CN114441916A - 一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备 - Google Patents

一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备 Download PDF

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CN114441916A
CN114441916A CN202011221551.2A CN202011221551A CN114441916A CN 114441916 A CN114441916 A CN 114441916A CN 202011221551 A CN202011221551 A CN 202011221551A CN 114441916 A CN114441916 A CN 114441916A
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贺晓光
芦子哲
洪佳婷
柳春美
严围
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Wuhan Guochuangke Photoelectric Equipment Co ltd
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Abstract

本申请适用于发光二极管技术领域，提供了一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备，所述方法包括：获取驱动信号值和参考亮度，所述参考亮度为所述发光器件在驱动信号下的亮度，所述驱动信号值小于预设的信号阈值；向所述发光器件输出测试信号，并将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；通过所述采集装置采集所述发光器件发射的光信号，获得与所述光信号对应的实时光电流；根据所述实时光电流和所述参考亮度得到所述发光器件的实时亮度，以确定所述发光器件的寿命。通过上述方法，可以准确测试出发光不均匀的发光器件的寿命。

Description

一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备
技术领域
本申请属于发光二极管技术领域，尤其涉及一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置、终端设备及计算机可读存储介质。
背景技术
近年来，发光器件(如量子点发光二极管和有机发光二极管)因具备高亮度、低功耗、广色域及易加工等诸多优点在照明和显示领域获得了广泛的关注与研究。在发光器件的研发过程中，通常需要对发光器件的寿命进行测试。然而，现有的寿命测试方法只适用于发光均匀的发光器件，对于发光不均匀的发光器件，无法准确测试出其寿命。
发明内容
有鉴于此，本申请提供了一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置、终端设备及计算机可读存储介质，可以准确测试出发光不均匀的发光器件的寿命。
第一方面，本申请提供了一种发光器件的寿命测试方法，应用于终端设备，上述终端设备连接有采集装置，上述寿命测试方法包括：
获取驱动信号值和参考亮度，上述参考亮度为上述发光器件在驱动信号下的亮度，上述驱动信号值小于预设的信号阈值；
向上述发光器件输出测试信号，并将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；
通过上述采集装置采集上述发光器件发射的光信号，获得与上述光信号对应的实时光电流；
根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命。
第二方面，本申请提供了一种发光器件的寿命测试装置，应用于终端设备，上述终端设备连接有采集装置，上述寿命测试装置包括：
数据获取单元，用于获取驱动信号值和参考亮度，上述参考亮度为上述发光器件在驱动信号下的亮度，上述驱动信号值小于预设的信号阈值；
信号控制单元，用于向上述发光器件输出测试信号，并将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；
电流获得单元，用于通过上述采集装置采集上述发光器件发射的光信号，获得与上述光信号对应的实时光电流；
寿命测试单元，用于根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命。
第三方面，本申请提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在上述存储器中并可在上述处理器上运行的计算机程序，上述处理器执行上述计算机程序时实现如上述第一方面所提供的方法。
