CN114333694B - 信号检测方法及电路、温度传感器和硅基有机发光显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种信号检测方法及电路、温度传感器和硅基有机发光显示装置，该信号检测方法包括：获取驱动芯片中各时钟信号的时钟频率；根据各时钟信号的时钟频率，确定计数器的计数周期；计数器至少包括第一计数器；在计数周期的结束时刻，获取第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值；其中，在计数周期的起始时刻，第一计数器的计数值置为0；根据第一计数值，确定待检测信号的检测结果。本发明实施例能够提高第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值的准确性，从而提高所确定的待检测吸信号的检测结果的准确性。

Description

信号检测方法及电路、温度传感器和硅基有机发光显示装置

技术领域

本发明实施例涉及信号检测技术，尤其涉及一种信号检测方法及电路、温度传感器和硅基有机发光显示装置。

背景技术

硅基有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示器是将有机发光二极管集成于硅芯片之上的一种显示器，其具有自发光、节能、高对比度等优点，而被广泛应用于可穿戴显示设备，诸如增强现实显示装置或虚拟现实显示装置等显示装置中。

但是，由于针对硅基OLED显示器所处环境的温度其对OLED显示器的发光效率具有极大的影响，因此亟需一种具有高侦测性与低偏移量的温度检测方式，准确检测其所处环境的温度，以作为硅基OLED显示器发光补偿的参考信号。

发明内容

本发明提供一种信号检测方法及电路、温度传感器和硅基有机发光显示装置，以实现对例如温度等信号的准确检测。

第一方面，本发明实施例提供了一种信号检测方法，应用于驱动芯片，该信号检测方法包括：

获取所述驱动芯片中各时钟信号的时钟频率；

根据所述各时钟信号的时钟频率，确定计数器的计数周期；所述计数器至少包括第一计数器；

在所述计数周期的结束时刻，获取所述第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值；其中，在所述计数周期的起始时刻，所述第一计数器的计数值置为0；

根据所述第一计数值，确定所述待检测信号的检测结果。

第二方面，本发明实施例还提供了一种信号检测电路，集成于驱动芯片中，，该信号检测电路包括：计数器和数据处理器；

所述计数器至少包括第一计数器；所述第一计数器用于对每个计数周期内，待检测信号的振荡信号进行计数，并输出第一计数值；

所述数据处理器用于执行上述信号检测方法。

第三方面，本发明实施例还提供了一种温度传感器，集成于驱动芯片中，该温度传感器包括：上述信号检测电路。

第四方面，本发明实施例还提供了一种硅基有机发光显示装置，包括：硅基有机发光显示屏和驱动芯片；

所述驱动芯片中集成有上述温度传感器。

本发明实施例通过驱动芯片中各时钟信号的时钟频率，确定计数器的计数周期，使得第一计数器采用该计数周期进行计数，并在计数周期的结束时刻，根据第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值，确定所述待检测信号的检测结果。本发明实施例能够解决因驱动芯片中各时钟信号产生的定量抖动，使得待检测信号的振荡信号产生频率漂移，而影响计数器的计数结果的技术问题，从而达到提高第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的计数准确性，以在基于该第一计数器的第一计数值确定待检测信号的检测结果时，能够提高所确定的检测结果的准确性；当当待检测信号为硅基有机发光显示屏所处环境温度信号，且硅基有机发光显示屏中各发光元件的发光亮度基于该检测结果进行亮度补偿时，能够提高各发光元件的发光准确性，进而提高硅基有机发光显示屏的显示效果。

附图说明

图1是现有技术的一种发光元件的发光亮度与温度的关系示意图；

图2是本发明实施例提供的一种理想状态下的振荡信号的示意图；

图3是本发明实施例提供的一种非理想状态下的振荡信号的示意图；

图4本发明实施例提供的一种信号检测方法的流程示意图；

图5是本发明实施例提供的一种驱动芯片的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的一种振荡信号的抖动周期示意图；

