CN114295641B - 玻璃油墨层的缺陷检测结构及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种玻璃油墨层的缺陷检测结构及检测方法，该缺陷检测结构包括承载片、AR膜层、SiO₂膜层和MgF₂膜层。其中，承载片为透明材质；AR膜层设于承载片的一表面；SiO₂膜层设于承载片的背离AR膜层的表面；MgF₂膜层设于SiO₂膜层的背离承载片的表面。采用该缺陷检测结构可以在待检测玻璃镀AR膜之前，将原本只有在镀AR膜之后才能显现出来的油墨层缺陷提前显现出来。当检测发现油墨层存在缺陷时，可及时对油墨层缺陷进行返修，有效提高产品良率。该缺陷检测结构很好地解决了玻璃样品镀AR膜后显现出来的油墨层缺陷无法进行返修，导致产品报废的问题；并且该缺陷检测结构结构简单、操作方便、实用性强。

Description

玻璃油墨层的缺陷检测结构及检测方法

技术领域

本发明涉及玻璃外观检测技术领域，特别是涉及一种玻璃油墨层的缺陷检测结构及检测方法。

背景技术

AR(Anti-Reflection)膜层是一种光学增透膜层，可应用于一些电子产品(如iPad)的玻璃表面，形成玻璃盖板。这些玻璃盖板的结构包含玻璃基底及设于玻璃基底正面的AR膜层和设于玻璃基底背面的油墨层。在制造的过程中，是先在玻璃基底背面采用丝印等方式形成油墨层，然后在玻璃基底正面采用蒸镀等方式形成AR膜层。在形成油墨层之后而在未形成AR膜层之前，一些油墨层缺陷无法被发现；然而在形成AR膜层之后，由于AR膜层之后玻璃盖板的反射率骤降，一般地，镀膜面的反射率可由镀膜前的约4.2％减少到0.5％左右，此时未形成AR膜层之前无法发现的油墨层缺陷会非常容易就显现出来。

而且，在镀AR膜层后，如果要对玻璃盖板的油墨层进行返修，则返修过程会对已经形成的AR膜层造成破坏。因此，镀了AR膜层后的玻璃盖板的油墨层缺陷一般不能返修，只能被判定为油墨层缺陷而报废。因此，镀AR膜层后才显现出来的油墨层缺陷会对产品良率造成较大影响，提高生产成本、造成制造浪费。

发明内容

基于此，有必要提供一种能够无需在玻璃上形成AR膜层、可在形成油墨层后及时发现油墨层缺陷的玻璃油墨层的缺陷检测结构及检测方法。

本发明提出的技术方案如下：

根据本发明的一个方面，提供了一种玻璃油墨层的缺陷检测结构，包括：

承载片，所述承载片为透明材质；

AR膜层，设于所述承载片的表面；

SiO₂膜层，设于所述承载片的背离所述AR膜层的表面；及

MgF₂膜层，设于所述SiO₂膜层的背离所述承载片的表面。

在其中一些实施例中，所述SiO₂膜层的厚度为60nm～120nm；所述MgF₂膜层的厚度为60nm～120nm。

在其中一些实施例中，所述SiO₂膜层的厚度为80nm～100nm；所述MgF₂膜层的厚度为84nm～96nm。

在其中一些实施例中，所述缺陷检测结构还包括：

AS膜层，所述AS膜层设于所述AR膜层的背离所述承载片的表面。

在其中一些实施例中，所述AR膜层与含有所述油墨层的待检测玻璃上待镀的AR膜的材质、结构及厚度相同。

在其中一些实施例中，所述承载片为玻璃片或PMMA片，所述承载片的厚度为0.2mm～1mm。

根据本发明的另一方面，还提供了一种玻璃油墨层的缺陷检测方法，包括如下步骤：

提供本发明上述的缺陷检测结构及含有所述油墨层的待检测玻璃；

将所述缺陷检测结构以所述MgF₂膜层所在表面与所述待检测玻璃以玻璃基板背离所述油墨层的表面贴合，并在相互贴合的两个表面之间加入水形成水界面层；及

对贴合有所述缺陷检测结构的所述待检测玻璃进行油墨层缺陷检测。

在其中一些实施例中，所述水界面完全填充所述MgF₂膜层与所述待检测玻璃之间的间隙。

在其中一些实施例中，所述对贴合有所述缺陷检测结构的所述待检测玻璃进行油墨层缺陷检测，包括如下步骤：

利用光源从所述缺陷检测结构的靠近所述AR膜层的一侧照射所述缺陷检测结构，透过所述缺陷检测结构观察并判断所述待检测玻璃的所述油墨层是否存在缺陷。

在其中一些实施例中，所述判断所述待检测玻璃的所述油墨层是否存在缺陷，包括如下步骤：

当所述待检测玻璃的所述油墨层存在划痕、麻点和/或异色时，则判断所述油墨层存在缺陷；否则，判断所述油墨层不存在缺陷。

与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：

本发明的玻璃油墨层的缺陷检测结构，在承载片的一面设置AR膜层，另一面设置SiO₂膜层，在SiO₂膜层的背离承载片的一面设置MgF₂膜层。在对待检测玻璃的油墨层进行缺陷检测时，可将待检测玻璃的油墨层一面朝下，待镀膜面朝上，并在待镀膜面上滴加水；然后将缺陷检测结构的MgF₂膜层一面放在待镀膜面上；再将贴合后的缺陷检测结构和待检测玻璃一起送入检验工位，对待检测玻璃的油墨层缺陷进行检测。由于SiO₂膜层和MgF₂膜层的光学干涉作用，使承载片和水界面的反射率大大降低，而水和待检测玻璃待镀膜面界面的反射率也比较低；因此，将缺陷检测结构和待检测玻璃贴合后，其整体的反射率与在待检测玻璃的待镀膜一面上直接镀AR膜后的效果接近。采用此贴合后的结构检测油墨层缺陷和待检测玻璃镀AR膜后检测油墨层缺陷的效果基本一致。因此，该缺陷检测结构可以在待检测玻璃镀AR膜之前，将原本只能在镀AR膜之后才能显现出来的油墨层缺陷提前显现出来，方便对油墨层缺陷进行返修，提高产品良率。

此外，缺陷检测完成后可将该缺陷检测结构和待检测玻璃进行分离，该缺陷检测结构可以重复利用。并且该缺陷检测结构的结构简单、操作方便、实用性强。

附图说明

图1为本发明实施例1的缺陷检测结构的结构示意图。

图2为待检测玻璃的结构示意图。

图3为本发明实施例1的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后的结构示意图。

图4为本发明实施例1的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。

图5为本发明实施例1的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，待检测玻璃背离油墨层一面与水界面的反射率。

图6为待检测玻璃背离油墨层一面的反射率。

图7为本发明实施例2的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。

图8为本发明实施例3的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。

图9为本发明实施例4的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。

图10为本发明实施例5的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。

图11为本发明对比例1的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。

图12为本发明对比例2的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。

图13为本发明对比例3的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。

图14为本发明对比例4的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。

附图标记说明：

10、缺陷检测结构；11、承载片；12、AR膜层；13、SiO₂膜层；14、MgF₂膜层；15、AS膜层；20、待检测玻璃；21、玻璃基板；22、油墨层；30、水界面层。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1，本发明的一些实施例提供了一种玻璃油墨层的缺陷检测结构10，该缺陷检测结构10包括：承载片11、AR膜层12、SiO₂膜层13和MgF₂膜层14。

其中，承载片11为透明材质；AR膜层12设置在承载片11的一个表面上；SiO₂膜层13设置在承载片11背离该AR膜层12的表面上(即与AR膜层12相对的一面)，MgF₂膜层14设置在SiO₂膜层13背离承载片11的表面上(即与SiO₂膜层13相对的一面)。也即上述AR膜层12、承载片11、SiO₂膜层13和MgF₂膜层14形成层叠结构。

上述的玻璃油墨层的缺陷检测结构10，采用透明材质的承载片11，在承载片11的一面设置AR膜层12，另一面设置SiO₂膜层13，在SiO₂膜层13背离承载片11的一面设置MgF₂膜层14。请参阅图3，在对待检测玻璃20的油墨层22进行缺陷检测时，将待检测玻璃20的油墨层22一面朝下，待镀膜面(即玻璃基板21上与油墨层22相对的一面)朝上，并在待镀膜面上滴加水；然后将缺陷检测结构10的MgF₂膜层14一面轻轻放在待检测玻璃20的待镀膜面上，使水完全填充MgF₂膜层14与待镀膜面之间的间隙；再将贴合后的缺陷检测结构10和待检测玻璃20一起送入检验工位，对待检测玻璃20的油墨层22的缺陷进行检测。

由于设置了SiO₂膜层13和MgF₂膜层14，该SiO₂膜层13和MgF₂膜层14形成复合增透膜层，由于其光学干涉作用使得承载片11和水界面的反射率大大降低，而水和待检测玻璃20待镀膜面界面的反射率也比较低(约为0.43％)，该两个界面的总反射率处于较低的水平；因此，将缺陷检测结构10和待检测玻璃20贴合后，其整体的反射率与在待检测玻璃20的待镀膜面上直接镀AR膜后的效果接近。采用此贴合后的结构可以很好地模拟待检测玻璃20镀AR膜后的光学效果，其检测油墨层22缺陷和待检测玻璃20镀AR膜后检测油墨层22缺陷的效果基本一致；因此，可采用该贴合后的结构模拟待检测玻璃20镀AR膜后的效果，对油墨层22的缺陷进行检测。检测完成后可将缺陷检测结构10和待检测玻璃20进行分离，缺陷检测结构10可重复利用，若油墨层22存在缺陷，则进行油墨返修，若油墨层22没有缺陷，则将待检测玻璃20清洗后镀AR膜。

采用该缺陷检测结构10，可以在待检测玻璃20镀AR膜之前，将原本只能在镀AR膜之后才能显现出来的油墨层22缺陷提前显现出来。当检测发现油墨层22存在缺陷时，可及时对油墨层22的缺陷进行返修，有效提高产品的良率。该缺陷检测结构10很好地解决了玻璃样品镀AR膜后显现出来的油墨层22的缺陷无法进行返修，导致产品报废的问题；并且该缺陷检测结构10结构简单、操作方便、实用性强。

在其中一个具体示例中，SiO₂膜层13的厚度为60nm～120nm；MgF₂膜层14的厚度为60nm～120nm。采用具有上述厚度的SiO₂膜层13和MgF₂膜层14的缺陷检测结构10，与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30的反射率更低，其反射率可以达到0.02％以下。可使缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，基本接近待检测玻璃20直接镀AR膜后的效果，提高油墨层22的缺陷检测效果。

在其中一些优选实施例中，SiO₂膜层13的厚度为80nm～100nm，MgF₂膜层14的厚度为84nm～96nm。采用上述厚度的SiO₂膜层13和MgF₂膜层14形成的复合增透膜结构，可以更加有效地降低承载片11与水界面层30的反射率。其反射率可以达到0.01％以下。

在其中一些实施例中，缺陷检测结构10还包括一层AS膜层15。该AS(Anti SmudgeCoating)膜层15设置在AR膜层12的背离承载片11的一侧表面。该AS膜层15的主要成分为全氟聚醚，其具有很高的透光率，将其复合在AR膜层12上，不仅不会影响缺陷检测结构10的透光性，而且可以提高缺陷检测结构10表面的爽滑性能，具有防指纹、防油、放灰尘的作用。AS膜层15的具体厚度可以根据实际情况进行确定。

需要说明的是，本发明的缺陷检测结构10中，AR膜层12的材质、结构、厚度优选与待检测玻璃20上待镀的AR膜接近，以使该缺陷检测结构10能够更好地模拟在待检测玻璃20上直接镀AR膜的效果；使采用缺陷检测结构10检测的油墨层22缺陷检测结果与镀AR膜后的待检测玻璃20的检测结果基本一致。

在其中一个具体示例中，AR膜层12与待检测玻璃20上待镀的AR膜的材质、结构及厚度相同。即AR膜层12与待检测玻璃20上待镀的AR膜保持一致。如此，可以尽可能地使缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，更加接近在待检测玻璃20的待镀膜面上直接镀AR膜的反射率，进而使原本只有镀膜后才能显现的油墨层22缺陷尽可能地显现出来，提高对待检测玻璃20的油墨层22的缺陷检测效果。

可以理解，缺陷检测结构10中的AR膜层12，可以采用与待检测玻璃20上待镀的AR膜相同的原料以及相同的镀膜工艺制备得到，以确保AR膜层12与待检测玻璃20上待镀的AR膜具有相同的材质、结构及厚度。

可理解，可以根据待检测玻璃20预计需要镀的AR膜的材质、结构及厚度，来确定缺陷检测结构10中AR膜层12的材质、结构和厚度。从而，针对预制备的具有不同AR膜的玻璃样品，可以设置多种具有不同AR膜层12的缺陷检测结构10，根据不同的玻璃样品选择相对应的缺陷检测结构10进行油墨层22的缺陷检测。使得该缺陷检测结构10可以适应不同AR膜的玻璃样品的油墨缺陷检测，并且确保具有良好的油墨缺陷检测效果。

在其中一些实施例中，承载片11具体采用玻璃片或者PMMA片(亚克力)。该承载片11具有良好的透明性，将其作为AR膜层12、SiO₂膜层13、MgF₂膜层14和AS膜层15的镀膜基材，形成具有层叠结构的缺陷检测结构10，可使该缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后的反射率效果与待检测玻璃20直接镀AR膜后的效果接近。

可以理解，本发明的承载片11的材质并不局限于上述的玻璃片或PMMA片材质，在能够保证缺陷检测结构10具有较好的油墨层22的缺陷检测效果的情况下，也可以采用现有的其他材质作为承载片11。

进一步地，在其中一些实施例中，该承载片11的厚度为0.2mm～1mm。承载片11的厚度不宜过厚也不宜过薄，以能够方便地在承载片上镀膜形成AR膜层12、SiO₂膜层13、MgF₂膜层14和AS膜层15，并且不会对缺陷检测结构10的透光性造成太大影响为准。作为优选，承载片11的厚度为0.2mm～1mm。

具体来说，该缺陷检测结构10中的AR膜层12、SiO₂膜层13、MgF₂膜层14和AS膜层15均可以通过镀膜的方式形成于承载片11的表面，从而形成具有本发明上述的层叠结构的缺陷检测结构10。例如，可以在承载片11的一面镀膜形成一层AR膜层12，在该AR膜层12的表面再镀膜形成一层AS膜层15，在承载片11的另一面镀膜形成SiO₂膜层13，然后在该SiO₂膜层13的表面再镀膜形成一层MgF₂膜层14。各膜层均可采用现有的镀膜设备和镀膜方法进行镀膜，本发明不对此进行具体限定。

本发明的一些实施例还提供了一种玻璃油墨层的缺陷检测方法，利用了本发明上述的缺陷检测结构10对丝印后未镀AR膜的待检测玻璃20的油墨层22的缺陷进行检测。该缺陷检测方法包括如下步骤S100至步骤S400：

步骤S100：提供本发明上述的缺陷检测结构10以及含有油墨层22的待检测玻璃20。

具体地，该缺陷检测结构10包括承载片11、AR膜层12、SiO₂膜层13、MgF₂膜层14。其中，AR膜层12设置在承载片11的一侧表面上，SiO₂膜层13设置在承载片11的背离AR膜层12的一侧表面上，MgF₂膜层14设置在SiO₂膜层13的背离该承载片11的一侧表面上。待检测玻璃20包括玻璃基板21和形成与玻璃基板21的一面的油墨层22，该玻璃基板21的背离油墨层22的表面为待镀AR膜的待镀膜面。

进一步地，该缺陷检测结构10还包括AS膜层15，该AS膜层15设置在AR膜层12的背离承载片11的一侧表面上。可以承载片11作为基材，通过镀膜设备将上述的AR膜层12、SiO₂膜层13、MgF₂膜层14和AS膜层15分别镀在承载片11的表面。

步骤S200：在一面具有油墨层22的未镀AR膜的待检测玻璃20的背离油墨层22的表面加入水。

具体来说，将一面丝印有油墨层22且未进行AR镀膜的玻璃基板21作为待检测玻璃20，将该待检测玻璃20置于检测前的预处理工位上，将该待检测玻璃20的油墨层22的一面朝下，待镀膜面(即玻璃基板21上与油墨层22相对的一面)朝上，并在该待镀膜面上滴加水。

其中，所用的水应采用尽量纯净的水，如蒸馏水，以避免水中的其他物质对油墨层22的缺陷检测效果造成影响。在待检测玻璃20的待镀膜面上加入水时，应该尽量使水能够均匀地铺设在待镀膜面的整个表面上。

步骤S300：将上述的缺陷检测结构10放在待检测玻璃20上，并使缺陷检测结构10中的MgF₂膜层14与待检测玻璃20背离油墨层22的表面贴合。

在待检测玻璃20的待镀膜面上滴加水之后，再将本发明的缺陷检测结构10的MgF₂膜层14一面放置在待检测玻璃20上，使缺陷检测结构10中的MgF₂膜层14与待检测玻璃20的背离油墨层22的表面(即滴加了水的待镀膜面)贴合，形成一个整体。MgF₂膜层14和待检测玻璃20的待镀膜面均与水接触，形成水界面层30。

具体来说，将缺陷检测结构10的MgF₂膜层14一面轻轻地放置在待检测玻璃20的滴加了水的待镀膜面上；MgF₂膜层14与待镀膜面贴合后，应该使MgF₂膜层14与待镀膜面之间的水能够完全填充在MgF₂膜层14与待镀膜面中间。也即，使水能够完全填充MgF₂膜层14与待镀膜面之间的间隙，尽量排除MgF₂膜层14与待镀膜面之间的气泡。这样，可以更好地提高的油墨层22的缺陷检测结果的准确性。

进一步地，在使水完全填充MgF₂膜层14与待检测玻璃20的待镀膜面之间的间隙后，还应该擦去贴合后的缺陷检测结构10和待检测玻璃20表面上多余的水。即应该擦去贴合后的AS膜层15上、油墨层22上以及缺陷检测结构10和待检测玻璃20侧面上多余的水。如此，可以进一步避免贴合后的整体结构表面上多余的水对油墨层22的缺陷检测结果造成不利影响。

步骤S400：对贴合有缺陷检测结构10的待检测玻璃20进行油墨层22的缺陷检测。

将缺陷检测结构10贴合在待检测玻璃20的待镀膜面上形成整体之后，本发明进一步将该整体结构送入检测工位上，在检测工位上对待检测玻璃20的油墨层22的缺陷进行检测。具体地，其检测油墨层22所用的设备和具体流程可与传统的镀AR膜后的玻璃样品的油墨层22缺陷检测设备和流程一致。在本发明中，对此不做具体限定。

在其中一个具体示例中，通过如下方法对贴合有缺陷检测结构10的待检测玻璃20进行油墨层22的缺陷检测：利用光源从缺陷检测结构10的靠近AR膜层12的一侧照射缺陷检测结构10，透过该缺陷检测结构10观察并判断待检测玻璃20的油墨层22是否存在缺陷。

也就是说，在缺陷检测时，以贴合后的缺陷检测结构10的背离待检测玻璃20的一面为正面，对着光源；而待检测玻璃20的油墨层22则为背面，背对光源。

具体地，在利用光源照射缺陷检测结构10时，可以从各个角度进行照射，以更加全面地观察油墨层22上是否存在缺陷。缺陷检测所用的光源可以为常用的标准光源，如D65光源。

具体来说，利用光源照射并观察缺陷检测结构10后，若发现待检测玻璃20的油墨层22存在划痕、麻点和/或异色时，则可判断该待检测玻璃20上的油墨层22存在缺陷，判定为NG；否则，可判断该油墨层22不存在缺陷。

油墨层22的缺陷检测完成之后，将该缺陷检测结构10的MgF₂膜层14与待检测玻璃20的待镀膜面分离(即将缺陷检测结构10与待检测玻璃20分离)。

若缺陷检测结果显示该待检测玻璃20的油墨层22质量合格，则将该合格的待检测玻璃20清洗后进行镀AR膜处理；若缺陷检测结果显示该待检测玻璃20的油墨层22质量不合格，则对该不合格的待检测玻璃20进行油墨层22的返修，以使油墨层22符合质量要求。分离后的缺陷检测结构10可以重复利用，将其继续组装到下一片待检测玻璃20上，继续进行油墨层22的缺陷检测。

下面将结合具体实施例和对比例对本发明作进一步说明，但不应将其理解为对本发明保护范围的限制。

实施例1：

请参阅图1，一种玻璃油墨层的缺陷检测结构10，该缺陷检测结构10包括：承载片11、AR膜层12、SiO₂膜层13、MgF₂膜层14和AS膜层15。其中，承载片11为与待检测玻璃20中的玻璃基板21相同的玻璃片，AR膜层12通过镀膜形成在承载片11的一个表面上，SiO₂膜层13通过镀膜形成在承载片11的背离该AR膜层12的表面上，MgF₂膜层14通过镀膜形成在SiO₂膜层13的背离承载片11的表面上，AS膜层15通过镀膜形成在AR膜层12的表面上。AR膜层12、承载片11、SiO₂膜层13、MgF₂膜层14和AS膜层15形成层叠结构。其中，SiO₂膜层13的厚度为90nm，MgF₂膜层14的厚度为94nm。

利用上述的缺陷检测结构10对丝印后未镀AR膜的待检测玻璃20(其结构如图2所示)的油墨层22的缺陷进行检测。其缺陷检测方法包括如下步骤：

将一面丝印有油墨层22且未进行AR镀膜的玻璃基板21作为待检测玻璃20，将该待检测玻璃20置于检测前的预处理工位上，将该待检测玻璃20的油墨层22的一面朝下，待镀膜面(即玻璃基板21上与油墨层22相对的一面)朝上，并在该待镀膜面上滴加水，使水能够均匀地铺设在待镀膜面的整个表面上；

将上述缺陷检测结构10的MgF₂膜层14一面放置在待检测玻璃20上，使缺陷检测结构10中的MgF₂膜层14与待检测玻璃20的背离油墨层22的表面(即滴加了水的待镀膜面)贴合，形成一个整体(如图3所示)；MgF₂膜层14和待检测玻璃20的待镀膜面均与水接触，形成水界面层30；使水完全填充MgF₂膜层14与待镀膜面之间的间隙，尽量排除MgF₂膜层14与待镀膜面之间的气泡；

擦去贴合后的缺陷检测结构10和待检测玻璃20表面上多余的水；将该整体结构送入检测工位上，在检测工位上对待检测玻璃20的油墨层22的缺陷进行检测；在D65光源下从靠近缺陷检测结构10的AS膜层15的一面各个角度观看油墨层22是否存在缺陷(油墨层22在底面)；当检验人员在D65光源下观看到油墨层22存在划痕、麻点、异色等缺陷时，则存在缺陷，判定为NG。

图4为本实施例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30的反射率曲线。由图4可见，该缺陷检测结构10中，承载片11与水界面层30对波长为400nm～700nm的可见光的平均反射率＜0.02％。

图5为本实施例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，待检测玻璃20的背离油墨层22的一面(待镀膜面)与水界面层30的反射率曲线。由图5可见，待检测玻璃20的待镀膜面与水界面层30的反射率为0.43％左右。

图6为待检测玻璃20的背离油墨层22的一面的反射率曲线。由图6可见，镀膜前的待检测玻璃20的镀膜面的反射率为4.2％左右。

由此可见，将本实施例的缺陷检测结构10和待检测玻璃20贴合后，与待检测玻璃20直接镀AR膜后相比，只多了约0.43％的反射率，基本接近待检测玻璃20直接镀AR膜后的效果。

如此，本实施例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后的反射率，接近在待检测玻璃20的待镀膜面上直接镀AR膜的反射率，可以很好地模拟在玻璃样品待镀膜面上直接镀AR膜后的油墨层22缺陷检测效果。

实施例2：

本实施例的缺陷检测结构10、所用的待检测玻璃20、缺陷检测方法均与实施例1基本相同。本实施例与实施例1的区别仅在于：缺陷检测结构10中SiO₂膜层13的厚度为94nm，MgF₂膜层14的厚度为90nm。

图7为本实施例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30的反射率曲线。由图7可见，该缺陷检测结构10中，承载片11与水界面层30对可见光的平均反射率约为0.006％。

实施例3：

本实施例的缺陷检测结构10、所用的待检测玻璃20、缺陷检测方法均与实施例1基本相同。本实施例与实施例1的区别仅在于：缺陷检测结构10中SiO₂膜层13的厚度为80nm，MgF₂膜层14的厚度为84nm。

图8为本实施例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30的反射率曲线。由图8可见，该缺陷检测结构10中，承载片11与水界面层30对可见光的平均反射率约为0.006％。

实施例4：

本实施例的缺陷检测结构10、所用的待检测玻璃20、缺陷检测方法均与实施例1基本相同。本实施例与实施例1的区别仅在于：缺陷检测结构10中SiO₂膜层13的厚度为100nm，MgF₂膜层14的厚度为96nm。

图9为本实施例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30的反射率曲线。由图9可见，该缺陷检测结构10中，承载片11与水界面层30对可见光的平均反射率约为0.0085％。

实施例5：

本实施例的缺陷检测结构10、所用的待检测玻璃20、缺陷检测方法均与实施例1基本相同。本实施例与实施例1的区别仅在于：缺陷检测结构10中SiO₂膜层13的厚度为70nm，MgF₂膜层14的厚度为78nm。

图10为本实施例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30的反射率曲线。由图10可见，该缺陷检测结构10中，承载片11与水界面层30对可见光的平均反射率约为0.01％。

对比例1：

该对比例的缺陷检测结构10、所用的待检测玻璃20、缺陷检测方法均与实施例1基本相同。该对比例与实施例1的区别仅在于：缺陷检测结构10中不设置SiO₂膜层13和MgF₂膜层14。

图11为该对比例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30的反射率曲线。由图11可见，该缺陷检测结构10中，承载片11与水界面层30对可见光的平均反射率约为0.43％。可见，该对比例中的平均反射率达不到＜0.02％的要求，会对油墨层22的缺陷检测产生一定的干扰。

对比例2：

该对比例的缺陷检测结构10、所用的待检测玻璃20、缺陷检测方法均与实施例1基本相同。该对比例与实施例1的区别仅在于：缺陷检测结构10中只设置了厚度为90nm的SiO₂膜层13，不设置MgF₂膜层14。

图12为该对比例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30的反射率曲线。由图12可见，该缺陷检测结构10中，承载片11与水界面层30对可见光的平均反射率约为0.09％。可见，该对比例中的平均反射率达不到＜0.02％的要求，会对油墨层22的缺陷检测产生一定的干扰。

对比例3：

该对比例的缺陷检测结构10、所用的待检测玻璃20、缺陷检测方法均与实施例1基本相同。该对比例与实施例1的区别仅在于：缺陷检测结构10中只设置了厚度为94nm的SiO₂膜层13，不设置MgF₂膜层14。

图13为该对比例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30的反射率曲线。由图13可见，该缺陷检测结构10中，承载片11与水界面层30对可见光的平均反射率约为0.11％。可见，该对比例中的平均反射率达不到＜0.02％的要求，会对油墨层22的缺陷检测产生一定的干扰。

对比例4：

该对比例的缺陷检测结构10、所用的待检测玻璃20、缺陷检测方法均与实施例1基本相同。该对比例与实施例1的区别仅在于：缺陷检测结构10中SiO₂膜层13与MgF₂膜层14的位置互换，即MgF₂膜层14直接形成在承载片11的一面，SiO₂膜层13形成在MgF₂膜层14的背离承载片11的一面；且MgF₂膜层14的厚度为184nm，SiO₂膜层13的厚度为174nm。

图14为该对比例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30的反射率曲线。由图14可见，该缺陷检测结构10中，承载片11与水界面层30对可见光的平均反射率约为0.17％。可见，该对比例中的平均反射率达不到＜0.02％的要求，会对油墨层22的缺陷检测产生一定的干扰。

通过试验发现，这种结构的缺陷检测结构10中MgF₂膜层14和SiO₂膜层13的最佳组合厚度即为本对比例中的厚度(MgF₂膜层14厚度为184nm；SiO₂膜层13厚度为174nm)。

对比例5：

该对比例的缺陷检测结构10、所用的待检测玻璃20、缺陷检测方法均与实施例1基本相同。该对比例与实施例1的区别仅在于：缺陷检测结构10中将MgF₂膜层14更换为TiO₂膜层，且TiO₂膜层的厚度为97.5nm，SiO₂膜层13的厚度为273nm。

该对比例的缺陷检测结构10与待检测玻璃20贴合后，承载片11与水界面层30对可见光的平均反射率约为6.17％。可见，该对比例中的平均反射率达不到＜0.02％的要求，会对油墨层22的缺陷检测产生一定的干扰。

通过试验发现，这种结构的缺陷检测结构10中TiO₂膜层和SiO₂膜层13的最佳组合厚度为：TiO₂膜层厚度为97.5nm；SiO₂膜层13厚度为273nm。该对比例中TiO₂膜层和SiO₂膜层13的厚度采用上述最佳组合厚度。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准，说明书及附图可以用于解释权利要求的内容。

Claims (10)

1.一种玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，包括：

承载片，所述承载片为透明材质；

AR膜层，设于所述承载片的表面；

SiO₂膜层，设于所述承载片的背离所述AR膜层的表面；及

MgF₂膜层，设于所述SiO₂膜层的背离所述承载片的表面。

2.根据权利要求1所述的玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，所述SiO₂膜层的厚度为60nm～120nm；所述MgF₂膜层的厚度为60nm～120nm。

3.根据权利要求1所述的玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，所述SiO₂膜层的厚度为80nm～100nm；所述MgF₂膜层的厚度为84nm～96nm。

4.根据权利要求1所述的玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，所述缺陷检测结构还包括：

AS膜层，所述AS膜层设于所述AR膜层的背离所述承载片的表面。

5.根据权利要求1所述的玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，所述AR膜层与含有所述油墨层的待检测玻璃上待镀的AR膜的材质、结构及厚度相同。

6.根据权利要求1至5任一项所述的玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，所述承载片为玻璃片或PMMA片，所述承载片的厚度为0.2mm～1mm。

7.一种玻璃油墨层的缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

提供权利要求1至6任一项所述的缺陷检测结构及含有所述油墨层的待检测玻璃；

将所述缺陷检测结构以所述MgF₂膜层所在表面与所述待检测玻璃以玻璃基板背离所述油墨层的表面贴合，并在相互贴合的两个表面之间加入水形成水界面层；

及

对贴合有所述缺陷检测结构的所述待检测玻璃进行油墨层缺陷检测。

8.根据权利要求7所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述水界面层完全填充所述MgF₂膜层与所述待检测玻璃之间的间隙。

9.根据权利要求7或8所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对贴合有所述缺陷检测结构的所述待检测玻璃进行油墨层缺陷检测，包括如下步骤：

利用光源从所述缺陷检测结构的靠近所述AR膜层的一侧照射所述缺陷检测结构，透过所述缺陷检测结构观察并判断所述待检测玻璃的所述油墨层是否存在缺陷。

10.根据权利要求9所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述判断所述待检测玻璃的所述油墨层是否存在缺陷，包括如下步骤：

当所述待检测玻璃的所述油墨层存在划痕、麻点和/或异色时，则判断所述油墨层存在缺陷；否则，判断所述油墨层不存在缺陷。