CN114878523B - 一种透明导电膜性能测试装置 - Google Patents

一种透明导电膜性能测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN114878523B
CN114878523B CN202210809984.2A CN202210809984A CN114878523B CN 114878523 B CN114878523 B CN 114878523B CN 202210809984 A CN202210809984 A CN 202210809984A CN 114878523 B CN114878523 B CN 114878523B
Authority
CN
China
Prior art keywords
module
lifting seat
detection module
base
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202210809984.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN114878523A (zh
Inventor
徐莺
邓子辉
鹿启帅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Changzhou Kaide New Material Technology Co ltd
Original Assignee
Changzhou Kaide New Material Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Changzhou Kaide New Material Technology Co ltd filed Critical Changzhou Kaide New Material Technology Co ltd
Priority to CN202210809984.2A priority Critical patent/CN114878523B/zh
Publication of CN114878523A publication Critical patent/CN114878523A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN114878523B publication Critical patent/CN114878523B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开了一种透明导电膜性能测试装置,包括底座和检测模块,底座的顶表面设置有顶板,顶板的表面中部设置有感光模块,感光模块的两侧设置有夹持件,底座的一端设置有伸缩座,伸缩座的表面设置有驱动电机,伸缩座的顶端安装有伸缩件,伸缩件的顶端表面安装有检测模块,检测模块的底端安装有光源柱,光源柱的底端安装有压力圈。本发明通过设置可对应夹持的结构,基于夹持结构能够调节所固定透光膜的垂直高度,以配合透光率的多高程测量和数据捕捉,且具有多种固定方式,可避免在过去常规的固定流程下导致膜的形变以影响到测定的数据结果。

Description

一种透明导电膜性能测试装置
技术领域
本发明涉及导电膜性能检测领域,特别涉及一种透明导电膜性能测试装置。
背景技术
透明导电薄膜是一种既能导电又在可见光范围内具有高透明率的一种薄膜,主要有金属膜系、氧化物膜系、其他化合物膜系、高分子膜系、复合膜系等,目前较为常见的即为用于光电器件的窗口保护膜,如LED屏,手机屏幕等,为了保障其透明性能会对其表面的透光率以及划痕率采用不同的设备形成性能检测。
然而现有的透光检测设备其功能性单一,对于环境要求较高,在进行标准检测的流程下需要在室内其它光源环境下,且不能够靠近具有反光的物体,特别是具有散射性能的物体均能够对透光率的结果产生影响,尤其是其设备仅能够对透光率进行检验,无法针对倾斜照射的光线以及自身的导电率和耐划抗压构成检验,因此实用性不强。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种透明导电膜性能测试装置。
为了解决上述技术问题,本发明提供了如下的技术方案:
本发明一种透明导电膜性能测试装置,包括底座和检测模块,所述底座的顶表面设置有顶板,顶板的表面中部设置有感光模块,感光模块的两侧设置有夹持件,所述底座的一端设置有伸缩座,伸缩座的表面设置有驱动电机,所述伸缩座的顶端安装有伸缩件,所述伸缩件的顶端表面安装有检测模块,所述检测模块的底端安装有光源柱,所述光源柱的底端安装有压力圈;
