CN114846301B - 光栅盘、z相信号的识别方法、光电编码器和激光雷达 - Google Patents
光栅盘、z相信号的识别方法、光电编码器和激光雷达 Download PDFInfo
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Abstract
一种光栅盘(1004)、光电编码器(1000)、激光雷达和Z相信号(Z1，Z2，Z3)的识别方法，光栅盘(1004)包括圆盘(11)，圆盘(11)沿径向分布有至少两个Z相刻线，在圆盘(11)上的Z相刻线(21,22,23,…,2n)出现污染异常时，通过预先设置的Z相刻线(21,22,24,…，2n)的分布位置，可以快速识别出异常的Z相刻线(23)产生的Z相信号(Z3)，然后可以利用其他正常的Z相刻线(21,22,24,…,2n)实现零位校准，提高零位校准的可靠性。
Description
技术领域
本申请涉及伺服电机领域，尤其涉及一种光栅盘、Z相信号的识别方法、光电编码器和激光雷达。
背景技术
光电编码器是一种通过光电转换将伺服电机输出轴上的机械几何位移量转换成脉冲或数字量的传感器。这是目前应用最多的传感器，光电编码器是由光源、光码盘和光敏元件组成。光栅盘是在一定直径的圆盘上等分地开通若干个长方形孔。由于光电码盘与电动机同轴，电动机旋转时，光栅盘与电动机同速旋转，经发光二极管等电子元件组成的光接收器检测输出若干脉冲信号，通过计算每秒光电编码器输出脉冲的个数就能反映当前电动机的转速。此外，为判断旋转方向，码盘还可提供相位相差90的两路脉冲信号。为了对转轴的绝对位置进行记录，光栅盘上通常设置有一个Z相刻线，Z相刻线连通两个相邻的刻线，光电编码器利用Z相刻线对应的Z相信号进行零位校准，然而光栅盘在使用过程中表面会覆盖有污渍或破损的情况，那么光电编码器会检测到异常的Z相信号，造成检测误差。
发明内容
本申请实施例提供了的光栅盘、Z相信号的识别方法、光电编码器和激光雷达，可以解决相关技术中光栅盘上的Z相刻线存在异常时造成检测误差的问题。所述技术方案如下：
第一方面，本申请实施例提供了一种光栅盘，包括：
圆盘，所述圆盘沿径向分布有至少两个Z相刻线，径向表示径向平面内通过轴心线的方向，各个Z相刻线的长度小于或等于圆盘的半径，那么各个Z相刻线也对应一个角度，角度范围为0度～360度之间。各个Z相刻线具有一定的宽度，圆盘上的径向上还紧密均匀分布有多个A相刻线和/B相刻线，不同类型的刻线的宽度不相等。
在一种可能的设计中，所述至少两个Z相刻线中任意两个Z相刻线的宽度不相等。容易理解，不同宽度的Z相刻线对应的Z相信号的脉宽也不相等。
在一种可能的设计中，至少两个Z相刻线均匀的分布在圆盘上，即相邻的两个Z相刻线的角度间隔相等。
在一种可能的设计中，所述至少两个Z相刻线的数量大于或等于3时，Z相刻线的宽度以预设步长进行递增。
在一种可能的设计中，所述至少两个Z相刻线非均匀地分布在所述圆盘上。
在一种可能的设计中，所述至少两个Z相刻线的数量大于或等于3，相邻的两个Z相刻线的角度间隔以预设步长递增。
在一种可能的设计中，各个Z相刻线的宽度相等。
在一种可能的设计中，至少两个Z相刻线的数量为2，两个Z相刻线的角度差为30度～120度之间。
第二方面，本申请提供一种Z相信号的识别方法，应用于光栅盘，所述光栅盘包括圆盘，所述圆盘沿径向分布有至少两个Z相刻线；
其中，所述识别方法包括：
确定预设时长内采集的多个Z相信号的位置；
根据所述至少两个Z相刻线的位置和所述各个Z相信号的位置，在所述多个Z相信号中识别异常Z相信号；
在存在异常Z相信号时，根据所述异常Z相信号的位置确定所述光栅盘上异常Z相刻线的位置。
在一种可能的设计中，还包括：
在所述多个Z相信号不全为异常Z相信号时，过滤所述异常Z相信号，通过除所述异常Z相信号之外的正常Z相进行零位校准；或
在所述多个Z相信号均为异常Z相信号时，输出报警提示信号。
