CN114530185A - 一种眼图测试方法、系统、设备及介质 - Google Patents

一种眼图测试方法、系统、设备及介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种眼图测试方法、系统、设备及介质，该方法包括：根据多组预设的测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组测试参数对应的测试眼宽值；将多组测试参数以及与每组测试参数对应的测试眼宽值组成测试信息；接收参考信息，并根据参考参数从测试信息中匹配得到对应的测试眼宽值；根据测试眼宽值和参考眼宽值的比较结果得到测试眼宽值对应的眼图测试结果。应用该测试方法，先将多组测试信息作为样本，再通过设置参考信息就可以从测试信息中匹配出对应的测试眼宽值，根据参考信息中的参考眼宽值与测试眼宽值的比较得到当前测试眼宽值对应的测试结果。操作简便了，还可以提高故障覆盖率，加快测试效率。

Description

一种眼图测试方法、系统、设备及介质
技术领域
本发明涉及存储器测试技术领域，尤其涉及一种眼图测试方法、系统、设备及介质。
背景技术
相关技术中，随着集成电路的发展，制成越来越微缩，集成电路的密度越来越高，速度越来越高，动态随机存储器颗粒的一致性和信号完整性的要求也越来越高。当前的眼图测试需要使用高速示波器，然而一台高速示波器的操作上较为复杂且容易发生失误，导致测试结果的准确性较低。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种眼图测试方法、系统、设备及介质，能够提高存储器测试结果的准确性。
根据本发明的第一方面实施例的一种眼图测试方法，包括：
根据多组预设的测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组所述测试参数对应的测试眼宽值，每组所述测试参数包括测试信号类型、测试频率、测试通道以及测试Rank；
将多组所述测试参数以及与每组所述测试参数对应的所述测试眼宽值组成测试信息；
接收参考信息，所述参考信息包括参考参数和与所述参考参数对应的参考眼宽值，所述参考参数包括参考信号类型、参考频率、参考通道以及参考Rank；
根据所述参考参数从所述测试信息中匹配得到对应的所述测试眼宽值；
根据所述测试眼宽值和所述参考眼宽值的比较结果得到所述测试眼宽值对应的眼图测试结果。
根据本发明实施例的一种眼图测试方法，至少具有如下有益效果：通过多组测试参数得到测试信息，将测试信息作为样本，再通过设置参考信息就可以从测试信息中匹配出对应的测试眼宽值，根据参考信息中的参考眼宽值与测试眼宽值的比较得到当前测试眼宽值对应的测试结果。对于操作人员而言，只需设置相应的参考信息即可得到测试结果，操作简便了，且得到的测试结果准确性较高。还采用了多组测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，这样通过设置多组参考信息可以得出多个测试眼宽值对应的测试结果，可以进一步提高故障覆盖率，提高测试结果的准确性。也能加快测试效率，适用于批量测试。
根据本发明的一些实施例，所述根据所述参考参数从所述测试信息中匹配得到对应的所述测试眼宽值，包括：
根据所述参考信号类型匹配所述测试信号类型，根据所述参考频率匹配所述测试频率，根据所述参考通道匹配所述测试通道，根据所述参考Rank匹配所述测试Rank，以得到与所述测试信号类型、所述测试频率、所述测试通道以及所述测试Rank对应的所述测试眼宽值。
根据本发明的一些实施例，所述参考信息通过以下步骤得到，包括：
选取预设数量的合格动态随机存储器，并根据多组所述测试参数对所述合格动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组所述测试参数对应的历史眼宽值；
根据每组所述测试参数下的多个所述历史眼宽值计算得到参考眼宽值；
将每组所述测试参数以及与每组所述测试参数对应的所述参考眼宽值组成参考信息。
根据本发明的一些实施例，所述根据每组所述测试参数下的多个所述历史眼宽值计算得到参考眼宽值，包括：
根据多个所述历史眼宽值的平均值得到参考眼宽值。
根据本发明的一些实施例，所述根据所述测试眼宽值和所述参考眼宽值的比较结果得到所述测试眼宽值对应的眼图测试结果，包括：
当所述测试眼宽值不小于所述参考眼宽值，所述眼图测试结果为通过。
根据本发明的一些实施例，所述接收参考信息，包括：
接收来自上位机发送的串口参数；
根据解析所述串口参数得到所述参考信息。
根据本发明的一些实施例，所述将多组所述测试参数以及与每组所述测试参数对应的所述测试眼宽值组成测试信息，还包括：
创建结构体数组，将所述测试信息存入所述结构体数组。
根据本发明的第二方面实施例的一种眼图测试系统，包括：
眼图扫描模块，用于根据多组预设的测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组所述测试参数对应的测试眼宽值，每组所述测试参数包括测试信号类型、测试频率、测试通道以及测试Rank；
测试信息生成模块，用于将多组所述测试参数以及与每组所述测试参数对应的所述测试眼宽值组成测试信息；
