CN114791557A - 集成电路高低温测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请涉及电路测试技术领域，尤其涉及集成电路高低温测试方法，其方法包括：获取电压模块的电压数据；基于预设算法对所述电压数据进行运算，得到特征信息；基于预设特征标准对所述特征信息进行判断，得到判断结果；基于所述判断结果获取异常电压模块，并基于所述异常电压模块获取生产信息；对所述生产信息进行分析，得到测试反馈信息。本申请提供的集成电路高低温测试方法可以提升对不合格集成电路器件的追溯效率。

Description

集成电路高低温测试方法

技术领域

本申请涉及电路测试技术领域，尤其涉及集成电路高低温测试方法。

背景技术

集成电路在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，集成电路高低温测试凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机来协助厂商完成高低温循环测试、冷热冲击测试、老化测试等试验。

集成电路高低温测试利用空气机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温，将被测电路放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。现有的集成电路高低温检测方案是通过利用数字多用表配合计算机测试系统采集电压数据，即每十秒钟采集一只器件的电压，计算机系统与数字多用表通讯读取该电压数据。

在集成电路高低温测试的过程中，一些集成电路器件在生产过程中的某些环节出现问题，导致最终检测不合格，在对这些不合格集成电路器件的生产出处进行追溯时，需要对每一件不合格集成电路器件的标注进行人为记录，因此降低了追溯效率。

发明内容

为了提升对不合格集成电路器件的追溯效率，本申请提供集成电路高低温测试方法。

本申请提供一种集成电路高低温测试方法，采用如下的技术方案：

集成电路高低温测试方法，包括以下步骤：

获取电压模块的电压数据；

基于预设算法对所述电压数据进行运算，得到特征信息；

基于预设特征标准对所述特征信息进行判断，得到判断结果；

基于所述判断结果获取异常电压模块，并基于所述异常电压模块获取生产信息；

对所述生产信息进行分析，得到测试反馈信息。

通过采用上述技术方案，获取被测电压模块器件的电压数据，根据电压数据通过预设算法运算出对应的特征信息，然后通过将预设特征标准对特征信息进行判断，得出正常或者异常的判断结果，与现有技术相比，根据异常的判断结果得到对应的异常电压模块，并根据异常电压模块得到对应生产信息，对异常电压模块的生产信息进行分析，进而可追溯到异常电压模块的生产出处，将得到的生产出处作为最终的测试反馈信息。本申请提供的集成电路高低温测试方法可以提升对不合格集成电路器件的追溯效率。

可选的，所述基于预设算法对所述电压数据进行运算，得到特征信息包括以下步骤：

基于所述电压数据获取对应的实时电压数据；

基于所述预设算法对所述实时电压数据进行运算，得到特征信息。

通过采用上述技术方案，根据获取的整体电压数据，得到被测器件的实时电压数据，然后对实时电压数据进行运算分析，从而提升了测试数据的准确性。

可选的，所述生产信息包括生产批次信息和生产线信息，所述基于所述判断结果获取异常电压模块，并基于所述异常电压模块获取生产信息包括以下步骤：

基于所述判断结果获取异常判断结果；

基于所述异常判断结果获取所述异常电压模块；

基于所述异常电压模块获取所述生产批次信息和所述生产线信息。

通过采用上述技术方案，基于异常电压模块进一步获取并显示对应的生产批次信息和所述生产线信息，从而利于工作人员直观的观察到异常电压模块的详细生产信息。

可选的，所述对所述生产信息进行分析，得到测试反馈信息包括以下步骤：

基于生产批次信息判断所述异常电压模块是否源于同一生产批次；

若所述异常电压模块源于同一生产批次，则基于所述生产批次信息获取生产批次号，并将所述生产批次号作为测试反馈信息。

通过采用上述技术方案，基于生产批次信息判断异常电压模块是否源于同一生产批次，根据对应的生产批次号追溯异常电压模块的生产出处，从而便于得到不合格产品的集中生产批次。