第三方面，本申请提供了一种光电编码器，包括：光源、光接收器、光栅盘、处理器和存储器，所述光源和所述光接收器之间设置有光栅盘；
其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如第一方面任意一项的方法步骤。
第四方面，本申请提供一种激光雷达，包括上述的光电编码器。
本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
在光栅盘上冗余设置至少两个Z相刻线，在光栅盘上出现脏污等异常时，通过预先设置的Z相刻线的位置识别出异常的Z相信号，根据已知的至少两个Z相刻线的位置可以快速识别出异常的Z相刻线产生的Z相信号，然后可以利用其他正常的Z相刻线实现零位校准，因此可以提高零位校准的可靠性；另外，可以根据异常的Z相信号确定出光栅盘上异常Z相刻线的位置，便于对光栅盘进行故障定位和维修。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的一种光栅盘的结构示意图；
图2是本申请实施例提供的一种光栅盘的另一结构示意图；
图3是本申请实施例提供的Z相信号的识别方法的流程示意图；
图4A是本申请实施例提供的正常的光栅盘的结构示意图；
图4B是根据图4A的光栅盘生成的Z相信号和A相信号的波形图；
图5A是本申请实施例提供的异常的光栅盘的结构示意图；
图5B是根据图5A的光栅盘生成的Z相信号和A相信号的波形图；
图6A是本申请实施例提供的异常的光栅盘的结构示意图；
图6B是根据图6A的光栅盘生成的Z相信号和A相信号的波形图；
图7A是本申请实施例提供的异常的光栅盘的结构示意图；
图7B是根据图7A的光栅盘生成的Z相信号和A相信号的波形图；
图8是本申请实施例提供的光电编码器的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施例方式作进一步地详细描述。
图1为本申请实施例提供的一种光栅盘的结构示意图，光栅盘包括圆盘11，圆盘11上沿着径向上分布有n个Z相刻线，n为大于或等于2的整数。光栅盘的类型又分为透射型和反射型，对于透射型的光栅盘来说，电机的转轴上设置有光栅盘，光栅盘上设置有多个缝隙，光栅盘的两侧分别设置有光源和光接收器，电机的转轴在转动过程中同步带动光栅盘转动，光源发射的光信号透出光栅盘上的缝隙被光接收器检测，光接收器将检测的光信号转换为电信号，然后根据电信号的属性信息计算电机的角速度。而对于反射型的光栅盘来说，其区别在于，光栅盘上设置的是多个反射条，光源和光接收器设置在光栅盘的同侧，光源发射的光信号通过反射条的反射被光接收器检测，然后光接收器将检测到的光信号转换为电信号，以及根据电信号的属性信息计算电机的角速度。
对于透射型的光栅盘来说，Z相刻线为圆盘11上设置的缝隙；对于反射型的光栅盘来说，Z相刻线为圆盘11上设置的反射条。当连续两次采集到Z相信号时表示电机带动光栅盘转动了360度。容易理解，Z相刻线的宽度和Z相信号的宽度有关，即Z相刻线的宽度越大则Z相信号的脉宽越大，Z相刻线的宽度越小则Z相信号的脉宽越小。径向表示沿着圆盘11的半径的方向，即Z相刻线21～Z相刻线2n的延长线均通过圆盘11的圆心(图1中未画出)。
其中，n个Z相刻线可以均匀地分布在圆盘11上，也可以非均匀地分布在圆盘11上。均匀地分布表示n个Z相刻线将圆盘11的圆周等分为n个圆弧，每个圆弧的角度为360度/n，例如：n＝4，4个Z相刻线将圆周划分为4个圆弧，每个圆弧的角度为90度。非均匀地分布表示n个Z相刻线将圆盘11的圆周分为n个圆弧，n个圆弧中存在至少一个角度不相等的圆弧，优选的，n个圆弧中所有的圆弧的角度均不相等，例如：n＝3，3个Z相刻线将圆周划分为3个圆弧，3个圆弧的角度之和为360度，3个圆弧的角度分布为60度、120度和180度，各个圆弧的角度均不相等。
