CN116338434A - 一种平均功耗测量方法及装置 - Google Patents

一种平均功耗测量方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN116338434A
CN116338434A CN202310363139.1A CN202310363139A CN116338434A CN 116338434 A CN116338434 A CN 116338434A CN 202310363139 A CN202310363139 A CN 202310363139A CN 116338434 A CN116338434 A CN 116338434A
Authority
CN
China
Prior art keywords
power consumption
target
chip
average power
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202310363139.1A
Other languages
English (en)
Inventor
吴鑫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Spreadtrum Semiconductor Chengdu Co Ltd
Original Assignee
Spreadtrum Semiconductor Chengdu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Spreadtrum Semiconductor Chengdu Co Ltd filed Critical Spreadtrum Semiconductor Chengdu Co Ltd
Priority to CN202310363139.1A priority Critical patent/CN116338434A/zh
Publication of CN116338434A publication Critical patent/CN116338434A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R21/00Arrangements for measuring electric power or power factor
    • G01R21/06Arrangements for measuring electric power or power factor by measuring current and voltage
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Power Sources (AREA)

Abstract

本申请公开了一种平均功耗测量方法及装置,该方法包括:获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为正整数;根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值;根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。通过实施本申请实施例提供的方法,可以提升平均功耗测量的效率。

Description

一种平均功耗测量方法及装置
技术领域
本申请涉及通信技术领域,尤其涉及一种平均功耗测量方法及装置。
背景技术
在评估芯片的优劣时,通常会将平均功耗作为一个重要的评估指标。目前,对于芯片平均功耗的测量,往往是通过使用外部测量电路,实时地获取一段时间内电流变化,从而计算得到该段时间内芯片的平均功耗。但是,该方式首先需要与外部测量电路进行交互,以获取计算平均功耗所需的参数,从而再根据获取到的参数进行平均功耗的计算,该方法降低了平均功耗测量的效率。
发明内容
本申请公开了一种平均功耗测量方法及装置,可以提升平均功耗测量的效率。
第一方面,本申请提供了一种平均功耗测量方法,该方法可由电子设备执行,也可由与电子设备匹配的装置(例如处理器、芯片或芯片模组等)执行。该方法包括:获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为正整数;根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值;根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
可见,电子设备可以通过获取目标芯片在目标测量时长内对应的N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗,以及每个使用场景对应的时间权重值,从而可以更快速、更有效率地获取到平均功耗测量需要的参数,进而提升平均功耗测量的效率。
在一种实现方式中,从目标芯片的存储器中读取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗。
可见,电子设备通过从目标芯片的存储器中读取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗,可以更便捷地获取到每个使用场景对应的单位时间功耗,以避免反复地对平均功耗测量需要的参数进行测量,从而可以有效地减少平均功耗测量所需的时间,进而提升平均功耗测量的效率。
在一种实现方式中,获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作时长;基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作时长,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
可见,电子设备通过获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作时长,可以确定出目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值,从而可以通过简便的方式获取到每个使用场景对应的时间权重值,进而提升平均功耗测量的效率。
在一种实现方式中,获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作频率;基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作频率,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
可见,电子设备通过获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作频率,可以确定出目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值,从而可以通过简便的方式获取到每个使用场景对应的时间权重值,进而提升平均功耗测量的效率。
在一种实现方式中,计算使用场景j对应的单位时间功耗与使用场景j对应的时间权重值的乘积,得到使用场景j对应的功耗;根据使用场景j对应的功耗,计算目标芯片在目标测量时长内的平均功耗;其中,使用场景j为N个使用场景中的任一使用场景。
