CN114675176A - 故障检测设备、方法、计算机产品及可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种故障检测设备、方法、计算机产品及可读存储介质。上述故障检测设备包括第一陪试模块和第二陪试模块并联以形成并联电路，并联电路与待测试品形成测试电路。处理模块与测试电路电连接，用于监测第一陪试模块导通且第二陪试模块断开时，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，测试电路的第一状态，并根据第一状态判断待测试品是否发生故障；和/或用于监测第一陪试模块断开且第二陪试模块导通时，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，测试电路的第二状态，并根据第二状态判断待测试品是否发生故障。本申请实施例能在待测试品的耐久性试验过程中对待测试品是否发生故障进行有效的监测。

Description

故障检测设备、方法、计算机产品及可读存储介质

技术领域

本申请涉及电路领域，尤其涉及一种故障检测设备、方法、计算机产品及可读存储介质。

背景技术

随着科技的发展，电器的应用也越来越普及，比如行程开关。行程开关又称位置开关或限位开关，并且随着信息技术的发展，行程开关的应用越来越广泛，种类和规格也越来越多。比如行程开关的种类可以包括直动式行程开关和摆动式行程开关等，在此不在列举。

目前，在行程开关等电器的产线中需要对行程开关等电器的电气耐久性进行测试。比如，在行程开关等电器的电气耐久性进行测试的过程中，需要周期性的对行程开关等电器进行接通和分断。但是现有技术中在对行程开关等电器的电气耐久性进行测试的过程中，行程开关等电器发生的接通和断开故障不可实时监控，所以易发生测试误差，测试的可靠性较差。

发明内容

鉴于上述问题，本申请提供一种故障检测设备、方法、计算机产品及可读存储介质，使得在待测试品的耐久性试验过程中能够对待测试品是否发生故障进行实时有效的监测，从而提高测试的可靠性。

第一方面，本申请实施例提供了一种故障检测设备，包括处理模块、第一陪试模块和第二陪试模块。第一陪试模块和第二陪试模块并联以形成并联电路，并联电路与待测试品形成测试电路。处理模块与测试电路电连接，用于监测第一陪试模块导通且第二陪试模块断开时，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，测试电路的第一状态，并根据第一状态判断待测试品是否发生故障；以及用于监测第一陪试模块断开且第二陪试模块导通时，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，测试电路的第二状态，并根据第二状态判断待测试品是否发生故障。

本申请实施例相对于现有技术而言，由于第一陪试模块导通且第二陪试模块断开时，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，上述测试电路的第一状态应是导通状态，所以处理模块能够根据第一状态准确地判断待测试品是否发生故障。由于第一陪试模块断开且第二陪试模块导通时，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，上述测试电路的第二状态应是不导通状态，所以处理模块能够根据第二状态准确地判断待测试品是否发生故障。综上，本申请实施例的技术方案使得在待测试品的耐久性试验过程中能够对待测试品是否发生故障进行有效的监测，从而提高测试的可靠性。

在一些实施例中，第一陪试模块包括串联的第一陪试品和第一阻抗单元，第一陪试品具有可控结构以实现第一陪试模块的闭合和断开，第二陪试模块包括串联的第二陪试品和第二阻抗单元，第二陪试品具有可控结构以实现第二陪试模块的闭合和断开。本申请的技术方案中，提供了一种第一陪试模块以及第二陪试模块的具体结构形式，并且这种电路结构较为简单，可以节省电路布局空间。

在一些实施例中，第一阻抗单元的阻抗值小于第二阻抗单元的阻抗值。本申请实施例中，可以根据待测试品的型号来选用第一阻抗单元的型号和阻值，以及选用第二阻抗单元的型号和阻值。

在一些实施例中，故障检测设备还包括电流传感模块。电流传感模块用于监测测试电路中是否有电流，并将监测结果发送至处理模块。处理模块还用于接收监测结果。处理模块根据第一状态判断待测试品是否发生故障，包括：当待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，监测结果为测试电路中不出现电流时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品的闭合发生故障。处理模块根据第二状态判断待测试品是否发生故障，包括：当待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，监测结果为测试电路中具有电流时则判定第二状态为导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品的断开发生故障。

本实施例的技术方案中，第一陪试模块导通且第二陪试模块断开时，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，测试电路理论上应是导通状态，测试电路应出现电流。但是如果待测试品的闭合发生故障，则会使测试电路不导通。从而此时，处理模块能够准确的根据测试电路不出现电流而判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判断待测试品的闭合发生故障。第一陪试模块断开且第二陪试模块导通时，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，测试电路理论上应是不导通状态，测试电路应不会出现电流。但是如果待测试品的断开发生故障，则会使测试电路导通。从而，此时处理模块能够准确的根据测试电路具有电流而确定第二状态为导通，并根据第二状态为导通状态判断待测试品的断开发生故障。

在一些实施例中，故障检测设备还包括电压传感模块。电压传感模块用于监测待测试品是否有输出电压，并将监测结果发送至处理模块。处理模块还用于接收监测结果。处理模块根据第一状态判断待测试品是否发生故障，包括：当待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段内，监测结果为待测试品没有输出电压时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品的闭合发生故障。处理模块根据第二状态判断待测试品是否发生故障，包括：当待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，监测结果为待测试品具有输出电压时则判定第二状态为导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品的断开发生故障。

本实施例的技术方案中，第一陪试模块导通且第二陪试模块断开时，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，测试电路理论上应是导通状态，待测试品应具有输出电压。但是如果待测试品的闭合发生故障，则会使测试电路不导通。从而此时，处理模块能够准确的根据待测试品不出现输出电压时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品的闭合发生故障。第一陪试模块断开且第二陪试模块导通时，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，测试电路理论上应是不导通状态，待测试品应不具有输出电压。但是如果待测试品的断开发生故障，则会使测试电路导通。从而，此时处理模块能够准确的根据待测试品具有输出电压而确定第二状态为导通，并根据第二状态为导通状态判断待测试品的断开发生故障。

