CN114840101A - 电磁触控输入方法及其装置、电子设备、存储介质 - Google Patents

电磁触控输入方法及其装置、电子设备、存储介质 Download PDF

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CN114840101A CN202210389180.1A CN202210389180A CN114840101A CN 114840101 A CN114840101 A CN 114840101A CN 202210389180 A CN202210389180 A CN 202210389180A CN 114840101 A CN114840101 A CN 114840101A
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Abstract

本发明涉及电磁触控技术领域，尤其是涉及一种电磁触控输入方法及其装置、电子设备、存储介质。本发明电磁触控输入方法中，先从电磁收发线圈的输送端向输入区域输送扫描电流，当扫描电流回到电磁收发线圈的接收端，形成接触感应电磁场，然后基于接触感应电磁场进行全局扫描，检测电磁笔接触输入区域时形成的电磁谐振信号，进一步，解析电磁谐振信号并获取接触位置信息，其中接触位置信息反映电磁笔与输入区域之间接触点的位置。最终，基于接触位置信息，获取经由电磁触控装置输入的输入数据。基于本发明的电磁触控输入方法，可以基于对电磁谐振信号的解析，准确判断出电磁笔与输入区域之间的接触位置信息，从而提升电磁触控输入的准确度。

Description

电磁触控输入方法及其装置、电子设备、存储介质
技术领域
本发明涉及电磁触控技术领域，尤其是涉及一种电磁触控输入方法及其装置、电子设备、存储介质。
背景技术
随着人们生活水平的提高，电磁触控技术得到了越来越多的应用。电磁触控装置包括电磁触控板以及电磁笔，电磁触控板包括电磁触控控制电路、电磁触控天线电路。电磁触控控制电路简称控制板，电磁触控天线电路简称天线板。天线板用于接收来自电磁笔的电磁信号，并将接收到的电磁信号传递给控制板，由控制板进行信号处理，最终得到电磁笔的一系列信息，如坐标信息、压感信息等。但是相关技术中，电磁触控板难以准确获取电磁笔的触碰位置信息。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种电磁触控输入方法及其装置、电子设备、存储介质，能够准确获取电磁笔的触碰位置信息。
根据本发明的第一方面实施例的电磁触控输入方法，应用于电磁触控装置，所述电磁触控装置包括触控板、电磁笔，所述触控板的输入区域内部铺设有电磁收发线圈，所述方法包括：
从所述电磁收发线圈的输送端向所述输入区域输送扫描电流；
当所述扫描电流回到所述电磁收发线圈的接收端，形成接触感应电磁场；
基于所述接触感应电磁场进行全局扫描，检测所述电磁笔接触所述输入区域时形成的电磁谐振信号；
解析所述电磁谐振信号并获取接触位置信息，所述接触位置信息反映所述电磁笔与所述输入区域之间接触点的位置；
基于所述接触位置信息，获取经由所述电磁触控装置输入的输入数据。
可选的，根据本发明的一些实施例，所述基于所述接触感应电磁场进行全局扫描，检测所述电磁笔接触所述输入区域时形成的电磁谐振信号，包括：
当所述电磁笔与所述输入区域发生接触，所述接触感应电磁场产生接触感应信号；
基于所述电磁收发线圈获取所述电磁谐振信号，所述电磁谐振信号经由所述接触感应信号自所述接触点在所述接触感应电磁场中扩散形成。
可选的，根据本发明的一些实施例，所述电磁谐振信号包括第一类谐振信号、第二类谐振信号，所述解析所述电磁谐振信号并获取接触位置信息，包括：
根据所述第一类谐振信号确定第一幅值信号强度数据，所述第一幅值信号强度数据反映所述接触感应信号在所述接触感应电磁场的第一方向上的幅值变化趋势；
根据所述第二类谐振信号确定第二幅值信号强度数据，所述第二幅值信号强度数据反映所述接触感应信号在所述接触感应电磁场的第二方向上的幅值变化趋势，所述第一方向与所述第二方向不共线；
基于所述第一幅值信号强度数据与所述第二幅值信号强度数据，获取所述接触位置信息。
