CN114577855B - 一种基于感应电动势的磨粒检测方法及系统 - Google Patents

一种基于感应电动势的磨粒检测方法及系统 Download PDF

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Abstract

本申请实施例提供一种基于感应电动势的磨粒检测方法及系统，涉及油液检测技术领域。该方法包括：调节所述激励线圈组件的电感量，获取所述检测线圈的多个初始输出电压；将预设磨粒样品分别在所述多个初始输出电压下进行磨粒检测，获得多个磨粒电压信号；根据所述多个磨粒电压信号获得目标电压信号；根据所述目标电压信号和所述多个初始输出电压获得所述检测线圈的目标输出电压；根据所述目标输出电压对待测磨粒样品进行检测，获得检测结果。该方法可以实现增大磨粒的输出信号，提高检测灵敏度和抗噪声干扰能力的技术效果。

Description

一种基于感应电动势的磨粒检测方法及系统
技术领域
本申请涉及油液检测技术领域，具体而言，涉及一种基于感应电动势的磨粒检测方法及系统。
背景技术
目前，传统的双激励单检测线圈结构的电感式磨粒装置，基于电感平衡的检测原理，使传感器输出基础电压为0。但在实际应用当中，传感器输出的基础电压过低，其抗噪声干扰能力差，可能导致微弱的磨粒信号会淹没在噪声当中。
现有技术中，对于利用LC谐振原理提高传感器灵敏度的相关方案，则缺乏对检测线圈LC并联回路数学模型的建立和分析，因而对检测线圈等效电感量和LC并联回路的谐振状态分析不清晰，不能有效提高传感器检测灵敏度。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种基于感应电动势的磨粒检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质，可以实现增大磨粒的输出信号，提高检测灵敏度和抗噪声干扰能力的技术效果。
第一方面，本申请实施例提供了一种基于感应电动势的磨粒检测方法，应用于电感式磨损传感器，所述电感式磨损传感器包括激励线圈组件和检测线圈，所述方法包括：
调节所述激励线圈组件的电感量，获取所述检测线圈的多个初始输出电压；
将预设磨粒样品分别在所述多个初始输出电压下进行磨粒检测，获得多个磨粒电压信号；
根据所述多个磨粒电压信号获得目标电压信号；
根据所述目标电压信号和所述多个初始输出电压获得所述检测线圈的目标输出电压；
根据所述目标输出电压对待测磨粒样品进行检测，获得检测结果。
在上述实现过程中，该基于感应电动势的磨粒检测方法对检测线圈进行一定频率的谐振状态调节，即对检测线圈的输出电压调节，一方面能够提高检测线圈在磨粒扰动磁场下的电流和电压变化率，进而提高传感器对磨粒扰动磁场的响应能力；另一方面调节检测线圈的输出电压，提高传感器磨粒信号输出信噪比；因此，针对电感式磨损传感器，通过调节检测线圈的输出感应电动势的大小，使得在此状态下，提高检测线圈在磨粒扰动磁场的下电流变化率，实现增大磨粒输出信号，提高传感器磨粒检测灵敏度和抗噪声干扰能力的技术效果。
进一步地，所述激励线圈组件包括第一激励线圈和第二激励线圈，所述调节所述激励线圈组件的电感量，获取所述检测线圈的初始输出电压数据组的步骤，包括：
调节所述第一激励线圈或第二激励线圈的电感量，获取所述检测线圈的多个初始输出电压。
在上述实现过程中，该电感式磨损传感器为三线圈电感式磨损传感器；通过调节第一激励线圈或第二激励线圈的电感量，可以对应的调节检测线圈的初始输出电压。
进一步地，所述初始输出电压的计算公式为：
；
其中，E为所述初始输出电压，L3为所述检测线圈的电感量，M13为所述第一激励线圈对所述检测线圈的互感系数，M23为所述第二激励线圈对所述检测线圈的互感系数，I3为所述检测线圈的电流，I1为所述第一激励线圈的电流，I2为所述第二激励线圈的电流。
进一步地，所述根据所述多个磨粒电压信号获得目标电压信号的步骤，包括：
对所述多个磨粒电压信号进行数值比较，获得所述多个磨粒电压信号中的信号最大值；
根据所述信号最大值获得所述目标电压信号。