第四方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，上述计算机可读存储介质存储有计算机程序，上述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所提供的方法。
第五方面，本申请提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第一方面所提供的方法。
由上可见，本申请方案中，首先获取驱动信号值和参考亮度，上述参考亮度为上述发光器件在驱动信号下的亮度，上述驱动信号值小于预设的信号阈值，然后向上述发光器件输出测试信号，并将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值，通过上述采集装置采集上述发光器件发射的光信号，获得与上述光信号对应的实时光电流，最后根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命。本申请方案基于发光不均匀的发光器件在大小较小的信号驱动下，发出的光的亮度较为稳定的特性，将发光器件在驱动信号下的亮度作为参考亮度，该驱动信号的大小小于信号阈值，使得根据该参考亮度计算出的发光器件的实时亮度较准确，并且，在向发光器件输出测试信号的过程中，将测试信号的大小从驱动信号值逐步调高至标准信号值，使发光器件的各功能层达到稳定状态后，再对发光器件进行寿命测试。通过上述方式，可以准确测试出发光不均匀的发光器件的寿命。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的应用环境的示意图；
图2是本申请实施例提供的寿命测试方法的流程示意图；
图3是本申请实施例提供的第一发光区域示意图；
图4是本申请实施例提供的第二发光区域示意图；
图5是本申请实施例提供的寿命测试装置的结构框图；
图6是本申请实施例提供的终端设备的结构示意图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
请参阅图1，本申请实施例提供的一种发光器件的寿命测试方法可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，终端设备通过外设部件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect，PCI)总线分别与电源装置和采集装置连接。发光器件放置于测试盒中，终端设备通过PCI总线，可以控制电源装置向发光器件供电，以点亮发光器件。发光器件被点亮后，终端设备通过PCI总线，可以控制采集装置采集发光器件发射的光信号，然后，采集装置可以将采集到的光信号转换为对应的光电流，并将转换得到的光电流输出至终端设备。其中，发光器件可以是无机发光二极管、量子点发光二极管和有机发光二极管中的任一种。
可选地，电源装置包括数字I/O(Input/Output)卡和数模转换(Digital-to-Analog Converter，DAC)芯片。数字I/O卡可以输出数字信号，该数字信号经D/A转换芯片可转换为模拟信号(如电流信号和电压信号等)。采集装置包括光传感器。光传感器(如硅光二极管)可以采集发光器件发射的光信号，并将光信号转化为光电流。
在对本申请进一步详细说明之前，对本申请实施例中驱动信号值和参考亮度的获取方式进行说明。
本申请实施例中的寿命测试方法作用的对象为发光器件，该发光器件可以是发光均匀的发光器件，也可以是发光不均匀的发光器件。针对发光不均匀的发光器件的亮度变化幅度大，不利于寿命测试的问题，本申请实施例中考虑首先在测试盒外部，通过外部电源向发光器件输出指定大小(具体大小由发光器件的材料决定)的驱动信号(通常小于在测试盒内部正式测试时输入的测试信号)，将发光器件的亮度控制在一定大小(具体大小应属于预设的亮度区间)，经过一定时间点亮之后，发光器件状态较为稳定，从而使发光器件的亮度变化幅度小，也即亮度较为稳定；然后通过亮度计读取发光器件在驱动信号驱动下的亮度，记作参考亮度；最后将驱动信号值(即驱动信号的大小)和参考亮度输入终端设备中，并在将发光器件放入测试盒后，即可开始执行本申请实施例中的寿命测试方法。
图2示出了本申请实施例提供的一种发光器件的寿命测试方法的流程图，该寿命测试方法应用于终端设备，该终端设备连接有采集装置，详述如下：
步骤201，获取驱动信号值和参考亮度；
在本申请实施例中，驱动信号值和参考亮度由用户在执行本申请实施例中的寿命测试方法之前输入至终端设备。其中，参考亮度为发光器件在驱动信号驱动下的亮度，驱动信号的大小等于用户输入的驱动信号值。驱动信号值应该小于预设的信号阈值，该信号阈值可以由用户根据经验设置，比如，用户通过多次实验发现发光不均匀的发光器件在大小小于1.5毫安的电流信号驱动下的亮度较为稳定，则可以将信号阈值设定为1.5毫安。
