CN114302524A - 微波检测电路及方法、微波检测装置与微波装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种微波检测电路及方法、微波检测装置与微波装置,该微波检测电路应用于微波装置,微波装置用于输出微波信号,微波检测电路包括检测单元、整流单元与滤波单元,检测单元用于接收微波信号,并根据微波信号输出第一交流信号。整流单元与检测单元连接,整流单元用于对第一交流信号进行整流,以输出第一直流信号。滤波单元与整流单元连接,滤波单元用于根据第一直流信号进行充电,以获得与微波信号的场强对应的第一电压信号。通过上述方式,能够实时检测微波装置的负载状态,以及时调整微波装置的工作状态,提高了微波装置使用的安全性。
Description
技术领域
本申请涉及微波技术领域,特别是涉及一种微波检测电路及方法、微波检测装置与微波装置。
背景技术
微波炉是一种利用电流产生微波,并把微波照射在食物中,对食物进行加热的装置,可以同时加热食物的表面和内部,可以快速烹饪多种食物。
目前,常用的微波炉由高压变压器、磁控管、控制电路、烹饪室、散热风道以及支撑结构组成,输入电源经高压变压器升压和二极管电容整流之后产生高压供给磁控管,磁控管产生微波传到烹饪室给食物加热。
然而,在使用微波炉加热的过程中,若所设置的加热时间过长,则会导致食材的水分不断被蒸发,进而在水分过少时,或者放入不正确的器皿时,均容易导致微波炉被烧坏,甚至可能引起火灾等事故而威胁到人身安全。
发明内容
本申请实施例旨在提供一种微波检测电路及方法、微波检测装置与微波装置,能够实时检测微波装置的负载状态,以及时调整微波装置的工作状态,提高了微波装置使用的安全性。
为实现上述目的,第一方面,本申请提供一种微波检测电路,应用于微波装置,所述微波装置用于输出微波信号,所述微波检测电路包括:
检测单元,所述检测单元用于接收所述微波信号,并根据所述微波信号输出第一交流信号;
整流单元,所述整流单元与所述检测单元连接,所述整流单元用于对所述第一交流信号进行整流,以输出第一直流信号;
滤波单元,所述滤波单元与所述整流单元连接,所述滤波单元用于根据所述第一直流信号进行充电,以获得与所述微波信号的场强对应的第一电压信号。
在一种可选的方式中,所述检测单元包括天线与第一电阻;
所述天线的第一端与所述第一电阻的第一端及所述整流单元连接,所述天线的第二端与所述第一电阻的第二端均接地。
在一种可选的方式中,所述天线包括长度为微波信号的波长的1/4的铜线。
在一种可选的方式中,所述整流单元包括第一二极管;
所述第一二极管的阳极与所述检测单元连接,所述第一二极管的阴极与所述滤波单元连接。
在一种可选的方式中,所述整流单元还包括第二电阻;
所述第二电阻的第一端与所述检测单元连接,所述第二电阻的第二端与所述第一二极管的阳极连接。
在一种可选的方式中,所述滤波单元包括第一电容与第三电阻;
所述第一电容的第一端与所述整流单元连接,所述第一电容的第二端接地,所述第一电容与所述第三电阻并联连接。
在一种可选的方式中,所述微波检测电路还包括:
比较单元,所述比较单元与所述滤波单元连接,所述比较单元用于将所述第一电压信号与预设电压信号进行比较,以输出第一比较信号;
控制单元,所述控制单元与所述比较单元连接,所述控制单元用于接收所述第一比较信号,并根据所述第一比较信号调整所述微波装置的工作状态。
在一种可选的方式中,所述微波检测电路还包括校准单元;
所述校准单元用于在空载状态下,获取当前的第一电压信号,并根据当前的第一电压信号调整所述预设电压信号。
第二方面,本申请提供一种微波装置,包括炉腔、基板以及如上所述的微波检测电路;
所述微波检测电路中的至少部分电路设于所述基板上,所述基板设于所述炉腔的外表面;
所述炉腔的外表面设置有至少一个通孔,所述至少一个通孔的至少部分被所述基板覆盖。
第三方面,本申请提供一种微波检测方法,应用于微波装置,所述微波装置用于输出微波信号,所述微波检测方法包括:
获取所述微波信号,并根据所述微波信号的场强确定所述微波装置当前的负载状态;
若所述微波装置当前的负载状态为空载状态,则调整所述微波装置的工作状态。
在一种可选的方式中,所述根据所述微波信号的场强确定所述微波装置当前的负载状态,包括:
根据所述微波信号,获取与所述微波信号的场强对应的第一电压信号;
若所述第一电压信号大于预设电压信号,则确定所述微波装置当前的负载状态为所述空载状态。
在一种可选的方式中,在所述获取所述微波信号,并根据所述微波信号的场强确定所述微波装置当前的负载状态之前,所述方法还包括:
在空载状态下,获取当前的第一电压信号;
根据当前的第一电压信号调整所述预设电压信号。
在一种可选的方式中,所述调整所述微波装置的工作状态,包括:
减少所述微波装置的加热时长,和/或,减小所述微波装置的加热功率。
第四方面,本申请提供一种微波检测装置,应用于微波装置,所述微波装置用于输出微波信号,所述微波检测装置包括:
第一确定单元,用于获取所述微波信号,并根据所述微波信号的场强确定所述微波装置当前的负载状态;
第一调整单元,用于若所述微波装置当前的负载状态为空载状态,则调整所述微波装置的工作状态。
第五方面,本申请提供一种微波装置,包括:
磁控管,所述磁控管用于输出微波信号;
控制单元,用于对所述微波信号进行处理,所述控制单元包括:
至少一个处理器以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行如上所述的方法。
第六方面,本申请提供一种非易失性计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,当所述计算机可执行指令被处理器执行时,使所述处理器执行如上所述的方法。
本申请实施例的有益效果是:本申请提供的微波检测电路包括检测单元、整流单元与滤波单元,其中,检测单元接收微波装置所输出的微波信号,并根据微波信号输出第一交流信号。整流单元能够对第一交流信号进行整流,以输出第一直流信号。滤波单元再根据第一直流信号进行充电,以获得与微波信号的场强对应的第一电压信号。从而,根据第一电压信号能够实时检测到微波装置的负载状态,有助于及时调整微波装置的工作状态,以降低微波装置损坏的几率,同时也提高了微波装置使用的安全性
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明,这些示例性说明并不构成对实施例的限定,附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件,除非有特别申明,附图中的图不构成比例限制。
图1为本申请实施例提供的微波装置的结构示意图;
图2为本申请实施例提供的磁控管的等效电路的电路结构示意图;
图3为本申请实施例提供的图2所示的LC三点式振荡器的输出电压与品质因数的示意图;
图4为本申请实施例提供的微波检测电路的结构示意图;
图5为本申请实施例提供的微波检测电路的电路结构示意图;
图6为本申请另一实施例提供的微波检测电路的结构示意图;
图7为本申请实施例提供的在微波装置的两种不同的负载状态下,所检测到的第一电压信号的示意图;
图8为本申请实施例提供的微波检测方法的流程图;
图9是本申请实施例提供的图8中示出的步骤801的一实施方式的示意图;
图10为本申请实施例提供的微波检测装置的结构示意图;
图11为本申请另一实施例提供的微波装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
请参照图1,图1为本申请实施例提供的微波装置的结构示意图。如图1所示,该微波装置100包括基板101、炉腔102与微波检测电路(图未示)。其中,该炉腔102内部设置有输出微波信号的装置,比如磁控管。
