CN114819565A - 系统规范描述文件的校核方法、控制设备及智能变电站 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种系统规范描述文件的校核方法、控制设备及智能变电站，其中，系统规范描述文件的校核方法包括：获取待校核系统规范描述文件；对待校核系统规范描述文件进行解析，生成多维结构矩阵表；将多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，确定校核值；将校核值与第一预设值进行比较，确定校核结果。本申请通过将待校核系统规范描述文件解析成包含语义内容的多维结构矩阵表，并将多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，得到校核结果，从而能够准确、有效地校核系统规范描述文件的语义内容，提高系统规范描述文件整体校核的准确性。

Description

系统规范描述文件的校核方法、控制设备及智能变电站

技术领域

本申请属于智能变电站技术领域，尤其涉及一种系统规范描述文件的校核方法、控制设备及智能变电站。

背景技术

系统规范描述文件(SystemSpecificationDescription，SSD)，是一种能够描述变电站系统结构、标识一次设备及其电气连接关系的文件，利用系统规范描述文件可以生成电气主接线图，为变电站监控系统提供了全新的技术手段，有效地提高了工作效率。

目前，在对系统规范描述文件进行应用时，一般都需要提前进行校核，主要校核文件的规范性和结构合法性，例如，系统规范描述标签的定义、嵌套层次关系、是否强制、枚举类型的取值是否符合取值范围等，但是，对系统规范描述文件语义内容的校核不足，例如，220kV的系统规范描述文件需要配置多少个间隔，每个间隔里的一次设备都是怎样配置的，均无法进行校核，从而导致无法准确、有效地确定系统规范描述文件中的语义内容。

发明内容

本申请的目的在于提供一种系统规范描述文件的校核方法、方法、控制设备及智能变电站，旨在解决传统系统规范描述文件的校核方法无法准确校核系统规范描述文件中语义内容的问题。

为了实现上述目的，第一方面，本申请实施例提供了一种系统规范描述文件的校核方法，包括：

获取待校核系统规范描述文件；

对所述待校核系统规范描述文件进行解析，生成多维结构矩阵表；

将所述多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，确定校核值；

判断所述校核值是否大于第一预设值，确定校核结果。

在第一方面的一种可能的实施方式中，所述获取待校核系统规范描述文件之前，还包括：

将多个正确系统规范描述文件划分为训练集和测试集，所述训练集包括第一比例的正确系统规范描述文件，所述测试集包括第二比例的正确系统规范描述文件，所述第一比例大于所述第二比例；

将所述训练集划分为多个子训练集；

分别计算每个所述子训练集到预设的多个初始聚类中心的距离；

调整所述多个初始聚类中心的值，直到每个所述初始聚类中心到每个所述子训练集的距离之和最小时为止，得到多个准聚类中心；

将所述测试集划分成多个子测试集；

分别计算每个所述子测试集到所述多个准聚类中心的距离；

确定每个所述子测试集预设距离内所述准聚类中心的个数，得到所述多个准聚类中心的准确度。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述获取待校核系统规范描述文件之前，还包括：

将所述多个子测试集进行整合得到多个新的子测试集；

分别计算每个所述新的子测试集到所述多个准聚类中心的距离；

确定每个所述新的子测试集预设距离内所述准聚类中心的个数，得到所述多个准聚类中心的准确度。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述将所述多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，确定校核值，包括：

计算所述多维结构矩阵表与预先训练的所述多个准聚类中心的距离，确定所述多维结构矩阵表预设距离内所述准聚类中心的个数，得到所述校核值。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述对所述待校核系统规范描述文件进行解析，生成多维结构矩阵表，包括：

对所述待校核系统规范描述文件进行解析，生成电压等级矩阵表、间隔矩阵表和功能矩阵表。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述间隔矩阵表包括间隔的名称、描述、类型、连接点、连接设备、一次设备和二次设备中的至少一种；

所述功能矩阵表包括智能电子设备的名称、描述、逻辑设备、逻辑节点实例、逻辑节点前缀和逻辑节点类型中的至少一种。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述判断所述校核值是否大于第一预设值，确定校核结果，包括：

判断所述校核值是否大于第一预设值；

当所述校核值小于或等于所述第一预设值时，确定校核结果为合格；

当所述校核值大于所述第一预设值时，确定校核结果为不合格。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述当所述校核值大于所述第一预设值时，确定校核结果为不合格，包括：

