于等于干扰强度，使得测试强度不小于目标区域实际的干扰程度，以使得测试结果更准确可靠；

通过对测试信号进行随机排序，能够减少测试顺序这个变量对测试结果的影响，便于测试结果的可靠性。

附图说明

图1是本申请实施例中射频电磁场抗扰度测试方法的流程示意图；

图2是本申请实施例中射频电磁场抗扰度测试装置的结构示意图；

图3是本申请实施例中电子设备的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图1-附图3对本申请作进一步详细说明。

本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本申请的权利要求范围内都受到专利法的保护。

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

另外，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，如无特殊说明，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

通常，由于电子产品的生产和设计是针对特定区域进行的，例如，智能手机有针对中国地区生产销售的，也有针对欧洲地区生产销售的，还有针对美洲地区生产销售的。由于不同地区的通信频段和网络制式存在差异，因此针对不通区域生产销售的电子产品的通信芯片和规格也有不同，同时不通区域的电磁信号干扰的类型也存在不同，这就导致了在相关技术中，对所有区域的电子产品进行统一固定的出厂的抗干扰测试的结果不太可靠。

本申请实施例提供了一种射频电磁场抗扰度测试方法，由处理器执行，参照图1该方法包括步骤S101-步骤S103，其中：

步骤S101、获取预设的目标区域对应的干扰信息，目标区域为电子产品的销售地区，干扰信息包括干扰频率区间、干扰强度以及干扰密度。

在本申请实施例中，目标区域对应的干扰信息可以是获取本地预存储的，也可以是通过互联网进行下载得到的。其中，干扰信息应该是通过在目标区域内，对预设周期内的干扰情况进行监测和分析得到的。例如，对于干扰频率区间，首先划分多个子频率区间，统计每个子频率区间干扰的时长，当子频率区间干扰超过预设时长时，才能被确定为有效干扰频率区间，也即干扰信息中的干扰频率区间可以包括多个有效区间；进一步地，在目标区域的多个地方设置干扰强度检测装置，筛除两端的极值强度，进而基于测量的干扰强度确定该地区的平均干扰强度为干扰信息中的干扰强度。进一步地，将设置的干扰强度的检测点位在目标区域的电子地图上进行标记，然后对每个检测点位的干扰强度以及能够影响的范围进行模拟，进而得到主要的干扰源存在的区域，进而给予目标区域的电子地图和干扰源的数量，能够得出目标区域的干扰密度。

步骤S102、基于干扰信息生成至少两个测试信号；

在本申请实施例中，基于目标区域的干扰信息生成至少两个测试信号，对于测试信号的具体数量本申请实施例中不进行具体限制。

步骤S103、基于所有测试信号对电子产品进行测试。

在本申请实施例中，通过设置至少两个测试信号，使得电子产品能够在更接近目标区域的真实干扰环境下进行测试，进而便于得到电子产品在销售的目标区域内更可靠的抗干扰测试结果。

进一步地，射频电磁场辐射抗扰度测试需要在标准的电波暗室中进行，为了确保测试环境符合相关标准，在步骤S101之前，还包括前置步骤ST1和步骤ST2，其中：

步骤ST1、生成预设的校准信号并控制预设设备输出；

步骤ST2、获取测试环境针对校准信号反馈的反馈信号，基于反馈信号以及预设标准判断测试环境是否合格。

具体地，标准信号可以保多个频率的信号区间，也可以为一个额特定频率的信号。在本申请实施例中，通过生成校准信号并在预设的位置发射，使得校准信号作用于测试环境内，同时，在特定位置接收测试环境反射回来的反馈信号，通过对反馈信号的频率以及强度和校准信号相比较，并且结合预设标准即可判断当前的测试环境是否合格。在测试环境不合格时，应该生成提示信息进行警示，以减少在不合格环境下进行测试的几率，进而便于得到更可靠的测试结果。

进一步地，为了提升射频电磁场抗扰度测试的结果的可靠性，在每次进行新的测试时，需要对之前历史的测试数据进行分析统计。本申请实施例中，射频电磁场抗扰度测试方法还包括步骤SN1（图中未示出）和步骤SN2（图中未示出），其中：