可见,电子设备通过计算使用场景j对应的功耗,从而可以计算出目标芯片在目标测量时长内的平均功耗,进而通过简便的计算方式计算得到目标芯片在目标测量时长内的平均功耗,有利于提高计算平均功耗的效率。
在一种实现方式中,获取目标芯片的芯片类型对应的至少一个关键参数;至少一个关键参数中的每个关键参数包括至少一个子参数;基于每个关键因素包括的至少一个子参数,确定目标芯片对应的M个使用场景;M个使用场景包括N个使用场景;其中,M为正整数。
可见,电子设备通过确定目标芯片对应的M个使用场景,可以在后续平均功耗的计算过程中,以各个使用场景为单位,更加快速地通过每个使用场景对应的参数,进行平均功耗的计算,从而提升平均功耗计算过程的效率。
在一种实现方式中在接收到测量指令时,根据测量指令确定目标芯片和目标测量时长。
可见,电子设备通过接收测量指令,可以快速地获取到需要进行平均功耗测量的目标芯片,以及目标测量时长,从而快速地启动平均功耗测量流程,进而提升平均功耗测量流程的效率。
第二方面,本申请提供了一种平均功耗测量装置,该平均功耗测量装置包括用于实现上述第一方面及其任一种可能的实现方式中的方法的单元。
第三方面,本申请提供了一种平均功耗测量装置,该平均功耗测量装置包括处理器,上述处理器用于执行第一方面及其任一种可能的实现方式中的方法。
第四方面,本申请提供了一种平均功耗测量装置,该平均功耗测量装置包括处理器和存储器,上述存储器用于存储计算机执行指令;上述处理器用于从上述存储器调用程序代码执行第一方面及其任一种可能的实现方式中的方法。
第五方面,本申请提供了一种平均功耗测量芯片,该平均功耗测量芯片用于,获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为大于1的整数;平均功耗测量芯片,还用于根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值;平均功耗测量芯片,还用于根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
第六方面,本申请提供了一种平均功耗测量芯片模组,该平均功耗测量芯片模组包括通信接口和芯片,其中:该通信接口用于进行平均功耗测量芯片模组内部通信,或者用于该平均功耗测量芯片模组与外部设备进行通信;该芯片,用于:获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为大于1的整数;根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值;根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
附图说明
图1为本申请实施例提供的一种平均功耗测量系统;
图2为本申请实施例提供的一种平均功耗测量方法的流程图;
图3A为本申请实施例提供的一种确定各个使用场景对应的单位时间功耗的流程示意图;
图3B为本申请实施例提供的一种确定各个使用场景对应的时间权重值的流程示意图;
图3C为本申请实施例提供的一种平均功耗计算过程中的参数流向示意图;
图4为本申请实施例提供的另一种平均功耗测量方法的流程图;
图5为本申请实施例提供的一种平均功耗测量装置的结构示意图;
图6为本申请实施例提供的一种平均功耗测量装置60的结构示意图;
图7为本申请实施例提供的一种平均功耗测量芯片模组70的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参见图1,图1为本申请实施例提供的一种平均功耗测量系统。如图1所示,该平均功耗测量系统中可以包括电子设备101和网络设备102。其中,电子设备101可以在网络设备102的覆盖范围之内,即电子设备101可以通过网络设备102连接网络。图1所示的电子设备和网络设备的数量用于举例,并不构成对本申请的限定,例如实际应用中可以包括2个及以上的网络设备和/或更多的电子设备。
电子设备101可以是具备平均功耗测量功能和数据处理功能的设备,该电子设备可以各种形式来实施。例如,电子设备可以是终端设备、芯片或芯片模组等等。其中,终端设备可以是智能手机、智能穿戴设备、平板电脑、笔记本电脑、台式计算机等等。本申请的实施例对电子设备所采用的具体技术和具体设备形态不做限定。
网络设备102是网络侧的一种用于发射或接收信号的实体。例如,网络设备可以为演进型基站(evolved NodeB,eNB)、传输点(transmission reception point,TRP)、NR系统中的下一代基站(next generation NodeB,gNB)、其他未来移动通信系统中的基站或无线保真(wireless fidelity,WiFi)系统中的接入节点等。本申请的实施例对网络设备所采用的具体技术和具体设备形态不做限定。
需要说明的是,图1中以电子设备101为智能手机为例进行说明,不对本申请造成限制。其中,图1中的电子设备101可以包括一个或多个芯片,例如5G通信芯片、4G通信芯片等。可以理解的是,电子设备101可以通过该电子设备中的通信芯片,实现电子设备101与网络设备102之间的通信,本申请对此不作限制。
下面对本申请实施例提供的平均功耗测量方法进行详细说明。该平均功耗测量方法可由平均功耗测量装置执行。平均功耗测量装置可以是电子设备,也可以是集成在电子设备中的装置,例如处理器、芯片或芯片模组等。本申请实施例以电子设备执行平均功耗测量方法为例进行说明。
在一些实施例中,“电子设备”和下文即将提及的“使用场景”仅为本申请实施例中采用的名称,该名称不对本申请实施例构成限定。可选的,“电子设备”也可以称为“平均功耗测量设备”等,“使用场景”也可以称为“使用状态”、“平均功耗相关参数”或“相关参数”等,本申请对此不作限制。
请参阅图2,图2为本申请实施例提供的一种平均功耗测量方法的流程图。如图2所示,该平均功耗测量方法包括但不限于如下步骤S201~S203。
S201,获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;N为正整数。
其中,N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景。目标芯片可以为电子设备中任一类型的任一芯片,如目标芯片可以为电子设备中任一通信芯片,或任一存储芯片,本申请对此不作限制。目标测量时长可以为任一时长,在该目标测量时长内可以针对目标芯片的平均功耗进行测量,本申请对此不作限制。
在一种实现方式中,电子设备可以在接收到测量指令时,根据测量指令确定目标芯片和目标测量时长。其中,测量指令可以用于指示电子设备启动平均功耗测量的流程。该测量指令中可以包括目标芯片的相关信息,以及目标测量时长的相关信息,本申请对此不作限制。
可以理解的是,电子设备中可以包括一个或多个芯片。在电子设备包括多个芯片的情况下,该电子设备可以根据测量指令中目标芯片的相关信息,如测量指令中包括的目标芯片的标识信息,以从多个芯片中确定出需要进行平均功耗测量的目标芯片。可选的,测量指令中包括的目标芯片的相关信息也可以为其他信息,本申请对此不作限制。
需要说明的是,平均功耗可以为一段时间内功耗的平均值。也就是说,电子设备在测量目标芯片的平均功耗时,首先需要确定进行平均功耗测量对应的时间段,即上述目标测量时长。可选的,电子设备可以根据测量指令中目标测量时长的相关信息,以确定需要进行平均功耗测量对应的时间段。
