CN114330385A - 一种缺列一维条形码的测试方法及计算机可读介质 - Google Patents

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林燕清
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Abstract

本发明公开了一种缺列一维条形码的测试方法及计算机可读介质,涉及存储设备领域,其以编辑的方式在原始打印数据加入缺列数据,生成可以被打印机直接使用的缺列打印数据,由打印机根据该缺列打印数据用热敏打印纸打印出缺列的一维条形码。其可以很好的真实还原出一维条形码打印缺列的情况,可以很好的避免各种现有测试方法所存在的问题。此外,由于本发明采用测试数据库记录和管理包括原始打印数据、缺列数据、缺列打印数据在内的所有相关数据,具有可重复性和可视性,且可以以编辑的方式按需真实模拟出各种缺列一维条形码,可以更全面、准确的优化扫描设备对缺列一维条形码的支持程度。

Description

一种缺列一维条形码的测试方法及计算机可读介质
技术领域
本发明涉及存储设备领域,更具体的讲是一种缺列一维条形码的测试方法及计算机可读介质。
背景技术
随着条码应用的渠道越来越多,会将一维条形码使用热敏打印机打印在热敏纸上,但是打印了一定数量的热敏纸后,热敏打印机会出现加热点失效(即打印头半导体加热部件上的一个加热点受损)等情况,加热点失效后打印出来的一维条形码就会出现缺列等情况;通常扫码库对缺列的一维条形码有着不同的支持程度(支持即可被正确识别并解码),在一定的缺裂范围内不影响解码,但缺列超过一定程度后即不能正常解码或解码后内容出现错误,需要有一种测试方法来测试打印机对一维条形码缺列的支持程度,并及时针对支持程度偏低的缺列情况进行优化和提升。
原本方法是:一、对不能扫码的缺列一维条形码进行收集后制作成为测试案例,但是由于原本条码使用热敏纸打印,热敏纸有着不能长时间保存,遇热、遇水变色,长时间后退色问题。虽然对原本收集的缺列一维条形码进行覆膜等技术能有效的减缓退色等问题,但是覆膜后条码对扫码库来说和原来不覆膜的条码介质发生了变化,不能很好的还原原始的缺列条码情况,使测试,优化出现偏差。二、选着采取复印到a4纸上等方法来避免退色,但是复印后精度、颜色深浅与原来条码有一定差别,并不能很好的还原缺列的真实情况,同样会使测试,优化出现偏差;三、采用扫描的方式记录缺列情况,但是扫描时经过了一次图片的采集处理,不能很好的记录实际的热敏打印的情况,不利于热敏打印场景缺列条码的测试,优化;因此,需要设计一种更真实,更好的针对缺列一维条形码的扫码设备测试方法。
发明内容
本发明提供一种缺列一维条形码的测试方法及计算机可读介质,目的在于解决现有技术中存在的上述问题。
本发明采用如下技术方案:
一种缺列一维条形码的测试方法,包括以下步骤:
(1)以编辑的方式输入打印内容,生成用于打印一维条形码样本的原始打印数据;上述编辑的动作包括通过人工将打印内容输入软件,或者由软件自动生成的随机打印内容。
(2)在所述打印内容确认的基础上,以编辑的方式输入添加至少一组缺列数据,生成用于打印缺列一维条形码样本的缺列打印数据。上述编辑的动作包括通过人工将缺列数据输入软件,或者由软件自动生成的随机缺列数据。
(3)根据步骤(1)和步骤(2)的方式建立含原始打印数据、缺列数据、缺列打印数据的测试数据库。
(4)按缺列打印数据用热敏打印纸打印多张该缺列一维条形码样本。
(5)用待测扫码设备分别扫码所有缺列一维条形码样本,得到各自的扫描结果。
(6)将扫描结果与原始打印数据进行数据对比和统计,得出该待测扫码设备对相应缺列情况的支持程度。
进一步,还包括以下步骤:
(7)利用步骤(6)的数据对比和统计的结果,对待测扫码设备的扫码库进行优化,以提高待测扫码设备对相应缺列一维条形码的支持程度。
进一步,所述步骤(2)中,一组缺列数据包括缺列类型、缺列点数、缺列范围、精度和高度。
进一步,所述步骤(5)中,在待测扫码设备扫码缺列一维条形码样本时,上下,左右或/和前后挥动缺列一维条形码样本。
进一步,所述步骤(6)中,通过数据对比和统计,得出待测扫码装置对相应缺列一维条形码的识读成功率、识读失败率以及误码率,并据此得出所述支持程度。
进一步,由测试数据库对打印数据、缺列数据、缺列打印数据、数据对比和统计的结果进行关联存储。
一种计算机可读介质,其存储有计算机可读程序,所述计算机可读程序被执行时实现如上任一所述的一种缺列一维条形码的测试方法。
由上述对本发明结构的描述可知,本发明具有如下优点:
其一,本发明以编辑的方式在原始打印数据加入缺列数据,生成可以被打印机直接使用的缺列打印数据,由打印机根据该缺列打印数据用热敏打印纸打印出缺列的一维条形码。其可以很好的真实还原出一维条形码打印缺列的情况,可以很好的避免各种现有上述测试方法所存在的问题;此外,由于本发明采用测试数据库记录和管理包括原始打印数据、缺列数据、缺列打印数据在内的所有相关数据,具有可重复性,且可以以编辑的方式按需真实模拟出各种各样的缺列一维条形码。
