CN114489360A - 一种触控板的检测方法及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种触控板的检测方法及显示装置，所述触控板包括多个触控电极和多条触控电极线，多个所述触控电极沿第一方向和第二方向行列分布，所述触控电极与至少两条所述触控电极线电连接，所述第一方向与所述第二方向交叉；所述检测方法包括：获取所述触控电极的第一升压曲线面积值；根据所述触控电极及其相邻触控电极的第一升压曲线面积值，获取所述触控电极的微断运算值；在所述触控电极的微断运算值小于或者等于预设值时，确定与所述触控电极电连接的至少一条触控电极线断线。本发明提供一种触控板的检测方法及显示装置，以提升对触控电极微断拦截的准确率。

Description

一种触控板的检测方法及显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种触控板的检测方法及显示装置。

背景技术

随着科技的发展，带有触控功能的触控显示面板作为一种信息输入工具被广泛应用于手机、平板电脑、公共场所大厅的信息查询机等各种显示产品中。这样，用户只需用手指触摸触控显示面板上的标识就能够实现对该电子设备的操作，消除了用户对其他输入设备(如键盘和鼠标等)的依赖，使人机交互更为简易。

在触控显示面板领域，现有的内嵌式触控技术(Incell Touch)设计中，触控电极一般是由两条触控电极走线连接的，当其中一条触控电极走线断裂时，触控电极仍然正常工作，但与周边触控电极存在显示和触控轻微的差异，此过程称之为微断(Micro open)。

目前，无法有效拦截真实发生微断的触控电极。

发明内容

本发明提供一种触控板的检测方法及显示装置，以提升触控电极微断拦截的准确率。

第一方面，本发明实施例提供一种触控板的检测方法，所述触控板包括多个触控电极和多条触控电极线，多个所述触控电极沿第一方向和第二方向行列分布，所述触控电极与至少两条所述触控电极线电连接，所述第一方向与所述第二方向交叉；

所述检测方法包括：

获取所述触控电极的第一升压曲线面积值；

根据所述触控电极及其相邻触控电极的第一升压曲线面积值，获取所述触控电极的微断运算值；

在所述触控电极的微断运算值小于或者等于预设值时，确定与所述触控电极电连接的至少一条触控电极线断线。

第二方面，本发明实施例提供一种显示装置，包括显示面板、触控板和驱动芯片，所述驱动芯片用于执行第一方面所述的检测方法。

本发明实施例提供一种触控板的检测方法，避免直接采用升压曲线面积值进行判断，而是对升压曲线面积值做进一步地的数值处理，由被选做目标的触控电极211与相邻触控电极211的第一升压曲线面积值，通过计算得到被选做目标的触控电极211的微断运算值，由于发生微断的触控电极211与未发生断线的触控电极211的微断运算值之间的差异较大，因此，便于根据微断运算值判断与触控电极211连接的触控电极线212是否发生断线，提升了触控电极211微断拦截的准确率。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种触控板的结构示意图；

图2为触控板发生微断的示意图；

图3为一种升压曲线的示意图；

图4为本发明实施例提供的一种触控板检测方法的流程图；

图5为另一种升压曲线的示意图；

图6为图1中S1区域所示触控电极的示意图；

图7为图6所示触控电极的第一升压曲线面积值的示意图；

图8为图6所示触控电极的微断运算值的示意图；

图9为本发明实施例提供的另一种触控板检测方法的流程图；

图10为本发明实施例提供的另一种触控板的结构示意图；

图11为本发明实施例提供的另一种触控板的结构示意图；

图12为图11所示触控电极的第一升压曲线面积值的示意图；

图13是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1为本发明提供的一种触控板的结构示意图，参考图1，触控板21包括多个触控电极211和多条触控电极线212，多个触控电极212沿第一方向X和第二方向Y行列分布。沿第一方向X上，多个触控电极211排布成一行，沿第二方向Y上，多个触控电极211排布成一列。本发明实施例对于触控电极211的数量不做限定，只要触控电极211沿第一方向X和第二方向Y行列分布排列即可。触控电极211与至少两条触控电极线212电连接，每一条触控电极线212与一个触控电极211电连接。其中，第一方向X与第二方向Y交叉。在一实施方式中，第一方向X与第二方向Y可以相互垂直。在另一实施方式中，第一方向X与第二方向Y可以不垂直，并呈大于0°且小于90°的夹角。