所述夹持件包含有磁性块和升降座,磁性块的表面两侧设置有通孔,所述升降座的表面设置有直筒,且直筒贯穿升降座至底表面,所述直筒的一侧设置有金属块,所述直筒的底端设置有气泵,所述升降座的底端中部设置有电动伸缩杆,且电动伸缩杆设置于顶板的内部。
作为本发明的一种优选技术方案,所述升降座为对称设置,且分为第一升降座和第二升降座,所述第一升降座和第二升降座的内侧表面设置有限位块,所述第一升降座的底侧一端设置有电源模块,所述第二升降座的底侧一端设置有控制模块,控制模块的顶端安装有电流传感器。
作为本发明的一种优选技术方案,所述电源模块和第一升降座内部的直筒为电性连接,控制模块和第二升降座内部的直筒为电性连接,直筒为金属材料制作而成,所述控制模块和电源模块为电性连接,所述控制模块包含有MCU微控芯片、时钟芯片和电压控制器,所述底座表面设置有触控屏,且控制模块和触控屏为电性连接。
作为本发明的一种优选技术方案,所述检测模块的两侧表面均设置有滑道,滑道的表面设置有滑动块,滑动块的表面设置有遮挡板,所述遮挡板的内壁设置有吸光层。
作为本发明的一种优选技术方案,所述遮挡板的内壁中部设置有侧光源,侧光源的中部设置有可调节垂直角度的灯筒,以及灯筒内部的射线灯,所述侧光源和检测模块为电性连接,检测模块和底座为电性连接。
作为本发明的一种优选技术方案,所述压力圈和光源柱为表面套接卡扣设置,压力圈底表面设置有法兰盘,法兰盘和压力圈为垂直伸缩卡扣设置,且压力圈的底表面为尖锐结构设置。
作为本发明的一种优选技术方案,所述底座包含有内置电源和系统主机模块,其中系统主机模块分别与控制模块、驱动电机、感光模块和检测模块为电性连接,感光模块包含有硅探测器和散光探测器,所述检测模块和伸缩件通过连接横杆为固定连接。
与现有技术相比,本发明的有益效果如下:
1:本发明通过设置可对应夹持的结构,基于夹持结构能够调节所固定透光膜的垂直高度,以配合透光率的多高程测量和数据捕捉,且具有多种固定方式,可避免在过去常规的固定流程下导致膜的形变以影响到测定的数据结果。
2:本发明根据所设置的夹持结构,基于自身的结构特征进一步设置具有回路结构的检测装置,可直接在夹持完成后即可针对透明薄膜进行电流通过性检验,可基于同一种设备完成多种性能的检测。
3:本发明还能够根据两侧所设置的遮光板对内侧的透光膜形成光线遮挡,在保障了外部光线在散射至内侧即受到吸收的同时,还能够进一步在两侧构成倾斜角度射入的光线,以检验不同角度的光线透过率。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1是本发明的整体结构示意图;
图2是本发明的后视结构示意图;
图3是本发明的夹持件结构拆分图;
图4是本发明的顶板结构剖面图;
图5是本发明的遮挡板结构示意图;
图6是本发明的压力圈结构仰视图;
图中:1、底座;101、感光模块;102、伸缩座;103、驱动电机;104、伸缩件;2、检测模块;201、光源柱;202、滑道;203、滑动块;204、遮挡板;205、吸光层;206、侧光源;3、顶板;301、夹持件;4、压力圈;401、法兰盘;5、磁性块;501、升降座;502、通孔;503、直筒;504、金属块;505、气泵;506、电动伸缩杆;6、第一升降座;601、第二升降座;602、限位块;603、电源模块;604、控制模块;605、电流传感器。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
实施例1
如图1-3所示,本发明提供一种透明导电膜性能测试装置,包括底座1和检测模块2,底座1的顶表面设置有顶板3,顶板3的表面中部设置有感光模块101,感光模块101的两侧设置有夹持件301,底座1的一端设置有伸缩座102,伸缩座102的表面设置有驱动电机103,伸缩座102的顶端安装有伸缩件104,伸缩件104的顶端表面安装有检测模块2,检测模块2的底端安装有光源柱201,光源柱201的底端安装有压力圈4;
夹持件301包含有磁性块5和升降座501,磁性块5的表面两侧设置有通孔502,升降座501的表面设置有直筒503,且直筒503贯穿升降座501至底表面,直筒503的一侧设置有金属块504,直筒503的底端设置有气泵505,升降座501的底端中部设置有电动伸缩杆506,且电动伸缩杆506设置于顶板3的内部。
进一步的,底座1包含有内置电源和系统主机模块,其中系统主机模块分别与驱动电机103、感光模块101和检测模块2为电性连接,感光模块101包含有硅探测器和散光探测器,检测模块2和伸缩件104通过连接横杆为固定连接。
具体的,其整体结构主要基于底座1上的感光模块101以及检测模块2构成,基于检测模块2从光源柱201所射出的光线透过透明导电膜形成光线透过检测的效果,于底座1一端设置的伸缩座102主要基于驱动电机103构成电动升降结构,使内部的伸缩件104以形成滚珠丝杆或推动升降效果,从而调节检测模块2的高程以针对不同远近的光线透光率检测。