可选的,测量指令中目标测量时长的相关信息中可以包括目标测量时长的具体数值,如目标测量时长为1小时。也就是说,电子设备可以在接收到该测量指令时,可以启动针对目标芯片的平均功耗测量流程,并在达到目标测量时长(如达到1小时)时,结束针对目标芯片的平均功耗测量流程。
可选的,测量指令中目标测量时长的相关信息中可以包括平均功耗测量的起始时间和平均功耗测量的结束时间,如平均功耗测量的起始时间为3月27日早上9点,平均功耗测量的结束时间为3月27日早上10点。也就是说,电子设备可以根据测量指令中的平均功耗测量的起始时间(如3月27日早上9点),启动针对目标芯片的平均功耗测量流程,并根据测量指令中的平均功耗测量的结束时间(3月27日早上10点),结束针对目标芯片的平均功耗测量流程,本申请对此不作限制。
在电子设备启动针对目标芯片的平均功耗测量流程时,电子设备可以获取目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景,即目标芯片在目标测量时长内所处的各种工作状态。例如,在目标测量时长内,若目标芯片处于发送状态,则电子设备可以获取到目标芯片对应的使用场景(如称为使用场景1)可以为发送场景;可选的,若目标芯片处于接收状态,则电子设备可以获取到目标芯片对应的使用场景(如称为使用场景2)可以为接收场景,本申请对此不作限制。
在一种实现方式中,电子设备可以获取目标芯片的芯片类型对应的至少一个关键参数;其中,该至少一个关键参数中的每个关键参数包括至少一个子参数;电子设备可以基于每个关键因素包括的至少一个子参数,确定目标芯片对应的M个使用场景;M个使用场景包括N个使用场景;M为正整数。
其中,目标芯片对应的M个使用场景,可以为目标芯片对应的所有使用场景,即目标芯片在实际运行过程中可能处于的所有工作状态。由前述内容可知,目标芯片对应的N个使用场景可以为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景。可以理解的是,目标芯片在目标测量时长内对应的N个使用场景,可以小于或等于目标芯片对应的M个使用场景。
需要说明的是,电子设备确定目标芯片对应的M个使用场景的相关内容,可参见图4对应实施例中的详细描述,本申请在此不再赘述。
在一种实现方式中,电子设备可以从目标芯片的存储器中读取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗。
需要说明的是,目标芯片的存储器中可以存储有各个使用场景(如上述M个使用场景)中每个使用场景对应的单位时间功耗。其中,目标芯片对应的每个使用场景对应的单位时间功耗,可以是电子设备在目标芯片的使用过程中通过芯片内部测量电路获取到的。例如,针对使用场景1,电子设备可以通过芯片内部的测量电路,获取目标芯片处于使用场景1时一段时间内的电流变化,从而根据该电流变化并读取对应的电压,以计算得到该使用场景1对应的单位时间功耗。
如图3A所示,图3A示例性地示出了电子设备确定各个使用场景对应的单位时间功耗的流程示意图。由图3A可知,电子设备在确定了目标芯片的M个使用场景之后,可以依次使得目标芯片处于不同的使用场景,即使得目标芯片在不同的使用场景下工作,如使得目标芯片在使用场景1下工作,以此获取每个使用场景对应的单位时间功耗。
例如,假设电子设备使得目标芯片在使用场景为1M带宽接收状态下工作,即电子设备当前处于1M带宽接收状态,此时,电子设备可以进行相关的电流测量操作,进而获取使用场景为1M带宽接收状态对应的单位时间功耗。
可选的,目标芯片对应的每个使用场景对应的单位时间功耗,可以是在目标芯片出厂前通过外部测量电路获取对应的电流,并将通过计算得到的各个使用场景对应的单位时间功耗,存储于目标芯片的存储器中的,本申请对此不作限制。
S202,根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值。
其中,时间权重值可以为每个使用场景在目标测量时长内出现的时长比例。每个使用场景对应的时间权重值,可以与每个使用场景在目标测量时长内出现的时长比例成正相关。也就是说,在目标测量时长内出现的时长比例较大的使用场景,其对应的时间权重值也可以较大;可选的,在目标测量时长内出现的时长比例较小的使用场景,其对应的时间权重值也可以较小。可以理解的是,每个使用场景对应的时间权重值之和可以等于100%,即1。
示例性的,假设目标芯片在目标测量时长内对应两个使用场景(如称作使用场景1和使用场景2),且目标测量时长为1小时,使用场景1在目标测量时长内出现的时长为50分钟,使用场景2在目标测量时长内出现的时长为10分钟,则电子设备可以根据目标测量时长,确定使用场景1对应的时间权重值约为83%,以及使用场景2对应的时间权重值约为17%。
在一种实现方式中,电子设备可以获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作时长;并基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作时长,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
需要说明的是,电子设备可以将目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作时长,作为该使用场景i在目标测量时长内出现的时长。也就是说,电子设备通过获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作时长,可以根据该目标芯片在使用场景i下的工作时长与目标测量时长之间的时长比例,确定出目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值。
示例性的,假设目标测量时长为1小时,电子设备获取到目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作时长为30分钟,则电子设备可以根据目标芯片在使用场景i下工作了30分钟与目标测量时长的1小时之间的时长比例,确定出目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值为50%。
在一种实现方式中,电子设备可以获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作频率;并基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作频率,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
可选的,电子设备可以通过在目标测量时长内设置单位时间间隔,以按照该单位时间间隔统计目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作次数,从而获取到目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作频率。
需要说明的是,电子设备通过获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作频率,可以根据该目标芯片在使用场景i下的工作频率与目标测量时长,确定出目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值。
