CN114700128A - 一种微流控芯片 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种微流控芯片，主体中部开设有通孔，通孔上端通过顶盖封闭并与顶盖通过能够打开的密封层连接，通孔外周开设有多个流道，各流道的一端连通通孔，各流道的另一端分别连通一反应室，反应室不与外界连通，储存件内部中空且上端开口，储存件内盛放有检测试剂，储存件的侧壁下部开设有多个进液孔，储存件位于通孔内，封堵状态下顶盖封堵在通孔上端，进液孔通过通孔的内壁封堵，储存件能够沿通孔向上移动至顶开顶盖处于连通状态，连通状态下经通孔上端开口能够向储存件内加入待测样品，且进液孔与流道连通，储存件内的待测样品和检测试剂能够经流道流入至反应室内反应，主体为透明材料制成。该微流控芯片操作方便、避免污染、检测精度高。

Description

一种微流控芯片

技术领域

本发明涉及微生物检测技术领域，具体是涉及一种微流控芯片。

背景技术

微流控又称为微流控芯片技术，该技术可将生物、化学、医学分析过程的样品制备、反应、分离、检测等基本操作单元集成到一块几个平方厘米的芯片上，以可控流体贯穿整个系统，用以替代常规化学或生物实验室的各种功能，有着体积轻巧、使用样品及试剂量少、能耗低、反应速度快、可大量平行处理以及即用即弃等优点。目前，微流控在生物医学研究（如核酸检测）中具有巨大的发展潜力和广泛的应用前景。

气溶胶是指悬浮在气体介质中的固态或液态颗粒所组成的气态分散系统，这些固态或液态颗粒的密度与气体介质的密度可以相差微小，也可以悬殊很大。对于司法鉴定、第三方检测机构等感染源检测实验室而言，核酸检测特异性强、灵敏度高，对疾病的诊断起着至关重要的作用，但在操作过程中易受到污染，导致假阳性，其中最常见且最难消除的污染就是气溶胶污染。核酸检测的污染主要发生在核酸扩增产物的分析阶段，因为核酸扩增产物拷贝量大（一般为10¹³拷贝/ml），所以极微量的核酸扩增产物就会造成假阳性。

微流控芯片在核酸检测领域应用广泛，现有的微流控芯片在用于核酸检测时，通常需要向芯片中加入核酸检测试剂以及待测样品，操作繁琐；现有的将检测试剂进行预包埋的芯片通常是将检测试剂预包埋于芯片的反应室中，且芯片的反应室一般为多个，致使检测试剂的包埋工作费时费力；此外，在核酸检测反应过程中，现有微流控芯片的反应室通常为非密闭状态，可与大气连通，容易在检测过程中导致气溶胶污染，影响下次检测反应结果的准确性。

发明内容

本发明的目的是提供一种微流控芯片，以解决上述现有技术存在的问题，操作方便、避免污染、检测准确度高。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

本发明提供了一种微流控芯片，包括主体、顶盖和储存件，所述主体的中部开设有通孔，且所述通孔的上端与所述顶盖通过能够打开的密封层拆卸连接，并通过所述顶盖封闭，所述通孔的外周开设有多个流道，各所述流道的一端连通所述通孔，各所述流道的另一端分别连通一反应室，所述反应室不与外界连通，所述储存件内部中空且上端开口，且所述储存件内盛放有检测试剂，所述储存件的侧壁下部开设有多个进液孔，所述储存件位于所述通孔内且不与外界连通处于封堵状态，所述封堵状态下所述顶盖封堵在所述通孔上端，且所述进液孔通过所述通孔的内壁封堵，所述储存件能够沿所述通孔向上移动至顶开所述顶盖并处于连通状态，所述连通状态下能够经所述通孔上端开口向所述储存件内加入待测样品，且所述进液孔与所述流道连通，并能够使所述储存件内的待测样品和检测试剂经所述流道流入至所述反应室内反应，所述主体为透明材料制成。

优选地，所述储存件包括上底座、下底座和储存部，所述上底座和所述下底座均为圆柱状，且所述上底座的直径小于所述下底座的直径，所述上底座的上端与所述储存部固定连接，所述上底座的下端与所述下底座同轴固定，且所述下底座上端面围绕所述上底座形成一台阶面，所述进液孔开设于所述储存部上，且所述进液孔位于所述储存部与所述上底座的交界处，所述储存部为空心圆柱，且所述储存部的上端倾斜设置。