当所述校核值大于所述第一预设值、小于或等于第二预设值时，确定校核结果为表征所述待校核系统规范描述文件不合格的提示信息；

当所述校核值大于所述第二预设值、小于或等于第三预设值时，确定校核结果为表征所述待校核系统规范描述文件不合格的告警信息；

当所述校核值大于所述第三预设值时，确定校核结果为表征所述待校核系统规范描述文件不合格的错误信息。

第二方面，本申请实施例提供了一种控制设备，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-8任一项所述的方法的步骤。

第三方面，本申请实施例提供了一种智能变电站，包括所述的控制设备。

本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：上述的系统规范描述文件的校核方法，通过将待校核系统规范描述文件解析成包含语义内容的多维结构矩阵表，并将多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，得到校核结果，从而能够准确、有效地校核系统规范描述文件的语义内容，提高系统规范描述文件整体校核的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的系统规范描述文件的校核方法的第一种流程图；

图2为本申请实施例提供的系统规范描述文件的校核方法的第二种流程图；

图3为本申请实施例提供的系统规范描述文件校核系统的第三种流程图；

图4为本申请实施例提供的系统规范描述文件校核系统的控制设备的结构示意图。

附图标记说明：

8-控制设备，81-处理器，82-存储器。

具体实施方式

为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

目前，智能变电站一般都会采用系统规范描述文件描述变电站系统结构、标识一次设备及其电气连接关系，同时，在应用系统规范描述文件前，一般都会需要对系统规范描述文件进行校核，但是，校核的内容主要是文件的规范性和结构合法性，而并不会对系统规范描述文件的语义进行校核，从而无法确定系统规范描述文件语义的准确性。

为此，本申请提供一种系统规范描述文件的校核方法，首先，将待校核系统规范描述文件解析成包含语义内容的多维结构矩阵表，将多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，得到校核值，再将校核值与第一预设值进行比较，确定校核结果，从而能够准确、有效地校核系统规范描述文件的语义内容。

下面结合附图，对本申请提供的系统规范描述文件的校核方法，进行实例性的说明。

图1为本申请实施例提供的系统规范描述文件的校核方法的第一种流程图，如图1所示，示例性地，一种系统规范描述文件的校核方法，包括：

S1、获取待校核系统规范描述文件；

S2、对待校核系统规范描述文件进行解析，生成多维结构矩阵表；

S3、将多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，确定校核值；

S4、将校核值与预设阈值进行比较，确定校核结果。

在应用中，首先获取需要校核的待校核系统规范描述文件，然后对待校核系统规范描述文件进行解析，生成多维结构矩阵表，其中多维结构矩阵表的维度可以根据实际需求设置；然后将多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，确定校核值；最后将校核值与预设阈值的大小进行比较，确定校核结果；其中，预设阈值可以根据实际需求进行调整设置，从而输入待校核系统规范描述文件，即可得到校核结果，判断待校核系统规范描述文件的语义是否准确。

同时，在采用本申请的校核方法校核系统规范描述文件的语义内容前，还可以采用传统的schema(模式，即数据或模式对象的逻辑结构的集合)方式首先校核系统规范描述文件的规范性和结构合法性，从而先筛除一部分不规范、结构不合法的系统规范描述文件，再进一步校验系统规范描述文件的语义准确性。

图2为本申请实施例提供的系统规范描述文件的校核方法的第二种流程图，如图2所示，示例性地，获取待校核系统规范描述文件之前，还包括：

S10、将多个正确系统规范描述文件划分为训练集和测试集，训练集包括第一比例的正确系统规范描述文件，测试集包括第二比例的正确系统规范描述文件，第一比例大于第二比例；