可选的，根据本发明的一些实施例，所述第一幅值信号强度数据包括第一解析式，所述根据所述第一类谐振信号确定第一幅值信号强度数据，包括：
在所述第一方向上选取多个第一类采样点，并获取多个所述第一类采样点的第一类采样坐标；
基于多个所述第一类采样坐标，从所述第一类谐振信号中得到与多个所述第一类采样坐标对应的多个第一类采样幅值；
根据多个所述第一类采样坐标与多个所述第一类采样幅值，得到所述第一解析式。
可选的，根据本发明的一些实施例，所述第二幅值信号强度数据包括第二解析式，所述根据所述第二类谐振信号确定第二幅值信号强度数据，包括：
在所述第二方向上选取多个第二类采样点，并获取多个所述第二类采样点的第二类采样坐标；
基于多个所述第二类采样坐标，从所述第二类谐振信号中得到与多个所述第二类采样坐标对应的多个第二类采样幅值；
根据多个所述第二类采样坐标与多个所述第二类采样幅值，得到所述第二解析式。
可选的，根据本发明的一些实施例，所述基于所述第一幅值信号强度数据与所述第二幅值信号强度数据，获取所述接触位置信息，包括：
基于所述第一解析式，求得所述第一解析式中第一峰值对应的第一定位坐标；
基于所述第二解析式，求得所述第二解析式中第二峰值对应的第二定位坐标；
根据所述第一定位坐标与所述第二定位坐标，获取所述接触位置信息。
根据本发明的第二方面实施例的一种电磁触控装置，包括触控板、电磁笔，所述触控板的输入区域内部铺设有电磁收发线圈，所述触控板还包括：
检测模块，用于从所述电磁收发线圈的输送端向所述输入区域输送扫描电流，当所述扫描电流回到所述电磁收发线圈的接收端，形成接触感应电磁场，以及，基于所述接触感应电磁场进行全局扫描，检测所述电磁笔接触所述输入区域时形成的电磁谐振信号；
数据处理模块，解析所述电磁谐振信号并获取接触位置信息，并基于所述接触位置信息，获取经由所述电磁触控装置输入的输入数据，所述接触位置信息反映所述电磁笔与所述输入区域之间接触点的位置。
可选的，根据本发明的一些实施例，所述电磁收发线圈以单圈线圈的布线方式沿所述输入区域中的第一方向以及第二方向错位排列设置，以形成接触感应电磁场，所述第一方向与所述第二方向不共线。
第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括：存储器、处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如本发明第一方面实施例中任意一项所述的电磁触控输入方法。
第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有程序，所述程序被处理器执行实现如本发明第一方面实施例中任意一项所述的电磁触控输入方法。
根据本发明实施例的电磁触控输入方法及其装置、电子设备、存储介质，至少具有如下有益效果：
本发明电磁触控输入方法中，先从电磁收发线圈的输送端向输入区域输送扫描电流，当扫描电流回到电磁收发线圈的接收端，形成接触感应电磁场，然后基于接触感应电磁场进行全局扫描，检测电磁笔接触输入区域时形成的电磁谐振信号，进一步，解析电磁谐振信号并获取接触位置信息，其中接触位置信息反映电磁笔与输入区域之间接触点的位置。最终，基于接触位置信息，获取经由电磁触控装置输入的输入数据。基于本发明的电磁触控输入方法，可以基于对电磁谐振信号的解析，准确判断出电磁笔与输入区域之间的接触位置信息，从而提升电磁触控输入的准确度。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为本发明实施例电磁触控输入方法的流程示意图；
图2为本发明实施例电磁触控输入方法的另一流程示意图；
图3为本发明实施例电磁触控输入方法的另一流程示意图；
图4为本发明实施例电磁触控输入方法的另一流程示意图；
图5为本发明实施例电磁触控输入方法的另一流程示意图；
图6为本发明实施例电磁触控输入方法的另一流程示意图；
图7为本发明实施例电磁触控装置的模块组件示意图；
图8为执行本发明实施例中电磁触控输入方法的电子设备示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、左、右、前、后等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。另外，下文中对于具体步骤的标识并不代表对于步骤顺序与执行逻辑的限定，步骤之间的执行顺序与执行逻辑应参照以下实施例中对应的表述进行理解与推定。
