CN114897110B - 群孔测量摆角规划方法、可读介质和设备 - Google Patents
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Abstract
Description
技术领域
本发明涉及在机检测技术领域,具体的说,是群孔测量摆角规划方法、可读介质和设备,用于在机检测时对测量摆角进行合理高效地规划。
背景技术
在机检测能够在不拆卸工件的条件下完成对零件尺寸的测量,从而避免二次装夹带来的安装误差、包庇零件变形、测量效率损失等问题,以提高测量质量和测量效率,在航空制造业中得到了越来越广泛的应用。但在测量孔特征时,测针需要进入孔内部,由于孔内开敞性差,需严格控制测针摆角和孔轴线夹角,若夹角太大,容易发生测量干涉;若夹角太小,测量摆角将急剧增加,测量效率降低。因此,如何确定孔特征的在机检测的测量摆角,是在机检测的关键技术。
目前,在确定孔位测量摆角时,主要有如下两种方式:一是直接沿法式方向测量孔位,此方法确定摆角容易,但测量角度多,测针标定效率低,对结构复杂、孔数量庞大的零件,标定时间甚至远超加工时间与测量时间;二是对轴线相近的孔,大致判断可行的测量摆角,使用仿真软件进行干涉仿真,最终确定可行的摆角;此方法可有效减少测量角度,但需反复尝试与修正,效率较低,对于复杂零件,人工不可能完成。
如现有技术如公开号为CN112033331A的中国专利《一种基于三坐标测针的群孔测量摆角规划方法》所公开的摆角规划方法是一种暴力解法,即将所有可能的测量摆角列出,然后按照“能够测量的孔特征最多”为原则进行摆角优选,直到完成所有孔特征的摆角规划为止。该方法虽能实现摆角规划,但其以枚举的方式进行依次运算仍旧效率较低、且实际操作过程中存在遗漏或者重复计算的可能。
发明内容
本发明的目的在于现有技术所存在的缺陷,提供一种孔特征的群孔测量摆角规划方法、可读介质和设备,解决在机检测孔特征测量摆角计算不便、群孔测量摆角数量过多而引起的在机检测效率低下的问题;通过获取孔特征法矢集合、测针参数等参数,计算出孔与测针不发生干涉时测针轴线与孔轴线之间的夹角阈值,并设置聚类迭代的初始条件和终止条件;继而以孔特征法矢集合为数据集进行聚类迭代,获得测量法矢集合,直至聚类收敛时停止聚类迭代,将测量发矢集合转换为测量摆角集合,至此,完成测量摆角的规划过程;通过上述方法,实现了测量摆角的自动规划,简化操作步骤同时避免了规划过程出现遗漏或重复。
本发明通过下述技术方案实现:
首先,本发明提供了一种群孔测量摆角规划方法,用于在机检测孔特征,包括以下步骤:
步骤S1:获取孔特征法矢集合、测针参数、测量深度和容差信息;
步骤S2:根据测针参数、测量深度和容差信息,计算出孔与测针不发生干涉时测针轴线与孔轴线之间的夹角阈值;设置迭代聚类初始条件、初始化种子集合、设置迭代聚类终止条件;
步骤S3:执行聚类:以孔特征法矢集合为数据集,计算聚类集合和测量法矢集合,并计算候选种子;
步骤S4:判断聚类收敛性:若聚类收敛,则执行步骤S6;若聚类不收敛,则执行步骤S5;
步骤S5:先更新种子集合;然后,若当前迭代次数小于等于最大迭代次数,则当前迭代次数增加一次,并重新依次执行步骤S3、步骤S4;若当前迭代次数大于最大迭代次数,则当前聚类规模加一,即增加候选种子至当前种子集合形成新的种子集合,并重新执行步骤S3、步骤S4;
步骤S6:将测量法矢集合转化为测量摆角集合,输出测量摆角集合并结束程序。
本发明中,孔特征法矢集合表示为、容差信息表示为tol、测量深度表示为h、夹角阈值表示为;聚类集合表示为,聚类规模表示为T,聚类集合中聚类子集数量由聚类规模T决定,聚类子集表示为,聚类子集的角标i表示在其聚类集合中的序号;种子集合表示为,种子集合中元素为种子,并将种子表示为,其中角标j表示种子在种子集合中的序号,种子集合中种子数量与聚类规模T相等,待加入种子集合中种子为候选种子并用表示;当前迭代次数表示为n,最大迭代次数表示为;测量法矢集合表示为,测量摆角集合表示为。
为了更好地完善本发明,进一步优化地,所述测针参数包括测头直径和测杆直径,侧杆直径表示为d、测头直径表示为D。
为了更好地完善本发明,进一步优化地,所述容差信息的取值大于等于0.5°
为了更好地完善本发明,进一步优化地,设置所述迭代聚类初始条件为:初始聚类规模为1、当前迭代次数为1;初始化种子集合为:将孔特征法矢中第一个元素作为种子集合的唯一种子;设置所述迭代聚类终止条件:确定最大迭代次数。
为了更好地完善本发明,进一步优化地,在步骤S3中,通过以下具体步骤计算得到聚类集合和测量法矢集合,具体步骤如下:
步骤S31:以孔特征法矢集合中第i元素与种子集合中各种子分别形成的夹角,加入第i夹角集合中作为元素;
步骤S32:若种子集合中第j种子,与孔特征法矢集合中第i元素形成夹角,为第i夹角集合取值最小的元素;则将孔特征法矢集合中第i元素加入聚类集合中第j聚类子集,对应将种子集合中第j种子加入测量法矢集合;其中,{i∈Z|1≤i≤N},N为孔特征法矢集合中元素的数量;
步骤S33:遍历聚类集合,将聚类集合中第j聚类子集的各元素与种子集合中第j种子形成的夹角加入候选集合作为元素,候选集合中元素取得最大值时对应的聚类集合中第j个聚类子集的特定元素作为候选种子;其中,{j∈Z|1≤j≤M},M为种子集合中种子的数量。
为了更好地完善本发明,进一步优化地,所述聚类集合中聚类子集与种子集合中种子顺次一一对应。
为了更好地完善本发明,进一步优化地,当所述候选集合中元素取得的最大值大于夹角阈值,则判定聚类不收敛,否则判定聚类收敛。
为了更好地完善本发明,进一步优化地,步骤S5中更新种子集合的方法为:将聚类集合中各聚类子集一一转换为新的种子集合中各种子;具体为使用各聚类子集中元素平均值依次作为新的种子集合中的各种子,可用如下公式表示:;此式中种子以的形式表示,角标j表示该种子在种子集合中的序号, 定义了种子在空间直角坐标系X、Y、Z方向上的比例值;聚类子集中,角标i表示该聚类子集在聚类集合中的序号,上式中的角标j与角标i相等。
、。其中,式中表示测量法矢,i表示测量法矢在X轴坐标值,j表示测量法矢在Y轴坐标值,k表示测量法矢在Z轴坐标值,定义了测量法矢在X、Y、Z方向上的比例值;表示测量摆角,表示测量时A轴工作角度,表示测量时C轴工作角度;V为标注测量法矢和测量摆角序号的角标,测量法矢和测量摆角依顺序一一对应。
其次,本发明提供了一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被执行时实现以上任一项所述的群孔测量摆角规划方法。
一种电子设备,包括:
处理器;
存储器,用于存储所述处理器的可执行指令;
其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行以上任一项所述的群孔测量摆角规划方法。
有益效果:本发明优化规划孔特征测量摆角,并将相近摆角进行聚类,减少测量角度,节省测头标定时间,提高在机检测效率。
附图说明
下面将结合附图对技术方案进行清楚、完整地描述,显然所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
图1为本发明提供的群孔测量摆角规划方法的流程示意图;
图2为本发明中测针在被测孔内时的状态示意图。
具体实施方式
以下结合实施例的具体实施方式,对本发明创造的上述内容再做进一步的详细说明。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实例。在不脱离本发明上述技术思想情况下,根据本领域普通技术知识和惯用手段作出的各种替换或变更,均应包括在本发明的范围内。
以下实施例通过将本发明的方法与现有技术所公开的方法进行对比进行演示说明。
实施例1:
本实施例提供一种群孔测量摆角规划方法,用于在机检测孔特征,具体包括以下步骤:
步骤S1:获取孔特征法矢集合、测针参数、测量深度和容差信息;
步骤S2:根据测针参数、测量深度和容差信息,计算出孔与测针不发生干涉时测针轴线与孔轴线之间的夹角阈值;设置迭代聚类初始条件、初始化种子集合、设置迭代聚类终止条件;
步骤S3:执行聚类:以孔特征法矢集合为数据集,计算聚类集合和测量法矢集合,并计算候选种子;
步骤S4:判断聚类收敛性:若聚类收敛,则执行步骤S6;若聚类不收敛,则执行步骤S5;
步骤S5:先更新种子集合;然后,若当前迭代次数小于等于最大迭代次数,则当前迭代次数增加一次,并重新依次执行步骤S3、步骤S4;若当前迭代次数大于最大迭代次数,则当前聚类规模加一,即增加候选种子至当前种子集合形成新的种子集合,然后当前迭代次数回归初始值,并重新执行步骤S3、步骤S4;
步骤S6:将测量法矢集合转化为测量摆角集合,输出测量摆角集合并结束程序。
本发明中,孔特征法矢集合表示为、参阅图2容差信息表示为tol且该容差信息为示测针轴线所被允许的角度偏离范围、测量深度表示为h、夹角阈值表示为;聚类集合表示为,聚类规模表示为T,聚类集合中聚类子集数量由聚类规模T决定,聚类子集表示为,聚类子集的角标i表示在其聚类集合中的序号;种子集合表示为,种子集合中元素为种子,并将种子表示为,其中角标j表示种子在种子集合中的序号,种子集合中种子数量与聚类规模T相等,待加入种子集合中种子为候选种子并用表示;当前迭代次数表示为n,最大迭代次数表示为;测量法矢集合表示为,测量摆角集合表示为。
