CN114754654A - 测量回转设备回转半径的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及测量回转设备回转半径的方法。本发明的步骤包括载体上设置有测量笔和磁体，载体通过磁体吸附在回转设备的侧部且靠近底部处；启动回转设备，直至回转设备的回转运动轨迹为圆形；将测量记录板置于回转设备的底部下方且与测量笔位置对应；调节测量笔与测量记录板之间的位置以使测量笔与测量记录板的板面垂直，通过测量笔在测量记录板的板面上生成回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹；根据圆形记录轨迹，测量出回转设备的回转半径。相对于现有技术，本发明中的载体结构简单，易于制作；本发明中的载体能够直接吸附在回转设备上具有吸磁性的金属外壳上；本发明能够在回转设备运作的过程中进行检测而不妨碍生产。
Description
技术领域
本发明属于回转设备技术领域，尤其涉及测量回转设备回转半径的方法。
背景技术
高方筛，是面粉生产企业通用的一种大型的悬挂式平面回转筛，是制粉过程中重要的生产设备之一。高方筛通过传动机构驱动筛箱做往复运动或回转运动，从而对混合的物料进行筛取。
现有测量高方筛回转半径的检测装置包括木夹子，木夹子的两端分别设置有夹子，一端夹子用于夹设铅笔，另一端夹子用于夹设在高方筛的外骨架上。检测方法为：首先，使高方筛处于停机状态，将木夹子沿水平方向夹持在高方筛的外骨架上，夹设的铅笔笔尖端需低过高方筛的底部；然后，启动高方筛并使其运作一段时间，直至高方筛的平面回转运动逐渐变为正常的圆形轨迹；随后，检测人员手持一个附有画纸的硬壳画板，并将硬壳画板移至高方筛底部的木夹子处；而后，将硬壳画板平面水平抬高以逐渐接近铅笔笔尖端，高方筛通过木夹子带动铅笔在硬壳画板上的画纸上画下回转轨迹；最后取下纸张，用尺子测量回转轨迹的回转半径，得出高方筛的回转半径。
上述测量方法具有以下缺陷：
1)木夹子制作难度大：需要专门定制，两头有夹持结构，并设有铅笔的插入孔洞；
2)测量要求高：被检测的筛体需要有夹子可夹持的特殊设计；
3)适用范围窄：不能被夹子夹持的筛体无法检测；
4)测量手段不方便：需要停机事先夹持木夹子，开机稳定后才能测量，测量完成也需要停机后才能卸下。
因此，亟需一种能便于测量回转设备回转半径的技术方案。
发明内容
本发明的目的在于：针对现有技术的不足，本发明提供一种测量回转设备回转半径的方法，以解决现有测量回转设备回转半径不方便的问题。
为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
测量回转设备回转半径的方法，包括以下步骤：
步骤S10，载体上设置有测量笔和磁体，所述载体通过所述磁体吸附在回转设备的侧部且靠近底部处；
步骤S20，启动所述回转设备，直至所述回转设备的回转运动轨迹为圆形；
步骤S30，将测量记录板置于所述回转设备的底部下方且与所述测量笔位置对应；
步骤S40，调节所述测量笔与所述测量记录板之间的位置以使所述测量笔与所述测量记录板的板面垂直，通过所述测量笔在所述测量记录板的板面上生成所述回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹；
步骤S50，根据所述圆形记录轨迹，测量出所述回转设备的回转半径。
作为本发明所述的测量回转设备回转半径的方法的优选方案，所述步骤S50，根据所述圆形记录轨迹，测量出所述回转设备的回转半径，包括：
步骤S51，将刻度直尺置于所述测量记录板的板面上并使所述刻度直尺位于所述圆形记录轨迹的下方，延长所述刻度直尺上的零刻度线，使所述零刻度线的延长线与所述圆形记录轨迹的一侧圆弧相切；
步骤S52，将直角三角尺置于所述测量记录板的板面上，使所述直角三角尺的第一直角边与所述刻度直尺的刻度边贴合，使所述直角三角尺的第二直角边与所述零刻度线的延长线相对且平行，所述直角三角尺位于靠近所述圆形记录轨迹的另一侧圆弧处，所述圆形记录轨迹位于所述零刻度线的延长线与所述直角三角尺的第二直角边之间；