随着人们生活水平的提高，电磁触控技术得到了越来越多的应用。电磁触控装置包括电磁触控板以及电磁笔，电磁触控板包括电磁触控控制电路、电磁触控天线电路。电磁触控控制电路简称控制板，电磁触控天线电路简称天线板。天线板用于接收来自电磁笔的电磁信号，并将接收到的电磁信号传递给控制板，由控制板进行信号处理，最终得到电磁笔的一系列信息，如坐标信息、压感信息等。但是相关技术中，电磁触控板难以准确获取电磁笔的触碰位置信息。
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种电磁触控输入方法及其装置、电子设备、存储介质，能够准确获取电磁笔的触碰位置信息。
下面参照各附图作进一步说明。
参照图1，根据本发明的第一方面实施例的电磁触控输入方法，应用于电磁触控装置，电磁触控装置包括触控板、电磁笔，触控板的输入区域内部铺设有电磁收发线圈，方法包括：
步骤S101，从电磁收发线圈的输送端向输入区域输送扫描电流；
步骤S102，当扫描电流回到电磁收发线圈的接收端，形成接触感应电磁场；
需要说明的是，扫描电流自电磁收发线圈的输送端输出，经过电磁收发线圈的布线路径后回到电磁收发线圈的接收端，在扫描电流接通的过程中，基于扫描电流的磁效应形成接触感应电磁场。根据本发明提供的一些实施例，触控板的输入区域内铺设有电磁收发线圈，可以将电磁收发线圈间隔均匀地排列于输入区域内，也可以将电磁收发线圈依据预先设置的间隔距离排列在输入区域内。应理解，触控板的输入区域内铺设的电磁收发线圈用于形成接触感应电磁场，因此电磁收发线圈的铺设方式包括但不限于上述举出的具体实施例。在本发明一些较为优选的实施例中，电磁收发线圈可以在输入区域内部沿至少两个方向进行排列设置，以更准确地获取接触位置信息。
步骤S103，基于接触感应电磁场进行全局扫描，检测电磁笔接触输入区域时形成的电磁谐振信号；
根据本发明提供的一些实施例，在接触感应磁场形成之后，由于扫描电流稳定接通，接触感应电磁场处于稳定状态。当电磁笔没有接触输入区域时，接触感应电磁场仍处于稳定状态，因此无法检测到电磁笔接触输入区域时所形成的电磁谐振信号。而当电磁笔接触输入区域时，电磁笔中谐振电路所产生的触发信号与接触感应电磁场发生谐振，以至于电磁笔与输入区域接触的位置形成接触感应信号，之后，基于接触感应信号在接触感应电磁场中的产生的影响，进一步在接触感应电磁场中形成电磁谐振信号。应理解，电磁谐振信号在接触感应电磁场中，自电磁笔与输入区域之间接触点的位置(即接触感应信号所处位置)向周围各个方向扩散形成。
步骤S104，解析电磁谐振信号并获取接触位置信息，接触位置信息反映电磁笔与输入区域之间接触点的位置；
需要说明的是，电磁谐振信号由接触感应信号所引起，且环境中存在能量消耗，因此电磁谐振信号的幅值会小于接触感应信号的幅值。另外，越远离接触点位置的电磁谐振信号，能量消耗越多，其幅值也就越小。故而，对电磁谐振信号进行解析，即可依据电磁谐振信号幅值的变化趋势，获取接触位置信息。根据本发明提供的一些实施例，电磁谐振信号幅值的变化趋势可以近似于正态分布，也可以近似于二次函数，还可以近似于其他类型的变化趋势。应理解，电磁谐振信号幅值的变化趋势包括但不限于上述举出的实施例。本发明一些较为优选的实施例中，依据不同场合下电磁谐振信号的变化趋势，选用相对应的近似解析式进行数值计算，以获取较为准确的接触位置信息。
步骤S105，基于接触位置信息，获取经由电磁触控装置输入的输入数据。
需要说明的是，在获取到接触位置信息之后，即可根据接触位置信息来将使用者输入电磁触控装置的信息予以记录，并转换为相对应的输入数据。
本发明电磁触控输入方法中，先从电磁收发线圈的输送端向输入区域输送扫描电流，当扫描电流回到电磁收发线圈的接收端，形成接触感应电磁场，然后基于接触感应电磁场进行全局扫描，检测电磁笔接触输入区域时形成的电磁谐振信号，进一步，解析电磁谐振信号并获取接触位置信息，其中接触位置信息反映电磁笔与输入区域之间接触点的位置。最终，基于接触位置信息，获取经由电磁触控装置输入的输入数据。基于本发明的电磁触控输入方法，可以基于对电磁谐振信号的解析，准确判断出电磁笔与输入区域之间的接触位置信息，从而提升电磁触控输入的准确度。
