CN114530717B - 一种上电测试工装 - Google Patents

Abstract

本申请涉及本申请涉及上电测试的技术领域，提供了一种上电测试工装，其中，上电测试工装包括：基座组件，基座组件上设置有第一接线结构；第一刺穿组件，第一刺穿组件可移动地安装在基座组件上，第一刺穿组件包括第一针刺，第一接线结构与第一刺穿组件的第一针刺相导通；限位组件，限位组件与第一刺穿组件之间具有间隙；第一针刺具有相靠近限位组件的第一刺穿位置和远离限位组件的第一待刺穿位置，测试时待测试件可驱动刺针位于第一刺穿位置。本申请的技术方案有效地解决了现有技术中的采用人工进行电器检测的自动化程度较低，且测试的可靠性和一致性较低的问题。

Description

一种上电测试工装

技术领域

本申请涉及电器测试的技术领域，尤其涉及一种上电测试工装。

背景技术

随着科技以及制造业的迅速发展，电器产品的种类以及数量越来越多，电路的复杂程度也越来越高，在加工水平提高的基础上，配合的硬件设计也越来越复杂。对产品质量的要求也是越来越严格。

在现有技术中，电器类产品的质量把控一般在于针对成品的检测，在较为复杂的电路设计以及复杂的硬件结构中，直接针对电器测试是十分困难的，所以产品设计的同时会预留有专门用于测试的线路以检测产品的线路连接以及各硬件的运转是否正常，以此把控产品的质量，以及为电器产品维修的提供方便。但是目前的电器检测仍需要人工操作，首先，人工将预留的检测线路的保护套剪开，再将U型端子与检测线路进行电连接，之后再通电运行一段时间，电器运转稳定之后，最后再输出测试电进行测试。当电器较为复杂时，整个检测线路也会很复杂，需要分别接线上电。整个环节完全由人工操作，需要分清线路再进行线路连接，整套工序复杂繁琐，容易出错导致电器受损，产生残次品，甚至产生危险。检测线路的接线过程自动化程度较低，并且人工测试效率低下，因此产生的问题还会影响整体产品的质量判断不仅费时费力，而且可靠性也没有保障，不同的人工检测完的电器后的检测线路上的开口也存在不统一性，对于售后服务的工程师来说会带来较多的麻烦。

发明内容

本申请提供了一种上电测试工装，用于解决现有技术中的采用人工进行电器检测的自动化程度较低，且测试的可靠性和一致性较低的问题。

为解决上述问题，本申请提供了一种上电测试工装，包括：基座组件，基座组件上设置有第一接线结构；第一刺穿组件，第一刺穿组件可移动地安装在基座组件上，第一刺穿组件包括第一针刺，第一接线结构与第一刺穿组件的第一针刺相导通；限位组件，限位组件与第一刺穿组件之间具有间隙；第一针刺具有相靠近限位组件的第一刺穿位置和远离限位组件的第一待刺穿位置，测试时待测试件可驱动刺针位于第一刺穿位置。

进一步地，第一刺穿组件还包括滚轮，滚轮可转动地安装在基座组件上，第一针刺安装在滚轮的周向外壁。

进一步地，第一针刺为多个。

进一步地，上电测试工装还包括第二刺穿组件，第二刺穿组件包括第二针刺，第二针刺可移动地设置在基座组件上，第二针刺具有靠近第一刺穿组件的第二刺穿位置和第二待刺穿位置。

进一步地，第二刺穿组件还包括滑移座，滑移座可移动地设置在基座组件上，第二针刺设置在滑移座的朝向第一刺穿组件的一侧。

进一步地，滑移座包括座体和第二针刺安装块，第二针刺安装块连接在座体的朝向第一刺穿组件的一侧，第二针刺安装在第二针刺安装块上。

进一步地，限位组件位于座体和第二刺穿组件之间，限位组件具有过孔，滑移座穿设在过孔内。

进一步地，滑移座还包括弹性件，弹性件位于限位组件和座体之间，且弹性件的两端分别抵顶在限位组件和座体上。

进一步地，滑移座还包括连杆，弹性件为弹簧，连杆位于座体和第二针刺安装块之间，连杆的两端分别与座体和第二针刺安装块相连，弹簧套设在连杆的周向外侧。

进一步地，座体与基座主体之间设置有相互配合的滑轨结构。

进一步地，座体上设置有第二接线结构，第二接线结构与第二针刺相导通。

进一步地，第二刺穿组件还包括凸轮结构，凸轮结构可转动地连接在基座组件上，凸轮结构设置在滑移座的远离第一刺穿组件的一侧，凸轮结构具有推动滑移座的靠近第二刺穿组件的推动位置。