示例性的,如图3B所示,图3B示例性地示出了一种确定各个使用场景对应的时间权重值的流程示意图。由图3B可知,在电子设备接收到用于指示启动平均功耗测量的测量指令时,电子设备可以开始识别目标测量时长中的各个使用场景,并在识别到对应的使用场景(如识别到使用场景i)时,针对该使用场景i进行相应的统计操作。其中,图3B中进行的计数操作,可以为统计目标芯片在使用场景i下的工作时长,也可以为统计目标芯片在使用场景i下的工作频率,本申请对此不作限制。
S203,根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
需要说明的是,电子设备在分别获取到N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值后,可以确定出N个使用场景中每个使用场景对应的功耗,从而可以根据该N个使用场景中每个使用场景对应的功耗,确定出目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
在一种实现方式中,电子设备可以计算使用场景j对应的单位时间功耗与使用场景j对应的时间权重值的乘积,得到使用场景j对应的功耗;并根据使用场景j对应的功耗,计算目标芯片在目标测量时长内的平均功耗;其中,使用场景j为N个使用场景中的任一使用场景。
需要说明的是,以使用场景j为例,在电子设备获取到使用场景j对应的单位时间功耗与使用场景j对应的时间权重值之后,电子设备可以通过将使用场景j对应的单位时间功耗与使用场景j对应的时间权重值进行乘法运算,从而得到使用场景j对应的功耗。
可以理解的是,针对N个使用场景中的每个使用场景,电子设备均可以通过计算各个使用场景对应的单位时间功耗和各个使用场景对应的时间权重值的乘积,从而得到各个使用场景对应的功耗,进而可以基于各个使用场景对应的功耗计算出目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
示例性的,电子设备可以通过如下公式,计算目标芯片在目标测量时长内的平均功耗:
Figure BDA0004166771280000071
其中,P可以表示目标芯片在目标测量时长内的平均功耗;Aj可以表示使用场景j对应的单位时间功耗;aj%可以表示使用场景j对应的时间权重值。
由上述公式可知,以j的取值范围为从1到N为例,电子设备可以通过计算各个使用场景对应的功耗,即计算使用场景1对应的功耗、使用场景2对应的功耗……使用场景N对应的功耗,从而进一步计算各个使用场景对应的功耗的和值,以得到目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
示例性的,如图3C所示,图3C示例性地示出了一种平均功耗计算过程中的参数流向示意图。由图3C可知,通过实施本申请实施例提供的方法,电子设备通过获取目标测量时长内目标芯片对应的每个使用场景对应的单位时间功耗,以及每个使用场景对应的时间权重值,可以得到目标测量时长内目标芯片的平均功耗。
本申请实例中,电子设备通过获取目标芯片在目标测量时长内对应的N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗,并根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值,可以更快速地获取到平均功耗测量需要的参数,从而可以根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗,有利于提升平均功耗测量的效率。
请参阅图4,图4为本申请实施例提供的另一种平均功耗测量方法的流程图。如图4所示,该平均功耗测量方法包括但不限于如下步骤S401~S406。
S401,获取目标芯片的芯片类型对应的至少一个关键参数;其中,该至少一个关键参数中的每个关键参数包括至少一个子参数。
其中,关键参数可以为电子设备根据目标芯片的芯片类型,所提取出的与平均功耗测量相关的参数。例如,以目标芯片为通信芯片为例,电子设备可以根据该通信芯片的芯片类型,提取出与平均功耗测量相关的收发状态、带宽大小、调制方式等参数,以作为该通信芯片的关键参数。可选的,上述关键参数仅用于举例,不构成对本申请的限定。
可以理解的是,针对同一类型的芯片,电子设备也可以提取出不同的关键参数。例如,假设通信芯片1仅包含一种调制方式,则电子设备可以提取出收发状态和带宽大小等参数作为该通信芯片1的关键参数;可选的,假设通信芯片2仅包含一种带宽大小,则电子设备可以提取出收发状态和调制方式等参数作为该通信芯片2的关键参数,本申请对此不作限制。
由前述内容可知,每个关键参数可以包括至少一个子参数。例如,假设关键参数为收发状态,则该关键参数可以包括接收状态和发送状态两个子参数;假设关键参数为带宽大小,则该关键参数可以包括1M带宽、2M带宽和3M带宽等子参数。其中,带宽大小为1M带宽、2M带宽和3M带宽等,仅用于举例,不构成对本申请的限定。
S402,基于每个关键因素包括的至少一个子参数,确定目标芯片对应的M个使用场景;M为正整数。
由前述内容可知,目标芯片对应的M个使用场景,可以为目标芯片对应的所有使用场景,即目标芯片在实际运行过程中可能处于的所有工作状态。示例性的,假设电子设备提取出的目标芯片的芯片类型对应的关键参数为收发状态和带宽大小;其中,收发状态包括接收状态和发送状态两个子参数,带宽大小包括1M带宽、2M带宽和3M带宽三个子参数,则电子设备可以基于每个关键参数包括的至少一个子参数,确定出目标芯片对应的所有使用场景;如电子设备可以确定出7个使用场景:1M带宽发送状态、2M带宽发送状态、3M带宽发送状态、1M带宽接收状态、2M带宽接收状态、3M带宽接收状态和空闲状态。
可以理解的是,在不考虑计算量的情况下,电子设备可以详尽地识别出所有的使用场景,以提升后续计算平均功耗的精度。可选的,在牺牲一小部分的平均功耗的精度的情况下,电子设备可以尽可能地控制所识别出的使用场景的个数,以便于更快速地、更有效率地计算出平均功耗。例如,电子设备可以将识别出的使用场景的个数控制在10个以内,以减轻电子设备在计算过程中的计算量,本申请对此不作限制。
可选的,电子设备可以设置其他使用场景(如称为others),以将不易识别的使用场景归类为该其他使用场景。可选的,电子设备也可以将不易识别的使用场景归类为已有的使用场景,如空闲状态,本申请对此不作限制。可选的,电子设备可以根据各个使用场景的相似度,划分出主要类别和细分类别,并在后续的平均功耗计算过程中,可以根据需求选取不同的分类方式,从而获取对应的使用场景对应的参数进行计算,本申请对此不作限制。
电子设备基于每个关键因素包括的各个子参数,可以将目标芯片对应的所有使用场景进行穷举,从而可以在后续的平均功耗测量流程中,以穷举出的各个使用场景为单位,通过获取目标测量时间内包括的各个使用场景(如前述N个使用场景)对应的参数,进而计算出目标测量时长内目标芯片的平均功耗,有利于提升平均功耗测量的效率。
S403,在接收到测量指令时,根据测量指令确定目标芯片和目标测量时长。
S404,获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;N为正整数。
S405,根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值。
S406,根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
需要说明的是,上述步骤S403~S406的具体内容,可参见前述图2对应实施例中的详细描述,本申请再次不再赘述。
