CN103308279B - 测试设备及其方法 - Google Patents

Abstract

本公开涉及测试设备及其方法。测试装置用于测试电子显示器的一个或多个特性。该测试装置包括主体和容纳腔，该容纳腔限定在主体内并被配置成容纳电子显示器的至少一部分。该测试装置还包括多个传感器，所述多个传感器位于测试装置的第一表面上，并被配置成与容纳在容纳腔内电子显示器的至少一部分光通信。多个传感器被配置成通过检测从电子显示器发射的光来检测电子显示器的至少一种类型的非均匀性。

Description

测试设备及其方法

技术领域

本申请一般地涉及显示装置，并尤其涉及用于测试显示装置的设备。

背景技术

电子显示器，诸如与电子装置一起使用或并入电子装置的那些电子显示器，具有各种不同的光学参数，其决定或影响这些显示器上显示的图像的质量和/或外观。例如，显示器的对比度、亮度、光的均匀性、灰度、和/或色饱和度可能会改变这些显示器上的图像的外观。此外，电子显示器可能会受到视觉假象(artifact)，如漏光、闪烁、波纹、点或线缺陷等等。这些假象可能会影响用户在查看电子显示时的体验质量。一般地，假象可以是基于参数的，并因此一般是静态的(诸如漏光)，或可以是基于假象的，并因此一般是动态的(诸如闪烁)。

在某些情况下，有益的是，在制造过程中测试电子显示器，以便修正参数、减少或消除假象，和/或防止有缺陷的显示器被运送或以其他方式提供给消费者。然而，目前的检测设备和方法通常提供基于参数的测试或基于假象的测试。假象测试和参数测试两者通常必须被使用，使得这两种类型的缺陷可以被测试，从而需要用于每个显示器面板的两个独立的测试组。

此外，光学参数和/或假象的一些当前(current)测试可能是非常精确的，但可能是劳动密集、需要昂贵的设备，或每次只测试特定的一个像素或一组像素。这种测试不被扩展为以时间有效或成本有效的方式测试电子显示器的生产线。

发明内容

一般地，本文所描述的实施例可以采用用于测试电子显示器的一个或多个特性的测试装置的形式。该测试装置包括主体和容纳腔，该容纳腔限定在主体内并被配置成容纳电子显示器的至少一部分。该测试装置还包括多个传感器，定位在测试装置的第一表面上，并被配置成与容纳在容纳腔内的电子显示器的至少一部分光通信。多个传感器被配置成通过检测从电子显示器发射的光来检测电子显示器的至少一种类型的非均匀性。

另一种实施例可以采取用于检测电子显示器的一个或多个非均匀性的方法的形式。该方法包括提供具有一个或多个传感器的测试装置，和由所述一个或多个传感器在时间段内收集对应于从电子显示器发射的光的光数据。

然而，另一实施例可以采用用于检测计算设备的显示器的两个或更多个特性的测试装置的形式。该测试装置包括主体；容纳腔，限定在主体内，并被配置成容纳显示器的至少一部分；第一组传感器，定位在第一表面上，并配置成与容纳在容纳腔内的显示器的第一部分光通信；第二组传感器，定位在第一表面上，并与第一组传感器在空间上分离，第二组传感器被配置成与容纳在空腔内的显示器的第二部分光通信。第一组传感器和第二组传感器被配置成检测显示器的至少一种类型的非均匀性。

在阅读详细的说明书之后，其它实施例和优点会很清楚。

附图说明

图1是用于检测显示器中的一个或多个非均匀性的示例测试装置的顶部透视图。

图2是图1的测试装置的俯视图。

图3是图1的测试装置的盖体处于打开位置的侧面透视图。

图4是图1的测试装置的盖体处于打开位置的俯视图。

图5是测试装置的另一个示例实施例的顶部透视图。

图6A是图5的测试装置的盖体处于打开位置的前顶部透视图。

图6B是图5的测试装置的盖体处于打开位置的侧面透视图。

图7是图5的测试装置的底部的俯视图。

图8A是电子显示器容纳在图1的测试装置中的前透视图。

图8B是电子显示器容纳在图1的测试装置中的盖体处于关闭的前透视图。

图9是具有电子显示器容纳在其中的测试装置的截面图。

图10是例示用于测试电子显示器以便检测一个或多个非均匀性的方法的流程图。

图11是例示用于分析传感器数据以便确定所测试的电子显示器是否具有一个或多个非均匀性的方法的流程图。

具体实施方式

本申请要求于2012年3月16日提交的、美国临时申请号为No.61/612,054、标题为“Imaging Sensor Array Testing Equipment”的优先权，其全部内容通过引用并入本文。

一般地，本文所描述的实施例可以采用用于测试电子显示器的一个或多个方面的装置和方法的形式，该电子显示器例如液晶显示器(LCD)、发光二极管(LED)屏，或等离子显示器。本文所描述的装置和方法可基本用于任何类型的使用一个或多个光源发射一个或多个图像的电子显示器，并且可用于检测显示器的一个或多个非均匀性。如在背景技术部分所简要描述的，电子显示器可具有一个或多个非均匀性或不期望的特性，这些非均匀性中的一些在被检测到的情况下是可修正的，其他的非均匀性不可修正并导致显示器对于消费者使用或出售是不期望的。显示器的当前测试装置通常只测试一个显示器的光学特性方面的变化中的一种，静态假象、或者动态假象，下面更详细限定其中的每一个。另外，许多测试装置是劳动密集的和/或需要昂贵的设备，并因此不能容易地或有效地适于显示装置的商业化生产。

如本文所定义的，用于显示屏的非均匀性或非均匀特性是指以包含在空间上、时间上、或者与基本相似的显示器相比的特性的基本任何类型的变化。例如，非均匀性可包括光学特性或参数的差异或错误，和/或可包括图像的可视化表示期间的假象或异常(anomalies)，其例子在下面进行更详细讨论。

在本公开的一个实施例中，测试装置可以用来测量显示特性以及它们与接受或期望的一组值的差异。这些显示特性可包括与所期望的值不同的一个或多个光学参数。测试装置还对一个或多个显示假象，静态假象和动态假象两者的存在进行测试。测试装置可包括限定被配置成容纳电子显示器或其一部分的容纳腔的主体。测试装置的一些实施例可以包括盖体或其他组件，可以用于防止在对显示器进行测试时外部光进入空腔。而在其他实施例中，测试装置可以是相对平的表面，并且显示器可以定位在表面的顶部，或可滑入配合到表面上，或测试设备可以滑动到显示器上或以其他方式可操作地连接到显示器。在这些实施例中，测试装置可以不包括空腔和/或盖体。此外，测试装置可包括一个或多个光传感器，例如光电晶体管，其可以被用于测量显示器的各种特性。传感器可以被布置在空腔内，以捕获从部分或基本整个显示器发射的光。

可从多个传感器收集数据，并且数据被分析以确定电子显示器的各种特性。例如，特定传感器的输入信号可以被分析，以确定从显示器的特定区域发射的光是否处于所期望的水平。作为另一个例子，在显示器激活的时间段内的传感器的输入信号，显示器的某些区域相对于其他区域的变化或差异(例如更亮的区域、基于波长的不同颜色)等被分析，以确定显示器的特性。在一些实施例中，所述多个传感器中的每一个可以是光电传感器，例如光谱适合光电晶体管，发光度曲线一般峰值处于对人视觉可感知的电磁光谱的波长(例如，具有波长范围从约390至750纳米)，或具有一般匹配人可视光谱的检测曲线。在这些实施例中，多个传感器可以是能够更精确地检测人可感知的显示器内的非均匀性。

在本公开的另一个实施例中，用于测试的方法可以检测电子显示器的一个或多个非均匀性。在该方法中，显示器或其中的一部分可以被定位在容纳腔内并被激活一段时间。当显示器被激活时，它可以发射光，在显示器上创建一个或多个图像或其他可视输出。当显示器被激活时，传感器可产生与显示器的所发射的光相关联的信号。应当指出，在其它实施例中，在测试显示器的激活期间，可以只包括激活用于显示屏的背光源，并由此显示器可以不被配置为发射图像，而只发射背景光。来自传感器的信号或数据接着可以被关联以确定显示器的动态和/或静态特性。例如，因为已知图像所期望的颜色、亮度和其他特性为已知，特定传感器的值可以与相应的已知值或其他传感器的值相比较，以确定传感器监视的显示器部分是否在容差范围内执行。在一些实施例中，在显示器输出中有变化时，传感器可以只输出数据。例如，该传感器可以被配置成只要遇到传感器的光超过预定值就提供输入信号。以这种方式，如果在显示器中有一个非均匀性，例如与其他基本类似的显示器相比增加的明度或亮度，传感器可以只记录一个信号。

类似地，相邻传感器或对应于显示器特定区域的传感器可以与其他传感器进行比较来检测显示器的非均匀性。例如，如果显示器在幕和外壳的交叉处具有漏光，则对应于周边该部分的传感器可以具有与如下那些传感器相比增加的信号或值，这些传感器测量屏幕的内部部分的光输出。类似地，显示器在测试装置内可以被激活一段时间，使得传感器可以在该时间段内收集显示器的数据。传感器在一段时间内收集的显示器的输出特性，接着可以被用于确定显示器是否生成动态假象。例如，为了检测显示器中的闪烁，显示器可被配置成在该时间段内发射相对恒定的图像，并且可以在该时间段内从传感器或传感器组收集数据。如果传感器或传感器组检测显示器输出中的变化或差异(例如，传感器随时间变化的输入信号)，不论相对恒定的期望发射的图像，显示器会具有闪烁或其它动态假象。

如上简要讨论，本文所公开的测试装置和测试方法，能够检测特定显示器或显示器组的一个或多个非均匀性。例如，显示器的部分上不均等的一些光学特性或者与基本类似的显示器相比的非均匀性并因此被认为是可由检测装置检测到的非均匀性，其包括在亮度、对比度、灰度或色域方面的变化(或者相对于特定显示器或相对于彼此比较的两个显示器)。应当指出，这些类型的非均匀性可以是静态的，因为它们在一段时间内相对恒定，或者它们可以是动态并在一段时间内改变。亮度是在给定方向上行进的光的每单位面积的发光强度的光度度量。相对于电子显示器，亮度特性可以描述从显示器或其一部分所发射的光的量。换言之，亮度决定显示器对用户看来如何明亮。显示的对比度可以被限定为显示器发射的图像的不同部分中的颜色和/或亮度的差异。灰度，相对于电子显示器，可以被限定为图像或显示器信号的函数或处理，以便近似人类视觉的灰度或幂函数。色域可以被限定为可以由显示器输出或期望由显示器输出的范围的颜色。白点一般是指从显示器发射的白色的色调(hue)。

此外，测试装置可以被用来检测其它类型的非均匀假象，包括静态且不随时间改变的那些，或者动态且可以随时间改变的那些，或在一段时间内会更加可见。静态假象的例子，可以包括轴上假象，例如漏光、色差(mura)、点缺陷，和/或线缺陷，以及离轴(例如，随机或非线性的)假象，例如热点、灰尘或其他杂物，和/或诸如LED或LCD中的缺陷的显示缺陷。

漏光一般是指来自显示器的用户无意看见的光。漏光可以通过被施加到显示器的机械压力并产生光路而引起。除了其他可能的原因以外，压力可以由外部压力、内部的热膨胀、或材料本身的非均匀性引起。色差，可以是轴上或离轴假象，可以被限定为低对比度的不规则的图案或区域、颜色(通常为黄色或白色)、云，或导致屏幕的受影响的区域中的黑斑或斑点。例如，色差可能会导致沿显示器的黄色或白色条纹。点缺陷和线缺陷可能会导致我的一个或多个像素是死的、粘滞、或以其他方式不发射光的正确波长。类似地，当一个或多个像素有缺陷时，可能会引起热点并且可能会只发射白色光的波长。

现在转向附图，图1是可用于测试电子显示器的测试装置100的顶部透视图，以及图2是图1的测试装置100的俯视图。图1的测试装置100可以被配置成容纳一个或多个电子显示器，并且测试装置100的这种大小和/或形状可以基于要测试的电子显示器的结构而改变。另外，在某些情况下，期望基本同时测试两个或更多个显示器。在这些情况下，测试装置100可以被配置成容纳多个显示器。

测试装置100可以包括可以容纳显示器的主体102或外壳。在一些实施例中，主体102可以是暗的或不透光的材料，或者可以包括是暗的或基本不透光材料的涂层或外壳。例如，主体102可以是暗的和相对密集的塑料等。在这些实施例中，当在主体102内容纳显示器时，可以基本防止外部光进入到主体102中，因为进入主体的光会影响由测试装置100收集的数据。另外或可选地，主体102可包括光吸收涂层或反射涂层。

主体102可以是基本整体构件，或者如图1所示，可以包括底部或下部104和盖体或上部106。图3是测试装置100的侧面透视图。如图3所示，盖体106通过铰链107或其它连接机构可转动地连接到底部104，从而盖体106可旋转远离底部104以提供对容纳腔110的存取(access)。在主体102基本是整体构件的实施例中，盖体106可以被省略或与底部104一体形成。在这些实施例中，容纳腔110可以是通过一个或多个孔(图中未示出)而被存取。

在一些实施例中，测试装置100可以包括诸如通信电缆112的通信机构。在这些实施例中，测试装置100可以通过无线(例如，WiFi、以太网、蓝牙等)或通过通信电缆112或端口与一个或多个计算设备(未示出)进行通信(参见图6B)。可选地或另外地，再次参考图1和图2，测试装置100可以包括输出或指示机构108。输出机构108可以是显示器、灯、或其他指示机构，可以向用户提供有关特定显示器的测试的输出。作为一个示例，输出机构108可以是诸如LED的网格的灯，可以照亮以指示在显示器的特定位置中的非均匀性。在这个例子中，每个LED可以被定位成大致与在腔体110内的传感器的独特位置相关联。作为另一个例子，输出机构108可以是显示屏，并且测试装置100可以包括处理器和/或通信机构，其可提供更详细的分析和/或图形用户界面(GUI)。在这些实施例中，测试装置100可以从测试的显示器收集数据以及分析和/或显示数据。在其他示例中，测试装置100可将数据通信到可以接着分析和/或呈现数据的一个或多个计算设备。

要由测试装置100测试的显示器可以定位在腔体110内(如图8A-9)。图4是具有盖体106的测试装置100的俯视图。测试表面114基本可以是任何类型的表面，其可以支撑并提供一个或多个传感器的通信机构。例如，测试表面114可以是印刷电路板、基板、塑料、金属或其它合适的材料等制成的表面。此外，应注意到，测试表面114可以本身不提供通信机构，但可以提供用于将一个或多个传感器连接到通信机构的孔。然而，在许多实施例中，测试表面114本身可提供诸如一个或多个电子路径(例如，导电迹线、柔性电路板、光纤等)的通信机构，使得一个或多个传感器可以与处理器和/或存储器组件电子通信。

在一些实施例中，测试表面114可以形成测试装置100的主体102。例如，测试装置100可以是诸如片的大致平整的表面，并且显示器可以被定位在表面114的一部分的顶部上且被测试。在这些实施例中，盖体106和/或测试移动设备100的其它部分可以被省略。

在一些实施例中，测试表面114可以可操作地连接到测试装置100的底部104；然而，在其他实施例中，测试表面114可被定位在盖体部分106上或两个部分上。测试装置100可以被配置，使得要测试的显示器可以被容纳到容纳腔110，从而显示器的发光侧可以朝向测试表面114。

测试表面114可支撑传感器120中的一个或多个以捕获来自所测试的显示器的光。如图4所示，测试表面114一般为矩形，但是在可选实施例中，该表面可以具有基本任何形状。在一些实施例中，测试表面114一般可对应于构造为发射光的显示器或显示器的部分的大小和形状。因此，测试表面114可以变化，以便基本匹配要测试的显示器的发光区域。在其它实施例中，测试表面114可以大于要测试的显示器的发光区域，并且可以用来测试各种尺寸的显示器。仍在其他实施例中，测试表面114可以小于显示器的发光区域，并且可以被配置成只捕获关于显示器的发射区域的选择区的数据。

一个或多个传感器120被可操作地连接到测试表面114。传感器120可以在整个测试表面114被分散。传感器120被配置成检测从容纳在容纳腔110内的显示器的一部分发射的光。例如，传感器可以是响应于光产生信号的光电传感器或光电晶体管。在一些实施例中，所述多个传感器120中的每一个可以包括一般峰值波长处于对人视觉可感知的电磁光谱的波长(例如，具有波长范围从约390至750纳米)的发光度曲线。换言之，传感器120可以是响应性的或在光谱范围内记录输入，该光谱范围可以是与由人眼可检测的波长范围大致相同。在这些实施例中，传感器120可以是能够更好地检测可由个人用户检测到的显示器的非均匀性，而基本不检测对个人用户不可见的非均匀性。已发现适合于这一目的的传感器120的一个例子，是Agilent模型APDS-9002光电晶体管传感器。然而，可以设想许多其他类型的传感器，并且该类型的传感器及其光谱响应可以根据显示器所期望的使用变化。下面将相对于图10和图11更详细地讨论测试装置100和传感器120的操作。

通过改变传感器120可以改变测试装置100的分辨率和/或灵敏度。例如，分辨率根据传感器120不同的物理尺寸以及传感器120的放置而变化。具体地，测试装置100的灵敏度和分辨率越高，传感器120越小并且传感器120彼此越紧密。然而，在某些情况下，传感器120会受温度升高的影响，并且每个传感器120在操作时还会产生热量。在这些实例中，传感器120可被定位为彼此分开间隔距离，使得每个传感器120减少了受相邻传感器发出的热量影响的机会。在这些情况下，通过考虑测试装置100所需的分辨率，以及由特定类型传感器产生的热量来选择间隔距离。

在一些实施例中，传感器120可定位成穿过基本整个测试表面114。在其他实施例中，如在图4所示的实施例，传感器120可以被布置成一个或多个感测组116、118。感测组116、118可被定位以捕获来自显示器的一个或多个发光区域(当定位在测试表面114的顶部时)的数据。感测组116、118可以基于要由测试装置100检测的非均匀性而定位。例如，测试装置100可以包括围绕测试表面114的周边定位的传感器120，以最佳地检测漏光。换言之，通过选择传感器120组的位置以最佳地检测特定的非均匀性，测试装置100可以具有减少数目的传感器，而降低功耗和费用。

在一些实施例中，第一感测组116可以包括围绕检测表面114周边定位的传感器120。该第一感测组116可以包括一行或多行124的传感器120，其朝向测试表面114的中心延伸距离D1。传感器行124的数目还可以根据期望要检测的显示器的期望区域而确定。例如，在某些情况下，期望仅对显示器的发光区域的边缘检测漏光，并因此只期望有单行传感器120。在其他情况下，显示器的发光区域的更多区可以被测试，并因此行124可以比图4中所示的距离D1进一步向内延伸。

第二组传感器118可以围绕测试表面114的中心点被定位在一个或多个行126中。在本实施例中，第二组传感器118可以被配置成捕获来自所测试的显示器的中心区的数据。在一些实施例中，两个传感器组116、118可以合作以捕获对应于所测试的显示器的一个或多个非均匀性的数据。

继续参考图4，容纳腔110可以被配置，使得要由测试装置100测试的部分或整个显示器可以被容纳在其中。容纳腔110可以至少部分地由一个或多个壁122包围，其从底表面130延伸。应当指出，在一些实施例中，测试表面114或者以凹的方式被支撑在底表面130上，使得测试表面114的顶表面与底表面130的顶部基本是平的。在其它实施例中，测试表面114可定位在底104的底表面130的上方或下方。

除了容纳腔110，一个或多个存取孔132可限定在底部104内。例如，两个存取孔132可以在测试表面114的相对侧上形成。存取孔132可以在壁122和显示器之间提供空间，以将显示器移除或放置在容纳腔110中。例如，容纳腔110可以是矩形形状，其基本与显示器的形状相匹配。在这些实施例中，当显示器容纳在腔110内时，壁122可以基本围绕该显示器，并由此显示器难以从任一容纳腔110拿起或移动。存取孔132可以扩大选择位置中的壁122，以在显示器在容纳腔110中时协助使用来移动显示器。

一个或多个外壳凹部134还可以被限定在测试装置100的底部104内。外壳凹部134可以被配置成容纳组件，其可操作地连接到要测试的显示器。例如，外壳凹部134可以被配置成容纳电源线，基部用于支撑显示器等。此外，底部102还可以限定一个或多个输入孔136，其可以提供通过测试装置100对显示器的通信和/或电源线的存取。例如，在一些实施例中，要测试的显示器需要有线电源，或需要硬线连接到计算装置或其他处理装置，以便在测试期间在屏幕上显示一个或多个图像。在这些实施例中，在显示器容纳在测试装置100内时，电源和/或通信线可穿过输入孔136插入以连接到显示器。

如上简要讨论的，测试装置100可以被配置成适应不同的显示器尺寸。图5是被配置成容纳比图1的测试装置100小的显示器的测试装置200的顶部透视图。图6A是盖处于打开位置情况下的测试装置200的顶部透视图。图6B是与盖处于打开位置情况下的测试装置200的侧面透视图。图7是测试装置200的俯视图。应当指出，没有具体描述元件或特征，这些特征基本与图1中所示的测试装置100相同。例如，图1的测试装置100可以被配置成容纳诸如由苹果公司的iPAD的平板电脑计算装置，而图6A-7的测试装置200可以被配置成容纳诸如苹果公司的iPHONE的智能手机。当然，测试装置100、200可以被配置成容纳许多其他类型的显示器，包括与计算装置集成和与其分离的那些。

测试装置200可以被配置成容纳其在尺寸上小于测试装置100或其腔的显示器。例如，测试装置200可以被配置成容纳包括显示器的移动电子装置，诸如智能电话、数字音乐播放器、或便携式游戏装置。限定在测试装置200的主体102内的容纳腔210可以小于容纳腔110，以适应测试显示器的尺寸上的变化。在某些情况下，期望容纳腔210具有与显示器基于相同的尺寸，以帮助减少可能从壁122和测试显示器之间的边缘周围泄漏的、可能影响由传感器120收集的数据的光。

参考图6B，测试装置200还包括输入端口212，该端口能够容纳一个或多个通信电缆。如前面关于测试装置100所讨论的，测试装置200可以将传感器数据传送到一个或多个外部电子设备或计算设备。而且，测试装置200可以从一个或多个源获取电力，例如有线或无线能量源。如图6B所示，数据和/或电源线可以插在其中并且可以放置与传感器120通信(直接地或通过诸如处理器等的一个或多个其它元件)。

参考图7，测试装置200可以只包括单组传感器218。当显示器更小时，需要从显示器捕获数据的传感器120的数量会减少。此外，传感器120的行224沿测试表面的一侧或多侧减少。例如，沿测试表面114的两个横向侧，测试装置200可以包括单行224传感器120。

现在将会更详细地讨论将显示器插入到测试装置100中。图8A是电子装置300正在被插入到测试装置100中的透视图。图8B是电子装置300容纳在测试装置100中的侧视图。该电子装置300可以是智能电话、数字音乐播放器、监视器的显示屏、膝上型电脑、或者平板计算机等。虽然基本任何类型的电子显示器可以容纳在测试装置100内，但在某些情况下，该显示器可以是移动电子装置300的一部分。例如，移动电子装置300可以包括显示器302以及围绕该显示器容纳的外壳304。显示器302可以与装入电子设备300内的一个或多个组件通信，例如处理器、存储器、或者网络机构等等。显示器302可以被配置成发射光波长，以便显示一个或多个图像或其他可视化输出。例如，显示器302可以是LCD、LED，或响应于一个或多个电信号而发射光的等离子屏。

电子装置300可被放置在容纳腔110内，使得显示器302面对传感器120。在一些实施例中，电子装置300的外壳304与限定成容纳腔110的壁122基本对齐，使得外壳304和壁122之间有很少的空间或者没有空间。在该位置，外部光或不是由显示器302发射的光将基本被防止接触传感器120。一旦电子设备300放置在容纳腔110内，盖体106被关闭，以进一步减少除了由显示器302发射的光以外的光到达传感器120的机会。

应当指出，显示器302还可以以其他方式与一个或多个传感器120光通信。例如，测试装置100和/或测试表面114可以滑入配合到显示器302或电子设备300，或者显示器302放置在测试表面114的顶部，但不容纳在腔内或其他凹部。

一旦在容纳腔301内，从显示器302发射的光可以被传感器102记录或捕获。图9是容纳在容纳腔310内的电子设备300的横截图。如图9所示，显示器302可定位在传感器120的顶部或与其邻近。以这种方式，当光从显示器302发射时，它可以遇到一个或多个传感器120。在一些实施例中，传感器120可以被配置成记录或者捕获与人眼的光波长基本近似的光波长。因此，人可感知的光谱范围内发射的光可以被传感器120捕获。

当光遇到传感器120时，每个传感器120产生对应于发射的光的明度、亮度、颜色、强度等的信号。以这种方式，传感器组118和120能够创建从显示器102发射的光的二维(2D)图像。该2D图像被评估以确定显示器302是否具有一个或多个非均匀性。如将要讨论的，传感器在一段时间内捕获从显示器302发射的光，当它在一段时间内发射光时，其允许传感器120创建显示器的多个图像和/或信号。

现在将更详细地讨论使用测试装置100的方法。图10是例示用于测试显示器302的一个或多个非均匀性的方法400的流程图。方法400可以开始于操作402，其中显示器302可以被插入到测试装置100的容纳腔110中。在显示器302是与电子装置分离的组件(如桌面显示器)的情况下，显示器302可以被单独地插入到容纳腔110中。在其它实施例中，测试装置100可以滑入配合到显示器302上，显示器302可直接定位在测试表面114的顶部(例如，测试装置可以是相对平的)，或者测试设备100可滑动到显示器302上(例如，通过测试装置的体的槽)。然而，当显示器302是移动或其它电子计算装置300的一部分时，如图8A中所示，显示器302及电子装置300的至少一部分可被容纳到容纳腔110中。还应当指出，在一些实施例中，只有显示器302的一部分可以被插入到容纳腔110中。

如图9所示，显示器302可定位在容纳腔110内，以便面对传感器120。换言之，显示器的发光区域可以定位与一个或多个传感器120光通信。一旦显示器302定位在容纳腔110内，盖体106可以被关闭，以便防止测试装置100外部的光漏到容纳腔110中和/或遇到传感器120。

在操作402之后，方法400进行到操作404，并且可以从显示器302发射光。在操作404中，显示器302可以发射一个或多个图像，或以其他方式提供视觉输出。例如，电子装置300可包括向LCD、LED或者其它电子显示器提供电子信号的处理器，以导致显示器302发射光。由显示器302发射的光可以被选择为具有预定的图案，该图案可以最好地例示(当被传感器120捕获时)显示器302中呈现的任何非均匀性。例如，显示器302可以在整个显示器302上发射单一颜色的光，或者以一种已知图案发射不同颜色的光等。

当显示器302发射光时，方法400进行到操作406，并且传感器120可以收集对应于从显示器302发射的光的数据。如上所讨论的，传感器120可以是产生对应于遇到传感器120的光波长的信号的光电晶体管。此外，在一些实施例中，传感器120可以被配置成具有响应性，其至少部分地匹配人的响应性光谱曲线。以这种方式，传感器120可以收集对应于人可感知的视觉输出响应的发射的光的数据。

当传感器120在收集对应于从显示器302发射的光的数据时，方法400进行到操作408。在操作408中，可确定(由计算机或用户)测试装置100是否应该测试显示器302的动态假象。例如，在某些情况下，显示器302可以用于发射单个实例的光，而且不超时操作，并且如此动态非均匀性不会影响显示器的整个所期望的性能。如果测试装置100是用于测试显示器302的动态假象，方法400进行到操作410，并且在传感器120可以继续收集数据时，显示器302发射光达预定的时间段。如上所述，动态假象可以是非均匀性，其不会出现离散时间的情况，但在时间上不会出现为非均匀性。例如，动态假象可以是显示器302输出的图像中的闪烁或者是显示器302的图像中的波纹。然而，波纹只在传感器120在时间段内监控显示器302以便检测发射的光在波纹前和波纹期间的变化的情况下明显。因此，如果显示器302发射的光在一段时间内没有被评估，这些非均匀性会检测不到，因为它们的光在该图像基本是均匀时在第一时间实例处被评估。因此，在操作410中，传感器120在预定的时间段内可以捕获对应于从显示器302发射的光的数据。

操作410的时间段可以基于要测试的显示器302的期望的动态假象来确定。例如，一些动态假象在呈现非均匀性期间可以有较长的时间段，并且其它动态假象可以有更短的时间段。例如，一些动态假象可能是每3毫秒出现一次，而其他动态假象可以只每5毫秒出现一次。

在操作408或410之后，该方法可以进行到操作412，并且由传感器120收集的数据可以被存储。在一些实例中，测试装置100可以通过一个或多个通信电缆112以无线或类似的方式将这些数据传送到存储元件。在其他实例中，测试装置100本身可以包括内部存储元件以直接存储传感器数据。在一些实施例中，操作412是可选的，并且由传感器120收集的数据当被收集时可以充分地呈现。例如，当数据被收集时，输出机制108可输出一种数据形式。然而，应当指出，在某些情况下，操作410可以被省略。例如，传感器数据可以不被存储而仅仅被分析，并且分析结果被显示或以其他方式输出。

在方法400之后，对应于从显示器302发射出的光的数据被分析以确定显示器302是否包括一个或多个非均匀性。图11是例示用于分析传感器120的数据以确定显示器302是否具有一个或多个非均匀性的方法500的流程图。在一些实施例中，测试装置100可以包括处理器或能够接收数据并处理指令的其他元件。在这些情况下，方法500可以由测试装置100执行。在其他示例中，方法500或其一部分可以由一个或多个外部计算设备执行，甚至包含显示器302的电子装置300可以执行该方法的一个或多个步骤。还应当指出，方法500的操作完全可以按任意顺序完成，并且一个或多个操作可以被省略或与其他操作分开执行。

方法500可以开始于操作502。在操作502中，传感器120的数据与预期发射的光进行比较，以确定由显示器302发射的光是否对应于预期要由显示器302发射的光。在其他示例中，传感器120的数据在时间内可与特定传感器120或传感器120组的相对值进行比较，或与基本类似的显示器的数据比较。以这种方式，方法500可以检测显示器302中的一个或多个非均匀性。例如，显示器302被配置成发射具有一定颜色和亮度的图像，但由于n非均匀性，显示器302实际发射的颜色和/或亮度可能会不同。

在操作502之后，方法500进行到操作504，并且可以对从两个传感器组116、118或在空间位置上分离的两个或多个传感器120收集的数据进行比较。在一些实施例中，在显示器302可以配置成在它的整个区上发射均匀的光，但实际上一个或多个非均匀性会导致发射的光在显示器302的区域空间上变化。例如，如果显示器302在与外壳304相邻的显示器302的周边有漏光，检测显示器302周边的光的传感器120会比传感器120(如在第二组118中的那些传感器)具有更高亮度的信号。

作为另一个例子，测试装置100可以检测非均匀性，例如在显示器302中的热点。在这个例子中，检测引起热点的像素缺陷处或者附近发射的光的传感器120比检测显示器302其他区域的传感器120产生较低的信号。因此，在测试装置100比具有像素的显示器302有较少的传感器120的情况下，单个像素或一组像素中的缺陷仍然可以被检测到。这是因为从具有单个或一小组的缺陷像素的一组像素捕获光的传感器120，与记录同样大小组的起作用像素的传感器120，可以记录较少数量的光。

在操作504中，来自两个或更多个传感器120的数据可以在离散时间的情况下被比较，还可以在预定时间段进行比较。以这种动态假象的方式，例如波纹，会被检测。例如，动态假象可以沿着显示器302的一部分产生在时间段内变化的非均匀性。另外，在某些情况中，动态假象会不明显，除非将由传感器捕获的第一显示位置与第二个空间上分离的传感器捕获的第二显示位置进行比较。

在操作504之后，方法500进行到操作506，并且传感器120或传感器组116、118可以在一段时间内比较。如关于方法400中的操作410所讨论的，通过在预定时间段内测试显示器302，传感器120能够检测显示器302的一个或多个动态假象或其他的暂时非均匀性。一些典型的显示器测试系统可捕获显示器的图像，以便分析显示器的光学特性。但是，捕获的图像不公开动态假象。例如，显示器的闪烁在屏幕闪烁的精确时刻捕获图像的情况下明显，否则显示器就会看起来均匀。相反，测试装置100的传感器120可以捕获显示器302的数据达预定的时间段，这个时间段可以被选择以允许有足够的时间来捕获任何可能存在的动态假象。

结论

前述的描述具有广泛的应用。例如，虽然本文所公开的实施例只是给出单个显示器的测试装置的例子，但是可以理解，本文所公开的概念可以同样适用于能够一次测试多个显示器的测试装置。同样，测试的显示器的类型也可以变化。因此，任一实施例的讨论仅意味着一个示例，而不意于暗示包括权利要求书的本公开的范围仅限于本文所陈述的任何例子。

Claims (13)

1.一种用于测试电子显示器的一个或多个特性的设备，包括：

主体；

容纳腔，限定在主体内，并被配置成容纳电子显示器，其中所述容纳腔由被多个侧壁包围的第一表面限定，其中所述侧壁限定基本与电子显示器的形状匹配的矩形形状，其中所述侧壁具有顶表面，并且其中所述电子显示器在所述容纳腔中时被完全包含在所述侧壁的顶表面之下；

多个传感器，定位在第一表面上，并被配置成与容纳在容纳腔内的电子显示器光通信，其中所述多个传感器被配置成检测电子显示器的至少一种类型的非均匀性；

盖体，防止光进入所述容纳腔；以及

盖体上的输出机构，其中所述输出机构包括网格状的多个灯，并且其中每个灯的位置与所述容纳腔的第一表面上的相应的传感器的位置对应。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一种类型的非均匀性包括至少一个光学特性和至少一个假象。

3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述至少一个假象包括至少一个静态假象和至少一个动态假象。

4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个传感器是光传感器。

5.根据权利要求4所述的设备，其中，所述多个传感器是具有基本跟随人的光度曲线的峰值的光电晶体管。

6.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个传感器被定位为捕获发光区域的周边至朝向发光区域的中心向内、但在发光区域的中心之前终止的部分。

7.根据权利要求1所述的设备，其中，所述输出机构与所述多个传感器通信，并被配置成提供对应于所述非均匀性的至少一个指示。

8.根据权利要求1所述的设备，其中所述设备具有在第一表面上形成的孔。

9.一种用于检测电子显示器中一个或多个非均匀性的方法，包括：

提供具有一个或多个传感器的测试装置，其中所述测试装置具有内部和外部，其中光被防止进入所述内部；以及

由所述一个或多个传感器在一时间段内收集对应于从电子显示器发射的光的光数据，其中所述一个或多个传感器位于所述测试装置的内部；以及

用位于所述测试装置的外部的输出机构来显示所收集的光数据，其中所述输出机构包括网格状的多个灯，并且其中每个灯的位置与相应的传感器的位置对应。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述一个或多个传感器是光电晶体管。

11.根据权利要求9所述的方法，进一步包括：对光数据和期望要由电子显示器发射的光进行比较，以确定发射的光与要发射的期望的光是否基本相等。

12.根据权利要求9所述的方法，还包括：由处理器对第一传感器在第一位置处收集的光数据和第二传感器在第二位置处收集的光数据进行比较。

13.根据权利要求9的方法，还包括：由处理器对所述一个或多个传感器之一在所述时间段内收集的光数据进行比较。