进一步地，凸轮结构包括操作手柄和与操作手柄相连的偏心凸轮以及凸轮轴。

进一步地，基座组件包括底板和立板结构，立板结构包括第一立板组和第二立板组，第一刺穿组件通过枢转轴可转动地安装在第一立板组上。

进一步地，第一刺穿组件为多个，多个第一刺穿组件沿枢转轴的轴线方向依次排布。

进一步地，基座组件还包括连接导体，连接导体设置在立板和对应地第一刺穿组件之间。

进一步地，第二刺穿组件为与第一刺穿组件一一对应地设置地多个。

进一步地，限位组件包括限位座和限位块，限位座安装在基座组件上，限位块可拆卸地安装在限位座上。

本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：

本申请的技术方案，上电测试装置包括基座组件、第一刺穿组件和限位组件，其中，基座组件还包括第一接线结构，第一刺穿组件还包括第一针刺，第一接线结构与第一针刺电联接。基座组件用于安装上电测试工装中的零部件，以及连接其他装置。第一刺穿组件用于初步针刺待测试件，第一针刺可根据需要进行位置变换，即设置第一刺穿位置和第一待刺穿位置。第一刺穿组件与限位组件之间具有间隙，使用时将待测试件装入限位组件与第一刺穿组件之间的间隙中，第一刺穿组件与限位组件之间具有间隙尺寸小于待测试件的尺寸，待测试件与第一针刺接触并带动第一针刺从第一待刺穿位置移动到第一刺穿位置，刺穿待测试件，完成刺穿任务。整个刺穿过程只需要人工将待测试件从限位组件与第一刺穿组件的间隙中插入，插入过程中第一刺穿组件同时进行刺穿任务，刺穿任务结束后，进行上电测试，不需要剪开保护套、分清线路等操作，提高连接效率的同时，避免人工测试接线，增加测试的可靠性。本申请有效地解决了现有技术中的采用人工进行电器检测自动化程度较低，且测试的可靠性和一致性较低的问题。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本申请实施例的上电测试工装的立体结构示意图；

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、基座组件；11、底板；12、立板结构；121、第一立板组；122、第二立板组；13、枢转轴；14、连接导体；20、第一刺穿组件；21、第一针刺；22、滚轮；30、限位组件；31、限位座；32、限位块；40、第二刺穿组件；41、滑移座；411、座体；412、第二针刺安装块；413、弹性件；42、凸轮结构；421、操作手柄；422、偏心凸轮；423、凸轮轴；50、滑轨结构；51、滑动座；52、滑轨。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

如图1所示，本申请提供了一种上电测试工装，包括：基座组件10、第一刺穿组件20和限位组件30。其中，基座组件10上设置有第一接线结构。第一刺穿组件20可移动地安装在基座组件10上，第一刺穿组件20还包括第一针刺21，第一接线结构与第一刺穿组件20的第一针刺21相导通。限位组件30与第一刺穿组件20之间具有间隙。第一针刺21具有相靠近限位组件30的第一刺穿位置和远离限位组件30的第一待刺穿位置，测试时待测试件可驱动刺针位于第一刺穿位置。