本申请实例中,电子设备通过获取目标芯片的芯片类型对应的至少一个关键参数,并基于该至少一个关键参数中的每个关键因素包括的至少一个子参数,可以确定目标芯片对应的M个使用场景,从而在接收到测量指令时,可以根据该测量指令获取测量指令中指示的目标芯片,在测量指令中指示的目标测量时长内对应的N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗,并根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值,以更快速地获取到平均功耗测量需要的参数,从而可以根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗,有利于提升平均功耗测量的效率。
请参阅图5,图5为本申请实施例提供的一种平均功耗测量装置的结构示意图。该装置可以是电子设备,或者是能够和电子设备匹配使用的装置。图5所示的平均功耗测量装置可以包括获取单元501和确定单元502。其中:
该获取单元501,用于获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为正整数;
该确定单元502,用于根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值;
上述确定单元502,还用于根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
在一种实现方式中,上述获取单元501,还用于从目标芯片的存储器中读取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗。
在一种实现方式中,上述获取单元501,还用于获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作时长;上述确定单元502,还用于基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作时长,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述获取单元501,还用于获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作频率;上述确定单元502,还用于基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作频率,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,该平均功耗测量装置还可以包括计算单元503。该计算单元503,用于计算使用场景j对应的单位时间功耗与使用场景j对应的时间权重值的乘积,得到使用场景j对应的功耗;上述计算单元503,还用于根据使用场景j对应的功耗,计算目标芯片在目标测量时长内的平均功耗;其中,使用场景j为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述获取单元501,还用于获取目标芯片的芯片类型对应的至少一个关键参数;至少一个关键参数中的每个关键参数包括至少一个子参数;上述确定单元502,还用于基于每个关键因素包括的至少一个子参数,确定目标芯片对应的M个使用场景;M个使用场景包括N个使用场景;其中,M为正整数。
在一种实现方式中,上述确定单元502,还用于在接收到测量指令时,根据测量指令确定目标芯片和目标测量时长。
根据本申请的实施例,图5所示的平均功耗测量装置中的各个单元可以分别或全部合并为一个或若干个另外的单元来构成,或者其中的某个(些)单元还可以再拆分为功能上更小的多个单元来构成,这可以实现同样的操作,而不影响本申请的实施例的技术效果的实现。上述单元是基于逻辑功能划分的,在实际应用中,一个单元的功能也可以由多个单元来实现,或者多个单元的功能由一个单元实现。在本申请的其他实施例中,平均功耗测量装置也可以包括其他单元,在实际应用中,这些功能也可以由其他单元协助实现,并且可以由多个单元协作实现。
上述平均功耗测量装置例如可以是:芯片、或者芯片模组。关于上述实施例中描述的各个装置、产品包含的各个模块,其可以是软件模块,也可以是硬件模块,或者也可以部分是软件模块,部分是硬件模块。例如,对于应用于或集成于芯片的各个装置、产品,其包含的各个模块可以都采用电路等硬件的方式实现,或者,至少部分模块可以采用软件程序的方式实现,该软件程序运行于芯片内部集成的处理器,剩余的(如果有)部分模块可以采用电路等硬件方式实现;对于应用于或集成于芯片模组的各个装置、产品,其包含的各个模块可以都采用电路等硬件的方式实现,不同的模块可以位于芯片模组的同一组件(例如芯片、电路模块等)或者不同组件中,或者,至少部分模块可以采用软件程序的方式实现,该软件程序运行于芯片模组内部集成的处理器,剩余的(如果有)部分模块可以采用电路等硬件方式实现;对于应用于或集成于终端的各个装置、产品,其包含的各个模块可以都采用电路等硬件的方式实现,不同的模块可以位于终端内同一组件(例如,芯片、电路模块等)或者不同组件中,或者,至少部分模块可以采用软件程序的方式实现,该软件程序运行于终端内部集成的处理器,剩余的(如果有)部分模块可以采用电路等硬件方式实现。
本申请实施例和前述方法的实施例基于同一构思,其带来的技术效果也相同,具体原理请参照前述实施例的描述,在此不赘述。
请参阅图6,图6为本申请实施例提供的一种平均功耗测量装置60,该平均功耗测量装置可以用于实现上述方法实施例中目标芯片的功能。该平均功耗测量装置可以是目标芯片,或者是能够和目标芯片匹配使用的装置。上述用于目标芯片的装置可以为目标芯片内的芯片系统或芯片。如图6所示,该平均功耗测量装置60可以包括通信接口601和处理器602。可选的,该通信装置还可以包括存储器603。其中,通信接口601、处理器602和存储器603可以通过总线604或其他方式连接。总线在图6中以粗线表示,其它部件之间的连接方式,仅是进行示意性说明,并不引以为限。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,图6中仅用一条粗线表示,但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
本申请实施例中的耦合是装置、单元或模块之间的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式,用于装置、单元或模块之间的信息交互。本申请实施例中不限定上述通信接口601、处理器602和存储器603之间的具体连接介质。
存储器603可以包括只读存储器和随机存取存储器,并向处理器602提供指令和数据。存储器603的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器。
处理器602可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),该处理器602还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器,可选的,该处理器602也可以是任何常规的处理器等。其中:
存储器603,用于存储程序指令。
处理器602,用于调用存储器603中存储的程序指令,以用于:
获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为正整数;