示例性地，参考图1，触控电极211为自容式触控电极，每一触控电极211分别与例如零势能点大地构成电容，当手指触摸到或者靠近触控板时，位于触摸位置处的电容值会增加，进而在进行触摸检测时，可以通过检测相应的电容值的变化，来确定触摸点的位置。在其他实施方式中，触控电极211还可以为互容式触控电极。

图2为触控板发生微断的示意图，参考图1和图2，触控板21中的触控电极211发生微断，指的是，与触控电极211电连接的多条触控电极线212中的至少一条发生断裂，且仍存在至少一条触控电极线212与触控电极211电连接。如图2所示，以两条触控电极线212与同一个触控电极211电连接为例。将两个触控电极211分别记为第一触控电极2111和第二触控电极2112。当其中一条触控电极线212发生断裂时，第一触控电极2111仍然可以通过另一条与之连接的触控电极线212正常工作，但发生微断的触控电极211与周边未发生微断的第二触控电极2112在触控时会存在轻微的差异。需要说明的是，在触控电极211复用为公共电极时，发生微断的触控电极211与周边未发生微断的触控电极211在显示时也会存在差异。

图3为一种升压曲线的示意图，参考图3，在现有技术中，通过触控电极211的升压曲线所围成的面积大小，来判断与触控电极211连接的触控电极线212是否发生断裂。第一升压曲线L1示意的是，与触控电极211连接的所有触控电极线212均断裂时的情况，第一升压曲线L1所围成的面积为P1。第二升压曲线L2示意的是，与触控电极211连接的所有触控电极线212均未断裂时的情况，第二升压曲线L2所围成的面积为P1+P2。触控电极211发生微断时的升压曲线(图3中未示出)，位于第一升压曲线L1和第二升压曲线L2之间，并接近于第二升压曲线L2。由此，可以通过设置升压曲线面积的下限阈值，当升压曲线面积小于该下限阈值时，则对该触控电极211进行拦截。

然而，触控电极线212长度的不一致，使各个触控电极211的升压曲线面积数值存在差异，单纯设置下限阈值对发生微断的触控电极211进行拦截会导致近端正常的触控电极211被过杀。

有鉴于上述存在的问题，本发明实施例提供一种触控板的检测方法。图4为本发明实施例提供的一种触控板检测方法的流程图，结合图1、图2和图4，本实施例提供的一种触控板的检测方法包括：

S101、获取触控电极211的第一升压曲线面积值。

在一实施方式中，将当前作为样本的触控板中触控电极211的样本升压曲线面积值作为第一升压曲线面积值。此时，第一升压曲线面积值(即样本升压曲线面积值)由触控电极211的电压值随时间变化的曲线获得。触控电极211的第一升压曲线面积值，为触控电极211的升压曲线，随着时间变化的时间积分值。在另一实施方式中，当前作为样本的触控板中触控电极211的样本升压曲线面积值处理之后作为第一升压曲线面积值，该种情况将在后续做进一步介绍。

在一实施方式中，第一升压曲线面积值的积分起点，可以选择为初始时刻(时间为0)；在另一实施方式中，第一升压曲线面积值的积分起点，可以选择为初始时刻之后，且触控电极211达到稳定电压之前的某一时刻。

S102、根据触控电极211及其相邻触控电极211的第一升压曲线面积值，获取触控电极211的微断运算值。

本步骤中，将触控电极211的第一升压曲线面积值作为自变量，将触控电极211的微断运算值作为因变量。根据被选做目标的触控电极211第一升压曲线面积值，以及与其邻触控电极211的第一升压曲线面积值，通过计算得到被选做目标的触控电极211的微断运算值。

S103、在触控电极211的微断运算值小于或者等于预设值时，确定与触控电极电连接的至少一条触控电极线断线。

其中，预设值为判断触控电极线212是否断线的阈值。

本发明实施例提供一种触控板的检测方法，避免直接采用升压曲线面积值进行判断，而是对升压曲线面积值做进一步地的数值处理，由被选做目标的触控电极211与相邻触控电极211的第一升压曲线面积值，通过计算得到被选做目标的触控电极211的微断运算值，由于发生微断的触控电极211与未发生断线的触控电极211的微断运算值之间的差异较大，因此，便于根据微断运算值判断与触控电极211连接的触控电极线212是否发生断线，提升了触控电极211微断拦截的准确率。