本实施例的技术方案，上电测试装置包括基座组件10、第一刺穿组件20和限位组件30，其中基座组件10还包括第一接线结构，第一刺穿组件20还包括第一针刺21，第一接线结构与第一针刺21电联接。基座组件10用于安装上电测试工装中的零部件，以及连接其他装置。第一刺穿组件20用于初步针刺待测试件，第一针刺21可根据需要进行位置变换，即设置第一刺穿位置和第一待刺穿位置。第一刺穿组件20与限位组件30之间具有间隙，使用时将待测试件装入限位组件30与第一刺穿组件20之间的间隙中，第一刺穿组件20与限位组件30之间具有间隙尺寸小于待测试件的尺寸，待测试件与第一针刺21接触并带动第一针刺21从第一待刺穿位置移动到第一刺穿位置，刺穿待测试件，完成刺穿任务。整个刺穿过程只需要人工将待测试件从限位组件30与第一刺穿组件20的间隙中插入，插入过程中第一刺穿组件20同时进行刺穿任务，刺穿任务结束后，进行上电测试，不需要剪开保护套、分清线路等操作，提高连接效率的同时，避免人工测试接线，增加测试的可靠性。本申请有效地解决了现有技术中的采用人工进行电器检测自动化程度较低，且测试的可靠性和一致性较低的问题。

如图1所示，本实施例的技术方案中，第一刺穿组件20还包括滚轮22，滚轮22可转动地安装在基座组件10上，第一针刺21安装在滚轮22的周向外壁。第一刺穿组件20为旋转刺穿，即通过旋转使第一针刺21和待测试件进行刺穿。滚轮22的设置用于形成第一刺穿位置和第一待刺穿位置，刺穿前第一针刺21位于第一待刺穿位置。待测试件从限位组件30与第一刺穿组件20之间的间隙插入，随着待测试件的插入，待测试件与第一针刺21接触带动滚轮22旋转，滚轮22转动，第一针刺21从第一待刺穿位置旋转至第一刺穿位置，第一针刺21刺破待测试件的表面与待测试件内线路接触形成电连接，完成刺穿，然后进行上电测试。第一针刺21起到刺穿待测试件的表面的作用，进入待测试件与其内部的线路连接第一针刺21起到连接传输电流的作用，测试过程中与待测试件固定连接，起到一定的固定作用。整个过程由待测试件的插入带动第一刺穿组件20进行工作。测试结束后，将待测试件抽离，抽离过程带动第一针刺21从第一刺穿位置旋转至第一待刺穿位置，完成待测试件与第一刺穿组件20的分离。

需要说明的是，本实施例的技术方案，滚轮22中还可以设置阻尼结构，阻尼结构在滚轮22的旋转过程中可以防止待测试件的表面松动。阻尼结构保证了刺穿和测试稳定性，又不至于阻尼力量过大，测试完毕取下护套困难，同时完成刺穿后由于阻尼结构的作用可以保证在测试阶段中待测试件不会轻易地从第一刺穿组件20上脱落，从而避免产生因待测试件脱落导致测试不准确的问题。阻尼结构还可以一定程度上限制滚轮22的旋转速度，防止第一刺穿组件20多次的对待测试件进行刺穿，降低第一针刺21的损耗，防止第一针刺21失效，提高上电测试封装的使用寿命。具体地，阻尼结构设置在枢转轴13和立板结构12之间，阻尼结构可以为摩擦力较大的橡胶板。

如图1所示，本实施例的技术方案中，第一针刺21为多个。多个第一针刺21均匀的布置在滚轮22的周向外壁上，相邻的第一针刺21间距较小这样更有利于刺穿待测试件的表面，同时多个第一针刺21多点接触待测试件表面，通过多点接触可将待测试件与第一针刺21连接牢靠从而待测试件带动第一刺穿组件20旋转。待测试件的表面可以为导线的绝缘皮，也可以为导线的护套，或者导线的绝缘皮和护套。多个第一针刺21的能够保证待测试件被刺穿的效果，第一针刺21与附近的其他多个针刺将待检测件抵住并限制在限位组件30与第一刺穿组件20之间。同时多个第一针刺21能够根据使用情况调整不同位置的第一针刺21的第一待刺穿位置，使多个第一针刺21的实际使用时间相近，提高第一针刺21组件的使用寿命。

如图1所示，本实施例的技术方案中，上电测试工装还包括第二刺穿组件40，第二刺穿组件40包括第二针刺，第二针刺可移动地设置在基座组件10上，第二针刺具有靠近第一刺穿组件20的第二刺穿位置和第二待刺穿位置。第二刺穿组件40为直推刺穿，第二刺穿组件40可相对于基座组件10进行移动，且第二针刺的工作过程是从第二待刺穿位置移动到第二刺穿位置第二针刺刺穿待测试件的表面完成刺穿任务。采用直推的方式进行刺穿可以保证刺穿的效果稳定，避免因第一刺穿组件20未能刺穿待测试件的表面导致刺穿失败，无法进行测试的问题，从而保证测试的顺利进行。

