CN114264948B - 一种产品过负载特性分析方法、装置、电子设备及介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种产品过负载特性分析方法、装置、电子设备及介质，涉及固体继电器性能分析的领域；该方法包括：获取待分析产品的要求工况、测试参数以及预估过负载值；基于要求工况以及所述测试参数，获取极限过负载曲线；将所述预估过负载值与所述极限过负载曲线进行比对，获取对比结果信息；对所述对比结果信息进行分析，确定所述预估过负载值是否高于所述极限过负载曲线；若高于，则表示在所述要求工况以及所述测试参数下，所述待分析产品在所述预估过负载值时无法处于正常工作状态。本申请提高产品过负载特性的测试效率。
Description
技术领域
本申请涉及固体继电器性能分析的领域，尤其是涉及一种产品过负载特性分析方法、装置、电子设备及介质。
背景技术
固体继电器（solid state rely，简称SSR）是一种以功率半导体器件作为开关元件的新型混合集成电路，近年来，因其可靠性高、工作寿命长，被广泛应用于航空航天领域，特别是在电源配电、火工品点火等系统关键部位；这些应用对固体继电器的耐瞬间浪涌电流的能力（即过负载能力）提出很高的要求。
目前，固体继电器国家军用标准中只要求了固体继电器在周期1秒，占空比10%，循环关断十次的工况下，过负载不小于3.5倍额定值。但是在用户实际使用中，还存在不同工况，且3.5倍也非固体继电器的极限过负载，于用户而言参考意义不大，同时在对固体继电器厂家评估产品进行过负载能力的测试时，测试方法通常为拿几只产品在用户提出的工况下，逐步增大电流进行摸底，直至产品损坏 (用户提一次要求，就需做一次试验）。
针对于上述相关技术，发明人认为在对固体继电器产品进行负载特性测试时，由于工况限制以及测量方法不当等因素，使得工作人员难以准确的判断当前产品的极限过负载特性，从而存在过负载特性测试效率以及准确率难以保证的缺陷。
发明内容
为了提高产品的负载特性的测试效率以及准确率，本申请提供一种产品过负载特性分析方法、装置、电子设备及介质。
第一方面，本申请提供一种产品过负载特性分析方法，采用如下的技术方案：
一种产品过负载特性分析方法，包括：
获取待分析产品的要求工况、测试参数以及预估过负载值，其中，所述待分析产品为需要进行脉冲形式过负载分析的产品，所述要求工况、所述测试参数及所述预估过负载值由用户输入；
基于所述要求工况以及所述测试参数，获取极限过负载曲线；
将所述预估过负载值与所述极限过负载曲线进行比对，获取对比结果信息；
对所述对比结果信息进行分析，确定所述预估过负载值是否高于所述极限过负载曲线；
若高于，则表示在所述要求工况以及所述测试参数下，所述待分析产品在所述预估过负载值时无法处于正常工作状态。
通过采用上述技术方案，在对待分析产品进行负载特性分析时，首先抽取待分析产品样本，并按照待分析产品的产品信息输入要求工况、测试参数以及预估过负载值，系统根据用户输入的要求工况与测试参数，自动计算生成极限过负载曲线，将预估过负载值与极限过负载曲线进行比对，查看在当前测试参数条件下，预估过负载值是否高于极限过负载曲线，若高于，则判定待分析产品无法承受当前预估过负载值，即待分析产品无法处于正常工作状态，从而告知用户及时调整预估过负载值，避免发生产品损坏的情况，进而提高产品过负载特性的测试效率。
在另一种可能实现的方式中，基于所述要求工况，确定极限过负载曲线，之前还包括：
基于要求工况，确定所述预设极限参数以及生成规则，所述要求工况包括单脉冲过负载、n个脉冲过负载以及连续脉冲过负载，所述预设极限参数为所述待分析产品能承受的最大参数；
基于所述预设极限参数以及所述生成规则，确定所述极限过负载曲线。
通过上述技术方案，提前基于所述要求工况，确定与该所述要求工况对应的所述预设极限参数以及所述生成规则；基于所述预设极限参数以及所述生成规则，确定在所述要求工况下的所述极限过负载曲线；通过上述过程，使得在获取到所述要求工况时，可以及时基于所述要求工况确定出对应的所述极限过负载曲线。
在另一种可能实现的方式中，基于所述要求工况，确定所述预设极限参数以及生成规则，包括：
若所述要求工况为所述单脉冲过负载，则第一子预设极限参数包括脉冲宽度、
最高安全工作结温、热阻、环境温度以及，第一子生成规则为：过
负载电流；
若所述要求工况为n个脉冲过负载，则第二子预设极限参数包括脉冲宽度、脉
冲周期、最高安全工作结温、热阻、环境温度以及，第二子生成
规则为：过负载电流；
若所述要求工况为连续脉冲过负载，则第三子预设极限参数包括脉冲宽度、脉