图7是本发明实施例提供的又一种信号检测方法的流程示意图；

图8是本发明实施例提供的一种信号检测电路的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1是现有技术的一种发光元件的发光亮度与温度的关系示意图，该发光元件包括但不限于硅基有机发光二极管(OLED)元件。如图1所示，同一灰阶电压下，随着温度的升高，发光元件的发光亮度越来越高，即温度对发光元件的发光亮度具有较大的影响。据此，通常会在硅基OLED显示屏中设置温度感测电路，以实时探测硅基OLED显示屏所处环境的温度，并基于不同的温度对硅基OLED显示屏中的发光元件给予不同的亮度补偿。如此，发光元件的亮度补偿的准确性依赖于温度感测电路所探测的温度的准确性。

现有技术中，硅基OLED显示屏中设置有温度感测电路振荡器和计数器；其中，振荡器产生的振荡信号的频率会随所处环境的温度的变化而变化；计数器会对振荡器所产生的振荡信号进行计数，基于计数器的计数结果，可以获知当前的振荡信号的频率，根据振荡信号的频率可以获知当前的环境温度。

图2是本发明实施例提供的一种理想状态下的振荡信号的示意图，如图2所示，在理想状态下振荡器所产生的振荡信号在其最大幅值Fmax'和最小幅值Fmin'之间随时间的推移呈规律性变化；此时，同一温度下，每个计数周期Tm'内，计数器对振荡信号进行计数的计数结果相同，能够反映出理想状态下的温度检测结果。

但是，由于振荡器受环境或其它固有电信号的影响而会产生抖动，使得振荡器所产生的振荡信号的频率发生漂移，导致计数器对振荡信号进行计数的计数结果产生偏移。其中，振荡器所产生的振荡信号受到的抖动按照产生原因分成随机抖动和定量抖动，随机抖动为噪声(例如不可控的环境噪声)造成的，其抖动方向不规律，而定量抖动则常为该振荡器所处系统中其他电信号(例如驱动芯片中固有的时钟信号、电源信号)的频率造成的，抖动方向规律。图3是本发明实施例提供的一种非理想状态下的振荡信号的示意图，如图3所示，在受到环境或其它固有电信号的影响时，振荡器所产生的振荡信号的频率发生漂移，且无法随时间的推移在其最大幅值Fmax'和最小幅值Fmin'之间呈规律性变化；此时，同一温度下，前一个计数周期内振荡信号的频率发生漂移的情况与后一计数周期内振荡信号的频率发生漂移的情况不同，导致前一计数周期的计数结果会与后一个计数周期的计数结果不同，致使同一温度下每次所获得的检测结果存在差异，从而影响温度感测电路所探测温度的准确性，进而在基于该温度感测电路所探测的温度对发光元件的发光亮度进行补偿时，将影响发光元件的发光准确性。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种信号检测方法，该信号检测方法应用于驱动芯片，该信号检测方法能够对待检测信号进行检测，并获得检测结果；该信号检测方法可采用本发明实施例提供的信号检测电路执行，该信号检测电路可由硬件和/或软件组成，该信号检测电路可集成于驱动芯片中。图4本发明实施例提供的一种信号检测方法的流程示意图，如图4所示，该信号检测方法包括：

步骤S110、获取驱动芯片中各时钟信号的时钟频率。

其中，驱动芯片用于驱动硅基有机发光显示屏进行显示，驱动芯片能够接收视频信号，并对视频信号进行解码、传输、存储、补偿和数模转换等处理后，向硅基有机发光显示屏中各发光元件提供显示信号，以使硅基有机发光显示屏中各发光元件进行显示发光。而在驱动芯片对视频信号进行处理的过程中，需要配合具有不同时钟频率的各时钟信号，以控制驱动芯片的启动、以及信号的解码、传输、存储、补偿和数模转换等的频率以及处理方式等。