优选地，还包括限位件，所述限位件为开口设计，所述主体的下底面设有一开口朝下的凹槽，所述凹槽与所述下底座同轴，所述封堵状态下，所述限位件套设于所述上底座外周，且所述限位件的上端面接触所述凹槽的内底面，所述限位件的下端面接触所述台阶面，拆下所述限位件，并向上推所述储存件能够形成所述连通状态，且所述连通状态下，所述台阶面接触所述凹槽的内底面，所述储存部上端顶开所述顶盖并伸出所述通孔，所述进液孔与所述流道连通。

优选地，所述封堵状态下，所述下底座的下端面低于所述主体的下端面，所述连通状态下，所述下底座的下端面与所述主体的下端面平齐。

优选地，所述封堵状态下，所述下底座的下端面与所述主体的下端面平齐，所述连通状态下，所述下底座的下端面高于所述主体的下端面。

优选地，所述限位件为设有缺口的限位环。

优选地，所述限位件包括第一限位环和第二限位环，所述封堵状态下，所述第一限位环和所述第二限位环上下排列且均同轴套设于所述上底座的外周，且所述第一限位环上端面接触所述凹槽的内底面，取下位于上方的所述第一限位环，并向上推所述储存件至所述第二限位环上端面接触所述凹槽的内底面，所述储存件能够顶开所述顶盖形成混合状态，所述混合状态下，所述进液孔位于所述流道下方，且所述储存部内能够加入待测样品，并使待测样品与检测试剂在所述储存部内混合，取下所述第二限位环，并向上推所述储存件至所述台阶面接触所述凹槽的内底面，能够形成所述连通状态，所述连通状态下，所述进液孔与所述流道平齐并内部连通。

优选地，所述凹槽的内壁上的不同位置设有第一限位突和第二限位突，所述下底座的外缘固定有一旋转杆，所述旋转杆的一端固定在所述下底座上并能够带动所述储存件转动，所述旋转杆的另一端向远离所述下底座的轴线的方向延伸，并能够在所述第一限位突和所述第二限位突之间往复转动，所述旋转杆位于任意状态，且所述限位件套设于所述下底座外周时处于所述封堵状态，取下所述限位件并向上推所述储存件至所述台阶面接触所述凹槽的内底面，所述储存件顶开所述顶盖，且所述旋转杆接触所述第二限位突时处于混合状态，所述混合状态下所述进液孔和所述流道位于同一水平面但错开设置，且所述进液孔和所述流道不连通，拨动所述旋转杆至所述旋转杆接触所述第一限位突，且所述流道与所述进液孔连通时处于所述连通状态。

优选地，所述通孔的内壁设有一圈环形槽，所述环形槽位于所述凹槽的上方，且位于所述流道的下方，所述封堵状态下，所述通孔的高度等于所述限位件上端面距所述顶盖下端面的距离，所述环形槽内嵌入密封圈，所述密封圈的内壁接触所述储存件的外壁。

优选地，所述顶盖的中部厚度大于所述顶盖的边缘厚度。

本发明相对于现有技术取得了以下技术效果：

本发明提供的微流控芯片，主体的中部开设有通孔，且通孔的上端与顶盖通过能够打开的密封层连接，并通过顶盖封闭，储存件内盛放有检测试剂，在检测前，检测试剂就已经预储存于储存件内，提高检测时的操作效率，通孔的外周开设有多个流道，各流道的一端连通通孔，各流道的另一端分别连通一反应室，反应室不与外界连通，同时配合顶盖的设置，能够避免反应开始前检测试剂长时间接触外界，防止检测试剂因氧化、受潮或污染等原因而变质，影响后续与待测样品反应，并且，储存件内部中空且上端开口，配合顶盖的可打开设计，能够便于在需要加入待测样品时，将顶盖开启，使用方便，储存件的侧壁下部开设有多个进液孔，储存件位于通孔内且不与外界连通处于封堵状态，封堵状态下顶盖封堵在通孔上端，且进液孔通过通孔的内壁封堵，避免对检测试剂造成污染影响检测结果，储存件能够沿通孔向上移动至顶开顶盖并处于连通状态，连通状态下经通孔上端开口能够向储存件内加入待测样品，无论是顶开顶盖的操作，还是加入待测样品的操作，均方便易操作，且连通状态下进液孔与流道连通，进而便于储存件内混合后的待测样品和检测试剂经流道流入至反应室内反应，在反应过程中，混合液不与外界接触，进而避免造成气溶胶污染，影响下一次检测结果的准确性，主体为透明材料制成，进而便于观察检测结果。此外，本发明中的微流控芯片也易于组装生产，检测试剂可首先被置于储存件中进行批量原位冻干，然后将储存件与主体进行组合，微流控芯片即组装完成。相比于普通的芯片，本发明中的微流控芯片预包埋检测试剂时只需将检测试剂加入储存件，而不需要分别加入各反应室中，可大大减少操作时间，节省时间成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是实施例一中微流控芯片在一个角度的结构示意图；