可选地，由于发光器件发光不均匀，因此，参考亮度可以是发光器件的发光区域在驱动信号驱动下的平均亮度。具体地，如上述驱动信号值和参考亮度的获取方式中所提及的，通过亮度计读取发光器件在较小的驱动信号驱动下的亮度，可以是：通过亮度计读取发光器件的发光区域上预设数量个指定位置点的亮度，然后将各个指定位置点的亮度的平均值作为参考亮度。其中，指定位置点可根据发光区域的形状进行选取，选取的指定位置点应该在发光区域上均匀分布，以提高得到的发光区域的平均亮度的准确性。例如，针对发光器件为顶发射型发光器件，如图3所示，顶发射型发光器件的发光区域的形状为圆形，因此，可以选取图3中所示的1、2、……、5标记的五个点作为指定位置点；又例如，发光器件为底发射型发光器件，如图4所示，底发射型发光器件的发光区域的形状为矩形，因此，可以选取图4中所示的1、2、……、9标记的九个点作为指定位置点。
可选地，由于发光不均匀的发光器件的亮度变化幅度大，即发光器件的亮度不稳定，比如发光器件当前的亮度是发光器件在前一秒的亮度的两倍，因此，如果在发光器件的亮度不稳定的情况下测得参考亮度，并根据该参考亮度确定出校正因子，则该校正因子将不能准确指示采集装置输出的实时光电流与发光器件的亮度之间的比例关系。基于此，为了使发光器件的亮度稳定，可以使参考亮度属于预设的亮度区间(例如500-1000cd/m2)，该亮度区间通过大量实验得到。当发光器件的亮度属于该亮度区间时，发光器件的亮度变化幅度小，即发光器件的亮度稳定。因此，在发光器件的亮度稳定的情况下测得参考亮度，并根据该参考亮度确定出的校正因子可以准确指示采集装置输出的实时光电流与发光器件的亮度之间的比例关系。
步骤202，向发光器件输出测试信号，并将测试信号的大小从驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；
在本申请实施例中，将发光器件放置入测试盒后，终端设备可以通过电源装置向发光器件输出测试信号，并将该测试信号的大小从驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值。其中，标准信号值的大小可以根据发光器件的材料和结构设定。在测试信号的大小达到标准信号值后，将测试信号的大小保持在标准信号值不变。在将测试信号的大小从驱动信号值逐步调高至标准信号值的过程中，发光器件的各个功能层(如电子传输层、空穴传输层和发光层)将会趋于稳定，从而使发光器件的亮度稳定，提高后续测试发光器件的寿命的准确性。
示例性地，若驱动信号为电压信号，则测试信号也为电压信号。基于此，上述将测试信号的大小从驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值可以是：将测试信号的电压值从驱动信号值逐步调高至预设的标准电压值。具体地，可以在预设时长(如30分钟)内，将测试信号的电压值从驱动信号值逐步调高至标准电压值。也即是说，在预设时长的开始时刻，向发光器件输出的测试信号的电压值为驱动信号值，然后可以匀速或非匀速调高测试信号的电压值，在预设时长的结束时刻，测试信号的电压值为标准电压值。
示例性地，若驱动信号为电流信号，则测试信号也为电流信号。基于此，上述将测试信号的大小从驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值可以是：将测试信号的电流值从驱动信号值逐步调高至预设的标准电流值(如2mA)。具体地，可以在预设时长(如30分钟)内，将测试信号的电流值从驱动信号值逐步调高至标准电流值。也即是说，在预设时长的开始时刻，向发光器件输出的测试信号的电流值为驱动信号值，然后可以匀速或非匀速调高测试信号的电流值，在预设时长的结束时刻，测试信号的电流值为标准电流值。
步骤203，通过采集装置采集发光器件发射的光信号，获得与光信号对应的实时光电流；
在本申请实施例中，在电源装置开始向发光器件输出测试信号的同时，终端设备控制采集装置实时采集发光器件发射的光信号，采集装置将采集到的该光信号转换为对应的实时光电流后，将该实时光电流输入到终端设备。其中，实时光电流可以用于反映发光器件的亮度，具体地，实时光电流与发光器件的亮度呈正比，发光器件的亮度越高，则对应的实时光电流越大，反之，发光器件的亮度越低，则对应的实时光电流越小。
步骤204，根据实时光电流和参考亮度得到发光器件的实时亮度，以确定发光器件的寿命。
在本申请实施例中，由于实时光电流与发光器件的亮度呈正比，因此，可以根据参考亮度计算出实时光电流与发光器件的亮度之间的比例关系。得到该比例关系后，对于每一个实时光电流，只需根据该比例关系，即可计算出该实时光电流所对应的发光器件的实时亮度，从而测试发光器件的寿命。应理解的是，发光器件的寿命通常较长，因此，上述根据实时光电流和参考亮度计算发光器件的实时亮度的步骤将会周期性重复执行，直到测试出发光器件的寿命。