参照图2，根据本发明的一些实施例，基于接触感应电磁场进行全局扫描，检测电磁笔接触输入区域时形成的电磁谐振信号，包括：
步骤S201，当电磁笔与输入区域发生接触，接触感应电磁场产生接触感应信号；
根据本发明提供的一些实施例，当电磁笔接触输入区域时，电磁笔中谐振电路所产生的触发信号与接触感应电磁场发生谐振，以至于电磁笔与输入区域接触的位置形成接触感应信号，之后，基于接触感应信号在接触感应电磁场中的产生的影响，进一步在接触感应电磁场中形成电磁谐振信号。
步骤S202，基于电磁收发线圈获取电磁谐振信号，电磁谐振信号经由接触感应信号自接触点在接触感应电磁场中扩散形成。
需要说明的是，电磁谐振信号在接触感应电磁场中，自电磁笔与输入区域之间接触点的位置(即接触感应信号所处位置)向周围各个方向扩散形成。应理解，电磁谐振信号由接触感应信号所引起，且环境中存在能量消耗，因此电磁谐振信号的幅值会小于接触感应信号的幅值。另外，越远离接触点位置的电磁谐振信号，能量消耗越多，其幅值也就越小。故而，对电磁谐振信号进行解析，即可依据电磁谐振信号幅值的变化趋势，获取接触位置信息。
参照图3，根据本发明的一些实施例，电磁谐振信号包括第一类谐振信号、第二类谐振信号，解析电磁谐振信号并获取接触位置信息，包括：
步骤S301，根据第一类谐振信号确定第一幅值信号强度数据，第一幅值信号强度数据反映接触感应信号在接触感应电磁场的第一方向上的幅值变化趋势；
需要说明的是，第一类谐振信号即接触感应信号在接触感应电磁场的第一方向上所对应的电磁谐振信号。应理解，在第一方向上越远离接触点位置的第一类谐振信号，其对应的幅值越小。需要强调，第一幅值信号强度数据反映接触感应信号在接触感应电磁场的第一方向上的幅值变化趋势，本发明一些实施例中，可以将二次函数解析式作为第一幅值信号强度数据，也可以从微控制单元(Microcontro l ler Un it，MCU)中模拟出高斯分布模型作为第一幅值信号强度数据，应理解，第一幅值信号强度数据可以采用的表现形式包括但不限于上述举出的具体实施例。本发明一些较为优选的实施例中，依据不同场合下第一类谐振信号的变化趋势，选用相对应的近似解析式进行数值计算，以获取较为准确的接触位置信息。
步骤S302，根据第二类谐振信号确定第二幅值信号强度数据，第二幅值信号强度数据反映接触感应信号在接触感应电磁场的第二方向上的幅值变化趋势，第一方向与第二方向不共线；
需要说明的是，第二类谐振信号即接触感应信号在接触感应电磁场的第二方向上所对应的电磁谐振信号。应理解，在第二方向上越远离接触点位置的第二类谐振信号，其对应的幅值越小。需要强调，第二幅值信号强度数据反映接触感应信号在接触感应电磁场的第二方向上的幅值变化趋势，本发明一些实施例中，可以将二次函数解析式作为第二幅值信号强度数据，也可以从MCU中模拟出高斯分布模型作为第二幅值信号强度数据，应理解，第二幅值信号强度数据可以采用的表现形式包括但不限于上述举出的具体实施例。本发明一些较为优选的实施例中，依据不同场合下第二类谐振信号的变化趋势，选用相对应的近似解析式进行数值计算，以获取较为准确的接触位置信息。需要强调，第一方向与第二方向不共线，所谓不共线指的是第一方向与第二方向既不在一条直线上完全一致也不在一条直线上完全相反。
步骤S303，基于第一幅值信号强度数据与第二幅值信号强度数据，获取接触位置信息。
根据本发明一些实施例，当获取到第一幅值信号强度数据之后，即可根据第一幅值信号强度数据来确定接触位置信息在第一方向上的对应分量，同理，当获取到第二幅值信号强度数据之后，即可根据第二幅值信号强度数据来确定接触位置信息在第二方向上的对应分量。需要说明的是，第一方向与第二方向不共线，因此，根据接触位置信息在第一方向上的对应分量与接触位置信息在第二方向上的对应分量，即可在输入区域所在的平面中，获取到准确的接触位置信息。
参照图4，根据本发明的一些实施例，第一幅值信号强度数据包括第一解析式，根据第一类谐振信号确定第一幅值信号强度数据，包括：
步骤S401，在第一方向上选取多个第一类采样点，并获取多个第一类采样点的第一类采样坐标；