需要说明的是，第一刺穿组件20和第二刺穿组件40为并联互通关系，刺穿过程只需要保证有一处成功导通，该支路即可实现导通。第二刺穿组件40的设置可以有效地避免，在第一刺穿组件20出现失误或者没有刺穿的情况下，第二刺穿组件40进行及时的补救，这样大大地提高了刺穿的概率。

如图1所示，本实施例的技术方案中，第二刺穿组件40还包括滑移座41，滑移座41可移动地设置在基座组件10上，第二针刺设置在滑移座41的朝向第一刺穿组件20的一侧。滑移座41的设置使第二刺穿组件40能够进行定向的移动完成刺穿，定向的移动能够保证第二针刺的第二刺穿位置的精确性，从而保证第二针刺能够准确地刺穿待测试件的表面，达成测试前的条件。第二针刺的设置高度与第一刺穿组件20的轴线同高为宜。

如图1所示，本实施例的技术方案中，滑移座41包括座体411和第二针刺安装块412，第二针刺安装块412连接在座体411的朝向第一刺穿组件20的一侧，第二针刺安装在第二针刺安装块412上。即第二针刺的安装方向是朝向第一刺穿组件20，可与第一刺穿组件20从待检测件的两侧分别进行刺穿，保证刺穿能够完成。第二针刺水平设置。

在本实施例的技术方案中(图中未示出)，限位组件30位于座体411和第二刺穿组件40之间，限位组件30具有过孔，滑移座41穿设在过孔内。过孔的设置使得结构紧凑，通过第二刺穿组件40在过孔内的移动可以实现对待测件的刺穿。限位组件30的作用是限制待测试件的位置，限位组件30与第一刺穿组件20配合将待测试件的位置进行限定。同时限位组件30的位置还对第二刺穿组件40的第二刺穿位置进行限制，即限位组件30的位置决定了第二刺穿位置的具体位置。

需要说明的是，在本实施例的技术方案中，限位组件30采用绝缘体材料制作，过孔可以设置为具有一定锥度的锥孔，其中朝向第二刺穿组件40的一面的过孔口直径大于朝向第一刺穿组件20一面的过孔口直径。第二针刺具有一定的弹性和挠度能够承受一定的变形，在第二针刺进行刺穿的过程中，锥孔可引导第二针刺达到准确地刺穿位置，准确的对待测试件进行刺穿。第二针刺是待测试件刺穿的重要保证，如此设置避免因为第二针刺的安装精度导致第二针刺刺穿失败，从而影响测试的准确度。

如图1所示，本实施例的技术方案中，滑移座41还包括弹性件413，弹性件413位于限位组件30和座体411之间，且弹性件413的两端分别抵顶在限位组件30和座体411上。弹性件413一端抵顶在座体411上，另一端抵顶在限位组件30上，第二刺穿组件40进行刺穿时，座体411带动第二针刺向待测试件方向移动，弹性件413被压缩储存弹性势能，第二针刺完成刺穿后，座体411停止移动进入固定状态，此时待测试件进行测试。测试结束后，座体411固定状态解除，此时限位组件30是固定的，弹性件413释放弹性势能转换为弹性件413对座体411的作用力，将座体411朝远离限位组件30的方向推出，座体411带动第二针刺脱离待测试件解除第二针刺与待测试件的连接。弹性件413的设置首先保证了第二刺穿组件40在大于刺穿所需要的力的下将多余的力压缩弹性件413，转换为弹性件413的弹性势能，结束测试后，弹性件413张开，将转换的弹性势能释放，第二刺穿组件40被推离限位组件30，实现了第二针刺与待测试件的自动分离。