图2是实施例一中微流控芯片在另一个角度的结构示意图；

图3是实施例一中微流控芯片处于封堵状态时的剖视图；

图4是实施例一中微流控芯片处于流通状态时的剖视图；

图5是实施例一中储存件的结构示意图；

图6是实施例一中储存件的剖视图；

图7是实施例一中限位环的结构示意图；

图8是实施例二中微流控芯片处于封堵状态时的剖视图；

图9是实施例三中微流控芯片处于封堵状态时的剖视图；

图10是实施例三中微流控芯片处于混合状态时的剖视图；

图11是实施例四中微流控芯片的结构示意图；

图12是实施例四中微流控芯片的剖视图；

图13是实施例五中微流控芯片的剖视图；

图中：100-微流控芯片，1-主体，2-储存件，3-顶盖，4-凹槽，5-通孔，6-流道，7-反应室，8-密封圈，9-进液孔，10-储存部，11-上底座，12-下底座，13-限位环，14-第二限位环，15-第一限位环，16-旋转杆，17-第一限位突，18-第二限位突。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的目的是提供一种微流控芯片，以解决现有的微流控芯片检测效率低、容易造成污染，且检测精度差的技术问题。

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

实施例一

如图1-图7所示，本实施例提供一种微流控芯片100，主要用于进行核酸检测，包括主体1、顶盖3和储存件2，主体1的中部开设有通孔5，且通孔5的上端与顶盖3通过能够打开的密封层连接，并通过顶盖3封闭，储存件2内盛放有检测试剂，在检测前，检测试剂就已经预储存于储存件2内，提高检测时的操作效率，通孔5的外周开设有多个流道6，各流道6的一端连通通孔5，各流道6的另一端分别连通一反应室7，反应室7不与外界连通，同时配合顶盖3的设置，能够避免反应开始前检测试剂长时间接触外界，防止检测试剂因氧化、受潮或污染等原因而变质，影响后续与待测样品反应，并且，储存件2内部中空且上端开口，配合顶盖3的可打开设计，能够便于在需要加入待测样品时，将顶盖3开启，使用方便，储存件2的侧壁下部开设有多个进液孔9，储存件2位于通孔5内且不与外界连通，处于封堵状态，封堵状态下顶盖3封堵在通孔5上端，且进液孔9通过通孔5的内壁封堵，避免检测试剂变质，储存件2能够沿通孔5向上移动至顶开顶盖3并处于连通状态，且储存件2的部分外径与通孔的内径相等，进而使得储存件2能够在摩擦力的作用下保证位置固定，连通状态下能够经通孔5上端开口向储存件2内加入待测样品，无论是顶开顶盖3的操作，还是加入待测样品的操作，均方便易操作，且连通状态下进液孔9与流道6连通，进而便于储存件2内混合后的待测样品和检测试剂经流道6流入至反应室7内反应，在反应过程中，反应室7不与大气相通，进而使得混合液不与外界接触，避免造成气溶胶污染，影响下一次检测结果的准确性，主体1为透明材料制成，进而便于观察检测结果。