根据本发明提供的一些实施例，在第一方向上选取多个第一类采样点，旨在根据多个第一类采样点对应的位置数据与幅值数据来求得第一解析式。应理解，第一幅值信号强度数据包括第一解析式，因此第一解析式同样反映接触感应信号在接触感应电磁场的第一方向上的幅值变化趋势。需要说明的是，在第一方向上选取多个第一类采样点，其中多个指的是两个以上。在本发明一些实施例中，第一类采样坐标指的是各个第一类采样点在输入区域所在平面内的坐标，其中第一类采样坐标所参照的坐标系可以灵活设置。
步骤S402，基于多个第一类采样坐标，从第一类谐振信号中得到与多个第一类采样坐标对应的多个第一类采样幅值；
需要说明的是，在得到多个第一类采样坐标的情况下，从第一类谐振信号中得到与多个第一类采样坐标对应的多个第一类采样幅值可以有多种检测方法，可以是将各个第一类采样坐标输入MCU进行积分运算得到对应的第一类采样幅值，也可以是在实验过程中利用专门的幅值测定工具对各个第一类采样坐标上的第一类采样幅值进行测定。应理解，从第一类谐振信号中得到与多个第一类采样坐标对应的多个第一类采样幅值包括但不限于上述举出的具体实施例。
步骤S403，根据多个第一类采样坐标与多个第一类采样幅值，得到第一解析式。
根据本发明提供的一些较为具体的实施例，当第一解析式为二次函数解析式f(x)＝ax2+bx+c，可以先在第一方向上选取三个第一类采样点A、B、C，然后基于预先设置的坐标系xOy获取这三个第一类采样点所对应的第一类采样坐标A(x1，0)、B(x2，0)、C(x3，0)，其中坐标系xOy的x轴方向即为第一方向。进一步，将三个第一类采样坐标A(x1，0)、B(x2，0)、C(x3，0)代入二次函数解析式f(x)＝ax2+bx+c，得到第一方程组：
Figure BDA0003596081110000071
进一步,根据第一方程组即可求得第一解析式中的参数a、b、c，最终得到第一解析式。需要说明的是，第一解析式反映的是第一方向上的第一类采样坐标与第一类采样幅值的对应关系，应理解，若存在采样点并非处于第一方向上，则可以将该采样点在第一方向的映射点作为第一类采样点进行采样。需要说明的是，多个第一类采样点指的是两个以上采样点，当第一解析式为二次函数解析式时，若采集到两个第一类采样点，并且上述两个第一类采样点具备相同的第一类采样幅值，那么即可根据这两个第一类采样点所对应的第一类采样坐标来确定二次函数解析式的对称轴坐标，进而测得对称轴坐标对应的幅值，即可进一步求得第一解析式。应理解，求得第一解析式包括但不限于上述举出的具体实施例。
参照图5，根据本发明的一些实施例，第二幅值信号强度数据包括第二解析式，根据第二类谐振信号确定第二幅值信号强度数据，包括：
步骤S501，在第二方向上选取多个第二类采样点，并获取多个第二类采样点的第二类采样坐标；
根据本发明提供的一些实施例，在第二方向上选取多个第二类采样点，旨在根据多个第二类采样点对应的位置数据与幅值数据来求得第二解析式。应理解，第二幅值信号强度数据包括第二解析式，因此第二解析式同样反映接触感应信号在接触感应电磁场的第二方向上的幅值变化趋势。需要说明的是，在第二方向上选取多个第二类采样点，其中多个指的是两个以上。在本发明一些实施例中，第二类采样坐标指的是各个第二类采样点在输入区域所在平面内的坐标，其中第二类采样坐标所参照的坐标系可以灵活设置。
步骤S502，基于多个第二类采样坐标，从第二类谐振信号中得到与多个第二类采样坐标对应的多个第二类采样幅值；
需要说明的是，在得到多个第二类采样坐标的情况下，从第二类谐振信号中得到与多个第二类采样坐标对应的多个第二类采样幅值可以有多种检测方法，可以是将各个第二类采样坐标输入MCU进行积分运算得到对应的第二类采样幅值，也可以是在实验过程中利用专门的幅值测定工具对各个第二类采样坐标上的第二类采样幅值进行测定。应理解，从第二类谐振信号中得到与多个第二类采样坐标对应的多个第二类采样幅值包括但不限于上述举出的具体实施例。
步骤S503，根据多个第二类采样坐标与多个第二类采样幅值，得到第二解析式。
根据本发明提供的一些较为具体的实施例，当第二解析式为二次函数解析式g(y)＝my2+ny+i，可以先在第二方向上选取三个第二类采样点E、F、G，然后基于预先设置的坐标系xOy获取这三个第二类采样点所对应的第二类采样坐标E(0，y1)、F(0，y2)、G(0，y3)，其中坐标系xOy的y轴方向即为第二方向。进一步，将三个第二类采样坐标E(0，y1)、F(0，y2)、G(0，y3)代入二次函数解析式g(y)＝my2+ny+i，得到第二方程组：
