CN105954893A - 一种液晶光学模组的配置方法及检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种液晶光学模组的配置方法及检测装置，所述方法包括建立用于存储液晶面板规格与穿透频谱的对应关系的数据库及背光源的发光光谱数据库；建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型；当配置液晶光学模组时，获取所述液晶光学模组的液晶面板规格及背光光源；根据液晶模组的亮度和色坐标光学要求，通过配置模型确定液晶面板与背光光源的配置。本发明预先建立液晶面板规格和发光光源的数据库，并构建液晶面板与发光光源的配置模型，通过配置模型确定液晶面板与发光光源的最佳配置方法，减少了产品设计阶段手工制作样品并测试的过程，缩短产品研发周期，降低产品设计成本。
Description
技术领域
本发明涉及液晶光学模组技术领域，特别涉及一种液晶光学模组的配置方法及检测装置。
背景技术
随着电子显示技术的发展，液晶电视已在市场上普及。虽然有OLED新技术的产生，但液晶电视由于其细腻的解析度以及成熟的生产技术和普众的价格，目前以及以后几年也仍然会是主流。随着技术的发展以及环保的需求，其背光源已从CCFL切换到LED光源。但作为被动式发光的显示器件，不管是哪种光源都需要一个发光光源与液晶面板的彩色滤光膜的配光配色过程。目前液晶面板尺寸及生产厂家众多，面板规格也包括标清、高清、超高清、四像素超高清等各种规格，再加上模组光源本身还有各种不同光谱规格种类，光源和面板具有的各项光电参数（亮度、色度及其发射光谱等）对模组设计、整机配屏至关重要，如相同亮度、色块的光源由于存在同色异谱、和面板频谱匹配有差异等情况导致组装在模组上存在亮度色度偏差等问题。
目前现有的液晶光学模组的配置是通过经验，将各种光源、反射片、膜片等样品不同的搭配组合方案组装成模组样机来进行交叉组装验证，对不同方案样机的测试结果进行比较，来确定最终符合产品需求的方案。这种传统的验证方法，需要结构件制作手板件，各种光源和光学膜片制作样品，并多次循环拆装样机组装测试，时间成本和打样成本耗费比较大。
因而现有技术还有待改进和提高。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足，提供一种液晶光学模组的配置方法及检测装置，以解决现有液晶模组的配置需要制作手板件，各种光源和光学膜片制作样品，并多次循环拆装样机组装测试，时间成本和打样成本耗费大的问题。
为了解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案如下：
一种液晶光学模组的配置方法，其包括：
建立用于存储各种液晶面板规格的穿透频谱的数据库及背光源的发光光谱数据库，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条；
建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型；
当配置液晶光学模组时，获取所述液晶光学模组的液晶面板规格及背光光源；
根据液晶模组的亮度和色坐标光学要求，通过配置模型确定液晶面板与之配对的背光光源的配置。
所述液晶光学模组的配置方法，其中，所述建立用于存储各种液晶面板规格的穿透频谱的数据库具体包括：
制作可见光范围为连续光谱标准光源的光源灯箱；
采用光学测试仪测试380nm-780nm均匀光强的连续光谱数据；
将不同规格的液晶面板放置于光源灯箱上，通过光学测试液晶面板的穿透频谱，并所述穿透频率及与其对应的液晶面板规格存储于数据库内。
所述液晶光学模组的配置方法，其中，所述建立背光源的发光光谱数据库，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条具体为：
通过积分球检测仪检测背光光源的发光光谱，并将所述发光光谱与背光光源的对应关系存储于数据库内，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条。
所述液晶光学模组的配置方法，其中，所述建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型具体为：
根据液晶模组的光损经验值建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型。
所述液晶光学模组的配置方法，其中，所述建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型具体为：
其中，为亮度，x，y为色坐标数值，n为灯颗数，k为光损系数，为最大光谱光视效能；为人眼的光谱光视效率；为光源单位波长的辐射能，可测；为CELL单位波长相对穿透系数，可测；为背光修正光谱，为测试经验值；为标准三色光谱彩色刺激数值。
所述液晶光学模组的配置方法，其中，其所述根据液晶模组的光损经验值建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型之前包括：
测试液晶模组的膜片、扩散板、导光板的穿透频谱以及反射片的反射频谱，其中，所述液晶模组包括侧入式背光液晶模组及直下式背光液晶模组。
所述液晶光学模组的配置方法，其中，所述穿透频率包括液晶面板的WRGB四场画面穿透频谱。
一种用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其包括：光源灯箱、光学测试仪以及光谱收集处理系统，所说光学测试仪与所说光谱收集处理系统相连接；
所述光源灯箱用于放置待测液晶面板并为待测液晶面板提供连续光谱；
