CN114333661A - 显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开涉及显示面板视觉检测技术领域，特别涉及了一种显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质，包括获取显示面板的发光工作频率；对发光工作频率进行信号处理；根据信号处理后的发光工作频率设定采集模块的工作时钟；控制采集模块在接收到显示面板发出的触发信号时，采集显示面板的视频信息，触发信号的频率与显示面板的发光工作频率相同；对视频信息进行分析，获取检测结果信息。通过采用将显示面板的时钟信号作为采集模块触发信号的触发模式，可以减少采集模块获取的显示面板视频信息中的频闪现象，从而在对视频信息进行分析时，算法无须再针对频闪现象作出处理。利用上述方法可以减少人力、物力成本，提高显示面板的产品质量。

Description

显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质

技术领域

本发明涉及显示面板视觉检测技术领域，特别是涉及一种显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质。

背景技术

目前通常采用常规的AOI(Automated Optical Inspection，自动光学检测)检测方案，来实现针对OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光半导体)显示面板的低灰阶(如32灰阶)抖动检测。

常规的面板AOI检测采用大面阵相机和小面阵相机的组合来采集被测产品的检测物图像，采用的是单张取图模式。然而，利用面阵相机直接对被测产品录制视频，存在频闪干扰的问题，难以提取视频信息中的抖动特征。

发明内容

基于此，有必要针对直接对被测产品录制视频会存在频闪干扰的问题，提供一种显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质。

一种显示面板工业检测方法，包括获取显示面板的发光工作频率；对所述发光工作频率进行信号处理；根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟；控制所述采集模块在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。

在其中一个实施例中，所述根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟包括通过所述采集模块的外部触发端口获取信号处理后的所述发光工作频率；根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率；将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟。

在其中一个实施例中，所述对所述发光工作频率进行信号处理包括对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。

一种显示面板工业检测系统，包括检查机，与显示面板相连接，用于获取所述显示面板的发光工作频率；信号处理模块，与所述检查机相连接，用于对所述发光工作频率进行信号处理；采集模块，分别与所述显示面板和所述信号处理模块相连接，用于根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；检测分析模块，与所述采集模块相连接，用于对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。

在其中一个实施例中，所述信号处理模块包括放大单元，用于对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。

在其中一个实施例中，所述采集模块包括摄像模块，用于根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；所述摄像模块包括：外部触发端口，与所述信号处理模块相连接，用于获取信号处理后的所述发光工作频率；数据处理单元，与所述外部触发端口相连接，用于根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率，还用于将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟；探测端口，与所述显示面板相连接，用于接收所述显示面板发出的触发信号。

在其中一个实施例中，所述采集模块的快门时间小于所述显示面板的发光工作频率。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项实施例所述的显示面板工业检测方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项实施例所述的显示面板工业检测方法的步骤。

一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项实施例所述的显示面板工业检测方法的步骤。

上述显示面板工业检测方法，通过获取显示面板的发光工作频率，并将发光工作频率作为采集模块的工作时钟，可以使显示面板的信号时钟与采集模块内部的时钟一致。同时，将显示面板的时钟信号作为采集模块的触发信号，采集模块在接收到触发信号后，实时采集显示面板的视频信息，进而对采集到的视频信息进行分析，获取针对显示面板的检测结果。利用本公开提供的显示面板工业检测方法，采用简单的采集模块即可实现对显示面板的视觉检测。通过采用将显示面板的时钟信号作为采集模块触发信号的触发模式，可以减少采集模块获取的显示面板视频信息中的频闪现象，从而在对视频信息进行分析时，算法无须再针对频闪现象作出处理。利用上述方法可以减少人力、物力成本，并提高显示面板的产品质量。

附图说明

为了更清楚地说明本说明书实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本公开其中一个实施例中显示面板工业检测方法的方法流程示意图；