可选地，上述步骤204可以具体包括：
A1、根据初始时刻的实时光电流和参考亮度计算校正因子；
A2、将初始时刻之后的实时光电流与校正因子的乘积作为发光器件的实时亮度；
A3、根据发光器件的实时亮度测试发光器件的寿命。
在本申请实施例中，初始时刻即为测试信号的大小等于驱动信号值的时刻。例如，终端设备在0分钟时开始控制电源装置向发光器件输出测试信号。在0分钟时，测试信号的大小为驱动信号值，然后将测试信号的大小逐步调高，在30分钟时，测试信号的大小调高至标准信号值。基于此种情况，初始时刻即为0分钟。根据初始时刻的实时光电流和参考亮度，即可得到实时光电流与发光器件的亮度之间的比例关系，该比例关系可以用校正因子表示。其中，初始时刻之后的实时光电流即采集装置在初始时刻之后的时间采集到的光信号所对应的实时光电流。由于校正因子指示实时光电流与发光器件的亮度之间的比例关系，因此，可以将初始时刻之后的实时光电流乘以校正因子，并将乘积作为发光器件的实时亮度。例如，假设校正因子为10，在第一时刻，实时光电流为5A，则将实时光电流5A乘以校正因子10得到发光器件的实时亮度为50cd/m2，在第二时刻，实时光电流为4A，则将实时光电流4A乘以校正因子10得到发光器件的实时亮度为40cd/m2。在得到发光器件的实时亮度后，根据发光器件的实时亮度的变化情况，即可得到发光器件的寿命。
可选地，上述步骤A3可以具体包括：
将发光器件的实时亮度与目标亮度进行比较；
当发光器件的实时亮度衰减至目标亮度时，得到发光器件的寿命。
在本申请实施例中，目标亮度为最大实时亮度与预设的亮度衰减百分比的乘积，最大实时亮度即测试信号达到标准信号值时发光器件的实时亮度。例如，从第一时刻到第二时刻，执行上述将测试信号的大小从驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值的步骤，即在第二时刻，测试信号达到标准信号值，那么，发光器件在第二时刻的实时亮度即为最大实时亮度。亮度衰减百分比可以由用户根据需要设置，例如，用户需要测试发光器件到达半衰期的寿命，则可以设置亮度衰减百分比为50％，此时，目标亮度即为最大实时亮度的一半。
为了得到发光器件的寿命，需要将发光器件的实时亮度与目标亮度进行比较，当检测到发光器件的实时亮度等于目标亮度时，即可得到发光器件的寿命。其中，发光器件的寿命为发光器件的实时亮度从最大实时亮度衰减至目标亮度所经过的时长。
举例来说明，假设发光器件在第二时刻的实时亮度为最大实时亮度，该最大实时亮度为400cd/m2，目标亮度为200cd/m2；在第三时刻，检测到发光器件的实时亮度为300cd/m2，在第四时刻，检测到发光器件的实时亮度为200cd/m2，已经衰减至目标亮度，则将第二时刻到第四时刻的时长确定为发光器件的寿命。
由上可见，本申请方案中，首先获取驱动信号值和参考亮度，上述参考亮度为上述发光器件在驱动信号下的亮度，上述驱动信号值小于预设的信号阈值，然后向上述发光器件输出测试信号，并将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值，通过上述采集装置实时采集上述发光器件发射的光信号，获得与上述光信号对应的实时光电流，最后根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命。本申请方案基于发光不均匀的发光器件在大小较小的信号驱动下，发出的光的亮度较为稳定的特性，将发光器件在驱动信号下的亮度作为参考亮度，该驱动信号的大小小于信号阈值，使得根据该参考亮度计算出的发光器件的实时亮度较准确，并且，在向发光器件输出测试信号的过程中，将测试信号的大小从驱动信号值逐步调高至标准信号值，使发光器件的各功能层达到稳定状态后，再对发光器件进行寿命测试。通过上述方式，可以准确测试出发光不均匀的发光器件的寿命。
应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
图5示出了本申请实施例提供的一种发光器件的寿命测试装置的结构示意图，该终端设备连接有采集装置，为了便于说明，仅示出了与本申请实施例相关的部分。
该寿命测试装置500包括：
数据获取单元501，用于获取驱动信号值和参考亮度，上述参考亮度为上述发光器件在驱动信号下的亮度，上述驱动信号值小于预设的信号阈值；
信号控制单元502，用于向上述发光器件输出测试信号，并将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；
电流获得单元503，用于通过上述采集装置采集上述发光器件发射的光信号，获得与上述光信号对应的实时光电流；