参考信息接收模块，用于接收参考信息，所述参考信息包括参考参数和与所述参考参数对应的参考眼宽值，所述参考参数包括参考信号类型、参考频率、参考通道以及参考Rank；
眼宽匹配模块，用于根据所述参考参数从所述测试信息中匹配得到对应的所述测试眼宽值；
测试结果获得模块，用于根据所述测试眼宽值和所述参考眼宽值的比较结果得到所述测试眼宽值对应的眼图测试结果。
根据本发明实施例的一种眼图测试系统，至少具有如下有益效果：通过多组测试参数得到测试信息，将测试信息作为样本，再通过设置参考信息就可以从测试信息中匹配出对应的测试眼宽值，根据参考信息中的参考眼宽值与测试眼宽值的比较得到当前测试眼宽值对应的测试结果。对于操作人员而言，只需设置相应的参考信息即可得到测试结果，操作简便了，且得到的测试结果准确性较高。还采用了多组测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，这样通过设置多组参考信息可以得出多个测试眼宽值对应的测试结果，可以进一步提高故障覆盖率，提高测试结果准确性。也能加快测试效率，适用于批量测试。
根据本发明的第三方面实施例的一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如本发明第一方面实施例中任意一项所述的方法。
根据本发明的第四方面实施例的一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如本发明第一方面实施例中任意一项所述的方法。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明做进一步的说明，其中：
图1是本发明实施例提供的一种眼图测试方法的整体流程图；
图2是本发明实施例提供的一种眼图测试方法的另一个流程图；
图3是本发明实施例提供的一种眼图测试方法的另一个流程图；
图4是本发明实施例提供的配置参考信息的示意图；
图5是示例一提供的一种眼图测试方法的流程图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
本发明的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
近年来，随着集成电路的发展，制成越来越微缩，集成电路的密度越来越高，速度越来越高，动态随机存储器颗粒的一致性和信号完整性的要求也越来越高。普通的示波器已经无法进行眼图测量，要通过高速示波器才能进行测量。然而一台高速示波器所需花费的成本也较高，操作上也较为复杂，通过高速示波器测量方案仅适用于新资源或样品检测阶段，不适用于批量阶段。
相关技术中，产线测试人员无法熟练操作高速示波器，或因操作不当造成的抖动或噪点，会导致测试结果不准确等问题。
基于此，本发明实施例提出一种眼图测试方法、系统、设备及介质，该眼图测试方法根据多组预设的测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组测试参数对应的测试眼宽值，每组测试参数包括测试信号类型、测试频率、测试通道以及测试Rank；将多组测试参数以及与每组测试参数对应的测试眼宽值组成测试信息；接收参考信息，参考信息包括参考参数和与参考参数对应的参考眼宽值，参考参数包括参考信号类型、参考频率、参考通道以及参考Rank；根据参考参数从测试信息中匹配得到对应的测试眼宽值；根据测试眼宽值和参考眼宽值的比较结果得到测试眼宽值对应的眼图测试结果。应用该测试方法，先将多组测试信息作为样本，再通过设置参考信息就可以从测试信息中匹配出对应的测试眼宽值，根据参考信息中的参考眼宽值与测试眼宽值的比较得到当前测试眼宽值对应的测试结果。对于操作人员而言，只需设置相应的参考信息即可得到测试结果，操作简便了，且得到的测试结果准确性较高。而在本发明实施例中，还采用了多组测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，这样通过设置多组参考信息可以得出多个测试眼宽值对应的测试结果，可以进一步提高故障覆盖率，提高测试结果准确性。也能加快测试效率，适用于匹配阶段。
图1是本发明实施例提供的一种眼图测试方法的流程图，参照图1，该一种眼图测试方法包括但不限于步骤S110至步骤S150。
步骤S110，根据多组预设的测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组测试参数对应的测试眼宽值，每组测试参数包括测试信号类型、测试频率、测试通道以及测试Rank；
步骤S120，将多组测试参数以及与每组测试参数对应的测试眼宽值组成测试信息；
步骤S130，接收参考信息，参考信息包括参考参数和与参考参数对应的参考眼宽值，参考参数包括参考信号类型、参考频率、参考通道以及参考Rank；
步骤S140，根据参考参数从测试信息中匹配得到对应的测试眼宽值；
步骤S150，根据测试眼宽值和参考眼宽值的比较结果得到测试眼宽值对应的眼图测试结果。