可选的，所述对所述生产线信息进行分析，得到测试反馈信息还包括以下步骤：

基于所述生产线信息判断所述异常电压模块是否源于同一生产线；

若所述异常电压模块源于同一生产线，则基于所述生产线信息获取生产线号，并将所述生产线号作为测试反馈信息；

若异常电压模块源于不同生产线，则获取所述异常电压模块数量，并对述异常电压模块数量进行分析，得到测试反馈信息。

通过采用上述技术方案，基于生产线信息判断异常电压模块是否源于同一生产线，根据对应的生产线号追溯异常电压模块的生产出处，从而便于得到不合格产品的集中生产线。

可选的，所述获取所述异常电压模块数量，并对所述异常电压模块数量进行分析，得到测试反馈信息包括以下步骤：

基于所述生产批次信息获取同一所述生产批次号的所述异常电压模块数量；

将所述异常电压模块数量最多的所述生产批次号作为测试反馈信息。

通过采用上述技术方案，记录异常电压模块数量最多生产批次号，并作为最终的测试反馈信息，从而有利于追溯到大多数不合格产品的生产批次。

可选的，所述所述基于所述生产信息获取所述异常电压模块数量，并对所述所述异常电压模块数量进行分析，得到测试反馈信息还包括以下步骤：

基于所述生产线信息获取同一所述生产线号的所述异常电压模块数量；

将所述异常电压模块数量最多的所述生产线号作为测试反馈信息。

通过采用上述技术方案，记录异常电压模块数量最多生产线号，并作为最终的测试反馈信息，从而有利于追溯到大多数不合格产品的生产线。

可选的，所述获取电压模块的电压数据包括以下步骤：

获取所述电压模块的电压信号和地线信号；

将所述电压信号进行放大，得到实际电压信号；

取所述实际电压信号和所述地线信号之间的差值作为所述电压模块的所述电压数据。

通过采用上述技术方案，将电压信号和地线信号之间采集得到的电压数据进行放大，进一步得到实际电压信号，从而减小了采集电压数据的误差范围。

可选的，所述将所述电压信号进行放大，得到实际电压信号包括以下步骤：

基于预设放大数值将所述电压信号经过放大电路进行放大，得到放大电压信号；

基于所述预设放大数值取所述放大电压信号的平均值，得到所述实际电压信号。

通过采用上述技术方案，根据预设放大数值对采集的电压信号进行放大，再取平均值，从而提升电压数据的准确性。

可选的，所述获取电压模块的电压数据之前还包括以下步骤：

基于所述电压模块设置试验板的上限电压参数和下限电压参数；

将所述上限电压参数和所述下限电压参数导入并保存至数据库。

通过采用上述技术方案，根据老炼要求，建立老炼器件数据库，可供随时调用，操作编程人员也可以根据不同的试验方法对元器件库的老炼试验板参数进行修改，以满足特殊需要。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：获取被测电压模块器件的电压数据，根据电压数据通过预设算法运算出对应的特征信息，然后通过将预设特征标准对特征信息进行判断，得出正常或者异常的判断结果，与现有技术相比，根据异常的判断结果得到对应的异常电压模块，并根据异常电压模块得到对应生产信息，对异常电压模块的生产信息进行分析，进而可追溯到异常电压模块的生产出处，将得到的生产出处作为最终的测试反馈信息。本申请提供的集成电路高低温测试方法可以提升对不合格集成电路器件的追溯效率。

附图说明

图1是本申请集成电路高低温测试方法的整体流程示意图。

图2是本申请集成电路高低温测试方法中步骤S201至步骤S202的流程示意图。

图3是本申请集成电路高低温测试方法中步骤S301至步骤S303的流程示意图。

图4是本申请集成电路高低温测试方法中步骤S401至步骤S402的流程示意图。

图5是本申请集成电路高低温测试方法中步骤S501至步骤S503的流程示意图。

图6是本申请集成电路高低温测试方法中步骤S601至步骤S602的流程示意图。

图7是本申请集成电路高低温测试方法中步骤S701至步骤S702的流程示意图。

图8是本申请集成电路高低温测试方法中步骤S801至步骤S803的流程示意图。

图9是本申请集成电路高低温测试方法中步骤S901至步骤S902的流程示意图。

图10是本申请集成电路高低温测试方法中步骤S1001至步骤S1002的流程示意图。

具体实施方式

以下结合附图1-10对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例公开集成电路高低温测试方法，参照图1，包括以下步骤：

S101、获取电压模块的电压数据；

S102、基于预设算法对电压数据进行运算，得到特征信息；

S103、基于预设特征标准对特征信息进行判断，得到判断结果；

S104、基于判断结果获取异常电压模块，并基于异常电压模块获取生产信息；

S105、对生产信息进行分析，得到测试反馈信息。

步骤S101在实际运用中，本实施例中的电压模块可以设置为集成电路芯片，集成电路芯片测试流程是将封装后的芯片置于不同高低温环境下测试其电气特性，如消耗功率、运行速度、耐压度等，经测试后的芯片，依其电气特性划分为不同等级。经一般测试合格的产品贴上规格。型号及出厂日期等标识的标签并加以包装后即可出厂，而未通过的测试的芯片则视其达到的参数情况定做降级品或者废品。