Figure BDA0003596081110000081
进一步,根据第二方程组即可求得第二解析式中的参数m、n、i，最终得到第二解析式。需要说明的是，第二解析式反映的是第二方向上的第二类采样坐标与第二类采样幅值的对应关系，应理解，若存在采样点并非处于第二方向上，则可以将该采样点在第二方向的映射点作为第二类采样点进行采样。需要说明的是，多个第二类采样点指的是两个以上采样点，当第二解析式为二次函数解析式时，若采集到两个第二类采样点，并且上述两个第二类采样点具备相同的第二类采样幅值，那么即可根据这两个第二类采样点所对应的第二类采样坐标来确定二次函数解析式的对称轴坐标，进而测得对称轴坐标对应的幅值，即可进一步求得第二解析式。应理解，求得第二解析式包括但不限于上述举出的具体实施例。
参照图6，根据本发明的一些实施例，基于第一幅值信号强度数据与第二幅值信号强度数据，获取接触位置信息，包括：
步骤S601，基于第一解析式，求得第一解析式中第一峰值对应的第一定位坐标；
步骤S602，基于第二解析式，求得第二解析式中第二峰值对应的第二定位坐标；
步骤S603，根据第一定位坐标与第二定位坐标，获取接触位置信息。
需要说明的是，电磁谐振信号在接触感应电磁场中，自电磁笔与输入区域之间接触点的位置(即接触感应信号所处位置)向周围各个方向扩散形成。应理解，电磁谐振信号由接触感应信号所引起，且环境中存在能量消耗，因此电磁谐振信号的幅值会小于接触感应信号的幅值。另外，越远离接触点位置的电磁谐振信号，能量消耗越多，其幅值也就越小。可以明确，第一解析式中对应的第一峰值等同或近似等同于接触感应信号在第一方向上的幅值分量，第二解析式中对应的第二峰值等同或近似等同于接触感应信号在第二方向上的幅值分量，也因此在本发明一些实施例中，第一解析式中的第一峰值对应的第一定位坐标即为接触点位置在第一方向上的映射坐标值，同理，第二解析式中的第二峰值对应的第二定位坐标即为接触点位置在第二方向上的映射坐标值。由于第一方向与第二方向不共线，因此基于第一定位坐标与第二定位坐标即可确定电磁笔与输入区域的接触点位置，进而获取接触位置信息。需要说明的是，由于触控板的各个电磁收发线圈之间存在间隙，因此，若直接从各个收发线圈中取最大值对应的位置，无法准确测定当接触点位置处于间隙之中时所对应的接触位置信息，因此从第一解析式与第二解析式中确定第一定位坐标与第二定位坐标，再根据第一定位坐标与第二定位坐标获取到的接触位置信息更为准确。
参照图7，根据本发明的第二方面实施例的一种电磁触控装置700，包括触控板720、电磁笔710，触控板720的输入区域721内部铺设有电磁收发线圈722，触控板720还包括：
检测模块723，用于从电磁收发线圈722的输送端向输入区域721输送扫描电流，当扫描电流回到电磁收发线圈722的接收端，形成接触感应电磁场，以及，基于接触感应电磁场进行全局扫描，检测电磁笔710接触输入区域721时形成的电磁谐振信号；
数据处理模块724，解析电磁谐振信号并获取接触位置信息，并基于接触位置信息，获取经由电磁触控装置700输入的输入数据，接触位置信息反映电磁笔710与输入区域721之间接触点的位置。
需要说明的是，本发明一些实施例中的电磁触控输入方法应用于电磁触控装置700，基于数据处理模块724对电磁谐振信号的解析，准确判断出电磁笔710与输入区域721之间的接触位置信息，从而提升电磁触控输入的准确度。
根据本发明的一些实施例，电磁收发线圈722以单圈线圈的布线方式沿输入区域721中的第一方向以及第二方向错位排列设置，以形成接触感应电磁场，第一方向与第二方向不共线。
需要说明的是，扫描电流自电磁收发线圈722的输送端输出，经过电磁收发线圈722的布线路径后回到电磁收发线圈722的接收端，在扫描电流接通的过程中，基于扫描电流的磁效应形成接触感应电磁场。根据本发明提供的一些实施例，触控板720的输入区域721内铺设有电磁收发线圈722，可以将电磁收发线圈722间隔均匀地排列于输入区域721内，也可以将电磁收发线圈722依据预先设置的间隔距离排列在输入区域721内。应理解，触控板720的输入区域721内铺设的电磁收发线圈722用于形成接触感应电磁场，因此电磁收发线圈722的铺设方式包括但不限于上述举出的具体实施例。在本发明一些较为优选的实施例中，电磁收发线圈722可以在输入区域721内部沿至少两个方向进行排列设置，以更准确地获取接触位置信息。