S20、将训练集划分为多个子训练集；

S30、分别计算每个子训练集到预设的多个初始聚类中心的距离；

S40、调整多个初始聚类中心的值，直到每个初始聚类中心到每个子训练集的距离之和最小时为止，得到多个准聚类中心；

S50、将测试集划分成多个子测试集；

S60、分别计算每个子测试集到多个准聚类中心的距离；

S70、确定每个子测试集预设距离内准聚类中心的个数，得到多个准聚类中心的准确度。

在应用中，需要首先获取多个准聚类中心，以便为后续的待校核系统规范描述文件提供校核标准，具体方法为：首先获取一定数量的多个正确系统规范描述文件，随机选取第一比例的正确系统规范描述文件作为训练集，剩余第二比例的正确系统规范描述文件作为测试集，例如80％为训练集，剩余的20％为测试集。然后预设多个初始聚类中心，采用k均值聚类算法将训练集划分为多个子训练集，分别计算每个子训练集到多个初始聚类中心的距离，以便能够将每个子训练集分别划分到多个初始聚类中心；然后不断调整多个初始聚类中心的值，直到每个初始聚类中心到每个子训练集的距离之和最小时为止，得到多个准聚类中心，以便后续测试集或待校核系统规范描述文件比较。然后将测试集划分成多个子测试集，计算每个子测试集到多个准聚类中心的距离，确定预设距离内准聚类中心的个数(即为K值)，得到多个准聚类中心的准确度。正确系统规范描述文件的K值一般为1，通过测试集可以进一步验证训练集确定的多个准聚类中心的准确性。

其中，k均值聚类算法(k-means clustering algorithm)是一种迭代求解的聚类分析算法，其步骤是，预将数据分为K组，则随机选取K个对象作为初始的聚类中心，然后计算每个对象与各个种子聚类中心之间的距离，把每个对象分配给距离它最近的聚类中心。聚类中心以及分配给它们的对象就代表一个聚类。每分配一个样本，聚类的聚类中心会根据聚类中现有的对象被重新计算。这个过程将不断重复直到满足某个终止条件。终止条件可以是没有(或最小数目)对象被重新分配给不同的聚类，没有(或最小数目)聚类中心再发生变化，误差平方和局部最小。

示例性地，将测试集划分成多个子测试集之后，还包括：

将多个子测试集进行整合得到多个新的子测试集；

分别计算每个新的子测试集到多个准聚类中心的距离；

确定每个新的子测试集预设距离内准聚类中心的个数，得到多个准聚类中心的准确度。

在应用中，在获得训练和测试后的多个准聚类中心后，还可以对该多个准聚类中心进行再次验证，具体为：将多个子测试集进行整合、混淆得到多个新的子测试集，重新确定预设距离内准聚类中心的个数，从而再次确定多个准聚类中心的准确度。

图3为本申请实施例提供的系统规范描述文件校核系统的第三种流程图，如图3所示，示例性地，将多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，确定校核值，包括：

计算多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心的距离，确定多维结构矩阵表预设距离内准聚类中心的个数，得到校核值。

在应用中，在具体校核过程中，直接计算多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心的距离，确定多维结构矩阵表预设距离内准聚类中心的个数，从而得到待校核系统规范描述文件的校核值，以便判断待校核系统规范描述文件语义的准确性。

示例性地，对待校核系统规范描述文件进行解析，生成多维结构矩阵表，包括：

对待校核系统规范描述文件进行解析，生成电压等级矩阵表、间隔矩阵表和功能矩阵表。

在应用中，对待校核系统规范描述文件进行解析，解析的维度可以根据实际需求进行修改或增减，例如可以从电压等级、间隔和功能三个维度进行解析。其中，电压等级为待校核系统规范描述文件内部实际的电压等级，间隔为每个电压等级内的任一间隔的内部智能电子设备，功能为每个间隔内设备的具体功能。

示例性地，间隔矩阵表包括间隔的名称、描述、类型、连接点、连接设备、一次设备和二次设备中的至少一种；

功能矩阵表包括能电子设备的名称、描述、相别、虚拟、逻辑节点类、逻辑节点实例、逻辑设备、逻辑节点前缀和逻辑节点类型中的至少一种。

在应用中，电压等级矩阵表、间隔矩阵表和功能矩阵表根据不同的待校核系统规范描述文件可以对应生成不同的表格，例如，电压等级矩阵表的行可以为电压等级：1000kV、750kV、500kV、220kV、110kV、66kV、35kV、10kV、380V，列可以为名称、描述和间隔1～n，如下表1所示：

表1电压等级矩阵表

名称

描述

间隔1

间隔2

......

间隔n

1000kV

750kV

500kV

220kV

110kV

66kV

35kV

10kV

380V

其中，间隔的类型可以包括线路间隔、母线间隔、母联间隔、主变间隔、电抗器间隔、电容器组间隔、站用变间隔和备自投间隔等，不同的间隔内设有不同的设备。例如，间隔矩阵表的行可以为具体的间隔，列可以为间隔的名称、描述、类型、连接点、连接设备、一次设备、二次设备，如下表2所示：

表2间隔矩阵表

名称

描述

类型

连接点

连接设备

一次设备

二次设备

间隔1

间隔2

......