具体地，如图5-图6所示，储存件2包括上底座11、下底座12和储存部10，上底座11和下底座12均为圆柱状，但本发明提供的微流控芯片100中，对于主体1、储存件2中各部件等的形状不限于上述限定，只要满足使用需要即可，上底座11的直径小于下底座12的直径，上底座11的上端与储存部10固定连接，上底座11的下端与下底座12同轴固定，且下底座12上端面围绕上底座11形成一台阶面，台阶面的设置能够实现对整个储存件2推动距离的限位，保证在连通状态时，流道6与进液孔9能够对准，进液孔9开设于储存部10上，且进液孔9位于储存部10与上底座11的交界处，保证储存部10内液体能够经进液孔9全部流至流道6内，储存部10为空心圆柱，且储存部10的上端倾斜设置，配合顶盖3的中间厚、边缘薄的结构，进而在储存部10向上推顶盖3时，顶盖3的边缘与主体1连接处更容易断裂，便于将顶盖3顶开，使用方便，此外，上底座11的外径等于储存部10的外径以及通孔5的内径，在摩擦力的作用下可保证储存件2位置固定。

本发明提供的微流控芯片100还包括限位件，限位件为开口设计，即，在限位件上设有缺口，进而便于在上底座11上取下，操作方便，主体1的下底面设有一开口朝下的凹槽4，凹槽4与通孔5内部连通，且凹槽4的内径大于通孔5的内径，凹槽4与下底座12同轴，且凹槽4的内径大于下底座12的外径，封堵状态下，限位件套设于上底座11外周，且限位件的上端面接触凹槽4的内底面，限位件的下端面接触台阶面，此时顶盖3为封闭状态，且流道6位于进液孔9正上方，拆下限位件，并向上推储存件2至储存部10的上端顶开顶盖3，形成连通状态，能够向储存部10内加入待测样品，且连通状态下，台阶面接触凹槽4的内底面，进液孔9与流道6连通，进而便于使混合后的待测样品与检测试剂经进液孔9和流道6进入反应室7内反应。

如图7所示，限位件为设有缺口的限位环13，进而便于限位件的安装与拆卸，并且，限位件的内径等于上底座11的外径，限位件的外径小于或等于下底座12的外径。

封堵状态下，下底座12的下端面低于主体1的下端面，连通状态下，下底座12的下端面与主体1的下端面平齐，上底座11的高度等于流道6内底面与凹槽4内底面之间的距离，且限位件的高度小于上底座11的高度，大于进液孔9的高度，保证在加入待测样品前，进液孔9被通孔5内壁封堵，且向上推动储存件2至下底座12的下端面与主体1的下端面平齐时，进液孔9能够与流道6内部连通。

使用时，先将限位件取下，然后向上推储存件2至台阶面与凹槽4内底面贴合（即推动的距离等于限位环13的高度，限位环13的高度大于储存部10最上端与顶盖3之间的距离），此时顶盖3被推开，同时进液孔9与流道6连通，同时，下底座12的下底面与主体1的下底面处于同一水平面上，使得微流控芯片100能够被平稳地放于桌面上；然后向储存部10中加入待测样品；将微流控芯片100放入离心装置上离心，使储存部10中的液体通过流道6进入反应室7中；将微流控芯片100从离心装置取出，将下底座12旋转一定角度（大于流道6的宽度，小于相邻流道6之间的角度），使进液孔9与流道6错位，各反应室7与流道6被密封，与外部空气隔绝，降低检测反应引起的气溶胶污染；将微流控芯片100放入加热装置中进行检测反应，观察检测结果。

实施例二

如图8所示，本实施例与实施例一的区别在于：封堵状态下，下底座12的下端面与主体1的下端面平齐，使得储存和运输过程更加便利、安全，连通状态下，下底座12的下端面高于主体1的下端面。

实施例三

如图9-图10所示，本实施例与实施例一、二的区别在于：限位件包括第一限位环15和第二限位环14，封堵状态下，第一限位环15和第二限位环14上下排列且均同轴套设于上底座11的外周，通过第一限位环15和第二限位环14同时对储存件2限位，且第一限位环15上端面接触凹槽4的内底面，取下位于上方的第一限位环15，并向上推储存件2至第二限位环14上端面接触凹槽4的内底面，储存件2能够顶开顶盖3形成混合状态，此时第二限位环14仍然处于限位状态，且进液孔9位于流道6下方，两者并不连通，向储存部10内加入待测样品，并使待测样品与检测试剂在储存部10内吹打混匀，以使得待测样品和检测试剂充分混合，再取下第二限位环14，并向上推储存件2至台阶面接触凹槽4的内底面，能够形成连通状态，此时进液孔9与流道6平齐并内部连通，以便于混合液能够进入流道6。第一限位环15的高度小于在封堵状态下的进液孔9上边缘与流道6下边缘的距离，以便于在拆下第一限位环15后，进液孔9与流道6仍然不连通，防止混匀待测样品和检测试剂的过程中溶液通过进液孔9进入流道6，造成溶液混合不均匀或溶液最终在各反应室7分配不均，同时，第一限位环15的高度大于储存部10最上端与顶盖3之间的距离，保证拆下第一限位环15后，储存部10能够顶开顶盖3。

使用时，先取下第一限位环15并向上推储存件2，使储存件2将顶盖3顶开，同时进液孔9依旧位于流道6下方；然后向储存件2中加入待测样品并将待测样品与检测试剂吹打混匀，最后，将第二限位环14取下并向上推储存件2，进行后续的离心与检测操作；本实施例的设计可防止在混匀检测试剂与待测样品的过程中检测溶液自动进入流道6，从而导致混匀不充分或进入反应室7的反应溶液分配不均。

实施例四

如图11-图12所示，本实施例与实施例一、二的区别在于：凹槽4的内壁上的不同位置设有第一限位突17和第二限位突18，第一限位突17和第二限位突18位于同一水平高度，下底座12的外缘固定有一旋转杆16，旋转杆16的一端固定在下底座12上并能够带动储存件2转动，旋转杆16的另一端向远离下底座12的轴线的方向延伸，并能够在第一限位突17和第二限位突18之间往复转动，旋转杆16位于任意状态，且限位件套设于下底座12外周时处于封堵状态，通过限位件对存储件限位，且进液孔9位于流道6的下方，取下限位件并向上推储存件2至台阶面接触凹槽4的内底面，储存件2顶开顶盖3，以便于通过通孔5的上端向储存部10内加入待测样品，旋转杆16接触第二限位突18时处于混合状态，混合状态下进液孔9和流道6位于同一水平面但错开设置，且进液孔9和流道6不连通，进而便于使储存部10内的待测样品和检测试剂充分混合，拨动旋转杆16至旋转杆16接触第一限位突17，以使储存件2转动至流道6与进液孔9连通，此时处于连通状态，以便于将储存部10内的液体导入至流道6内。

使用时，先将旋转杆16旋转至任意状态（优选为第二限位突18所在位置）并将限位件取下，然后向上推储存件2至台阶面与凹槽4内底面贴合（即推动的距离等于限位件的高度），此时，在储存件2的推动下顶盖3被推开，流道6与进液孔9处于同一平面但不对接；向储存部10中加入待测样品，并将待测样品与检测试剂吹打混匀；将旋转杆16旋转至第一限位突17所在位置，使流道6与进液孔9对接，然后将微流控芯片100放入离心装置上离心，使储存腔中的溶液通过流道6进入反应室7中；将微流控芯片100从离心装置取出，将旋转杆16旋转至第二限位突18所在位置，使进液孔9与流道6错位，各反应室7与流道6被密封，与外部空气隔绝，降低检测反应引起的气溶胶污染；将微流控芯片100放入加热装置中进行检测反应，观察检测结果。

实施例五

如图13所示，本实施例与实施例一、二、三以及四的区别在于：通孔5的内壁设有一圈环形槽，环形槽位于凹槽4的上方，且位于流道6的下方，同时，在封堵状态下，环形槽位于进液孔9下方，封堵状态下，通孔5的高度等于限位件上端面距顶盖3下端面的距离，保证密封性，环形槽内嵌入密封圈8，密封圈8的内壁接触储存件的外壁，进而通过密封圈8的设置来使得储存件2与通孔5内壁之间的接触更加紧密，提高密封效果，防止检测试剂变质。

本说明书中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种微流控芯片，其特征在于：包括主体、顶盖和储存件，所述主体的中部开设有通孔，且所述通孔的上端与所述顶盖通过能够打开的密封层连接，并通过所述顶盖封闭，所述通孔的外周开设有多个流道，各所述流道的一端连通所述通孔，各所述流道的另一端分别连通一反应室，所述反应室不与外界连通，所述储存件内部中空且上端开口，且所述储存件内盛放有检测试剂，所述储存件的侧壁下部开设有多个进液孔，所述储存件位于所述通孔内且不与外界连通处于封堵状态，所述封堵状态下所述顶盖封堵在所述通孔上端，且所述进液孔通过所述通孔的内壁封堵，所述储存件能够沿所述通孔向上移动至顶开所述顶盖并处于连通状态，所述连通状态下经所述通孔上端开口能够向所述储存件内加入待测样品，且所述进液孔与所述流道连通，并能够使所述储存件内的待测样品和检测试剂经所述流道流入至所述反应室内反应，所述主体为透明材料制成。