图8示出了本发明实施例提供的电子设备800。电子设备800包括：处理器801、存储器802及存储在存储器802上并可在处理器801上运行的计算机程序，计算机程序运行时用于执行上述的电磁触控输入方法。
处理器801和存储器802可以通过总线或者其他方式连接。
存储器802作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非暂态性计算机可执行程序，如本发明实施例描述的电磁触控输入方法。处理器801通过运行存储在存储器802中的非暂态软件程序以及指令，从而实现上述的电磁触控输入方法。
存储器802可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序。存储数据区可存储执行上述的电磁触控输入方法。此外，存储器802可以包括高速随机存取存储器802，还可以包括非暂态存储器802，例如至少一个储存设备存储器件、闪存器件或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器802可选包括相对于处理器801远程设置的存储器802，这些远程存储器802可以通过网络连接至该电子设备800。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
实现上述的电磁触控输入方法所需的非暂态软件程序以及指令存储在存储器802中，当被一个或者多个处理器801执行时，执行上述的电磁触控输入方法，例如，执行图1中的方法步骤S101至步骤S105、图2中的方法步骤S201至步骤S202、图3中的方法步骤S301至步骤S303、图4中的方法步骤S401至步骤S403、图5中的方法步骤S501至步骤S503、图6中的方法步骤S601至步骤S603。
本发明实施例还提供了计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令用于执行上述的电磁触控输入方法。
在一实施例中，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个或多个控制处理器执行，例如，执行图1中的方法步骤S101至步骤S105、图2中的方法步骤S201至步骤S202、图3中的方法步骤S301至步骤S303、图4中的方法步骤S401至步骤S403、图5中的方法步骤S501至步骤S503、图6中的方法步骤S601至步骤S603。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、储存设备存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包括计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。还应了解，本发明实施例提供的各种实施方式可以任意进行组合，以实现不同的技术效果。
以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明并不局限于上述实施方式，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的共享条件下还可作出种种等同的变形或替换，这些等同的变形或替换均包括在本发明权利要求所限定的范围内。

Claims (10)

1.一种电磁触控输入方法，应用于电磁触控装置，其特征在于，所述电磁触控装置包括触控板、电磁笔，所述触控板的输入区域内部铺设有电磁收发线圈，所述方法包括：
从所述电磁收发线圈的输送端向所述输入区域输送扫描电流；
当所述扫描电流回到所述电磁收发线圈的接收端，形成接触感应电磁场；
基于所述接触感应电磁场进行全局扫描，检测所述电磁笔接触所述输入区域时形成的电磁谐振信号；
解析所述电磁谐振信号并获取接触位置信息，所述接触位置信息反映所述电磁笔与所述输入区域之间接触点的位置；