示例性的，图5是本发明实施例提供的一种驱动芯片的结构示意图。如图5所示，驱动芯片包括接口模块11、电源模块12、数字模块13和驱动模块14；电源模块12能够为驱动芯片正常工作提供电源信号；接口模块11能够接收视频信号，并将该视频信号传输至数字模块13中；数字模块13对视频信号进行解码、传输和补偿等处理后传输至驱动模块14；驱动模块14对数字模块13处理后的信号进行存储、伽马转换等处理后转换为各发光元件对应的显示信号，并一一对应地提供至各发光元件。接口模块11、电源模块12、数字模块13和驱动模块14各自都具有一定时钟频率的时钟信号，此时，驱动芯片的所述各时钟信号至少包括启动时钟、接收时钟、数字模块主时钟等，启动时钟能够控制驱动芯片启动工作，在接收到启动时钟时，电源模块12为其它各模块提供供电电源，以使驱动芯片的其它模块能够正常工作；接口模块11依据接收时钟，以一定的频率接收视频信号；数字模块主时钟能够控制数字模块13对视频信号的处理速度。

步骤S120、根据各时钟信号的时钟频率，确定计数器的计数周期；计数器至少包括第一计数器。

步骤S130、在计数周期的结束时刻，获取第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值；其中，在计数周期的起始时刻，第一计数器的计数值置为0。

可选地，待检测信号例如可以为温度信号、湿度信号等。以待检测信号为温度信号为例，该温度信号可以为硅基有机发光显示屏所处环境的温度；此时，可通过温敏器件，例如温敏电阻，对硅基有机发光显示屏所处环境的温度进行检测；若温敏电阻为正温度系数的温敏电阻，则该温敏电阻的阻值与硅基有机发光显示屏所处环境的温度正相关，即硅基有机发光显示屏所处环境的温度越高，温敏电阻的阻值越大；相反，若温敏电阻为负温度系数的温敏电阻，则该硅基有机发光显示屏所处环境的温度越高，温敏电阻的阻值越小；通过获取温敏电阻两端的电压，即可获知该温敏电阻的阻值，从而获得硅基有机发光显示屏所处环境的温度。以温敏电阻为正温度系数的温敏电阻为例，在硅基有机发光显示屏所处环境的温度较高时，温敏电阻的阻值较大，该温敏电阻两端的电压较大；将所获取的温敏电阻两端的电压作为温度信号，即温度信号具有较大的电压；将该温度信号输入检测信号振荡器中，使得检测信号振荡器产生与该温度信号的电压值对应的振荡信号；而硅基有机发光显示屏所处环境的温度信号可与其振荡信号的频率呈正比，即温度信号的电压越大，检测信号振荡器所产生的振荡信号的频率越大；据此，通过检测振荡信号的频率，即可获知温度信号的电压；根据温度信号的电压即可获知温敏电阻的阻值；而由温敏电阻的阻值可获知硅基有机发光显示屏所处环境的温度，实现对硅基有机发光显示屏所处环境温度的检测。

由于振荡信号的频率即为其单位时间内振荡的次数，通过在计数周期内，采用第一计数器对振荡信号进行计数，可以获得计数周期内振荡信号的振荡次数，由振荡次数与计数周期的比值即可获得振荡信号在单位时间内振荡的次数，即可获知该振荡信号的频率，从而由振荡信号的频率确定温度信号的电压，再由温度信号的电压确定温敏电阻的阻值，最终由温敏电阻的阻值确定硅基有机发光显示屏所处环境的温度，实现对硅基有机发光显示屏所处环境温度的检测。

步骤S140、根据第一计数值，确定待检测信号的检测结果。

具体的，驱动芯片中的时钟信号的存在会对待检测信号的振荡信号造成干扰，使得待检测信号的振荡信号抖动而致使其频率发生漂移、周期发生变动。若将因驱动芯片中的时钟信号干扰使待检测信号的振荡信号抖动而产生的最大周期变动定量设为ΔT，待检测信号的振荡信号的固有周期设为Tn,则待检测信号的振荡信号的频率发生漂移后变为：

如此，待检测信号的振荡信号的频率发生漂移后，会在最大幅值fmax和最小幅值fmin之间变化。

相应的，当以固定时间Tm’对待检测信号的振荡信号进行计数时，若在计数时间内因待检测信号的振荡信号发生抖动而产生的频率偏移积分为Δf，则对待检测信号的振荡信号进行计数的计数值为：

N1＝Tm’×fn+Δf

N2＝Tm’×fn-Δf

其中，fn为待检测信号的振荡信号应有频率。如此，在同一温度下，采用固定时间Tm’对待检测信号的振荡信号进行计数时，每次的计数值会在N1和N2之间发生变化。

同时，因驱动芯片中的时钟信号呈周期性变化，使得因时钟信号而引起的待检测信号的振荡信号的频率偏移呈周期性变化。示例性的，如图6所示，当因受时钟信号的影响，待检测信号的振荡信号的频率偏移量呈周期性变化的抖动周期为2Tc时，若对待检测信号的振荡信号进行计数的计数时间Tm’＝Tc，则抖动周期的前半周期内对待检测信号的振荡信号进行计数的计数值为N1，而后半周期内对待检测信号的振荡信号进行计数的计数值为N2，从而使得该两个时间段内的计数值相差较大，即为2Δf。

如此，通过在获取到驱动芯片中各时钟信号的时钟频率后，可以根据所述各时钟信号的时钟频率，确定驱动芯片中时钟信号的时钟周期，并据此确定出因各时钟信号干扰使待检测信号的振荡信号发生抖动的抖动周期，以该抖动周期为基准，即可确定出计数器的计数周期Ts；或者，根据时钟信号的时钟频率，确定出因时钟信号干扰使得待检测信号的振荡信号发生抖动的抖动频率，以基于该抖动频率确定出计数器的计数频率，以根据该计数频率确定出计数器的计数周期Ts。

其中，以待检测信号为硅基有机发光显示屏所处环境的温度信号为例，振荡信号由检测信号振荡器产生，因振荡信号与硅基有机发光显示屏所处环境的温度呈正比，因此当硅基有机发光显示屏所处环境的温度越高时，检测信号振荡器所产生的振荡信号的频率越大。在采用第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数时，每个计数周期Ts的起始时刻都会将该第一计数器的计数值调整为0，如此在计数周期Ts的结束时刻所获得的第一计数值N，即为该计数周期内所统计的待检测信号的振荡信号的数量。由第一计数值N与计数周期Ts的比值，即可获得该待检测信号的振荡信号的频率，基于该振荡信号的频率通过查表或计算公式的方式，可确定出待检测信号的检测结果，该检测结构即为硅基有机发光显示屏所处环境的温度。

示例性的，以振荡信号发生抖动的抖动周期为2Tc为例，此时，计数周期Ts可以不等于aTc/2(a为奇数)，使得在计数周期中，采用第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数获得第一计数值N中所包括的待检测信号的振荡信号的频率偏移积分小于Δf，以在待检测信号相同的情况下，在不同计数周期内，采用第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值N之间相差较小；或者，当计数周期Ts为2Tc的整数倍时，在计数周期Ts内，能够抵消因时钟信号干扰而造成振荡信号的频率偏移量，使得第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值N具有较高的准确性，进而根据第一计数值N确定待检测信号的检测结果时，能够提高所确定的待检测信号的检测结果的准确性。如此，以待检测信号为硅基有机发光显示屏所处环境的温度信号为例，在计数周期Ts，采用第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值N与硅基有机发光显示屏所处环境的温度呈正比，即可根据该第一计数值N确定出硅基有机发光显示屏所处环境的温度。如此，当提高第一计数值N的准确性时，根据第一计数值N所确定出的硅基有机发光显示屏所处环境的温度更加准确，基于该硅基有机发光显示屏所处环境的温度对硅基有机发光显示屏中各发光元件的发光亮度进行补偿时，能够提高各发光元件的发光准确性，进而提高硅基有机发光显示屏的显示效果。

本发明实施例，基于驱动芯片中各时钟信号的时钟频率，确定计数器的计数周期，使得第一计数器采用该计数周期进行计数，并在计数周期的结束时刻，根据第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值，确定所述待检测信号的检测结果，以降低因驱动芯片中各时钟信号产生的定量抖动，对计数器的计数结果的影响，从而提高计数器的计数准确性，以在基于该计数器的计数值确定待检测信号的检测结果时，能够提高所确定的检测结果的准确性；当待检测信号为硅基有机发光显示屏所处环境温度信号，且硅基有机发光显示屏中各发光元件的发光亮度基于该检测结果进行亮度补偿时，能够提高各发光元件的发光准确性，进而提高硅基有机发光显示屏的显示效果。

可选的，由于驱动芯片用于驱动硅基有机发光显示屏，因此硅基有机发光显示屏的刷新频率也会引起待检测信号的振荡信号发生抖动，此时根据各时钟信号的时钟频率，确定计数器的计数周期，具体包括：获取硅基有机发光显示屏的刷新频率；根据各时钟信号的时钟频率和刷新频率，确定计数器的计数周期。图7是本发明实施例提供的又一种信号检测方法的流程示意图，如图7所示，该信号检测方法包括：

步骤S210、获取驱动芯片中各时钟信号的时钟频率。

步骤S220、获取硅基有机发光显示屏的刷新频率。

其中，硅基有机发光显示屏的刷新频率是指单位时间内该硅基有机发光显示屏所刷新的显示画面的帧数，而在硅基有机发光显示屏显示一帧显示画面时，驱动芯片会按照一定的顺序向硅基有机发光显示屏中各发光元件提供显示信号，以控制硅基有机发光显示屏中各发光元件进行显示发光，即硅基有机发光显示屏的刷新频率与驱动芯片对视频信号的处理速度和能力相关。

步骤S230、根据各时钟信号的时钟频率和刷新频率，确定计数器的计数周期。

具体的，由于在刷新硅基有机发光显示屏的显示画面时，会按照一定的顺序向硅基有机发光显示屏中各发光元件提供显示信号，提供该显示信号的过程中同样会干扰待检测信号的振荡信号，使得待检测信号的振荡信号发生抖动。因此，在确定待检测信号的振荡信号进行计数的计数周期时，也可将硅基有机发光显示屏的刷新频率考虑进去。如此，结合硅基有机发光显示屏的刷新频率和驱动芯片中时钟信号的时钟频，确定出计数器的计数周期，使得在该计数周期内对待检测信号进行计数的第一计数值能够更加准确，从而能够使根据该第一计数值确定待检测信号的检测结果更加准确。

可选的，由于硅基有机发光显示屏的功耗较大，其对待检测信号的振荡信号的影响也较大，因此可将硅基有机发光显示屏的刷新频率确定为计数器的计数频率，并基于该计数频率确定出最终的计数周期；或者，也可仅考虑驱动芯片中时钟信号的时钟频率，此时可将各时钟信号的时钟频率的公因数确定为计数器的计数频率，并基于该计数频率可以确定出计数器的计数周期；或者，也可以同时考虑硅基有机发光显示屏的刷新频率和驱动芯片中各时钟信号的时钟频率，通过将硅基有机发光显示屏的刷新频率和驱动芯片中各时钟信号的时钟频率的公因数确定为计数器的频率，并基于此确定出计数器的计数周期。

需要说明的是，上述确定计数器的计数周期的方式是通过先确定出计数器的计数频率，再由计数器的计数频率确定出计数器的计数周期；而在本发明实施例中，也可以为先由硅基有机发光显示屏的刷新频率确定出硅基有机发光显示屏的刷新周期，以及由时钟信号的时钟频率确定时钟信号的时钟周期，并直接将硅基有机发光显示屏的刷新周期确定为计数器的计数周期，或者将各时钟信号的时钟周期的公倍数确定出计数器的计数周期，或者将硅基有机发光显示屏的刷新周期与各时钟信号的时钟周期的公倍数确定出计数器的计数周期；在能够基于硅基有机发光显示屏的刷新频率和时钟信号的时钟频率确定给出计数器的计数周期的前提下，本发明实施例对计数器的计数周期的具体确定方式不做具体限定。

步骤S240、在计数周期的结束时刻，获取第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值；其中，在计数周期的起始时刻，第一计数器的计数值置为0。

步骤S250、根据第一计数值，确定待检测信号的检测结果。

本实施例通过综合考虑硅基有机发光显示屏的刷新频率和驱动芯片中各时钟信号的时钟频率，确定计数器的计数周期，从而在该计数周期内，采用第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数时，能够提高第一计数值的准确性，进而在根据第一计数值确定待检测信号的检测结果时，能够提高所确定的检测结果的准确性。

可选的，由于该信号检测方法是由集成于驱动芯片中的信号检测电路执行的，在根据第一计数值所确定的待检测信号的检测结果过程中，所有的数据均应该为驱动芯片所能处理分析的数据。因此，根据第一计数值，确定待检测信号的检测结果，具体包括：将第一计数值转换为二进制数据；去除二进制数据中的最低有效位后，作为二进制输出数据；根据二进制输出数据，确定待检测信号的检测结果。

具体的，第一计数值通常为十进制的数值，驱动芯片通常无法直接对十进制的数值进行处理分析，因此需要将第一计数值转换为二进制数据，以便于驱动芯片对其处理分析。同时，因驱动芯片对数据的处理速度和能力有限，且相较于现有技术中计数器的计数周期，依据硅基有机发光显示屏的刷新频率和/或驱动芯片中时钟信号的时钟频率所确定的计数器的计数周期为一较长的时间段，在该较长的计数周期内对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值为一较大的十进制数值，由该第一计数值直接转换的二进制数值为一较大的数集，这需要驱动芯片具有较大的处理能力和速度，才能快速对该二进制数值进行处理分析，以输出待检测信号的检测结果。通过将第一计数值直接转换的二进制数值的最低有效位去除作为二进制输出数据，相当于第一计数值的十进制数值的一半，从而能够减少驱动芯片所需处理的数据量，以使驱动芯片快速地对该二进制输出数据进行处理分析，确定待检测信号的检测结果，进而能够提高驱动芯片对第一计数值的处理分析速率，即提高驱动芯片数据处理效率。其中，根据二进制输出数据，所确定的待检测信号的检测结果，可以为由该二进制输出数据转换为十六进制数据。

可选的，在不考虑驱动芯片对数据处理速度和能力的前提下，也可以将第一计数值所转换的P位的二进制数据直接作为二进制输出数据，以直接根据该二进制输出数据，确定待检测信号的检测结果，即由第一计数值所转换的P位的二进制数据，再将该P位的二进制数据转换为十六进制数据作为输出的检测结果。

示例性的，以待检测信号为硅基有机发光显示屏所处环境的温度信号为例，表一为硅基有机发光显示屏所处环境的温度与检测结果的对应关系表。如表一所示，硅基有机发光显示屏所处环境的温度与振荡信号的频率具有正相关的关系，即硅基有机发光显示屏所处环境的温度每升高10℃，振荡信号的频率增加2Hz，随硅基有机发光显示屏所处环境的温度的升高，振荡信号的周期依次减小，计数周期内对振荡信号进行计数的第一计数值呈递增趋势，对应输出的十六进制的检测结果也呈递增趋势。在对硅基有机发光显示屏中发光元件的发光亮度进行补偿时，可以通过查表或计算公式的方式，确定出不同检测结果对应的亮度补偿值。

表一

可选的，由于待检测信号的振荡信号的频率和周期均会随着待检测信号的变化而变化，因此想要准确确定计数器的计数周期的起始时刻和结束时刻，还需要对参考脉冲信号进行计数，以作为计数周期的起始时间和结束时间的参考。此时，计数器还包括第二计数器；在计数周期的结束时刻，获取第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值之前，还包括：获取参考脉冲信号的频率作为参考频率；从计数周期的起始时刻开始，实时获取第二计数器对参考脉冲信号进行计数的第二计数值；基于第二计数值和所述参考频率，确定第一计数器的计数时长。