图5为另一种升压曲线的示意图，参考图5，第一升压曲线面积值为触控电极211的电压值从时间t1至时间t2的积分值，t1＞0。本发明实施方式中，第一升压曲线面积值的积分起点，选择为初始时刻(时间为0)之后，从而无需对t1之前的电压值进行积分运算，减少了运算量。

示例性地，如图5中阴影部分所示，为第一升压曲线L1的第一升压曲线面积值。发生微断的触控电极211的第一升压曲线面积值小于未发生断线的触控电极211的第一升压曲线面积值。

图6为图1中S1区域所示触控电极的示意图，图7为图6所示触控电极的的第一升压曲线面积值的示意图，图8为图6所示触控电极的微断运算值的示意图，参考图1、图6-图8，触控电极211包括目标触控电极(例如，图6中位于中心的触控电极)和相邻触控电极(例如，图6中位于边缘的触控电极)，目标触控电极与相邻触控电极相邻设置。为了便于描述，将目标触控电极的第一升压曲线面积值记为Vi，将相邻触控电极的第一升压曲线面积值统称为Vx。

目标触控电极的微断运算值Output满足：Output＝Vi*Cnt-Sum(1)

其中，Cnt为统计符合预设条件的相邻触控电极个数的计数值，Sum为统计符合预设条件相邻触控电极的第一升压曲线面积值的累加值。满足Vi-Vx＜a1时，目标触控电极与相邻触控电极的第一升压曲线面积值相差比较大，Cnt的数值加1，Sum的数值加Vx。其中，a1为判断Vi和Vx差异程度的常数，可以为负值。目标触控电极位于第二行触控电极至倒数第二行触控电极，且位于第二列触控电极至倒数第二列触控电极中。

示例性地，以围绕目标触控电极设置8个相邻触控电极为例，8个相邻触控电极的第一升压曲线面积值Vx分别为V1、V2、V3、V4、V5、V6、V7和V8。在目标触控电极的微断运算中，将该目标触控电极的第一升压曲线面积值分别与周围的8个相邻触控电极的第一升压曲线面积值进行比较，当满足Vi-Vx＜a1时，即目标触控电极的第一升压曲线面积值减去相邻触控电极的第一升压曲线面积值小于a1时(需要说明的是，x与相邻触控电极的标号有关，x可以为1到8中的任意一个整数，例如Vx为V1表示第一相邻触控电极的第一升压曲线面积，本发明之后不做过多赘述)，将符合预设条件的相邻触控电极个数的计数值加1，符合预设条件相邻触控电极的第一升压曲线面积值的累加值加Vx。可以理解为，Vi-Vx＜a1时，目标触控电极与该相邻触控电极之间的第一升压曲线面积差异较大，需要将数值进行累加，而由于差别越大，累加的数值也越大，相应的更能凸显出二者之间的差异性。本发明实施例提供的技术方案，通过对触控电极的微断运算，可以放大发生微断的触控电极与正常的触控电极的差异性，筛选出连接不良的触控电极，以提高拦截微断的精准度。

可选地，满足Vi-Vx≥a1，且Vx-ave＜a2时，Cnt的数值加1，Sum的数值加0。满足Vi-Vx≥a1，且Vx-ave≥a2时，Cnt的数值加0，Sum的数值加0。其中，ave为多个相邻触控电极的第一升压曲线面积值的平均值，a2为判断Vx和ave差异程度的常数，可以为正数，例如7，当然a2的数值根据具体的触控板产品而定。

示例性地，继续参考图6，以围绕目标触控电极的相邻触控电极数量等于8个为例，ave表示为8个相邻触控电极的第一升压曲线面积值的平均值，即，ave＝(V1+V2+V3+V4+V5+V6+V7+V8)/8。Vx-ave＜a2时，当前的相邻触控电极的第一升压曲线面积(例如V1)与8个相邻触控电极的第一升压曲线面积值的平均值差别比较小，当前与目标触控电极相比较的相邻触控电极属于未发生断线的正常触控电极。Vi-Vx≥a1，且Vx-ave≥a2时，不仅当前相邻触控电极与目标触控电极的第一升压曲线面积值相差较大，且当前的相邻触控电极的第一升压曲线面积(例如V1)与8个相邻触控电极的第一升压曲线面积值的平均值差别比较大，当前的相邻触控电极(例如第一升压曲线面积为V1的触控电极)与目标触控电极均可能为发生断线的异常触控电极，为了将异常的相邻触控电极的第一升压面积值排出在计算之外，满足Vi-Vx≥a1，且Vx-ave≥a2时，Cnt的数值加0，Sum的数值加0。