需要说明的是，在本实施例中，为了提高集成电路芯片的测试效率，一次试验能满足1000只器件的测试要求，在高低温箱内设置16个试验通道，同时可插入16块老炼试验板，每块老炼试验板上可插入63只被测器件，总计1008个工位监测点，试验工位的数量与被试器件的封装和功率有关，器件外型封装、功率越大，试验工位相应减少。在高低温箱外的常温环境中与16块老炼试验板一一对应的16块控制检测板通过金手指对插的方式连接，每块控制检测板可提供被测器件所需要的供电电压，然后巡回采集63个电压数据，16块控制检测板可同时开始工作，大大提高了集成电路芯片的测试效率。

步骤S102在实际运用中，对电压数据的预设算法是指到对电压的零偏、一次启动零点漂移和零点漂移重复性的运算。通过电压数据的零偏计算，得到对应的零偏特征信息；通过对电压数据的一次启动零点漂移的计算，得到对应的一次启动零点漂移特征信息；通过对电压数据的零点漂移重复性的计算，得到对应的零点漂移重复性特征信息。

步骤S103在实际运用中，在本实施例中，预设特征标准是指在高温+75℃与低温-50℃的环境温度基础上，判断折算到输入口的零偏的特征信息是否均小于等于3MV；判断一次启动零点漂移的特征信息是否均小于等于0.01MV；判断零点漂移重复性的特征信息是否均小于等于0.03MV；通过上述判断，如果零偏的特征信息、一次启动零位漂移特征信息和零位重复性特征信息都符合预设特征标准，则得到该被测集成电路芯片合格的判断结果，如果，其中一项特征信息不符合预设特征标准，则得到该被测集成电路芯片不合格的判断结果。

步骤S104至步骤S105在实际运用中，根据不合格的判断结果获取该异常集成电路芯片，然后通过该异常集成电路芯片上标识得到其序列号等一系列生产信息。根据该异常集成电路芯片的生产信息可以追溯到对应的生产出处，通过对产生不合格率最高的生产出处进行分析，从而，得到最终的测试反馈信息，通过测试反馈信息可以追溯到不合格集成电路芯片的生产源头。

在本实施例的其中一种实施方式中，如图2所示，步骤S102包括以下步骤：

S201、基于电压数据获取对应的实时电压数据；

S202、基于预设算法对实时电压数据进行运算，得到特征信息。

步骤S201至步骤S202在实际运用中，在对集成电路芯片进行测试中，本实施例主要涉及到对集成电路芯片零位电压性能的测试，本实施例在测试前首先要将集成电路芯片置于恒温-50℃或者+75℃的环境中保持0.5小时以上，这样的恒温环境可以由高低温试验箱提供，微机实时检测、记录试验箱温度，实时描绘试验箱的温度-时间曲线，在整个试验过程中实时监控高低温试验箱的温度，防止试验箱温度波动导致器件失效。其中，高低温试验箱温度控制范围为：-70℃~150℃，温度波动度≤0.5℃，温度偏差±2.0℃。

将集成电路芯片连续通电0.5小时，其中测试过程中保持测试开始设定的恒温不变，从通电开始，在集成电路芯片的14引脚用吉时利2000多用表配合计算机测试系统采集集成电路芯片的电压数据，每10秒至少采集一次电压数据，再根据全部的采集电压数据得到每一个被测集成电路芯片对应的实时电压数据。在0.5小时内采集完毕后，将集成电路芯片断电保持0.54小时以上，然后重复上述采集步骤，共测3次循环。

需要说明的是，对电压数据的预设算法是指到对电压的零偏、一次启动零点漂移和零点漂移重复性的运算，其中，电压数据的零位偏值的计算是指在0.5小时内，从3分钟到0.5小时之间所采集的电压数据求平均值，然后除以电路的总增益K，3次得到的数值再取平均值，得到零偏特征信息；一次启动零位漂移的计算是指在0.5小时内，从3分钟到0.5小时之间所采集的电压数据求标准偏差除以电路的总增益K，3次得到的数值再求平均值，得到一次启动零位漂移特征信息；零位重复性的计算是指在0.5小时内，从3分钟到0.5小时之间所采集的电压数据求平均值除以电路的总增益K，计算出零位偏值，3次得到的数值再求标准偏差，得到零位重复性特征信息。