步骤SN1、从历史测试记录中获取标记信号，标记信号为能够使预设数量的电子产品异常的测试信号。

具体地，历史记录应该至少包括一个批次的电子产品的测试记录，标记信号是在任一个批次的测试记录中，能够使预设数量的电子产品异常的测试信号。对于预设数量，本申请实施例中不进行具体限定。例如在一个批次的测试中，测试了1W台电子产品，当有大于100台电子产品均在一个测试信号下出现异常，则该信号被确定为标记信号。

步骤SN2、将标记信号补充至测试信号中。

进一步地，在步骤S102中基于目标区域的干扰信息确定了至少两个测试信号，若在步骤SN1中确定了存在标记信号，则将标记信号作为本次测试的一个新的测试信号，以测试电子产品的性能。

进一步地，步骤S102可以包括步骤S1021（图中未示出）-步骤S1024（图中未示出），其中：

步骤S1021、基于干扰频率区间确定测试频率区间。

具体地，干扰频率区间可以是一个连续的区间，也可以是包括多个子区间的区间集合。为了保证变量相同，测试频率区间应该和干扰频率区间相同。

步骤S1022、基于干扰强度确定测试强度，测试强度大于等于干扰强度；

步骤S1023、基于干扰密度确定测试密度，测试密度大于等于干扰密度。

具体地，干扰强度是一个变量，且应该是随着干扰频率变化的量。即将干扰频率为横坐标，以干扰强度为纵坐标，可以作出干扰频率和干扰强度对应的变化曲线。在现实中，干扰频率区间是相对稳定的，但是干扰强度和干扰密度的波动幅度较大，因此，实际测试所用的测试强度和测试密度均应大于对应的干扰强度和干扰密度。

步骤S1024、基于测试频率区间、测试强度以及测试密度生成至少两个测试信号。

具体地，步骤S1024可以包括步骤SA和步骤SB，其中：

步骤SA、从测试频率区间内随机确定至少两个固定频率或者至少两个频率子区间；

步骤SB、基于每个固定频率或者每个频率子区间生成测试信号，每个测试信号的强度均为测试强度。

具体地，若测试频率区间为一个连续的区间，则通过随机算法确定至少两个固定的频率为测试信号的频率；若测试频率区间为多个子区间，则先通过随机算法确定至少两个子区间，然后再从每个已经确定的子区间内随机确定一个固定频率作为测试信号的频率；若测试信号需求的频率不为固定频率，则直接将已经确定的子区间作为测试信号的频率区间。对于测试信号，每个测试信号的信号强度可以基于已经确定的目标区域的干扰频率和干扰强度对应的变化曲线来确定；但实际上，会存在干扰频率的强度波动较大。这种情况下，所确定的测试信号的强度波动也会较大，因此，测试得到的结果的可靠性相对较低。

进一步地，若目标区域内的干扰频率区间对应的干扰强度波动较大，则可以一个固定的信号强度生成测试信号进行测试，这个固定的信号强度可以是该干扰频率区间对应的平均强度也可以是极大值强度。

进一步地，步骤S103可以包括步骤S1031（图中未示出）和步骤S1032（图中未示出），其中：

步骤S1031、基于预设的随机排序算法对所有测试信号进行排序，得到测试顺序表；

步骤S1032、基于所有测试信号按照测试顺序表对电子产品进行测试。

具体地，不同的干扰的顺序对电子产品的影响也会有差异，例如电子产品经过一个强度较高的信号的干扰之后，其已经处于故障的边缘的不稳定状态，此时一个其他的干扰信号，即使强度不高，也可能会使得电子产品工作异常。但是这种情况在实际中出现的概率较小，在本申请实施例中，不考虑测试顺序对测试结果的影响，因此通过随机排序算法，对已经得到的所有测试信号进行排序，然后按照测试顺序表将所有的测试信号依次对电子产品进行测试，以减少顺序变量在试验中的影响。

进一步地，射频电磁场抗扰度测试方法还包括步骤SQ1（图中未示出）-步骤SQ3（图中未示出），其中：

步骤SQ1、判断测试强度是否大于预设的第一阈值；

步骤SQ2、若是，则确定每个测试信号的测试周期为第一时长；

步骤SQ3、若否，则确定每个测试信号的测试周期为第二时长，第一时长大于第二时长。

进一步地，第一阈值可以基于生活中常见的干扰信号强度进行设置，用以评定测试信号是否为常规强度。对于测试信号的测试强度，当其大于第一测试信号时，则测试信号大于常规强度，即表征该强度在实际生活中出现的场景或者区域较少，因此对于该测试信号，有必要进行更长时间的测试以测试电子产品在该测试信号下是否会出现异常。

当测试信号的测试强度小于第一阈值时，表征该测试信号为常规强度，其在实际生活中出现的场景和区域较多，因此，相应地，电子产品对常规强度的测试信号的防护手段应该更为成熟，因此其测试时间可以较短。

上述实施例从方法流程的角度介绍一种射频电磁场抗扰度测试方法，下述实施例从虚拟模块或者虚拟单元的角度介绍了一种射频电磁场抗扰度测试装置，具体详见下述实施例。

本申请实施例提供一种射频电磁场抗扰度测试装置，如图2所示，该测试装置200具体可以包括干扰信息获取模块201、生成模块202以及测试模块203，其中：

干扰信息获取模块201，用于获取预设的目标区域对应的干扰信息，目标区域为电子产品的销售地区，干扰信息包括干扰频率区间、干扰强度以及干扰密度；

生成模块202，用于基于干扰信息生成至少两个测试信号；

测试模块203，用于基于所有测试信号对电子产品进行测试。

在一种可能实现的方式中，当生成模块202基于干扰信息生成至少两个测试信号时，具体用于：

基于干扰频率区间确定测试频率区间；

基于干扰强度确定测试强度，测试强度大于等于干扰强度；

基于干扰密度确定测试密度，测试密度大于等于干扰密度；

基于测试频率区间、测试强度以及测试密度生成至少两个测试信号。

在一种可能实现的方式中，当生成模块202基于测试频率区间、测试强度以及测试密度生成至少两个测试信号时，具体用于：

从测试频率区间内随机确定至少两个固定频率或者至少两个频率子区间；

基于每个固定频率或者每个频率子区间生成测试信号，每个测试信号的强度均为测试强度。

在一种可能实现的方式中，当测试模块203基于所有测试信号对电子产品进行测试时，具体用于：

基于预设的随机排序算法对所有测试信号进行排序，得到测试顺序表；

基于所有测试信号按照测试顺序表对电子产品进行测试。

在一种可能实现的方式中，该装置200还包括：

判断模块，用于判断测试强度是否大于预设的第一阈值；

第一确定模块，用于确定每个测试信号的测试周期为第一时长；

第二确定模块，用于确定每个测试信号的测试周期为第二时长，第一时长大于第二时长。

在一种可能实现的方式中，该装置200还包括：

输出模块，用于生成预设的校准信号并控制预设设备输出；

反馈信号获取模块，用于获取测试环境针对校准信号反馈的反馈信号，基于反馈信号以及预设标准判断测试环境是否合格。

在一种可能实现的方式中，该装置200还包括：

标记信号获取模块，用于从历史测试记录中获取标记信号，标记信号为能够使预设数量的电子产品异常的测试信号；

补充模块，用于将标记信号补充至测试信号中。

本申请实施例中提供了一种电子设备，如图3所示，图3所示的电子设备300包括：处理器301和存储器303。其中，处理器301和存储器303相连，如通过总线302相连。可选地，电子设备300还可以包括收发器304。需要说明的是，实际应用中收发器304不限于一个，该电子设备300的结构并不构成对本申请实施例的限定。

处理器301可以是CPU（Central Processing Unit，中央处理器），通用处理器，DSP（Digital Signal Processor，数据信号处理器），ASIC（Application SpecificIntegrated Circuit，专用集成电路），FPGA（Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列）或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。处理器301也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器组合，DSP和微处理器的组合等。

总线302可包括一通路，在上述组件之间传送信息。总线302可以是PCI（Peripheral Component Interconnect，外设部件互连标准）总线或EISA（ExtendedIndustry Standard Architecture，扩展工业标准结构）总线等。总线302可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图3中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