其中，参考脉冲信号可由参考振荡器产生，该参考振荡器所产生的参考脉冲信号的频率不会随待检测信号的变化而变化，即参考频率为固定值，该参考频率例如可以为10Hz；同样的，在计数周期的起始时刻，需要将第二计数器的计数值置为0。

具体的，基于参考脉冲信号的参考频率以及所确定的计数器的计数周期的乘积，可以确定出在计数器的计数周期内第二计数器对参考脉冲进行计数的理论值。如此，在计数周期的起始时刻，同时将第一计数器和第二计数器的计数值置为0，使得第一计数器和第二计数器同时开始计数，在第二计数器的第二计数值达到对参考脉冲进行计数的理论值时，可获知当前为计数周期的结束时刻，同时使第一计数器和第二计数器停止计数，并获取第一计数器的第一计数值，从而基于该第一计数器可以确定出待检测信号的检测结果。

本实施例，通过采用第二计数器对参考脉冲信号进行计数，以基于该第二计数器的第二计数值准确确定出计数周期的起始时刻和结束时刻，从而在计数周期内，能够进一步提高第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的准确性。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种信号检测电路，该信号检测电路能够对待检测信号进行检测，该待检测信号例如为温度信号。该信号检测电路可集成于驱动芯片中，能够执行本发明实施例提供的信号检测方法。图8是本发明实施例提供的一种信号检测电路的结构示意图，如图8所示，该信号检测电路至少包括计数器10和数据处理器20；该计数器10至少包括第一计数器101；该第一计数器101用于对每个计数周期内，待检测信号的振荡信号进行计数，并输出第一计数值；数据处理器20用于执行上述信号检测方法。

其中，由于本发明实施例提供的信号检测电路能够执行本发明实施例提供的信号检测方法，因此本发明实施例提供的信号检测电路具备本发明实施例提供的信号检测方法的技术特征，能够达到本发明实施例提供的信号检测方法的有益效果，相同之处可参照上述对本发明实施例提供的信号检测方法的描述，在此不再赘述。

可选的，继续参考图8，信号检测电路还包括检测信号振荡器30；该检测信号振荡器30用于根据待检测信号，提供待检测信号的振荡信号。

可选的，继续参考图8，信号检测电路的计数器10还包括第二计数器102；该第二计数器102用于对每个计数周期内，参考脉冲信号进行计数，并输出第二计数值。

可选的，继续参考图8，信号检测电路的还包括参考信号振荡器40；该参考信号振荡器40用于提供所述参考脉冲信号。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种温度传感器，该温度传感器集成于驱动芯片中，且该温度传感器包括本发明实施例提供的信号检测电路。因此本发明实施例提供的温度传感器具备本发明实施例提供的信号检测电路的技术特征，能够达到本发明实施例提供的信号检测电路的有益效果，相同之处可参照上述对本发明实施例提供的信号检测电路的描述，在此不再赘述。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种硅基有机发光显示装置，该硅基有机发光显示装置包括硅基有机发光显示屏和驱动芯片；驱动芯片中集成本发明实施例提供的温度传感器。因此，该硅基有机发光显示装置具备本发明实施例提供的温度传感器的技术特征，能够达到本发明实施例提供的温度传感器的有益效果，相同之处可参照上述对本发明实施例提供的温度传感器的描述，在此不再赘述。

其中，本发明实施例提供的硅基有机发光显示装置包括但不限于可穿戴显示设备(例如AR设备、VR设备等)。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (12)

1.一种信号检测方法，应用于驱动芯片，其特征在于，包括：

获取所述驱动芯片中各时钟信号的时钟频率；

根据所述各时钟信号的时钟频率，确定计数器的计数周期；所述计数器至少包括第一计数器；

在所述计数周期的结束时刻，获取所述第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值；其中，在所述计数周期的起始时刻，所述第一计数器的计数值置为0；