在本实施例的其中一种实施方式中，如图3所示，生产信息包括生产批次信息和生产线信息，步骤S104包括以下步骤：

S301、基于判断结果获取异常判断结果；

S302、基于异常判断结果获取异常电压模块；

S303、基于异常电压模块获取生产批次信息和生产线信息。

步骤S301至步骤302在实际运用中，如果零偏的特征信息、一次启动零位漂移特征信息和零位重复性特征信息都符合预设特征标准，则得到该被测集成电路芯片合格的判断结果，根据合格的判断结果得到正常判断结果；如果其中一项特征信息不符合预设特征标准，则得到该被测集成电路芯片不合格的判断结果，根据不合格的判断结果得到异常判断结果；根据异常判断结果获取不合格的异常电压模块。

步骤S303在实际运用中，集成电路芯片在生产成型后会码上显示该芯片的生产批次信息，生产批次信息包括集成电路芯片的生产日期、产品、生产批次号和生产线信息，生产线信息包括集成电路芯片的生产线号，生产线号包括班组号和流水线号。例如20220419-06-01-02，其中20220419是指生产日期为2022年4月19号，06是指生产批次号为第6批，01是指第1班组号，02是指第2条流水线号。

在本实施例的其中一种实施方式中，如图4所示，步骤S105包括以下步骤：

S401、基于生产批次信息判断异常电压模块是否源于同一生产批次；

S402、若异常电压模块源于同一生产批次，则基于生产批次信息获取生产批次号，并将生产批次号作为测试反馈信息。

步骤S401至步骤S402在实际运用中，通过异常判断结果得到6块异常电压模块，通过异常电压模块得到20220419-06-01-02、20220419-06-01-03、20220419-06-01-04、20220419-06-01-05、20220419-06-01-06、20220419-06-01-07的生产信息，则由此可得这6块异常电压模块的生产批次号都为06，所以都源于第6批次，并将06批次作为测试反馈信息，根据06批次可以使得工作人员得知不合格集成电路器件的问题源来自于第6生产批次。

在本实施例的其中一种实施方式中，如图5所示，步骤S105还包括以下步骤：

S501、基于生产线信息判断异常电压模块是否源于同一生产线；

S502、若异常电压模块源于同一生产线，则基于生产线信息获取生产线号，并将生产线号作为测试反馈信息；

S503、若异常电压模块源于不同生产线，则获取异常电压模块数量，并对异常电压模块数量进行分析，得到测试反馈信息。

步骤S501至S503在实际运用中，通过异常判断结果得到6块异常电压模块，通过异常电压模块得到20220419-07-01-02、20220419-08-01-02、20220419-09-01-02、20220419-10-01-02、20220419-11-01-02、20220419-12-01-02的生产信息，则由此可得这6块异常电压模块的生产线号都为01-02，所以这些不合格异常电压模块都源于第1班组第2条流水线，并将01-02生产线号作为测试反馈信息，依此可以使得工作人员得知不合格集成电路器件的问题源来自于第1班组第2条流水线。

在本实施例的其中一种实施方式中，如图6所示，步骤S503包括以下步骤：

S601、基于生产批次信息获取同一生产批次号的异常电压模块数量；

S602、将异常电压模块数量最多的生产批次号作为测试反馈信息。

步骤S601至步骤S602在实际运用中，通过异常判断结果得到10块异常电压模块，对应的生产信息分别为20220419-07-01-02、20220419-07-01-02、20220419-07-01-02、20220419-07-01-02、20220407-07-01-02、20220419-07-01-02、20220419-08-01-02、20220419-08-01-02、20220419-09-01-02、20220419-10-01-02，由此可得，生产批次号为07的异常电压模块为6块，生产批次号为08的异常电压模块为2块，生产批次号为09的异常电压模块为2块，因此将生产批次号07作为测试反馈信息，依此可以使得工作人员得知不合格集成电路器件的问题源来自于第7生产批次。