在步骤S110中，每组测试参数包括测试信号类型、测试频率、测试通道以及测试Rank，其扫描则按照频率、通道、Rank和RX/TX顺序进行。例如该动态随机存储器是双通道、单Rank的，且有三个频率(800MHz、1333MHz和1600MHz)，首先进行的是测试频率为800MHz、测试通道0、测试Rank0的RX眼宽扫描，接下来是测试频率为800MHz、测试通道0、测试Rank0的TX眼宽扫描，再接着是扫描测试通道1的RX和TX，然后就是改变测试频率为1333MHz，依次进行眼图扫描。需要说明的是，测试信号类型包括接收信号(RX)和发送信号(TX)。可以理解的是，通过多组测试参数对动态随机存储器进行扫描，可以提高故障覆盖率。
在步骤S120中，因为采用了多组测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，每一组测试参数下都有对应的测试眼宽值。通过将多组测试参数以及与每组测试参数对应的测试眼宽值组成测试信息，以便后续可以通过该测试信息得出测试结果。
在步骤S130中，接收参考信息，参考信息包括参考参数和与参考参数对应的参考眼宽值，参考参数包括参考信号类型、参考频率、参考通道以及参考Rank。以便根据参考信息与测试信息进行匹配。
在步骤S140至S150中，为了得到测试结果，是通过参考信息的参考参数从测试信息中匹配得到对应的测试眼宽值，通过参考眼宽值和测试眼宽值的比较结果得到该测试眼宽值对应的测试结果。
需要说明的是，通过设置多组参考信息可以得出多个测试眼宽值对应的测试结果，操作简便，且能加快测试效率。
具体地，通过上述步骤，通过设置参考信息就可以从测试信息中匹配出对应的测试眼宽值，再根据参考信息中的参考眼宽值与测试眼宽值的比较得到当前测试眼宽值对应的测试结果。对于操作人员而言，只需设置相应的参考信息即可得到测试结果，操作简便了。而在本发明实施例中，还采用了多组测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，这样通过设置多组参考信息可以得出多个测试眼宽值对应的测试结果，可以进一步提高故障覆盖率，也能加快测试效率。
可以理解的是，根据参考参数从测试信息中匹配得到对应的测试眼宽值具体包括：
根据参考信号类型匹配测试信号类型，根据参考频率匹配测试频率，根据参考通道匹配测试通道，根据参考Rank匹配测试Rank，以得到与测试信号类型、测试频率、测试通道以及测试Rank对应的测试眼宽值。
具体的，上述匹配方式为本发明实施例的一个示例，另一实施例中，可以先根据参考频率匹配测试频率，再根据参考信号类型匹配测试信号类型，根据参考通道匹配测试通道，根据参考Rank匹配测试Rank，以得到与测试信号类型、测试频率、测试通道以及测试Rank对应的测试眼宽值。
需要说明的是，若是只根据频率匹配测试眼宽值会出现匹配出多个测试眼宽值的情况，还需要通道、Rank以及信号类型的限制，使得测试眼宽值与参考眼宽值的比较结果能真实反映动态随机存储器的测试结果。
可以理解的是，创建结构体数组，将测试信息存入结构体数组。数组的下标为0，每存入一组值后加1。
在一实施例中，当测试眼宽值不小于参考眼宽值，眼图测试结果为通过。
具体地，根据测试的严格程度，给参考眼宽值设定预设误差范围，例如参考眼宽值为500，预设误差范围为(-100，100)，则当测试眼宽值不小于400，眼图测试结果就为通过。若加大测试的严格程度，则可缩小预设误差范围，以此获得更高质量的动态随机存储器。需要说明的是，可以不设置预设误差范围，当测试眼宽值不小于参考眼宽值，直接输出测试结果为通过。
参照图2，参考信息通过以下步骤得到，包括：
步骤S210，选取预设数量的合格动态随机存储器，并根据多组测试参数对合格动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组测试参数对应的历史眼宽值；
步骤S220，根据每组测试参数下的多个历史眼宽值计算得到参考眼宽值；
步骤S230，将每组测试参数以及与每组测试参数对应的参考眼宽值组成参考信息。
可以理解的是，可以根据多个历史眼宽值的平均值得到参考眼宽值，或者从多个历史眼宽值中选取最大的作为参考眼宽值。
参照图3，在一实施例中，接收参考信息包括：
步骤S310，接收来自上位机发送的串口参数；
步骤S320，根据解析串口参数得到参考信息。
具体地，上位机端增加pattern8和pattern9配置，pattern8表示RX眼宽测试，pattern9表示TX眼宽测试。Addr高四位表示测试引擎，0表示关闭，1表示打开，默认为打开(即0001)，Addr低四位表示DDR频率(例如0640，表示1600MHz)。Data高四位表示channel通道，0表示通道A，1表示通道B，低四位表示Rank数，0表示Rank0，1表示Rank1。Length表示当前设置的参考眼宽值大小(所有数值均为十六进制数，如图4所示)。设置好后通过UART串口通讯下发至设备端。接收到上位机通过串口下发的参数后进行数据解析，得到参考信息。
在一实施例中，参考频率＝(Addr&0xffff)，参考通道＝(Data>>16)，参考Rank＝(Data&0xffff)，参考眼宽值＝Length)。
下面提出本发明的一个具体示例。
参照图5，则在示例一中包括：