步骤S53，沿所述刻度直尺的刻度边并朝所述零刻度线的延长线的方向推动所述直角三角尺，直至所述直角三角尺的第二直角边与所述圆形记录轨迹的另一侧圆弧相切；
步骤S54，根据所述刻度直尺刻度边上的刻度值，获取所述零刻度线的延长线与所述直角三角尺的第二直角边之间的长度，得到所述回转设备的回转直径，并根据所述回转设备的回转直径得到所述回转设备的回转半径；
通过上述设置，测量人员能够精确得到回转设备的回转半径，且不影响回转设备的运作。
作为本发明所述的测量回转设备回转半径的方法的优选方案，所述步骤S40，调节所述测量笔与所述测量记录板之间的位置以使所述测量笔与所述测量记录板的板面垂直，通过所述测量笔在所述测量记录板的板面上生成所述回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹，包括：步骤S40a，所述测量笔为激光笔，调节所述激光笔与所述测量记录板之间的位置以使所述激光笔发出的激光线与所述测量记录板的板面垂直，通过所述激光笔发出的激光线在所述测量记录板的板面上生成所述回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹。通过上述设置，激光笔不会与测量记录板直接接触，消除了测量笔与测量记录板直接的摩擦力，从而提高了圆形记录轨迹的准确度。
作为本发明所述的测量回转设备回转半径的方法的优选方案，所述步骤S40，调节所述测量笔与所述测量记录板之间的位置以使所述测量笔与所述测量记录板的板面垂直，通过所述测量笔在所述测量记录板的板面上生成所述回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹，包括：步骤S40b，所述测量笔为书写笔，调节所述激光笔与所述测量记录板之间的位置以使所述书写笔的笔尖与所述测量记录板的板面垂直且接触，通过所述书写笔在所述测量记录板的板面上生成所述回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹；从所述回转设备上取下所述书写笔。根据实际情况，选择合适的测量笔。
作为本发明所述的测量回转设备回转半径的方法的优选方案，所述载体包括笔孔和安装槽，所述笔孔沿上下方向贯穿所述载体，所述安装槽位于所述载体的侧面，所述测量笔通过所述笔孔设置在所述载体上，所述磁体通过所述安装槽设置在所述载体上。通过上述设置，使测量笔和磁体设置在载体上，且载体结构简单，便于制作。
作为本发明所述的测量回转设备回转半径的方法的优选方案，所述笔孔的内部设置有海绵胶带，所述测量笔通过所述海绵胶带粘设在所述笔孔内。通过上述设置，使测量笔穿设固定在笔孔内，提高测量笔的稳定性。
作为本发明所述的测量回转设备回转半径的方法的优选方案，所述磁体通过螺丝固定在所述安装槽上。通过上述设置，使磁体固定在安装槽上，提高磁体的稳定性。
作为本发明所述的测量回转设备回转半径的方法的优选方案，所述回转设备为平面回转筛、大米分级筛、面粉检查筛或面粉高方筛。根据实际情况，选择合适的测量对象。
本发明至少具有以下有益效果：
1)装置制作难度小：相对于现有技术中的木夹子，本发明中的载体结构简单，易于制作；
2)测量要求低：相对于现有技术中的木夹子，本发明中的载体能够直接吸附在回转设备上具有吸磁性的金属外壳上，即被检测的回转设备不再需要具有现有木夹子能够夹持的特殊结构设计；
3)适用范围广：本发明能够检测无法被现有木夹子夹持的回转设备，大部分的回转设备具有吸磁性的金属结构，本发明能够适用于检测粮食加工中的平面回转筛、大米分级筛、面粉检查筛和面粉高方筛的回转半径；
4)测量手段方便：本发明能够在回转设备运作的过程中进行检测而不妨碍生产，吸附或取下载体都非常方便，不需要回转设备停止运作再安装或拆卸载体。
附图说明
图1为本发明中步骤S50的实施示意图。
图2为本发明实施例1中载体的结构示意图。
图3为本发明实施例2中载体的结构示意图。
图中：1-载体；11-笔孔；12-安装槽；13-海绵胶带；2a-激光笔；2b-书写笔；3-磁体；31-螺丝；4-测量记录板；5-刻度直尺；6-直角三角尺。
具体实施方式
为使本发明的技术方案和优点更加清楚，下面将结合具体实施方式和说明书附图，对本发明及其有益效果作进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。
实施例1
如图1和图2所示，测量回转设备回转半径的方法，包括以下步骤：
步骤S10，载体1上设置有测量笔和磁体3，载体1通过磁体3吸附在回转设备的侧部且靠近底部处。
步骤S20，启动回转设备，直至回转设备的回转运动轨迹为圆形。由于回转设备的运动轨迹需要启动一定时间才能逐渐变为正常的圆形运动轨迹，因此需要等待回转设备运作正常才能开始测量，以保证后续圆形记录轨迹的准确。
步骤S30，将测量记录板4置于回转设备的底部下方且与测量笔位置对应。
步骤S40，调节测量笔与测量记录板4之间的位置以使测量笔与测量记录板4的板面垂直，通过测量笔在测量记录板4的板面上生成回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹；具体地：
步骤S40a，测量笔为激光笔2a，调节激光笔2a与测量记录板4之间的位置以使激光笔2a发出的激光线与测量记录板4的板面垂直，通过激光笔2a发出的激光线在测量记录板4的板面上生成回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹。
步骤S50，根据圆形记录轨迹，测量出回转设备的回转半径；具体地，包括：
步骤S51，将刻度直尺5置于测量记录板4的板面上并使刻度直尺5位于圆形记录轨迹的下方，延长刻度直尺5上的零刻度线，使零刻度线的延长线与圆形记录轨迹的一侧圆弧相切；
步骤S52，将直角三角尺6置于测量记录板4的板面上，使直角三角尺6的第一直角边与刻度直尺5的刻度边贴合，使直角三角尺6的第二直角边与零刻度线的延长线相对且平行，直角三角尺6位于靠近圆形记录轨迹的另一侧圆弧处，圆形记录轨迹位于零刻度线的延长线与直角三角尺6的第二直角边之间；
步骤S53，沿刻度直尺5的刻度边并朝零刻度线的延长线的方向推动直角三角尺6，直至直角三角尺6的第二直角边与圆形记录轨迹的另一侧圆弧相切；
步骤S54，根据刻度直尺5刻度边上的刻度值，获取零刻度线的延长线与直角三角尺6的第二直角边之间的长度，得到回转设备的回转直径，并根据回转设备的回转直径得到回转设备的回转半径。
优选地，载体1包括笔孔11和安装槽12，笔孔11沿上下方向贯穿载体1，安装槽12位于载体1的侧面，测量笔通过笔孔11设置在载体1上，磁体3通过安装槽12设置在载体1上。
具体地，载体1的形状为“凹”字形，磁体3为钕铁硼镀镍磁铁。
优选地，笔孔11的内部设置有海绵胶带13，测量笔通过海绵胶带13粘设在笔孔11内。
优选地，磁体3通过螺丝31固定在安装槽12上。
优选地，回转设备为平面回转筛、大米分级筛、面粉检查筛或面粉高方筛。
实施例2
如图1和图3所示，实施例2与实施例1基本相同，不同之处仅在于：
步骤S40，调节测量笔与测量记录板4之间的位置以使测量笔与测量记录板4的板面垂直，通过测量笔在测量记录板4的板面上生成回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹；具体地：
步骤S40b，测量笔为书写笔2b，调节激光笔2a与测量记录板4之间的位置以使书写笔2b的笔尖与测量记录板4的板面垂直且接触，通过书写笔2b在测量记录板4的板面上生成回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹；从回转设备上取下书写笔2b。
其余步骤及配置与实施例1相同，不再赘述。
根据上述说明书的揭示和教导，本发明所属领域的技术人员还能够对上述实施方式进行变更和修改。因此，本发明并不局限于上述的具体实施方式，凡是本领域技术人员在本发明的基础上所作出的任何显而易见的改进、替换或变型均属于本发明的保护范围。此外，尽管本说明书中使用了一些特定的术语，但这些术语只是为了方便说明，并不对本发明构成任何限制。
Claims (8)
1.测量回转设备回转半径的方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S10，载体上设置有测量笔和磁体，所述载体通过所述磁体吸附在回转设备的侧部且靠近底部处；
步骤S20，启动所述回转设备，直至所述回转设备的回转运动轨迹为圆形；
步骤S30，将测量记录板置于所述回转设备的底部下方且与所述测量笔位置对应；
步骤S40，调节所述测量笔与所述测量记录板之间的位置以使所述测量笔与所述测量记录板的板面垂直，通过所述测量笔在所述测量记录板的板面上生成所述回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹；
步骤S50，根据所述圆形记录轨迹，测量出所述回转设备的回转半径。
2.根据权利要求1所述的测量回转设备回转半径的方法，其特征在于，所述步骤S50，根据所述圆形记录轨迹，测量出所述回转设备的回转半径，包括：
步骤S51，将刻度直尺置于所述测量记录板的板面上并使所述刻度直尺位于所述圆形记录轨迹的下方，延长所述刻度直尺上的零刻度线，使所述零刻度线的延长线与所述圆形记录轨迹的一侧圆弧相切；
步骤S52，将直角三角尺置于所述测量记录板的板面上，使所述直角三角尺的第一直角边与所述刻度直尺的刻度边贴合，使所述直角三角尺的第二直角边与所述零刻度线的延长线相对且平行，所述直角三角尺位于靠近所述圆形记录轨迹的另一侧圆弧处，所述圆形记录轨迹位于所述零刻度线的延长线与所述直角三角尺的第二直角边之间；
步骤S53，沿所述刻度直尺的刻度边并朝所述零刻度线的延长线的方向推动所述直角三角尺，直至所述直角三角尺的第二直角边与所述圆形记录轨迹的另一侧圆弧相切；
步骤S54，根据所述刻度直尺刻度边上的刻度值，获取所述零刻度线的延长线与所述直角三角尺的第二直角边之间的长度，得到所述回转设备的回转直径，并根据所述回转设备的回转直径得到所述回转设备的回转半径。
3.根据权利要求1或2所述的测量回转设备回转半径的方法，其特征在于，所述步骤S40，调节所述测量笔与所述测量记录板之间的位置以使所述测量笔与所述测量记录板的板面垂直，通过所述测量笔在所述测量记录板的板面上生成所述回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹，包括：步骤S40a，所述测量笔为激光笔，调节所述激光笔与所述测量记录板之间的位置以使所述激光笔发出的激光线与所述测量记录板的板面垂直，通过所述激光笔发出的激光线在所述测量记录板的板面上生成所述回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹。
4.根据权利要求1或2所述的测量回转设备回转半径的方法，其特征在于：所述步骤S40，调节所述测量笔与所述测量记录板之间的位置以使所述测量笔与所述测量记录板的板面垂直，通过所述测量笔在所述测量记录板的板面上生成所述回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹，包括：步骤S40b，所述测量笔为书写笔，调节所述激光笔与所述测量记录板之间的位置以使所述书写笔的笔尖与所述测量记录板的板面垂直且接触，通过所述书写笔在所述测量记录板的板面上生成所述回转设备的回转运动轨迹，得到完整的圆形记录轨迹；从所述回转设备上取下所述书写笔。
5.根据权利要求1或2所述的测量回转设备回转半径的方法，其特征在于：所述载体包括笔孔和安装槽，所述笔孔沿上下方向贯穿所述载体，所述安装槽位于所述载体的侧面，所述测量笔通过所述笔孔插设置在所述载体上，所述磁体通过所述安装槽设置在所述载体上。
6.根据权利要求5所述的测量回转设备回转半径的方法，其特征在于：所述笔孔的内部设置有海绵胶带，所述测量笔通过所述海绵胶带粘设在所述笔孔内。
7.根据权利要求5所述的测量回转设备回转半径的方法，其特征在于：所述磁体通过螺丝固定在所述安装槽上。
8.根据权利要求1或2所述的测量回转设备回转半径的方法，其特征在于：所述回转设备为平面回转筛、大米分级筛、面粉检查筛或面粉高方筛。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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