所述光学测试仪用于检测待测液晶面板的穿透频谱，并将所述穿透频谱传输这光谱收集处理系统；
所述光谱收集处理系统用于接受所述穿透频谱，并将所说穿透频谱与液晶面板对应存储。
所述用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其中，所述光源灯箱用于提供380nm-780nm的均匀光强的连续光源。
所述用于测试液晶面板穿透频率的装置，其中，所述光学测试仪为CS2000光学测试仪。
有益效果：与现有技术相比，本发明提供了一种液晶光学模组的配置方法，其包括：建立用于存储各种液晶面板规格的穿透频谱的数据库及背光源的发光光谱数据库；建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型；当配置液晶光学模组时，获取所述液晶模组的液晶面板规格及背光光源；根据液晶模组的亮度及色坐标光学要求，通过配置模型确定液晶面板与背光光源的配置。本发明预先建立液晶面板规格和发光光源的数据库，并构建液晶面板与发光光源的配置模型，通过配置模型确定液晶面板与发光光源的最佳配置方法，减少了产品设计阶段手工制作样品并测试的过程，缩短产品研发周期，降低产品设计成本。
附图说明
图1为本发明提供的液晶光学模组的配置方法较佳实施的流程图。
图2为本发明提供的用于测试液晶面板穿透频谱的装置的结构示意图。
具体实施方式
本发明提供一种液晶光学模组的配置方法及检测装置，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
下面结合附图，通过对实施例的描述，对发明内容作进一步说明。
请参见图1，图1为本发明提供一种液晶光学模组的配置方法的较佳实施例的流程图。所述方法包括：
S100、建立用于存储液晶面板规格与穿透频谱的对应关系的数据库及背光源的发光光谱数据库，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条。
具体地，预先通过光学测试仪测试各种规格的液晶面板的穿透频谱，并将所述液晶面板的规格和其对应的穿透频率对应存储与数据库内。所述液晶面板的穿透频谱可以通过如下方法测得，其具体可以包括：
S101、制作可见光范围为连续光谱标准光源的光源灯箱。
具体地，所述光源灯箱可以产生连续光谱的光源，所述光源的波长为380nm到780nm。
S102、采用光学测试仪测试380nm-780nm均匀光强的连续光谱数据。
具体地，将所述光源灯箱通电点亮，通过CS2000等仪器测试出从380nm-780nm均有均匀光强的连续光谱数据。
S103、将不同规格的液晶面板放置于光源灯箱上，通过光学测试液晶面板的穿透频谱，并所述穿透频谱及与其对应的液晶面板规格存储于数据库内。
具体地，将液晶面板放置在标准光源灯箱上面，液晶面板加电路点亮，通过CS2000等仪器测试各种规格液晶面板在白场画面、红场画面、绿场画面、蓝场画面的穿透频谱，建立各液晶面板的WRGB四场画面穿透频谱数据库，其中，所述光源灯箱的波长处于380nm-780nm
进一步，获取可以作为液晶模组背光光源的类型，如LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条等。采用积分球等仪器测出各规格LED或者CCFL的单灯或者灯条光源发光光谱，建立光源发光光谱数据库。
S200、建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型。
具体地，首先测试侧入式背光液晶模组的膜片、扩散板、导光板的穿透频率以及反射片的反射频谱和直下式背光液晶模组的膜片、扩散板、导光板的穿透频率以及反射片的反射频谱，分别根据侧入式背光液晶模组的光损经验值和直下式背光液晶模组光损经验值建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型。
所述配置模型是液晶面板规格的穿透频谱及背光光源的发光光谱及光损经验值的关系导入编译软件生成的。所述配置模型的理论依据的公式为：
其中，为亮度，x，y为色坐标数值，n为灯颗数，k为光损系数，为最大光谱光视效能；为人眼的光谱光视效率；为光源单位波长的辐射能，可测；为CELL单位波长相对穿透系数，可测；为背光修正光谱，为测试经验值；为标准三色光谱彩色刺激数值。
根据上公式，利用EXCEL或者VB编成配置模型。
进一步，在根据所述配置模型计算液晶面板配置关系时，需要输入或调用的数据为：光源发光光谱数据、光源数量、液晶面板WRGB四场的穿透频谱数据、面板尺寸。能够输出的数据为：液晶模组的亮度、色坐标、色域覆盖率。
S300、当配置液晶光学模组时，获取所述液晶光学模组的液晶面板规格及背光光源。
具体地，当需要配置液晶光学模组时，确定需求单规格中的液晶面板型号、产品的亮度、色温、色域覆盖率或者色彩饱和度要求。再确定液晶模组采用的背光光源的发光光谱。
S400、根据液晶光学模组的光谱要求，通过配置模型确定液晶面板与背光光源的配置。
具体地，将数据库中的光源与需求单规格指定的液晶面板光谱进行匹配，在模型中输入光源规格和颗数，来完成亮度、色坐标、色域等光学参数的匹配，通过模型计算匹配，最终选择匹配度最好的方案。
本发明提供的一种液晶光学模组的配置方法，其包括：建立用于存储液晶面板规格与穿透频谱的对应关系的数据库及背光源的发光光谱数据库；建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型；当配置液晶光学模组时，获取所述液晶光学模组的液晶面板规格及背光光源；根据液晶光学模组的光谱要求，通过配置模型确定液晶面板与背光光源的配置。本发明预先建立液晶面板规格和发光光源的数据库，并构建液晶面板与发光光源的配置模型，通过配置模型确定液晶面板与发光光源的最佳配置方法，减少了产品设计阶段手工制作样品并测试的过程，缩短产品研发周期，降低产品设计成本。