图2为本公开其中一个实施例中根据发光工作频率设定采集模块工作时钟的方法流程示意图；

图3为本公开其中一个实施例中显示面板工业检测系统的结构示意图；

图4为本公开其中一个实施例中放大单元的电路结构示意图；

图5为本公开其中一个实施例中采集模块的电路结构示意图；

图6为本公开其中一个实施例中显示面板工业检测装置的示意框图；

图7为本公开其中一个实施例中计算机设备的内部结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的优选实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反的，提供这些实施方式的目的是为了对本发明的公开内容理解得更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

目前通常采用常规的AOI检测方案，来实现针对OLED显示面板的低灰阶(如32灰阶)抖动检测。现有的面板AOI检测采用大面阵相机和小面阵相机的组合来采集被测产品的检测物图像，在图像采集中采用的是单张取图模式。然而，利用单张取图模式对显示面板的画面抖动进行采集时，根本不能采集到足够的图像数据。而且，如果直接对被测产品录制视频，则会存在频闪干扰的问题，难以提取到视频信息中的抖动特征。另外，OLED的驱动IC(Integrated Circuit，集成电路)为显示面板提供的驱动时钟通常不为60Hz整，所以令相机的快门时间为OLED驱动时钟的倍数也无法解决频闪干扰的问题。

为了解决在录制被测产品时存在的频闪干扰问题，本公开提供了一种显示面板工业检测方法，采用非常规的AOI检测方案，来实现对OLED显示面板低灰阶的抖动检测。

图1为本公开其中一个实施例中显示面板工业检测方法的方法流程示意图，在其中一个实施例中，显示面板工业检测方法可以包括如下步骤S100至步骤S400。

步骤S100：获取显示面板的发光工作频率。

由于显示面板上显示的动态图像或视频，其实是由一幅幅静态图像组成的，相邻两幅图像之间略有差别。每一幅图像称为一帧，显示极短时间后切换成下一帧。在两帧之间的过渡是全黑，时间极短，但可以为显示下一幅图像做好充分准备。由于人的眼睛有视觉暂留现象，看到的图像不会立即消失，因此看到的各帧是连贯的。显示面板的发光工作频率即两帧图像之间切换的频率，也即刷新频率。而摄像机在拍摄视频时，也是一幅一幅静态图像拍摄的，各帧之间差别很小。当两种设备的刷新频率不同时，就会导致频闪问题。因此，本公开的显示面板工业检测方法通过获取显示面板的发光工作频率即刷新频率，并根据显示面板的发光工作频率调整采集模块的工作时钟，来解决采集视频信息时可能存在的频闪问题。

在本公开的一些实施例中，上述显示面板工业检测方法其中一个应用场景可以为用于对OLED显示面板进行低灰阶抖动检测。在应用于针对OLED显示面板的低灰阶抖动检测时，可以根据OLED显示面板自身的发光工作特性来获取显示面板的发光工作频率。由于OLED显示面板是通过驱动IC输出驱动信号以驱动显示面板内像素发光的，因此OLED显示面板的发光工作频率与驱动IC的工作时钟相同，可以通过获取驱动IC的工作时钟来获取显示面板的发光工作频率。

在一些其他的实施例中，也可以采用其他方式实现获取显示面板发光工作频率的目的。例如，通过设定显示面板驱动IC的工作时钟为预设值，即可确定显示面板的发光工作频率为预设值。

步骤S200：对发光工作频率进行信号处理。

在根据显示面板的发光工作频率设定采集模块的工作时钟之前，可以对发光工作频率按照预期的处理效果及要求进行加工。在本公开的一些实施例中，可以对发光工作频率进行提取、变换、分析、放大、滤波等处理，以便抽取出准确的发光频率信息。

步骤S300：根据信号处理后的发光工作频率设定采集模块的工作时钟。

在对发光工作频率进行信号处理后，可以获取预期的目标信号，从而根据目标信号来设定采集模块的工作时钟。采集模块的工作时钟可以与显示面板的发光工作频率相同，采集模块的工作时钟也可以为显示面板的发光工作频率的整数倍。当采集模块的工作时钟与显示面板的发光工作频率同频率刷新时，可以解决视频采集中可能出现的频闪问题。