在此之上则在顶板3表面设置夹持件301结构,夹持件301主要由磁性块5和升降座501构成,透光薄膜具有两种方式形成持续固定,第一种即为直接放置于磁性块5表面,在受到底座1上触控屏的控制后,气泵505将从直筒503底部启动,基于磁性块5表面的通孔502对表面的透光薄膜吸附,以避免采用直接的机械方式固定对透光薄膜形成两端的损伤以及中部夹持形变,降低透光区域的薄厚程度;
第二种即为将磁性块5和升降座501拆分后,将透光膜两端在打孔或直接套接在直筒503表面,此时将磁性块5底部的磁铁和升降座501处的金属块504对应吸附,以达到夹持固定的方式,以此构成对透光薄膜的固定式检验,所固定的方式可大量降低透光薄膜受外界影响,例如工作人员的动作导致的吹动,以及对桌面的碰撞等,若在必要时,还能够根据升降座501底部的电动伸缩杆506使夹持或吸附固定的透光薄膜上下升降,从而调节感光模块101所接收的光线焦距距离,以此可获取针对如摄像头保护时因内部焦距调节对光线射入所产生的影响等。
实施例2
与实施例1不同之处在于,升降座501为对称设置,且分为第一升降座6和第二升降座601,第一升降座6和第二升降座601的内侧表面设置有限位块602,第一升降座6的底侧一端设置有电源模块603,第二升降座601的底侧一端设置有控制模块604,控制模块604的顶端安装有电流传感器605。
电源模块603和第一升降座6内部的直筒503为电性连接,控制模块604和第二升降座601内部的直筒503为电性连接,直筒503为金属材料制作而成,控制模块604和电源模块603为电性连接,控制模块604包含有MCU微控芯片、时钟芯片和电压控制器,底座1表面设置有触控屏,且控制模块604和触控屏为电性连接。
如图3和4所示,因直筒503采用的是金属材料制作,在通过控制模块604向电源模块603控制后,电源模块603所提供的电流将分别从第一升降座6内部的两处直筒503供电,由于直筒503主要设置于通孔502内部,且和通孔502并不接触,因此所直接夹持的透光薄膜则直接受电传递,并向第二升降座601传递至内部直筒503处,再由底部的控制模块604形成回路,与此同时控制模块604顶部所设置的电流传感器605将对线路的电流检测,以针对透光薄膜的通电率进行监测,采集透光薄膜的通电性能,保障在如触控屏上使用时能够在电流屏以及其它LED屏幕上和屏幕构成整体。
所吸附的透光薄膜则在吸附至通孔502内侧后,由于吸附压力将主要和直筒503接触,亦可如上所描述构建通电回路,此种方式能够更方便工作人员的实时工作,即直接将透光薄膜放置于磁性块5表面即可,且能够进一步降低对磁性块5所具有磁性部分的影响。
实施例3
与实施例1-2不同之处在于,检测模块2的两侧表面均设置有滑道202,滑道202的表面设置有滑动块203,滑动块203的表面设置有遮挡板204,遮挡板204的内壁设置有吸光层205。
遮挡板204的内壁中部设置有侧光源206,侧光源206的中部设置有可调节垂直角度的灯筒,以及灯筒内部的射线灯,侧光源206和检测模块2为电性连接,检测模块2和底座1为电性连接。
如图5所示,位于检测模块2表面均设置有滑道202和滑动块203,并基于滑道202顶部和底部构成对滑动块203的卡扣限位作用,随滑动块203同步移动的遮挡板204主要遮挡侧面的光线,内表面设置的吸光层205将对散射或反射到内部的光线吸收,如针对光滑桌面的光线反射形成的光线吸收;
在此之上于中部还设置有成对的侧光源206,即区别于光源柱201的垂直角度,从两侧可具有调节功能的灯筒以改变内部光源对感光模块101的入射角度,以此可针对侧向光源,以及如市面上的防窥薄膜或大屏幕所构建的侧向光线的检验,可基于侧向光线的是否通过构成检验,同时内壁所设置的吸光层205也将进一步增加侧光源206的照射唯一性,增加检验数据的准确程度。
实施例4
与实施例2-3不同之处在于,压力圈4和光源柱201为表面套接卡扣设置,压力圈4底表面设置有法兰盘401,法兰盘401和压力圈4为垂直伸缩卡扣设置,且压力圈4的底表面为尖锐结构设置。
如图6所示,由于常规的透光薄膜依旧需要进行拉伸检验和划痕检验,所设置的伸缩件104在配合压力圈4可在透光薄膜受夹持件301机械固定后,升高至最高高度,随后根据压力圈4基于驱动电机103的制动向下位移,直至针对透光薄膜构成挤压效应,与此同时控制模块604或底座1块所包含的压力传感器也将针对一侧的升降座501计算受压,直至一端的透光薄膜固定因拉扯断裂,即为薄膜受拉的极限值;
在此之前还能够根据压力圈4表面的法兰盘401的上下卡扣滑动,使压力圈4表面的尖锐结构能够穿出至法兰盘401表面,随后可将尖锐结构在其表面升降形成压力后,工作人员可前后拉动透光薄膜构成划痕,以检验压力划痕的痕迹程度,以此可在一种设备上完成多种透光薄膜的检验策略,能够大量提高对于透光薄膜的检验准确度和检验效率。