在一些实施例中，处理模块还用于控制第一陪试模块和第二陪试模块的导通和断开，以及控制待测试品的闭合和断开。通过这种方式相较于人工手动控制第一陪试模块和第二陪试模块的导通和断开，以及控制待测试品闭合和断开来说，精确度更高。

第二方面，本申请实施例还提供了一种故障检测方法。故障检测方法由故障检测设备执行，故障检测设备包括处理模块、第一陪试模块和第二陪试模块。第一陪试模块和第二陪试模块并联以形成并联电路，并联电路与待测试品形成测试电路；处理模块与测试电路电连接。

故障检测方法包括：处理模块监测第一陪试模块导通且第二陪试模块断开，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，测试电路的第一状态，并根据第一状态判断待测试品是否发生故障；和/或，监测第一陪试模块断开且第二陪试模块导通，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，测试电路的第二状态，并根据第二状态判断待测试品是否发生故障。

本申请实施例相对于现有技术而言，由于第一陪试模块导通且第二陪试模块断开，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内上述测试电路的第一状态应是导通状态，所以处理模块能够根据第一状态准确地判断待测试品是否发生故障。由于第一陪试模块断开且第二陪试模块导通，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，上述测试电路的第二状态应是不导通状态，所以处理模块能够根据第二状态准确地判断待测试品是否发生故障。综上所述，本申请实施例的技术方案使得在待测试品的耐久性试验过程中能够对待测试品是否发生故障进行有效的监测，从而提高测试的可靠性。

在一些实施例中，根据第一状态判断待测试品是否发生故障的步骤具体包括：确定测试电路的第一状态为不导通时，确定待测试品的闭合发生故障。本实施例中，由于第一陪试模块导通且第二陪试模块断开，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，上述测试电路应是导通状态，所以此时如果第一状态为不导通，则说明待测试品发生故障。

和/或，根据第二状态判断所述待测试品是否发生故障的步骤具体包括：确定测试电路的第二状态为导通时，确定待测试品的断开发生故障。本实施例中，由于第一陪试模块断开且第二陪试模块导通，待测试品由闭合至断开起的第二预定时间段之后，上述测试电路应是不导通状态，所以此时如果测试电路的第二状态为导通，则说明待测试品发生故障。

在一些实施例中，故障检测设备还包括电流传感模块，故障检测方法还包括：电流传感模块监测测试电路中是否有电流，并将监测结果发送至处理模块；处理模块接收监测结果，并当待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，监测结果为测试电路中不出现电流时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品的闭合发生故障；当待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，监测结果为测试电路中具有电流时则判定第二状态为导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品的断开发生故障。

在一些实施例中，故障检测设备还包括电压传感模块，故障检测方法还包括：电压传感模块监测待测试品是否有输出电压，并将监测结果发送至处理模块；处理模块接收监测结果，并当待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，监测结果为待测试品没有输出电压时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品的闭合发生故障；当待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，监测结果为待测试品有输出电压时则判定第二状态为导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品的断开发生故障。

第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机产品，包括存储器和一个或多个处理器，存储器中存储有计算机程序，上述处理器执行上述计算机程序时实现如以上任意实施例中所描述的故障检测方法。

由于本实施例包含以上任意一实施例的故障检测方法，所以本实施例使得在待测试品的耐久性试验过程中能够对待测试品是否发生故障进行有效的监测，从而提高测试的可靠性。

第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，上述计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如以上任意实施例中所描述的故障检测方法。

由于本实施例包含以上任意一实施例的故障检测方法，所以本实施例使得在待测试品的耐久性试验过程中能够对待测试品是否发生故障进行实时有效的监测，从而提高测试的可靠性。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一些实施例中故障检测设备的结构示意图。

图2是本申请一些实施例中理论状态下待测试品、第一陪试模块、第二陪试模块的时序控制图。

图3是本申请一些实施例中实际状态下待测试品、第一陪试模块、第二陪试模块的时序控制图。

图4是本申请一些实施例中故障检测设备的另一结构示意图。

图5是本申请一些实施例中一个循环周期内故障检测方法的流程示意图。

图6是本申请另一些实施例中一个循环周期内故障检测方法的流程示意图。

图7是本申请一些实施例中计算机产品的结构示意图。

其中，11-处理模块；12-第一陪试模块；121-第一陪试品；122-第一阻抗单元；13-第二陪试模块；131-第二陪试品；132-第二阻抗单元；14-待测试品；15-电源模块；16-电流传感模块；17-电压传感模块；71-存储器；72-处理器。

具体实施方式

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中在申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

此外，本申请的说明书和权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序，可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是指两个以上(包括两个)，同理，“多组”指的是两组以上(包括两组)。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“电连接”应做广义理解，“电连接”除了可以是指物理上的连接，还可以是指信号连接，例如，可以是直接相连，即物理连接，也可以通过中间至少一个元件间接相连，只要达到电路相通即可，还可以是两个元件内部的连通。信号连接除了可以通过电路进行信号连接外，也可以是指通过媒体介质进行信号连接，例如，无线电波。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

根据本申请的一些实施例，本申请提供了一种故障检测设备。参照图1，图1为本申请实施例中故障检测设备的结构示意图。

如图1所示，故障检测设备至少包括处理模块11、第一陪试模块12和第二陪试模块13。第一陪试模块12和第二陪试模块13并联以形成并联电路，并联电路与待测试品14形成测试电路。并联电路的一端电连接待测试品14的一端，待测试品14的另一端通过电源模块15电连接处理模块11。电源模块15为测试电路中的各模块提供电源，比如为处理模块11、第一陪试模块12、第二陪试模块13以及待测试品14提供电源。上述并联电路的另一端通过电流传感模块16电连接处理模块11。

在故障检测设备工作的过程中，第一陪试模块12导通时第二陪试模块13不导通，以通过第一陪试模块12、待测试品14、电源模块15、处理模块11和电流传感模块16构成上述测试电路。而当第二陪试模块13导通时第一陪试模块12不导通，以通过第二陪试模块13、待测试品14、电源模块15、处理模块11和电流传感模块16构成上述测试电路。

