CN114327160A

CN114327160A - 触摸面板装置、检测方法

Info

Publication number: CN114327160A
Application number: CN202111171177.4A
Authority: CN
Inventors: 冬木敏光; 田畑裕一; 宫岛晶生
Original assignee: Futaba Corp
Current assignee: Futaba Corp
Priority date: 2020-10-09
Filing date: 2021-10-08
Publication date: 2022-04-12
Also published as: US20220113839A1; TWI790771B; TW202215218A; JP2022063059A; JP7062737B2; US11474655B2; FR3115131A1

Abstract

本发明涉及触摸面板装置、检测方法，其目的在于在非长方形的触摸面板中维持触摸位置检测精度。本发明中的触摸面板装置在基板上的感测区域配设多个发送电极和多个接收电极，由发送电极和接收电极形成传感器元件，所述感测区域形成为非长方形，在所述感测区域，多个传感器元件沿行方向以及列方向排列，各传感器元件以各行的传感器元件数量相同且各列的传感器元件数量相同的方式形成为与所述感测区域的形状相应的区域形状。

Description

触摸面板装置、检测方法

技术领域

本发明涉及触摸面板装置、以及该触摸面板装置所执行的检测方法。

背景技术

关于触摸面板装置，已知有各种技术。

在下述专利文献1中，公开了一种静电电容式的触摸面板装置，该触摸面板装置形成有沿第一方向延伸设置的发送电极、和沿与第一方向交叉的第二方向延伸设置的接收电极，基于从由发送电极和接收电极的电极对构成的检测区域产生的电容的变化来检测用户的触摸位置。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011-90443号公报

发明内容

发明所要解决的问题

在将上述的触摸面板装置安装于设备产品时，要安装的触摸面板的外缘的形状未必限于长方形，根据设备产品的设计不同而设计为非长方形的情况也较为多见。

在这样的非长方形的触摸面板中，形成为以收敛成该形状的方式配设发送电极和接收电极，但在该情况下，有时在触摸面板的外缘部分无法充分地确保发送电极和接收电极的配设空间。

这样一来，无法在触摸面板外缘部分适当地获取触摸位置检测所需要的电容变化，从而会导致触摸位置检测精度的降低。

对此，在本发明中，其目的在于在非长方形的触摸面板中维持触摸位置检测精度。

用于解决问题的手段

本发明所涉及的触摸面板装置在基板上的感测区域配设多个发送电极和多个接收电极，由发送电极和接收电极形成传感器元件，其中，所述感测区域形成为非长方形，在所述感测区域，多个传感器元件沿行方向以及列方向排列，各传感器元件以各行的传感器元件数量相同且各列的传感器元件数量相同的方式形成为与所述感测区域的形状相应的区域形状。

通过以在感测区域中各行的传感器元件数量相同且各列的传感器元件数量相同的方式排列各传感器元件，从而无论感测区域的形状如何都不会使传感器元件缺损。

上述的本发明所涉及的触摸面板装置，在假定了成为向所述非长方形变形的变形基准的、所述感测区域的基准长方形时，通过使用由该基准长方形的顶点坐标和所述感测区域的顶点坐标求得的变换系数，将在该基准长方形的区域内排列的长方形的传感器元件的区域形状映射于所述感测区域，由此以成为变形为非长方形后的状态的方式配设多个发送电极和多个接收电极。

由此，各传感器元件的区域形状与非长方形的感测区域的形状相匹配地规则地变形。因此，能够充分地确保感测区域的外缘部分的传感器元件的配设空间。

在此，基准长方形是指，在使感测区域变形为非长方形时成为基准的长方形的感测区域。在该基准长方形的感测区域中，多个长方形的传感器元件不改变各自的形状而沿行方向以及列方向规则地配设。

上述的本发明所涉及的触摸面板装置，在假定了成为向所述非长方形变形的变形基准的、所述感测区域的基准长方形时，通过使用由在该基准长方形的区域排列的长方形的传感器元件的顶点坐标和在所述感测区域排列的与该长方形的传感器元件对应的传感器元件的顶点坐标求得的变换系数，将该长方形的传感器元件的区域形状映射于所述感测区域，由此以成为变形为非长方形后的状态的方式配设多个发送电极和多个接收电极。

由此，即使在将感测区域变形为无法确定与基准长方形的顶点坐标对应的顶点坐标的形状的情况下，也能够与非长方形的感测区域的形状相匹配地对各传感器元件的区域形状进行变形。

在上述的发明所涉及的触摸面板装置中，所述变换系数是基于使用了所述基准长方形的顶点坐标和所述感测区域的顶点坐标的双线性变换而计算出的。

通过基于使用双线性变换而计算出变换系数来对感测区域进行变形，由此能够实现在区域内具有数学规则性的传感器元件的配设。

在上述的发明所涉及的触摸面板装置中，在所述基板上形成有多个所述感测区域。

由此，在每个感测区域配设与各个感测区域的形状相匹配地变形后的传感器元件。

本发明所涉及的触摸面板装置1执行如下步骤：从接收电极接收基于输入到发送电极中的发送信号的接收信号；使用由接收到的所述接收信号求得的各传感器元件的电容值来计算重心值；以及基于计算出的所述重心值来检测所述感测区域中的触摸位置坐标。

由此，能够以无论感测区域的形状如何都不会使传感器元件缺损的状态检测触摸位置坐标。

发明效果

根据本发明，能够在非长方形的触摸面板中维持触摸位置的检测精度。

附图说明

图1是本发明的实施方式的触摸面板装置的框图。

图2是示出本实施方式的触摸面板的电极配置结构的图。

图3是示出本实施方式的基准长方形中的感测区域的图。

图4是示出本实施方式的基准长方形中的传感器元件结构的图。

图5是示意性地示出本实施方式的基准长方形中的传感器组区域的图。

图6是示出本实施方式的比较例中的感测区域的图。

图7是示意性地示出本实施方式的比较例中的传感器组区域的图。

图8是示出本实施方式的非长方形中的感测区域的图。

图9是示出本实施方式的非长方形中的传感器元件结构的图。

图10是示意性地示出本实施方式的非长方形中的传感器组区域的图。

图11是示出本实施方式的基板上的感测区域的配置的图。

附图标记说明：

1：触摸面板装置；

2：触摸面板；

10：感测区域；

21：发送电极；

22：接收电极；

L：传感器元件。

具体实施方式

对本发明的实施方式参照图1至图11进行说明。各附图所记载的结构，只要在不偏离本发明的技术思想的范围内就能够根据设计等进行各种的变更。另外，进行了一次说明后的结构，在其以后有时通过标注相同的附图标记而省略说明。

以下，按以下的顺序对实施方式进行说明。

＜1.触摸面板装置的结构＞

＜2.触摸面板的电极配置结构＞

＜3.触摸面板的触摸位置检测方法＞

＜4.比较例＞

＜5.第一实施方式＞

＜6.变形例＞

＜7.第二实施方式＞

＜8.总结＞

＜1.触摸面板装置的结构＞

参照图1以及图2对实施方式中的触摸面板装置1的结构例进行说明。

触摸面板装置1在各种设备中作为用户界面装置进行装配。在此所谓各种设备，可以设想为例如电子设备、通信设备、信息处理装置、制造设备、工作机械、车辆、航空器、建筑物设备以及其他非常多种类领域的设备。

触摸面板装置1在这些多种设备产品中，进行提供基于用户的手指等导电体对触摸面板操作的信息的动作。

如图1所示，触摸面板装置1进行针对产品侧MCU6提供与用户的触摸面板操作有关的信息的动作。产品侧MCU6是装配有触摸面板装置1的设备中的控制装置。

触摸面板装置1具有触摸面板2以及触摸面板驱动装置3。

触摸面板驱动装置3具有传感器电路4以及MCU5。

触摸面板驱动装置3与触摸面板2电连接，进行触摸面板2的驱动(感测)。

另外，发送感测到的操作信息。

传感器电路4针对触摸面板2输入发送信号，并且从触摸面板2接收接收信号。

图2示意性地示出传感器电路4和触摸面板2的连接状态。

触摸面板2在形成触摸面的面板平面上配设有作为发送侧的电极的n根发送电极21-1至21-n。

另外，同样地在面板平面上，配设有作为接收侧的电极的m根接收电极22-1至22-m。

需要说明的是，在以下的说明中，在不特别地对发送电极21-1…21-n、接收电极22-1…22-m进行区分的情况下，统称地记载为发送电极21、接收电极22。

所谓发送电极21-1…21-n、和接收电极22-1…22-m，既有如图所示那样交叉地配设的情况，也有作为所谓的单层结构，如在以下的实施方式中所述那样以不产生交叉的方式配设的情况。

总之，成为在配设有发送电极21和接收电极22的范围内形成触摸操作面，利用触摸操作时的电容变化来检测操作位置的结构。

在图2中，举例示出在发送电极21和接收电极22之间产生的电容的一部分作为电容C。在发送电极21和接收电极22之间产生的电容C(例如交叉位置处的电容)存在于触摸操作面的整体，通过传感器电路4来检测因触摸操作产生了电容变化的位置。

需要说明的是，在以下的说明中在对在发送电极21和接收电极22之间产生的电容C进行区分的情况下，如电容C1、C2…这样通过在附图标记末尾附加数字来进行记载。

传感器电路4对所选择的发送电极21-1…21-n输出发送信号。另外，传感器电路4接收来自所选择的接收电极22-1…22-m的接收信号。

在传感器电路4中，形成为对基于从接收电极22接收到的接收信号的检测值(以下，记载为电容检测值)进行存储，并能够由MCU5来获取。

返回图1，MCU5进行传感器电路4的设定、控制。

另外，MCU5通过从传感器电路4读取电容检测值，由此获取电容检测值。

然后，MCU5使用电容检测值来计算重心值，进行基于所计算出的重心值的坐标计算，并进行将作为用户的触摸操作位置信息的坐标值发送至产品侧MCU6的处理。

＜2.触摸面板的电极配置结构＞

参照图3以及图4对触摸面板2的电极配置结构进行说明。在此，作为电极配置结构的一个例子，对单层电极结构的例子进行说明。

需要说明的是，触摸面板2的电极配置结构不限于单层电极结构，也可以是例如使发送电极21和接收电极22隔着绝缘层而交叉而成的层叠结构。

图3示意性地示出本实施方式的触摸面板2的电极配置结构。

需要说明的是，在以下的说明中，将在图3所示的方向记载为上下左右方向，基于图3所示的X轴、Y轴来记载各传感器元件L的坐标。这一点在以下的图4至图11中也一样。

如图3所示，在触摸面板2中的基板上的感测区域10，形成为同一长方形的多个传感器元件L沿上下左右方向(行方向以及列方向)规则地配设，构成作为集合矩阵的传感器图案。各行的传感器元件L的数量相同，并且各列的传感器元件L的数量也相同。

在此，感测区域10形成为长方形。在本实施方式中，将该长方形的感测区域10设为使后述的感测区域10变形时的基准形状(以下，也记载为基准长方形。)。

基于由配置于感测区域10中的各传感器元件L产生的电容检测值来检测用户的触摸位置。在此的各传感器元件L相当于图2中的发送电极21和接收电极22交叉的部分。

参照图4对配设于感测区域10中的传感器元件L的结构进行说明。在此，作为传感器元件L的结构的例子而列举图3的传感器元件L4进行说明。图4放大地示意性示出传感器元件L4的区域形状。需要说明的是，为了方便说明，在图4中针对各构件的大小以及间隔以比图3更强调的方式进行表示。

传感器元件L4具有发送电极21、接收电极22、以及剩余区域23。

发送电极21具有第一U字型部211、第一突出部212、第二突出部213、配线邻接部214、以及发送配线部215。

第一U字型部211形成为向右侧开口的U字型，第一突出部212形成为从第一U字型部211的上端部216向下方突出。第二突出部213设置为与第一突出部212的左侧分离，并形成为从第一U字型部211向下方突出。配线邻接部214形成为从第一U字型部211的下端部217向上方突出。在与配线邻接部214的相反的一侧延伸设置有发送配线部215。

接收电极22具有第二U字型部221、第三突出部222、第四突出部223、以及接收配线部224。

第二U字型部221形成为向左侧开口的U字型，第三突出部222形成为从第二U字型部221的下端部225向上方突出。第四突出部223设置为与第三突出部222的右侧分离，并形成为从第二U字型部221向上方突出。

接收配线部224与第二U字型部221的上端部226接线。接收配线部224配设为与第一U字型部211的左端分离。

发送电极21和接收电极22从第三突出部222起向右方以第二突出部213、第四突出部223、第一突出部212的顺序并排配置。这样，发送电极21和接收电极22形成为在平面上呈一层且梳子形状地邻接。

另外，在发送电极21和接收电极22的邻接部分分别设置有间隙。其结果是，在发送电极21和接收电极22之间产生电容C。

在图3所示的基板上的感测区域10的各列中，针对沿上下方向配设的每个传感器元件L引出发送配线部215(发送电极21)。各发送配线部215朝向下方延伸设置，且彼此分离地并排配置。

在各列中的下端部的传感器元件L中，与向上方配设的传感器元件L的数量对应地并排配设发送配线部215，随着向上方的传感器元件L行进，配置于传感器元件L中的发送配线部215的数量一个一个地变少。

通过随着向上方的传感器元件L行进而使发送配线部215的数量一个一个地变少，从而在上方的传感器元件L形成剩余区域23。在剩余区域23中，例如考虑光学外观而配设有伪电极。

在各列中针对上下方向的每个传感器元件L引出且向下方延伸设置的多个发送配线部215，与基板上的集合矩阵中的相同行的每个传感器元件L接线，并与图2所示的传感器电路4连接。

传感器电路4针对所选择的发送电极21(发送配线部215)输出用于感测动作的发送信号。

接收配线部224(接收电极22)作为与针对上下方向的每个传感器元件L的上端部226共通地接线的一根电极而向下方引出。向下方引出的接收配线部224与如图2所示的传感器电路4连接。

传感器电路4接收来自所选择的接收电极22(接收配线部224)的用于感测动作的接收信号。

配设于图3所示的基准长方形的感测区域10中的各传感器元件L即使有发送配线部215的数量、剩余区域23的所占比例等多少的不同点，也具有大致与上述的传感器元件L4共通的结构。

＜3.触摸面板的触摸位置检测方法＞

参照图5对感测区域10中的触摸位置信息的检测方法进行说明。在此，作为一个例子，针对在由图3所示的传感器元件L1至L9形成的传感器组区域11检测触摸位置坐标的情况下进行说明。

在图5中，示意性地示出传感器组区域11中的传感器元件L1至L9的位置关系、和与传感器元件L1至L9对应的各个电容(C1至C9)。

由图1的MCU5来运算触摸面板2的触摸位置坐标。

具体而言，MCU5通过从传感器电路4读取与传感器元件L1至L9分别对应的电容C1至C9的电容检测值，由此获取与传感器元件L1至L9分别对应的电容C1至C9的电容检测值。

然后，MCU5使用各电容C的电容检测值来计算重心值，并通过进行基于计算出的重心值的坐标计算来运算触摸位置坐标。

具体而言，在下述[式1]中，MCU5通过将传感器元件L1至L9中的传感器元件L_i的X坐标代入至“x_i”，将与传感器元件L_i对应的电容(C1至C9的任一者)的值代入至“c_i”，由此来运算作为触摸位置的X坐标信息的坐标Xtouch。

【式1】

另外，在下述[式2]中，MCU5通过将传感器元件L1至L9中的传感器元件L_i的Y坐标代入至“y_i”，将与传感器元件L_i对应的电容(C1至C9的任一者)的值代入至“C_i”，由此来运算作为触摸位置的Y坐标信息的坐标Ytouch。

【式2】

通过上述的运算，MCU5能够运算触摸面板2的感测区域10中的触摸位置坐标。

＜4.比较例＞

参照图6以及图7对在使感测区域10从基准长方形变形为非长方形的情况下的传感器元件L的配设方法的比较例进行说明。

在此，作为一个例子，对使感测区域10从图3所示的基准长方形变形为图6所示的梯形(非长方形)的例子进行说明。

图6示意性地示出比较例中的触摸面板2的电极配置结构。另外，图7示意性地示出，构成比较例中的传感器组区域11的传感器元件L、和与各传感器元件L对应的电容C。需要说明的是，图7中的单点划线表示感测区域10的外缘，虚线表示传感器元件L中的缺损部分。

在图6所示那样的梯形的感测区域10中的左右的外缘部中，因倾斜而使传感器元件L的配设空间受到压迫，从而难以以通常的形状来进行配设。

例如若就传感器组区域11来看，则伴随倾斜而传感器元件L1及L4的发送电极21及接收电极22缺损。

为了检测传感器组区域11中的触摸位置坐标，有时需要将与图7所示的传感器元件L1至L9分别对应的电容C1至C9的值代入至上述的[式1]以及[式2]。

然而，在比较例中，由于传感器元件L1以及L4的电极部分缺损，因此传感器元件L1的电容C1、以及传感器元件L4的电容C4的电容检测值发生了变化(或者无法检测)，使用[式1]以及[式2]检测的触摸位置坐标的精度会降低。

＜5.第一实施方式＞

参照图8至图10对感测区域10中的传感器元件L的配设方法的第一实施方式进行说明。

在此，与比较例同样地，对使感测区域10从在图3中示出的基准长方形变形为图8所示的梯形(非长方形)的例子进行说明。

图8示意性地示出在使感测区域10变形为梯形时的电极配置结构。图9放大地示出该感测区域10的传感器组区域11中的传感器元件L4。图10示意性地示出构成传感器组区域11的传感器元件L、和与传感器元件L对应的电容C。需要说明的是，为了方便说明，在图9中针对各构件的大小以及间隔，以比图8更强调的方进行表示。

在本实施方式中，在假定了成为感测区域10的基准的图3所示那样的基准长方形时，使用由该基准长方形的顶点坐标和梯形的感测区域10的顶点坐标求得的变换系数，将在该基准长方形的区域内形成的传感器元件L的各坐标变换为在梯形的区域内形成的传感器元件L的各坐标。然后，将变换后的各坐标映射到梯形的感测区域10，并基于该映射来配设多个发送电极21和多个接收电极22。

对将基准长方形的区域内的各坐标变换为梯形的感测区域10的区域内的各坐标的方法的具体例进行说明。在此，作为一个例子对通过双线性变换来运算各坐标的例子进行说明。

若将基准长方形的区域内的某个坐标设为(x，y)，将与该基准长方形区域内的坐标对应的变形后的梯形区域内的坐标设为(x’，y’)，则(x’，y’)的各坐标通过下述[式3]以及[式4]来计算。

x’＝a₁x+b₁y+c₁xy+d₁…[式3]

y’＝a₂x+b₂y+c₂xy+d₂…[式4]

此时，在上述[式3]以及[式4]中，变换系数a₁、b₁、c₁、d₁、a₂、b₂、c₂、d₂为未知。

对此，首先将图3那样的基准长方形的各顶点坐标即顶点P(x₁，y₁)、顶点Q(x₂，y₂)、顶点R(x₃，y₃)、顶点S(x₄，y₄)、以及与图8那样的基准长方形的各顶点坐标对应的变形后的梯形的各顶点坐标即顶点P’(x₁’，y₁’)、顶点Q’(x₂’，y₂’)、顶点R’(x₃’，y₃’)、顶点S’(x₄’，y₄’)分别代入到[式3]。由此导出由下述四个算式组成的联立方程式。

x₁’＝a₁x₁+b₁y₁+c₁x₁y₁+d₁

x₂’＝a₁x₂+b₁y₂+c₁x₂y₂+d₁

x₃’＝a₁x₃+b₁y₃+c₁x₃y₃+d₁

x₄’＝a₁x₄+b₁y₄+c₁x₄y₄+d₁

通过上述联立方程式计算出[式3]中的变换系数a1、b1、c1、d1。

另外，基准长方形的各顶点坐标即顶点P(x₁，y₁)、顶点Q(x₂，y₂)、顶点R(x₃，y₃)、顶点S(x₄，y₄)、以及与基准长方形的各顶点坐标对应的变形后的梯形的各顶点坐标即顶点P’(x₁’，y₁’)、顶点Q’(x₂’，y₂’)、顶点R’(x₃’，y₃’)、顶点S’(x₄’，y₄’)分别代入到[式4]。由此，导出由下述四个算式组成的联立方程式。

y₁’＝a₂x₁+b₂y₁+c₂x₁y₁+d₂

y₂’＝a₂x₂+b₂y₂+c₂x₂y₂+d₂

y₃’＝a₂x₃+b₂y₃+c₂x₃y₃+d₂

y₄’＝a₂x₄+b₂y₄+c₂x₄y₄+d₂

通过上述联立方程式，计算出[式4]中的变换系数a₂、b₂、c₂、d₂。

通过以上计算，[式3]以及[式4]中的各变换系数成为已知。由此，通过向[式3]以及[式4]代入变形前的基准长方形中的坐标，能够获得变形后的梯形区域内的坐标。

接下来，将构成基准长方形的传感器元件L的各坐标代入至[式3]以及[式4]，变换为变形后的梯形的感测区域10中的各坐标而进行映射。

基于该映射而配设发送电极21以及接收电极22，由此形成由图8所示那样的规则地变换后的传感器元件L构成的感测区域10。

这样，通过使用双线性变换而使配设于感测区域10中的传感器元件L的形状变形，由此能够在变形后的感测区域10的区域内容易地配设传感器元件L。

例如若就图9所示的梯形的外缘附近的传感器元件L4来看，则可知不会见到如比较例那样的缺损，从而充分地确保发送电极21以及接收电极22的配设区域。

因此，例如当进行传感器组区域11中的触摸位置坐标的检测时，充分地检测出与图10所示那样的传感器元件L1至L9对应的各个电容(C1至C9)的电容检测值。通过将该检测出的各电容C的电容检测值代入到上述的[式1]以及[式2]，能够高精度地检测出触摸位置坐标。

通过以上计算，根据本实施方式，即使在感测区域10变形为非长方形的情况下，也能够生成维持了触摸位置坐标的检测精度的传感器图案。

＜6.变形例＞

在第一实施方式中，对使用由变形前的基准形状的各顶点坐标(图3)和变形后的感测区域10的各顶点坐标(图8)求得的变换系数来运算变形后的感测区域10的各传感器元件L的坐标的例子进行了说明，但是各传感器元件L的坐标的运算方法不限于此。

例如，能够使用由变形前的基准长方形中的长方形的传感器元件L的各顶点坐标(图3)和与之对应的变形后的感测区域10的传感器元件L的各顶点坐标(图8)求得的变换系数，来确定构成变形后的感测区域10的各传感器元件L的发送电极21以及接收电极22的形状。

具体地，通过将变形前的长方形的传感器元件L的各顶点坐标、以及变形后的传感器元件L的各顶点坐标代入到[式3]来计算变换系数a₁、b₁、c₁、d₁。

另外，通过将变形前的长方形的传感器元件L的各顶点坐标、以及变形后的传感器元件L的各顶点坐标代入到[式4]来计算变换系数a₂、b₂、c₂、d₂。

然后，通过将变形前的传感器元件L的区域内的构成发送电极21以及接收电极22区域的各点的坐标代入到[式3]以及[式4]，从而变换为变形后的感测区域10内的坐标并进行映射。

通过针对基准长方形的所有的传感器元件L进行上述那样的映射，能够确定在变形后的感测区域10内排列的各传感器元件L的区域形状。

通过基于该映射而配设发送电极21以及接收电极22，从而与本实施方式的运算方法同样地，形成由规则地变换后的传感器元件L构成的感测区域10。

该运算方法在使感测区域10变形为无法确定四个顶点那样的复杂形状的情况下特别有效。

＜7.第二实施方式＞

参照图11对感测区域10中的传感器元件L的配设方法中的第二实施方式进行说明。

第二实施方式是在触摸面板2的基板上形成多个感测区域10的例子。图11示出基板上的感测区域10的配置例。

需要说明的是，在本实施方式中，设为将多个感测区域10的每一个感测区域如感测区域10a、10b、10c那样进行区别地记载。另外，在图11中，为了便于说明，省略了各传感器元件L中的发送电极21、接收电极22等的结构的图示。

在本实施方式中，如图11所示，将基板上的发送电极21以及接收电极22的配设区域分割为多个感测区域10a、10b、10c。

然后，针对分割后的感测区域10分别生成传感器图案，根据该生成了的传感器图案来配设发送电极21以及接收电极22。

感测区域10a、10b、10c形成为无法确定与基准长方形对应的顶点的形状。因此，如上述的变形例那样，通过使用由变形前的基准长方形中的长方形的传感器元件L的各顶点坐标和与之对应的变形后的感测区域10的传感器元件L的各顶点坐标求得的变换系数，来映射变形后的感测区域10的区域形状，由此使各传感器元件L的区域形状变形。

需要说明的是，在感测区域10是能够确定与基准长方形对应的顶点这样的形状的情况下，也能够应用上述的第一实施方式的方法。

根据本实施方式，通过使对基板上的区域进行分割而成的各感测区域10分别地变形，能够维持各感测区域10的触摸位置坐标的检测精度。因此，即使在配设传感器元件L的基板的形状变得复杂的情况下，也能够维持基板整体的触摸位置坐标的检测精度。

＜8.总结＞

以上的实施方式的触摸面板装置1在基板上的感测区域10配设多个发送电极21和多个接收电极22，由发送电极21和接收电极22形成传感器元件L，其中，感测区域10形成为非长方形，在感测区域10，多个传感器元件L沿行方向以及列方向排列，各传感器元件L以各行的传感器元件L的数量相同且各列的传感器元件L的数量相同的方式，而形成为与感测区域10的形状相应的区域形状(参照图3、图8等)。

通过以在感测区域10中各行的传感器元件L的数量相同且各列的传感器元件L的数量相同的方式排列各传感器元件L，从而不会产生图6所示那样的传感器元件L的缺损。

因此，能够以无损精度的方式如图10所示那样基于各传感器元件L的电容检测值进行重心值的计算。由此，能够维持具有非长方形的感测区域10的触摸面板2的触摸位置检测精度。

实施方式的触摸面板装置1，在假定了成为向非长方形变形的变形基准的、感测区域10的基准长方形时，通过使用由该基准长方形的顶点坐标(P、Q、R、S)和感测区域10的顶点坐标(P’、Q’、R’、S’)求得的变换系数，将在该基准长方形的区域内排列的长方形的传感器元件L的区域形状映射于感测区域10，由此以成为变形为非长方形后的状态的方式配设多个发送电极21和多个接收电极22(参照图3、图8等)。

由此，与非长方形的感测区域10的形状相匹配地使各传感器元件L的形状规则地变形。因此，能够充分地确保图8所示那样的感测区域10的外缘部分的传感器元件L的配设空间。

由此，能够消除该外缘部分的传感器元件L的电容变化的检测不合格所导致的触摸位置坐标的检测精度的降低，维持具有非长方形的感测区域10的触摸面板2的触摸位置的检测精度。

在实施方式中，如在上述的变形例中所说明那样，在假定了成为向非长方形变形的变形基准的、感测区域10的基准长方形时，通过使用由该长方形的传感器元件L的顶点坐标和在感测区域10中排列的与该长方形的传感器元件L对应的传感器元件L的顶点坐标求得的变换系数，将在该基准长方形的区域内排列的长方形的传感器元件L的区域形状映射于感测区域10，由此也能够以成为变形为非长方形后的状态的方式配设多个发送电极21和多个接收电极22。

由此，即使在使感测区域10变形为例如图11的感测区域10a、10b、10c那样的无法确定与基准长方形的顶点坐标对应的顶点坐标的形状的情况下，也能够与非长方形的感测区域10的形状相匹配地使各传感器元件L的区域形状变形。因此，能够维持具有非长方形的感测区域10的触摸面板2的触摸位置的检测精度。

在实施方式中的触摸面板装置1中，上述变换系数是基于使用了基准长方形的顶点坐标(P、Q、R、S)和感测区域10的顶点坐标(P’、Q’、R’、S’)的双线性变换而计算出的(参照图5、图9、式3、式4等)。

通过基于使用双线性变换而计算出的变换系数来使感测区域10变形，由此能够实现在区域内具有数学规则性的传感器元件L的配设，并能够维持具有非长方形的感测区域10的触摸面板2中的触摸位置检测精度。

在第二实施方式中的触摸面板装置1中，在基板上形成有多个感测区域10a、10b、10c(参照图11等)。

由此，针对每个感测区域10配置与各个感测区域10的形状相匹配地变形后的传感器元件L。

因此，通过将多个感测区域10组合，即使在呈复杂的基板形状的触摸面板2中也能够维持触摸位置检测精度。

实施方式中的触摸面板装置1执行如下步骤：从接收电极接收基于输入到发送电极中的发送信号的接收信号；使用由接收到的所述接收信号求得的各传感器元件的电容值来计算重心值；以及基于计算出的所述重心值来检测所述感测区域中的触摸位置坐标(参照图3、图8、式1、式2等)。

由此，能够以无论感测区域10的形状如何都不会使传感器元件L缺损的状态，来检测触摸位置坐标。因此，能够维持具有非长方形的感测区域10的触摸面板2中的触摸位置检测精度。

最后，上述的各实施方式的说明是本发明的一个例子，本发明不限于上述的实施方式。因此，在能够实现本发明的目的的范围内所进行的变形、改进等均落入本发明所包含的范围内。另外，本说明书所记载的效果也仅是示例，并不限于该效果，还可以产生其他效果。

Claims

1.一种触摸面板装置，该触摸面板装置在基板上的感测区域配设多个发送电极和多个接收电极，由发送电极和接收电极形成传感器元件，

其特征在于，

所述感测区域形成为非长方形，

在所述感测区域，多个传感器元件沿行方向以及列方向排列，

各传感器元件以各行的传感器元件数量相同且各列的传感器元件数量相同的方式形成为与所述感测区域的形状相应的区域形状。

2.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其特征在于，

在假定了成为所述感测区域向所述非长方形变形的基准的、所述感测区域的基准长方形时，通过使用由该基准长方形的顶点坐标和所述感测区域的顶点坐标求得的变换系数，将在该基准长方形的区域内排列的长方形的传感器元件的区域形状映射于所述感测区域，由此以成为变形为非长方形后的状态的方式配设多个发送电极和多个接收电极。

3.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其特征在于，

在假定了成为所述感测区域向所述非长方形变形的基准的、所述感测区域的基准长方形时，通过使用由在该基准长方形的区域内排列的长方形的传感器元件的顶点坐标和在所述感测区域排列的与该长方形的传感器元件对应的传感器元件的顶点坐标求得的变换系数，将该长方形的传感器元件的区域形状映射于所述感测区域，由此以成为变形为非长方形后的状态的方式配设多个发送电极和多个接收电极。

4.根据权利要求2所述的触摸面板装置，其特征在于，

所述变换系数是基于使用了所述基准长方形的顶点坐标和所述感测区域的顶点坐标的双线性变换而计算出的。

5.根据权利要求3所述的触摸面板装置，其特征在于，

所述变换系数是基于使用了所述长方形的传感器元件的顶点坐标、和在所述感测区域排列的与所述长方形的传感器元件对应的所述传感器元件的顶点坐标的双线性变换而计算出的。

6.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其特征在于，

在所述基板上形成有多个所述感测区域。

7.一种检测方法，该检测方法是权利要求1所述的触摸面板装置所执行的检测方法，

其特征在于，

由触摸面板装置来执行如下步骤：

从接收电极接收基于输入到发送电极中的发送信号的接收信号；

使用由接收到的所述接收信号求得的各传感器元件的电容值来计算重心值；以及

基于计算出的所述重心值来检测所述感测区域中的触摸位置坐标。