最后应说明的是:以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种透明导电膜性能测试装置,包括底座(1)和检测模块(2),其特征在于,所述底座(1)的顶表面设置有顶板(3),顶板(3)的表面中部设置有感光模块(101),感光模块(101)的两侧设置有夹持件(301),所述底座(1)的一端设置有伸缩座(102),伸缩座(102)的表面设置有驱动电机(103),所述伸缩座(102)的顶端安装有伸缩件(104),所述伸缩件(104)的顶端表面安装有检测模块(2),所述检测模块(2)的底端安装有光源柱(201),所述光源柱(201)的底端安装有压力圈(4);
所述夹持件(301)包含有磁性块(5)和升降座(501),磁性块(5)的表面两侧设置有通孔(502),所述升降座(501)的表面设置有直筒(503),且直筒(503)贯穿升降座(501)至底表面,所述直筒(503)的一侧设置有金属块(504),所述直筒(503)的底端设置有气泵(505),所述升降座(501)的底端中部设置有电动伸缩杆(506),且电动伸缩杆(506)设置于顶板(3)的内部,所述升降座(501)为对称设置,且分为第一升降座(6)和第二升降座(601),所述第一升降座(6)和第二升降座(601)的内侧表面设置有限位块(602),所述第一升降座(6)的底侧一端设置有电源模块(603),所述第二升降座(601)的底侧一端设置有控制模块(604),控制模块(604)的顶端安装有电流传感器(605)。
2.根据权利要求1 所述的一种透明导电膜性能测试装置,其特征在于,所述电源模块(603)和第一升降座(6)内部的直筒(503)为电性连接,控制模块(604)和第二升降座(601)内部的直筒(503)为电性连接,直筒(503)为金属材料制作而成,所述控制模块(604)和电源模块(603)为电性连接,所述控制模块(604)包含有MCU微控芯片、时钟芯片和电压控制器,所述底座(1)表面设置有触控屏,且控制模块(604)和触控屏为电性连接。
3.根据权利要求1所述的一种透明导电膜性能测试装置,其特征在于,所述检测模块(2)的两侧表面均设置有滑道(202),滑道(202)的表面设置有滑动块(203),滑动块(203)的表面设置有遮挡板(204),所述遮挡板(204)的内壁设置有吸光层(205)。
4.根据权利要求3所述的一种透明导电膜性能测试装置,其特征在于,所述遮挡板(204)的内壁中部设置有侧光源(206),侧光源(206)的中部设置有可调节垂直角度的灯筒,以及灯筒内部的射线灯,所述侧光源(206)和检测模块(2)为电性连接,检测模块(2)和底座(1)为电性连接。
5.根据权利要求1所述的一种透明导电膜性能测试装置,其特征在于,所述压力圈(4)和光源柱(201)为表面套接卡扣设置,压力圈(4)底表面设置有法兰盘(401),法兰盘(401)和压力圈(4)为垂直伸缩卡扣设置,且压力圈(4)的底表面为尖锐结构设置。
6.根据权利要求2所述的一种透明导电膜性能测试装置,其特征在于,所述底座(1)包含有内置电源和系统主机模块,其中系统主机模块分别与控制模块(604)、驱动电机(103)、感光模块(101)和检测模块(2)为电性连接,感光模块(101)包含有硅探测器和散光探测器,所述检测模块(2)和伸缩件(104)通过连接横杆为固定连接。
CN202210809984.2A 2022-07-11 2022-07-11 一种透明导电膜性能测试装置 Active CN114878523B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210809984.2A CN114878523B (zh) 2022-07-11 2022-07-11 一种透明导电膜性能测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210809984.2A CN114878523B (zh) 2022-07-11 2022-07-11 一种透明导电膜性能测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN114878523A CN114878523A (zh) 2022-08-09
CN114878523B true CN114878523B (zh) 2022-09-20

Family

ID=82682700