需要说明的是，圆盘11上除设置有n个Z相刻线之外，还设置有多个A相刻线和/或B相刻线(图中未画出)，多个A相刻线或B相刻线均匀的分布在圆盘11的径向方向，A相刻线用于生成A相信号，B相刻线用于生成B相信号。其中，在圆盘11上设置有A相刻线和Z相刻线时，由于A相刻线和Z相刻线的位置是已知的，相邻的两个Z相信号的间隔可以使用A相信号的数量来表示；或在圆盘11上设置有B相刻线和Z相刻线时，由于B相刻线和Z相刻线的位置是已知的，相邻的两个Z相信号的间隔可以使用B相信号的数量来表示；或在圆盘11上同时设置有A相刻线、B相刻线和Z相刻线时，由于A相刻线、B相刻线和Z相刻线的位置是已知的，在使用A相信号表示相邻的两个Z相信号的间隔时，如果A相刻线发生故障，那么切换为B相信号来表示Z相信号的间隔；相应的，在使用B相信号表示相邻的两个Z相信号的间隔是，如果B相刻线发生故障，那么切换为A相信号来表示Z相信号的间隔，这样可以提高系统工作的可靠性。
例如：圆盘11上设置有3600个均匀分布的A相刻线和2个Z相刻线，2个Z相刻线分别为：Z相刻线21和Z相刻线22，由于Z相刻线和A相刻线之间存在固定的位置关系，因此Z相刻线21和Z相刻线22之间的间隔可以使用A相刻线的数量来表示。
在本实施例中，光栅盘的圆盘上设置至少两个Z相刻线，在圆盘上的Z相刻线出现污染时，包括在现有的Z相刻线之外的污染以及在现有Z相刻线上的污染时，通过冗余设置的两个Z相刻线的分布位置，可以快速识别出异常的Z相刻线产生的Z相信号，然后可以利用其他正常的Z相刻线实现零位校准，因此可以提高零位校准的可靠性。
在一个或多个实施例中，所述至少两个Z相刻线中任意两个Z相刻线的宽度不相等。至少两个Z相刻线的数量为n，n为大于或等于2的整数，n个Z相刻线分别为Z相刻线1、Z相刻线2、…、Z相刻线n，上述n个Z相刻线的宽度分别为：w1、w2、…、wn，其中，n个Z相刻线的宽度关系满足：wi≠wj，i＝1、2、…、n，j＝1、2、…、n，i≠j。其中，在各个Z相刻线的宽度不相等时，至少两个Z相刻线可以均匀地分布也可以非均匀地分布在圆盘11上，本申请不作限制。本实施例通过将各个Z相刻线设置为不同的宽度，可以有效的区分各个Z相刻线对应的Z相信号，避免各个Z相信号之间发生混淆，提高识别Z相信号的准确率。
举例来说，参见图2所示，圆盘11上设置Z相刻线21和Z相刻线22，Z相刻线21的宽度大于Z相刻线22的宽度。
进一步的，所述至少两个Z相刻线的数量大于或等于3时，Z向刻线的宽度以预设步长递增。
例如：圆盘上设置的Z相刻线的数量为3个时，3个Z相刻线分别为Z相刻线1、Z相刻线2和Z相刻线3，Z相刻线1的宽度为L，Z相刻线2的宽度为L+△L，Z相刻线3的宽度为L+2×△L。
在一个或多个实施例中，至少两个Z相刻线非均匀地分布在所述圆盘上。
其中，非均匀地分布表示n个Z相刻线将圆盘11的圆周分为n个圆弧，n为大于2的整数，n个圆弧中存在至少一个角度不相等的圆弧，优选的，n个圆弧中所有的圆弧的角度均不相等，例如：n＝3，3个Z相刻线将圆周划分为3个圆弧，3个圆弧的角度之和为360度，3个圆弧的角度分布为60度、120度和180度，各个圆弧的角度均不相等。本实施例通过设置至少两个Z相刻线非均匀地分布在圆盘上，可以有效的区分各个Z相刻线对应的Z相信号，避免各个Z相信号之间发生混淆，提高识别Z相信号的准确率。
进一步的，所述至少两个Z相刻线的数量大于或等于3，相邻的两个Z相刻线之间的间隔以预设步长递增。
其中，相邻的两个Z相刻线之间的间隔可以用角度来表示，也可以用A相刻线或B相刻线的数量来表示。
例如：间隔用角度来表示，光栅盘设置的Z相刻线的数量为3个，3个Z相刻线为：Z相刻线1、Z相刻线2和Z相刻线3，预设步长为30度，Z相刻线1和Z相刻线2之间的角度间隔为90度，Z相刻线2和Z相刻线3之间的角度间隔为120度，Z相刻线3和Z相刻线1之间的角度间隔为150度。