步骤S400：控制采集模块在接收到显示面板发出的触发信号时，采集显示面板的视频信息，触发信号的频率与显示面板的发光工作频率相同。

采集模块可以根据接收到的触发信号执行视频图像采集操作，因此令采集模块触发信号的频率与显示面板的发光工作频率相同，从而采集模块在执行视频图像采集操作时的刷新频率可以与显示面板的发光工作频率同步。在其中一个实施例中，可以采用来自显示面板的时钟信号作为触发信号，采集模块在接收到触发信号后，实时对显示面板采集视频信息，显示面板两帧图像之间切换的频率，与采集模块在拍摄视频时采集到的静态图像之间拍摄的间隔频率相同，有效地减少了视频信息采集时频闪的干扰。

步骤S500：对视频信息进行分析，获取检测结果信息。

通过对待测显示面板采集到的视频信息进行分析，可以实现对OLED显示模块的低灰阶抖动进行检测的目的，获取该显示面板的检测结果信息。例如，可以预先对合格的OLED显示面板进行视频信息采集，根据合格的OLED显示面板对应的视频信息获取标准抖动映射值。对采集到的视频信息进行分析，以获取待测显示面板的测试映射值，将测试映射值与标准抖动映射值进行比较，从而判断该待测显示面板是否为合格的产品。当测试映射值比标准抖动映射值高时，可以判断该待测显示面板是不良品，该待测显示面板的检测结果信息即为不合格；反之，当测试映射值小于或等于标准抖动映射值时，可以判断该待测显示面板是合格品，该待测显示面板的检测结果信息即为合格。

上述显示面板工业检测方法，通过获取显示面板的发光工作频率，将发光工作频率作为采集模块的工作时钟，可以使显示面板的信号时钟与采集模块内部的时钟一致。同时，将显示面板的时钟信号作为采集模块的触发信号，采集模块在接收到触发信号后，实时采集显示面板的视频信息，进而对采集到的视频信息进行分析，即可获取针对显示面板的检测结果。

利用本公开提供的显示面板工业检测方法，采用简单的采集模块即可实现对显示面板的视觉检测。采用将显示面板的时钟信号作为采集模块触发信号的触发模式，可以减少采集模块获取的视频信息中可能存在的频闪现象，从而后续在对视频信息进行分析时，算法无须再针对频闪现象做出处理。利用上述方法可以减少人力、物力成本，提高针对显示面板测试结果的准确率，进而提高显示面板的产品质量。

在其中一个实施例中，对发光工作频率进行信号处理可以包括对发光工作频率的峰值进行峰值放大。由于采集到的发光工作频率信号可能不满足采集模块的输入信号范围，因此，可以通过对发光工作频率的峰值进行峰值放大，以使发光工作频率达到一个可以被采集模块接收的电平信号。另外，发光工作频率在经过放大单元的方法处理后，高峰值的电平对于工业现场的电磁抗干扰能力更高。因此，放大后的发光工作频率既可以达到能够被采集模块接收的电平信号又具备了防电路干扰的功能，可以有效减少工业现场的电磁干扰。

图2为本公开其中一个实施例中根据发光工作频率设定采集模块工作时钟的方法流程示意图，在其中一个实施例中，根据信号处理后的发光工作频率设定采集模块的工作时钟可以包括如下步骤S310至步骤S330。

步骤S310：通过采集模块的外部触发端口获取信号处理后的发光工作频率。

根据OLED显示面板的发光工作特性可知，OLED显示面板是由驱动IC输出驱动信号以驱动OLED显示面板内像素发光的。因此，可以通过驱动IC得到OLED显示面板的发光工作频率，经过对该频率信号峰值的放大处理后，可以将放大后的发光工作频率接入采集模块的外部触发端口，通过外部触发端口实现采集模块接收到信号处理后的发光工作频率。