根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值;
根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
在一种实现方式中,上述处理器602,还用于从目标芯片的存储器中读取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗。
在一种实现方式中,上述处理器602,还用于获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作时长;基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作时长,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述处理器602,还用于获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作频率;基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作频率,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述处理器602,还用于计算使用场景j对应的单位时间功耗与使用场景j对应的时间权重值的乘积,得到使用场景j对应的功耗;根据使用场景j对应的功耗,计算目标芯片在目标测量时长内的平均功耗;其中,使用场景j为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述处理器602,还用于获取目标芯片的芯片类型对应的至少一个关键参数;至少一个关键参数中的每个关键参数包括至少一个子参数;基于每个关键因素包括的至少一个子参数,确定目标芯片对应的M个使用场景;M个使用场景包括N个使用场景;其中,M为正整数。
在一种实现方式中,上述处理器602,还用于在接收到测量指令时,根据测量指令确定目标芯片和目标测量时长。
在本申请实施例中,可以通过在包括中央处理单元(CPU)、随机存取存储介质(RAM)、只读存储介质(ROM)等处理元件和存储元件的例如计算机的通用计算装置上运行能够执行如图2至图4中所示的相应方法所涉及的各步骤的计算机程序(包括程序代码),以及来实现本申请实施例所提供的方法。计算机程序可以记载于例如计算机可读记录介质上,并通过计算机可读记录介质装载于上述计算装置中,并在其中运行。
基于同一发明构思,本申请实施例中提供的平均功耗测量装置解决问题的原理与有益效果与本申请方法实施例中平均功耗测量装置解决问题的原理和有益效果相似,可以参见方法的实施的原理和有益效果,为简洁描述,在这里不再赘述。
本申请实施例还提供一种平均功耗测量芯片,该平均功耗测量芯片可以执行前述方法实施例中目标芯片的相关步骤。该平均功耗测量芯片用于:获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为正整数;根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值;根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
在一种实现方式中,上述平均功耗测量芯片,还用于从目标芯片的存储器中读取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗。
在一种实现方式中,上述平均功耗测量芯片,还用于获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作时长;基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作时长,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述平均功耗测量芯片,还用于获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作频率;基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作频率,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述平均功耗测量芯片,还用于计算使用场景j对应的单位时间功耗与使用场景j对应的时间权重值的乘积,得到使用场景j对应的功耗;根据使用场景j对应的功耗,计算目标芯片在目标测量时长内的平均功耗;其中,使用场景j为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述平均功耗测量芯片,还用于获取目标芯片的芯片类型对应的至少一个关键参数;至少一个关键参数中的每个关键参数包括至少一个子参数;基于每个关键因素包括的至少一个子参数,确定目标芯片对应的M个使用场景;M个使用场景包括N个使用场景;其中,M为正整数。
在一种实现方式中,上述平均功耗测量芯片,还用于在接收到测量指令时,根据测量指令确定目标芯片和目标测量时长。
对于应用于或集成于芯片的各个装置、产品,其包含的各个模块可以都采用电路等硬件的方式实现,或者,至少部分模块可以采用软件程序的方式实现,该软件程序运行于芯片内部集成的处理器,剩余的(如果有)部分模块可以采用电路等硬件方式实现。
请参阅图7,图7为本申请实施例提供的一种平均功耗测量芯片模组的结构示意图。该平均功耗测量芯片模组70可以执行前述方法实施例中目标芯片的相关步骤,该平均功耗测量芯片模组70包括:通信接口701和芯片702。可选的,该平均功耗测量芯片模组70还可以包括:存储模组703和电源模组704。其中,上述电源模组704可以用于为芯片模组提供电能;上述存储模组703可以用于存储数据和指令。
其中,上述通信接口701用于进行芯片模组内部通信,或者用于芯片模组与外部设备进行通信;上述芯片702用于:
获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为正整数;
根据目标测量时长,确定每个使用场景对应的时间权重值;
根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值,确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。
在一种实现方式中,上述芯片702,还用于从目标芯片的存储器中读取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗。
在一种实现方式中,上述芯片702,还用于获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作时长;基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作时长,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述芯片702,还用于获取目标测量时长内目标芯片在使用场景i下的工作频率;基于目标测量时长和目标芯片在使用场景i下的工作频率,确定目标测量时长内使用场景i对应的时间权重值;其中,使用场景i为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述芯片702,还用于计算使用场景j对应的单位时间功耗与使用场景j对应的时间权重值的乘积,得到使用场景j对应的功耗;根据使用场景j对应的功耗,计算目标芯片在目标测量时长内的平均功耗;其中,使用场景j为N个使用场景中的任一使用场景。