又例如：间隔用于A相刻线的数量来表示，光栅盘上设置有3600个均匀分布地A相刻线，同时设置有3个Z相刻线：Z相刻线1、Z相刻线2和Z相刻线3，预设步长为300个A相刻线，从顺时针方向来看，Z相刻线1和Z相刻线2之间的间隔为900个A相刻线，Z相刻线2和Z相刻线3之间的间隔为1200个A相刻线，Z相刻线3和Z相刻线1之间的间隔为1500个A相刻线。
其中，在至少两个Z相刻线非均匀地分布在圆盘上时，各个Z相刻线的宽度相等。
其中，至少两个Z相刻线的数量为2，2个Z相刻线的角度差为30度～120度之间。
其中，至少两个Z相刻线非均匀地分布在圆盘上，至少两个Z相刻线的角度间隔为30度～120度之间。
参见图3，为本申请实施例提供的一种Z相信号的识别方法的流程示意图，在申请实施例的Z相信号的识别方法应用于图1和图2的光栅盘，光栅盘的结构可参照图1和图2实施例所示，此处不再赘述。其中，所述方法包括：
S201、确定预设时长内采集的多个Z相信号的位置。
其中，预设时长一般大于电机旋转360度的时间，预设时长优选有电极旋转两周的时长，这样可以保证在预设时长内采集到至少两个相同类型的Z相信号。另外，光栅盘还设置有A相刻线或B相刻线，通过光接收器在预设时长内也会采集到多个A相信号或B相信号。各个Z相信号的位置可以用相对位置来表示，例如：本实施例用相邻的两个Z相信号之间对应的A相信号或B相信号的数量来表示其位置。
例如：参见图4B所示，在预设时长内采集到4个Z相信号，确定采集到的4个Z相信号的位置为：第1个Z相信号和第2个Z相信号之间的间隔为900个A相信号，第2个Z相信号和第3个Z相信号之间的间隔为2700个A相信号，第3个Z相信号和第4个Z相信号之间的间隔为900个A相信号。由于已知圆盘上分布有3600个A相刻线，第1个Z相信号和第3个Z相信号之间间隔3600个A相刻线，因此第1个Z相信号和第3个Z相信号为对应同一Z相刻线，将该Z相刻线对应的Z相信号标记为Z1；第2个Z相信号和第4个Z相信号之间间隔3600个A相刻线，因此第2个Z相信号和第4个Z相信号对应同一Z相刻线，将该Z相刻线对应的Z相信号标记为Z2。
S202、根据所述至少两个Z相刻线的位置和所述各个Z相信号的位置，在所述多个Z相信号中识别出异常Z相信号。
S203、在存在异常Z相信号时，根据所述异常Z相信号的位置确定所述光栅盘上异常Z相刻线的位置。
其中，存储器中预先存储有至少两个Z相刻线的位置，至少两个Z相刻线的位置可以用相对位置来表示，相对位置为相邻的两个Z相刻线之间的A相刻线或B相刻线的数量来表示。
例如：图4A中，光栅盘设置的Z相刻线的数量为2个：Z相刻线21和Z相刻线22，各个Z相刻线的宽度相等，存储器中存储的Z相刻线21和Z相刻线22之间的位置表示为：Z相刻线21和Z相刻线22之间间隔900个A相刻线，Z相刻线22和Z相刻线21之间间隔2700个A相刻线。在存储器中存储的至少两个Z相刻线的位置和采集到的多个Z相信号的位置匹配时，表明光栅盘是正常的，反之表示光栅盘受到污染。
举例来说，参见图4B所示的Z相信号的波形图，在预设时长内采集到4个Z相信号和多个A相信号，首选确定各个Z相信号的脉宽都符合要求，然后确定第1个Z相信号和第2个Z相信号之间间隔900个A相信号，第2个Z相信号和第3个Z相信号之间间隔2700个A相信号，第3个Z相信号和第4个Z相信号之间间隔2700个A相信号，已知光栅盘转动360度会产生3600个A相信号，那么容易得知第1个Z相信号和第3个Z相信号由同一个Z相刻线产生，标记为Z1；第2个Z相信号和第4个Z相信号有同一个Z相刻线产生，标记为Z2。存储器中预先存储的2个Z相刻线的位置为：相邻的两个Z相刻线之间间隔为900个A相刻线和2700个A相刻线。由此可知，图4B采集到的Z相信号的位置和图4A中预先设置的2个Z相刻线的位置完全匹配，因此光栅盘为正常的。