如图1所示，本实施例的技术方案中，滑移座41还包括连杆，弹性件413为弹簧，连杆位于座体411和第二针刺安装块412之间，连杆的两端分别与座体411和第二针刺安装块412相连，弹簧套设在连杆的周向外侧。连杆穿过弹簧与座体411和第二针刺安装块412相连，将弹簧限定在于连杆同轴向的方向。第二针刺安装块412用于安装第二针刺。这样的结构紧凑，占用空间较小。

如图1所示，本实施例的技术方案中，座体411与基座主体之间设置有相互配合的滑轨结构50。滑轨结构50包括滑动座51与滑轨52，滑动座51与滑轨52配合安装，滑轨52固定在底板11上，滑动座51套装在滑轨52上，滑动座51上安装座体411，滑轨结构50对座体411的运动方向以及运动范围进行限定，滑轨结构50的设置也提高了第二刺穿组件40的刺穿精度和效率。需要说明的是，滑轨结构50还可以采用其他移动装置。

本实施例的技术方案中(图中未示出)，座体411上设置有第二接线结构，第二接线结构与第二针刺相导通。第二接线结构包括螺钉，滑移座41。第二接线结构连接供电装置对第二接线结构进行传输电流，第二针刺与待测试件电连接之后，供电装置通过第二接线结构向第二针刺传输电流，即向待测试件输入电流，完成测试。

如图1所示，本实施例的技术方案中，第二刺穿组件40还包括凸轮结构42，凸轮结构42可转动地连接在基座组件10上，凸轮结构42设置在滑移座41的远离第一刺穿组件20的一侧，凸轮结构42具有推动滑移座41的靠近第二刺穿组件40的推动位置。

如图1所示，本实施例的技术方案中，凸轮结构42包括操作手柄421和与操作手柄421相连的偏心凸轮422。凸轮结构42还包括凸轮轴423，偏心凸轮422的旋转中心设置凸轮轴423，偏心凸轮422围绕凸轮轴423旋转工作。本实施例的技术方案中，偏心凸轮422的侧面为一个矩形以及矩形其中一条边加上一段圆弧形成的封闭图形，其旋转中心设置在矩形内。偏心凸轮422的初始位置是圆弧端朝下，滑移座41靠近偏心凸轮422。使用时将操作手柄421向远离第二刺穿组件40的方向掰动，此时偏心凸轮422轴的圆弧端从凸轮轴423下方旋转至侧方，将第二刺穿组件40推向第一刺穿组件20，完成第二刺穿组件40的刺穿。偏心凸轮422的位置固定，将第二刺穿组件40固定在第二刺穿位置。偏心凸轮422采用绝缘材料制成。操作手柄421和偏心凸轮422通过熔胶等方式粘结，操作手柄421采用绝缘材料制成。

需要说明的是，偏心凸轮422还可以采用多级旋转位置的设定，不同的旋转位置能够调整第二刺穿组件40的前进距离，可根据待测试件的需要的刺穿深度对第二刺穿组件40的第二刺穿位置进行控制。多级旋转可通过在凸轮轴423上设置棘轮实现，棘轮可以对旋转角度进行控制，也能固定凸轮的旋转位置。实际的检测方式是将待检测件迅速插进第一刺穿组件20中，再将操作手柄421掰至工作位置，完成刺穿进行上电检测，配合式的刺穿时为了保证刺穿的成功率完成快速上电输出，快捷高效，避免实际人为操作出现问题。第一刺穿组件20中的第一接线结构和第二刺穿组件40中的第二接线结构连接同一对接线柱，只需要一处导通，则待测试件就与检测装置联通，通过多重刺穿确保待测试件的联通，解决了接线复杂、出错率高的问题，提高了测试效率。上电检测包括对线路的连通检测以及各硬件设备的工作状态检测，具体检测方法由人工分析检测数据。

如图1所示，本实施例的技术方案中，基座组件10包括底板11和多个立板结构12，第一刺穿组件20通过枢转轴13可转动地安装在多个立板结构12上。立板结构12包括第一立板组121和第二立板组122，第一刺穿组件20通过枢转轴13可转动地安装在第一立板组121上；凸轮结构42通过凸轮轴423可转动的安装在第二立板组122上。枢转轴13使用绝缘体材料制成。第一立板组121通过螺钉固定在底板11上，第一立板组121各板之间设置枢转轴13，枢转轴13用于安装带有阻尼装置的滚轮22，滚轮22可围绕枢转轴13进行旋转。第一立板组121安装有第一刺穿组件20，通过第一立板组121的安装位置以及限位组件30的安装位置确定两者之间的配合关系。第一立板组121的位置可根据实际检测情况进行调整，即调整限位组件30与第一刺穿组件20之间的间隙，以应对不同尺寸的待检测件。第二立板组122用于安装凸轮结构42，第二立板组122设置有凸轮轴423安装位置，可通过凸轮轴423将偏心凸轮422安装于第二立板组122之间。第二立板组122可配合第一立板组121的位置进行调整，根据实际检测情况应对不同尺寸的待检测件。

如图1所示，本实施例的技术方案中，第一刺穿组件20为多个，多个第一刺穿组件20沿枢转轴13的轴线方向依次排布。多个第一刺穿组件20中相邻的第一刺穿组件20之间设置立板，立板将多个第一刺穿组件20分隔开避免相互影响，枢转轴13为定轴，多个滚轮22围绕枢转轴13进行旋转。枢转轴13可以为转轴，阻尼结构设置在枢转轴13与第一立板组121的安装位置，阻尼结构作用于枢转轴13上。

如图1所示，本实施例的技术方案中，基座组件10还包括连接导体14，连接导体14设置在立板和对应地第一刺穿组件20之间。连接导体14也为多个，多个连接导体14用于连接多个第一接线结构，供电装置通过多个连接导体14将电流输入多个第一接线结构，多个第一接线结构通过多个第一针刺21传递给多个待测试件。多个第一刺穿组件20相互独立，供电装置通过连接导体14对电流的输入输出进行控制。

如图1所示，本实施例的技术方案中，第二刺穿组件40为与第一刺穿组件20一一对应地设置地多个。本实施例的技术方案中，对待测试件进行刺穿是通过旋转刺穿和直推刺穿同时进行的，即第一刺穿组件20和第二刺穿组件40同时进行，所以第二刺穿组件40与第一刺穿组件20一一对应的设置。第一刺穿组件20与第二刺穿组件40的配合能够保证待测试件被刺穿的稳定性。

如图1所示，本实施例的技术方案中，限位组件30包括限位座31和限位块32，限位座31安装在基座组件10上，限位块32可拆卸地安装在限位座31上。限位块32的作用是对待检测件的安装位置进行限定和减少限位座31的磨损，例如待测试件与限位块32接触磨损为易损件，限位座31可以较长时间使用，更换的时候只需要更换限位块32即可，操作人员可根据待检测件的实际形状大小以及需要刺穿的深度去选择合适的限位块32，限位块32为可拆卸地设计还满足了限位块32的使用范围，增大了上电检测工装的应用范围。第一刺针和限位块32相对应地设置，限位座31为一个，限位块32为多个，限位块32与第一刺穿组件20一一对应地设置，限位座31可根据实际的多组刺穿组件设置做个限位块32的安装槽。需要说明的是，本实施例的技术方案中，限位块32的设置还可以在底座上，待检测件的安装除了从垂直于底座向下的安装方向外，还可以平行与底座的方向进入第一刺穿组件20，同时第一刺穿组件20可进行刺穿后再向前旋转90度使待测试件进入第二刺穿组件40的刺穿位置。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (18)

1.一种上电测试工装，其特征在于，包括：

基座组件(10)，所述基座组件(10)上设置有第一接线结构；

第一刺穿组件(20)，所述第一刺穿组件(20)可移动地安装在所述基座组件(10)上，所述第一刺穿组件(20)包括第一针刺(21)，所述第一接线结构与所述第一刺穿组件(20)的第一针刺(21)相导通；

限位组件(30)，所述限位组件(30)与所述第一刺穿组件(20)之间具有间隙；

所述第一针刺(21)具有相靠近所述限位组件(30)的第一刺穿位置和远离所述限位组件(30)的第一待刺穿位置，测试时待测试件可驱动所述第一针刺位于所述第一刺穿位置。

2.根据权利要求1所述的上电测试工装，其特征在于，所述第一刺穿组件(20)还包括滚轮(22)，所述滚轮(22)可转动地安装在所述基座组件(10)上，所述第一针刺(21)安装在所述滚轮(22)的周向外壁。