寿命测试单元504，用于根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命。
可选地，上述驱动信号及上述测试信号均为电压信号，上述信号控制单元502，具体用于将上述测试信号的电压值从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准电压值。
可选地，上述驱动信号及上述测试信号均为电流信号，上述信号控制单元502，具体用于将上述测试信号的电流值从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准电流值。
可选地，上述寿命测试单元504包括：
因子计算子单元，用于根据初始时刻的实时光电流和上述参考亮度计算校正因子，上述初始时刻为上述测试信号的大小等于上述驱动信号值的时刻；
亮度计算子单元，用于将上述初始时刻之后的实时光电流与上述校正因子的乘积作为上述发光器件的实时亮度；
寿命测试子单元，用于根据上述发光器件的实时亮度测试上述发光器件的寿命。
可选地，上述寿命测试子单元包括：
亮度比较子单元，用于将上述发光器件的实时亮度与目标亮度进行比较；
亮度衰减检测子单元，用于当上述发光器件的实时亮度衰减至上述目标亮度时，得到上述发光器件的寿命；其中，上述目标亮度为最大实时亮度与预设的亮度衰减百分比的乘积，上述最大实时亮度为上述测试信号达到上述标准信号值时上述发光器件的实时亮度，上述发光器件的寿命为上述发光器件的实时亮度从上述最大实时亮度衰减至上述目标亮度所经过的时长。
可选地，上述因子计算子单元，具体用于将上述参考亮度与上述初始时刻的实时光电流的比值作为上述校正因子。
可选地，上述参考亮度为上述发光器件的发光区域上预设数量个指定位置点的亮度的平均值。
由上可见，本申请方案中，首先获取驱动信号值和参考亮度，上述参考亮度为上述发光器件在驱动信号下的亮度，上述驱动信号值小于预设的信号阈值，然后向上述发光器件输出测试信号，并将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值，通过上述采集装置实时采集上述发光器件发射的光信号，获得与上述光信号对应的实时光电流，最后根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命。本申请方案基于发光不均匀的发光器件在大小较小的信号驱动下，发出的光的亮度较为稳定的特性，将发光器件在驱动信号下的亮度作为参考亮度，该驱动信号的大小小于信号阈值，使得根据该参考亮度计算出的发光器件的实时亮度较准确，并且，在向发光器件输出测试信号的过程中，将测试信号的大小从驱动信号值逐步调高至标准信号值，使发光器件的各功能层达到稳定状态后，再对发光器件进行寿命测试。通过上述方式，可以准确测试出发光不均匀的发光器件的寿命。
图6为本申请一实施例提供的终端设备的结构示意图。如图6所示，该实施例的终端设备6包括：至少一个处理器60(图6中仅示出一个)、存储器61、存储在上述存储器61中并可在上述至少一个处理器60上运行的计算机程序62，上述处理器60执行上述计算机程序62时实现以下步骤：
获取驱动信号值和参考亮度，上述参考亮度为上述发光器件在驱动信号下的亮度，上述驱动信号值小于预设的信号阈值；
向上述发光器件输出测试信号，并将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；
通过上述采集装置采集上述发光器件发射的光信号，获得与上述光信号对应的实时光电流；
根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命。
假设上述为第一种可能的实施方式，则在第一种可能的实施方式作为基础而提供的第二种可能的实施方式中，上述驱动信号及上述测试信号均为电压信号；上述将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值，包括：
将上述测试信号的电压值从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准电压值。
在上述第一种可能的实施方式作为基础而提供的第三种可能的实施方式中，上述驱动信号及上述测试信号均为电流信号；上述将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值，包括：
将上述测试信号的电流值从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准电流值。
在上述第一种可能的实施方式作为基础而提供的第四种可能的实施方式中，上述根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命，包括：