(1)、参考眼宽值的设定需要前期先抽取10-20颗良品进行眼图扫描，记录所有样品不同频点、channel、Rank和RX/TX的眼宽大小。根据采样结果设置参考眼宽值。
(2)、在原有的FT1功能测试中增加眼图测试pattern上位机端增加pattern8和pattern9配置，pattern8表示RX眼宽测试，pattern9表示TX眼宽测试。Addr高四位表示测试引擎，0表示关闭，1表示打开，默认为打开(即0001)，低四位表示DDR频率。Data高四位表示channel通道，0表示通道A，1表示通道B，低四位表示Rank数，0表示Rank0，1表示Rank1。Length表示当前设置的参考眼宽值。设置好后通过UART串口通讯下发至设备端。
(3)、SOC设备端在做完ZQ校准、CA Training等操作后进行眼图扫描，每个测试频率(Frequency)、测试通道(channel)、测试Rank均会依次进行RX和TX眼图扫描。其扫描则按照Frequency、channel、Rank和RX/TX顺序进行。例如该动态随机存储器是双channel、单Rank的，且有三个频率(800MHz、1333MHz和1600MHz)，首先进行的是频率为800MHz、channel0、Rank0的RX眼宽扫描，接下来是频率为800MHz、channel0、Rank0的TX眼宽扫描，再接着是扫描channel1的RX和TX，然后就是改变频率为1333MHz，依次进行眼图扫描。
(4)、创建结构体数组，结构体中的成员有WinType(RX/TX)、TempWinSum(测试眼宽值)、Frequency(测试频率)、Channel(测试通道)和Rank(测试Rank)。将每个测试频率(Frequency)、测试通道(channel)、测试Rank和RX/TX眼图扫描后的最大眼宽值依次写入结构体数组中，数组的下标为0，每存入一组值后加1。
(5)、接收到上位机通过串口下发的参数后进行数据解析(参考频率freq＝(Addr&0xffff)，参考通道channel＝(Data>>16)，参考rank＝(Data&0xffff)，参考眼宽值WinThreshold＝Length)。
(6)、从结构体数组中查找对应测试频率freq、测试通道channel、测试Rank和信号类型wintype的测试眼宽值TempWinSum，跟上位机设置的参考眼宽值WinThreshold比较，若大于或等于则通过测试，否则测试不通过。
本发明的一个实施例还提供了一种眼图测试系统，包括：
眼图扫描模块，用于根据多组预设的测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组测试参数对应的测试眼宽值，每组测试参数包括测试信号类型、测试频率、测试通道以及测试Rank；
测试信息生成模块，用于将多组测试参数以及与每组测试参数对应的测试眼宽值组成测试信息；
参考信息接收模块，用于接收参考信息，参考信息包括参考参数和与参考参数对应的参考眼宽值，参考参数包括参考信号类型、参考频率、参考通道以及参考Rank；
眼宽匹配模块，用于根据参考参数从测试信息中匹配得到对应的测试眼宽值；
测试结果获得模块，用于根据测试眼宽值和参考眼宽值的比较结果得到测试眼宽值对应的眼图测试结果。
具体地，该系统通过多组测试参数得到测试信息，将测试信息作为样本，再通过设置参考信息就可以从测试信息中匹配出对应的测试眼宽值，根据参考信息中的参考眼宽值与测试眼宽值的比较得到当前测试眼宽值对应的测试结果。对于操作人员而言，只需设置相应的参考信息即可得到测试结果，操作简便了。还采用了多组测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，这样通过设置多组参考信息可以得出多个测试眼宽值对应的测试结果，可以进一步提高故障覆盖率，也能加快测试效率，适用于批量测试。
其中，一种眼图测试系统的具体执行步骤参照上述一种眼图测试方法，此处不再赘述。
本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如上述任一项方法实施例中的方法。
此外，本发明的一个实施例还提供了一种存储介质，该存储介质为计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个或多个控制处理器执行，一个或多个控制处理器执行上述方法实施例中的方法，例如，执行以上描述的图1中的方法步骤S110至S150、图2中的方法步骤S210至S230、图3中的方法步骤S310至S320。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络节点上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
本公开实施例描述的实施例是为了更加清楚的说明本公开实施例的技术方案，并不构成对于本公开实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着技术的演变和新应用场景的出现，本公开实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