可选地，a1＝-5。可以理解的是，本实施例中，判断Vi和Vx差异程度的常数a1为-5。当a1为-5时，可以确保触控板检测的准确性，还能确保触控电极之间的微断运算值的差异性拥有较大。

继续参考图6，围绕目标触控电极设置的相邻触控电极包括：围绕目标触控电极顺时针依次设置第一相邻触控电极、第二相邻触控电极、第三相邻触控电极、第四相邻触控电极、第五相邻触控电极、第六相邻触控电极、第七相邻触控电极和第八相邻触控电极。沿第一方向X，目标触控电极位于第一相邻触控电极与第五相邻触控电极之间。沿第二方向Y，目标触控电极位于第三相邻触控电极与第七相邻触控电极之间。

示例性地，参考图6，以目标触控电极为中心，围绕其顺时针依次设置的有第一相邻触控电极、第二相邻触控电极、第三相邻触控电极、第四相邻触控电极、第五相邻触控电极、第六相邻触控电极、第七相邻触控电极和第八相邻触控电极。第一相邻触控电极的第一升压曲线面积值为V1，第二相邻触控电极的第一升压曲线面积值为V2，第三相邻触控电极的第一升压曲线面积值为V3，第四相邻触控电极的第一升压曲线面积值为V4，第五相邻触控电极的第一升压曲线面积值为V5，第六相邻触控电极的第一升压曲线面积值为V6，第七相邻触控电极的第一升压曲线面积值为V7，第八相邻触控电极的第一升压曲线面积值为V8。

对于第一相邻触控电极，Vx＝V1，判断Vi-V1是否小于a1，如果满足Vi-V1＜a1时，上述公式(1)中的Cnt的数值加1，Sum的数值加V1。如果满足Vi-V1≥a1，且V1-ave＜a2时，Cnt的数值加1，Sum的数值加0。如果满足Vi-V1≥a1，且V1-ave≥a2时，Cnt的数值加0，Sum的数值加0。类似的，对于第二触控电极Vx＝V2，对于第三触控电极，Vx＝V3，依次类推。即，将所有的相邻触控电极依次与目标触控电极做比较，并根据比较结果所满足的条件，确定添加到Cnt和Sum的数值大小。

可选地，预设值为-120。

示例性地，参考图6-图8，图8中位于中心区域的数值为目标触控电极的微断运算值。以目标触控电极的第一升压曲线面积值Vi为-15，各个相邻触控电极的第一升压曲线面积值Vx都为0。a1＝-5。Vi-Vx＝-15-0＝-15，Vi-Vx＜-5，将Cnt的数值加1，Sum的数值加Vx，进而目标触控电极的微断运算值Output＝Vi*Cnt-Sum＝(-15)×8-(8×0)＝-120，因此设置预设值为-120，未断线的触控电极211的微断运算值大于-120，发生断线的触控电极211的微断运算值小于或者等于-120。由此，设置预设值为-120，即可对发生断线的触控电极进行拦截。

图9为本发明实施例提供的另一种触控板检测方法的流程图，本实施例提供的一种触控板的检测方法包括：

S201、获取触控电极的样本升压曲线面积值。

其中，当前作为样本的触控板中，触控电极211的升压曲线面积值为样本升压曲线面积值。样本升压曲线面积值由触控电极211的电压值随时间变化的曲线获得。S202、获取触控电极的标准升压曲线面积值。