根据初始时刻的实时光电流和上述参考亮度计算校正因子，上述初始时刻为上述测试信号的大小等于上述驱动信号值的时刻；
将上述初始时刻之后的实时光电流与上述校正因子的乘积作为上述发光器件的实时亮度；
根据上述发光器件的实时亮度测试上述发光器件的寿命。
在上述第四种可能的实施方式作为基础而提供的第五种可能的实施方式中，上述根据上述发光器件的实时亮度测试上述发光器件的寿命，包括：
将上述发光器件的实时亮度与目标亮度进行比较；
当上述发光器件的实时亮度衰减至上述目标亮度时，得到上述发光器件的寿命；
其中，上述目标亮度为最大实时亮度与预设的亮度衰减百分比的乘积，上述最大实时亮度为上述测试信号达到上述标准信号值时上述发光器件的实时亮度，上述发光器件的寿命为上述发光器件的实时亮度从上述最大实时亮度衰减至上述目标亮度所经过的时长。
在上述第四种可能的实施方式作为基础而提供的第六种可能的实施方式中，上述根据初始时刻的实时光电流和上述参考亮度计算校正因子，包括：
将上述参考亮度与上述初始时刻的实时光电流的比值作为上述校正因子。
在上述第一种可能的实施方式作为基础，或上述第二种可能的实施方式作为基础，或上述第三种可能的实施方式作为基础，或上述第四种可能的实施方式作为基础，或上述第五种可能的实施方式作为基础，或上述第六种可能的实施方式作为基础而提供的第七种可能的实施方式中，上述参考亮度为上述发光器件的发光区域上预设数量个指定位置点的亮度的平均值。
上述终端设备可包括，但不仅限于，处理器60、存储器61。本领域技术人员可以理解，图6仅仅是终端设备6的举例，并不构成对终端设备6的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如还可以包括输入输出设备、网络接入设备等。
所称处理器60可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，该处理器60还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
上述存储器61在一些实施例中可以是上述终端设备6的内部存储单元，例如终端设备6的硬盘或内存。上述存储器61在另一些实施例中也可以是上述终端设备6的外部存储设备，例如上述终端设备6上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，上述存储器61还可以既包括上述终端设备6的内部存储单元也包括外部存储设备。上述存储器61用于存储操作系统、应用程序、引导装载程序(BootLoader)、数据以及其他程序等，例如上述计算机程序的程序代码等。上述存储器61还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
由上可见，本申请方案中，首先获取驱动信号值和参考亮度，上述参考亮度为上述发光器件在驱动信号下的亮度，上述驱动信号值小于预设的信号阈值，然后向上述发光器件输出测试信号，并将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值，通过上述采集装置实时采集上述发光器件发射的光信号，获得与上述光信号对应的实时光电流，最后根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命。本申请方案基于发光不均匀的发光器件在大小较小的信号驱动下，发出的光的亮度较为稳定的特性，将发光器件在驱动信号下的亮度作为参考亮度，该驱动信号的大小小于信号阈值，使得根据该参考亮度计算出的发光器件的实时亮度较准确，并且，在向发光器件输出测试信号的过程中，将测试信号的大小从驱动信号值逐步调高至标准信号值，使发光器件的各功能层达到稳定状态后，再对发光器件进行寿命测试。通过上述方式，可以准确测试出发光不均匀的发光器件的寿命。
需要说明的是，上述装置/单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本申请方法实施例基于同一构思，其具体功能及带来的技术效果，具体可参见方法实施例部分，此处不再赘述。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将上述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，上述计算机可读存储介质存储有计算机程序，上述计算机程序被处理器执行时实现上述各个方法实施例中的步骤。
本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述各个方法实施例中的步骤。