间隔n

其中，功能矩阵表的行可以为具体的功能对象，列可以为名称、描述、相别(Phase)、虚拟(Virtual)、逻辑节点类(lnClass)、逻辑节点实例(lnInst)、智能电子设备名称(iedName)、逻辑设备(ldInst)、逻辑节点前缀(prefix)和逻辑节点类型(lnType)，如下表3所示：

表3功能矩阵表

如图3所示，示例性地，将校核值与预设阈值进行比较，确定校核结果，包括：

判断校核值是否大于第一预设值；

当校核值小于或等于第一预设值时，确定校核结果为合格；

当校核值大于第一预设值时，确定校核结果为不合格。

在应用中，通过评判校核值与第一预设值的大小，判断待校核系统规范描述文件是否合格，当校核值小于或等于第一预设值时，确定校核结果为合格，表示待校核系统规范描述文件语义正确；当校核值大于第一预设值时，确定校核结果为不合格，表示待校核系统规范描述文件语义不正确。其中，第一预设值可以设为3。

如图3所示，示例性地，当校核值大于第一预设值时，确定校核结果为不合格，包括：

当校核值大于第一预设值且小于或等于第二预设值时，确定校核结果为表征待校核系统规范描述文件不合格的提示信息；

当校核值大于第二预设值且小于或等于第三预设值时，确定校核结果为表征待校核系统规范描述文件不合格的告警信息；

当校核值大于第三预设值时，确定校核结果为表征待校核系统规范描述文件不合格的错误信息。

在应用中，当校核值大于第一预设值时，还可以根据校核值的大小定性结果信息，从而可以进一步得出待校核系统规范描述文件不合格的程度，其中第二预设值可以设为5，第三预设值可以设为7。具体为：当校核值大于第一预设值3、小于或等于第二预设值5时，确定校核结果为表征待校核系统规范描述文件不合格的提示信息；当校核值大于第二预设值5、小于或等于第三预设值7时，确定校核结果为表征待校核系统规范描述文件不合格的告警信息；当校核值大于第三预设值7时，确定校核结果为表征待校核系统规范描述文件不合格的错误信息。

如图3所示，示例性地，系统规范描述文件的校核方法，可以包括步骤S1至步骤S47：

步骤S1、获取待校核系统规范描述文件，进入步骤S2；

S2、对待校核系统规范描述文件进行解析，生成电压等级矩阵表、间隔矩阵表和功能矩阵表，进入步骤S3；

S3、计算多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心的距离，确定预设距离内准聚类中心的个数，得到校核值，进入步骤S41；

S41、判断校核值是否大于第一预设值，若否，则进入步骤S42，若是，则进入步骤S43；

S42、确定校核结果为合格；

S43、判断校核值是否大于第二预设值，若否，则进入步骤S44，若是，则进入步骤S45；

S44、确定校核结果为表征待校核系统规范描述文件不合格的提示信息；

S45、判断校核值是否大于第三预设值，若否，则进入步骤S46，若是，则进入步骤S47；

S46、确定校核结果为表征待校核系统规范描述文件不合格的告警信息；

S47、确定校核结果为表征待校核系统规范描述文件不合格的错误信息。

图4为本申请实施例提供的系统规范描述文件校核系统的控制设备的结构示意图，如图4所示，本实施例公开了一种控制设备8，包括处理器81、存储器82以及存储在存储器82中并可在处理器81上运行的计算机程序，处理器81执行计算机程序时实现方法的步骤。

在应用中，控制设备可包括，但不仅限于，处理器和存储器。本领域技术人员可以理解，图4仅仅是控制设备的举例，并不构成对控制设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如还可以包括输入输出设备、网络接入设备等。

存储器在一些实施例中可以是控制设备的内部存储单元，例如控制设备的闪存存储器。控制设备在另一些实施例中也可以是控制设备的外部存储设备，例如内部自带的闪存存储器(即FLASH芯片)和外接的闪存存储器(即FLASH芯片)。进一步地，存储器还可以既包括控制设备的内部存储单元，也包括外部存储设备。存储器用于存储操作控制设备的远程升级系统、应用程序、引导装载程序(BootLoader)、数据以及其他程序等，例如计算机程序的程序代码等。存储器还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。