冲周期、最高安全工作结温、稳态热阻、热阻、环境温度以及，第三子生成规则为：过负载电流。
通过采用上述技术方案，在获取到所述要求工况时，首先确定所述预设极限参数，基于所述预设极限参数以及所述要求工况，确定所述生成规则，从而得出固体继电器产品在不同工况下的极限过负载特性，为用户应用和选型带来实际且全面的参考意义。
在另一种可能实现的方式中，基于所述预设极限参数以及所述生成规则，确定所述极限过负载曲线，包括：
当所述要求工况为所述单脉冲过负载时，将所述第一子预设极限参数包括的脉冲
宽度、最高安全工作结温、热阻、环境温度以及最高安全工作结温时的
导通电阻代入所述第一子生成规则，得到以及的关系曲线，即第一子极限
负载曲线；
当所述要求工况为所述n个脉冲过负载时，将所述第二子预设极限参数包括的脉
冲宽度、脉冲周期、最高安全工作结温、热阻、环境温度以及最高安
全工作结温时的导通电阻代入所述第二子生成规则，得到以及的关系曲
线，即第二子极限负载曲线；
当所述要求工况为所述连续脉冲过负载时，将所述第三子预设极限参数包括的脉
冲宽度、脉冲周期、最高安全工作结温、稳态热阻、热阻、环境温
度以及最高安全工作结温时的导通电阻代入所述第三子生成规则，得到以
及的关系曲线，即第三子极限负载曲线。
在另一种可能实现的方式中，所述基于所述要求工况以及所述测试参数，获取极限过负载曲线；
将所述预估过负载值与所述极限过负载曲线进行比对，获取对比结果信息，之后还包括：
若所述要求工况为单脉冲过负载，则基于所述测试参数，得到第一极限过负载曲线；若所述预估过负载值在所述第一极限过负载曲线的上方，则表示所述待分析产品在所述要求工况以及所述测试参数的需求时，无法处于正常工作状态；
若所述要求工况为所述n个脉冲过负载，则基于所述测试参数，得到第二极限过负载曲线；若所述预估过负载值在所述第二极限过负载曲线的上方，则表示所述待分析产品在所述要求工况以及所述测试参数的需求时，无法处于正常工作状态；
若所述要求工况为所述连续脉冲过负载，则基于所述测试参数，得到第三极限过负载曲线；若所述预估过负载值在所述第三极限过负载曲线的上方，则表示所述待分析产品在所述要求工况以及所述测试参数的需求时，无法处于正常工作状态。
通过采用上述技术方案，在得到与所述要求工况及测试参数对应的所述极限过负载曲线后，对所述极限过负载曲线以及用户提供的所述预估过负载值的位置进行比对，以得到所述分析结果；若预估过负载值高于极限过负载曲线，则判定待分析产品无法承受当前预估过负载值，从而告知用户及时调整预估过负载值或重新选型，避免发生产品损坏的情况。
在另一种可能实现的方式中，所述基于所述要求工况确定预设极限参数以及生成规则，之前还包括：
基于热阻基本计算式以及所述要求工况，确定温升规则；
基于所述温升规则以及功耗计算规则，生成所述生成规则，所述功耗计算规则为：；所述生成规则由所述温升规则代入所述功耗计算规则中得到的。
通过采用上述技术方案，先用温升叠加的方法推出了三种工况下的温升。再由温升得到每种工况下的热阻最后通过最大功耗。可推出。
的最高安全工作结温（例如硅半
导体为175℃）。单脉冲取；n个脉
冲取连续脉冲取通过计算获取单脉冲热阻
曲线或者数学模型，推出单脉冲、连续脉冲、n个脉冲工况下的最大过负载电流。也就是k,、
T、脉宽t、都可已知且为常数，、、都是在的基础上，对自变量的值做变换得到的。
在另一种可能实现的方式中，所述基于热阻基本计算式以及所述要求工况，确定温升规则，包括：
当所述要求工况为单脉冲过负载时，基于所述热阻基本计算式，得到第一子温升规则为，；
当所述要求工况为n个脉冲过负载时，基于n个脉冲中的各个脉冲在n个脉冲结束
时在芯片上产生的温升得到n个脉冲时的叠加温升，基于所述n个脉冲时的叠加温
升，确定所述n个脉冲过负载时的第二子温升规则；
当所述要求工况为连续脉冲过负载时，基于整个脉冲过程中的平均功率，得
到连续脉冲时的平均温升、第n个脉冲温升以及第n+1脉冲温升的叠加温升，基于所述
连续脉冲时的叠加温升，确定所述连续脉冲过负载时的第三子温升规则，。
第二方面，本申请提供一种产品过负载特性分析装置，采用如下的技术方案：
一种产品过负载特性分析装置，包括第一获取模块、第二获取模块、比对模块、确定模块以及判定模块，其中，
第一获取模块，用于获取待分析产品的要求工况、测试参数以及预估过负载值，其中，所述待分析产品为需要进行脉冲形式过负载分析的产品，所述要求工况以及所述测试参数由用户输入，所述预估过负载值为用户基于所述要求工况以及所述测试参数确定的；
第二获取模块，用于基于所述要求工况以及所述测试参数，获取极限过负载曲线；
比对模块，用于将所述预估过负载值与所述极限过负载曲线进行比对，获取对比结果信息；