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210809984.2A Active CN114878523B (zh) 2022-07-11 2022-07-11 一种透明导电膜性能测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114878523B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115165577B (zh) * 2022-09-07 2023-02-07 常州树杰塑业有限公司 一种抗静电pe薄膜褶皱检测装置
CN115219364B (zh) * 2022-09-20 2022-12-13 常州凯得新材料科技有限公司 一种塑料硬度测试设备
CN116559577B (zh) * 2023-07-11 2023-09-29 深圳市康凌源科技有限公司 一种手机显示屏导电测试装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200506375A (en) * 2003-05-16 2005-02-16 Tokyo Electron Ltd Inspection apparatus
WO2009113478A1 (ja) * 2008-03-12 2009-09-17 株式会社アルバック 表面検査装置、表面検査方法
CN202903678U (zh) * 2012-10-19 2013-04-24 深圳市创益科技发展有限公司 一种导电玻璃透光率的检测装置
EP3084398B1 (en) * 2014-12-23 2023-10-04 Das-Nano Tech, S.L. Quality inspection of thin film materials
CN108535329A (zh) * 2018-03-26 2018-09-14 哈尔滨工业大学 薄层导电材料的测试装置、表面电阻的测试方法、损伤信息的测试方法
CN108956613A (zh) * 2018-05-04 2018-12-07 湖南科创信息技术股份有限公司 玻璃锡缺陷视觉鉴别系统
CN211347928U (zh) * 2019-11-29 2020-08-25 湖北仁齐科技有限公司 一种ar膜透光性测试台
CN211347930U (zh) * 2019-12-30 2020-08-25 洛阳古洛玻璃有限公司 一种检测导电膜玻璃透光率的装置
CN215297145U (zh) * 2021-07-06 2021-12-24 南京波特光电有限公司 一种功能镜片质检电子信息控制装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN114878523A (zh) 2022-08-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN114878523B (zh) 一种透明导电膜性能测试装置
CN106657984B (zh) 车载摄像头功能自动测试机
CN103674903A (zh) 非接触式光泽度仪
CN202794060U (zh) 一种用于检测玻璃基板中缺陷的装置
CN204421843U (zh) 一种检测锡膏厚度的设备
CN102609006A (zh) 太阳跟踪光电传感探测头
CN103471821A (zh) Led台灯照度均匀度和光谱特性检测与分析装置及方法
CN115165577B (zh) 一种抗静电pe薄膜褶皱检测装置
CN208672319U (zh) 一种用于汽车零部件内槽铝屑的视觉检测装置
CN218896057U (zh) 一种孔内壁瑕疵视觉检测设备
CN216485854U (zh) 一种液晶模组亮度检测装置
CN115655334A (zh) 一种便携式微光器件性能测试装置
CN208537882U (zh) 条形组合光源
CN206772245U (zh) 一种透镜偏心度检测器
CN205228781U (zh) 光报警器的测试系统中的控制装置
CN205505994U (zh) 太阳能聚光器反射镜单元的面形检测装置
CN210534010U (zh) 一种中药口服液瓶中可见异物检测系统
CN106839983A (zh) 应力二次元检测一体机
CN203785635U (zh) 产品高度单缝检测装置
CN112255130A (zh) 一种手机外壳配件生产用自动化节能型硬度检测装置
CN207908053U (zh) 可提高光侦测灵敏度的光学装置
CN103868458B (zh) 产品高度双缝检测装置
CN105628706B (zh) 服装面料的稀疏度检测仪
CN211576989U (zh) 一种动力电池外观检测装置
CN212779862U (zh) 一种内窥镜光学系统检测固定装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant