CN114996118A - 芯片的测试用例的生成方法、装置和电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请提出一种芯片的测试用例的生成方法、装置和电子设备。其中，芯片的测试用例的生成方法包括：获取待验证芯片的设备之间的传输关系；根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例，并作为所述待验证芯片的测试用例。由此，可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的自动生成，提高了芯片的测试用例的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

Description

芯片的测试用例的生成方法、装置和电子设备

技术领域

本申请涉及计算机应用技术领域，尤其涉及一种芯片的测试用例的生成方法、、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

目前，需要通过测试用例对芯片的性能进行验证。相关技术中，需要针对某个芯片开发专用的测试用例，随着芯片复杂度的提升，芯片的测试用例的开发工作量较大，芯片的测试用例大多依靠人工手动开发，存在开发效率低、准确率低等问题。

发明内容

本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中芯片的测试用例存在开发效率低、准确率低的技术问题之一。

为此，本申请第一方面实施例提出一种芯片的测试用例的生成方法，可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的自动生成，提高了芯片的测试用例的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

本申请第二方面实施例提出一种芯片的测试用例的生成装置。

本申请第三方面实施例提出一种电子设备。

本申请第四方面实施例提出一种计算机可读存储介质。

本申请第一方面实施例提出了一种芯片的测试用例的生成方法，包括：获取待验证芯片的设备之间的传输关系；根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例，并作为所述待验证芯片的测试用例。

根据本申请实施例的芯片的测试用例的生成方法，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，根据传输关系，生成设备的测试用例，并作为待验证芯片的测试用例。由此，可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的自动生成，提高了芯片的测试用例的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

另外，根据本申请上述实施例的芯片的测试用例的生成方法还可以具有如下附加的技术特征：

在本申请的一个实施例中，所述根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例，包括：获取所述设备的测试需求；根据所述传输关系和所述测试需求，生成所述设备的测试用例。

在本申请的一个实施例中，所述传输关系包括对等传输关系和/或主从传输关系，所述测试需求包括单路传输测试需求和/或多路传输测试需求。

在本申请的一个实施例中，所述根据所述传输关系和所述测试需求，生成所述设备的测试用例，包括：响应于所述传输关系包括对等传输关系，且所述测试需求包括单路传输测试需求，针对所述传输关系为对等传输关系的任意两个目标设备，生成其中一个目标设备到另一目标设备的单路传输测试用例；和/或，响应于所述传输关系包括主从传输关系，且所述测试需求包括单路传输测试需求，针对所述待验证芯片的任一从设备，生成所述任一从设备隶属的任一主设备到所述任一从设备的单路传输测试用例；和/或，响应于所述传输关系包括主从传输关系，且所述测试需求包括多路传输测试需求，针对所述待验证芯片的任一从设备，生成所述任一从设备隶属的每个主设备到所述任一从设备的多路传输测试用例。

在本申请的一个实施例中，所述根据所述传输关系和所述测试需求，生成所述设备的测试用例，包括：根据所述传输关系的类别和/或所述测试需求的类别，从模板测试用例库中获取目标模板测试用例；根据所述传输关系和所述测试需求，对所述目标模板测试用例中待配置的静态参数进行配置，将配置后的目标模板测试用例作为所述设备的测试用例。

在本申请的一个实施例中，还包括：获取所述设备的测试模式；根据所述测试模式，对所述目标模板测试用例中待配置的动态参数进行配置。

在本申请的一个实施例中，所述生成所述设备的测试用例之后，还包括：根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例的仿真回归脚本。

在本申请的一个实施例中，所述获取待验证芯片的设备之间的传输关系，包括：获取所述待验证芯片的设定路由参数；根据所述设定路由参数，获取所述传输关系。

本申请第二方面实施例提出了一种芯片的测试用例的生成装置，包括：获取模块，用于获取待验证芯片的设备之间的传输关系；生成模块，用于根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例，并作为所述待验证芯片的测试用例。