又举例来说，参见图5B所示，图5B为采集的Z相信号的波形图，在预设时长内采集到6个Z相信号和多个A相信号，首选确定各个Z相信号的脉宽都符合要求，然后确定6个Z相信号的位置为：第1个Z相信号和第2个Z相信号之间间隔900个A相信号，第2个Z相信号和第3个Z相信号之间间隔300个A相信号，第3个Z相信号和第4个Z相信号之间间隔2400个A相信号，第4个Z相信号和第5个Z相信号之间间隔900个A相信号，第5个Z相信号和第6个Z相信号之间间隔300个A相信号；已知光栅盘转动360度会产生3600个A相信号。因此第1个Z相信号和第4个Z相信号为同一Z相刻线产生，记为Z相信号Z1；第2个Z相信号和第5个Z相信号为同一Z相刻线产生，记为Z相信号Z2；第3个Z相信号和第6个Z相信号为同一Z相刻线产生，记为Z相信号Z3。存储器中预先存储的2个Z相刻线的位置为：相邻的两个Z相刻线之间间隔为900个A相刻线和2700个A相刻线。由此可知，图5B采集到的Z相信号和图4B的Z相信号的波形图不同，因此判断图5B采集到的Z相信号中存在异常Z相信号，很容易根据正确的Z相信号波形图或存储器中存储的Z相刻线的位置确定Z相信号Z3为异常Z相信号，该异常Z相信号在光栅盘上对应一个异常Z相刻线，异常Z相刻线在光栅盘上的分布如图5A所示，异常Z相刻线23与Z相刻线22之间的间隔为300个Z相刻线，异常Z相刻线23与Z相刻线21之间的间隔为2400个Z相刻线。
又举例来说，图6B为采集的Z相信号的波形图，在预设时长内采集到6个Z相信号和多个A相信号，首选确定各个Z相信号的脉宽都符合要求，然后确定6个Z相信号的位置为：第1个Z相信号和第2个Z相信号之间间隔500个A相信号，第2个Z相信号和第3个Z相信号之间间隔400个A相信号，第3个Z相信号和第4个Z相信号之间间隔2700个A相信号，第4个Z相信号和第5个Z相信号之间间隔500个A相信号，第5个Z相信号和第6个Z相信号之间间隔400个A相信号；已知光栅盘转动360度会产生3600个A相信号。因此第1个Z相信号和第4个Z相信号为同一Z相刻线产生，记为Z相信号Z1；第2个Z相信号和第5个Z相信号为同一Z相刻线产生，记为Z相信号Z2；第3个Z相信号和第6个Z相信号为同一Z相刻线产生，记为Z相信号Z3。存储器中预先存储的2个Z相刻线的位置为：相邻的两个Z相刻线之间间隔为900个A相刻线和2700个A相刻线。由此可知，图6B采集到的Z相信号和图4B的Z相信号的波形图不同，因此判断图6B采集到的Z相信号中存在异常Z相信号，很容易根据正确的Z相信号波形图或存储器中存储的Z相刻线的位置确定Z相信号Z3为异常Z相信号，该异常Z相信号在光栅盘上对应一个异常Z相刻线，异常Z相刻线在光栅盘上的分布如图6A所示，异常Z相刻线23与Z相刻线21之间的间隔为500个A相刻线，异常Z相刻线23和Z相刻线22之间的间隔为400个A相刻线。
又举例来说，图7B为采集的Z相信号的波形图，在预设时长内采集到4个Z相信号和多个A相信号，确定第1个Z相信号和第2个Z相信号之间间隔700个A相信号，第2个确定第1个Z相信号和第3个Z相信号的脉宽不等于预先设定的脉宽，因此确定4个Z相信号之间存在异常Z相信号，第1个Z相信号和第3个Z相信号之间间隔3600个A相信号，那么第1个Z相信号和第3个Z相信号由同一个Z相刻线生成，记为Z相信号Z1。第2个Z相信号和第4个Z相信号也由于同一个Z相刻线生成，记为Z相信号Z2。根据存储器中预先存储的。图7B采集到的Z相信号和图4B的Z相信号的波形图不同，因此判断图7B采集到的Z相信号中存在异常Z相信号，很容易根据正确的Z相信号波形图或存储器中存储的Z相刻线的位置确定Z相信号Z1为异常Z相信号，该异常Z相信号在光栅盘上对应一个异常Z相刻线，异常Z相刻线对应Z相刻线21"，Z相刻线21"覆盖原来的Z相刻线21的位置。
需要说明的是，当光栅盘上各个Z相刻线的设置方式并不限于图4A～图7A，可以根据实际需要进行组合，然后处理器可以根据不同的设置方式识别出异常Z相信号，从而确定出光栅盘上异常Z相刻线的位置，具体过程可参照图4B～图7B的描述，此处不再赘述。
在一个或多个实施例中，在所述多个Z相信号不全为异常Z相信号时，过滤所述异常Z相信号，通过除所述异常Z相信号之外的正常Z相进行零位校准；或