确定模块，用于对所述对比结果信息进行分析，确定所述预估过负载值是否高于所述极限过负载曲线的真实负载值；
判定模块，用于当高于时，表示在所述要求工况以及所述测试参数下，所述待分析产品在所述预估过负载值时无法处于正常工作状态。
第三方面，本申请提供一种电子设备，采用如下的技术方案：
一种电子设备，该电子设备包括：
一个或多个处理器；
存储器；
一个或多个应用程序，其中一个或多个应用程序被存储在存储器中并被配置为由一个或多个处理器执行，一个或多个应用程序配置用于：执行根据第一方面任一种可能的实现方式所示的一种产品过负载特性分析方法。
第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，采用如下的技术方案：
一种计算机可读存储介质，包括：存储有能够被处理器加载并执行实现第一方面任一种可能的实现方式所示的一种产品过负载特性分析方法的计算机程序。
综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
1.在对待分析产品进行负载特性分析时，首先抽取待分析产品样本，并按照待分析产品的产品信息输入要求工况、测试参数以及预估过负载值，系统根据用户输入的要求工况与测试参数，自动计算生成极限过负载曲线，将预估过负载值与极限过负载曲线进行比对，查看在当前测试参数条件下，预估过负载值是否高于极限过负载曲线，若高于，则判定待分析产品无法承受当前预估过负载值，即待分析产品无法处于正常工作状态，从而告知用户及时调整预估过负载值，避免发生产品损坏的情况，进而提高产品负载特性的测试效率。
附图说明
图1是本申请实施例的一种产品过负载特性分析方法的流程示意图；
图2是本申请实施例的一种产品过负载特性分析装置的结构示意图；
图3是本申请实施例的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图1-3对本申请作进一步详细说明。
本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本申请的权利要求范围内都受到专利法的保护。
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
另外，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，如无特殊说明，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
下面结合说明书附图对本申请实施例作进一步详细描述。
本申请实施例提供了一种产品过负载特性分析方法，由电子设备执行，该电子设备可以为服务器也可以为终端设备，其中，该服务器可以是独立的物理服务器，也可以是多个物理服务器构成的服务器集群或者分布式系统，还可以是提供云计算服务的云服务器。终端设备可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式计算机等，但并不局限于此，该终端设备以及服务器可以通过有线或无线通信方式进行直接或间接地连接，本申请实施例在此不做限制，如图1所示，该方法包括步骤S10、步骤S11、步骤S12以及步骤S13，其中，
步骤S10，获取待分析产品的要求工况、测试参数以及预估过负载值，其中，待分析产品为需要进行脉冲形式过负载分析的产品，要求工况、测试参数以及预估过负载值由用户输入。
对于本申请实施例，待分析产品即为固体继电器；在需要对待分析产品进行试验分析时，用户需将试验所需的要求工况、测试参数以及预估过负载值输入至电子设备；具体地，可在电子设备上设置测试按钮，当用户按下测试按钮时，显示输入窗口，在输入窗口内输入要求工况、测试参数以及预估过负载值。
步骤S11，基于要求工况以及测试参数，获取极限过负载曲线。
其中，极限过负载曲线预设在电子设备内，且极限过负载曲线与要求工况一一对应；具体地，用户在输入窗口内输入要求工况以及测试参数时，电子设备基于要求工况以及测试参数，即可确定出与要求工况对应的极限过负载曲线，极限过负载曲线为待分析产品在对应要求工况下的理论极限状态，理论极限状态即理论极限过负载电流。在此过负载电流下，固体继电器中半导体的结温不超过最大安全工作温度(例如，硅半导体芯片最大安全工作结温不超过175℃)。
步骤S12，将预估过负载值与极限过负载曲线进行比对，获取对比结果信息。
具体地，电子设备在获取到用户输入的要求工况、测试参数以及预估过负载值后，电子设备将预估过负载值与负载曲线进行比对，得到对比结果信息。
步骤S13，对对比结果信息进行分析，确定预估过负载值是否高于极限过负载曲线。
其中，对比结果信息用于表示待分析产品是否满足要求工况、测试参数以及预估过负载值的要求。
步骤S14，若高于，则表示在要求工况以及测试参数下，待分析产品在预估过负载值时无法处于正常工作状态。
具体地，电子设备在获取到要求工况以及测量参数后，首先抽取待分析产品样本，并按照待分析产品的产品信息输入要求工况、测试参数以及预估过负载值，系统根据用户输入的要求工况与测试参数，自动计算生成极限过负载曲线，将预估过负载值与极限过负载曲线进行比对，查看在当前测试参数条件下，预估过负载值是否高于极限过负载曲线，若高于，则判定待分析产品无法承受当前预估过负载值，即待分析产品无法处于正常工作状态，从而告知用户及时调整预估过负载值，避免发生产品损坏的情况，进而提高产品负载特性的测试效率。
本申请实施例的一种可能的实现方式，步骤S11具体包括步骤S111（图中未示出）以及步骤S112（图中未示出），其中，
步骤S111（图中未示出），获取要求工况，并基于要求工况确定预设极限参数以及生成规则，要求工况包括单脉冲过负载、n个脉冲过负载以及连续脉冲过负载，预设极限参数为待分析产品能承受的最大参数；
步骤S112（图中未示出），基于预设极限参数以及生成规则，确定极限过负载曲线。
其中，要求工况包括单脉冲过负载、n个脉冲过负载以及连续脉冲过负载，预设极限参数为待分析产品能承受的最大参数；具体地，电子设备提前设置好与要求工况对应的预设极限参数以及生成规则，以生成极限过负载曲线。
本申请实施例的一种可能的实现方式，步骤S111（图中未示出）具体包括步骤Sa（图中未示出）、步骤Sb（图中未示出）以及步骤Sc（图中未示出），其中，
步骤Sa（图中未示出），若要求工况为单脉冲过负载，则第一子预设极限参数包括
脉冲宽度、最高安全工作结温、热阻、环境温度以及，第一子生
成规则为：过负载电流。
步骤Sb（图中未示出），若要求工况为n个脉冲过负载，则第二子预设极限参数包括脉冲
宽度、脉冲周期、最高安全工作结温、热阻、环境温度以及，
第二子生成规则为：过负载电流。
步骤Sc（图中未示出），若要求工况为连续脉冲过负载，则第三子预设极限参数包括脉冲宽
度、脉冲周期、最高安全工作结温、稳态热阻、热阻、环境温度以
及，第三子生成规则为：过负载电流。
对于本申请实施例，在要求工况为单脉冲过负载时，电子设备基于单脉冲过负载时某一待分析产品的可承受的最大参数值作为第一子预设极限参数，并确定第一子生成规则为单脉冲过负载时的生成规则；在要求工况为n个脉冲过负载时，电子设备基于n个脉冲过负载时某一待分析产品的可承受的最大参数值作为第二子预设极限参数，并确定第二子生成规则为n个脉冲过负载时的生成规则；当要求工况为连续脉冲过负载时，电子设备基于连续脉冲过负载时某一待分析产品可承受的最大参数值作为第三子预设极限参数，并确定第三子生成规则为连续脉冲时的生成规则。
本申请实施例的一种可能的实现方式，步骤S112（图中未示出）具体包括步骤Sd（图中未示出）、步骤Se（图中未示出）以及步骤Sf（图中未示出），其中，
步骤Sd（图中未示出），当要求工况为单脉冲过负载时，将第一子预设极限参数包
括的脉冲宽度、最高安全工作结温、热阻、环境温度以及最高安全工作
结温时的导通电阻代入第一子生成规则，得到以及的关系曲线，即第一子
极限负载曲线。
步骤Se（图中未示出），当要求工况为n个脉冲过负载时，将第二子预设极限参数包
括的脉冲宽度、脉冲周期、最高安全工作结温、热阻、环境温度以及
最高安全工作结温时的导通电阻代入第二子生成规则，得到以及的关系曲
线，即第二子极限负载曲线。
步骤Sf（图中未示出），当要求工况为连续脉冲过负载时，将第三子预设极限参数
包括的脉冲宽度、脉冲周期、最高安全工作结温、稳态热阻、热阻、环境温度以及最高安全工作结温时的导通电阻代入第三子生成规则，
得到以及的关系曲线，即第三子极限负载曲线。
对于本申请实施例，电子设备在基于要求工况，确定完毕对应的预设极限参数以
及生成规则后，将对应要求工况下的预设极限参数代入对应生成规则中，以得到最大过负
载电流与不同要求工况下的脉冲宽度的关系曲线，即对应工况下的极限过负载曲线。
进一步地，电子设备可以依据用户输入的要求工况首先确定出对应工况下的生成规则；例如若用户输入的要求工况为连续脉冲过负载，则确定生成规则为第三子生成规则；此时电子设备可以提示用户输入与连续脉冲过负载对应的测试参数；同时，电子设备在获取到要求工况时，确定出第三子极限过负载曲线为极限过负载曲线，即基于第三子极限过负载曲线确定预估过负载值是否合格。
本申请实施例的一种可能的实现方式，步骤S12之后还包括步骤S121（图中未示出）、步骤S122（图中未示出）以及步骤S123（图中未示出），其中，
步骤S121（图中未示出），若要求工况为单脉冲过负载，则基于测试参数，得到第一极限过负载曲线；若预估过负载值在第一极限过负载曲线的上方，则表示待分析产品在要求工况以及测试参数的需求时，无法处于正常工作状态；
步骤S122（图中未示出），若要求工况为n个脉冲过负载，则基于测试参数，得到第二极限过负载曲线；若预估过负载值在第二极限过负载曲线的上方，则表示待分析产品在要求工况以及测试参数的需求时，无法处于正常工作状态；
步骤S123（图中未示出），若要求工况为连续脉冲过负载，则基于测试参数，得到第三极限过负载曲线；若预估过负载值在第三极限过负载曲线的上方，则表示待分析产品在要求工况以及测试参数的需求时，无法处于正常工作状态。
具体地，在得到与要求工况对应的极限过负载曲线后，再对极限过负载曲线以及用户输入的预估过负载值的位置进行比对，以得到分析结果；通过对比极限过负载曲线以及预估过负载值的位置关系，即可得出固体继电器产品在不同工况下的极限过负载特性，并判定待分析产品能否承受当前预估过负载值，为用户应用和选型带来实际且全面的参考意义。
本申请实施例的一种可能的实现方式，步骤S111（图中未示出）之前还包括步骤S101（图中未示出）以及步骤S102（图中未示出），其中，
步骤S101（图中未示出），基于热阻基本计算式以及要求工况，确定温升规则；
步骤S102（图中未示出），基于温升规则以及功耗计算规则，生成生成规则，功耗计
算规则为：；生成规则由温升规则代入功耗计算规则中得到的。
具体地，首先通过温升叠加的方法推出了三种工况下的温升，然后
由温升得到每种工况下的热阻最后通过最大功耗。
可推出。的最高安全
工作结温（例如硅半导体为175℃）。单脉
冲取；n个脉冲取连续
脉冲取
具体地，用此方法，只要知道了单脉冲热阻曲线或者数学模型，就能推出单脉
冲、连续脉冲、n个脉冲工况下的最大过负载电流。也就是k、T、脉宽t、都
可已知且为常数，、、都是在的基础
上，对自变量的值做变换得到的。
本申请实施例的一种可能的实现方式，步骤S101（图中未示出）具体包括步骤S160（图中未示出）、步骤S161（图中未示出）以及步骤S162（图中未示出），其中，
步骤S160（图中未示出），当要求工况为单脉冲过负载时，基于热阻基本计算式，得到第一子温升规则为，。
步骤S161（图中未示出），当要求工况为n个脉冲过负载时，基于n个脉冲
中的各个脉冲在n个脉冲结束时在芯片上产生的温升得到n个脉冲时的叠加温
升，基于n个脉冲时的叠加温升，确定n个脉冲过负载时的第二子温升规则。
步骤S162（图中未示出），当要求工况为连续脉冲过负载时，基于整个脉冲过程中
的平均功率，得到连续脉冲时的平均温升、第n个脉冲温升以及第n+1脉冲温升的叠加
温升，基于连续脉冲时的叠加温升，确定连续脉冲过负载时的第三子温升规则，。
对于本申请实施例，已知的，热阻基本计算式为：，当要求
工况为单脉冲过负载时，只需对热阻基本计算式进行变换，即可得到第一子温升规则，。
当要求工况为n个脉冲过负载时，依次确定第1个脉冲在n个脉冲结束时在芯片上
产生的温升、第2个脉冲在n个脉冲
结束时在芯片上产生的温升，
直至第n个脉冲在脉冲串结束时在芯片上产生的温升；基于，确定n个脉冲的叠加温升；基于n个脉冲的叠
加温升，确定n个脉冲时芯片的第三子温升规则：
。
当要求工况为连续脉冲过负载时，首先确定整个脉冲过程中的平均功率；基于平均功率确定连续脉冲的叠加温升，其中，为前n个脉冲叠加所形
成的总温升加上第n个以及第个脉冲形成的温升；基于连续脉冲的叠加温升，得到第二
子温升规则，。
上述实施例从方法流程的角度介绍一种产品过负载特性分析方法，下述实施例从虚拟模块或者虚拟单元的角度介绍了一种产品过负载特性分析装置，具体详见下述实施例。
本申请实施例提供一种产品过负载特性分析装置20，如图2所示，该产品过负载特性分析装置20具体可以包括第一获取模块200、第二获取模块201、比对模块202、确定模块203以及判定模块204，其中，
第一获取模块200，用于获取待分析产品的要求工况、测试参数以及预估过负载值，其中，待分析产品为需要进行脉冲形式过负载分析的产品，要求工况、测试参数以及预估过负载值由用户输入；
第二获取模块201，用于基于要求工况以及测试参数，获取极限过负载曲线；
比对模块202，用于将预估过负载值与极限过负载曲线进行比对，获取对比结果信息；
确定模块203，用于对对比结果信息进行分析，确定预估过负载值是否高于极限过负载曲线；
判定模块204，用于当高于时，表示在要求工况以及测试参数下，待分析产品在预估过负载值时无法处于正常工作状态。
本申请实施例中提供了一种电子设备30，如图3所示，图3所示的电子设备30包括：处理器300和存储器302。其中，处理器300和存储器302相连，如通过总线301相连。可选地，电子设备30还可以包括收发器303。需要说明的是，实际应用中收发器303不限于一个，该电子设备30的结构并不构成对本申请实施例的限定。
处理器300可以是CPU（Central Processing Unit，中央处理器），通用处理器，DSP（Digital Signal Processor，数据信号处理器），ASIC（Application SpecificIntegrated Circuit，专用集成电路），FPGA（Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列）或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。处理器也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器组合，DSP和微处理器的组合等。
总线可包括一通路，在上述组件之间传送信息。总线可以是PCI（PeripheralComponent Interconnect，外设部件互连标准）总线或EISA（Extended Industry StandardArchitecture，扩展工业标准结构）总线等。总线301可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图3中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线301。
存储器302可以是ROM（Read Only Memory，只读存储器）或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，RAM（Random Access Memory，随机存取存储器）或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是EEPROM（Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory，电可擦可编程只读存储器）、CD-ROM（Compact DiscRead Only Memory，只读光盘）或其他光盘存储、光碟存储（包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等）、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。
存储器302用于存储执行本申请方案的应用程序代码，并由处理器300来控制执行。处理器300用于执行存储器302中存储的应用程序代码，以实现前述方法实施例所示的内容。
其中，电子设备30包括但不限于：移动电话、笔记本电脑、数字广播接收器、PDA（个人数字助理）、PAD（平板电脑）、PMP（便携式多媒体播放器）、车载终端（例如车载导航终端）等等的移动终端以及诸如数字TV、台式计算机等等的固定终端，还可以为服务器等。图3示出的电子设备30仅仅是一个示例，不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。
本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，当其在计算机上运行时，使得计算机可以执行前述方法实施例中相应内容。与现有技术相比，本申请实施例中，在对待分析产品进行负载特性分析时，首先抽取待分析产品样本，并按照待分析产品的产品信息输入要求工况、测试参数以及预估过负载值，系统根据用户输入的要求工况与测试参数，自动计算生成极限过负载曲线，将预估过负载值与极限过负载曲线进行比对，查看在当前测试参数条件下，预估过负载值是否高于极限过负载曲线，若高于，则判定待分析产品无法承受当前预估过负载值，即待分析产品无法处于正常工作状态，从而告知用户及时调整预估过负载值，避免发生产品损坏的情况，进而提高产品负载特性的测试效率。
应该理解的是，虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，其可以以其他的顺序执行。而且，附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，其执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
以上仅是本申请的部分实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。
Claims (7)
1.一种产品过负载特性分析方法，其特征在于，包括：
获取待分析产品的要求工况、测试参数以及预估过负载值，其中，所述待分析产品为需要进行脉冲形式过负载分析的产品，所述要求工况、所述测试参数以及所述预估过负载值由用户输入；
基于所述要求工况以及所述测试参数，获取极限过负载曲线；
将所述预估过负载值与所述极限过负载曲线进行比对，获取对比结果信息；
对所述对比结果信息进行分析，确定所述预估过负载值是否高于所述极限过负载曲线；
若高于，则表示在所述要求工况以及所述测试参数下，所述待分析产品在所述预估过负载值时无法处于正常工作状态；
其中，所述基于所述要求工况以及所述测试参数，获取极限过负载曲线，包括：获取要求工况，并基于所述要求工况确定预设极限参数以及生成规则，所述要求工况包括单脉冲过负载、n个脉冲过负载以及连续脉冲过负载，所述预设极限参数为所述待分析产品能承受的最大参数；
基于所述预设极限参数以及所述生成规则，确定所述极限过负载曲线；
其中，所述基于所述要求工况确定所述预设极限参数以及生成规则，包括：
若所述要求工况为所述单脉冲过负载，则第一子预设极限参数包括脉冲宽度t1、最高安全工作结温Tjmax、热阻Zja(t1)、环境温度Ta以及Ronmax，第一子生成规则为：过负载电流若所述要求工况为n个脉冲过负载，则第二子预设极限参数包括脉冲宽度t2、脉冲周期T、最高安全工作结温Tjmax、热阻Zja(t2)、环境温度Ta以及Ronmax，第二子生成规则为：过负载电流
若所述要求工况为连续脉冲过负载，则第三子预设极限参数包括脉冲宽度t3、脉冲周期T、最高安全工作结温Tjmax、稳态热阻Zja(∞)、热阻Zja(t3)、环境温度Ta以及Ronmax，第三子生成规则为：过负载电流
其中，所述基于所述预设极限参数以及所述生成规则，确定所述极限过负载曲线，包括：
当所述要求工况为所述单脉冲过负载时，将所述第一子预设极限参数包括的脉冲宽度t1、最高安全工作结温Tjmax、热阻Zja(t1)、环境温度Ta以及最高安全工作结温时的导通电阻Ronmax代入所述第一子生成规则，得到Imax以及t1的关系曲线，即第一子极限负载曲线；
当所述要求工况为所述n个脉冲过负载时，将所述第二子预设极限参数包括的脉冲宽度t2、脉冲周期T、最高安全工作结温Tjmax、热阻Zja(t2)、环境温度Ta以及最高安全工作结温时的导通电阻Ronmax代入所述第二子生成规则，得到Imax以及t2的关系曲线，即第二子极限负载曲线；
当所述要求工况为所述连续脉冲过负载时，将所述第三子预设极限参数包括的脉冲宽度t3、脉冲周期T、最高安全工作结温Tjmax、稳态热阻Zja(∞)、热阻Zja(t3)、环境温度Ta以及最高安全工作结温时的导通电阻Ronmax代入所述第三子生成规则，得到Imax以及t3的关系曲线，即第三子极限负载曲线。
2.根据权利要求1所述的一种产品过负载特性分析方法，其特征在于，所述基于所述要求工况以及所述测试参数，获取极限过负载曲线；
将所述预估过负载值与所述极限过负载曲线进行比对，获取对比结果信息，之后还包括：
若所述要求工况为单脉冲过负载，则基于所述测试参数，得到第一极限过负载曲线；若所述预估过负载值在所述第一极限过负载曲线的上方，则表示所述待分析产品在所述要求工况以及所述测试参数的需求时，无法处于正常工作状态；
若所述要求工况为所述n个脉冲过负载，则基于所述测试参数，得到第二极限过负载曲线；若所述预估过负载值在所述第二极限过负载曲线的上方，则表示所述待分析产品在所述要求工况以及所述测试参数的需求时，无法处于正常工作状态；
若所述要求工况为所述连续脉冲过负载，则基于所述测试参数，得到第三极限过负载曲线；若所述预估过负载值在所述第三极限过负载曲线的上方，则表示所述待分析产品在所述要求工况以及所述测试参数的需求时，无法处于正常工作状态。
3.根据权利要求1所述的一种产品过负载特性分析方法，其特征在于，所述基于所述要求工况确定预设极限参数以及生成规则，之前还包括：
基于热阻基本计算式以及所述要求工况，确定温升规则；
基于所述温升规则以及功耗计算规则，生成所述生成规则，所述功耗计算规则为：
P＝I2Ron；所述Ron为电阻，P为功耗，I为电流，所述生成规则由所述温升规则代入所述功耗计算规则中得到的。
4.根据权利要求3所述的一种产品过负载特性分析方法，其特征在于，所述基于热阻基本计算式以及所述要求工况，确定温升规则，包括：
当所述要求工况为单脉冲过负载时，基于所述热阻基本计算式得到第一子温升规则为Tj1，Tj1＝Ta+P×Zja(t1)；
当所述要求工况为n个脉冲过负载时，基于n个脉冲中的各个脉冲在n个脉冲结束时在芯片上产生的温升ΔTk得到n个脉冲时的叠加温升ΔT1，基于所述n个脉冲时的叠加温升ΔT1，确定所述n个脉冲过负载时的第二子温升规则
当所述要求工况为连续脉冲过负载时，基于整个脉冲过程中的平均功率Pavg，得到连续脉冲时的平均温升、第n个脉冲温升以及第n+1脉冲温升的叠加温升ΔT2，基于所述连续脉冲时的叠加温升ΔT2，确定所述连续脉冲过负载时的第三子温升规则Tj3，
5.一种产品过负载特性分析的装置，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于获取待分析产品的要求工况、测试参数以及预估过负载值，其中，所述待分析产品为需要进行脉冲形式过负载分析的产品，所述要求工况、所述测试参数以及预估过负载值由用户输入；
第二获取模块，用于基于所述要求工况以及所述测试参数，获取极限过负载曲线；比对模块，用于将所述预估过负载值与所述极限过负载曲线进行比对，获取对比结果信息；
确定模块，用于对所述对比结果信息进行分析，确定所述预估过负载值是否高于所述极限过负载曲线；
判定模块，用于当高于时，表示在所述要求工况以及所述测试参数下，所述待分析产品在所述预估过负载值时无法处于正常工作状态；
其中，所述第二获取模块在基于所述要求工况以及所述测试参数，获取极限过负载曲线时，具体用于：
获取要求工况，并基于所述要求工况确定预设极限参数以及生成规则，所述要求工况包括单脉冲过负载、n个脉冲过负载以及连续脉冲过负载，所述预设极限参数为所述待分析产品能承受的最大参数；
基于所述预设极限参数以及所述生成规则，确定所述极限过负载曲线；
其中，所述第二获取模块在基于所述要求工况确定所述预设极限参数以及生成规则时，具体用于：
若所述要求工况为所述单脉冲过负载，则第一子预设极限参数包括脉冲宽度t1、最高安全工作结温Tjmax、热阻Zja(t1)、环境温度Ta以及Ronmax，第一子生成规则为：过负载电流若所述要求工况为n个脉冲过负载，则第二子预设极限参数包括脉冲宽度t2、脉冲周期T、最高安全工作结温Tjmax、热阻Zja(t2)、环境温度Ta以及Ronmax，第二子生成规则为：过负载电流/>
若所述要求工况为连续脉冲过负载，则第三子预设极限参数包括脉冲宽度t3、脉冲周期T、最高安全工作结温Tjmax、稳态热阻Zja(∞)、热阻Zja(t3)、环境温度Ta以及Ronmax，第三子生成规则为：过负载电流
其中，所述第二获取模块在基于所述预设极限参数以及所述生成规则，确定所述极限过负载曲线时，具体用于：
当所述要求工况为所述单脉冲过负载时，将所述第一子预设极限参数包括的脉冲宽度t1、最高安全工作结温Tjmax、热阻Zja(t1)、环境温度Ta以及最高安全工作结温时的导通电阻Ronmax代入所述第一子生成规则，得到Imax以及t1的关系曲线，即第一子极限负载曲线；
当所述要求工况为所述n个脉冲过负载时，将所述第二子预设极限参数包括的脉冲宽度t2、脉冲周期T、最高安全工作结温Tjmax、热阻Zja(t2)、环境温度Ta以及最高安全工作结温时的导通电阻Ronmax代入所述第二子生成规则，得到Imax以及t2的关系曲线，即第二子极限负载曲线；
当所述要求工况为所述连续脉冲过负载时，将所述第三子预设极限参数包括的脉冲宽度t3、脉冲周期T、最高安全工作结温Tjmax、稳态热阻Zja(∞)、热阻Zja(t3)、环境温度Ta以及最高安全工作结温时的导通电阻Ronmax代入所述第三子生成规则，得到Imax以及t3的关系曲线，即第三子极限负载曲线。
6.一种电子设备，其特征在于，其包括：
一个或者多个处理器；
存储器；
一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个应用程序配置用于：执行根据权利要求1-4任一项所述的产品过负载特性分析方法。
7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-4任一项所述的产品过负载特性分析方法。
Priority Applications (1)
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Applications Claiming Priority (1)
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