在一种实现方式中,上述芯片702,还用于获取目标芯片的芯片类型对应的至少一个关键参数;至少一个关键参数中的每个关键参数包括至少一个子参数;基于每个关键因素包括的至少一个子参数,确定目标芯片对应的M个使用场景;M个使用场景包括N个使用场景;其中,M为正整数。
在一种实现方式中,上述芯片702,还用于在接收到测量指令时,根据测量指令确定目标芯片和目标测量时长。
对于应用于或集成于芯片模组的各个装置、产品,其包含的各个模块可以都采用电路等硬件的方式实现,不同的模块可以位于芯片模组的同一组件(例如芯片、电路模块等)或者不同组件中,或者,至少部分模块可以采用软件程序的方式实现,该软件程序运行于芯片模组内部集成的处理器,剩余的(如果有)部分模块可以采用电路等硬件方式实现。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质中存储有一条或多条指令,一条或多条指令适于由处理器加载并执行上述方法实施例所提供的方法。
本申请实施例还提供一种包含指令的计算机程序产品,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述方法实施例所提供的方法。
关于上述实施例中描述的各个装置、产品包含的各个模块/单元,其可以是软件模块/单元,也可以是硬件模块/单元,或者也可以部分是软件模块/单元,部分是硬件模块/单元。例如,对于应用于或集成于芯片的各个装置、产品其包含的各个模块/单元可以都采用电路等硬件的方式实现,或者,至少部分模块/单元可以采用软件程序的方式实现,该软件程序运行于芯片内部集成处理器,剩余的(如果有)部分模块/单元可以采用电路等硬件方式实现;对于应用于或集成于芯片模组的各个装置、产品,其包含的各个模块/单元可以都采用电路等硬件的方式实现,不同模块/单元可以位于芯片模组的同一件(例如芯片、电路模块等)或者不同组件中,或者,至少部分模块/单元可以采用软件程序的方式实现,该软件程序运行于芯片模组内部集成的处理器,剩余的(如果有)部分模块/单元可以采用电路等硬件方式实现;对于应用于或集成于终端的各个装置、产品,其包含的模块/单元可以都采用电路等硬件的方式实现,不同的模块/单元可以位于终端内同一组件(例如,芯片、电路模块等)或者不同组件中,或者,至少部分模块/单元可以采用软件程序的方式实现,该软件程序运行于终端内部集成的处理器,剩余的(如果有)部分模块/单元可以采用电路等硬件方式实现。
需要说明的是,对于前述的各个方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本申请并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本申请,某一些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必须的。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,该程序可以存储于一计算机可读存储介质中,可读存储介质可以包括:闪存盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取器(RandomAccess Memory,RAM)、磁盘或光盘等。
本申请提供的各实施例的描述可以相互参照,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。为描述的方便和简洁,例如关于本申请实施例提供的各装置、设备的功能以及执行的操作可以参照本申请方法实施例的相关描述,各方法实施例之间、各装置实施例之间也可以互相参考、结合或引用。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (13)

1.一种平均功耗测量方法,其特征在于,所述方法包括:
获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;所述N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为正整数;
根据所述目标测量时长,确定所述每个使用场景对应的时间权重值;
根据所述每个使用场景对应的单位时间功耗和所述每个使用场景对应的时间权重值,确定所述目标芯片在所述目标测量时长内的平均功耗。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗,包括:
从所述目标芯片的存储器中读取所述N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标测量时长,确定所述每个使用场景对应的时间权重值,包括:
获取所述目标测量时长内所述目标芯片在使用场景i下的工作时长;
基于所述目标测量时长和所述目标芯片在所述使用场景i下的工作时长,确定所述目标测量时长内所述使用场景i对应的时间权重值;
其中,所述使用场景i为所述N个使用场景中的任一使用场景。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标测量时长,确定所述每个使用场景对应的时间权重值,包括:
获取所述目标测量时长内所述目标芯片在使用场景i下的工作频率;
基于所述目标测量时长和所述目标芯片在所述使用场景i下的工作频率,确定所述目标测量时长内所述使用场景i对应的时间权重值;
其中,所述使用场景i为所述N个使用场景中的任一使用场景。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个使用场景对应的单位时间功耗和所述每个使用场景对应的时间权重值,确定所述目标芯片在所述目标测量时长内的平均功耗,包括:
计算使用场景j对应的单位时间功耗与所述使用场景j对应的时间权重值的乘积,得到所述使用场景j对应的功耗;
根据所述使用场景j对应的功耗,计算所述目标芯片在所述目标测量时长内的平均功耗;
其中,使用场景j为所述N个使用场景中的任一使用场景。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述目标芯片的芯片类型对应的至少一个关键参数;所述至少一个关键参数中的每个关键参数包括至少一个子参数;
基于所述每个关键因素包括的至少一个子参数,确定所述目标芯片对应的M个使用场景;所述M个使用场景包括所述N个使用场景;其中,M为正整数。
7.根据权利要求1-5中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在接收到测量指令时,根据所述测量指令确定所述目标芯片和所述目标测量时长。
8.一种平均功耗测量装置,其特征在于,包括用于执行如权利要求1~7中任一项所述的方法的单元。
9.一种平均功耗测量装置,其特征在于,包括处理器;
所述处理器,用于执行如权利要求1~7中任一项所述的方法。
10.根据权利要求9所述的平均功耗测量装置,其特征在于,所述平均功耗测量装置还包括存储器:
所述存储器,用于存储计算机程序;
所述处理器,具体用于从所述存储器中调用所述计算机程序,执行如权利要求1~7中任一项所述的方法。