在一实施方式中，理想的未出现断线的触控板中，触控电极211的升压曲线面积值为标准升压曲线面积值。

在另一实施方式中，多批次生产的多个触控板中，触控电极211的升压曲线面积值的平均值为标准升压曲线面积值。

S203、根据样本升压曲线面积值与标准升压曲线面积值的差值确定第一升压曲线面积值。

示例性地，将同一位置触控电极211的样本升压曲线面积值与标准升压曲线面积值的差值作为第一升压曲线面积值。

S204、根据触控电极及其相邻触控电极的第一升压曲线面积值，获取触控电极的微断运算值。

S205、在触控电极的微断运算值小于或者等于预设值时，确定与触控电极电连接的至少一条触控电极线断线。

可以消除输入差异带来的数值落差。

本发明实施例中，根据样本升压曲线面积值与标准升压曲线面积值的差值确定第一升压曲线面积值，以消除同一触控板中不同的位置处因不同负载所导致的数值差异。

图10为本发明实施例提供的一种触控板的结构示意图，参考图10，触控板21包括相邻的第一区域A和第二区域B，第一区域A与第二区域B沿第一方向X排列，触控电极线212沿第二方向延伸。触控电极211通过至少两条触控电极线212与驱动芯片30电连接。在第一区域A中，根据触控电极211及其相邻的第一区域A中的触控电极211的第一升压曲线面积值，获取触控电极211的微断运算值。在第二区域B中，根据触控电极211及其相邻的第二区域B中的触控电极211的第一升压曲线面积值，获取触控电极211的微断运算值。由于驱动芯片30左右两部分的负载存在差异，为了消除驱动芯片30本身左右负载差异的影响，本发明实施例对应地将触控板21划分为第一区域A和第二区域B，并分别对第一区域A和第二区域B内的触控电极211进行微断运算，提高了触控电极211微断运算的准确性。

在目标触控电极被多个相邻触控电极围绕时，可以根据上述公式(1)计算目标触控电极的微断运算值。可以理解的是，多个行列排布的触控电极中，存在一些触控电极位于触控电极阵列的边缘，或者位于触控电极阵列的拐角。此时，目标触控电极未被多个相邻触控电极围绕，不再适用于上述公式(1)。本发明还对位于触控电极阵列的边缘，或者位于触控电极阵列的拐角的触控电极，做进一步地解释说明。

图11为本发明实施例提供的另一种触控板的结构示意图，图12为图11所示触控电极的第一升压曲线面积值的示意图，参考图11和图12，将位于触控电极阵列边缘的触控电极记为边缘触控电极211b，将位于触控电极阵列拐角的触控电极记为拐角触控电极211b，将触控电极阵列中的其余触控电极记为中心触控电极211a。目标触控电极位于第一行触控电极、最后一行触控电极、第一列触控电极或者最后一列触控电极中，即，目标触控电极为边缘触控电极211b或者拐角触控电极211c时，目标触控电极的微断运算值为多个相邻触控电极的第一升压曲线面积值的平均值。其中，与目标触控电极相邻的触控电极为相邻触控电极。

示例性地，参考图11和图12，当目标触控电极为第一行第四列的触控电极(记为触控电极Vj)时，目标触控电极的微断运算值为其周围多个相邻触控电极的第一升压曲线面积值的平均值，例如可以为(V1+V37+V38+V39+V2+V3)/6。其中，V1为第二行第三列的触控电极的第一升压曲线面积值，V37为第三行第三列的触控电极的第一升压曲线面积值，V2为第二行第四列的触控电极的第一升压曲线面积值，V38为第三行第四列的触控电极的第一升压曲线面积值，V3为第二行第五列的触控电极的第一升压曲线面积值，V39为第三行第五列的触控电极的第一升压曲线面积值。

可选地，继续参考图11和图12，目标触控电极为第一行第一列的触控电极、第一行第二列的触控电极、第一行倒数第二列的触控电极、第一行倒数第一列的触控电极、第二行第一列的触控电极、第二行倒数第一列的触控电极、倒数第二行第一列的触控电极、倒数第二行倒数第一列的触控电极、倒数第一行第一列的触控电极、倒数第一行第二列的触控电极、倒数第一行倒数第二列的触控电极或者倒数第一行倒数第一列的触控电极，即，目标触控电极为拐角触控电极211c时，目标触控电极的微断运算值为0。本发明实施例中，当目标触控电极位处于触控板四周角落位置时，为了防止触控电极的结构不完整影响微断运算值的运算(例如设置了倒角，或者为了配合透光区设置成了异形形状)，直接将处于触控板四周角落位置的触控电极211的微断运算值定义为0。

示例性地，参考图11和图12，当目标触控电极为图11为位于第一行第一列的触控电极(记为触控电极Vm)时，目标触控电极的微断运算值直接被赋予0。

本发明实施例还提供了一种显示装置。图13是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图，参考图-图13，本发明实施例提供的显示装置包括显示面板200、上述实施例中的触控板21和驱动芯片30，驱动芯片30用于执行本发明任意实施例所述的触控板21的检测方法。显示装置可以为如图13中所示的手机，也可以为电脑、电视机、智能穿戴设备等，本实施例对此不作特殊限定。

在一实施方式中，触控电极211复用为显示面板200中的公共电极，在进行显示时，触控电极线212为触控电极211传输公共电压信号。在进行触控时，触控电极线212为触控电极211传输触控信号。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (12)