其二,本发明中,缺列数据包括缺列类型、缺列点数、缺列范围、精度和高度。可以很好的模拟出各种缺列情况,囊括和模拟出各种缺列一维条形码以供测试、优化使用。
其三、本发明中,在待测扫码设备扫码缺列一维条形码时,上下,左右或/和前后挥动缺列一维条形码。可更好的模拟待测扫码设备的实际使用情形,让测试过程更加真实,使优化方向更加精准。
其四、本发明通过数据对比和统计,得出待测扫码装置对相应缺列一维条形码的识读成功率、识读失败率以及误码率,并据此得出所述支持程度。可见,本发明从多项数据对比和统计得出更为准确的支持程度,以便于更好,更准确的对待测扫码设备进行扫码库的优化。
附图说明
图1为一种用于实施本发明的软件操作界面截图一。
图2为一种用于实施本发明的软件操作界面截图二(软件右上角下拉菜单)。
图3为一种用于实施本发明的软件操作界面截图三(数据内容的设置菜单)。
图4为一种用于实施本发明的软件操作界面截图四(缺列类型选择)。
图5为一种用于实施本发明的软件操作界面截图五(缺列点数选择)。
图6为一种用于实施本发明的软件操作界面截图六(缺列范围选择)。
图7为一种用于实施本发明的软件操作界面截图七(打印精度选择)。
图8为一种用于实施本发明的软件操作界面截图八(自定义缺列数据)。
图9为一种用于实施本发明的软件操作界面截图九(打印记录)。
图10为使用本发明所打印出来的一种缺列一维条形码样品实物照。
具体实施方式
下面参照附图说明本发明的具体实施方式。
如图1至图10所示,一种缺列一维条形码的测试方法,包括以下步骤:
(1)以编辑的方式输入打印内容,生成用于打印一维条形码样本的原始打印数据。其中,上述编辑的动作包括通过人工将打印内容输入软件,或者由软件自动生成随机的打印内容。
(2)在所述打印内容确认的基础上,以编辑的方式输入添加至少一组缺列数据,生成用于打印缺列一维条形码样本的缺列打印数据。具体地,上述编辑的动作包括通过人工将缺列数据输入软件,或者由软件自动生成的随机缺列数据;一组缺列数据主要包括缺列类型、缺列点数、缺列范围、精度和高度等。
(3)根据步骤(1)和步骤(2)的方式建立含原始打印数据、缺列数据、缺列打印数据的测试数据库。
例如按如下编辑和建立案例库;
案例库一:原始打印数据为随机;缺列数据中,打印缺列点数为1,缺列范围为边缘缺列,打印数量为10个;原始打印数据为随机、打印缺列点数为2,缺列范围为边缘缺列,打印数量为10个;缺列数据中,原始打印数据为随机、打印缺列点数为3,缺列范围为边缘缺列,打印数量为10个;……。以此类推,打印到缺列条数为20,共计200种缺列一维条形码样本,甚至更多。
案例库二:原始打印数据为随机;缺列数据中,打印缺列点数为1,缺列范围为中间缺列,打印数量为10个;原始打印数据为随机、打印缺列点数为2,缺列范围为中间缺列,打印数量为10个;原始打印数据为随机、打印缺列点数为3,缺列范围为中间缺列,打印数量为10个;……。以此类推,打印到缺列条数为20或更多,共计200种缺列一维条形码样本。
案例库三:原始打印数据为随机;打印缺列点数为1,缺列范围为随机,打印数量为10个;原始打印数据为随机、打印缺列点数为2,缺列范围为随机,打印数量为10个;原始打印数据为随机、打印缺列点数为3,缺列范围为随机,打印数量为10个;……。以此类推,打印到缺列条数为20或更多,共计200种缺列一维条形码样本。
然后导出制作这些缺列一维条形码样本的数据,包括但不限于序号、条码内容等。
(4)按缺列打印数据用热敏打印纸打印多张该缺列一维条形码。
具体地,由打印机根据缺列打印数据打印出案例一、案例二及案例三的所有缺列一维条形码样本,共计600张。
(5)用待测扫码设备分别扫码所有缺列一维条形码,得到各自的扫描结果。
具体地,使用待测扫码设备对600张缺列一维条形码样本进行扫码识别测试,并且测试时上下,左右或/和前后挥动缺列一维条形码。
(6)将扫描结果与原始打印数据进行数据对比和统计,得出该待测扫码设备对相应缺列情况的支持程度。
具体地,将待测扫码设备对600张的扫码识别数据上传至上位机;由上位机将其与测试数据库中的原始打印数据进行数据对比,然后统计待测扫码设备对这些缺列一维条形码样本的识读成功率、识读失败率以及误码率,进而获知该待测扫码设备对这些缺列一维条形码样本的支持程度。
(7)若支持程度偏低则,利用步骤(6)的数据对比和统计的结果,对待测扫码设备的扫码库进行优化,从而提成待测扫码设备对相应缺列一维条形码的支持程度。
在一种实施例中,本发明还公开保护一种计算机可读介质,其存储有计算机可读程序,该计算机可读程序被执行时实现如上所述的一种缺列一维条形码的测试方法。
上述仅为本发明的具体实施方式,但本发明的设计构思并不局限于此,凡利用此构思对本发明进行非实质性的改动,均应属于侵犯本发明保护范围的行为。