步骤S320：根据奈奎斯特理论对信号处理后的发光工作频率进行信号还原，获取发光工作频率。

由于发光工作频率在输入采集信号内部前，先对其进行了信号处理，因此采集模块可以对放大后的发光工作频率进行还原。可以利用采集模块内部的信号处理单元根据奈奎斯特理论实现对发光工作频率的信号还原，以获取初始的发光工作频率。根据奈奎斯特理论可知，当采集模块的内部采样信号频率高于初始的发光工作频率两倍时，即可将发光工作频率还原。

奈奎斯特采样定理解释了采样率和所测信号频率之间的关系，若采样率过低，低于两倍被测信号最高频率分量，那么采样数据中就会出现虚假的低频成分，会造成波形重构不准确的问题。因此，为了无失真地恢复原波形信号，采样率必须大于被测信号最高频率分量的两倍。在一些实施例中，采样率可以大于信号频率约五倍。采集模块内可以包括标准的信号发生器作为采集模块的采样信号。

在实际应用中，对采集模块选型时，可以选择发出的采样信号大于被测信号最高频率分量两倍的信号发生器。在一些其他的实施例中，可以选择发出的采样信号大于被测信号最高频率分量三倍或四倍的信号发生器，只要发出的采样信号大于被测信号最高频率分量的两倍即可。

步骤S330：将发光工作频率设定为采集模块的工作时钟。

通过令采集模块的工作时钟与显示面板的发光工作频率一致，再利用工作时钟修改过后的采集模块对检测物进行数据采集，可以保证采集模块与显示面板的刷新频率一致，从而解决视频采集中可能出现的频闪问题。

本公开通过以显示面板的频率作为整个采集模块的工作时钟，可以减少信息采集时的频闪干扰。采集模块采用来自显示面板的时钟信号作为触发信号，采集模块在接受到触发信号后，实时对显示面板采集视频信息。其中，经过信号处理可以对显示面板的时钟信号进行峰值放大，达到一个可以采集模块触发的电平信号，信号处理后获取的电平信号即为显示面板的触发信号。高峰值的电平信号对工业现场的电磁抗干扰能力更高，具备防电路干扰的能力，减少工业现场的电磁干扰对检测过程的影响。

上述显示面板工业检测方法采用简单的采集模块即可事项对OLED模组的低灰阶抖动进行检测，将显示面板的频率作为整个采集模块的工作时钟，可以有效减少视频信息的频闪现象，后续处理算法中无需再针对频闪进行处理，可以直接根据采集到的视频信息做出判断，获取检测结果信息，可以有效地减少人力、物力成本，同时提高产品的出货质量。

在其中一个实施例中，在获取显示面板的发光工作频率之前，所述方法还可以包括对采集模块的图像采集区域进行标定。采集模块的图像采集区域可以为合格显示面板的图像显示区域。可以预先对合格的显示面板进行视频信息采集，根据合格的显示面板对应的视频信息获取标准抖动测试映射值。合格的显示面板对应的视频信息获取标准抖动测试映射值即为标定值，并确定检测结果的判定方法。

在对采集到的待测显示面板对应的视频信息进行分析时，获取待测显示面板对应的视频信息中的测试映射值，并将测试映射值与标准抖动测试映射值进行比较，从而判断该待测显示面板是否为合格的产品。例如，可以当测试映射值比标准抖动测试映射值高时，判断该待测显示面板是不良品，则该待测显示面板的检测结果信息即为不合格；当测试映射值小于等于标准抖动测试映射值时，判断该待测显示面板是良品，则该待测显示面板的检测结果信息即为合格。通过在测试开始之前预先对采集模块的图像采集区域进行标定，可以进一步地提高测试结果的准确性，进而保证显示面板的产品质量。

应该理解的是，虽然说明书附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，说明书附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

基于上述显示面板工业检测方法实施例的描述，本公开还提供了一种显示面板工业检测系统。所述显示面板工业检测系统可以包括使用了本说明书实施例所述方法的系统(包括分布式系统)、软件(应用)、模块、组件、服务器、客户端等并结合必要的实施硬件的装置。基于同一创新构思，本公开实施例提供的一个或多个实施例中的显示面板工业检测系统如下面的实施例所述。由于显示面板工业检测系统解决问题的实现方案与方法相似，因此本说明书实施例具体的显示面板工业检测系统的实施可以参见前述方法的实施，重复之处不再赘述。以下所使用的，术语“单元”或者“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的显示面板工业检测系统较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。