在所述多个Z相信号均为异常Z相信号时，输出报警提示信号。
其中，在Z相信号不全为异常Z相信号时，该异常Z相信号可能为新增的Z相信号(如图5B和图6B所示)，或图7B所示的异常Z相信号，将异常Z相信号进行过滤，然后利用正常的Z相信号进行零位校准。在采集的所有Z相信号均为异常Z相信号时，无法再正常进行零位校准，此时输出报警提示信号，提示用户需要进行维修。
在本实施例中，光栅盘的圆盘上设置至少两个Z相刻线，在圆盘上的Z相刻线出现污染时，包括在现有的Z相刻线之外的污染以及在现有Z相刻线上的污染时，通过冗余设置的两个Z相刻线的分布位置，可以快速识别出异常的Z相刻线产生的Z相信号，然后可以利用其他正常的Z相刻线实现零位校准，因此可以提高零位校准的可靠性。
下述为本申请装置实施例，可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请方法实施例。
请参见图8，为本申请实施例提供了一种光电编码器的结构示意图。如图8所示，以下简称光电编码器1000，本实施例以投射型的光电编码器为例进行说明，所述光电编码器1000可以包括：至少一个处理器1001，光源1002、光接收器1003、光栅盘1004、存储器1005和至少一个通信总线1006。
其中，光源1002用于发射光信号，光信号通过光栅盘1004上的刻线(Z相刻线、A相刻线或B相刻线)照射到光接收器1003上，光接收器1003用于将接收到的光信号转换为电信号(即A相信号、B相信号或Z相信号)，将电信号传输个处理器1001。光栅盘1004的结构可参照图1至图2的实施例的描述，此处不再赘述。
其中，通信总线1006用于实现这些组件之间的连接通信。
其中，处理器1001可以包括一个或者多个处理核心。处理器1001利用各种接口和线路连接整个1000内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器1005内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器1005内的数据，执行光电编码器1000的各种功能和处理数据。可选的，处理器1001可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing，DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)、可编程逻辑阵列(Programmable Logic Array，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。
其中，存储器1005可以包括随机存储器(Random Access Memory，RAM)，也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。可选的，该存储器1005包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器1005可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器1005可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等；存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及到的数据等。存储器1005可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器1001的存储装置。如图8所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及应用程序。
