CN114157297A - 高精度模数转换芯片的测试装置和测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种高精度模数转换芯片的测试装置和测试方法，该测试装置包括：电源模块，用于提供高精度的多个模拟输入信号，所述多个模拟输入信号经过多个待测模数转换芯片后被转换为多组数字信号；数字万用表，与待测模数转换芯片的输入端连接，用于对所述多个模拟输入信号进行精准测量，以获得对应的多个测量值；测试机，用于将所述多个测试值依次和所述多组数字信号中的一组数字信号进行对比，以分别获得多个待测模数转换芯片的测试精度，其中，每组数字信号均对应包括多个数字信号。本发明实现了对待测模数转换芯片的高精度和高效率的测试，有利于实现待测模数转换芯片的稳定量产测试。

Description

高精度模数转换芯片的测试装置和测试方法

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种高精度模数转换芯片的测试装置和测试方法。

背景技术

ADC芯片(Analog-to-Digital Converter，模数转换器)需要通过测试机对其性能参数进行测试。测试时，测试机上的一直流电源与ADC芯片连接，为ADC芯片提供参考电源，测试机为ADC芯片提供模拟输入信号以及时钟信号，模拟输入信号经过ADC芯片后，被转换为数字信号，并将数字信号输出到ATE上的一数字处理器。同时通过测试机实现对ADC芯片的模拟输入信号测量和采集。

现有的对ADC芯片的测试过程中，通常为采用测试机上的高精度板卡实现对ADC芯片的模拟输入信号测量和采集，但这样会受限于该高精度板卡的测量精度。由于现有的测试机的高精度板卡的测试精度无法满足对精度要求越来越高的芯片测试需求，且现有测量时受环境的影响也较大，不利于实现芯片的稳定量产。

因此，有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种高精度模数转换芯片的测试装置和测试方法，能够实现对待测模数转换芯片的高精度和高效率的测试，同时也有利于实现待测模数转换芯片的稳定量产。

根据本发明提供的一种高精度模数转换芯片的测试装置，包括：电源模块，用于提供高精度的多个模拟输入信号，所述多个模拟输入信号经过多个待测模数转换芯片后被转换为多组数字信号；数字万用表，与待测模数转换芯片的输入端连接，用于对所述多个模拟输入信号进行精准测量，以获得对应的多个测量值；测试机，用于将所述多个测试值依次和所述多组数字信号中的一组数字信号进行对比，以分别获得多个待测模数转换芯片的测试精度，其中，每组数字信号均对应包括多个数字信号。

优选地，所述电源模块包括：参考电源，用于提供标准的第一基准电压和第二基准电压；可编程电源，与所述参考电源连接，用于根据所述第一基准电压和所述第二基准电压编程产生高精度的所述多个模拟输入信号。

优选地，所述测试机还通过通用接口总线与所述数字万用表连接，用以控制实现所述数字万用表对所述多个模拟输入信号的电压值的自动测试及自动校准。

优选地，所述数字万用表的型号为3458A。

优选地，所述测试装置还包括：第一电容，连接与所述电源模块的第一输出端与接地端之间；第二电容，连接与所述电源模块的第二输出端与接地端之间，其中，所述电源模块的第一输出端和第二输出端用于以差分形式输出所述多个模拟输入信号。

另一方面，根据本发明提供的一种高精度模数转换芯片的测试方法，包括：由电源模块提供高精度的多个模拟输入信号；由数字万用表对所述多个模拟输入信号进行精准测量，以获得多个测量值；将所述多个模拟输入信号依次输入至多个待测模数转换芯片，以获得多组数字信号；由测试机将所述多个测试值依次和所述多组数字信号中一组数字信号进行对比，分别获得所述多个待测模数转换芯片的测试精度，其中，所述方法还包括：对所述多个模拟输入信号输入过的待测模数转换芯片的个数进行计数，并在计数值达到预设阈值时，控制所述数字万用表对所述多个模拟输入信号进行校准测量，并计数清零。

优选地，由电源模块提供高精度的模拟输入信号包括：由参考电源提供标准的第一基准电压和第二基准电压；由可编程电源根据所述第一基准电压和所述第二基准电压编程产生高精度的所述多个模拟输入信号。

优选地，由数字万用表对所述多个模拟输入信号进行精准测量时，还包括：由所述测试机通过通用接口总线控制所述数字万用表，以实现对所述多个模拟输入信号的自动测试及自动校准。

优选地，所述方法还包括：在计数值达到预设阈值之前，若检测到对所述多个待测模数转换芯片中某个待测模数转换芯片的测试失效，则控制所述数字万用表对所述多个模拟输入信号进行校准测量，并计数清零。

优选地，所述数字万用表的型号为3458A。

本发明的有益效果是：本发明公开了一种高精度模数转换芯片的测试装置和测试方法，通过采用电源模块提供测试所需的高精度的多个模拟输入信号，以及采用数字万用表(如8位半的数字万用表)对待测模数转换芯片接收的多个模拟输入信号进行精准测量，避免了待测模数转换器的测试过程受测试机的自身精度和环境的影响，实现了高精度的测试效果。同时基于数字万用表获得的高精度的多个测量值，能够在只需对测试所需的输入信号进行一次精准测量的基础上，完成对多个待测模数转换芯片的依次测试，节省了在多个待测模数转换芯片的批量测试过程中对数字万用表的读数时间，提高了测试效率。采用测试机将多个测试值依次和多组数字信号中的一组数字信号进行对比以分别获得该多个待测模数转换芯片的测试精度，有助于提高批量测试时的自动化程度，更进一步的提供测试效率。