本申请实施例的芯片的测试用例的生成装置，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，根据传输关系，生成设备的测试用例，并作为待验证芯片的测试用例。由此，可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的自动生成，提高了芯片的测试用例的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

另外，根据本申请上述实施例的芯片的测试用例的生成装置还可以具有如下附加的技术特征：

在本申请的一个实施例中，所述生成模块，还用于：获取所述设备的测试需求；根据所述传输关系和所述测试需求，生成所述设备的测试用例。

在本申请的一个实施例中，所述传输关系包括对等传输关系和/或主从传输关系，所述测试需求包括单路传输测试需求和/或多路传输测试需求。

在本申请的一个实施例中，所述生成模块，还用于：响应于所述传输关系包括对等传输关系，且所述测试需求包括单路传输测试需求，针对所述传输关系为对等传输关系的任意两个目标设备，生成其中一个目标设备到另一目标设备的单路传输测试用例；和/或，响应于所述传输关系包括主从传输关系，且所述测试需求包括单路传输测试需求，针对所述待验证芯片的任一从设备，生成所述任一从设备隶属的任一主设备到所述任一从设备的单路传输测试用例；和/或，响应于所述传输关系包括主从传输关系，且所述测试需求包括多路传输测试需求，针对所述待验证芯片的任一从设备，生成所述任一从设备隶属的每个主设备到所述任一从设备的多路传输测试用例。

在本申请的一个实施例中，所述生成模块，还用于：根据所述传输关系的类别和/或所述测试需求的类别，从模板测试用例库中获取目标模板测试用例；根据所述传输关系和所述测试需求，对所述目标模板测试用例中待配置的静态参数进行配置，将配置后的目标模板测试用例作为所述设备的测试用例。

在本申请的一个实施例中，所述生成模块，还用于：获取所述设备的测试模式；根据所述测试模式，对所述目标模板测试用例中待配置的动态参数进行配置。

在本申请的一个实施例中，所述生成模块，还用于：根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例的仿真回归脚本。

在本申请的一个实施例中，所述获取模块，还用于：获取所述待验证芯片的设定路由参数；根据所述设定路由参数，获取所述传输关系。

本申请第三方面实施例提出了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现如前述第一方面实施例所述的芯片的测试用例的生成方法。

本申请实施例的电子设备，通过处理器执行存储在存储器上的计算机程序，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，根据传输关系，生成设备的测试用例，并作为待验证芯片的测试用例。由此，可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的自动生成，提高了芯片的测试用例的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

本申请第四方面实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时，实现如前述第一方面实施例所述的芯片的测试用例的生成方法。

本申请实施例的计算机可读存储介质，通过存储计算机程序并被处理器执行，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，根据传输关系，生成设备的测试用例，并作为待验证芯片的测试用例。由此，可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的自动生成，提高了芯片的测试用例的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为根据本申请一个实施例的芯片的测试用例的生成方法的流程示意图；

图2为根据本申请一个实施例的芯片的测试用例的生成方法中根据传输关系，生成设备的测试用例的流程示意图；

图3为根据本申请一个实施例的芯片的测试用例的生成方法中根据传输关系和测试需求，生成设备的测试用例的流程示意图；

图4为根据本申请一个实施例的芯片的测试用例的生成方法中根据测试模式，生成设备的测试用例的流程示意图；

图5为根据本申请一个实施例的芯片的测试用例的生成装置的结构示意图；以及

图6为根据本申请一个实施例的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

下面参照附图描述本申请实施例的芯片的测试用例的生成方法、装置、电子设备和存储介质。

图1为根据本申请一个实施例的芯片的测试用例的生成方法的流程示意图。

如图1所示，本申请实施例的芯片的测试用例的生成方法，包括：

S101，获取待验证芯片的设备之间的传输关系。

需要说明的是，本申请实施例的芯片的测试用例的生成方法的执行主体可为芯片的测试用例的生成装置，本申请实施例的芯片的测试用例的生成装置可以配置在任意电子设备中，以使该电子设备可以执行本申请实施例的芯片的测试用例的生成方法。其中，电子设备可以为个人电脑(Personal Computer，简称PC)、云端设备、移动设备等，移动设备例如可以为手机、平板电脑、个人数字助理、穿戴式设备、车载设备等具有各种操作系统、触摸屏和/或显示屏的硬件设备。在一种实施方式中，本申请实施例的芯片的测试用例的生成方法的执行主体可为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。

本申请的实施例中，待验证芯片包括至少两个设备。应说明的是，对待验证芯片、设备的类别不做过多限定，比如，待验证芯片可包括系统级芯片(System on Chip，SOC)，设备包括但不限于主设备(master)、从设备(slave)。

本申请的实施例中，待验证芯片的设备之间具有传输关系。应说明的是，对传输关系的类别不做过多限定，比如，传输关系包括但不限于对等传输关系(peer-to-peer，P2P)、主从传输关系。应说明的是，传输关系为对等传输关系的任意两个设备中的一个设备可作为数据接收方，也可作为数据发送方。传输关系为主从传输关系的任意两个设备中的主设备仅作为数据发送方，从设备仅作为数据接收方。

在一种实施方式中，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，可包括预先建立第一设备的标识、第二设备的标识、第一设备和第二设备之间的传输关系之间的映射关系或者映射表，在获取到第一设备的标识、第二设备的标识之后，查询上述映射关系或者映射表，可获取第一设备的标识、第二设备的标识映射的传输关系，作为第一设备和第二设备之间的传输关系。应说明的是，对上述映射关系或者映射表均不做过多限定。

在一种实施方式中，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，可包括获取待验证芯片的设定文件，对设定文件进行文本识别，得到设定文件携带的待验证芯片的设备之间的传输关系。应说明的是，对设定文件的类别不做过多限定，比如，设定文件包括但不限于图片、文档、表格等。

在一种实施方式中，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，可包括获取待验证芯片的设定路由(rout)参数，根据设定路由参数，获取传输关系。应说明的是，设定路由参数包括设备之间的传输关系。比如，可获取待验证芯片的设定路由表，对设定路由表进行文本识别，得到设定路由表携带的待验证芯片的设定路由参数。

在一种实施方式中，可响应于针对待验证芯片的测试用例的生成指令，获取待验证芯片的设备之间的传输关系。其中，配置指令携带待验证芯片的标识。

S102，根据传输关系，生成设备的测试用例，并作为待验证芯片的测试用例。

本申请的实施例中，待验证芯片的测试用例包括待验证芯片的每个设备的测试用例。应说明的是，对设备的测试用例的数量、测试用例的类别均不做过多限定，比如，设备可对应一个或多个测试用例。比如，待验证芯片包括设备A、B、C，可根据设备A和设备B之间的对等传输关系，生成设备A和设备B对应的测试用例，可根据设备A和设备C之间的主从传输关系，生成设备A和设备C对应的测试用例。

在一种实施方式中，根据传输关系，生成设备的测试用例，可包括执行测试用例的生成脚本，并基于生成脚本，根据传输关系，生成设备的测试用例。应说明的是，测试用例的生成脚本指的是用于生成测试用例的脚本，对验证环境的配置脚本的类别不做过多限定，比如，测试用例的生成脚本可基于python语言编写，应说明的是，python为一种计算机编程语言。

综上，根据本申请实施例的芯片的测试用例的生成方法，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，根据传输关系，生成设备的测试用例，并作为待验证芯片的测试用例。由此，可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的自动生成，提高了芯片的测试用例的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

在上述任一实施例的基础上，如图2所示，步骤S102中根据传输关系，生成设备的测试用例，包括：

S201，获取设备的测试需求。

需要说明的是，对设备的测试需求的类别不做过多限定，比如，测试需求包括但不限于单路传输测试需求、多路传输测试需求等。应说明的是，单路传输测试需求指的是两个设备之间的测试需求，多路传输测试需求指的是两个以上设备之间的测试需求。比如，测试需求包括但不限于传输压力测试需求、传输延迟测试需求、传输带宽测试需求等。

需要说明的是，获取设备的测试需求的相关内容可参见上述实施例，这里不再赘述。

S202，根据传输关系和测试需求，生成设备的测试用例。

在一种实施方式中，根据传输关系和测试需求，生成设备的测试用例，可包括以下几种可能的实施方式：

方式1、响应于传输关系包括对等传输关系，且测试需求包括单路传输测试需求，针对传输关系为对等传输关系的任意两个目标设备，生成其中一个目标设备到另一目标设备的单路传输测试用例。

比如，待验证芯片包括设备A、B，设备A和设备B之间的传输关系包括对等传输关系，且设备A和设备B的测试需求包括单路传输测试需求，可生成设备A到设备B的单路传输测试用例，以及生成设备B到设备A的单路传输测试用例。

方式2、响应于传输关系包括主从传输关系，且测试需求包括单路传输测试需求，针对待验证芯片的任一从设备，生成任一从设备隶属的任一主设备到任一从设备的单路传输测试用例。

比如，待验证芯片包括主设备A、主设备B和从设备C，从设备C隶属的主设备包括主设备A、主设备B，且主设备A和从设备C的测试需求包括单路传输测试需求，主设备B和从设备C的测试需求包括单路传输测试需求，可生成主设备A到从设备C的单路传输测试用例，以及生成主设备B到从设备C的单路传输测试用例。

方式3、响应于传输关系包括主从传输关系，且测试需求包括多路传输测试需求，针对待验证芯片的任一从设备，生成任一从设备隶属的每个主设备到任一从设备的多路传输测试用例。

比如，待验证芯片包括主设备A、主设备B和从设备C，从设备C隶属的主设备包括主设备A、主设备B，且主设备A、主设备B和从设备C的测试需求包括多路传输测试需求，可生成主设备A、主设备B到从设备C的多路传输测试用例。

方式4、响应于传输关系包括对等传输关系和/或主从传输关系，且测试需求包括传输压力测试需求、传输延迟测试需求、传输带宽测试需求中的至少一种，可生成设备的传输压力测试用例、传输延迟测试用例、传输带宽测试用例中的至少一种。

比如，待验证芯片包括设备A、B，设备A和设备B之间的传输关系包括对等传输关系，且设备A和设备B的测试需求包括传输压力测试需求，可生成设备A到设备B的传输压力测试用例，以及生成设备B到设备A的传输压力测试用例。

比如，待验证芯片包括主设备A和从设备C，从设备C隶属的主设备包括主设备A，且主设备A和从设备C的测试需求包括传输延迟测试需求，可生成主设备A到从设备C的传输延迟测试用例。

由此，该方法中可综合考虑设备之间的传输关系和设备的测试需求，生成设备的测试用例，提高了设备的测试用例的生成的准确性。

在上述任一实施例的基础上，如图3所示，步骤S202中根据传输关系和测试需求，生成设备的测试用例，包括：

S301，根据传输关系的类别和/或测试需求的类别，从模板测试用例库中获取目标模板测试用例。

需要说明的是，模板测试用例库包括多个模板测试用例，目标模板测试用例指的是设备的测试用例的模板，对模板测试用例不做过多限定。

在一种实施方式中，根据传输关系的类别和/或测试需求的类别，从模板测试用例库中获取目标模板测试用例，可包括根据传输关系的类别和/或测试需求的类别，从模板测试用例库中获取与传输关系的类别和/或测试需求的类别匹配的目标模板测试用例。

在一种实施方式中，根据传输关系的类别和/或测试需求的类别，从模板测试用例库中获取目标模板测试用例，可包括获取模板测试用例库中模板测试用例对应的模板设备之间的模板传输关系的类别，和/或模板测试需求的类别，将设备之间的传输关系的类别和模板设备之间的模板传输关系的类别进行比对，和/或将设备的测试需求的类别和模板设备的模板测试需求的类别进行比对，将比对一致的模板设备对应的模板测试用例作为目标模板测试用例。由此，该方法中可使得获取的目标模板测试用例对应的模板设备之间的模板传输关系与设备之间的传输关系的类别一致，和/或模板设备的模板测试需求与设备的测试需求的类别一致，保证了目标模板验证环境的准确性。

S302，根据传输关系和测试需求，对目标模板测试用例中待配置的静态参数进行配置，将配置后的目标模板测试用例作为设备的测试用例。

本申请的实施例中，目标模板验证环境存在待配置的静态参数，对静态参数的类别不做过多限定。应说明的是，静态参数指的是一个设备的测试用例中固定不变的参数。

在一种实施方式中，根据传输关系和测试需求，对目标模板测试用例中待配置的静态参数进行配置，可包括根据传输关系和测试需求获取静态参数的配置值，利用配置值对静态参数进行赋值。比如，可将传输关系和测试需求作为静态参数的配置值。比如，可从传输关系和测试需求中提取静态参数的配置值。

由此，该方法中可综合考虑设备之间的传输关系的类别和/或设备的测试需求的类别，从模板测试用例库中获取目标模板测试用例，保证了目标模板测试用例的准确性，并根据传输关系和测试需求，对目标模板测试用例中待配置的静态参数进行配置，提高了设备的测试用例的生成效率。

在上述任一实施例的基础上，如图4所示，步骤S302中将配置后的目标模板测试用例作为设备的测试用例之前，还包括：

S401，获取设备的测试模式。

需要说明的是，对设备的测试模式的类别不做过多限定，获取设备的测试模式的相关内容可参见上述实施例，这里不再赘述。

S402，根据测试模式，对目标模板测试用例中待配置的动态参数进行配置。

本申请的实施例中，目标模板验证环境存在待配置的动态参数，对动态参数的类别不做过多限定。应说明的是，动态参数指的是一个设备的测试用例中可变的参数。

在一种实施方式中，根据测试模式，对目标模板测试用例中待配置的动态参数进行配置，可包括获取测试模式获取动态参数的配置值，利用配置值对动态参数进行赋值。比如，可将测试模式作为动态参数的配置值。比如，可从测试模式中提取动态参数的配置值。比如，可获取测试模式对应的动态参数的配置值。

由此，该方法中可根据测试模式，对目标模板测试用例中待配置的动态参数进行配置，可实现测试用例的动态生成，提高了设备的测试用例的生成效率。

在上述任一实施例的基础上，步骤S102中生成设备的测试用例之后，还包括根据传输关系，生成设备的测试用例的仿真回归脚本。应说明的是，仿真回归脚本指的是用于测试用例的仿真回归的脚本。可以理解的是，测试用例与仿真回归脚本一一对应。

比如，待验证芯片包括设备A、B、C，可根据设备A和设备B之间的对等传输关系，生成设备A和设备B对应的测试用例的仿真回归脚本，可根据设备A和设备C之间的主从传输关系，生成设备A和设备C对应的测试用例的仿真回归脚本。

需要说明的是，根据传输关系，生成设备的测试用例的仿真回归脚本的相关内容，可参见上述实施例，这里不再赘述。

由此，该方法中可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的仿真回归脚本的自动生成，提高了芯片的仿真回归脚本的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

与上述图1至图4实施例提供的芯片的测试用例的生成方法相对应，本申请还提供一种芯片的测试用例的生成装置，由于本申请实施例提供的芯片的测试用例的生成装置与上述图1至图4实施例提供的芯片的测试用例的生成方法相对应，因此芯片的测试用例的生成方法的实施方式也适用于本申请实施例提供的芯片的测试用例的生成装置，在本申请实施例中不再详细描述。

图5为根据本申请一个实施例的芯片的测试用例的生成装置的结构示意图。

如图5所示，本申请实施例的芯片的测试用例的生成装置100可以包括：获取模块110和生成模块120。

获取模块110用于获取待验证芯片的设备之间的传输关系；

生成模块120用于根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例，并作为所述待验证芯片的测试用例。

在本申请的一个实施例中，所述生成模块120还用于：获取所述设备的测试需求；根据所述传输关系和所述测试需求，生成所述设备的测试用例。

在本申请的一个实施例中，所述传输关系包括对等传输关系和/或主从传输关系，所述测试需求包括单路传输测试需求和/或多路传输测试需求。

在本申请的一个实施例中，所述生成模块120还用于：响应于所述传输关系包括对等传输关系，且所述测试需求包括单路传输测试需求，针对所述传输关系为对等传输关系的任意两个目标设备，生成其中一个目标设备到另一目标设备的单路传输测试用例；和/或，响应于所述传输关系包括主从传输关系，且所述测试需求包括单路传输测试需求，针对所述待验证芯片的任一从设备，生成所述任一从设备隶属的任一主设备到所述任一从设备的单路传输测试用例；和/或，响应于所述传输关系包括主从传输关系，且所述测试需求包括多路传输测试需求，针对所述待验证芯片的任一从设备，生成所述任一从设备隶属的每个主设备到所述任一从设备的多路传输测试用例。

在本申请的一个实施例中，所述生成模块120还用于：根据所述传输关系的类别和/或所述测试需求的类别，从模板测试用例库中获取目标模板测试用例；根据所述传输关系和所述测试需求，对所述目标模板测试用例中待配置的静态参数进行配置，将配置后的目标模板测试用例作为所述设备的测试用例。

在本申请的一个实施例中，所述生成模块120还用于：获取所述设备的测试模式；根据所述测试模式，对所述目标模板测试用例中待配置的动态参数进行配置。

在本申请的一个实施例中，所述生成模块120还用于：根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例的仿真回归脚本。

在本申请的一个实施例中，所述获取模块110还用于：获取所述待验证芯片的设定路由参数；根据所述设定路由参数，获取所述传输关系。

本申请实施例的芯片的测试用例的生成装置，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，根据传输关系，生成设备的测试用例，并作为待验证芯片的测试用例。由此，可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的自动生成，提高了芯片的测试用例的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

为了实现上述实施例，如图6所示，本申请还提出一种电子设备200，包括：存储器210、处理器220及存储在存储器210上并可在处理器220上运行的计算机程序，处理器220执行程序时，实现如本申请前述实施例提出的芯片的测试用例的生成方法。

本申请实施例的电子设备，通过处理器执行存储在存储器上的计算机程序，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，根据传输关系，生成设备的测试用例，并作为待验证芯片的测试用例。由此，可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的自动生成，提高了芯片的测试用例的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

为了实现上述实施例，本申请还提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时，实现如本申请前述实施例提出的芯片的测试用例的生成方法。

本申请实施例的计算机可读存储介质，通过存储计算机程序并被处理器执行，获取待验证芯片的设备之间的传输关系，根据传输关系，生成设备的测试用例，并作为待验证芯片的测试用例。由此，可根据待验证芯片的设备之间的传输关系，实现设备的测试用例的自动生成，提高了芯片的测试用例的生成的准确性和效率，以及节省人工成本。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (18)

1.一种芯片的测试用例的生成方法，其特征在于，包括：

获取待验证芯片的设备之间的传输关系；

根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例，并作为所述待验证芯片的测试用例。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例，包括：

获取所述设备的测试需求；

根据所述传输关系和所述测试需求，生成所述设备的测试用例。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述传输关系包括对等传输关系和/或主从传输关系，所述测试需求包括单路传输测试需求和/或多路传输测试需求。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述传输关系和所述测试需求，生成所述设备的测试用例，包括：

响应于所述传输关系包括对等传输关系，且所述测试需求包括单路传输测试需求，针对所述传输关系为对等传输关系的任意两个目标设备，生成其中一个目标设备到另一目标设备的单路传输测试用例；和/或，

响应于所述传输关系包括主从传输关系，且所述测试需求包括单路传输测试需求，针对所述待验证芯片的任一从设备，生成所述任一从设备隶属的任一主设备到所述任一从设备的单路传输测试用例；和/或，

响应于所述传输关系包括主从传输关系，且所述测试需求包括多路传输测试需求，针对所述待验证芯片的任一从设备，生成所述任一从设备隶属的每个主设备到所述任一从设备的多路传输测试用例。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述传输关系和所述测试需求，生成所述设备的测试用例，包括：

根据所述传输关系的类别和/或所述测试需求的类别，从模板测试用例库中获取目标模板测试用例；

根据所述传输关系和所述测试需求，对所述目标模板测试用例中待配置的静态参数进行配置，将配置后的目标模板测试用例作为所述设备的测试用例。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：

获取所述设备的测试模式；

根据所述测试模式，对所述目标模板测试用例中待配置的动态参数进行配置。

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述生成所述设备的测试用例之后，还包括：

根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例的仿真回归脚本。

8.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述获取待验证芯片的设备之间的传输关系，包括：

获取所述待验证芯片的设定路由参数；

根据所述设定路由参数，获取所述传输关系。

9.一种芯片的测试用例的生成装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待验证芯片的设备之间的传输关系；

生成模块，用于根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例，并作为所述待验证芯片的测试用例。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述生成模块，还用于：

获取所述设备的测试需求；

根据所述传输关系和所述测试需求，生成所述设备的测试用例。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述传输关系包括对等传输关系和/或主从传输关系，所述测试需求包括单路传输测试需求和/或多路传输测试需求。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述生成模块，还用于：

响应于所述传输关系包括对等传输关系，且所述测试需求包括单路传输测试需求，针对所述传输关系为对等传输关系的任意两个目标设备，生成其中一个目标设备到另一目标设备的单路传输测试用例；和/或，

响应于所述传输关系包括主从传输关系，且所述测试需求包括单路传输测试需求，针对所述待验证芯片的任一从设备，生成所述任一从设备隶属的任一主设备到所述任一从设备的单路传输测试用例；和/或，

响应于所述传输关系包括主从传输关系，且所述测试需求包括多路传输测试需求，针对所述待验证芯片的任一从设备，生成所述任一从设备隶属的每个主设备到所述任一从设备的多路传输测试用例。

13.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述生成模块，还用于：

根据所述传输关系的类别和/或所述测试需求的类别，从模板测试用例库中获取目标模板测试用例；

根据所述传输关系和所述测试需求，对所述目标模板测试用例中待配置的静态参数进行配置，将配置后的目标模板测试用例作为所述设备的测试用例。

14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述生成模块，还用于：

获取所述设备的测试模式；

根据所述测试模式，对所述目标模板测试用例中待配置的动态参数进行配置。

15.根据权利要求9-14任一项所述的装置，其特征在于，所述生成模块，还用于：

根据所述传输关系，生成所述设备的测试用例的仿真回归脚本。

16.根据权利要求9-14任一项所述的装置，其特征在于，所述获取模块，还用于：

获取所述待验证芯片的设定路由参数；

根据所述设定路由参数，获取所述传输关系。

17.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现如权利要求1-8任一项所述的芯片的测试用例的生成方法。

18.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-8任一项所述的芯片的测试用例的生成方法。

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