11.一种平均功耗测量芯片,其特征在于,所述平均功耗测量芯片包括处理器和存储器;
所述平均功耗测量芯片,用于获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;所述N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为大于1的整数;
所述平均功耗测量芯片,还用于根据所述目标测量时长,确定所述每个使用场景对应的时间权重值;
所述平均功耗测量芯片,还用于根据所述每个使用场景对应的单位时间功耗和所述每个使用场景对应的时间权重值,确定所述目标芯片在所述目标测量时长内的平均功耗。
12.一种平均功耗测量芯片模组,其特征在于,所述平均功耗测量芯片模组包括通信接口和芯片,其中:
所述通信接口用于进行所述平均功耗测量芯片模组内部通信,或者用于所述平均功耗测量芯片模组与外部设备进行通信;
所述芯片,用于:
获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗;所述N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景;其中,N为大于1的整数;
根据所述目标测量时长,确定所述每个使用场景对应的时间权重值;
根据所述每个使用场景对应的单位时间功耗和所述每个使用场景对应的时间权重值,确定所述目标芯片在所述目标测量时长内的平均功耗。
13.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有一条或多条指令,所述一条或多条指令适于由处理器加载并执行如权利要求1-7中任一项所述的方法。
CN202310363139.1A 2023-04-06 2023-04-06 一种平均功耗测量方法及装置 Pending CN116338434A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310363139.1A CN116338434A (zh) 2023-04-06 2023-04-06 一种平均功耗测量方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310363139.1A CN116338434A (zh) 2023-04-06 2023-04-06 一种平均功耗测量方法及装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN116338434A true CN116338434A (zh) 2023-06-27

Family

ID=86892958

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310363139.1A Pending CN116338434A (zh) 2023-04-06 2023-04-06 一种平均功耗测量方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116338434A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116755993A (zh) * 2023-08-18 2023-09-15 杭州行芯科技有限公司 芯片功耗评估方法、装置、电子装置和存储介质
CN117316801A (zh) * 2023-11-28 2023-12-29 深圳市深鸿盛电子有限公司 一种半导体器件的测试方法及系统

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116755993A (zh) * 2023-08-18 2023-09-15 杭州行芯科技有限公司 芯片功耗评估方法、装置、电子装置和存储介质
CN116755993B (zh) * 2023-08-18 2023-12-19 杭州行芯科技有限公司 芯片功耗评估方法、装置、电子装置和存储介质
CN117316801A (zh) * 2023-11-28 2023-12-29 深圳市深鸿盛电子有限公司 一种半导体器件的测试方法及系统
CN117316801B (zh) * 2023-11-28 2024-03-15 深圳市深鸿盛电子有限公司 一种半导体器件的测试方法及系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN116338434A (zh) 一种平均功耗测量方法及装置
RU2758106C1 (ru) Способ передачи данных, терминальное устройство и сетевое устройство
CN111147327A (zh) 网络质量的评估方法及装置
WO2024188329A1 (zh) 信号传输方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN110636522B (zh) 一种通信网络覆盖质量的确定方法及装置
CN110365598B (zh) 心跳消息发送的方法、装置、服务器、终端及存储介质
US20230413247A1 (en) Method for communication processing, terminal device, and non-transitory computer-readable storage medium
WO2021212944A1 (zh) 天线的发射信号的调整方法、装置、系统及介质
CN111405534A (zh) 信息传输方法、第一终端及计算机存储介质
CN116782342A (zh) 无线分频通信方法、装置、通讯模块及电子设备
WO2023125736A1 (zh) 一种传输信息的方法,射频装置和控制装置
CN113541707B (zh) 一种滤波方法、通信装置、芯片及其模组设备
CN110995373A (zh) 传导灵敏度的测量方法及装置、存储介质、综测终端
CN111565403A (zh) 一种数据测量方法及装置
CN113518431A (zh) 通信处理方法、终端、装置及存储介质
WO2023124232A1 (zh) 频域数据的合并方法、装置、存储介质及电子装置
CN113507394B (zh) 网络性能检测方法、装置、电子设备及存储介质
CN114244467A (zh) 一种小区搜索方法及装置
CN111417920A (zh) 数据处理方法及装置
CN113612717A (zh) 频偏校准方法、装置、电子设备及存储介质
CN115134855A (zh) 网络切片性能测量方法和装置
CN113795048B (zh) 一种功率处理方法、通信装置、芯片及其模组设备
CN112383660A (zh) 智能终端的吞吐率测试方法、装置、存储介质和终端
CN114339918B (zh) 一种测量方法、通信装置、芯片及其模组设备
EP4395402A1 (en) Forward message processing method and apparatus, forward interface, communication device, and computer-readable storage medium

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination