CN114172514A - 一种dac电路测试方法及系统 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 34
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 5
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 5
- 238000012216 screening Methods 0.000 claims description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
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- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
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Abstract
本申请涉及一种DAC电路测试方法及系统，其属于电路测试领域，其中，该方法应用于DAC电路测试装置，DAC电路测试装置连接待测DAC电路，用于向待测DAC电路发送基准电压和数字信号，并接收待测DAC电路发送的模拟信号；包括接收待测DAC电路输出的实时模拟信号；将实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值，信号偏差值与实时模拟信号一一对应；根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号；根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量；对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。本申请具有实现了测试DAC电路转换准确性的效果。
Description
技术领域
本申请涉及电路测试领域，尤其是涉及一种DAC电路测试方法及系统。
背景技术
DAC是数模转换器的简称，数模转换器是指将离散的数字信号转换为连续的模拟信号的器件或电路；在射频收发机中，数模转换器一般用于发射机前端，将数字给出的模拟信号的数字表达心是个转换成辐射的模拟信号。
参考图1，DAC一般包括基准电压源模块、二进制开关模块、加权网络模块和输出放大器；其中，基准电压源模块用于给DAC提供一个稳定且准确的电压VREF，然后二进制开关模块和加权网络模块根据需要转换的数字码D及基准电压VREF产生D*VREF，然后输出放大器提供额外的增益k及稳定的驱动能力。
在使用上述DAC的过程中，发明人发现，利用DAC可以实现数字信号和模拟信号之间的转换，但是有时候根据数字信号得到的模拟信号与预期的模拟信号相差较大，说明DAC的转换准确性较差，因此检测DAC的转换准确性是很有必要的。
发明内容
本申请提供一种DAC电路测试方法及系统，具有实现了检测DAC的转换准确性的特点。
本申请目的一是提供一种DAC电路测试方法。
本申请的上述申请目的一是通过以下技术方案得以实现的：
一种DAC电路测试方法，应用于DAC电路测试装置，所述DAC电路测试装置连接待测DAC电路，用于向待测DAC电路发送基准电压和数字信号，并接收待测DAC电路发送的模拟信号；包括：
接收待测DAC电路输出的实时模拟信号；
将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值，所述信号偏差值与实时模拟信号一一对应；
获取预设基准电压范围，并根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号；
根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量；
对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。
通过采用上述技术方案，接收待测DAC电路输出的模拟信号，然后将该模拟信号与标准模拟信号进行比较得到信号偏差值，通过信号偏差值可以判断待测DAC电路的转换准确性；然后再对与预设基准电压范围相应的多个信号偏差值进行分析后得到多个信号偏差值的变化量，通过变化量可以分析后在预设基准电压范围内，待测DAC电路对实时模拟信号的转换准确性。
本申请在一较佳示例中可以进一步配置为，所述接收待测DAC电路输出的实时模拟信号的步骤包括：
所述DAC电路测试装置包括控制器；
所述控制器连接待测DAC电路；
所述控制器将预设基准电压和预设数字信号发送给待测DAC电路；
所述控制器接收待测DAC电路接收到预设基准电压和预设数字信号后得到的实时模拟信号。
本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值的步骤包括，对所述实时模拟信号和标准模拟信号进行做差计算后得到信号偏差值。
本申请在一较佳示例中可以进一步配置为，所述根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号的步骤包括：
所述基准电压范围中包含多个基准电压；
将多个基准电压分别输入DAC电路测试装置得到多个标准模拟信号；
将多个基准电压分别输入待测DAC电路得到多个实时模拟信号。
本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量的步骤包括：
根据多个实时模拟信号得到实时模拟信号的实时变化量；
根据多个标准模拟信号得到标准模拟信号的标准变化量；
根据实时模拟信号的实时变化量和标准模拟信号的标准变化量进行计算后得到多个信号偏差值的变化量。
本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果的步骤包括：
根据基准电压范围得到标准模拟信号范围和实时模拟信号范围；
根据标准模拟信号范围、实时模拟信号范围、实时模拟信号的变化量与标准模拟信号的变化量进行筛选后得到标准电压范围；
所述检测结果包括标准电压范围。
本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果的步骤包括：
将所述信号偏差值与预设的偏差范围值进行比较；
判断所述信号偏差值是否落在偏差范围值内；
若是，则输出转换准确提示信息；
若否，则输出转换不准确提示信息；
所述检测结果包括转换准确提示信息和转换不准确提示信息。
本申请目的二是提供一种DAC电路测试系统。
本申请的上述申请目的二是通过以下技术方案得以实现的：
一种DAC电路测试系统，包括：
接收模块，用于接收待测DAC电路输出的实时模拟信号；
比较模块，用于将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值；
获取模块，用于获取预设基准电压范围，并根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号；
分析模块，用于根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量；
判断模块，用于对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。
本申请目的三是提供一种智能终端。
本申请的上述申请目的三是通过以下技术方案得以实现的：
一种智能终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行的上述DAC电路测试方法的计算机程序指令。
本申请目的四是提供一种计算机介质，能够存储相应的程序。
本申请的上述申请目的四是通过以下技术方案得以实现的：
一种计算机可读存储介质，存储有能够被处理器加载并执行上述任一种DAC电路测试方法的计算机程序。
综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
通过将待测DAC电路输出的实时模拟信号与标准模拟信号进行对比，得到待测DAC电路对实时模拟信号的转换准确性，然后通过将预设基准电压范围对应的多个实时模拟信号按照相同的方式进行处理后得到多个信号偏差值，然后对多个信号偏差值进行分析得到变化量，进而可以分析出在基准电压范围内待测DAC电路对模拟信号的转换准确性，通过这种方式分析出的待测DAC电路更为准确，且效率更高。
附图说明
图1是本申请中待测DAC电路的结构示意图。
图2是本申请实施例中一种DAC电路测试方法的流程示意图。
图3是本申请实施例中一种DAC电路测试系统的结构示意图。
附图标记说明：1、接收模块；2、比较模块；3、获取模块；4、分析模块；5、判断模块。
具体实施方式
本具体实施例仅仅是对本申请的解释，其并不是对本申请的限制，本领域人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例作出没有创造性贡献的修改，但只要在本申请的权利要求范围内都受到专利法的保护。
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的全部其他实施例，都属于本申请保护的范围。
下面结合说明书附图对本申请实施例做进一步详细描述。
本申请提供一种DAC电路测试方法，所述方法的主要流程描述如下。
如图2所示：
步骤S101：接收待测DAC电路输出的实时模拟信号。
步骤S102：将实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值。
步骤S103：获取预设基准电压范围，并根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号。
步骤S104：根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量。
步骤S105：对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。
DAC电路是数模转换电路，DAC电路中包含有基准电压模块、二进制开关模块、加权网络模块和输出放大器；通过基准电压模块和加权网络模块可以将二进制开关模块输出的数字信号转换成模拟信号，并且通过输出放大器进行一定量的放大，进而得到想要的模拟信号；上述过程为DAC电路的工作过程，为了检测DAC电路对于模拟信号的转换准确性，本申请实施例中提供一种DAC电路测试装置，以及应用于该DAC电路测试装置的DAC电路测试方法；其中，DAC电路测试装置包含控制器和三个接口，三个接口分别为基准电压接口、数字信号接口和模拟信号接口；本申请实施例中的待测DAC电路的呈现方式为数模转换器，将DAC电路测试装置的三个接口与数模转换器相连，从而实现DAC电路测试装置和数模转换器之间的连接和数据交互。
具体地，DAC电路测试装置通过控制器设置基准电压和数字信号，然后通过基准电压接口将基准电压传输给待测DAC电路，通过数字信号接口将数字信号传输给待测DAC电路，然后待测DAC电路通过基准电压和数字信号就可以得到实时模拟信号，再通过模拟信号接口将实时模拟信号传输给控制器；而DAC电路测试装置可以根据基准电压和数字信号得到标准模拟信号，在本申请实施例中，默认通过DAC电路测试装置得到的标准模拟信号为基准值；然后通过对实时模拟信号进行分析处理就可以实现对待测DAC电路的转换准确性的检测，通过这种方式，提高了对待测DAC电路检测的准确性和检测效率。
可以理解的是，本申请实施例中对数据的处理及逻辑分析均是在控制器中进行的。
在上述检测过程中，控制器接收到待测DAC电路输出的实时模拟信号，然后将实时模拟信号与控制器本身根据基准电压和数字信号得到的实时模拟信号进行做差计算后得到信号偏差值；该信号偏差值与此次待测DAC电路输出的实时模拟信号一一对应。
在得到了信号偏差值后，可以先对待测DAC电路的转换准确性进行初步判断；信号偏差值可以表示实时模拟信号与标准模拟信号之间的差距，那么将信号偏差值与预设的偏差范围值进行比较，判断信号偏差值是否落在偏差范围内；如果信号偏差值落在预设的偏差范围内，则说明待测DAC电路对此次的数字信号转换的准确性较高，那么就输出转换准确提示信息；如果信号偏差值没落在预设的偏差范围内，则说明待测DAC电路对此次的数字信号转换的准确性较低，那么就输出转换不准确提示信息；可以理解的是，转换准确提示信息和转换不准确提示信息均属于检测结果。
为详细说明上述检测过程，下面进行举例说明；例如，当数字信号为A时，通过DAC检测电路得到的标准模拟信号为3，而通过待测DAC电路得到的实时模拟信号为5，那么将标准模拟信号与实时模拟信号进行做差计算后得到信号偏差值为2；然后将信号偏差值2与预设的偏差范围值进行比较，本示例中预设的偏差范围值为0-1.5，表示若实时模拟信号与标准模拟信号之间的差距落在0-1.5之内说明实时模拟信号较为准确；而信号偏差值为2，并未落在预设的偏差范围值0-1.5内，那么就说明此次实时模拟信号不准确；通过这种方式，可以反映出待测DAC电路对数字信号的转换准确性。
在通过上述过程对待测DAC电路进行检测的过程中，由于每次都是对一个数字信号进行检测，检测结果较为单一；因此本申请实施例中除对待测DAC电路进行单次检测外，还采用下述检测方式。
具体地，获取预设基准电压范围，这里的预设基准电压范围可以理解为一个电压范围值，而在预设基准电压范围内包含多个基准电压，通过在DAC检测装置和待测DAC电路中输入多个基准电压，可以得到相应的多个标准模拟信号和实时模拟信号；然后将每个相对应的标准模拟信号与实时模拟信号进行做差计算后可以得到多个信号偏差值；通过多个实时模拟信号可以得到实时模拟信号的变化量，通过多个标准模拟信号可以得到标准模拟信号的变化量，然后实时模拟信号的实时变化量和标准模拟信号的标准变化量进行计算后得到多个信号偏差值的变化量，即，根据多个信号偏差值同样可以得到信号偏差值的变化量；具体地，变化量可以理解为在预设范围内每个值的变化幅度；在本申请实施例中，可以通过图像的形式来体现变化量；可以理解的是，若以图像的形式来表现标准模拟信号和实时模拟信号，那么首先根据基准电压范围可以得到标准模拟信号范围和实时模拟信号范围；即，根据DAC检测装置得到的多个标准模拟信号中的最大值和最小值之间组成了标准模拟信号范围，根据待测DAC电路得到的多个实时模拟信号中的最大值和最小值组成了实时模拟信号范围。
然后将标准模拟信号范围中用于表示标准模拟信号的各个点相连可以得到用于表示标准模拟信号变化量的图像，该图像为直线，即，每个基准电压对应一个标准模拟信号，随着基准电压的增加，标准模拟信号呈线性增长；同理，将实时模拟信号采用相同的方式进行处理后得到用于表示实时模拟信号变化量的图像，该图像为曲线，因为待测DAC电路输出的实时模拟信号会产生一定的偏差，该偏差导致实时模拟信号变化量的图像不以直线的形式呈现；然后将两个图像进行相似度检测匹配，判断出在实时模拟信号变化量的图像中哪个部分对应的图像是最接近标准摸信号变化量的图像，那么就说明在利用待测DAC电路进行模拟信号转换时，该部分图像对应的基准电压和相应的模拟信号的转换准确率是最高的，然后将相应的基准电压、数字信号和模拟信号互相绑定存储在数据库中，该基准电压即为与模拟信号对应的标准电压范围；即，可以理解的是，若想得到上述过程中的模拟信号，那么就选用相应的基准电压；通过这种方式，根据想要的模拟信号可以选用合适的基准电压和数字信号，通过这种方式，使得待测DAC电路对模拟信号的转换准确性最高。
例如，若对于基准电压范围0-5V而言，该基准电压范围对应的实时模拟信号变化量的图像与标准信号变化量的图像之间的相似度最高，也可以通过对两个图像的斜率进行判断，斜率差值最小的，说明两个图像最相似；即，在基准电压范围0-5V内，实时模拟信号的变化趋势和标准模拟信号的变化趋势最相近，此时对应的实时模拟信号为A；那么在想要模拟信号为A时，输入基准电压范围0-5V即可得到。
可以理解的是，通过上述方式可以检测出利用待测DAC电路得到模拟信号的过程中，转换准确性最高的模拟信号对应的基准电压和数字信号，同样在数据处理的过程中，可以预先存储一些常用的模拟信号，以使得需要时，可以直接调取预存的数据。
通过上述方式，实现了对待测DAC电路的转换准确性的检测，提高了待测DAC电路的检测的准确性和转换准确性，提高了检测工作的工作效率。
本申请还提供一种DAC电路测试系统，如图3所示，一种DAC电路测试系统包括，接收模块1，用于接收待测DAC电路输出的实时模拟信号；比较模块2，用于将实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值；获取模块3，用于获取预设基准电压范围，并根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号；分析模块4，用于根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量；判断模块5，用于对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。
为了更好地执行上述方法的程序，本申请还提供一种智能终端，智能终端包括存储器和处理器。
其中，存储器可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令以及用于实现上述DAC电路测试方法的指令等；存储数据区可存储上述DAC电路测试方法中涉及到的数据等。
处理器可以包括一个或者多个处理核心。处理器通过运行或执行存储在存储器内的指令、程序、代码集或指令集，调用存储在存储器内的数据，执行本申请的各种功能和处理数据。处理器可以为特定用途集成电路、数字信号处理器、数字信号处理装置、可编程逻辑装置、现场可编程门阵列、中央处理器、控制器、微控制器和微处理器中的至少一种。可以理解地，对于不同的设备，用于实现上述处理器功能的电子器件还可以为其它，本申请实施例不作具体限定。
本申请还提供一种计算机可读存储介质，例如包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（Read Only Memory，ROM）、随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。该计算机可读存储介质存储有能够被处理器加载并执行上述DAC电路测试方法的计算机程序。
以上描述仅为本申请得较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的公开范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离前述公开构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其他技术方案。例如上述特征与本申请中公开的（但不限于）具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。
Claims (10)
1.一种DAC电路测试方法，应用于DAC电路测试装置，所述DAC电路测试装置连接待测DAC电路，用于向待测DAC电路发送基准电压和数字信号，并接收待测DAC电路发送的模拟信号；其特征在于，包括：
接收待测DAC电路输出的实时模拟信号；
将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值，所述信号偏差值与实时模拟信号一一对应；
获取预设基准电压范围，并根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号；
根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量；
对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。
2.根据权利要求1所述的DAC电路测试方法，其特征在于，所述接收待测DAC电路输出的实时模拟信号的步骤包括：
所述DAC电路测试装置包括控制器；
所述控制器连接待测DAC电路；
所述控制器将预设基准电压和预设数字信号发送给待测DAC电路；
所述控制器接收待测DAC电路接收到预设基准电压和预设数字信号后得到的实时模拟信号。
3.根据权利要求1所述的DAC电路测试方法，其特征在于，所述将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值的步骤包括，对所述实时模拟信号和标准模拟信号进行做差计算后得到信号偏差值。
4.根据权利要求1所述的DAC电路测试方法，其特征在于，所述根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号的步骤包括：
所述基准电压范围中包含多个基准电压；
将多个基准电压分别输入DAC电路测试装置得到多个标准模拟信号；
将多个基准电压分别输入待测DAC电路得到多个实时模拟信号。
5.根据权利要求4所述的DAC电路测试方法，其特征在于，所述根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量的步骤包括：
根据多个实时模拟信号得到实时模拟信号的实时变化量；
根据多个标准模拟信号得到标准模拟信号的标准变化量；
根据实时模拟信号的实时变化量和标准模拟信号的标准变化量进行计算后得到多个信号偏差值的变化量。
6.根据权利要求5所述的DAC电路测试服方法，其特征在于，所述对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果的步骤包括：
根据基准电压范围得到标准模拟信号范围和实时模拟信号范围；
根据标准模拟信号范围、实时模拟信号范围、实时模拟信号的变化量与标准模拟信号的变化量进行筛选后得到标准电压范围；
所述检测结果包括标准电压范围。
7.根据权利要求1所述的DAC电路测试方法，其特征在于，所述对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果的步骤包括：
将所述信号偏差值与预设的偏差范围值进行比较；
判断所述信号偏差值是否落在偏差范围值内；
若是，则输出转换准确提示信息；
若否，则输出转换不准确提示信息；
所述检测结果包括转换准确提示信息和转换不准确提示信息。
8.一种DAC电路测试系统，其特征在于，包括：
接收模块（1），用于接收待测DAC电路输出的实时模拟信号；
比较模块（2），用于将所述实时模拟信号与预设的标准模拟信号进行比较后得到信号偏差值；
获取模块（3），用于获取预设基准电压范围，并根据预设基准电压范围得到相应的多个实时模拟信号；
分析模块（4），用于根据多个实时模拟信号得到相应的多个信号偏差值，并对多个信号偏差值分析后得到多个信号偏差值的变化量；
判断模块（5），用于对信号偏差值与多个信号偏差值的变化量进行分析后得到检测结果。
9.一种智能终端，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1-7中任一种方法的计算机程序指令。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1-7中任一种方法的计算机程序。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111557265.8A CN114172514A (zh) | 2021-12-18 | 2021-12-18 | 一种dac电路测试方法及系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111557265.8A CN114172514A (zh) | 2021-12-18 | 2021-12-18 | 一种dac电路测试方法及系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114172514A true CN114172514A (zh) | 2022-03-11 |
Family
ID=80487459
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202111557265.8A Pending CN114172514A (zh) | 2021-12-18 | 2021-12-18 | 一种dac电路测试方法及系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| CN (1) | CN114172514A (zh) |
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