3.根据权利要求2所述的上电测试工装，其特征在于，所述第一针刺(21)为多个。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的上电测试工装，其特征在于，所述上电测试工装还包括第二刺穿组件(40)，所述第二刺穿组件(40)包括第二针刺，所述第二针刺可移动地设置在所述基座组件(10)上，所述第二针刺具有靠近所述第一刺穿组件(20)的第二刺穿位置和第二待刺穿位置。

5.根据权利要求4所述的上电测试工装，其特征在于，所述第二刺穿组件(40)还包括滑移座(41)，所述滑移座(41)可移动地设置在所述基座组件(10)上，所述第二针刺设置在所述滑移座(41)的朝向所述第一刺穿组件(20)的一侧。

6.根据权利要求5所述的上电测试工装，其特征在于，所述滑移座(41)包括座体(411)和第二针刺安装块(412)，所述第二针刺安装块(412)连接在所述座体(411)的朝向所述第一刺穿组件(20)的一侧，所述第二针刺安装在所述第二针刺安装块(412)上。

7.根据权利要求6所述的上电测试工装，其特征在于，所述限位组件(30)位于所述座体(411)和所述第二刺穿组件(40)之间，所述限位组件(30)具有过孔，所述滑移座(41)穿设在所述过孔内。

8.根据权利要求7所述的上电测试工装，其特征在于，所述滑移座(41)还包括弹性件(413)，所述弹性件(413)位于所述限位组件(30)和所述座体(411)之间，且所述弹性件(413)的两端分别抵顶在所述限位组件(30)和所述座体(411)上。

9.根据权利要求8所述的上电测试工装，其特征在于，所述滑移座(41)还包括连杆，所述弹性件(413)为弹簧，所述连杆位于所述座体(411)和所述第二针刺安装块之间，所述连杆的两端分别与所述座体(411)和所述第二针刺安装块相连，所述弹簧套设在所述连杆的周向外侧。

10.根据权利要求6所述的上电测试工装，其特征在于，所述座体(411)与所述基座主体之间设置有相互配合的滑轨结构(50)。

11.根据权利要求6所述的上电测试工装，其特征在于，所述座体(411)上设置有第二接线结构，所述第二接线结构与所述第二针刺相导通。

12.根据权利要求5所述的上电测试工装，其特征在于，所述第二刺穿组件(40)还包括凸轮结构(42)，所述凸轮结构(42)可转动地连接在所述基座组件(10)上，所述凸轮结构(42)设置在所述滑移座(41)的远离所述第一刺穿组件(20)的一侧，所述凸轮结构(42)具有推动所述滑移座(41)的靠近所述第二刺穿组件(40)的推动位置。

13.根据权利要求12所述的上电测试工装，其特征在于，所述凸轮结构(42)包括操作手柄(421)和与所述操作手柄(421)相连的偏心凸轮(422)，所述偏心凸轮安装在凸轮轴(423)上。

14.根据权利要求4所述的上电测试工装，其特征在于，所述基座组件(10)包括底板(11)和立板结构(12)，所述立板结构(12)包括第一立板组(121)和第二立板组(122)，所述第一刺穿组件(20)通过枢转轴(13)可转动地安装在所述第一立板组(121)上。

15.根据权利要求14所述的上电测试工装，其特征在于，所述第一刺穿组件(20)为多个，所述多个第一刺穿组件(20)沿所述枢转轴(13)的轴线方向依次排布。

16.根据权利要求15所述的上电测试工装，其特征在于，所述基座组件(10)还包括连接导体(14)，所述连接导体(14)设置在所述立板和对应地所述第一刺穿组件(20)之间。

17.根据权利要求15所述的上电测试工装，其特征在于，所述第二刺穿组件(40)为与所述第一刺穿组件(20)一一对应地设置地多个。

18.根据权利要求1至3中任一项所述的上电测试工装，其特征在于，所述限位组件(30)包括限位座(31)和限位块(32)，所述限位座(31)安装在所述基座组件(10)上，所述限位块(32)可拆卸地安装在所述限位座(31)上。

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