本实施例中，待测试品14可以包括行程开关，例如，图1中待测试品14的个数为三个，且三个待测试品14并联。实际设计过程中，对待测试品14的个数不做限制，待测试品14的个数可以为一个、两个、甚至大于三个。为每个待测试品14设定测试周期，例如，每个待测试品14的测试周期均相同，在一个测试周期内，只有一个待测试品14执行闭合和断开的动作，而其它待测试品14均处于断开状态。

第一陪试模块12和第二陪试模块13具有不同的阻抗，例如，第一陪试模块12的阻抗值小于第二陪试模块13的阻抗值。例如，第一陪试模块12包括串联的第一陪试品121和第一阻抗单元122，第一陪试品121具有可控结构以实现第一陪试模块12的闭合和断开。第二陪试模块13包括串联的第二陪试品131和第二阻抗单元132，第二陪试品131具有可控结构以实现第二陪试模块13的闭合和断开。其中，第一阻抗单元122的阻抗值小于第二阻抗单元132的阻抗值。

本实施例中，第一陪试品121和第二陪试品131可以为开关(如行程开关)、接触器或继电器等，或第一陪试品121和第二陪试品131还可以为具有闭合和断开结构的其他产品，其中，第一陪试品121和第二陪试品131既可以为同一种产品，也可以为不同种产品，例如，第一陪试品121和第二陪试品131均为行程开关，或者，第一陪试品121和第二陪试品131的其中一个为行程开关，另一个为继电器。第一陪试品121和第一阻抗单元122串联，第二陪试品131和第二阻抗单元132串联，第一陪试品121和第一阻抗单元122所在的支路的电流值与第二陪试品131和第二阻抗单元132所在的支路的电流值的大小关系根据第一阻抗单元122和第二阻抗单元132的阻抗值决定。

值得一提的是，第一阻抗单元122可以为一个电阻，也可以为多个电阻，比如多个电阻串联形成第一阻抗单元122，或多个电阻并联形成第一阻抗单元122，或多个电阻以串、并联混合的形式形成第一阻抗单元122。第二阻抗单元132可以为一个电阻，也可以为多个电阻，比如多个电阻串联形成第二阻抗单元132，或多个电阻并联形成第二阻抗单元132，或多个电阻以串并、联混合的形式形成第二阻抗单元132。

处理模块11可以包括各种处理器，例如，处理器可以但不限于包括可编程逻辑控制器(Programmable Logic Controller，PLC)、中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)、控制器、微控制器、微处理器或其他数据处理芯片。该处理模块11还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processing，DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable GateArray，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器，例如单片机等。

在一实施例中，为测试某一个待测试品14，在其对应的测试周期内，根据第一陪试品121、第二陪试品131和待测试品14的闭合和断开的不同时刻，将该测试周期分为不同的时间段，例如，一个测试周期可以但不限于分为12个时间段：t1、t2、t3、…、t11、t12。

结合图2所示，本实施例中采用的第一陪试品121和第二陪试品131均为良品，即第一陪试品121和第二陪试品131无故障。处理模块11用于控制第一陪试模块12和第二陪试模块13的导通和断开，以及控制待测试品14的闭合和断开。

以第一陪试品121为例，在t1时间段的开始时刻，处理模块11控制第一陪试品121由断开至闭合，例如，处理模块11向第一陪试品121发送闭合指令，具体的处理模块11通过向第一陪试品121提供高电平的方式发送闭合指令，使第一陪试品121闭合。值得一提的是，在理想状态下处理模块11向第一陪试品121发送闭合指令控制第一陪试品121由断开至闭合时，第一陪试品121立即闭合。

在另一可选的实施例中，处理模块11向第一陪试品121发送闭合指令，考虑到第一陪试品121的机械动作时间，第一陪试品121需经过t1时间段完成闭合动作，即第一陪试品121在t1时间段的截至时刻闭合。t1时间段所在的时间长度可以根据第一陪试品121的特性(如型号或规格等)进行预先设定。比如，第一陪试品121如果是固态继电器，那么t1时间段所在的时间长度为几毫秒，比如1毫秒-5毫秒等。第一陪试品121如果是传统继电器，那么t1时间段所在的时间长度会长点，比如5毫秒-10毫秒等。

本申请提供的实施例中，处理模块11与上述测试电路电连接，用于监测第一陪试模块12导通且第二陪试模块13断开时，待测试品14由断开至闭合后的第一预定时间段之内测试电路的第一状态，并根据第一状态判断待测试品14是否发生故障；和/或用于监测第一陪试模块12断开且第二陪试模块13导通时，待测试品14由闭合至断开后的第二预定时间段之后，测试电路的第二状态，并根据第二状态判断待测试品是否发生故障。

本实施例中，故障检测设备包括电流传感模块16。电流传感模块16用于监测测试电路中是否有电流，并将监测结果发送至处理模块11，处理模块11通过电流传感模块16实现监测测试电路的状态。处理模块11还用于接收监测结果。处理模块11根据第一状态判断待测试品14是否发生故障，包括：当待测试品14由断开至闭合后的第一预定时间段之内所述监测结果为测试电路中不出现电流时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品14的闭合发生故障。处理模块11根据第二状态判断待测试品14是否发生故障，包括：当待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，监测结果为测试电路中具有电流时则判定第二状态为导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品14的断开发生故障。

在t2时间段的开始时刻，即第一陪试品121闭合的时刻，比如在一些实施例中，t1时间段的起始时刻(忽略第一陪试品121的机械动作时间)，或在另一可选的实施例中t1时间段的截至时刻(考虑第一陪试品121的机械动作时间)，此时，处理模块11控制待测试品14由断开至闭合，例如，处理模块11向待测试品14发送闭合指令，具体的处理模块11通过为待测试品14提供高电平的方式发送闭合指令，使待测试品14由断开至闭合。值得一提的是，在理想状态下处理模块11向待测试品14发送闭合指令控制待测试品14由断开至闭合时，待测试品14立即闭合。

在另一可选的实施例中，处理模块11向待测试品14发送闭合指令，考虑到待测试品14的机械动作时间，待测试品14需经过t2时间段完成闭合动作，即待测试品14在t2时间段的截至时刻闭合。t2时间段所在的时间长度可以根据待测试品14的特性(如型号或规格等)进行预先设定。比如，待测试品14如果是行程开关，那么t2时间段所在的时间长度为十几毫秒，比如10毫秒或20毫秒等。

t3时间段为待测试品14闭合是否故障预设的检测时间段，本实施例的第一预定时间段的起始时刻即为t3时间段的起始时刻，第一预定时间段的时间长度可以小于或等于t3时间段的时间长度。本实施例中，为检测待测试品14闭合是否故障，处理模块11可以在第一预定时间段内检测上述测试电路的第一状态，比如可以在t3时间段检测上述测试电路的第一状态。值得一提的是，t3时间段的起始时刻即待测试品14闭合的时刻，比如在一些实施例中，t2时间段的起始时刻(忽略待测试品14的机械动作时间)，或在另一可选的实施例中t2时间段的截至时刻(考虑待测试品14的机械动作时间)。

在t3时间段内，由于第一陪试品121导通且第二陪试品131断开，待测试品14闭合，所以在t3时间段内，如果待测试品14无故障，则上述测试电路电连接电源模块15后能形成一个导通的回路，测试电路中应出现电流。而当待测试品14有故障时，例如，待测试品14的闭合发生故障即待测试品14不能闭合，则测试电路电连接电源模块15后不能形成一个导通的回路，测试电路中不会出现电流。

由于电流传感模块16一直监测测试电路中是否出现电流，并将测试结果发送至处理模块11。处理模块11接收上述测试结果。在t3时间段内，如果处理模块11判定电流传感模块16的监测结果为测试电路中不出现电流时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品14的闭合发生故障。

为了避免误差，在另一可选的实施例中，处理模块11判定电流传感模块16的监测结果为测试电路中有电流的维持时长等于或超过时间段t3所在时间长度的前二分之一时，确定第一状态为导通状态；如果处理模块11判定电流传感模块16的监测结果为测试电路中有电流的维持时长小于时间段t3所在时间长度的前二分之一时，确定第一状态不导通状态。

在t4时间段的开始时刻(即在时间段t3的截止时刻)，处理模块11控制第一陪试品121由闭合到断开，例如，处理模块11向第一陪试品121发送断开指令，具体的处理模块11通过为第一陪试品121提供低电平的方式发送断开指令，使第一陪试品121断开。值得一提的是，在理想状态下处理模块11向第一陪试品121发送断开指令控制第一陪试品121由闭合至断开时，第一陪试品121立即断开。

在另一可选的实施例中，处理模块11向第一陪试品121发送断开指令，考虑到第一陪试品121的机械动作时间，第一陪试品121需经过t4时间段，即第一陪试品121在t4时间段的截至时刻断开。t4时间段所在的时间长度可以根据第一陪试品121的特性(如型号或规格等)进行预先设定。比如，第一陪试品121如果是固态继电器，那么t1时间段所在的时间长度为几毫秒，比如1毫秒-5毫秒等。第一陪试品121如果是传统继电器，那么t1时间段所在的时间长度会长点，比如5毫秒-10毫秒等。

在t5时间段至t6时间段内，处理模块11未控制第一陪试品121、第二陪试品131、以及待测试品14的状态变化。在t5时间段至t6时间段内，由于第一陪试品121和第二陪试品131一直处于断开状态，故上述测试电路仍为不导通状态。值得一提的是，本实施例时间段的划分应当理解为作为实施例的具体解释，不应当作为对申请方案的限定。比如在另一实施例中，t5时间段和t6时间段可以划分为一个时间段。

在t7时间段的开始时刻，处理模块11控制第二陪试品131由断开至闭合，例如，处理模块11向第二陪试品131发送闭合指令，具体的处理模块11通过为第二陪试品131提供高电平的方式发送闭合指令，使第二陪试品131闭合。值得一提的是，在理想状态下处理模块11向第二陪试品131发送闭合指令控制第二陪试品131由断开至闭合时，第二陪试品131立即闭合。

在另一可选的实施例中，处理模块11向第二陪试品131发送闭合指令，考虑到第二陪试品131的机械动作时间，第二陪试品131需经过t7时间段，即第二陪试品131在t7时间段的截至时刻闭合。t7时间段所在的时间长度可以根据第二陪试品131的特性(如型号或规格等)进行预先设定。比如，第二陪试品131如果是固态继电器，那么t7时间段所在的时间长度为几毫秒，比如1毫秒-5毫秒等。第二陪试品131如果是传统继电器，那么t7时间段所在的时间长度会长点，比如5毫秒-10毫秒等。

t8时间段为待测试品14处于闭合状态下，第一陪试品121断开和第二陪试品131闭合的时间段，例如，在t8时间段内，处理模块11一直向待测试品14提供高电平、向第一陪试品121提供低电平以及向第二陪试品131提供高电平。

在t9时间段的开始时刻，处理模块11控制待测试品14由闭合至断开，比如处理模块11向待测试品14发送闭合指令，具体的处理模块11通过为待测试品14提供低电平的方式发送断开指令，使待测试品14断开。值得一提的是，在理想状态下处理模块11向待测试品14发送断开指令控制待测试品14由闭合至断开时，待测试品14立即断开。

在另一可选的实施例中，处理模块11向待测试品14发送断开指令，考虑到待测试品14的机械动作时间，待测试品14需经过t9时间段完成断开动作，即待测试品14在t9时间段的截至时刻断开。t9时间段所在的时间长度可以根据待测试品14的特性(如型号或规格等)进行预先设定。比如，待测试品14如果是行程开关，那么t2时间段所在的时间长度为十几毫秒，比如10毫秒或20毫秒等。

在t9时间段的截止时刻，第一陪试品121处于断开状态，第二陪试品131处于导通状态，待测试品14断开。

t10时间段为检测待测试品14断开是否出现故障的时间段，在t10时间段内，由于第一陪试品121断开且第二陪试品131导通，待测试品14断开，所以如果待测试品14无故障，则上述测试电路电连接电源模块15后不能形成一个导通的回路，测试电路中应不会出现电流。而当待测试品14有故障时，例如待测试品14的断开发生故障即待测试品14不能断开，比如熔焊，测试电路电连接电源模块15后会形成一个导通的回路，测试电路中出现电流。值得一提的是，t10时间段的起始时刻即待测试品14断开的时刻，比如在一些实施例中，t9时间段的起始时刻(忽略待测试品14的机械动作时间)，或在另一可选的实施例中t9时间段的截至时刻(考虑待测试品14的机械动作时间)。

由于电流传感模块16一直监测测试电路中是否出现电流，并将测试结果发送至处理模块11。处理模块11接收上述测试结果。在t10时间段内，如果处理模块11判定电流传感模块16的监测结果为测试电路中出现电流时则判定第二状态为导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品14的断开发生故障。

另外，如图3所示，待测试品14为行程开关时，由于行程开关由闭合至断开时，动触头和静触头分开使行程开关断开。但是，动触头和静触头之间由于电弧作用会使行程开关断开后的一段时间内处于导通状态。所以，在误差允许的范围内，即使待测试品14无断开故障，在时间段t10内的前一段时间，测试电路中也可以存在电流，而不认为待测试品14的断开发生故障。举例而言，误差允许的范围为10ms(ms即毫秒)、20ms或50ms等，本实施例对误差允许的范围不做具体限制，可以根据待测试品14的型号和规格来确定误差允许的范围。以下以误差允许的范围为50ms为例进行说明，即第二预定时间段为50ms。

从待测试品14由闭合至断开后(t9时间段的截至时刻)时间段t10的开始时刻(即时间段t9的截止时刻)开始，处理模块11判定电流传感模块16的监测结果为测试电路中出现电流时，且经过第二预定时间段之后，测试电路仍具有电流，例如上述测试电路中电流的维持时长超过50ms，则确定第二状态导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品14的断开发生故障，例如，待测试品14出现熔焊或消弧设计有问题；如果处理模块11经过第二预定时间段之后，判定电流传感模块16的监测结果为测试电路中未出现电流时，确定第二状态不导通，并根据第二状态为不导通状态判定待测试品14的断开未发生故障。可选地，第二预定时间段小于时间段t10所在的时间长度。

在时间段t11的开始时刻，处理模块11控制第二陪试品131由闭合至断开，例如，处理模块11向第二陪试品131发送断开指令，具体的处理模块11通过向第二陪试品131提供低电平的方式发送断开指令，使第二陪试品131断开。但处理模块11未控制第一陪试品121和待测试品14的状态变化，即在t11时间段内，第一陪试品121和待测试品14一直处于断开状态，例如，在t11时间段内，处理模块11一直向第一陪试品121以及待测试品14提供低电平。

t12时间段内，处理模块11未控制第一陪试品121、第二陪试品131以及待测试品14闭合，第一陪试品121仍处于断开状态，第二陪试品131仍处于断开状态，待测试品14仍处于断开状态。

在另一可选的实施例中，如图4所示，还可以不通过电流传感模块16与处理模块11的信息交互来判断上述测试电路的第一状态和第二状态是否导通，而通过电压传感模块17与处理模块11的信息交互来判断上述测试电路的第一状态和第二状态是否导通。

比如，故障检测设备不包括电流传感模块16，而包括电压传感模块17。电压传感模块17用于监测待测试品14是否有输出电压，并将监测结果发送至处理模块11，处理模块11通过电压传感模块17监测上述测试电路的状态。处理模块11还用于接收监测结果。处理模块11根据第一状态判断待测试品14是否发生故障，包括：当待测试品14由断开至闭合后的第一预定时间段之内，监测结果为待测试品不出现输出电压时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品的闭合发生故障。处理模块11根据第二状态判断待测试品14是否发生故障，包括：当待测试品14由闭合至断开后的第二预定时间段之后，监测结果为待测试品14具有输出电压时则判定第二状态为导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品的断开发生故障。

具体地说，t3时间段为检测待测试品14的闭合是否故障的检测时间段。本实施例中，为检测待测试品14是否故障，处理模块11可以在第一预定时间段内检测上述测试电路的第一状态。

在t3时间段内，由于第一陪试品121导通且第二陪试品131断开，待测试品14闭合，所以在第一预定时间段内，如果待测试品14无故障，则上述测试电路电连接电源模块15后能形成一个导通的回路，测试电路中应出现电流，待测试品14应具有输出电压。而当待测试品14有故障时，例如，待测试品14的闭合发生故障即待测试品14不能闭合，则测试电路电连接电源模块15后不能形成一个导通的回路，待测试品14不会有输出电压。所以，待测试品14由断开至闭合后的第一预定时间段内，如果处理模块11判定电压传感模块17的监测结果为待测试品14没有输出电压时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品的闭合发生故障；如果处理模块11判定电压传感模块17的监测结果为待测试品14有输出电压时则判定第一状态为导通，并根据第一状态为导通状态判定待测试品的闭合未发生故障。

为了避免误差，可选的，处理模块11判定电压传感模块17的监测结果为待测试品14有输出电压的维持时长超过时间段t3所在时间长度的前二分之一时，确定第一状态为导通状态；处理模块11判定电压传感模块17的监测结果为待测试品14有输出电压的维持时长不超过时间段t3所在时间长度的前二分之一时，确定第一状态不导通状态。

t10时间段设定为检测待测试品14断开是否出现故障的时间段，在t10时间段内，由于第一陪试品121断开且第二陪试品131导通，待测试品14断开，所以如果待测试品14无故障，则上述测试电路电连接电源模块15后不能形成一个导通的回路，测试电路中应不会出现电流，待测试品14无输出电压。而当待测试品14有故障时，例如待测试品14的断开发生故障即待测试品14不能断开，比如熔焊，测试电路电连接电源模块15后会形成一个导通的回路，测试电路中出现电流，待测试品14有输出电压。

另外，待测试品14为行程开关时，由于行程开关由闭合至断开时，动触头和静触头分开使行程开关断开。但是，动触头和静触头之间由于电弧作用会使行程开关断开后的一段时间内处于导通状态。所以，在误差允许的范围内，即使待测试品14无断开故障，在时间段t10内仍会有一段时间使测试电路中有电流，即待测试品14仍具有输出电压，而不认为待测试品14的断开发生故障。举例而言，误差允许的范围为10ms、20ms或50ms等，本实施例对误差允许的范围不做具体限制，可以根据待测试品14的型号和规格来确定误差允许的范围。以下以误差允许的范围为50ms为例进行说明，即第二预定时间段为50ms。

因此，从待测试品14由闭合至断开后时间段t10的开始时刻(即时间段t9的截止时刻)开始，处理模块11判定电压传感模块17的监测结果为待测试品14有输出电压，且经过第二预定时间段之后，待测试品14仍具有输出电压，例如，上述待测试品14的输出电压的维持时长超过50ms时，则确定第二状态导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品14的断开发生故障，例如，待测试品14出现熔焊或消弧设计有问题；如果处理模块11经过第二预定时间段之后，判定电压传感模块17的监测结果为待测试品14未有输出电压时，确定第二状态不导通，并根据第二状态为不导通状态判定待测试品14的断开未发生故障。

本申请实施例相对于现有技术而言，由于第一陪试品121导通且第二陪试品131断开时，待测试品14由断开至闭合后的第一预定时间段内，处理模块11能够根据第一状态准确地判断待测试品14是否发生故障。由于第一陪试品121断开且第二陪试品131导通时，待测试品14由闭合至断开后的第二预定时间段之后，处理模块11能够根据第二状态准确地判断待测试品14是否发生故障。

综上所述，本申请实施例的技术方案使得在待测试品14的耐久性试验过程中能够对待测试品14是否发生故障进行有效的实时监测，从而提高测试的可靠性。

本申请的另一实施例还提供一种故障检测方法。故障检测方法由故障检测设备执行，故障检测设备包括处理模块、第一陪试模块和第二陪试模块。第一陪试模块和第二陪试模块并联以形成并联电路，并联电路与待测试品形成测试电路；处理模块与测试电路电连接。本实施例为与以上任意一个实施例中故障检测设备相对应的方法实施例，以上任意一个实施例中故障检测设备所描述的细节在本实施例依然适用，在此不再赘述。

以下对本实施例的故障检测方法做描述，但是需要说明的是，本实施例中，由于待测试品、第一陪试品以及第二陪试品根据预定的循环周期以各自设定的闭合时间和断开时间分别被接通和断开。所以本实施例中以下步骤的执行顺序应当理解为只是作为本申请实施例的其中一种实现方式而示意，而不应当理解为对本申请方案执行步骤的具体限定。

如图5所示，在一个循环周期内，故障检测方法可以如下所述。

步骤S501，电流传感模块实时监测测试电路中是否具有电流。

步骤S502，电流传感模块将测试电路中是否具有电流的监测结果发送至处理模块。

步骤S503，处理模块在第一陪试模块导通且第二陪试模块断开时，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段内根据监测结果判断待测试品是否发生故障。

结合以上任一实施例的故障检测设备，t3时间段为检测待测试品闭合是否故障的检测时间段。本实施例中，为检测待测试品是否故障，处理模块可以在第一预定时间段内，比如在t3时间段内检测上述测试电路的第一状态。

在t3时间段内，由于第一陪试品导通且第二陪试品断开，待测试品闭合，在第一预定时间段内，如果待测试品无故障，则上述测试电路电连接电源模块后能形成一个导通的回路，测试电路中应出现电流。而当待测试品有故障时，例如，待测试品的闭合发生故障即待测试品不能闭合，则测试电路电连接电源模块后不能形成一个导通的回路，测试电路中不会出现电流。所以，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段内，处理模块判定电流传感模块的监测结果为测试电路中不出现电流时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品的闭合发生故障；处理模块判定电流传感模块的监测结果为测试电路中出现电流时则判定第一状态为导通，并根据第一状态为导通状态判定待测试品的闭合未发生故障。

为了避免误差，可选的，处理模块判定电流传感模块的监测结果为测试电路中有电流的维持时长等于或超过时间段t3所在时间长度的前二分之一时，确定第一状态为导通状态；如果处理模块判定电流传感模块的监测结果为测试电路中有电流的维持时长小于时间段t3所在时间长度的前二分之一时，确定第一状态不导通状态。

步骤S504，处理模块在第一陪试模块断开且第二陪试模块导通时，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后根据监测结果判断待测试品是否发生故障。

结合以上任一实施例的故障检测设备，将t9时间段之后的t10时间段设定为检测待测试品断开是否出现故障的时间段，在t10时间段内，由于第一陪试品断开且第二陪试品导通，待测试品断开，所以如果待测试品无故障，则上述测试电路电连接电源模块后不能形成一个导通的回路，测试电路中应不会出现电流。而当待测试品有故障时，例如待测试品的断开发生故障即待测试品不能断开，比如熔焊，测试电路电连接电源模块后会形成一个导通的回路，测试电路中出现电流。

另外，待测试品为行程开关时，由于行程开关由闭合至断开时，动触头和静触头分开使行程开关断开。但是，动触头和静触头之间由于电弧作用会使行程开关断开后的一段时间内处于导通状态。所以，在误差允许的范围内，即使待测试品无断开故障，在时间段t10内的前一段时间，测试电路中也可以存在电流，而不认为待测试品的断开发生故障。举例而言，误差允许的范围为10ms、20ms或50ms等，本实施例对误差允许的范围不做具体限制，可以根据待测试品的型号和规格来确定误差允许的范围。以下以误差允许的范围为50ms为例进行说明，即第二预定时间段为50ms。

因此，从待测试品由闭合至断开后即时间段t9的截止时刻(时间段t10的开始时刻)开始，处理模块判定电流传感模块的监测结果为测试电路中出现电流时，且经过第二预定时间段之后，测试电路仍具有电流，例如上述测试电路中电流的维持时长超过50ms，则确定第二状态导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品的断开发生故障，例如，待测试品出现熔焊或消弧设计有问题；如果处理模块经过第二预定时间段之后，判定电流传感模块的监测结果为测试电路中未出现电流时，确定第二状态不导通，并根据第二状态为不导通状态判定待测试品的断开未发生故障。

值得一提的是，在另一可选的实施例中，还可以不通过电流传感模块与处理模块的信息交互来判断上述测试电路的第一状态和第二状态是否导通，而通过电压传感模块与处理模块的信息交互来判断上述测试电路的第一状态和第二状态是否导通。

如图6所示，在一个循环周期内，故障检测方法可以如下所述。

步骤S601，电压传感模块实时监测待测试品是否有输出电压。

步骤S602，电压传感模块将待测试品是否有输出电压的监测结果发送至处理模块。

步骤S603，处理模块在第一陪试模块导通且第二陪试模块断开时，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段内，根据监测结果判断待测试品是否发生故障。

结合以上任一实施例的故障检测设备，t3时间段为检测待测试品闭合是否故障的检测时间段。本实施例中，为检测待测试品是否故障，处理模块可以在第一预定时间段内，比如在t3时间段内检测上述测试电路的第一状态。

在t3时间段内，由于第一陪试品导通且第二陪试品断开，待测试品闭合，所以如果待测试品无故障，所以在第一预定时间段内，如果待测试品无故障，则测试电路电连接电源模块后能形成一个导通的回路，待测试品应具有输出电压。而当待测试品有故障时，例如，待测试品的闭合发生故障即待测试品不能闭合，则测试电路电连接电源模块后不能形成一个导通的回路，待测试品不会有输出电压。所以，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段内，如果处理模块判定电压传感模块的监测结果为待测试品没有输出电压时则判定第一状态为不导通，并根据第一状态为不导通状态判定待测试品的闭合发生故障；如果处理模块判定电压传感模块的监测结果为待测试品有输出电压时则判定第一状态为导通，并根据第一状态为导通状态判定待测试品的闭合未发生故障。

为了避免误差，可选的，处理模块判定电压传感模块的监测结果为待测试品有输出电压的维持时长超过时间段t3所在时间长度的前二分之一时，确定第一状态为导通状态；否则确定第一状态不导通状态。

步骤S604，处理模块在第一陪试模块断开且第二陪试模块导通时，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后根据监测结果判断待测试品是否发生故障。

结合以上任一实施例的故障检测设备，t9时间段之后的t10时间段设定为检测待测试品14断开是否出现故障的时间段，在t10时间段内，由于第一陪试品断开且第二陪试品导通，待测试品断开，所以如果待测试品无故障，则上述测试电路电连接电源模块后不能形成一个导通的回路，待测试品无输出电压。而当待测试品有故障时，例如待测试品的断开发生故障即待测试品不能断开，比如熔焊，测试电路电连接电源模块后会形成一个导通的回路，待测试品有输出电压。

另外，待测试品为行程开关时，由于行程开关由闭合至断开时，动触头和静触头分开使行程开关断开。但是，动触头和静触头之间由于电弧作用会使行程开关断开后的一段时间内处于导通状态。所以，在误差允许的范围内，即使待测试品无断开故障，在时间段t10内仍会有一段时间使测试电路中有电流，即待测试品仍具有输出电压，而不认为待测试品的断开发生故障。举例而言，误差允许的范围为10ms、20ms或50ms等，本实施例对误差允许的范围不做具体限制，可以根据待测试品的型号和规格来确定误差允许的范围。以下以误差允许的范围为50ms为例进行说明，即第二预定时间段为50ms。

因此，从待测试品由闭合至断开后即时间段t9的截止时刻(时间段t10的开始时刻)开始，处理模块判定电压传感模块的监测结果为待测试品有输出电压，且经过第二预定时间段之后，待测试品仍具有输出电压，例如，上述待测试品的输出电压的维持时长(即第二预定时间段)超过50ms时，则确定第二状态导通，并根据第二状态为导通状态判定待测试品的断开发生故障，例如，待测试品出现熔焊或消弧设计有问题；如果处理模块经过第二预定时间段之后，判定电压传感模块的监测结果为待测试品未有输出电压时，确定第二状态不导通，并根据第二状态为不导通状态判定待测试品的断开未发生故障。

本申请实施例相对于现有技术而言，由于第一陪试品导通且第二陪试品断开，待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段内，处理模块能够根据第一状态准确地判断待测试品是否发生故障。由于第一陪试品断开且第二陪试品导通，待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，处理模块能够根据第二状态准确地判断待测试品是否发生故障。

综上所述，本申请实施例的技术方案使得在待测试品的耐久性试验过程中能够对待测试品是否发生故障进行有效的监测，从而提高测试的可靠性。

本申请的另一实施例还提供一种计算机产品，如图7所示，该计算机产品包括存储器71和一个或多个处理器72，图7中仅以包含一个处理器72为例，存储器71中存储有计算机程序，上述处理器72执行计算机程序时实现如以上任意一个实施例中的故障检测方法。

本申请的另一实施例还提供一种计算机可读介质，计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读介质。计算机中的处理器读取存储在计算机可读介质中的计算机可读程序代码，使得处理器能够执行以上任意一个实施例中的故障检测方法。

计算机可读介质包含但不限于电子、磁性、光学、电磁、红外的存储器或半导体系统、设备或者装置，或者前述的任意适当组合，存储器用于存储程序代码或指令，程序代码包括计算机操作指令，处理器用于执行存储器存储的应急救援通信方法的程序代码或指令。

以上所述，以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (12)

1.一种故障检测设备，其特征在于，包括：处理模块、第一陪试模块和第二陪试模块；

所述第一陪试模块和所述第二陪试模块并联以形成并联电路，所述并联电路与待测试品形成测试电路；

所述处理模块，与所述测试电路电连接，用于监测所述第一陪试模块导通且所述第二陪试模块断开时，所述待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内所述测试电路的第一状态，并根据所述第一状态判断所述待测试品是否发生故障；和/或用于监测所述第一陪试模块断开且所述第二陪试模块导通时，所述待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，所述测试电路的第二状态，并根据所述第二状态判断所述待测试品是否发生故障。

2.根据权利要求1所述的故障检测设备，其特征在于，所述第一陪试模块包括串联的第一陪试品和第一阻抗单元，所述第一陪试品具有可控结构以实现所述第一陪试模块的闭合和断开，所述第二陪试模块包括串联的第二陪试品和第二阻抗单元，所述第二陪试品具有可控结构以实现所述第二陪试模块的闭合和断开。

3.根据权利要求2所述的故障检测设备，其特征在于，所述第一阻抗单元的阻抗值小于所述第二阻抗单元的阻抗值。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的故障检测设备，其特征在于，所述故障检测设备还包括：

电流传感模块，用于监测所述测试电路中是否有电流，并将监测结果发送至所述处理模块；

所述处理模块，还用于接收所述监测结果；

所述处理模块根据所述第一状态判断所述待测试品是否发生故障，包括：

当所述待测试品由断开至闭合后的所述第一预定时间段之内，所述监测结果为所述测试电路中不出现所述电流时则判定所述第一状态为不导通，并根据所述第一状态为不导通状态判定所述待测试品的闭合发生故障；

所述处理模块根据所述第二状态判断所述待测试品是否发生故障，包括：

当所述待测试品由闭合至断开后的所述第二预定时间段之后，所述监测结果为所述测试电路中具有所述电流时则判定所述第二状态为导通，并根据所述第二状态为导通状态判定所述待测试品的断开发生故障。

5.根据权利要求1至3中任意一项所述的故障检测设备，其特征在于，所述故障检测设备还包括：

电压传感模块，用于监测所述待测试品是否有输出电压，并将监测结果发送至所述处理模块；

所述处理模块，还用于接收所述监测结果；

所述处理模块根据所述第一状态判断所述待测试品是否发生故障，包括：

当所述待测试品由断开至闭合后的所述第一预定时间段之内，所述监测结果为所述待测试品不出现所述输出电压时则判定所述第一状态为不导通，并根据所述第一状态为不导通状态判定所述待测试品的闭合发生故障；

所述处理模块根据所述第二状态判断所述待测试品是否发生故障，包括：

当所述待测试品由闭合至断开后的所述第二预定时间段之后，所述监测结果为所述待测试品具有所述输出电压时则判定所述第二状态为导通，并根据所述第二状态为导通状态判定所述待测试品的断开发生故障。

6.根据权利要求1至3中任意一项所述的故障检测设备，其特征在于，所述处理模块，还用于控制所述第一陪试模块和所述第二陪试模块的导通和断开，以及控制所述待测试品的闭合和断开。

7.一种故障检测方法，其特征在于，所述故障检测方法由故障检测设备执行，所述故障检测设备包括：处理模块、第一陪试模块和第二陪试模块；

所述第一陪试模块和所述第二陪试模块并联以形成并联电路，所述并联电路与待测试品形成测试电路；所述处理模块与所述测试电路电连接；

所述故障检测方法包括：

所述处理模块监测所述第一陪试模块导通且所述第二陪试模块断开，所述待测试品由断开至闭合后的第一预定时间段之内，所述测试电路的第一状态，并根据所述第一状态判断所述待测试品是否发生故障；

和/或，监测所述第一陪试模块断开且所述第二陪试模块导通，所述待测试品由闭合至断开后的第二预定时间段之后，所述测试电路的第二状态，并根据所述第二状态判断所述待测试品是否发生故障。

8.根据权利要求7所述的故障检测方法，其特征在于，所述根据所述第一状态判断所述待测试品是否发生故障的步骤具体包括：确定所述测试电路的第一状态为不导通时，确定所述待测试品的闭合发生故障；

和/或，所述根据所述第二状态判断所述待测试品是否发生故障的步骤具体包括：确定所述测试电路的第二状态为导通时，确定所述待测试品的断开发生故障。

9.根据权利要求7或8所述的故障检测方法，其特征在于，所述故障检测设备还包括电流传感模块，所述方法还包括：

所述电流传感模块监测所述测试电路中是否有电流，并将监测结果发送至所述处理模块；

所述处理模块接收所述监测结果，并当所述待测试品由断开至闭合后的所述第一预定时间段之内，所述监测结果为所述测试电路中不出现所述电流时则判定所述第一状态为不导通，并根据所述第一状态为不导通状态判定所述待测试品的闭合发生故障；当所述待测试品由闭合至断开后的所述第二预定时间段之后，所述监测结果为所述测试电路中具有所述电流时则判定所述第二状态为导通，并根据所述第二状态为导通状态判定所述待测试品的断开发生故障。

10.根据权利要求7或8所述的故障检测方法，其特征在于，所述故障检测设备还包括电压传感模块，所述方法还包括：

电压传感模块监测所述待测试品是否有输出电压，并将监测结果发送至所述处理模块；

所述处理模块接收所述监测结果，并当所述待测试品由断开至闭合后的所述第一预定时间段之内，所述监测结果为所述待测试品没有所述输出电压时则判定所述第一状态为不导通，并根据所述第一状态为不导通状态判定所述待测试品的闭合发生故障；当所述待测试品由闭合至断开后的所述第二预定时间段之后，所述监测结果为所述待测试品有所述输出电压时则判定所述第二状态为导通，并根据所述第二状态为导通状态判定所述待测试品的断开发生故障。

11.一种计算机产品，其特征在于，包括存储器和一个或多个处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求7至10中任意一项所述的故障检测方法。

12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求7至10中任意一项所述的故障检测方法。

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