存储器303可以是ROM（Read Only Memory，只读存储器）或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，RAM（Random Access Memory，随机存取存储器）或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是EEPROM（Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory，电可擦可编程只读存储器）、CD-ROM（Compact DiscRead Only Memory，只读光盘）或其他光盘存储、光碟存储（包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等）、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。

存储器303用于存储执行本申请方案的应用程序代码，并由处理器301来控制执行。处理器301用于执行存储器303中存储的应用程序代码，以实现前述方法实施例所示的内容。

其中，电子设备包括但不限于：移动电话、笔记本电脑、数字广播接收器、PDA（个人数字助理）、PAD（平板电脑）、PMP（便携式多媒体播放器）、车载终端（例如车载导航终端）等等的移动终端以及诸如数字TV、台式计算机等等的固定终端。还可以为服务器等。图3示出的电子设备仅仅是一个示例，不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。

本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，当其在计算机上运行时，使得计算机可以执行前述方法实施例中相应内容。

应该理解的是，虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，其可以以其他的顺序执行。而且，附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，其执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

以上仅是本申请的部分实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种射频电磁场抗扰度测试方法，其特征在于，包括：

获取预设的目标区域对应的干扰信息，所述目标区域为电子产品的销售地区，所述干扰信息包括干扰频率区间、干扰强度以及干扰密度；

基于所述干扰信息生成至少两个测试信号；

基于所有所述测试信号对电子产品进行测试。

2.根据权利要求1所述的一种射频电磁场抗扰度测试方法，其特征在于，基于所述干扰信息生成至少两个测试信号，包括：

基于所述干扰频率区间确定测试频率区间；

基于所述干扰强度确定测试强度，所述测试强度大于等于所述干扰强度；

基于所述干扰密度确定测试密度，所述测试密度大于等于所述干扰密度；

基于所述测试频率区间、所述测试强度以及所述测试密度生成至少两个测试信号。

3.根据权利要求2所述的一种射频电磁场抗扰度测试方法，其特征在于，所述基于所述测试频率区间、所述测试强度以及所述测试密度生成至少两个测试信号，包括：

从所述测试频率区间内随机确定至少两个固定频率或者至少两个频率子区间；

基于每个所述固定频率或者每个所述频率子区间生成测试信号，每个所述测试信号的强度均为所述测试强度。

4.根据权利要求1所述的一种射频电磁场抗扰度测试方法，其特征在于，所述基于所有所述测试信号对电子产品进行测试，包括：

基于预设的随机排序算法对所有所述测试信号进行排序，得到测试顺序表；

基于所有所述测试信号按照所述测试顺序表对所述电子产品进行测试。

5.根据权利要求1所述的一种射频电磁场抗扰度测试方法，其特征在于，还包括：

判断所述测试强度是否大于预设的第一阈值；

若是，则确定每个所述测试信号的测试周期为第一时长；

若否，则确定每个所述测试信号的测试周期为第二时长，所述第一时长大于所述第二时长。

6.根据权利要求1所述的一种射频电磁场抗扰度测试方法，其特征在于，在获取预设的目标区域对应的干扰信息，之前还包括：

生成预设的校准信号并控制预设设备输出；

获取测试环境针对所述校准信号反馈的反馈信号，基于所述反馈信号以及预设标准判断测试环境是否合格。

7.根据权利要求1所述的一种射频电磁场抗扰度测试方法，其特征在于，还包括：

从历史测试记录中获取标记信号，所述标记信号为能够使预设数量的电子产品异常的测试信号；

将所述标记信号补充至所述测试信号中。

8.一种射频电磁场抗扰度测试装置，其特征在于，包括：

干扰信息获取模块，用于获取预设的目标区域对应的干扰信息，所述目标区域为电子产品的销售地区，所述干扰信息包括干扰频率区间、干扰强度以及干扰密度；

生成模块，用于基于所述干扰信息生成至少两个测试信号；

测试模块，用于基于所有所述测试信号对电子产品进行测试。

9.一种电子设备，其特征在于，该电子设备包括：

至少一个处理器；

存储器；

至少一个应用程序，其中所述至少一个应用程序被存储在存储器中并被配置为由至少一个处理器执行，所述至少一个应用程序配置用于：执行权利要求1-7中任一项所述射频电磁场抗扰度测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括：存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1-7中任一种方法的计算机程序。

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