本实施例公开了一种智能变电站，包括控制设备。

在应用中，将控制设备设置在智能变电站内，首先获取需要校核的待校核系统规范描述文件，然后对待校核系统规范描述文件进行解析，生成多维结构矩阵表；然后将多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，确定校核值；最后将校核值与预设阈值的大小进行比较，确定校核结果，从而输入待校核系统规范描述文件，即可得到校核结果，判断待校核系统规范描述文件的语义是否准确，提高系统规范描述文件整体校核的准确性。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的系统规范描述文件的校核方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的系统规范描述文件的校核方法实施例仅仅是示意性的，例如，模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些多接口系统，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种系统规范描述文件的校核方法，其特征在于，包括：

获取待校核系统规范描述文件；

对所述待校核系统规范描述文件进行解析，生成多维结构矩阵表；

将所述多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，确定校核值；

判断所述校核值是否大于第一预设值，确定校核结果。

2.如权利要求1所述的系统规范描述文件的校核方法，其特征在于，所述获取待校核系统规范描述文件之前，还包括：

将多个正确系统规范描述文件划分为训练集和测试集，所述训练集包括第一比例的正确系统规范描述文件，所述测试集包括第二比例的正确系统规范描述文件，所述第一比例大于所述第二比例；

将所述训练集划分为多个子训练集；

分别计算每个所述子训练集到预设的多个初始聚类中心的距离；

调整所述多个初始聚类中心的值，直到每个所述初始聚类中心到每个所述子训练集的距离之和最小时为止，得到多个准聚类中心；

将所述测试集划分成多个子测试集；

分别计算每个所述子测试集到所述多个准聚类中心的距离；

确定每个所述子测试集预设距离内所述准聚类中心的个数，得到所述多个准聚类中心的准确度。

3.如权利要求2所述的系统规范描述文件的校核方法，其特征在于，所述将所述测试集划分成多个子测试集之后，还包括：

将所述多个子测试集进行整合得到多个新的子测试集；

分别计算每个所述新的子测试集到所述多个准聚类中心的距离；

确定每个所述新的子测试集预设距离内所述准聚类中心的个数，得到所述多个准聚类中心的准确度。

4.如权利要求1-3任一项所述的系统规范描述文件的校核方法，其特征在于，所述将所述多维结构矩阵表与预先训练的多个准聚类中心进行校核，确定校核值，包括：

计算所述多维结构矩阵表与预先训练的所述多个准聚类中心的距离，确定所述多维结构矩阵表预设距离内所述准聚类中心的个数，得到所述校核值。

5.如权利要求1-3任一项所述的系统规范描述文件的校核方法，其特征在于，所述对所述待校核系统规范描述文件进行解析，生成多维结构矩阵表，包括：

对所述待校核系统规范描述文件进行解析，生成电压等级矩阵表、间隔矩阵表和功能矩阵表。

6.如权利要求5所述的系统规范描述文件的校核方法，其特征在于，所述间隔矩阵表包括间隔的名称、描述、类型、连接点、连接设备、一次设备和二次设备中的至少一种；

所述功能矩阵表包括智能电子设备的名称、描述、逻辑设备、逻辑节点实例、逻辑节点前缀和逻辑节点类型中的至少一种。

7.如权利要求1-3任一项所述的系统规范描述文件的校核方法，其特征在于，所述判断所述校核值是否大于第一预设值，确定校核结果，包括：

判断所述校核值是否大于第一预设值；

当所述校核值小于或等于所述第一预设值时，确定校核结果为合格；

当所述校核值大于所述第一预设值时，确定校核结果为不合格。

8.如权利要求7所述的系统规范描述文件的校核方法，其特征在于，所述当所述校核值大于所述第一预设值时，确定校核结果为不合格，包括：

当所述校核值大于所述第一预设值且小于或等于第二预设值时，确定校核结果为表征所述待校核系统规范描述文件不合格的提示信息；

当所述校核值大于所述第二预设值且小于或等于第三预设值时，确定校核结果为表征所述待校核系统规范描述文件不合格的告警信息；

当所述校核值大于所述第三预设值时，确定校核结果为表征所述待校核系统规范描述文件不合格的错误信息。

9.一种控制设备，其特征在于，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-8任一项所述的方法的步骤。

10.一种智能变电站，其特征在于，包括如权利要求9所述的控制设备。

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