在上述实现过程中，选取多个磨粒电压信号中的信号最大值作为目标电压信号，此时磨粒扰动时电流变化率最大，可增大磨粒的输出信号；对磨粒的检测最灵敏，有效提高提高检测灵敏度和抗噪声干扰能力。
第二方面，本申请实施例提供了一种基于感应电动势的磨粒检测系统，应用于电感式磨损传感器，所述电感式磨损传感器包括激励线圈组件和检测线圈，所述系统包括：
调节模块，用于调节所述激励线圈组件的电感量，获取所述检测线圈的多个初始输出电压；
预设样品检测模块，用于将预设磨粒样品分别在所述多个初始输出电压下进行磨粒检测，获得多个磨粒电压信号；
目标电压信号模块，用于根据所述多个磨粒电压信号获得目标电压信号；
目标输出电压模块，用于根据所述目标电压信号和所述多个初始输出电压获得所述检测线圈的目标输出电压；
检测模块，用于根据所述目标输出电压对待测磨粒样品进行检测，获得检测结果。
进一步地，所述激励线圈组件包括第一激励线圈和第二激励线圈，所述调节模块具体用于调节所述第一激励线圈或第二激励线圈的电感量，获取所述检测线圈的多个初始输出电压。
进一步地，所述初始输出电压的计算公式为：
；
其中，E为所述初始输出电压，L3为所述检测线圈的电感量，M13为所述第一激励线圈对所述检测线圈的互感系数，M23为所述第二激励线圈对所述检测线圈的互感系数，I3为所述检测线圈的电流，I1为所述第一激励线圈的电流，I2为所述第二激励线圈的电流。
进一步地，所述目标电压信号模块包括：
比较单元，用于对所述多个磨粒电压信号进行数值比较，获得所述多个磨粒电压信号中的信号最大值；
目标电压信号子单元，用于根据所述信号最大值获得所述目标电压信号。
第三方面，本申请实施例提供的一种电子设备，包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面任一项所述的方法的步骤。
第四方面，本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得所述计算机执行如第一方面任一项所述的方法。
第五方面，本申请实施例提供的一种计算机程序产品，所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行如第一方面任一项所述的方法。
本申请公开的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，或者，部分特征和优点可以从说明书推知或毫无疑义地确定，或者通过实施本申请公开的上述技术即可得知。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的电感式磨损传感器的结构示意图；
图2为本申请实施例提供的电感式磨损传感器的等效电路图；
图3为本申请实施例提供的一种基于感应电动势的磨粒检测方法的流程示意图；
图4为本申请实施例提供的另一种基于感应电动势的磨粒检测方法的流程示意图；
图5为本申请实施例提供的基于感应电动势的磨粒检测系统的结构框图；
图6为本申请实施例提供的一种电子设备的结构框图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
本申请实施例提供了一种基于感应电动势的磨粒检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质，可以应用于油液的铁磁颗粒的磨损检测中；该基于感应电动势的磨粒检测方法对检测线圈进行一定频率的谐振状态调节，即对检测线圈的输出电压调节，一方面能够提高检测线圈在磨粒扰动磁场下的电流和电压变化率，进而提高传感器对磨粒扰动磁场的响应能力；另一方面调节检测线圈的输出电压，提高传感器磨粒信号输出信噪比；因此，针对电感式磨损传感器，通过调节检测线圈的输出感应电动势的大小，使得在此状态下，提高检测线圈在磨粒扰动磁场的下电流变化率，实现增大磨粒输出信号，提高传感器磨粒检测灵敏度和抗噪声干扰能力的技术效果。
请参见图1和图2，图1为本申请实施例提供的电感式磨损传感器的结构示意图，图2为本申请实施例提供的电感式磨损传感器的等效电路图。
示例性地，电感式磨损传感器为三线圈电感式磨损传感器，该电感式磨损传感器包括激励线圈组件10和检测线圈20，其中激励线圈组件10包括第一激励线圈11和第二激励线圈12，电容C1、电容C2、电容C3分别与第一激励线圈11、第二激励线圈12、检测线圈20组成LC并联谐振回路。
如图1和图2所示，基于谐振原理，电感式磨损传感器的各个线圈与电容组成LC并联谐振电路，可提高线圈的电流变化率，从而增强线圈对磨粒扰动磁场的响应能力，提高电感式磨损传感器对磨粒检测的灵敏度。
示例性地，第一激励线圈11和第二激励线圈12分别通入电流和/>，第一激励线圈11、第二激励线圈12激发的磁场通过检测线圈20的磁通匝链数分别为/>和/>。当检测线圈20处于电感平衡状态时，即/>=/>时，由法拉第电磁感应定律可知，检测线圈感应电动势/>为：
=0（1）；
由式（1）可知，电感式磨损传感器在电感平衡状态下，检测线圈20的感应电动势为0，此时检测线圈20与电容C3组成闭合回路下，检测线圈电流/>为0，同时由式（2）可知，检测线圈20发等效电感量/>为无穷大：
（2）；
其中，φ为检测线圈20的等效磁通匝链数。
当电感式磨损传感器的电感不平衡（>或</>）时，检测线圈20的电流/>不为0，同时其所激发的磁场通过线圈自身的磁通匝链数为/>，此时/>不为无穷大，检测线圈感应电动势为：
=/>（3）；
由式（3）可知，通过搭建检测线圈20的LC谐振回路，提高线圈电流变化率（），能够增大传感器的磨粒检测输出信号/>（即磨粒电压信号）。激励线圈组件10对检测线圈20的磁通匝链数差（/>）会同时引起检测线圈20的电流和等效电感量的变化，因而检测线圈20的等效电感量难以确定，使得检测线圈20的LC谐振电路中并联的电容C3难以匹配到位。
请参见图3，图3为本申请实施例提供的一种基于感应电动势的磨粒检测方法的流程示意图，该基于感应电动势的磨粒检测方法应用于电感式磨损传感器，电感式磨损传感器包括激励线圈组件和检测线圈，该方法包括如下步骤：
S100：调节激励线圈组件的电感量，获取检测线圈的多个初始输出电压。
示例性地，通过调节激励线圈组件的电感量，可以获得一系列检测线圈的初始输出电压；从而，可以在检测线圈的不同初始输出电压下进行磨粒检测，测试出最适的数值。
S200：将预设磨粒样品分别在多个初始输出电压下进行磨粒检测，获得多个磨粒电压信号。
示例性地，初始输出电压和磨粒电压信号为一一对应关系。
S300：根据多个磨粒电压信号获得目标电压信号。
示例性地，在多个磨粒电压信号进行选取，根据预设条件选取最适的磨粒电压信号作为目标电压信号。
S400：根据目标电压信号和多个初始输出电压获得检测线圈的目标输出电压。
示例性地，在确定目标电压信号之后，根据初始输出电压和磨粒电压信号为一一对应关系，获取与目标电压信号对应的目标输出电压。
S500：根据目标输出电压对待测磨粒样品进行检测，获得检测结果。
在一些实施场景中，该基于感应电动势的磨粒检测方法对检测线圈进行一定频率的谐振状态调节，即对检测线圈的输出电压调节，一方面能够提高检测线圈在磨粒扰动磁场下的电流和电压变化率，进而提高传感器对磨粒扰动磁场的响应能力；另一方面调节检测线圈的输出电压，提高传感器磨粒信号输出信噪比；因此，针对电感式磨损传感器，通过调节检测线圈的输出感应电动势的大小，使得在此状态下，提高检测线圈在磨粒扰动磁场的下电流变化率，实现增大磨粒输出信号，提高传感器磨粒检测灵敏度和抗噪声干扰能力的技术效果。
请参见图4，图4为本申请实施例提供的另一种基于感应电动势的磨粒检测方法的流程示意图。
示例性地，激励线圈组件包括第一激励线圈和第二激励线圈，S100：调节激励线圈组件的电感量，获取检测线圈的初始输出电压数据组的步骤，包括：
S110：调节第一激励线圈或第二激励线圈的电感量，获取检测线圈的多个初始输出电压。
示例性地，该电感式磨损传感器为三线圈电感式磨损传感器；通过调节第一激励线圈或第二激励线圈的电感量，可以对应的调节检测线圈的初始输出电压。
示例性地，初始输出电压的计算公式为：
（4）；
其中，E为初始输出电压，L3为检测线圈的电感量，M13为第一激励线圈对检测线圈的互感系数，M23为第二激励线圈对检测线圈的互感系数，I3为检测线圈的电流，I1为第一激励线圈的电流，I2为第二激励线圈的电流。
示例性地，S300：根据多个磨粒电压信号获得目标电压信号的步骤，包括：
S310：对多个磨粒电压信号进行数值比较，获得多个磨粒电压信号中的信号最大值；
S320：根据信号最大值获得目标电压信号。
示例性地，选取多个磨粒电压信号中的信号最大值作为目标电压信号，此时磨粒扰动时电流变化率最大，可增大磨粒的输出信号；对磨粒的检测最灵敏，有效提高提高检测灵敏度和抗噪声干扰能力。
在一些实施场景中，结合图1至图4，设检测线圈20的电感量为，第一激励线圈11和第二激励线圈12对检测线圈20的互感系数分别为/>和/>，第一激励线圈11和第二激励线圈12的电流分别为/>和/>，忽略绕组电阻，式（3）的检测线圈感应电动势可写成：
（4）；
由式（4）可知，当电感式磨损传感器处于电感平衡时，时，，/>；当/>时，/>。由于检测线圈20的等效电感量Leq难以确定，因而可基于检测线圈20的电感量/>，由并联谐振频率公式/>计算相应的并联电容/>，并通过改变其中一个线圈（第一激励线圈11或第二激励线圈12）的电感量来破坏电感式磨损传感器的电感平衡，使检测线圈20获得一定的等效电感量/>，输出一定的感应电压/>（/>），因此传感器输出感应电压反映了检测线圈20的等效电感量变化。对检测线圈20的LC并联回路进行一定频率的谐振状态调节，即对电感式磨损传感器的输出感应电压调节，一方面能够提高检测线圈20在磨粒扰动磁场下的电流和电压变化率，进而提高传感器对磨粒扰动磁场的响应能力，另一方面调节传感器输出感应电压，提高传感器磨粒信号输出信噪比。
因此，针对三线圈电感式磨损传感器，通过调节输出感应电动势的大小，使得在此状态下，提高检测线圈LC并联回路在磨粒扰动磁场的下电流变化率，增大磨粒输出信号，提高传感器磨粒检测灵敏度。
作为示例，首先绕制电感式磨损传感器的各个线圈，其参数见表1：
表1-传感器实验参数（150KHz）
由于电感式磨损传感器的输出感应电压大小反映检测线圈20的等效电感量变化，进而反映检测线圈20的LC并联回路谐振状态调节情况，因此在激励线圈并联谐振频率（150.26KHz）下，调节电感式磨损传感器的电感量，进行检测线圈20在不同输出感应电压下的磨粒检测实验。预设磨粒样品选用200um铁磁磨粒，将其粘在塑料管上，并以一定的速度通过电感式磨损传感器，电感式磨损传感器的输出磨粒电压信号峰峰值最大时，对应输出感应电压为电感式磨损传感器最适原始输出感应电压，同时检测线圈20的LC并联回路处于较好的谐振状态。由于电感式磨损传感器的原始输出电压很小，测量其放大后的电压，不同检测线圈输出放大电压下，200um铁磁磨粒检测结果见表2：
表2-检测线圈不同原始输出放大电压下磨粒测量结果
由表2可知，当电感式磨损传感器的检测线圈20的初始输出放大电压为4.49V时，200um铁磁磨粒电压信号峰峰值最大（63.25mV），因此该放大电压为传感器磨粒检测最适原始输出电压，检测线圈20的LC并联回路处于较好的谐振状态。对电感式磨损传感器的输出感应电动势进行数学建模分析，通过调节检测线圈20的输出感应电压大小，进而调节检测线圈20的LC并联回路谐振状态，提高了传感器磨粒检测灵敏度，提高的传感器输出磨粒信号信噪比。
因此，根据本申请实施例提供的基于感应电动势的磨粒检测方法，在20V激励电压的条件下，通过调节检测线圈使电感平衡发生破坏，当输出感应电动势为4.49V时，磨粒扰动时电流变化率最大，因此对磨粒的检测最灵敏。基于此方法，当激励电压为其他值时，也可通过调节输出感应电动势的大小，增加传感器的检测灵敏度。
请参见图5，图5为本申请实施例提供的基于感应电动势的磨粒检测系统的结构框图，该基于感应电动势的磨粒检测系统应用于电感式磨损传感器，电感式磨损传感器包括激励线圈组件和检测线圈，系统包括：
调节模块100，用于调节激励线圈组件的电感量，获取检测线圈的多个初始输出电压；
预设样品检测模块200，用于将预设磨粒样品分别在多个初始输出电压下进行磨粒检测，获得多个磨粒电压信号；
目标电压信号模块300，用于根据多个磨粒电压信号获得目标电压信号；
目标输出电压模块400，用于根据目标电压信号和多个初始输出电压获得检测线圈的目标输出电压；
检测模块500，用于根据目标输出电压对待测磨粒样品进行检测，获得检测结果。
示例性地，激励线圈组件包括第一激励线圈和第二激励线圈，调节模块100具体用于调节第一激励线圈或第二激励线圈的电感量，获取检测线圈的多个初始输出电压。
示例性地，初始输出电压的计算公式为：
；
其中，E为初始输出电压，L3为检测线圈的电感量，M13为第一激励线圈对检测线圈的互感系数，M23为第二激励线圈对检测线圈的互感系数，I3为检测线圈的电流，I1为第一激励线圈的电流，I2为第二激励线圈的电流。
示例性地，目标电压信号模块300包括：
比较单元，用于对多个磨粒电压信号进行数值比较，获得多个磨粒电压信号中的信号最大值；
目标电压信号子单元，用于根据信号最大值获得目标电压信号。
需要注意的是，图5所示的基于感应电动势的磨粒检测系统与图1至图4所示的方法实施例相对应，为避免重复，此处不再赘述。
本申请还提供一种电子设备，请参见图6，图6为本申请实施例提供的一种电子设备的结构框图。电子设备可以包括处理器510、通信接口520、存储器530和至少一个通信总线540。其中，通信总线540用于实现这些组件直接的连接通信。其中，本申请实施例中电子设备的通信接口520用于与其他节点设备进行信令或数据的通信。处理器510可以是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。
上述的处理器510可以是通用处理器，包括中央处理器(CPU，CentralProcessingUnit)、网络处理器(NP，NetworkProcessor)等；还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现成可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器510也可以是任何常规的处理器等。
存储器530可以是，但不限于，随机存取存储器（RAM，RandomAccessMemory），只读存储器（ROM，Read Only Memory），可编程只读存储器（PROM ，Programmable Read-OnlyMemory），可擦除只读存储器（EPROM ，Erasable Programmable Read-Only Memory），电可擦除只读存储器（EEPROM ，Electric Erasable Programmable Read-Only Memory）等。存储器530中存储有计算机可读取指令，当所述计算机可读取指令由所述处理器510执行时，电子设备可以执行上述图1至图4方法实施例涉及的各个步骤。
可选地，电子设备还可以包括存储控制器、输入输出单元。
所述存储器530、存储控制器、处理器510、外设接口、输入输出单元各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通信总线540实现电性连接。所述处理器510用于执行存储器530中存储的可执行模块，例如电子设备包括的软件功能模块或计算机程序。
输入输出单元用于提供给用户创建任务以及为该任务创建启动可选时段或预设执行时间以实现用户与服务器的交互。所述输入输出单元可以是，但不限于，鼠标和键盘等。
可以理解，图6所示的结构仅为示意，所述电子设备还可包括比图6中所示更多或者更少的组件，或者具有与图6所示不同的配置。图6中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。
本申请实施例还提供一种存储介质，所述存储介质上存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，所述计算机程序被处理器执行时实现方法实施例所述的方法，为避免重复，此处不再赘述。
本申请还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行方法实施例所述的方法。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本申请的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

Claims (10)

1.一种基于感应电动势的磨粒检测方法，其特征在于，应用于电感式磨损传感器，所述电感式磨损传感器包括激励线圈组件和检测线圈，所述方法包括：
调节所述激励线圈组件的电感量，获取所述检测线圈的多个初始输出电压；
将预设磨粒样品分别在所述多个初始输出电压下进行磨粒检测，获得多个磨粒电压信号；
根据所述多个磨粒电压信号获得目标电压信号；
根据所述目标电压信号和所述多个初始输出电压获得所述检测线圈的目标输出电压；
根据所述目标输出电压对待测磨粒样品进行检测，获得检测结果。
2.根据权利要求1所述的基于感应电动势的磨粒检测方法，其特征在于，所述激励线圈组件包括第一激励线圈和第二激励线圈，所述调节所述激励线圈组件的电感量，获取所述检测线圈的初始输出电压数据组的步骤，包括：
调节所述第一激励线圈或第二激励线圈的电感量，获取所述检测线圈的多个初始输出电压。
3.根据权利要求2所述的基于感应电动势的磨粒检测方法，其特征在于，所述初始输出电压的计算公式为：
；
其中，E为所述初始输出电压，L3为所述检测线圈的电感量，M13为所述第一激励线圈对所述检测线圈的互感系数，M23为所述第二激励线圈对所述检测线圈的互感系数，I3为所述检测线圈的电流，I1为所述第一激励线圈的电流，I2为所述第二激励线圈的电流。
4.根据权利要求1所述的基于感应电动势的磨粒检测方法，其特征在于，所述根据所述多个磨粒电压信号获得目标电压信号的步骤，包括：
对所述多个磨粒电压信号进行数值比较，获得所述多个磨粒电压信号中的信号最大值；
根据所述信号最大值获得所述目标电压信号。
5.一种基于感应电动势的磨粒检测系统，其特征在于，应用于电感式磨损传感器，所述电感式磨损传感器包括激励线圈组件和检测线圈，所述系统包括：
调节模块，用于调节所述激励线圈组件的电感量，获取所述检测线圈的多个初始输出电压；
预设样品检测模块，用于将预设磨粒样品分别在所述多个初始输出电压下进行磨粒检测，获得多个磨粒电压信号；
目标电压信号模块，用于根据所述多个磨粒电压信号获得目标电压信号；
目标输出电压模块，用于根据所述目标电压信号和所述多个初始输出电压获得所述检测线圈的目标输出电压；
检测模块，用于根据所述目标输出电压对待测磨粒样品进行检测，获得检测结果。
6.根据权利要求5所述的基于感应电动势的磨粒检测系统，其特征在于，所述激励线圈组件包括第一激励线圈和第二激励线圈，所述调节模块具体用于调节所述第一激励线圈或第二激励线圈的电感量，获取所述检测线圈的多个初始输出电压。
7.根据权利要求6所述的基于感应电动势的磨粒检测系统，其特征在于，所述初始输出电压的计算公式为：
；
其中，E为所述初始输出电压，L3为所述检测线圈的电感量，M13为所述第一激励线圈对所述检测线圈的互感系数，M23为所述第二激励线圈对所述检测线圈的互感系数，I3为所述检测线圈的电流，I1为所述第一激励线圈的电流，I2为所述第二激励线圈的电流。
8.根据权利要求5所述的基于感应电动势的磨粒检测系统，其特征在于，所述目标电压信号模块包括：
比较单元，用于对所述多个磨粒电压信号进行数值比较，获得所述多个磨粒电压信号中的信号最大值；
目标电压信号子单元，用于根据所述信号最大值获得所述目标电压信号。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述的基于感应电动势的磨粒检测方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得所述计算机执行如权利要求1至4任一项所述的基于感应电动势的磨粒检测方法。
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