CN114252147A - 一种震动台的检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种震动台的检测方法及装置，其中所述方法包括：确定标准震动台的多个震动角度；根据多个震动角度，获取预设的检测单元的X轴振幅和Y轴振幅；检测单元安装在标准震动台上，每个震动角度对应一X轴振幅和一Y轴振幅，X、Y分别标准震动台的两个不同震动方向；根据多个震动角度、多个X轴振幅和多个Y轴振幅，获得X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线；根据X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线，对待测震动台进行校准。本发明方法可显著提高点检效率，降低点检成本。

Description

一种震动台的检测方法及装置

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种震动台的检测方法及装置。

背景技术

OIS(Optical Image Stabilizer，光学图像稳定器)震动台，在长时间的使用过程中，会逐渐产生震动误差；因此，需要定期对震动台进行点检校准。由于震动台自身不具备校准功能，也没有校准的参考标准；因此需要外接检测震动的传感器。现有技术的OIS(Optical Image Stabilizer，光学图像稳定器)震动台检测方法中，是采用专用陀螺仪检测；在操作时，首先将专用陀螺仪与震动台进行固定；然后再将专用陀螺仪和电脑主机通过数据线连接。完成连接后修改设备管理器COM口(cluster communication port，串行通讯端口)设置，打开陀螺仪校正软件，最后开启震动台进行测试就可得到振幅数据。整理得到的振幅数据，可确定震动台的当下振幅；若当下振幅不符合标准要求，则调整震动台以使震动达到标准范围内。从专用陀螺仪安装、COM口设置，至振幅数据整理得到震动台的当前振幅，测试耗时在一个小时以上。虽然在机台初步导入阶段这是非常准确的方式；但是对于日常点检而言却有耗时长导致设备利用率低带来的高成本。

因此，目前亟需一种低成本的检测方法用于替代现有的对OIS震动台的检测，以降低成本提高震动台设备利用率。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提出了一种信息分享方法、装置、用户终端及可读存储介质，可替代现有的对OIS震动台的检测方式，可显著提高点检效率，降低点检成本。

第一方面，本申请通过一实施例提供如下技术方案：

一种震动台的检测方法，包括：

确定标准震动台的多个震动角度；根据所述多个震动角度，获取预设的检测单元的X轴振幅和Y轴振幅；所述检测单元安装在所述标准震动台上，每个所述震动角度对应一所述X轴振幅和一所述Y轴振幅，X、Y分别标准震动台的两个不同震动方向；根据所述多个震动角度、多个所述X轴振幅和多个所述Y轴振幅，获得X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线；根据所述X轴振幅曲线和所述Y轴振幅曲线，对待测震动台进行校准。

可选的，所述确定标准震动台的多个震动角度，包括：

获取震动台在标准频率时的标准角度；根据预设的梯度值和所述标准角度，获得所述多个震动角度；其中，每相邻两组震动角度之间相距一所述梯度值。

可选的，所述根据预设的梯度值和所述标准角度，获得所述多个震动角度，包括：

根据所述标准角度向下每隔一所述梯度值取值，获得至少一个第一震动角度；根据所述标准角度向上每隔一所述梯度值取值，获得至少一个第二震动角度；根据所述标准角度、所述第一震动角度和所述第二震动角度，获得所述多个震动角度。

可选的，所述X轴振幅曲线包括X轴正向振幅曲线和X轴负向振幅曲线，所述Y轴振幅曲线包括Y轴正向振幅曲线和Y轴负向振幅曲线；所述根据所述多个震动角度、多个所述X轴振幅和多个所述Y轴振幅，获得X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线，包括：

根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述X轴振幅的正向极值，获得所述X轴正向振幅曲线；根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述X轴振幅的负向极值，获得所述X轴负向振幅曲线；根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述Y轴振幅的正向极值，获得所述Y轴正向振幅曲线；根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述Y轴振幅的负向极值，获得所述Y轴负向振幅曲线。

可选的，所述根据所述X轴振幅曲线和所述Y轴振幅曲线，对待测震动台进行校准，包括：

获取待测震动台震动时待测检测单元的X轴实测振幅和Y轴实测振幅；所述待测检测单元安装在所述待测震动台上；根据所述X轴振幅曲线、所述Y轴振幅曲线和预设的角度卡控范围，获得各自的振幅卡控范围；根据所述X轴实测振幅、所述Y轴实测振幅和所述振幅卡控范围，调整所述待测震动台的振幅以匹配所述振幅卡控范围。

可选的，所述振幅卡控范围包括X轴振幅卡控范围和Y轴振幅卡控范围；所述根据所述X轴实测振幅、所述Y轴实测振幅和所述振幅卡控范围，调整所述待测震动台的振幅以匹配所述振幅卡控范围，包括：

根据所述X轴实测振幅和所述X轴振幅卡控范围，获得所述待测震动台的X轴偏差量；根据所述Y轴实测振幅和所述Y轴振幅卡控范围，获得所述待测震动台的Y轴偏差量；根据所述X轴偏差量和所述Y轴偏差量，调整所述待测震动台的振幅以匹配所述振幅卡控范围。

可选的，所述检测单元为陀螺仪或霍尔传感器。

第二方面，基于同一发明构思，本申请通过一实施例提供如下技术方案：

一种震动台的检测装置，包括：

确定模块，用于确定标准震动台的多个震动角度；振幅获取模块，用于根据所述多个震动角度，获取预设的检测单元的X轴振幅和Y轴振幅；所述检测单元安装在所述标准震动台上，每个所述震动角度对应一所述X轴振幅和一所述Y轴振幅，X、Y分别标准震动台的两个不同震动方向；曲线获取模块，用于根据所述多个震动角度、多个所述X轴振幅和多个所述Y轴振幅，获得X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线；测试模块，用于根据所述X轴振幅曲线和所述Y轴振幅曲线，对待测震动台进行校准。

第三方面，基于同一发明构思，本申请通过一实施例提供如下技术方案：

一种电子设备，包括处理器和存储器，所述存储器耦接到所述处理器，所述存储器存储指令，当所述指令由所述处理器执行时使所述电子设备执行前述第一方面中任一项所述方法的步骤。

第四方面，基于同一发明构思，本申请通过一实施例提供如下技术方案：

一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现前述第一方面中任一项所述方法的步骤。

本发明实施例中提供的震动台的检测方法及装置，通过在标准震动台上安装检测单元来检测不同震动角度对应的振幅，然后通过多个震动角度以及检测到的各个震动角度对应的X轴振幅和Y轴振幅获得对应的X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线。由于振幅曲线是基于标准震动台的数据获取的，可基于该振幅曲线去匹配待测震动台，即可确定待测震动台是否需要进行校准；使用该方式对待测震动台进行检测过程无需进行专用陀螺仪的安装和COM口的设置等，可保证对待测震动台具有较高的点检效率，替代现有的对OIS震动台的检测方式，可显著提高点检效率，降低点检成本。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1示出了本发明实施例提供的一种震动台的检测方法的流程图；

图2～图5分别示出了本发明实施例中X轴正向振幅曲线、X轴负向振幅曲线、Y轴正向振幅曲线和Y轴负向振幅曲线的示意图；

图6示出了本发明实施例提供的一种震动台的检测装置的功能模块结构示意图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

在本发明的一实施例中提供了一种震动台的检测方法，该方法可用于对摄像模组的OIS震动台进测试，当然也可应用于相类似的其他震动台；具体的，该方法包括：

步骤S10：确定标准震动台的多个震动角度；

步骤S20：根据所述多个震动角度，获取预设的检测单元的X轴振幅和Y轴振幅；所述检测单元安装在所述标准震动台上，每个所述震动角度对应一所述X轴振幅和一所述Y轴振幅，X、Y分别标准震动台的两个不同震动方向；

步骤S30：根据所述多个震动角度、多个所述X轴振幅和多个所述Y轴振幅，获得X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线；

步骤S40：根据所述X轴振幅曲线和所述Y轴振幅曲线，对待测震动台进行校准。

本实施例通过上述的震动台的检测方法，不同于现有技术的检测方法；在检测过程中不再需要专用陀螺仪，并且无需再进行COM口的设置以及专用陀螺仪的拆卸和安装，极大的减少了对震动台的装配、检测工序，节省了点检时间，提高了震动台的利用率。下面通过具体示例的形式对上述的每个步骤分别进行详细的阐述和说明。

步骤S10：确定标准震动台的多个震动角度。

在步骤S10中，标准震动台表示震动幅度稳定，振幅误差合格的震动台。可在该标准震动台上安装检测单元；具体的，可将检测单元固定安装在标准震动台上；也可将检测单元固定在摄像模组的治具上，然后在对摄像模组进行震动测试时，通过治具将检测单元和对应的摄像模组一同安装到震动台上；检测单元的安装方式及时机不做限制。该检测单元用于检测震动台在X轴和Y轴方向上的振幅，X轴和Y轴可以是两个相互垂直的方向。X轴和Y轴方向可根据震动台的实际震动方向进行定义，不做限制。该检测单元在进行测试时与摄像模组的驱动芯片(Drive IC)连接，以将检测到的震动数据输出。该检测单元可为陀螺仪，也可为霍尔传感器，还可为其他可用于检测振幅的元件、装置或设备。在摄像模组生产厂中可针对不同的摄像模组对应的治具上均固定安装相匹配的检测单元，在需要对震动台进行点检时可直接使用，不在进行频繁的拆卸或安装。

震动角度，为对摄像模组进行测试时使对应的摄像模组能够发生的震动角度。在确定多个震动角度时，可在常用的摄像模组测试区间中随机确定多个震动角度，不做限制。

进一步的，不同的摄像模组的OIS检测可能具有不同的检测标准。任一摄像模组应当在符合其要求的标准角度以及标准频率下进行检测。没有误差或误差合格的标准震动台可提供该标准角度和标准频率的检测条件。因此，本实施例中可基于该标准角度来确定多个震动角度，从而得到多个震动角度所对应的多个振幅。以此，保证振幅和震动角度之间对应关系的准确性，避免由于机械构件等因素，使标准震动台在不同的振幅区间具备不同的对应关系。

更具体的，首先确定标准震动台在标准频率时的标准角度；然后，根据预设的梯度值和标准角度，获得多个震动角度；其中，每相邻两组震动角度之间相距一所述梯度值。在取值时可每隔一或多个梯度值取一震动角度。也可在标准角度的两端进均匀取值，保证准确性；首先，根据标准角度向下每隔一梯度值取值，获得至少一个第一震动角度；根据标准角度向上每隔一梯度值取值，获得至少一个第二震动角度；然后，根据标准角度、第一震动角度和第二震动角度，获得多个震动角度；也即，标准角度、第一震动角度和第二震动角度共同构成多个震动角度。

例如，与标准震动台同类型的震动台要求的测试角度为1.4±0.05°，标准频率为4HZ，则振幅的规格核制(测试角度1.4±0.05°允许的正负公差)需要保持频率为标准频率4HZ，振幅以0.04°作为梯度值，在标准频率下取小于标准角度的两组值，可得到第一震动角度为1.32°和1.36°；取大于标准角度的两组值，可得到第二震动角度为：1.44°和1.48°；得到的多个震动角度即为：1.32°、1.36°、1.4°、1.44°、1.48°。需要说明的是，第一震动角度和第二震动角度的取值数量不做限制，例如可取3组值、4组等；取值数量可相同，也可不同。

步骤S20：根据所述多个震动角度，获取预设的检测单元的X轴振幅和Y轴振幅；所述检测单元安装在所述标准震动台上，每个所述震动角度对应一所述X轴振幅和一所述Y轴振幅，X、Y分别标准震动台的两个不同震动方向。

在步骤S20中，可将摄像模组安装到相应的治具上，然后将治具固定在该标准震动台上进行震动测试。测试时，分别控制该标准震动台按照步骤S10中得到的多个震动角度进行震动测试。在震动测试过程中，检测单元得到标准震动台对应的振幅数据，该振幅数据可包括X轴振幅和Y轴振幅。该振幅数据可传递给摄像模组的Driver IC，然后由摄像模组的Driver IC将检测单元的振幅数据按照时间顺序输出；输出的振幅数据可整理为Excel文件进行存储，以供后续计算进行调用，不做限制。

进一步的，在振幅数据中X轴振幅至少包括X轴方向上的震动方向，也即X轴振幅的正向极值和X轴振幅的负向极值。在振幅数据中Y轴振幅至少包括Y轴方向上的震动方向，也即Y轴振幅的正向极值和Y轴振幅的负向极值。在确定X轴振幅的正向极值、X轴振幅的负向极值、Y轴振幅的正向极值和Y轴振幅的负向极值时，可首先将振幅数据中的毛刺数据进行过滤剔除，然后筛选出有效的极值数据，提供振幅数据的可靠性。

步骤S30：根据所述多个震动角度、多个所述X轴振幅和多个所述Y轴振幅，获得X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线。

在步骤S30中，X轴振幅曲线包括X轴正向振幅曲线和X轴负向振幅曲线，Y轴振幅曲线包括Y轴正向振幅曲线和Y轴负向振幅曲线。本实施例提供至少两种获取X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线的具体实现方式。

其一是，首先对于X轴方向上的X轴振幅的正向极值，与多个震动角度的关系进行获取，得到X轴正向振幅曲线。具体的，可将每个震动角度和对应的一个X轴振幅的正向极值构成1个坐标点，采用5个震动角度可得到5个坐标点；拟合该为5个坐标点即可得到对应的X轴正向振幅曲线。然后，根据X轴振幅的正向极值和X轴振幅负向极值之间的中点值，得到对称轴；接着，对X轴正向振幅曲线关于该对称轴进行对称处理，得到X轴负向振幅曲线。反之，也可首先确定X轴负向振幅曲线，然后基于X轴负向振幅曲线，获得X轴正向振幅曲线。同样的，对于Y轴方向上，可获得Y轴正向振幅曲线和Y轴负向振幅曲线。该种实现方式，可具有更高的效率避免两次拟合计算。

其二是，分别震动X轴和Y轴的正向极值和负向极值分别独立确定各自的振幅曲线。具体的：

1、根据多个震动角度和每个震动角度对应的所述X轴振幅的正向极值，获得X轴正向振幅曲线；也即，一个震动角度和该震动角度对应的X轴振幅的正向极值可构成一个坐标点，可拟合所有坐标点得到对应的X轴正向振幅曲线，关于X轴负向振幅曲线、Y轴正向振幅曲线以及Y轴负向振幅曲线亦可以此类推。

2、根据多个震动角度和每个震动角度对应的所述X轴振幅的负向极值，获得X轴负向振幅曲线。

3、根据多个震动角度和每个震动角度对应的所述Y轴振幅的正向极值，获得Y轴正向振幅曲线；

4、根据多个震动角度和每个震动角度对应的Y轴振幅的负向极值，获得Y轴负向振幅曲线。

通过上述1～4获取X轴正向振幅曲线、X轴负向振幅曲线、Y轴正向振幅曲线以及Y轴负向振幅曲线，提供准确度；避免X轴和Y轴的正、负向极值增加斜率不同。

继续以前述的例子测试角度为1.4±0.05°为例，多个震动角度为1.32°、1.36°、1.4°、1.44°、1.48°；此时，经过测试后测试单元输出的关键数据如下表1所示：

表1

在上述表1中，MAX-X-AVG表示X轴振幅的正向极值，对应得到坐标点(1.32，879)、(1.36，905)、(1.40，929)、(1.44，956)、(1.48，983)，拟合该坐标点后可得到X轴正向振幅曲线，如图2所示。MIN-X-AVG表示X轴振幅的负向极值，对应得到坐标点(1.32，-885)、(1.36，-910)、(1.40，-941)、(1.44，-968)、(1.48，-988)，拟合该坐标点后可得到X轴负向振幅曲线，如图3所示。MAX-Y-AVG表示Y轴振幅的正向极值，对应得到坐标点(1.32，891)、(1.36，917)、(1.40，946)、(1.44，975)、(1.48，998)，拟合该坐标点后可得到Y轴正向振幅曲线，如图4所示。MIN-Y-AVG表示Y轴振幅的负向极值，对应得到坐标点(1.32，-898)、(1.36，-925)、(1.40，-949)、(1.44，-975)、(1.48，-1004)，拟合该坐标点后可得到Y轴负向振幅曲线，如图5所示。可以看出，上述的4个曲线关系均可以一次函数关系呈现，即y＝kx+b。

得到的4个曲线关系为标准震动台的振幅与震动角度之间的关系，若待测试机台是准确的，则待测震动台的不同轴和不同方向应当在误差范围内分别满足上述4个曲线关系。因此，可基于该曲线关系进行待测震动台的校准，即执行步骤S40。

步骤S40：根据所述X轴振幅曲线和所述Y轴振幅曲线，对待测震动台进行校准。

在步骤S40，待测震动台与标准震动台为同一类震动台，并且用于对摄像模组检测时所设置的震动角度、震动频率等各项参数均相匹配，以保证获得的X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线准确可用。在对待测震动台进行点检测试时，首先将摄像模组安装到待测震动台上。接着，按照标准角度进行震动测试；此时，待测震动台上的检测单元开始采集待测震动台的实测振幅数据，即包括X轴实测振幅和Y轴实测振幅。此时，可获取该待测震动台震动时待测检测单元的X轴实测振幅和Y轴实测振幅。再接着，基于前述得到的X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线可将该实测振幅数据转换为实测角度。最后，可判断该实测角度是否与标准角度相同，或相差是否在误差范围内；具体的，可分别针对X轴振幅的负向极值、X轴振幅的正向极值、Y轴振幅的负向极值以及Y轴振幅的正向极值判断各自对应的实测角度是否合格。针对任一极值：若相同或在误差范围内，则说明该待测震动台为合格，无需进行校准；若不相同或在误差范围外，则说明该待测震动台不合格，需要进行校准。

在进行校准时，可分别针对X轴的振幅和Y轴的振幅分别调整；其中，X轴的振幅包括X轴的正向振幅和X轴的负向振幅；Y轴的振幅包括Y轴的正向振幅和Y轴的负向振幅。调整的方式可为基于各个实测角度与标准角度的偏差方向和大小进行经验性调整，直至待测震动台符合要求。

在本实施例中还提供了另一种调整方式，如下：

首先，根据X轴振幅曲线、Y轴振幅曲线和预设的角度卡控范围，获得各自的振幅卡控范围；也即振幅卡控范围包括X轴振幅卡控范围和Y轴振幅卡控范围。具体的，X轴正向振幅曲线对应X轴正向振幅卡控范围，X轴负向振幅曲线对应X轴负向振幅卡控范围；Y轴正向振幅曲线对应Y轴正向振幅卡控范围，Y轴负向振幅曲线对应Y轴负向振幅卡控范围。

接着，根据X轴实测振幅、Y轴实测振幅和振幅卡控范围，调整待测震动台的振幅以匹配所述振幅卡控范围。当确定了振幅卡控范围后，可随机的调整待测震动台的振幅符合振幅卡控范围即可。此外，还可进行定量的调整，保证调整后的可靠性，具体如下：

根据X轴实测振幅和X轴振幅卡控范围，获得待测震动台的X轴偏差量；该X轴偏差量包括X轴负向极值偏差量和X轴正向极值偏差量。根据Y轴实测振幅和Y轴振幅卡控范围，获得待测震动台的Y轴偏差量；同样的，该Y轴偏差量包括Y轴负向极值偏差量和Y轴正向极值偏差量。在计算各个偏差量时，可以各个振幅卡控范围的中点值作为基准值。例如，当X轴正向振幅卡控范围为870～880时，则基准值为875；X轴实测振幅与875的差值即为X轴正向极值偏差量。最后，根据X轴偏差量和Y轴偏差量，调整待测震动台的振幅以匹配振幅卡控范围。若振幅过大则调小振幅，若振幅过小则增大振幅，保证每个方向的振幅均符合对应的振幅卡控范围。

因此，本实施例中提供的震动台的检测方法，通过在标准震动台上安装检测单元来检测不同震动角度对应的振幅，然后通过多个震动角度以及检测到的各个震动角度对应的X轴振幅和Y轴振幅获得对应的X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线。由于振幅曲线是基于标准震动台的数据获取的，可基于该振幅曲线去匹配待测震动台，即可确定待测震动台是否需要进行校准；使用该方式对待测震动台进行检测过程无需进行专用陀螺仪的安装和COM口的设置等，可保证对待测震动台具有较高的点检效率，替代现有的对OIS震动台的检测方式，可显著提高点检效率，降低点检成本。

请参阅图6，基于同一发明构思，在本发明的又一实施例中还提供了一种震动台的检测装置300，该震动台的检测装置300包括：

确定模块301，用于确定标准震动台的多个震动角度；振幅获取模块302，用于根据所述多个震动角度，获取预设的检测单元的X轴振幅和Y轴振幅；所述检测单元安装在所述标准震动台上，每个所述震动角度对应一所述X轴振幅和一所述Y轴振幅，X、Y分别标准震动台的两个不同震动方向；曲线获取模块303，用于根据所述多个震动角度、多个所述X轴振幅和多个所述Y轴振幅，获得X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线；测试模块304，用于根据所述X轴振幅曲线和所述Y轴振幅曲线，对待测震动台进行校准。

作为一种可选的实施方式，所述确定模块301，具体用于：

获取震动台在标准频率时的标准角度；根据预设的梯度值和所述标准角度，获得所述多个震动角度；其中，每相邻两组震动角度之间相距一所述梯度值。

作为一种可选的实施方式，所述确定模块301包括第一获得单元、第二获得单元和第三获得单元；

所述第一获得单元，用于根据所述标准角度向下每隔一所述梯度值取值，获得至少一个第一震动角度；所述第二获得单元，用于根据所述标准角度向上每隔一所述梯度值取值，获得至少一个第二震动角度；所述第三获得单元，用于根据所述标准角度、所述第一震动角度和所述第二震动角度，获得所述多个震动角度。

作为一种可选的实施方式，所述X轴振幅曲线包括X轴正向振幅曲线和X轴负向振幅曲线，所述Y轴振幅曲线包括Y轴正向振幅曲线和Y轴负向振幅曲线；所述曲线获取模块303，具体用于：

根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述X轴振幅的正向极值，获得所述X轴正向振幅曲线；根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述X轴振幅的负向极值，获得所述X轴负向振幅曲线；根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述Y轴振幅的正向极值，获得所述Y轴正向振幅曲线；根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述Y轴振幅的负向极值，获得所述Y轴负向振幅曲线。

作为一种可选的实施方式，所述测试模块304，具体用于：

获取待测震动台震动时待测检测单元的X轴实测振幅和Y轴实测振幅；所述待测检测单元安装在所述待测震动台上；根据所述X轴振幅曲线、所述Y轴振幅曲线和预设的角度卡控范围，获得各自的振幅卡控范围；根据所述X轴实测振幅、所述Y轴实测振幅和所述振幅卡控范围，调整所述待测震动台的振幅以匹配所述振幅卡控范围。

作为一种可选的实施方式，所述振幅卡控范围包括X轴振幅卡控范围和Y轴振幅卡控范围；所述测试模块304，还具体用于：

根据所述X轴实测振幅和所述X轴振幅卡控范围，获得所述待测震动台的X轴偏差量；根据所述Y轴实测振幅和所述Y轴振幅卡控范围，获得所述待测震动台的Y轴偏差量；根据所述X轴偏差量和所述Y轴偏差量，调整所述待测震动台的振幅以匹配所述振幅卡控范围。

作为一种可选的实施方式，所述检测单元为陀螺仪或霍尔传感器。

需要说明的是，本发明实施例所提供的震动台的检测装置300，其具体实现及产生的技术效果和前述方法实施例相同，为简要描述，装置实施例部分未提及之处，可参考前述方法实施例中相应内容。

基于同一发明构思，本发明的又一实施例中还提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，所述存储器耦接到所述处理器，所述存储器存储指令，当所述指令由所述处理器执行时使所述电子设备执行前述实施例中任一项所述方法的步骤。需要说明的是，本发明实施例所提供的震动台的电子设备，指令被处理器执行时，每个步骤的具体实现及产生的技术效果和前述方法实施例相同，为简要描述，装置实施例部分未提及之处，可参考前述方法实施例中相应内容。

基于同一发明构思，本发明的又一实施例中还提供了一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现前述方法实施例中任一项所述方法的步骤。需要说明的是，本发明实施例所提供的震动台的电子设备，程序被处理器执行时，每个步骤的具体实现及产生的技术效果和前述方法实施例相同，为简要描述，装置实施例部分未提及之处，可参考前述方法实施例中相应内容。

本文中出现的术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系；单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种震动台的检测方法，其特征在于，包括：

确定标准震动台的多个震动角度；

根据所述多个震动角度，获取预设的检测单元的X轴振幅和Y轴振幅；所述检测单元安装在所述标准震动台上，每个所述震动角度对应一所述X轴振幅和一所述Y轴振幅，X、Y分别标准震动台的两个不同震动方向；

根据所述多个震动角度、多个所述X轴振幅和多个所述Y轴振幅，获得X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线；

根据所述X轴振幅曲线和所述Y轴振幅曲线，对待测震动台进行校准。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定标准震动台的多个震动角度，包括：

获取震动台在标准频率时的标准角度；

根据预设的梯度值和所述标准角度，获得所述多个震动角度；其中，每相邻两组震动角度之间相距一所述梯度值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据预设的梯度值和所述标准角度，获得所述多个震动角度，包括：

根据所述标准角度向下每隔一所述梯度值取值，获得至少一个第一震动角度；

根据所述标准角度向上每隔一所述梯度值取值，获得至少一个第二震动角度；

根据所述标准角度、所述第一震动角度和所述第二震动角度，获得所述多个震动角度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述X轴振幅曲线包括X轴正向振幅曲线和X轴负向振幅曲线，所述Y轴振幅曲线包括Y轴正向振幅曲线和Y轴负向振幅曲线；所述根据所述多个震动角度、多个所述X轴振幅和多个所述Y轴振幅，获得X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线，包括：

根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述X轴振幅的正向极值，获得所述X轴正向振幅曲线；

根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述X轴振幅的负向极值，获得所述X轴负向振幅曲线；

根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述Y轴振幅的正向极值，获得所述Y轴正向振幅曲线；

根据所述多个震动角度和每个所述震动角度对应的所述Y轴振幅的负向极值，获得所述Y轴负向振幅曲线。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述X轴振幅曲线和所述Y轴振幅曲线，对待测震动台进行校准，包括：

获取待测震动台震动时待测检测单元的X轴实测振幅和Y轴实测振幅；所述待测检测单元安装在所述待测震动台上；

根据所述X轴振幅曲线、所述Y轴振幅曲线和预设的角度卡控范围，获得各自的振幅卡控范围；

根据所述X轴实测振幅、所述Y轴实测振幅和所述振幅卡控范围，调整所述待测震动台的振幅以匹配所述振幅卡控范围。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述振幅卡控范围包括X轴振幅卡控范围和Y轴振幅卡控范围；所述根据所述X轴实测振幅、所述Y轴实测振幅和所述振幅卡控范围，调整所述待测震动台的振幅以匹配所述振幅卡控范围，包括：

根据所述X轴实测振幅和所述X轴振幅卡控范围，获得所述待测震动台的X轴偏差量；

根据所述Y轴实测振幅和所述Y轴振幅卡控范围，获得所述待测震动台的Y轴偏差量；

根据所述X轴偏差量和所述Y轴偏差量，调整所述待测震动台的振幅以匹配所述振幅卡控范围。

7.根据权利要求1-6任一所述的方法，其特征在于，所述检测单元为陀螺仪或霍尔传感器。

8.一种震动台的检测装置，其特征在于，包括：

确定模块，用于确定标准震动台的多个震动角度；

振幅获取模块，用于根据所述多个震动角度，获取预设的检测单元的X轴振幅和Y轴振幅；所述检测单元安装在所述标准震动台上，每个所述震动角度对应一所述X轴振幅和一所述Y轴振幅，X、Y分别标准震动台的两个不同震动方向；

曲线获取模块，用于根据所述多个震动角度、多个所述X轴振幅和多个所述Y轴振幅，获得X轴振幅曲线和Y轴振幅曲线；

测试模块，用于根据所述X轴振幅曲线和所述Y轴振幅曲线，对待测震动台进行校准。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器耦接到所述处理器，所述存储器存储指令，当所述指令由所述处理器执行时使所述电子设备执行权利要求1-7中任一项所述方法的步骤。

10.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述方法的步骤。

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