2.根据权利要求1所述的微流控芯片，其特征在于：所述储存件包括上底座、下底座和储存部，所述上底座和所述下底座均为圆柱状，且所述上底座的直径小于所述下底座的直径，所述上底座的上端与所述储存部固定连接，所述上底座的下端与所述下底座同轴固定，且所述下底座上端面围绕所述上底座形成一台阶面，所述进液孔开设于所述储存部上，且所述进液孔位于所述储存部与所述上底座的交界处，所述储存部为空心圆柱，且所述储存部的上端倾斜设置。

3.根据权利要求2所述的微流控芯片，其特征在于：还包括限位件，所述限位件为开口设计，所述主体的下底面设有一开口朝下的凹槽，所述凹槽与所述下底座同轴，所述封堵状态下，所述限位件套设于所述上底座外周，且所述限位件的上端面接触所述凹槽的内底面，所述限位件的下端面接触所述台阶面，拆下所述限位件，并向上推所述储存件能够形成所述连通状态，且所述连通状态下，所述台阶面接触所述凹槽的内底面，所述储存部上端顶开所述顶盖并伸出所述通孔，所述进液孔与所述流道连通。

4.根据权利要求3所述的微流控芯片，其特征在于：所述封堵状态下，所述下底座的下端面低于所述主体的下端面，所述连通状态下，所述下底座的下端面与所述主体的下端面平齐。

5.根据权利要求3所述的微流控芯片，其特征在于：所述封堵状态下，所述下底座的下端面与所述主体的下端面平齐，所述连通状态下，所述下底座的下端面高于所述主体的下端面。

6.根据权利要求3所述的微流控芯片，其特征在于：所述限位件为设有缺口的限位环。

7.根据权利要求3所述的微流控芯片，其特征在于：所述限位件包括第一限位环和第二限位环，所述封堵状态下，所述第一限位环和所述第二限位环上下排列且均同轴套设于所述上底座的外周，且所述第一限位环上端面接触所述凹槽的内底面，取下位于上方的所述第一限位环，并向上推所述储存件至所述第二限位环上端面接触所述凹槽的内底面，所述储存件能够顶开所述顶盖形成混合状态，所述混合状态下，所述进液孔位于所述流道下方，且所述储存部内能够加入待测样品，并使待测样品与检测试剂在所述储存部内混合，取下所述第二限位环，并向上推所述储存件至所述台阶面接触所述凹槽的内底面，能够形成所述连通状态，所述连通状态下，所述进液孔与所述流道平齐并内部连通。

8.根据权利要求3所述的微流控芯片，其特征在于：所述凹槽的内壁上的不同位置设有第一限位突和第二限位突，所述下底座的外缘固定有一旋转杆，所述旋转杆的一端固定在所述下底座上并能够带动所述储存件转动，所述旋转杆的另一端向远离所述下底座的轴线的方向延伸，并能够在所述第一限位突和所述第二限位突之间往复转动，所述旋转杆位于任意状态，且所述限位件套设于所述下底座外周时处于所述封堵状态，取下所述限位件并向上推所述储存件至所述台阶面接触所述凹槽的内底面，所述储存件顶开所述顶盖，且所述旋转杆接触所述第二限位突时处于混合状态，所述混合状态下所述进液孔和所述流道位于同一水平面但错开设置，且所述进液孔和所述流道不连通，拨动所述旋转杆至所述旋转杆接触所述第一限位突，且所述流道与所述进液孔连通时处于所述连通状态。

9.根据权利要求3-8中任一项所述的微流控芯片，其特征在于：所述通孔的内壁设有一圈环形槽，所述环形槽位于所述凹槽的上方，且位于所述流道的下方，所述封堵状态下，所述通孔的高度等于所述限位件上端面距所述顶盖下端面的距离，所述环形槽内嵌入密封圈，所述密封圈的内壁接触所述储存件的外壁。

10.根据权利要求1所述的微流控芯片，其特征在于：所述顶盖的中部厚度大于所述顶盖的边缘厚度。

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