上述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，上述计算机程序包括计算机程序代码，上述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。上述计算机可读介质至少可以包括：能够将计算机程序代码携带到终端设备的任何实体或装置、记录介质、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质。例如U盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等。在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不可以是电载波信号和电信信号。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/网络设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/网络设备实施例仅仅是示意性的，例如，上述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种发光器件的寿命测试方法，其特征在于，应用于终端设备，所述终端设备连接有采集装置，所述寿命测试方法包括：
获取驱动信号值和参考亮度，所述参考亮度为所述发光器件在驱动信号下的亮度，所述驱动信号值小于预设的信号阈值；
向所述发光器件输出测试信号，并将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；
通过所述采集装置采集所述发光器件发射的光信号，获得与所述光信号对应的实时光电流；
根据所述实时光电流和所述参考亮度得到所述发光器件的实时亮度，以确定所述发光器件的寿命。
2.根据权利要求1所述的寿命测试方法，其特征在于，所述驱动信号及所述测试信号均为电压信号；所述将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值，包括：
将所述测试信号的电压值从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准电压值。
3.根据权利要求1所述的寿命测试方法，其特征在于，所述驱动信号及所述测试信号均为电流信号；所述将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值，包括：
将所述测试信号的电流值从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准电流值。
4.根据权利要求1所述的寿命测试方法，其特征在于，所述根据所述实时光电流和所述参考亮度得到所述发光器件的实时亮度，以确定所述发光器件的寿命，包括：
根据初始时刻的实时光电流和所述参考亮度计算校正因子，所述初始时刻为所述测试信号的大小等于所述驱动信号值的时刻；
将所述初始时刻之后的实时光电流与所述校正因子的乘积作为所述发光器件的实时亮度；
根据所述发光器件的实时亮度测试所述发光器件的寿命。
5.根据权利要求4所述的寿命测试方法，其特征在于，所述根据所述发光器件的实时亮度测试所述发光器件的寿命，包括：
将所述发光器件的实时亮度与目标亮度进行比较；
当所述发光器件的实时亮度衰减至所述目标亮度时，得到所述发光器件的寿命；
其中，所述目标亮度为最大实时亮度与预设的亮度衰减百分比的乘积，所述最大实时亮度为所述测试信号达到所述标准信号值时所述发光器件的实时亮度，所述发光器件的寿命为所述发光器件的实时亮度从所述最大实时亮度衰减至所述目标亮度所经过的时长。
6.根据权利要求4所述的寿命测试方法，其特征在于，所述根据初始时刻的实时光电流和所述参考亮度计算校正因子，包括：
将所述参考亮度与所述初始时刻的实时光电流的比值作为所述校正因子。
7.根据权利要求1至6任一项所述的寿命测试方法，其特征在于，所述参考亮度为所述发光器件的发光区域上预设数量个指定位置点的亮度的平均值。
8.一种发光器件的寿命测试装置，其特征在于，应用于终端设备，所述终端设备连接有采集装置，所述寿命测试装置包括：
数据获取单元，用于获取驱动信号值和参考亮度，所述参考亮度为所述发光器件在驱动信号下的亮度，所述驱动信号值小于预设的信号阈值；
信号控制单元，用于向所述发光器件输出测试信号，并将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；
电流获得单元，用于通过所述采集装置采集所述发光器件发射的光信号，获得与所述光信号对应的实时光电流；
寿命测试单元，用于根据所述实时光电流和所述参考亮度得到所述发光器件的实时亮度，以确定所述发光器件的寿命。
9.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。
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