在本实施例的其中一种实施方式中，如图7所示，步骤S503包括以下步骤：

S701、基于生产线信息获取同一生产线号的异常电压模块数量；

S702、将异常电压模块数量最多的生产线号作为测试反馈信息。

步骤S701至步骤S702在实际运用中，通过异常判断结果得到10块异常电压模块，对应的生产信息分别为20220419-07-01-01、20220419-07-01-01、20220419-07-01-01、20220419-07-01-01、20220407-07-01-01、20220419-07-01-02、20220419-08-01-02、20220419-08-01-02、20220419-09-01-03、20220419-10-01-03，由此可得，生产线号为01-01的异常电压模块为5块，生产批次号为01-02的异常电压模块为3块，生产批次号为01-03的异常电压模块为2块，因此将生产线号01-01作为测试反馈信息，依此可以使得工作人员得知不合格集成电路器件的问题源来自于第1班组第1条生产线。

在本实施例的其中一种实施方式中，如图8所示，获取电压模块的电压数据包括以下步骤：

S801、获取电压模块的电压信号和地线信号；

S802、将电压信号进行放大，得到实际电压信号；

S803、取实际电压信号和地线信号之间的差值作为电压模块的电压数据。

步骤S801在实际运用中，对被测器件电压信号的采集采用双线采样的方式，第一个工位的电压信号和地线信号分别为V1和VG1，经过电子开关切换到MON和MONG，MON和MONG信号在经过运放OP07组成的跟随器跟随，电压信号跟随器的输入阻抗高、输出阻抗低特点，可以极端一点去理解，当输入阻抗很高时，就相当于对前级电路开路；当输出阻抗很低时，对后级电路就相当于一个恒压源，即输出电压不受后级电路阻抗影响。一个对前级电路相当于开路，输出电压又不受后级阻抗影响的电路当然具备隔离作用，即使前、后级电路之间互不影响得到MONF和GMONF，跟随器的输入阻抗极大，可以认为选通电压信号后不会在CD4052内部造成压降，确保电压采集的精度和稳定性。

需要说明的是，电压信号V1为75MV，地线信号VG1为50MV，因为V1至VG1之间存在压降误差，因此将电压信号V1进行放大然后再求平均值，进而得到实际的电压为76 MV，此时获取的电压数据为实际的电压为76 MV与地线信号VG1为50MV之间的差值，经过计算差值为26MV，因此，采集第一个工位的电压数据为26MV。

在本实施例的其中一种实施方式中，如图9所示，步骤S802包括以下步骤：

S901、基于预设放大数将电压信号经过放大电路进行放大，得到放大电压信号；

S902、基于预设放大数值取放大电压信号的平均值，得到实际电压信号。

步骤S901在实际运用中，电压信号可以采集范围为0-5000MV，对于小信号需要经过放大电路放大后在经过跟随器，输出CH1信号到A/D芯片进行采集，以50MV的电压信号为例，预设放大数值为51，放大51倍后，CH1为50MV*51=2550MV，A/D转换器采用12位的MAX197，分辨率为5000MV/4095=1.22MV，MAX197非线性度为±1LSB。

需要说明的是，以上差分电路和放大电路中的电阻均采用0.1%的高精度电阻，运算放大器OP07是高精度单片运算放大器，具有很低的输入失调电压和漂移，超低的失调电压最大150uV，超低的失调电压漂移最大0.5 uV /℃，超稳定的时间漂移：2μV/month最大。

以50mV的电压信号为例，CD4052选通后经过差分电路1:1放大，考虑精密电阻的误差0.1%，SMON有可能的偏差信号是电阻带来的误差和OP07的失调电压，即50mV*1.001+0.15mV =50.2mV。SMON经放大电路放大，考虑电阻带来的最大误差，CH1=50.2*51.1倍=2565.22mV。这个信号被MAX197采集的非线性度误差信号为2565.22+1.22=2566.44mV。也就是最终MAX197采集到的可能最大偏差的数据为2566.44mV对应的数据量。最终采集到的数据为2566.44/51=50.3mV，达到技术协议要求的检测精度：1%+1LSB的要求。

在本实施例的其中一种实施方式中，如图10所示，获取电压模块的电压数据之前还包括以下步骤：

S1001、基于电压模块设置试验板的上限电压参数和下限电压参数；

S1002、将上限电压参数和下限电压参数导入并保存至数据库。

步骤S1001在实际运用中，老炼试验板会设置一个上下限电压参数，由于设备的原因或者被试器件的原因可能导致电压或电流超过上下限参数，超过预先设置的上下限参数，则老炼试验板会马上断电以免被试器件受损。