Claims (7)

1.一种缺列一维条形码的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)以编辑的方式输入打印内容,生成用于打印一维条形码样本的原始打印数据;
(2)在所述打印内容确认的基础上,以编辑的方式输入添加至少一组缺列数据,生成用于打印缺列一维条形码样本的缺列打印数据;
(3)根据步骤(1)和步骤(2)的方式建立含原始打印数据、缺列数据、缺列打印数据的测试数据库;
(4)按缺列打印数据用热敏打印纸打印多张该缺列一维条形码样本;
(5)用待测扫码设备分别扫码所有缺列一维条形码样本,得到各自的扫描结果;
(6)将扫描结果与原始打印数据进行数据对比和统计,得出该待测扫码设备对相应缺列情况的支持程度。
2.根据权利要求1所述的一种缺列一维条形码的测试方法,其特征在于,还包括以下步骤:
(7)利用步骤(6)的数据对比和统计的结果,对待测扫码设备的扫码库进行优化,以提高待测扫码设备对相应缺列一维条形码的支持程度。
3.根据权利要求1所述的一种缺列一维条形码的测试方法,其特征在于:所述步骤(2)中,一组缺列数据包括缺列类型、缺列点数、缺列范围、精度和高度。
4.根据权利要求1所述的一种缺列一维条形码的测试方法,其特征在于:所述步骤(5)中,在待测扫码设备扫码缺列一维条形码样本时,上下,左右或/和前后挥动缺列一维条形码样本。
5.根据权利要求6所述的一种缺列一维条形码的测试方法,其特征在于:所述步骤(6)中,通过数据对比和统计,得出待测扫码装置对相应缺列一维条形码的识读成功率、识读失败率以及误码率,并据此得出所述支持程度。
6.根据权利要求1或2所述的一种缺列一维条形码的测试方法,其特征在于:由测试数据库对打印数据、缺列数据、缺列打印数据、数据对比和统计的结果进行关联存储。
7.一种计算机可读介质,其存储有计算机可读程序,其特征在于:所述计算机可读程序被执行时实现如权利要求1-6任一所述的一种缺列一维条形码的测试方法。
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