本发明还提供了一种用于测试液晶面板穿透频谱的装置，如图2所示，其包括：光源灯箱1、光学测试仪3以及光谱收集处理系统4，所说光学测试仪3与所说光谱收集处理系统4相连接；
所述光源灯箱1用于放置待测液晶面板2并为待测液晶面板提供连续光谱；
所述光学测试仪3用于检测待测液晶面板2的穿透频谱，并将所述穿透频谱传输这光谱收集处理系统4；
所述光谱收集处理系统4用于接受所述穿透频谱，并将所说穿透频谱与液晶面板对应存储。
所述用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其中，所述光源灯箱用于提供380nm-780nm的均匀光强的连续光源。
所述用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其中，所述光学测试仪为CS2000光学测试仪。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种液晶光学模组的配置方法，其特征在于，其包括：
建立用于存储各种液晶面板规格的穿透频谱的数据库及背光源的发光光谱数据库，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条；
建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型；
当配置液晶光学模组时，获取所述液晶光学模组的液晶面板规格及背光光源；
根据液晶模组的亮度和色坐标光学要求，通过配置模型确定液晶面板与之配对的背光光源的配置。
2.根据权利要求1所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，所述建立用于存储各种液晶面板规格的穿透频谱的数据库具体包括：
制作可见光范围为连续光谱标准光源的光源灯箱；
采用光学测试仪测试380nm-780nm均匀光强的连续光谱数据；
将不同规格的液晶面板放置于光源灯箱上，通过光学测试液晶面板的穿透频谱，并所述穿透频谱及与其对应的液晶面板规格存储于数据库内。
3.根据权利要求1所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，所述建立背光源的发光光谱数据库，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条具体为：
通过积分球检测仪检测背光光源的发光光谱，并将所述发光光谱与背光光源的对应关系存储于数据库内，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条。
4.根据权利要求1所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，所述建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型具体为：
根据液晶模组的光损经验值建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型。
5.根据权利要求1所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，所述建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型具体为：
其中，为亮度，x,y为色坐标数值，n为灯颗数，k为光损系数，为最大光谱光视效能；为人眼的光谱光视效率；为光源单位波长的辐射能，可测；为CELL单位波长相对穿透系数，可测；为背光修正光谱，为测试经验值；为标准三色光谱彩色刺激数值。
6.根据权利要求4所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，其所述根据液晶模组的光损经验值建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型之前包括：
测试液晶模组的膜片、扩散板、导光板的穿透频率以及反射片的反射频谱，组合得出背光修正光谱，其中，所述液晶模组包括侧入式背光液晶模组及直下式背光液晶模组。
7.根据权利要求1所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，所述穿透频谱包括液晶面板的WRGB四场画面穿透频谱。
8.一种用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其特征在于，其包括：光源灯箱、光学测试仪以及光谱收集处理系统，所说光学测试仪与所说光谱收集处理系统相连接；
所述光源灯箱用于放置待测液晶面板并为待测液晶面板提供连续光谱；
所述光学测试仪用于检测待测液晶面板的穿透频谱，并将所述穿透频率传输这光谱收集处理系统；
所述光谱收集处理系统用于接受所述穿透频谱，并将所说穿透频谱与液晶面板对应存储。
9.根据权利要求8所述用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其特征在于，所述光源灯箱用于提供380nm-780nm的均匀光强的连续光源。
10.根据权利要求8所述用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其特征在于，所述光学测试仪为CS2000光学测试仪。
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