需要说明的是，根据经验试验前先设置好老炼试验板的二级电源VCC、VEE电压值，设置好上下限，根据老炼要求，建立老炼器件数据库，可供随时调用，操作编程人员也可以根据不同的试验方法对元器件库的老炼试验板参数进行修改，以满足特殊需要。

本申请实施例集成电路高低温测试方法的实施原理为：获取被测电压模块器件的电压数据，根据电压数据通过预设算法运算出对应的特征信息，然后通过将预设特征标准对特征信息进行判断，得出正常或者异常的判断结果，与现有技术相比，根据异常的判断结果得到对应的异常电压模块，并根据异常电压模块得到对应生产信息，对异常电压模块的生产信息进行分析，进而可追溯到异常电压模块的生产出处，将得到的生产出处作为最终的测试反馈信息。本申请提供的集成电路高低温测试方法可以提升对不合格集成电路器件的追溯效率。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.集成电路高低温测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取电压模块的电压数据；

基于预设算法对所述电压数据进行运算，得到特征信息；

基于预设特征标准对所述特征信息进行判断，得到判断结果；

基于所述判断结果获取异常电压模块，并基于所述异常电压模块获取生产信息；

对所述生产信息进行分析，得到测试反馈信息。

2.根据权利要求1所述的集成电路高低温测试方法，其特征在于，所述基于预设算法对所述电压数据进行运算，得到特征信息包括以下步骤：

基于所述电压数据获取对应的实时电压数据；

基于所述预设算法对所述实时电压数据进行运算，得到特征信息。

3.根据权利要求1所述的集成电路高低温测试方法，其特征在于，所述生产信息包括生产批次信息和生产线信息，所述基于所述判断结果获取异常电压模块，并基于所述异常电压模块获取生产信息包括以下步骤：

基于所述判断结果获取异常判断结果；

基于所述异常判断结果获取所述异常电压模块；

基于所述异常电压模块获取所述生产批次信息和所述生产线信息。

4.根据权利要求3所述的集成电路高低温测试方法，其特征在于，所述对所述生产信息进行分析，得到测试反馈信息包括以下步骤：

基于生产批次信息判断所述异常电压模块是否源于同一生产批次；

若所述异常电压模块源于同一生产批次，则基于所述生产批次信息获取生产批次号，并将所述生产批次号作为测试反馈信息。

5.根据权利要求3所述的集成电路高低温测试方法，其特征在于，所述对所述生产线信息进行分析，得到测试反馈信息还包括以下步骤：

基于所述生产线信息判断所述异常电压模块是否源于同一生产线；

若所述异常电压模块源于同一生产线，则基于所述生产线信息获取生产线号，并将所述生产线号作为测试反馈信息；

若异常电压模块源于不同生产线，则获取所述异常电压模块数量，并对述异常电压模块数量进行分析，得到测试反馈信息。

6.根据权利要求5所述的集成电路高低温测试方法，其特征在于，所述获取所述异常电压模块数量，并对所述异常电压模块数量进行分析，得到测试反馈信息包括以下步骤：

基于所述生产批次信息获取同一所述生产批次号的所述异常电压模块数量；

将所述异常电压模块数量最多的所述生产批次号作为测试反馈信息。

7.根据权利要求5所述的集成电路高低温测试方法，其特征在于，所述所述基于所述生产信息获取所述异常电压模块数量，并对所述所述异常电压模块数量进行分析，得到测试反馈信息还包括以下步骤：

基于所述生产线信息获取同一所述生产线号的所述异常电压模块数量；

将所述异常电压模块数量最多的所述生产线号作为测试反馈信息。

8.根据权利要求1所述的集成电路高低温测试方法，其特征在于，所述获取电压模块的电压数据包括以下步骤：

获取所述电压模块的电压信号和地线信号；

将所述电压信号进行放大，得到实际电压信号；

取所述实际电压信号和所述地线信号之间的差值作为所述电压模块的所述电压数据。

9.根据权利要求8所述的集成电路高低温测试方法，其特征在于，所述将所述电压信号进行放大，得到实际电压信号包括以下步骤：

基于预设放大数值将所述电压信号经过放大电路进行放大，得到放大电压信号；

基于所述预设放大数值取所述放大电压信号的平均值，得到所述实际电压信号。

10.根据权利要求1所述的集成电路高低温测试方法，其特征在于，所述获取电压模块的电压数据之前还包括以下步骤：

基于所述电压模块设置试验板的上限电压参数和下限电压参数；

将所述上限电压参数和所述下限电压参数导入并保存至数据库。

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