根据所述第一计数值，确定所述待检测信号的检测结果；

所述驱动芯片用于驱动硅基有机发光显示屏；

根据所述各时钟信号的时钟频率，确定计数器的计数周期，包括：

获取所述硅基有机发光显示屏的刷新频率；

根据所述各时钟信号的时钟频率和所述刷新频率，确定计数器的计数周期；

根据所述各时钟信号的时钟频率和所述刷新频率，确定计数器的计数周期，包括：

将所述刷新频率以及所述各时钟信号的时钟频率的公因数确定为所述计数器的计数频率；或者，将所述各时钟信号的时钟频率的公因数确定为所述计数器的计数频率；

根据所述计数器的计数频率，确定所述计数器的计数周期；

所述驱动芯片用于驱动硅基有机发光显示屏；所述待检测信号包括温度信号；

所述温度信号为所述硅基有机发光显示屏所处环境的温度。

2.根据权利要求1所述的信号检测方法，其特征在于，根据所述第一计数值，确定所述待检测信号的检测结果，包括：

将所述第一计数值转换为二进制数据；

去除所述二进制数据中的最低有效位后，作为二进制输出数据；

根据所述二进制输出数据，确定所述待检测信号的检测结果。

3.根据权利要求1所述的信号检测方法，其特征在于，根据所述第一计数值，确定所述待检测信号的检测结果，包括：

将所述第一计数值转换为P位的二进制数据作为二进制输出数据；

根据所述二进制输出数据，确定所述待检测信号的检测结果。

4.根据权利要求2或3所述的信号检测方法，其特征在于，根据所述二进制输出数据，确定所述待检测信号的检测结果，包括：

将所述二进制输出数据转换为十六进制数据，作为所述待检测信号的检测结果。

5.根据权利要求1所述的信号检测方法，其特征在于，所述计数器还包括第二计数器；

在所述计数周期的结束时刻，获取所述第一计数器对待检测信号的振荡信号进行计数的第一计数值之前，还包括：

获取参考脉冲信号的频率作为参考频率；其中，所述参考频率为固定值；

从所述计数周期的起始时刻开始，实时获取所述第二计数器对所述参考脉冲信号进行计数的第二计数值；其中，在所述计数周期的起始时刻，所述第二计数器的计数值置为0；

基于所述第二计数值和所述参考频率，确定所述第一计数器的计数时长。

6.根据权利要求1所述的信号检测方法，其特征在于，所述硅基有机发光显示屏所处环境的温度信号与所述振荡信号的频率呈正比。

7.一种信号检测电路，集成于驱动芯片中，其特征在于，包括：计数器和数据处理器；

所述计数器至少包括第一计数器；所述第一计数器用于对每个计数周期内，待检测信号的振荡信号进行计数，并输出第一计数值；

所述驱动芯片用于驱动硅基有机发光显示屏；

获取所述驱动芯片中各时钟信号的时钟频率以及获取所述硅基有机发光显示屏的刷新频率；

将所述刷新频率以及所述各时钟信号的时钟频率的公因数确定为所述计数器的计数频率；或者，将所述各时钟信号的时钟频率的公因数确定为所述计数器的计数频率；

根据所述计数器的计数频率，确定所述计数器的计数周期；

所述待检测信号包括温度信号，所述温度信号为硅基有机发光显示屏所处环境的温度；

所述数据处理器用于执行权利要求1-6任一项所述的信号检测方法。

8.根据权利要求7所述的信号检测电路，其特征在于，还包括：检测信号振荡器；

所述检测信号振荡器用于根据所述待检测信号，提供所述待检测信号的振荡信号。

9.根据权利要求7所述的信号检测电路，其特征在于，所述计数器还包括第二计数器；

所述第二计数器用于对每个所述计数周期内，参考脉冲信号进行计数，并输出第二计数值。

10.根据权利要求9所述的信号检测电路，其特征在于，还包括：参考信号振荡器；所述参考信号振荡器用于提供所述参考脉冲信号。

11.一种温度传感器，集成于驱动芯片中，其特征在于，包括：权利要求7-10任一项所述的信号检测电路。

12.一种硅基有机发光显示装置，其特征在于，包括：硅基有机发光显示屏和驱动芯片；所述驱动芯片中集成有权利要求11所述的温度传感器。

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