在炉腔102的外表面则设置有至少一个通孔103,其中,在此实施例中,通孔103以圆孔为例,而在其他的实施例中,通孔103也可以为其他的形状,比如方形等,本申请实施例对比不作限制。则炉腔102内部所产生的微波信号能够通过通孔103漏出。同时,通孔103可以设于炉腔102的任意一个外表面上,比如,不同于图1所示的实施例,通孔103还可设于炉腔102的左侧的外表面上,本申请实施例对此不作具体限制。
进而,由于至少一个通孔103的至少部分被基板101所覆盖,即基板101能够将所有通孔103均覆盖,也可以只覆盖部分通孔103,本申请实施例对此不作限制,只需微波检测电路中感应微波信号的元件(比如天线)能够接收到微波信号即可。从而,设于炉腔102外表面的基板101上所设置的微波检测电路能够对通孔103所漏出的微波信号的场强进行检测。其中,微波检测电路中的至少部分电路设于基板101上,即微波检测电路可以部分设于基板101上,也可以全部设于基板101上,本申请实施例对此不作限制,同样只需微波检测电路中感应微波信号的元件能够接收到微波信号即可。
需要说明的是,图1仅为示例性的列举微波装置的结构,而在其他的实施例中,微波装置还可以为其他的结构,本申请实施例对此不作具体限制。比如,在一实施例中,在该微波设备100的炉腔102的外部还设有一个外壳,该外壳可包覆炉腔102,此时,通孔103仍设于炉腔102的外表面,而基板101则设于炉腔102的外表面与外壳之间,换言之,基板101以及设于基板101上的微波检测电路均设于炉腔102的外部,并同时设于外壳的内部。从而,既能够实现对微波信号的检测过程,又能够通过外壳对基板101及设于基板101上的微波检测电路起到保护作用。
在一实施例中,该微波装置100为微波炉。
请一并参阅图2与图3,图2为本申请实施例提供的磁控管的等效电路的电路结构示意图。其中,在此实施例中,以炉腔102内部设置的输出微波信号的装置为磁控管为例。如图2所示,该磁控管可等效为LC三点式振荡器200,该LC三点式振荡器200与负载电阻RL连接,其中,在微波装置100中,负载电阻RL可等效为微波装置100的炉腔102内的食材等物件。在实际应用中,当负载电阻RL变化时,该LC三点式振荡器200的品质因数(Q值)也具有相应的变化,从而引起LC三点式振荡器200的输出电压也具有相应的变化。如图3所示,曲线L301、曲线L302、曲线L303分别表示在三个不同的Q值下,输出电压与频率之间的关系。显然,由图3可知,在不同的Q值下,输出电压的大小不同。综上可见,当在炉腔102内放置不同的食材时,由于所产生的负载阻抗不同,则会引起Q值的不同,从而造成炉腔102内部的微波信号的场强不同。
进而,在微波检测电路通孔103所漏出的微波信号的场强进行检测之后,即可对应的确定微波装置100当前的负载状态。其中,负载状态即为微波装置100中的食材等物品的状态,比如食材中的水分含量。在此实施例中,负载状态可包括空载状态与非空载状态。空载状态可包括微波装置100中的食材的水分较少或使用了不合适的器皿,而容易导致微波装置100的烧坏等状态。换言之,在空载状态下,若微波装置100继续按照正常工作进行加热操作,则微波装置100被损坏的几率较高,甚至可能引起火灾事故而威胁到人身安全。在非空载状态下,微波装置100可正常工作。
图4为本申请实施例提供的微波检测电路的结构示意图,该微波检测电路应用于微波装置,比如,如图1所示的微波装置100,其中,微波装置用于输出微波信号。如图4所示,微波检测电路400包括检测单元401、整流单元402与滤波单元403。其中,整流单元402分别与检测单元401及滤波单元403连接。
具体地,检测单元401用于接收微波装置输出的微波信号,并根据该微波信号输出第一交流信号。整流单元402用于对第一交流信号进行整流,以输出第一直流信号。滤波单元403用于根据第一直流信号进行充电,以获得与微波装置输出的微波信号的场强所对应的第一电压信号。
在实际应用中,在微波装置工作时,微波装置输出微波信号。继而,检测单元401能够对微波信号进行接收,并产生与该微波信号对应的第一交流信号。接着,第一交流信号通过整流单元402进行整流后,可输出第一直流信号。第一直流信号能够为滤波单元403进行充电,以使滤波单元403的两端产生与微波信号的场强对应的第一电压信号。由上述实施例可知,通过第一电压信号能够实时对应获得检测装置的负载状态。从而,能够在微波装置的负载状态为空载状态,及时调整微波装置的工作状态,比如,降低微波装置加热的功率,有利于降低微波装置损坏的几率,同时也提高了微波装置使用的安全性。
在一实施例中,如图5所示,检测单元401包括天线ANT1与第一电阻R1。其中,天线ANT1的第一端与第一电阻R1的第一端及整流单元402连接,天线ANT1的第二端与第一电阻R1的第二端均接地GND。
具体地,天线ANT1用于接收微波装置输出的微波信号,并产生第一交流信号。第一电阻R1用于提供与天线ANT1相匹配的阻抗,以获得更大的输出功率,有利于使检测的结果更加的准确。
在一实施例中,天线ANT1包括长度为微波信号的波长的1/4的铜线,以用于更好的检测微波装置输出的微波信号。例如,在一实施例中,微波信号的波长为12毫米,则天线ANT1包括长度为3毫米的铜线。
在一实施例中,整流单元402包括第一二极管D1。其中,第一二极管D1的阳极与检测单元401中的第一电阻R1的第一端连接,第一二极管D1的阴极与滤波单元403连接。
具体地,由于第一二极管D1具有单向导电性,所以第一二极管D1可用于将第一交流信号整流为第一直流信号。
在一实施例中,整流单元402还包括第二电阻R2。其中,第二电阻R2的第一端与检测单元401中的第一电阻R1的第一端连接,第二电阻R2的第二端与第一二极管D1的阳极连接。
在此实施例中,第二电阻R2用于作为限流电阻,以防止过大的突波信号造成第一二极管D1过载而损坏,有利于对第一二极管D1起到保护作用。
在一实施例中,滤波单元403包括第一电容C1与第三电阻R3。其中,第一电容C1的第一端与整流单元402中的第一二极管D1的阴极连接,第一电容C1的第二端接地GND,第一电容C1与第三电阻R3并联连接。
具体地,第一电容C1能够被第一直流信号充电,以在其两端产生与微波信号的场强对应的第一电压信号。同时,第一电容C1还可作为滤波电容,以滤除第一直流信号中可能存在的高频脉冲,从而得到一平滑的第一电压信号,该第一电压信号为低频的直流信号。第三电阻R3用于提供一泄放支路,以在第一电容C1需要放电时,可通过第三电阻R3将其存储的电量进行泄放。
继而,第一电压信号可通过接口S1与接口S2输出,以通过对应的装置检测该第一电压信号,并通过第一电压信号能够实时对应获得检测装置的负载状态。从而,能够及时发现微波装置处于空载状态,以更快地调整微波装置的工作状态,比如,降低微波装置加热的功率,有利于降低微波装置损坏的风险,同时也提高了微波装置使用的安全性。
需要说明的是,如图4所示的微波检测电路400的硬件结构仅是一个示例,并且,微波检测电路400可以具有比图中所示出的更多的或者更少的部件,可以组合两个或更多的部件,或者可以具有不同的部件配置,图中所示出的各种部件可以在包括一个或多个信号处理和/或专用集成电路在内的硬件、软件、或硬件和软件的组合中实现。
例如,在一实施例中,如图6所示,微波检测电路400还包括比较单元404与控制单元405。其中,比较单元404与滤波单元403连接,控制单元405与比较单元404连接。
具体地,比较单元404用于将滤波单元403输出的第一电压信号与预设电压信号进行比较,以输出第一比较信号。控制单元405用于接收第一比较信号,并根据第一比较信号调整微波装置的工作状态。
在此实施例中,微波装置的工作状态指微波装置的加热时长与加热功率等状态。预设电压信号为预先设置的电压信号,该预设电压信号可根据实际应用情况进行设置,本申请实施例对此不作具体限制。
具体地,当比较单元404接收到第一电压信号后,比较单元404可用于将第一电压信号与预设电压信号进行比较,并根据比较的结果输出第一比较信号。控制单元405在接收到第一比较信号后,即可获知微波装置的负载状态,继而,可对应的调整微波装置的工作状态。例如,在一实施方式中,当微波装置的负载状态为空载状态时,第一电压信号大于预设电压信号,则比较单元404可输出对应的第一比较信号(比如,当第一电压信号输入至比较单元404的同相输入端,而预设电压信号输入至比较单元404的反相输入端,则第一比较信号为高电平信号)。控制单元405在接收到第一比较信号后,即可获知微波装置的负载状态为空载状态,此时,控制单元405能够对应调整微波装置的工作状态,如减小微波装置的加热时长或加热功率,有利于降低微波装置被损坏的风险,以对微波装置起到保护作用。
可以理解的是,在一实施方式中,比较单元404可以为单独设置的比较器。而在另一实施方式中,比较单元404也可以设于控制单元405中,即控制单元405即可实现比较单元404的功能。
请一并参与图7,图7为在微波装置的两种不同的负载状态下,所检测到的第一电压信号。如图7所示,图7中的a部分为微波装置的负载状态为空载状态下,所检测到的第一电压信号;图7中的b部分为微波装置的负载状态为非空载状态(在此实施例中,以有载100mL水为例)下,所检测到的第一电压信号。
其中,在该实施例中,图7中的a部分所检测到的第一电压信号的峰值电压为513mV,平均值为215mV。而图7中的b部分所检测到的第一电压信号的峰值电压为211mV,平均值为78mV。可见,微波装置的负载状态为空载状态时的第一电压信号的峰值与平均值,均大于微波装置的负载状态为非空载状态时的第一电压信号的峰值与平均值。从而,在通过检测微波装置输出的微波信号以获取第一电压信号后,则可通过第一电压信号确定微波装置的负载状态,并可根据微波装置的负载状态调整其工作状态,以对微波装置起到更好的保护作用。
在另一实施例中,微波检测电路400还包括校准单元(图未示)。其中,校准单元用于在空载状态下,获取当前的第一电压信号,并根据当前的第一电压信号调整预设电压信号。
在实际应用中,在微波装置的生产过程中,因炉腔结构方面的差异、安装位置的差异等可能会造成整流单元403所输出的第一电压信号不同,因此,需设置校准单元。校准单元能够在空载状态下,测定一个第一电压信号,并根据该测定的第一电压信号反过来调整预设电压信号。
例如,在一实施方式中,校准单元在获得测定的第一电压信号后,以该测定的第一电压信号作为最新的预设电压信号,从而,能够实时保持该预设电压信号的有效性,以提升判断微波装置的负载状态的准确性。当然,在其他的实施例中,也可以以其他值作为最新的预设电压信号,比如以该测定的第一电压信号的整数倍等作为最新的预设电压信号,本申请实施例对此不作具体限制。
在另一实施例中,可以以测定的第一电压信号的N倍作为最新的预设电压信号,其中,0<N<1。例如,N为0.8。通过选择N倍第一电压信号作为最新的预设电压信号,以将判断的基准拉低,从而,能够更早的发现微波装置的负载状态为空载状态,有利于更加及时调整微波装置的工作状态,对微波装置的保护效果更佳。
可以理解的是,本申请实施例中的第一电压信号可以为峰值、有效值或者是平均值等,本申请实施例对此不作具体限制。
同时,在该实施例中,若滤波单元403输出的第一电压信号为峰值,则校准单元用于在空载状态下,获取当前的第一电压信号应对应为峰值。同理,若滤波单元403输出的第一电压信号为有效值(或平均值),则校准单元用于在空载状态下,获取当前的第一电压信号应对应为有效值(或平均值)。
而在其他的实施例中,也可以选用滤波单元403输出的第一电压信号为平均值(即获取与微波信号的场强对应的第一电压信号的平均值),且校准单元用于在空载状态下,获取当前的第一电压信号为峰值(即使用当前的第一电压信号的峰值调整预设电压信号)。亦即,在实际应用过程中,所使用的是第一电压信号的平均值,而在校准单元进行校准过程中,所使用的是第一电压信号的峰值。从而,一方面,在实际应用过程中,使用第一电压信号的平均值,能够减少出现误判的几率,比如,在检测过程中,由于信号的波动等情况出现瞬间的尖峰,若采用峰值则可能会导致误判。另一方面,在校准单元进行校准过程中,使用第一电压信号的峰值,若实际应用过程中所检测到的第一电压信号的平均值超过第一电压信号的峰值,换言之,实际应用过程中所检测到的第一电压信号中具有多个值超过第一电压信号的峰值,这意味着已多次检测到微波装置处于空载状态,此时,再进行确定微波装置的负载状态为空载状态,准确率较高,亦即进一步减少了出现误判的几率。
图8为本发明实施例提供的微波检测方法的流程示意图,该方法可以由图1所示的微波装置执行,其中,微波装置的结构可以参考上述针对图1的具体描述,这里不再赘述。如图8所示,该微波检测方法包括:
步骤801:获取微波信号,并根据微波信号的场强确定微波装置当前的负载状态。
其中,微波信号由微波装置输出。
在一实施例中,如图9所述,步骤801中根据微波信号的场强确定微波装置当前的负载状态的过程包括如下步骤:
步骤901:根据微波信号,获取与微波信号的场强对应的第一电压信号。
步骤902:若第一电压信号大于预设电压信号,则确定微波装置当前的负载状态为空载状态。
由上述实施例可知,当微波装置的负载状态不同时,微波装置所输出的微波信号的场强不同,换言之,微波装置的负载状态与微波信号的场强存在强对应关系。那么,通过获取微波信号,并根据微波信号获取与该微波信号的场强对应的第一电压信号,则可确定微波装置当前的负载状态。继而,在所检测到的第一电压信号大于预设电压信号时,则可确定微波装置当前的负载状态为空载状态。从而,微波装置可及时采用对应的解决措施,以防止微波装置损坏。
在一实施例中,在执行步骤801之间,该微波检测方法还包括:在空载状态下,获取当前的第一电压信号。根据当前的第一电压信号调整预设电压信号。
其中,具体调整过程在上述实施例中已详细描述,这里不再赘述。
步骤802:若微波装置当前的负载状态为空载状态,则调整微波装置的工作状态。
当微波装置的负载状态为空载状态时,微波装置被烧坏的风险较高,此时应及时采取对应的解决措施,即及时的调整微波装置的工作状态。
在一实施例中,步骤802中调整微波装置的工作状态的过程包括:减少微波装置的加热时长,和/或,减小微波装置的加热功率。
在此实施例中,一方面,可减少微波装置的加热时长,以尽快使微波装置停止工作;另一方面,可减小微波装置的加热功率,以降低微波装置烧坏的几率。从而,能够实现在微波装置的负载状态为空载状态时,对微波装置起到保护作用,既提高了微波装置使用的安全性,也有利于延长微波装置的使用寿命。
应理解,方法实施例中对微波装置的具体控制以及产生的有益效果,可以参考上述装置实施例中的相应描述,为了简洁,这里不再赘述。
本申请实施例提供了一种微波检测装置,应用于微波装置,微波装置用于输出微波信号,其中,微波装置的结构可以参考上述针对图1的具体描述,这里不再赘述。请参见图10,其示出了本申请实施例提供的一种微波检测装置的结构示意图,微波检测装置1000包括:第一确定单元1001与第一调整单元1002。
第一确定单元1001用于获取微波信号,并根据微波信号的场强确定微波装置当前的负载状态。
指令生成单元1002用于若微波装置当前的负载状态为空载状态,则调整微波装置的工作状态。
上述产品可执行图8所示的本申请实施例所提供的方法,具备执行方法相应的功能模块和有益效果。未在本实施例中详尽描述的技术细节,可参见本申请实施例所提供的方法。
本申请另一实施例还提供了一种微波装置,请参见图11,微波装置包括:磁控管1110与控制单元1100,其中,磁控管1110用于输出微波信号,控制单元1100用于对磁控管1110输出的微波信号进行处理。
其中,控制单元1100可以采用微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)或者数字信号处理(Digital Signal Processing,DSP)控制器等。
具体地,控制单元1100包括至少一个处理器1101;以及,与至少一个处理器1101通信连接的存储器1102,图11中以其以一个处理器701为例。
存储器1102存储有可被至少一个处理器1101执行的指令,指令被至少一个处理器1101执行,以使至少一个处理器1101能够执行上述图8中的微波检测方法。处理器1101和存储器1102可以通过总线或者其他方式连接,图11中以通过总线连接为例。
存储器1102作为一种非易失性计算机可读存储介质,可用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块,如本申请实施例中的微波检测方法对应的程序指令/模块,例如,附图10所示的各个模块。处理器1101通过运行存储在存储器1102中的非易失性软件程序、指令以及模块,从而执行服务器的各种功能应用以及数据处理,即实现上述方法实施例的微波检测方法。
存储器1102可以包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序;存储数据区可存储根据数据传输装置的使用所创建的数据等。此外,存储器1102可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实施例中,存储器1102可选包括相对于处理器1101远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至数据传输装置。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
一个或者多个模块存储在存储器1102中,当被一个或者多个处理器1101执行时,执行上述任意方法实施例中的微波检测方法,例如,执行以上描述的图8的方法步骤,实现图10中的各模块和各单元的功能。
上述产品可执行本申请实施例所提供的方法,具备执行方法相应的功能模块和有益效果。未在本实施例中详尽描述的技术细节,可参见本申请实施例所提供的微波检测方法。
本申请实施例还提供了一种非易失性计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,该计算机可执行指令被一个或多个处理器执行,例如,执行以上描述的图8和图9的方法步骤,以及实现图10中的各单元的功能。
本申请实施例还提供了一种计算机程序产品,包括存储在非易失性计算机可读存储介质上的计算程序,所述计算机程序包括程序指令,当所述程序指令被计算机执行时时,使所述计算机执行上述任意方法实施例中的微波检测方法,例如,执行以上描述的图8和图9的方法步骤,以及实现图10中的各单元的功能。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;在本申请的思路下,以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合,步骤可以以任意顺序实现,并存在如上所述的本申请的不同方面的许多其它变化,为了简明,它们没有在细节中提供;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。
Claims (16)
1.一种微波检测电路,其特征在于,应用于微波装置,所述微波装置用于输出微波信号,所述微波检测电路包括:
检测单元,所述检测单元用于接收所述微波信号,并根据所述微波信号输出第一交流信号;
整流单元,所述整流单元与所述检测单元连接,所述整流单元用于对所述第一交流信号进行整流,以输出第一直流信号;
滤波单元,所述滤波单元与所述整流单元连接,所述滤波单元用于根据所述第一直流信号进行充电,以获得与所述微波信号的场强对应的第一电压信号。
2.根据权利要求1所述的微波检测电路,其特征在于,所述检测单元包括天线与第一电阻;
所述天线的第一端与所述第一电阻的第一端及所述整流单元连接,所述天线的第二端与所述第一电阻的第二端均接地。
3.根据权利要求2所述的微波检测电路,其特征在于,所述天线包括长度为微波信号的波长的1/4的铜线。
4.根据权利要求1所述的微波检测电路,其特征在于,所述整流单元包括第一二极管;
所述第一二极管的阳极与所述检测单元连接,所述第一二极管的阴极与所述滤波单元连接。
5.根据权利要求4所述的微波检测电路,其特征在于,所述整流单元还包括第二电阻;
所述第二电阻的第一端与所述检测单元连接,所述第二电阻的第二端与所述第一二极管的阳极连接。
6.根据权利要求1所述的微波检测电路,其特征在于,所述滤波单元包括第一电容与第三电阻;
所述第一电容的第一端与所述整流单元连接,所述第一电容的第二端接地,所述第一电容与所述第三电阻并联连接。
7.根据权利要求1所述的微波检测电路,其特征在于,所述微波检测电路还包括:
比较单元,所述比较单元与所述滤波单元连接,所述比较单元用于将所述第一电压信号与预设电压信号进行比较,以输出第一比较信号;
控制单元,所述控制单元与所述比较单元连接,所述控制单元用于接收所述第一比较信号,并根据所述第一比较信号调整所述微波装置的工作状态。
8.根据权利要求7所述的微波检测电路,其特征在于,所述微波检测电路还包括校准单元;
所述校准单元用于在空载状态下,获取当前的第一电压信号,并根据当前的第一电压信号调整所述预设电压信号。
9.一种微波装置,其特征在于,包括炉腔、基板以及如权利要求1-8任意一项所述的微波检测电路;
所述微波检测电路中的至少部分电路设于所述基板上,所述基板设于所述炉腔的外表面;
所述炉腔的外表面设置有至少一个通孔,所述至少一个通孔的至少部分被所述基板覆盖。
10.一种微波检测方法,其特征在于,应用于微波装置,所述微波装置用于输出微波信号,所述微波检测方法包括:
获取所述微波信号,并根据所述微波信号的场强确定所述微波装置当前的负载状态;
若所述微波装置当前的负载状态为空载状态,则调整所述微波装置的工作状态。
11.根据权利要求10所述的微波检测方法,其特征在于,所述根据所述微波信号的场强确定所述微波装置当前的负载状态,包括:
根据所述微波信号,获取与所述微波信号的场强对应的第一电压信号;
若所述第一电压信号大于预设电压信号,则确定所述微波装置当前的负载状态为所述空载状态。
12.根据权利要求11所述的微波检测方法,其特征在于,在所述获取所述微波信号,并根据所述微波信号的场强确定所述微波装置当前的负载状态之前,所述方法还包括:
在空载状态下,获取当前的第一电压信号;
根据当前的第一电压信号调整所述预设电压信号。
13.根据权利要求10所述的微波检测方法,其特征在于,所述调整所述微波装置的工作状态,包括:
减少所述微波装置的加热时长,和/或,减小所述微波装置的加热功率。
14.一种微波检测装置,其特征在于,应用于微波装置,所述微波装置用于输出微波信号,所述微波检测装置包括:
第一确定单元,用于获取所述微波信号,并根据所述微波信号的场强确定所述微波装置当前的负载状态;
第一调整单元,用于若所述微波装置当前的负载状态为空载状态,则调整所述微波装置的工作状态。
15.一种微波装置,其特征在于,包括:
磁控管,所述磁控管用于输出微波信号;
控制单元,用于对所述微波信号进行处理,所述控制单元包括:
至少一个处理器以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行权利要求10-13任一项所述的方法。
16.一种非易失性计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,当所述计算机可执行指令被处理器执行时,使所述处理器执行权利要求10-13任一项所述的方法。
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