基于所述接触位置信息，获取经由所述电磁触控装置输入的输入数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述接触感应电磁场进行全局扫描，检测所述电磁笔接触所述输入区域时形成的电磁谐振信号，包括：
当所述电磁笔与所述输入区域发生接触，所述接触感应电磁场产生接触感应信号；
基于所述电磁收发线圈获取所述电磁谐振信号，所述电磁谐振信号经由所述接触感应信号自所述接触点在所述接触感应电磁场中扩散形成。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述电磁谐振信号包括第一类谐振信号、第二类谐振信号，所述解析所述电磁谐振信号并获取接触位置信息，包括：
根据所述第一类谐振信号确定第一幅值信号强度数据，所述第一幅值信号强度数据反映所述接触感应信号在所述接触感应电磁场的第一方向上的幅值变化趋势；
根据所述第二类谐振信号确定第二幅值信号强度数据，所述第二幅值信号强度数据反映所述接触感应信号在所述接触感应电磁场的第二方向上的幅值变化趋势，所述第一方向与所述第二方向不共线；
基于所述第一幅值信号强度数据与所述第二幅值信号强度数据，获取所述接触位置信息。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一幅值信号强度数据包括第一解析式，所述根据所述第一类谐振信号确定第一幅值信号强度数据，包括：
在所述第一方向上选取多个第一类采样点，并获取多个所述第一类采样点的第一类采样坐标；
基于多个所述第一类采样坐标，从所述第一类谐振信号中得到与多个所述第一类采样坐标对应的多个第一类采样幅值；
根据多个所述第一类采样坐标与多个所述第一类采样幅值，得到所述第一解析式。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二幅值信号强度数据包括第二解析式，所述根据所述第二类谐振信号确定第二幅值信号强度数据，包括：
在所述第二方向上选取多个第二类采样点，并获取多个所述第二类采样点的第二类采样坐标；
基于多个所述第二类采样坐标，从所述第二类谐振信号中得到与多个所述第二类采样坐标对应的多个第二类采样幅值；
根据多个所述第二类采样坐标与多个所述第二类采样幅值，得到所述第二解析式。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一幅值信号强度数据与所述第二幅值信号强度数据，获取所述接触位置信息，包括：
基于所述第一解析式，求得所述第一解析式中第一峰值对应的第一定位坐标；
基于所述第二解析式，求得所述第二解析式中第二峰值对应的第二定位坐标；
根据所述第一定位坐标与所述第二定位坐标，获取所述接触位置信息。
7.一种电磁触控装置，其特征在于，包括触控板、电磁笔，所述触控板的输入区域内部铺设有电磁收发线圈，所述触控板还包括：
检测模块，用于从所述电磁收发线圈的输送端向所述输入区域输送扫描电流，当所述扫描电流回到所述电磁收发线圈的接收端，形成接触感应电磁场，以及，基于所述接触感应电磁场进行全局扫描，检测所述电磁笔接触所述输入区域时形成的电磁谐振信号；
数据处理模块，解析所述电磁谐振信号并获取接触位置信息，并基于所述接触位置信息，获取经由所述电磁触控装置输入的输入数据，所述接触位置信息反映所述电磁笔与所述输入区域之间接触点的位置。
8.根据权利要求7所述的电磁触控装置，其特征在于，所述电磁收发线圈以单圈线圈的布线方式沿所述输入区域中的第一方向以及第二方向错位排列设置，以形成接触感应电磁场，所述第一方向与所述第二方向不共线。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6中任意一项所述的电磁触控输入方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有程序，所述程序被处理器执行实现如权利要求1至6中任意一项所述的电磁触控输入方法。
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WO2024197966A1 (zh) * 2023-03-30 2024-10-03 童宗伟 一种输入信号产生装置及电子设备

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