CN114166475A - 显示屏的检测方法、装置及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种显示屏的检测方法、装置及存储介质,其中,本申请实施例提供的方法包括:采集显示屏的出射光信息;对出射光信息进行光谱分析,得到显示屏的第一光谱分布;基于第一光谱分布确定显示屏的目标性能。通过分析显示屏的光谱分布,进而通过光谱分布对显示屏的性能进行检测,以提高对显示屏性能检测的准确度。
Description
技术领域
本申请涉及光学技术领域,具体涉及一种显示屏的检测方法、装置及存储介质。
背景技术
随着手机、平板电脑等显示设备的发展,对于显示屏的要求越来越高,一般在显示设备出厂之前都会对显示设备的显示屏性能进行检测,检测方法准确度的高低影响到出厂的显示设备的品质,常规的显示屏检测是通过亮度计进行亮度检测,但是这种检测方式准确度低。
发明内容
本申请实施例提供一种显示屏的检测方法、装置及存储介质,能够提高对显示屏性能检测的准确度。
第一方面,本申请实施例提供一种显示屏的检测方法,包括:
采集显示屏的出射光信息;
对出射光信息进行光谱分析,得到显示屏的第一光谱分布;
基于第一光谱分布确定显示屏的目标性能。
第二方面,本申请实施例还提供一种显示屏的检测装置,包括:
信息采集模块,用于采集显示屏的出射光信息;
光谱分析模块,用于对出射光信息进行光谱分析,得到显示屏的第一光谱分布;
性能测试模块,用于基于第一光谱分布确定显示屏的目标性能。
第三方面,本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,当计算机程序在计算机上运行时,使得计算机执行如本申请任一实施例提供的显示屏的检测方法。
本申请实施例提供的技术方案,通过采集显示屏的出射光信息,并基于出射光信息进行光谱分析,得到关于显示屏的光谱分布,其中,通过分析光谱分布能够得到关于显示屏发出的单色光和复色光的光谱信息,从而能够以更全面的光谱信息分析显示屏的性能,提高对显示屏性能检测的准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的显示屏的检测方法的流程示意图。
图2为本申请实施例提供的显示屏的检测方法中第一光谱分布的示意图。
图3为本申请实施例提供的显示屏的检测方法中强度变化曲线的示意图。
图4为本申请实施例提供的显示屏的检测方法中寿命衰减曲线的示意图。
图5为本申请实施例提供的显示屏的检测装置的结构示意图。
图6为本申请实施例提供的显示屏的检测装置的应用场景示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请的保护范围。
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
本申请实施例提供一种显示屏的检测方法,该显示屏的检测方法的执行主体可以是本申请实施例提供的显示屏的检测装置,其中,该显示屏的检测装置可以采用硬件或者软件的方式实现。
请参阅图1,图1为本申请实施例提供的显示屏的检测方法的流程示意图。本申请实施例提供的显示屏的检测方法的具体流程可以如下:
101、采集显示屏的出射光信息。
示例性地,显示屏的检测装置上设置有光纤探头,其中,光纤探头具有感光性,能够采集显示屏发出的出射光信息。
对于显示屏而言,显示屏显示图像依赖于其中设置的三种颜色的单色发光元件,即红色发光元件、绿色发光元件和蓝色发光元件,以下简称为三色发光元件,显示屏的每一个像素点包括一组三色发光元件,通过控制三色发光元件单独或组合发光,能够使得显示屏显示出彩色图像。
当然地,显示屏中的发光元件并不局限于三种颜色,可根据实际需求设定。在检测显示屏的性能时,可通过为显示屏通入电流,使得显示屏发光,进而通过光纤探头采集显示屏发出的出射光信息。
示例性地,在进行显示屏的性能检测时,仅控制显示屏发光即可,而对于显示屏是否显示图像,以及显示的图像类型,此处并不进行限定。在一实施例中,为了提高检测的准确性,可控制显示屏仅显示白光,其中,白光为三色发光元件发出的光进行混合后形成的复色光。
其中,光纤探头可同时采集多个屏幕像素点的出射光信息,以提高采集出射光信息的效率。
102、对出射光信息进行光谱分析,得到显示屏的第一光谱分布。
示例性地,当光纤探头采集到显示屏的出射光信息之后,则将出射光信息传输至显示屏的检测装置,进而通过显示屏的检测装置对出射光信息进行光谱分析,得到关于显示屏的光谱分布情况。
以上述提供的白光为例,光纤探头采集到显示屏发出的白光信息,则将白光信息传输至显示屏的检测装置,显示屏的检测装置通过其内部设置的光栅或棱镜对白光信息进行色光分解,得到不同颜色的光在不同波长区间上的分布情况。
请参阅图2,图2为本申请实施例中提供的显示屏的检测方法中第一光谱分布的示意图,图中,横轴表示波长,纵轴表示光强度,其中,蓝光的波长区间为400-450nm,绿光的波长区间为500-580nm,红光的波长区间为630-760nm,而白光的波长区间为300-800nm,其均属于可见光波长区间。
对于每一种单色发光元件而言,其对应有一个波长区间,比如,红色发光元件的波长区间处于630-760nm之间,且每一单色发光元件的光强度值在对应的波长区间上的分布不同。由此,可通过对每一单色发光元件对应的波长区间及其上分布的光强度值进行分析,以得到每一单色光发光元件的性能。
103、基于第一光谱分布确定显示屏的目标性能。
该实施例中,从多个维度对显示屏的性能进行分析,其中,目标性能包括但不限于以下性能中的一个或者多个:寿命衰减程度、亮度稳定度、发光亮度、能耗以及纯度等。
随着显示屏的使用,当上述任一维度的性能发生变化时,会在其光谱分布上有所呈现。因此,本申请实施例中,对于每一维度的性能,采用该维度对应的方式对第一光谱分布进行分析,比如第一光谱分布随时间变化情况、随环境变化情况、光谱分布对应的波长区域等进行分析,从而得到显示屏的性能。
比如,可将第一光谱分布中单色发光元件对应的波长分布,与该单色发光元件的预设波长分布进行比较,从而根据实际波长分布与预设波长分布之间的分布差异,得到该单色发光元件的纯度,进而以纯度表征其显色误差。另外,以此种方式对每一单色发光元件的纯度进行检测,可得到各单色发光元件的纯度,从而确定各单色发光元件的显色误差,从而通过更换显色误差较大的单色发光元件,提高显示屏的显色性能。
再比如,可根据第一光谱分布中单色发光元件对应的光谱分布,在其对应的波长区间上对光强度值进行积分处理,得到该单色发光元件的总强度值,其中,单色发光元件的总强度值与其发光亮度正相关,以此,根据总强度值可得到该单色发光元件的亮度性能,从而以该单色发光元件的亮度性能表征显示屏的显示性能。
如上,通过将单色发光元件对应的波长分布与预设波长分布进行比较,得到分布差异,以分布差异表征显示屏的显色性能。或者在单色发光元件对应的波长区间上,对光强度值进行积分得到该单色发光元件的总强度值,以总强度值表征显示屏的显示性能。其中,显色性能和显示性能均可表征显示屏的光学性能。需说明的是,本申请方案是通过对关于单色发光元件对应的单色光的光谱分布进行处理,得到单色发光元件的光学性能,进而以单色发光元件的光学性能表征显示屏的光学性能。可以理解地,也可通过对显示屏的光谱分布中复色光的光谱分布进行处理,从而检测显示屏的光学性能。凡是能够通过此两种方式对显示屏进行光学性能检测的方案,均属于本申请所要求的保护范围。
具体实施时,本申请不受所描述的各个步骤的执行顺序的限制,在不产生冲突的情况下,某些步骤还可以采用其它顺序进行或者同时进行。
由上可知,本申请实施例提供的显示屏的检测方法,通过第一光谱分布即可得到每一单色发光元件的波长区间,及其上分布的光强度值,进而通过对每一单色发光元件的波长区间或光强度值的分布进行分析,以分析结果表征每一单色发光元件的光学性能。再者,还可通过对单色发光元件的光学性能进行组合分析,以描述显示屏的光学性能,从而使得本实施例提供的方案既能够检测显示屏的光学性能,又能够检测每一单色发光元件的光学性能。实现了从多个维度分析显示屏的光学性能。
根据前面实施例所描述的方法,以下将举例作进一步详细说明。
在一些实施例中,显示屏包括多种单色发光元件,该实施例中,步骤103包括:
对于每一单色发光元件,从第一光谱分布中确定出单色发光元件对应的第二光谱分布;
对第二光谱分布的光强度值进行分析,得到单色发光元件的目标性能。
本实施例提供通过对单色发光元件在其对应的波长区间上对光强度值进行积分处理,以得到单色发光元件或显示屏的光学性能的方案。
示例性地,可根据每一单色发光元件对应的波长区间,将第一光谱分布划分成多个第二光谱分布,以上述图2所示的第一光谱分布为例,红色发光元件对应的第二光谱分布即为波长区间在630-760nm范围的光强度分布,绿色发光元件对应的第二光谱分布即为波长区间在500-580nm范围的光强度分布,蓝色发光元件对应的第二光谱分布即为波长区间在400-450nm范围的光强度分布。
得到每一单色发光元件对应的第二光谱分布之后,则分别根据每一第二光谱分布,在其对应的波长区间上对光强度值进行积分处理得到总强度值,并通过将总强度值与时间因素、环境因素等进行结合分析,以得到每一单色发光元件在上述多个维度上的光学性能。
可以理解地,显示屏一般通过单色发光元件或单色发光元件的组合实现发光,因此,任一单色发光元件的光学性能,均可用于表征显示屏的光学性能,在以下实施例中,对于每一种单色发光元件,都可以按照同样的方式进行检测。
以下则列举了通过对第二光谱分布进行分析,得到单色发光元件不同光学性能的几个实施例:
在一些实施例中,目标性能包括寿命衰减程度。
对第二光谱分布的光强度值进行分析,得到单色发光元件的目标性能包括:
在单色发光元件对应的波长区间上,对第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到单色发光元件在波长区间上的总强度值;
根据单色发光元件在预设时长内的多个总强度值,生成强度变化曲线;
根据强度变化曲线,确定单色发光元件的寿命衰减程度。
该实施例中,对于第二光谱分布,横轴表示波长,纵轴表示光强度值,每一波长对应有一个光强度值。通过对第二光谱的波长区间上的光强度值进行积分,即可得到该波长区间上的总强度值。或者,对波长区间上所有波长对应的光强度值相加求和,即可得到该波长区间对应的总强度值。或者,求取波长区间上光强度曲线围成的图形面积,图形面积即为波长区间上的总强度值。
示例性地,在采集显示屏的出射光信息时,可采集预设时长内的出射光信息,进而得到预设时长内的多个第一光谱分布。之后,根据单色发光元件的波长区间,从多个第一光谱分布中得到每一单色发光元件的多个第二光谱分布,以及对每一第二光谱分布对应波长区间上的光强度值进行积分,即可得到预设时长内每一单色发光元件的多个总强度值。
其中,预设时长内的总强度值随时间的变化可通过强度变化曲线表示,请参阅图3,图3为本申请实施例提供的显示屏的检测方法中强度变化曲线的示意图,其中,横轴表示时间,纵轴表示总强度值。通过对强度变化曲线进行分析,即可得到单色发光元件的寿命衰减程度。
比如,强度变化曲线整体呈下降趋势,或者总强度值随时间减小,则判定单色发光元件的发光性能越来越弱,从单色发光元件的寿命角度而言,则判定单色发光元件的寿命衰减程度较高。
再比如,强度变化曲线基本上持平,或者总强度值随时间而保持稳定,则判定单色发光元件的发光性能比较稳定,从单色发光元件的寿命角度而言,则判定单色发光元件的寿命衰减程度较低。
在一些实施例中,根据强度变化曲线,确定单色发光元件的寿命衰减程度,包括:
基于强度变化曲线获取总强度值在时间维度的变化率,得到寿命衰减曲线;
根据寿命衰减曲线的斜率确定单色发光元件的寿命衰减程度,其中,斜率与寿命衰减程度成正比。
该实施例中,对于强度变化曲线而言,以初始时刻的总强度值为基准,而后每一时刻的总强度值均与初始时刻的总强度求斜率,可以得到每一时刻对应的斜率值,通过对斜率值进行直线拟合,可以得到一条直线以表示总强度值在时间维度的变化率,而拟合后的曲线称为寿命衰减曲线。
请参阅图4,图4为本申请实施例提供的显示屏的检测方法中寿命衰减曲线的示意图。寿命衰减曲线的斜率表征单色发光元件的寿命衰减程度,其中,当寿命衰减曲线斜率的较大时,说明单色发光元件的寿命衰减程度较高,其寿命衰减较快,使用时长较短。而当寿命衰减曲线的较小时,说明单色发光元件的寿命衰减程度较低,其寿命衰减较为缓慢,使用时长较长。
示例性地,还可根据多个单色发光元件的寿命衰减曲线的斜率比较其寿命衰减程度,以根据寿命衰减程度对各单色发光元件的使用时长进行排序,从而决定是否以寿命衰减程度较低的单色发光元件,更换寿命衰减程度较高的同类型的单色发光元件,以提高显示屏的使用寿命。
在一些实施例中,目标性能包括能耗。
对第二光谱分布的光强度值进行分析,得到单色发光元件的目标性能包括:
获取单色发光元件的功率;
在单色发光元件对应的波长区间上,对第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到单色发光元件在波长区间上的总强度值;
根据功率对应的预设强度值和总强度值的差值,确定单色发光元件的能耗,其中,差值与能耗成正比。
其中,可获取单色发光元件的功率,其中,功率可为额定功率,也可为实际功率,此处并不限定,只要能表示单色发光元件的耗电程度即可。
示例性地,对于每一单色发光元件的功率,预先设定每一功率对应的预设强度值,当通过分析得到单色发光元件实际的总强度值之后,将预设强度值与总强度值进行比较,即求取预设强度值和总强度值之间的差值,可得到单色发光元件的能耗。
当预设强度值和总强度值之间的差值越大时,说明单色发光元件在同样功率下的实际发光能力越弱,能耗较高,换言之,同样电量情况下,单色发光元件的实际发光亮度较差,或者单色发光元件的实际发光亮度达不到同样电量时的预设发光亮度,其中,单色发光元件的发光亮度与其总强度值正相关,因此,也说明了单色发光元件的能耗较高。反之,当差值越小时,说明单色发光元件的发光能力相对较强,其能耗较低。
其中,能耗用于表征单色发光元件的耗电量情况,当能耗较高时,单色发光元件的耗电量较多,当能耗越低时,单色发光元件的耗电量较少。
本实施例通过检测单色发光元件的能耗,从而根据能耗得到单色发光元件的耗电量情况,从而采取以能耗低的单色发光元件替换能耗高的同类型单色发光元件,以实现节能目的。
在一些实施例中,目标性能包括亮度稳定度。
在该实施例中,步骤101包括:在多个预设环境参数下采集显示屏的出射光信息,得到对应的多个出射光信息。
步骤102包括:分别对多个出射光信息进行光谱分析,得到显示屏的多个第一光谱分布。
步骤103包括:对于显示屏的每一单色发光元件,从多个第一光谱分布中确定出单色发光元件对应的多个第二光谱分布。在单色发光元件对应的波长区间上,对每一第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到单色发光元件在波长区间上的多个总强度值;根据多个总强度值随多个预设环境参数的变化程度,确定出单色发光元件的亮度稳定度,其中,变化程度与亮度稳定度成反比。
示例性地,先设置几组环境参数,然后,按照设置的几组环境参数改变显示屏的检测环境,根据不同检测环境下单色发光元件的亮度确定其亮度稳定度。其中,环境参数可为温度、湿度、光线强度等变量,通过对任意变量进行数值改变得到多组环境参数。
对于每一单色发光元件,在每一环境参数下各对应一个第二光谱分布,可以理解地,第二光谱分布对应的波长区间不会随环境参数的变化而发生变化,但波长区间上的光强度值分布会因环境参数的改变而发生变化。
通过在波长区间上对每一第二光谱分布的光强度值进行积分,即可得到每一第二光谱分布对应的总强度值,进而通过对多个总强度值随环境参数的变化程度进行分析,得到单色发光元件的亮度稳定度,其中,变化程度与亮度稳定度成反比。
比如,以温度为例,根据多个温度值设置多个环境参数,在对多个总强度值进行分析时,可根据总强度值随温度的变化程度,分析亮度稳定度,比如,总强度值随着温度的升高而变化较大时,则说明总强度值随温度的变化程度较高,单色发光元件的亮度稳定度较小,当总强度值随温度的升高变化较小时,则说明总强度值随温度的变化程度较低,单色发光元件的亮度稳定度较大。当然地,环境参数也可用其它变量进行表述,只要环境参数改变,即可通过判断单色发光元件的总强度值随环境参数的变化程度,以分析单色发光元件的亮度稳定度。其中,当总强度值随环境参数的变化程度较小时,则说明亮度稳定度较大,当总强度值随环境参数的变化程度较大时,则说明亮度稳定度较小。
其中,亮度稳定度用于表征单色发光元件是否发光稳定,当亮度稳定度越小时,单色发光元件发光越不稳定,当亮度稳定度越大时,单色发光元件发光越稳定。
本实施例通过检测单色发光元件的亮度稳定度,进而以亮度稳定度较大的单色发光元件,替换同类型的亮度稳定度较小的单色发光元件,避免显示屏显示亮度不均衡,以提高显示屏显示性能。
在一些实施例中,显示屏包括多种单色发光元件,目标性能包括纯度;其中,步骤103包括:
从第一光谱分布中确定每一单色发光元件的第二光谱分布;
对于每一单色发光元件,获取单色发光元件的预设波长分布;
确定预设波长分布和第二光谱分布之间的分布差异;
根据分布差异确定单色发光元件的纯度,其中,纯度与分布差异成反比。
本实施例提供通过对光谱分布进行分析,以得到单色发光元件或显示屏的光学性能的方案。
该实施例中,每一单色发光元件具有一个预设波长分布(固有波长分布),当通过检测单色发光元件的实际波长分布,即可得到预设波长分布与实际波长分布之间的分布差异。
具体地,第二光谱分布的横轴表示波长分布,通过将第二光谱分布中的实际波长分布与预设波长分布进行波长范围的比较,即可确定出实际波长区间是否存在偏移,当存在偏移时,说明单色发光元件存在显色误差。
比如,红色发光元件的波长分布应该在630-760nm区间内,若第二光谱分布中的波长分布在550-650nm区间,则说明该红色发光元件发出的色光偏黄,存在显色误差,其纯度较低。
其中,纯度与分布差异成反比,当分布差异越大时,单色发光元件的纯度越低,当分布差异越小时,则说明单色发光元件的纯度越高。
在单色发光元件发光时,其纯度越低,显色误差越大,纯度越高,显示误差越小。
本实施例中检测单色发光元件的纯度的方式,可用于后续分析显示屏的显色误差,以对显示屏的显色性能进行调节。
由上可知,本发明实施例提出的显示屏的检测方法,通过从多个维度对单色发光元件进行分析,得到单色发光元件和显示屏在多个方面的性能,或者,对单色发光元件和显示屏在多个方面的性能进行结合分析,得到单色发光元件和显示屏的整体性能,使得检测结果更加精确。
在一实施例中还提供一种显示屏的检测装置。请参阅图5,图5为本申请实施例提供的显示屏的检测装置200的结构示意图。该显示屏的检测装置200包括:
信息采集模块201,用于采集显示屏的出射光信息;
光谱分析模块202,用于对出射光信息进行光谱分析,得到显示屏的第一光谱分布;
性能测试模块203,用于基于第一光谱分布确定显示屏的目标性能。
其中,显示屏包括多种单色发光元件;
在一些实施例中,性能测试模块203还用于:
对于每一单色发光元件,从第一光谱分布中确定出单色发光元件对应的第二光谱分布;
对第二光谱分布的光强度值进行分析,得到单色发光元件的目标性能。
在一些实施例中,性能测试模块203还用于:
在单色发光元件对应的波长区间上,对第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到单色发光元件在波长区间上的总强度值;
根据单色发光元件在预设时长内的多个总强度值,生成强度变化曲线;
根据强度变化曲线,确定单色发光元件的寿命衰减程度。
在一些实施例中,性能测试模块203还用于:
基于强度变化曲线获取总强度值在时间维度的变化率,得到寿命衰减曲线;
根据寿命衰减曲线的斜率确定单色发光元件的寿命衰减程度,其中,斜率与寿命衰减程度成正比。
在一些实施例中,性能测试模块203还用于:
获取单色发光元件的功率;
在单色发光元件对应的波长区间上,对第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到单色发光元件在波长区间上的总强度值;
根据功率对应的预设强度值和总强度值的差值,确定单色发光元件的能耗,其中,差值与能耗成正比。
在一些实施例中,信息采集模块201还用于:在多个预设环境参数下采集显示屏的出射光信息,得到对应的多个出射光信息;
光谱分析模块202还用于:分别对多个出射光信息进行光谱分析,得到显示屏的多个第一光谱分布;
性能测试模块203还用于:对于显示屏的每一单色发光元件,从多个第一光谱分布中确定出单色发光元件对应的多个第二光谱分布;
在单色发光元件对应的波长区间上,对每一第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到单色发光元件在波长区间上的多个总强度值;
根据多个总强度值随多个预设环境参数的变化程度,确定出单色发光元件的亮度稳定度,其中,变化程度与亮度稳定度成反比。
在一些实施例中,性能测试模块203还用于:
从第一光谱分布中确定每一单色发光元件的第二光谱分布;
对于每一单色发光元件,获取单色发光元件的预设波长分布;
确定预设波长分布和第二光谱分布之间的分布差异;
根据分布差异确定单色发光元件的纯度,其中,纯度与分布差异成反比。
可以理解地,上述信息采集模块201、光谱分析模块202和性能测试模块203可集结在本申请实施例提供的显示屏的检测装置200中,也可在其上设置不同装置,不同装置可组合形成本申请实施例中的显示屏的检测装置200。
以下提供一个应用场景用于描述该实施例。请参阅图6,图6为本申请实施例提供的显示屏的检测装置的应用场景示意图。在该实施例中,检测装置200还包括光纤探头和光谱仪,信息采集模块201通过光纤探头采集显示屏的出射光信息,然后将出射光信息传输至光谱仪,光谱分析模块202通过光谱仪对出射光信息进行光谱分析,得到光谱分布,性能检测模块203对光谱分布进行光谱分析,进而得到显示屏的性能。
在一些实施例中,检测装置200还包括:
置物台,用于放置显示屏;
信息采集模块上设置有光纤探头,光纤探头设置于置物台的上方;
驱动装置,驱动装置用于驱动光纤探头移动到显示屏的指定位置。
示例性地,驱动装置包括电机和支撑架,在支撑架上还通过连接杆连接有光纤探头,通过电机驱动支撑架在水平方向或竖直方向上移动,从而带动光纤探头在置物台上方移动,以停留在置物台上方指定位置,而当显示屏放置于置物台上之后,则光纤探头指示显示屏的指定位置,进而获取该指定位置上显示屏像素点的出射光信息。
可以理解地,通过驱动装置驱动光纤探头移动至显示屏的指定位置,可以实现对显示屏的任意像素点进行出射光信息采集,而光纤探头至显示屏的垂直距离也可通过驱动装置调节,以实现在不同的出射光信息采集需求。
当然地,对于驱动装置,还有另一个作用即是固定光纤探头,比如,通过固定光纤探头,可使光纤探头停留一段时间在显示屏的指定位置,以实现连续采集该段时间内的出射光信息。
在一些实施例中,显示屏可为发光二极管(LED,Light Emitting Diode)、有机发光二极管(OLED,Organic Light-Emitting Diode)等。
应当说明的是,本申请实施例提供的显示屏的检测装置与上文实施例中的显示屏的检测方法属于同一构思,通过该显示屏的检测装置可以实现显示屏的检测方法实施例中提供的任一方法,其具体实现过程详见显示屏的检测方法实施例,此处不再赘述。
由上可知,本申请实施例提出的显示屏的检测装置,通过第一光谱分布即可得到每一单色发光元件的波长区间,及其上分布的光强度值,进而通过对每一单色发光元件的波长区间或光强度值的分布进行分析,以分析结果表征每一单色发光元件的光学性能。再者,还可通过对单色发光元件的光学性能进行组合分析,以描述显示屏的光学性能,从而使得本实施例提供的方案既能够检测显示屏的光学性能,又能够检测每一单色发光元件的性能。实现了检测显示屏在多个维度的光学性能,进而提高了对显示屏性能检测的准确度。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以理解,上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤可以通过指令来完成,或通过指令控制相关的硬件来完成,该指令可以存储于一计算机可读存储介质中,并由处理器进行加载和执行。
为此,本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,其中存储有多条计算机程序,该计算机程序能够被处理器进行加载,以执行本申请实施例所提供的任一种显示屏的检测方法中的步骤。例如,该计算机程序可以执行如下步骤:
采集显示屏的出射光信息;
对出射光信息进行光谱分析,得到显示屏的第一光谱分布;
基于第一光谱分布确定显示屏的目标性能。
以上各个操作的具体实施可参见前面的实施例,在此不再赘述。
其中,该存储介质可以包括:只读存储器(ROM,Read Only Memory)、随机存取记忆体(RAM,Random Access Memory)、磁盘或光盘等。由于该存储介质中所存储的计算机程序,可以执行本申请实施例所提供的任一种显示屏的检测方法中的步骤,因此,可以实现本申请实施例所提供的任一种显示屏的检测方法所能实现的有益效果,详见前面的实施例,在此不再赘述。
以上对本申请实施例所提供的一种显示屏的检测方法、装置及存储介质进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
Claims (10)
1.一种显示屏的检测方法,其特征在于,包括:
采集显示屏的出射光信息;
对所述出射光信息进行光谱分析,得到所述显示屏的第一光谱分布;
基于所述第一光谱分布确定所述显示屏的目标性能。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述显示屏包括多种单色发光元件;所述基于所述第一光谱分布确定所述显示屏的目标性能,包括:
对于每一单色发光元件,从所述第一光谱分布中确定出所述单色发光元件对应的第二光谱分布;
对所述第二光谱分布的光强度值进行分析,得到所述单色发光元件的目标性能。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述目标性能包括寿命衰减程度;所述对所述第二光谱分布的光强度值进行分析,得到所述单色发光元件的目标性能,包括:
在所述单色发光元件对应的波长区间上,对所述第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到所述单色发光元件在所述波长区间上的总强度值;
根据所述单色发光元件在预设时长内的多个所述总强度值,生成强度变化曲线;
根据所述强度变化曲线,确定所述单色发光元件的寿命衰减程度。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述强度变化曲线,确定所述单色发光元件的寿命衰减程度,包括:
基于所述强度变化曲线获取所述总强度值在时间维度的变化率,得到寿命衰减曲线;
根据所述寿命衰减曲线的斜率确定所述单色发光元件的寿命衰减程度,其中,所述斜率与所述寿命衰减程度成正比。
5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述目标性能包括能耗;
所述对所述第二光谱分布的光强度值进行分析,得到所述单色发光元件的目标性能,包括:
获取所述单色发光元件的功率;
在所述单色发光元件对应的波长区间上,对所述第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到所述单色发光元件在所述波长区间上的总强度值;
根据所述功率对应的预设强度值和所述总强度值的差值,确定所述单色发光元件的能耗,其中,所述差值与所述能耗成正比。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标性能包括亮度稳定度;
所述采集显示屏的出射光信息,包括:
在多个预设环境参数下采集显示屏的出射光信息,得到对应的多个出射光信息;
所述对所述出射光信息进行光谱分析,得到所述显示屏的第一光谱分布,包括:
分别对所述多个出射光信息进行光谱分析,得到所述显示屏的多个第一光谱分布;
所述基于所述第一光谱分布确定所述显示屏的目标性能,包括:
对于所述显示屏的每一单色发光元件,从所述多个第一光谱分布中确定出所述单色发光元件对应的多个第二光谱分布;
在所述单色发光元件对应的波长区间上,对所述每一第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到所述单色发光元件在所述波长区间上的多个总强度值;
根据所述多个总强度值随所述多个预设环境参数的变化程度,确定出所述单色发光元件的亮度稳定度,其中,所述变化程度与所述亮度稳定度成反比。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述显示屏包括多种单色发光元件,所述目标性能包括纯度;
所述基于所述第一光谱分布确定所述显示屏的目标性能,包括:
从所述第一光谱分布中确定每一所述单色发光元件的第二光谱分布;
对于每一单色发光元件,获取所述单色发光元件的预设波长分布;
确定所述预设波长分布和所述第二光谱分布之间的分布差异;
根据所述分布差异确定所述单色发光元件的纯度,其中,所述纯度与所述分布差异成反比。
8.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,当所述计算机程序在计算机上运行时,使得所述计算机执行如权利要求1至7任一项所述的显示屏的检测方法。
9.一种显示屏的检测装置,其特征在于,包括:
信息采集模块,用于采集显示屏的出射光信息;
光谱分析模块,用于对所述出射光信息进行光谱分析,得到所述显示屏的第一光谱分布;
性能测试模块,用于基于所述第一光谱分布确定所述显示屏的目标性能。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
置物台,用于放置显示屏;
所述信息采集模块上设置有光纤探头,所述光纤探头设置于所述置物台的上方;
驱动装置,所述驱动装置用于驱动所述光纤探头移动到所述显示屏的指定位置。
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