1.一种触控板的检测方法，其特征在于，所述触控板包括多个触控电极和多条触控电极线，多个所述触控电极沿第一方向和第二方向行列分布，所述触控电极与至少两条所述触控电极线电连接，所述第一方向与所述第二方向交叉；

所述检测方法包括：

获取所述触控电极的第一升压曲线面积值；

根据所述触控电极及其相邻触控电极的第一升压曲线面积值，获取所述触控电极的微断运算值；

在所述触控电极的微断运算值小于或者等于预设值时，确定与所述触控电极电连接的至少一条触控电极线断线。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第一升压曲线面积值为所述触控电极的电压值从时间t1至时间t2的积分值，

t1＞0。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述触控电极包括目标触控电极和相邻触控电极，所述目标触控电极与所述相邻触控电极相邻设置；所述目标触控电极的微断运算值Output满足：

Output＝Vi*Cnt-Sum；

其中，Vi为所述目标触控电极的第一升压曲线面积值，Vx为所述相邻触控电极的第一升压曲线面积值，Cnt为统计符合预设条件的所述相邻触控电极个数的计数值，Sum为统计符合所述预设条件所述相邻触控电极的第一升压曲线面积值的累加值；

满足Vi-Vx＜a1时，Cnt的数值加1，Sum的数值加Vx；

其中，a1为判断Vi和Vx差异程度的常数，所述目标触控电极位于第二行触控电极至倒数第二行触控电极，且位于第二列触控电极至倒数第二列触控电极中。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，满足Vi-Vx≥a1，且Vx-ave＜a2时，Cnt的数值加1，Sum的数值加0；

满足Vi-Vx≥a1，且Vx-ave≥a2时，Cnt的数值加0，Sum的数值加0；

其中，ave为多个所述相邻触控电极的第一升压曲线面积值的平均值，a2为判断Vx和ave差异程度的常数。

5.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，a1＝-5。

6.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，围绕所述目标触控电极设置的所述相邻触控电极包括：围绕所述目标触控电极顺时针依次设置第一相邻触控电极、第二相邻触控电极、第三相邻触控电极、第四相邻触控电极、第五相邻触控电极、第六相邻触控电极、第七相邻触控电极和第八相邻触控电极；

沿所述第一方向，所述目标触控电极位于所述第一相邻触控电极与所述第五相邻触控电极之间；沿所述第二方向，所述目标触控电极位于所述第三相邻触控电极与所述第七相邻触控电极之间。

7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述预设值为-120。

8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，获取所述触控电极的第一升压曲线面积值，包括：

获取所述触控电极的样本升压曲线面积值；

获取所述触控电极的标准升压曲线面积值；

根据所述样本升压曲线面积值与所述标准升压曲线面积值的差值确定所述第一升压曲线面积值；

其中，所述样本升压曲线面积值由所述触控电极的电压值随时间变化的曲线获得。

9.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，包括相邻的第一区域和第二区域，所述第一区域与所述第二区域沿第一方向排列，所述触控电极线沿第二方向延伸；

在所述第一区域中，根据所述触控电极及其相邻的所述第一区域中的触控电极的第一升压曲线面积值，获取所述触控电极的微断运算值；

在所述第二区域中，根据所述触控电极及其相邻的所述第二区域中的触控电极的第一升压曲线面积值，获取所述触控电极的微断运算值。

10.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，目标触控电极的微断运算值为多个相邻触控电极的第一升压曲线面积值的平均值；

其中，与所述目标触控电极相邻的触控电极为相邻触控电极；

所述目标触控电极位于第一行触控电极、最后一行触控电极、第一列触控电极或者最后一列触控电极中。

11.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，目标触控电极的微断运算值为0；

所述目标触控电极为第一行第一列的触控电极、第一行第二列的触控电极、第一行倒数第二列的触控电极、第一行倒数第一列的触控电极、第二行第一列的触控电极、第二行倒数第一列的触控电极、倒数第二行第一列的触控电极、倒数第二行倒数第一列的触控电极、倒数第一行第一列的触控电极、倒数第一行第二列的触控电极、倒数第一行倒数第二列的触控电极或者倒数第一行倒数第一列的触控电极。

12.一种显示装置，其特征在于，包括显示面板、触控板和驱动芯片，所述驱动芯片用于执行如权利要求1-11任一项所述的检测方法。

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