进一步完善本实施例:所述测针参数包括测头直径和测杆直径,侧杆直径表示为d、测头直径表示为D。
进一步完善本实施例:所述容差信息的取值大于等于0.5°,即tol≥05°。
进一步完善本实施例:设置所述迭代聚类初始条件为:聚类规模的初始值为1、迭代次数的初始值为1;初始化种子集合为:将孔特征法矢中第一个元素作为种子集合的唯一种子;确定各聚类规模共同遵循的最大迭代次数,其中最大迭代次数为5。
进一步完善本实施例:在步骤S3中,通过以下具体步骤计算得到聚类集合和测量法矢集合,具体步骤如下:
步骤S31:以孔特征法矢集合中第i元素与种子集合中各种子分别形成的夹角,加入第i夹角集合中作为元素;
步骤S32:若种子集合中第j种子,与孔特征法矢集合中第i元素形成夹角,为第i夹角集合取值最小的元素;则将孔特征法矢集合中第i元素加入聚类集合中第j聚类子集,对应将种子集合中第j种子加入测量法矢集合;其中,{i∈Z|1≤i≤N},N为孔特征法矢集合中元素的数量;
步骤S33:遍历聚类集合,将聚类集合中第j聚类子集的各元素与种子集合中第j种子形成的夹角加入候选集合作为元素,候选集合中元素取得最大值时对应的聚类集合中第j个聚类子集的特定元素作为候选种子;其中,{j∈Z|1≤j≤M},M为种子集合中种子的数量。
进一步完善本实施例:所述聚类集合中聚类子集与种子集合中种子顺次一一对应。
进一步完善本实施例:当所述候选集合中元素取得的最大值大于夹角阈值,则判定聚类不收敛,否则判定聚类收敛。
进一步完善本实施例:步骤S5中更新种子集合的方法为:将聚类集合中各聚类子集一一转换为新的种子集合中各种子;具体为使用各聚类子集中元素平均值依次作为新的种子集合中的各种子,可用如下公式表示:
;。其中,上式中表示测量法矢,i表示测量法矢在X轴坐标值,j表示测量法矢在Y轴坐标值,k表示测量法矢在Z轴坐标值, 定义了测量法矢在X、Y、Z方向上的比例值;表示测量摆角,表示测量时A轴工作角度,表示测量时C轴工作角度;V为标注测量法矢和测量摆角序号的角标,测量法矢和测量摆角依顺序一一对应。
实施例2:
本实施例利用实施例1所提供群孔测量摆角规划方法,并在如下实施条件下进行具体实施:
本实施例提供了群孔测量摆角规划方法,如图1所示的流程图,其中以本实施例提供的实施条件进行具体实施操作步骤如下:
步骤S2:设置迭代聚类初始条件:初始聚类规模T=1,当前迭代次数n=1;初始化种子集合:将孔特征法矢中第一个元素作为种子集合的唯一种子,可以表示为=(1)=,设置迭代聚类终止条件:各聚类规模下的共同遵循的最大迭代次数=5;计算测量不干涉条件下测针轴线与孔轴线的夹角阈值,得到=3.9272°。
步骤S5:聚类不收敛则更新种子集合:更新后的种子集合中唯一种子 ==(0.0884,-0.148,0.9094),当前迭代次数n=1≤5=,则迭代次数加1,记迭代次数,开始在聚类规模T=1不变的情况下的重复执行步骤S3至步骤S4,直到时:
重新执行步骤S3至步骤S4,
步骤S10:再次重复步骤S3至步骤S6,
取整后:
对比例:
本对比例提供的是,根据公开号为CN112033331A的中国专利《一种基于三坐标测针的群孔测量摆角规划方法》所公开的技术方案,所作出的群孔测量摆角规划方法,具体步骤如下:
在A1中,与(0.0000,0.0000,1.0000)夹角不大于3.9272°的有(0.32,1.24)
与(0.0000,0.0712,0.9503)夹角不大于3.9272°的有(0.32,1.24)
与(0.0000,0.0508,0.9802)夹角不大于3.9272°的有(0.32,1.24)
没有与(0.3536,-0.6124,0.7071)夹角不大于3.9272°的元素。
步骤S8;在A1中,没有与(0.3536,-0.6124,0.7071)夹角不大于3.9272°的元素。
步骤S10:剩余节点已经不能测量剩余的孔,则需要减小间隔再次划分产生更密集的节点;
在A1中,与(0.0000,0.0000,1.0000)夹角不大于3.9272°的有(-0.25,1.24)(3.33,1.24),(-0.25,5.34),(3.33,5.34);
与(0.0000,0.0712,0.9503)夹角不大于3.9272°的有(-0.25,1.24),(3.33,1.24),(-0.25,5.34),(-3.43,5.34);
与(0.0000,0.0508,0.9802)夹角不大于3.9272°的有(-0.25,1.24),(3.33,1.24),(-0.25,5.34),(-3.43,5.34);
与(0.3536,-0.6124,0.7071)夹角不大于3.9272°的有(45.23,28.22),(45.23,31.25);
步骤S16:在A2中,与(0.3536,-0.6124,0.7071)夹角不大于3.9272°的有(45.23,28.22),(45.23,31.25);
步骤S20:最终规划的测量摆角为
本实施例中提供的群孔测量摆角规划方法与对比例中提供的摆角规划方法相比,本实施例通过摆角规划,测量角度准确性大幅提高,所需测量摆角数量降低,孔测量摆角规划时间大幅度降低,能够快速获得孔特征测量摆角,节约了测量准备时间,提高了加工及测量效率。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例,并非对本发明做任何形式上的限制,凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化,均落入本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.群孔测量摆角规划方法,用于在机检测孔特征,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1:获取孔特征法矢集合、测针参数、测量深度和容差信息;
步骤S2:根据测针参数、测量深度和容差信息,计算出孔与测针不发生干涉时测针轴线与孔轴线之间的夹角阈值;设置聚类规模的初始值、迭代次数的初始值、初始化种子集合、并确定最大迭代次数;
步骤S3:执行聚类:以孔特征法矢集合为数据集,计算聚类集合和测量法矢集合,并计算候选种子;
在步骤S3中,通过以下具体步骤计算得到聚类集合和测量法矢集合,具体步骤如下:
步骤S31:以孔特征法矢集合中第i元素与种子集合中各种子分别形成的夹角,加入第i夹角集合中作为元素;
步骤S32:若种子集合中第j种子,与孔特征法矢集合中第i元素形成夹角,为第i夹角集合取值最小的元素;则将孔特征法矢集合中第i元素加入聚类集合中第j聚类子集,对应将种子集合中第j种子加入测量法矢集合;其中,{i∈Z|1≤i≤N},N为孔特征法矢集合中元素的数量;
步骤S33:遍历聚类集合,将聚类集合中第j聚类子集的各元素与种子集合中第j种子形成的夹角加入候选集合作为元素,候选集合中元素取得最大值时对应的聚类集合中第j个聚类子集的特定元素作为候选种子;其中,{j∈Z|1≤j≤M},M为种子集合中种子的数量;
步骤S4:判断聚类收敛性:若聚类收敛,则执行步骤S6;若聚类不收敛,则执行步骤S5;
步骤S5:先更新种子集合;然后,若迭代次数小于等于最大迭代次数,则迭代次数增加一次,并重新依次执行步骤S3、步骤S4;若迭代次数大于最大迭代次数,则聚类规模加一,增加候选种子至当前种子集合形成新的种子集合,当前迭代次数回归初始值,并重新执行步骤S3、步骤S4;
步骤S6:将测量法矢集合转化为测量摆角集合,输出测量摆角集合并结束程序。
2.根据权利要求1所述的群孔测量摆角规划方法,其特征在于:所述测针参数包括测头直径和测杆直径。
3.根据权利要求1所述的群孔测量摆角规划方法,其特征在于:所述容差信息的取值大于等于0.5°。
4.根据权利要求1所述的群孔测量摆角规划方法,其特征在于:聚类规模的初始值为1、迭代次数的初始值为1;初始化种子集合为:将孔特征法矢中第一个元素作为种子集合的唯一种子。
5.根据权利要求1所述的群孔测量摆角规划方法,其特征在于:所述聚类集合中聚类子集与种子集合中种子顺次一一对应。
6.根据权利要求1所述的群孔测量摆角规划方法,其特征在于,当所述候选集合中元素取得的最大值大于夹角阈值,则判定聚类不收敛,否则判定聚类收敛。
7.根据权利要求1所述的群孔测量摆角规划方法,其特征在于:步骤S5中更新种子集合的方法为:将聚类集合中各聚类子集一一转换为新的种子集合中各种子,具体为使用各聚类子集中元素平均值依次作为新的种子集合中的各种子。
8.一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被执行时实现上述权利要求1至7中任一项所述的群孔测量摆角规划方法。
9.一种电子设备,其特征在于,包括:
处理器;
存储器,用于存储所述处理器的可执行指令;
其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行权利要求1至7中任意一项所述的群孔测量摆角规划方法。
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