图3为本公开其中一实施例中显示面板工业检测系统的结构示意图，在其中一个实施例中，显示面板工业检测系统可以包括检查机100、信号处理模块200、采集模块300和检测分析模块400。

检查机100，与显示面板相连接，可以用于获取显示面板的发光工作频率。

信号处理模块200，与检查机100相连接，可以用于对发光工作频率进行信号处理。

采集模块300，分别与显示面板和信号处理模块200相连接，用于根据信号处理后的发光工作频率设定采集模块300的工作时钟，还用于在接收到显示面板发出的触发信号时，采集显示面板的视频信息，触发信号的频率与显示面板的发光工作频率相同。

检测分析模块400，与采集模块300相连接，用于对视频信息进行分析，获取检测结果信息。

在其中一个实施例中，信号处理模块200可以包括放大单元。放大单元可以用于对发光工作频率的峰值进行峰值放大，放大单元的电路结构如图4所示。图4为本公开其中一实施例中放大单元的电路结构示意图，放大单元可以对发光工作频率的峰值进行峰值放大，以令发光工作频率的峰值达到一个可以触发采集模块的电平信号。

其中，放大单元的放大倍数的计算方法包括：

Vo/Vi＝1+R2/R1；

式中，Vo为输出电压值，Vi为输入电压值，R2为反馈电阻值，R1为输入电阻值。在实际应用中，可以根据测试需求，通过调整R1、R2的阻值选取来对放大单元的放大倍数进行任意调整。

在其中一个实施例中，采集模块300可以包括摄像模块，可以利用摄像模块根据信号处理后的发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还可以利用摄像模块在接收到显示面板发出的触发信号时，采集显示面板的视频信息，触发信号的频率与显示面板的发光工作频率相同。

其中，在设备选型时，可以选择带触发端口的，芯片全局曝光的工业相机作为采集模块。同时，将采样信号作为采集模块的选型标准，选择内部信号发生器发出的采样信号大于被测信号最高频率分量两倍的工业相机作为采集模块。

其中，可以利用FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)来实现摄像模块所要实现的功能，图5为本公开其中一实施例中采集模块的电路结构示意图，采集模块的电路原理可以如图5所示。摄像模块可以包括外部触发端口310、数据处理单元320和探测端口330。

外部触发端口310，与信号处理模块200相连接，可以用于获取信号处理后的发光工作频率。

数据处理单元320，与外部触发端口310相连接，可以用于根据奈奎斯特理论对信号处理后的发光工作频率进行信号还原，获取发光工作频率，还可以用于将发光工作频率设定为采集模块的工作时钟。

探测端口330，与显示面板相连接，用于接收显示面板发出的触发信号。

当放大电路处理后的信号经过外部触发端口310传输至采集模块内部后，数据处理单元320可以根据奈奎斯特理论将原始信号还原，获取显示面板的发光工作频率，并将采集系统的探测端口330的工作时钟调节至与显示面板的发光工作频率一致，再利用调节过后的采样模块对显示面板进行数据采集。由于探测端口330本来就存在工作频率是可更改属性的特点，因此通过物理连接可以将探测端口的工作频率330改变为触发信号的频率。

在其中一个实施例中，当外部触发端口310处无信号接入时，探测端口330则以FPGA自身的时钟信号进行信息采集。

在其中一个实施例中，探测端口330可以采用屏蔽线与显示面板的驱动IC相连接。通过使用屏蔽线可以进一步地在信号传输过程中屏蔽工业现场的电磁干扰。

在其中一个实施例中，采集模块的快门时间可以小于显示面板的发光工作频率。其中，采集模块的快门时间指的就是相机的曝光时间，若相机的采集曝光时间大于显示面板的刷新周期，则将会造成采集数据错乱的问题，因此设定采集模块的快门时间小于显示面板的发光工作频率，可以有效避免在数据采集过程中可能出现的数据错乱问题。

在其中一个实施例中，在正式开始对显示面板进行测试前，还可以对采集模块的整个采集部分进行标定。同时，还可以针对整个测试机台做好防震措施，以排除其他因素对测试的干扰。

上述显示面板工业检测系统中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

关于上述实施例中的显示面板工业检测系统，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

可以理解的是，本说明书中上述方法、系统等的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同/相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处。相关之处参见其他方法实施例的描述说明即可。

图6为本公开其中一实施例中显示面板工业检测装置的示意框图。参照图6，显示面板工业检测装置S00包括处理组件S20，其进一步包括一个或多个处理器，以及由存储器S22所代表的存储器资源，用于存储可由处理组件S20的执行的指令，例如应用程序。存储器S22中存储的应用程序可以包括一个或一个以上的每一个对应于一组指令的模块。此外，处理组件S20被配置为执行指令，以执行上述方法。

显示面板工业检测装置S00还可以包括：电源组件S24被配置为执行显示面板工业检测装置S00的电源管理，有线或无线网络接口S26被配置为将显示面板工业检测装置S00连接到网络，和输入输出(I/O)接口S28。显示面板工业检测装置S00可以操作基于存储在存储器S22的操作系统，例如Windows Server，Mac OS X，Unix，Linux，FreeBSD或类似。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器S22，上述指令可由显示面板工业检测装置S00的处理器执行以完成上述方法。存储介质可以是计算机可读存储介质，例如，所述计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

在示例性实施例中，还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品中包括指令，上述指令可由显示面板工业检测装置S00的处理器执行以完成上述方法。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图7所示，图7为本公开其中一个实施例中计算机设备的内部结构示意图。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和显示屏。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储采集到的显示面板的视频信息数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种显示面板工业检测方法。

该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处。尤其，对于硬件+程序类实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

需要说明的，上述所述的装置、电子设备、服务器等根据方法实施例的描述还可以包括其它的实施方式，具体的实现方式可以参照相关方法实施例的描述。同时各个方法以及装置、设备、服务器实施例之间特征的相互组合组成的新的实施例仍然属于本公开所涵盖的实施范围之内，在此不作一一赘述。

在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种显示面板工业检测方法，其特征在于，包括：

获取显示面板的发光工作频率；

对所述发光工作频率进行信号处理；

根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟；

控制所述采集模块在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；

对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。

2.根据权利要求1所述的显示面板工业检测方法，其特征在于，所述根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟包括：

通过所述采集模块的外部触发端口获取信号处理后的所述发光工作频率；

根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率；

将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟。

3.根据权利要求1或2所述的显示面板工业检测方法，其特征在于，所述对所述发光工作频率进行信号处理包括：

对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。

4.一种显示面板工业检测系统，其特征在于，包括：

检查机，与显示面板相连接，用于获取所述显示面板的发光工作频率；

信号处理模块，与所述检查机相连接，用于对所述发光工作频率进行信号处理；

采集模块，分别与所述显示面板和所述信号处理模块相连接，用于根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；

检测分析模块，与所述采集模块相连接，用于对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。

5.根据权利要求4所述的显示面板工业检测系统，其特征在于，所述信号处理模块包括：

放大单元，用于对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。

6.根据权利要求4所述的显示面板工业检测系统，其特征在于，所述采集模块包括：

摄像模块，用于根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；

所述摄像模块包括：

外部触发端口，与所述信号处理模块相连接，用于获取信号处理后的所述发光工作频率；

数据处理单元，与所述外部触发端口相连接，用于根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率，还用于将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟；

探测端口，与所述显示面板相连接，用于接收所述显示面板发出的触发信号。

7.根据权利要求4所述的显示面板工业检测系统，其特征在于，所述采集模块的快门时间小于所述显示面板的发光工作频率。

8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-3中任意一项所述的所述的显示面板工业检测方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-3中任意一项所述的所述的显示面板工业检测方法的步骤。

10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-3中任意一项所述的所述的显示面板工业检测方法的步骤。

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