本领域技术人员可以理解的是，实施例示出的技术方案并不构成对本公开实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的步骤，或者组合某些步骤，或者不同的步骤。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、设备中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。
本发明的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
应当理解，在本发明中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：只存在A，只存在B以及同时存在A和B三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机可读存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机可读存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机可读存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

Claims (10)

1.一种眼图测试方法，其特征在于，包括：
根据多组预设的测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组所述测试参数对应的测试眼宽值，每组所述测试参数包括测试信号类型、测试频率、测试通道以及测试Rank；
将多组所述测试参数以及与每组所述测试参数对应的所述测试眼宽值组成测试信息；
接收参考信息，所述参考信息包括参考参数和与所述参考参数对应的参考眼宽值，所述参考参数包括参考信号类型、参考频率、参考通道以及参考Rank；
根据所述参考参数从所述测试信息中匹配得到对应的所述测试眼宽值；
根据所述测试眼宽值和所述参考眼宽值的比较结果得到所述测试眼宽值对应的眼图测试结果。
2.根据权利要求1所述的一种眼图测试方法，其特征在于，所述根据所述参考参数从所述测试信息中匹配得到对应的所述测试眼宽值，包括：
根据所述参考信号类型匹配所述测试信号类型，根据所述参考频率匹配所述测试频率，根据所述参考通道匹配所述测试通道，根据所述参考Rank匹配所述测试Rank，以得到与所述测试信号类型、所述测试频率、所述测试通道以及所述测试Rank对应的所述测试眼宽值。
3.根据权利要求1所述的一种眼图测试方法，其特征在于，所述参考信息通过以下步骤得到，包括：
选取预设数量的合格动态随机存储器，并根据多组所述测试参数对所述合格动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组所述测试参数对应的历史眼宽值；
根据每组所述测试参数下的多个所述历史眼宽值计算得到参考眼宽值；
将每组所述测试参数以及与每组所述测试参数对应的所述参考眼宽值组成参考信息。
4.根据权利要求3所述的一种眼图测试方法，其特征在于，所述根据每组所述测试参数下的多个所述历史眼宽值计算得到参考眼宽值，包括：
根据多个所述历史眼宽值的平均值得到参考眼宽值。
5.根据权利要求1所述的一种眼图测试方法，其特征在于，所述根据所述测试眼宽值和所述参考眼宽值的比较结果得到所述测试眼宽值对应的眼图测试结果，包括：
当所述测试眼宽值不小于所述参考眼宽值，所述眼图测试结果为通过。
6.根据权利要求1所述的一种眼图测试方法，其特征在于，所述接收参考信息，包括：
接收来自上位机发送的串口参数；
根据解析所述串口参数得到所述参考信息。
7.根据权利要求1所述的一种眼图测试方法，其特征在于，所述将多组所述测试参数以及与每组所述测试参数对应的所述测试眼宽值组成测试信息，还包括：
创建结构体数组，将所述测试信息存入所述结构体数组。
8.一种眼图测试系统，其特征在于，包括：
眼图扫描模块，用于根据多组预设的测试参数对动态随机存储器进行眼图扫描，并记录与每组所述测试参数对应的测试眼宽值，每组所述测试参数包括测试信号类型、测试频率、测试通道以及测试Rank；
测试信息生成模块，用于将多组所述测试参数以及与每组所述测试参数对应的所述测试眼宽值组成测试信息；
参考信息接收模块，用于接收参考信息，所述参考信息包括参考参数和与所述参考参数对应的参考眼宽值，所述参考参数包括参考信号类型、参考频率、参考通道以及参考Rank；
眼宽匹配模块，用于根据所述参考参数从所述测试信息中匹配得到对应的所述测试眼宽值；
测试结果获得模块，用于根据所述测试眼宽值和所述参考眼宽值的比较结果得到所述测试眼宽值对应的眼图测试结果。
9.一种计算机设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任意一项所述的方法。
10.一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如权利要求1至7中任意一项所述的方法。
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