在图8所示的光电编码器1000中，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的配置应用程序接口的应用程序，并具体执行图3方法实施例所述的步骤。
本实施例的构思和图3的方法实施例相同，其带来的技术效果也相同，具体过程可参照图3实施例的描述，此处不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。
本申请实施例还提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质可以存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行如上述图3所示实施例的方法步骤，具体执行过程可以参见图3所示实施例的具体说明，在此不进行赘述。
本申请实施例还提供了一种激光雷达，包括上述的光电编码器。
具体地，上述激光发射电路可以应用在激光雷达中，激光雷达中除了光电编码器外，还可以包括：电源、处理设备、光学接收设备、旋转体、底座、外壳以及人机交互设备等具体结构。可以理解的是，激光雷达可以为单路激光雷达，包括有一路上述激光发射电路，激光雷达也可以为多路激光雷达，包括多路上述激光发射电路以及相应的控制系统，其中多路的具体数量可以根据实际需求确定。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。
以上所揭露的仅为本申请较佳实施例而已，当然不能以此来限定本申请之权利范围，因此依本申请权利要求所作的等同变化，仍属本申请所涵盖的范围。
Claims (11)
1.一种Z相信号的识别方法，其特征在于，应用于光栅盘，所述光栅盘包括圆盘，所述圆盘沿径向分布有至少两个Z相刻线；
其中，所述识别方法包括：
确定预设时长内采集的多个Z相信号的位置；
根据所述至少两个Z相刻线的位置和所述各个Z相信号的位置，在所述多个Z相信号中识别异常Z相信号；
在存在异常Z相信号时，根据所述异常Z相信号的位置确定所述光栅盘上异常Z相刻线的位置。
2.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，还包括：
在所述多个Z相信号不全为异常Z相信号时，过滤所述异常Z相信号，通过除所述异常Z相信号之外的正常Z相信号进行零位校准；或
在所述多个Z相信号均为异常Z相信号时，输出报警提示信号。
3.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述至少两个Z相刻线中任意两个Z相刻线的宽度不相等。
4.根据权利要求3所述的识别方法，其特征在于，所述至少两个Z相刻线均匀地分布在所述圆盘上。
5.根据权利要求1或3所述的识别方法，其特征在于，所述至少两个Z相刻线的数量大于或等于3时，Z相刻线的宽度以预设步长递增。
6.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述至少两个Z相刻线非均匀地分布在所述圆盘上。
7.根据权利要求6所述的识别方法，其特征在于，所述至少两个Z相刻线的数量大于或等于3，相邻的两个Z相刻线之间的间隔以预设步长递增。
8.根据权利要求7所述的识别方法，其特征在于，各个Z相刻线的宽度相等。
9.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述至少两个Z相刻线的数量为2，2个Z相刻线的角度差为30度～120度之间。
10.一种光电编码器，其特征在于，包括：光源、光接收器、光栅盘、处理器和存储器，所述光源和所述光接收器之间设置有光栅盘；
其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如权利要求1～9任意一项的方法步骤。
11.一种激光雷达，其特征在于，包括如权利要求10所述的光电编码器。
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