CN114543727A - 一种测量小圆弧半径的方法 - Google Patents

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邵春翠
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Wuxi Trs Heat Exchanger Co ltd
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Wuxi Trs Heat Exchanger Co ltd
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    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/10—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring diameters

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Abstract

本发明提供一种测量小圆弧半径的方法，包括以下步骤：步骤S1：按图面要求建立工件坐标系；步骤S2：计算需要测量的圆弧轮廓的理论圆心；步骤S3：将理论圆心的位置构建在坐标系上；步骤S4：在被需要测量的圆弧轮廓上取点；步骤S5：计算各点与理论圆心的失向尺寸即半径的距离；步骤S6：判别半径的距离是否在误差范围内，误差范围内，则圆心正确，不在误差范围内，则重新选定圆心。本发明步骤简单，原理清晰，采用简单的步骤获得精确的圆心。

Description

一种测量小圆弧半径的方法
技术领域
本发明主要涉及弧形测量领域，尤其涉及一种测量小圆弧半径的方法。
背景技术
此类圆弧存留下的实体较少，造成可实测数据的大量损失，直接测量时比较困难且偏差较大。
已公开中国发明专利，申请号CN201210149134.0，专利名称：一种大半径短圆弧零件精密测量方法，申请日：2012-05-15，本发明涉及一种大半径短圆弧零件精密测量方法，该方法是预先确定待测短圆弧零件的圆弧理论圆心，然后在圆弧上选取2～20个采样点，将各采样点连接至圆弧理论圆心所得到的半径值取平均值即为该圆弧的实际半径值；或者是先在待测短圆弧零件的圆弧上选取3～20个采样点，将采样点两两连接，所得弦长段的中垂线交点即为该圆弧的圆心，采样点至圆心的距离即为圆弧的实际半径值。本发明测量误差小，提高了短圆弧的大半径零件测定值的准确性和置信度，解决了现有技术中对大半径短圆弧零件的精密测量难题，可推广到复杂异型面的精确测量。
发明内容
针对现有技术的上述缺陷，本发明提供一种测量小圆弧半径的方法，包括以下步骤：
步骤S1：按图面要求建立工件坐标系；
步骤S2：计算需要测量的圆弧轮廓的理论圆心；
步骤S3：将理论圆心的位置构建在坐标系上；
步骤S4：在被需要测量的圆弧轮廓上取点；
步骤S5：计算各点与理论圆心的失向尺寸即半径的距离；
步骤S6：判别半径的距离是否在误差范围内，误差范围内，则圆心正确，不在误差范围内，则重新选定圆心。
优选的，误差范围为±0.1-0.3mm。
优选的，误差范围为±0.2mm。
优选的，步骤S4中取点的数量为15-30个。
优选的，步骤S4中取点的数量为22个。
优选的，步骤S2中，当需要再次取理论圆心的时候，采用最小二乘法原理。
优选的，步骤S2中，理论圆心采用多个进行同时检测。
本发明的有益效果：步骤简单，原理清晰，采用简单的步骤获得精确的圆心。
附图说明
图1为本发明的结构图；
图中，
1、圆心坐标理论位置；2、弧度上的点。
具体实施方式
为了使本技术领域人员更好地理解本发明的技术方案，并使本发明的上述特征、目的以及优点更加清晰易懂，下面结合实施例对本发明做进一步的说明。实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。
如图1所示可知，本发明包括有以下步骤：
步骤S1：按图面要求建立工件坐标系；
步骤S2：计算需要测量的圆弧轮廓的理论圆心；
步骤S3：将理论圆心的位置构建在坐标系上；
步骤S4：在被需要测量的圆弧轮廓上取点；
步骤S5：计算各点与理论圆心的失向尺寸即半径的距离；
步骤S6：判别半径的距离是否在误差范围内，误差范围内，则圆心正确，不在误差范围内，则重新选定圆心。
在本实施中优选的，误差范围为±0.1-0.3mm。
在本实施中优选的，误差范围为±0.2mm。
在本实施中优选的，步骤S4中取点的数量为15-30个。
在本实施中优选的，步骤S4中取点的数量为22个。
在本实施中优选的，步骤S2中，当需要再次取理论圆心的时候，采用最小二乘法原理。
在本实施中优选的，步骤S2中，理论圆心采用多个进行同时检测。
设置上述步骤，同时多个圆心的检测方案便于提高检测效率，获得原因的速度加快
上述实施例仅例示性说明本专利申请的原理及其功效，而非用于限制本专利申请。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本专利申请的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本专利申请所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本专利请的权利要求所涵盖。

Claims (7)

1.一种测量小圆弧半径的方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1：按图面要求建立工件坐标系；
步骤S2：计算需要测量的圆弧轮廓的理论圆心；
步骤S3：将理论圆心的位置构建在坐标系上；
步骤S4：在被需要测量的圆弧轮廓上取点；
步骤S5：计算各点与理论圆心的失向尺寸即半径的距离；
步骤S6：判别半径的距离是否在误差范围内，误差范围内，则圆心正确，不在误差范围内，则重新选定圆心。
2.根据权利要求1所述的测量小圆弧半径的方法，其特征在于：所述误差范围为±0.1-0.3mm。
3.根据权利要求2所述的测量小圆弧半径的方法，其特征在于：所述误差范围为±0.2mm。
4.根据权利要求3所述的测量小圆弧半径的方法，其特征在于：所述步骤S4中取点的数量为15-30个。
5.根据权利要求4所述的测量小圆弧半径的方法，其特征在于：所述步骤S4中取点的数量为22个。
6.根据权利要求5所述的测量小圆弧半径的方法，其特征在于：所述步骤S2中，当需要再次取理论圆心的时候，采用最小二乘法原理。
7.根据权利要求6所述的测量小圆弧半径的方法，其特征在于：所述步骤S2中，理论圆心采用多个进行同时检测。
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