由参考电源提供基准电压，再由可编程电源基于基准电压通过编程产生多个模拟输入信号，可以实现任意数值的测试信号输出，信号获取方法简单，准确度和精度高，有助于提高测试结果的测试精度。同时基于编程控制，也能够提高测试的自动化程度。

数字万用表通过通用接口总线与测试机连接，可以更好地实现测试机对数字万用表测量信号时的自动化测量和校准控制。同时数字万用表的测量结果也可以通过该通用接口总线上传至测试机，进而实现测试机对待测模数转换芯片的输入与输出信号的自动比较。

选用3458A型号的数字万用表，功能全面且强大，使用方便，测量结果可靠性高。

在待测模数转换芯片的输入端通过电容进行滤波，可以提高输入和测量时电压信号的稳定性，减少纹波，提高测试结果的精确性。

通过电源模块、数字万用表和测试机执行对多个待测模数转换芯片的测试，有助于提高测试结果的精度。同时基于数字万用表一次测量所获得的对应于多个模拟输入信号的多个测量值，可以实现对多个待测模数转换芯片的转换结果的对比测试，相当于将准时对数字万用表的读数时间分配到多个芯片的测试时间中，可以达到高精度和高效率的双重效果，有利于实现待测模数转换芯片的量产测试。在对多个待测模数转换芯片的测试过程中对测试的芯片数量进行计数，并在计数值达到预设阈值时控制数字万用表进行校准，并控制技术清零，可以在进行待测模数转换芯片的批量测试过程中确保每个芯片的测量结果的高精度和高准确性。

对测试的芯片数量进行计数时，若在计数值未达到预设阈值的某时刻检测到对某个待测模数转换芯片的测试失效，则控制数字万用表马上对多个模拟输入信号进行校准测量，并计数清零，更进一步的确保了批量测试过程中每个芯片测量结果的高精度和高准确性，避免了由于其它因素对后续测试结果造成的不良影响。

应当说明的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。

图1示出本发明实施例提供的高精度模数转换芯片的测试装置的结构示意图；

图2示出本发明实施例提供的高精度模数转换芯片的测试方法的流程示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是，本发明可以通过不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反的，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。

下面，参照附图对本发明进行详细说明。

图1示出本发明实施例提供的高精度模数转换芯片的测试装置的结构示意图。

如图1所示，本实施例中，高精度模数转换芯片的测试装置包括：电源模块10、数字万用表20以及测试机40。

其中，电源模块10用于提供高精度的多个模拟输入信号。进一步的，该多个模拟输入信号经过多个待测模数转换芯片30后被转换为对应的多组数字信号。其中，每组数字信号均对应包括多个数字信号。

本实施例中，电源模块10提供的多个模拟输入信号如均为差分信号。

多个待测模数转换芯片30中，以一个待测模数转换芯片为例，包括第一输入端和第二输入端，本实施例中，每个待测模数转换芯片的第一输入端和第二输入端均用以接收差分形式的多个模拟输入信号。多个待测模数转换芯片30对所接收的多个模拟输入信号进行模数转换，进而输出对应的多组数字信号。可以理解的是，每个待测模数转换芯片所接收的模拟输入信号的幅值不同，转换之后所获得的数字信号也不同。

进一步地，电源模块10包括参考电源11和可编程电源12。参考电源11为标准电压源，用以提供标准的第一基准电压和第二基准电压。可编程电源12与参考电源11连接，用于根据第一基准电压和第二基准电压编程产生高精度的多个模拟输入信号。其中，可编程电源12可通过通信接口与上位机如测试机40连接，通过编程控制其输出的模拟输入信号的电压时间、精度和分辨率等，进而可以实现任意数值的电压输出，信号获取方法简单，准确度和精度高，有助于提高测试结果的测试精度。同时基于编程控制，也能够提高测试的自动化程度。

数字万用表20与电源模块10的输出端连接(分别与电源模块10的第一输出端和第二输出端连接)，用于对多个待测模数转换芯片30所接收的多个模拟输入信号进行精准测量，以获得对应的多个测量值。需要说明的是，在后续测试过程中，由于采用数字万用表所获得的该多个测量值的高精确性，该多个测量值可作为对多个待测模数转换芯片30中每个待测模数转换芯片测试的对比基础，也即是说，采用数字万用表只需对测试所需的输入信号(多个模拟输入信号)进行一次精准的测量，即可完成对多个待测模数转换芯片的依次测试，节省了在多个待测模数转换芯片的批量测试过程中对数字万用表的读数时间，相当于将准时对数字万用表的读数时间分配到多个芯片的测试时间中，提高了测试效率，可以达到高精度和高效率的双重效果，有利于实现待测模数转换芯片的量产测试。

进一步地，数字万用表20还通过一通用接口总线与上位机如测试机40连接，进而通过测试机40中工作人员预先设定的控制程序可控制实现数字万用表20对该多个模拟输入信号的电压值的自动定位测试及自动校准。同时，数字万用表20对该多个模拟输入信号测量后所获得的多个数字信号也可通过该通用接口总线上传至测试机40中。

数字万用表(如8位半的数字万用表)的测量精度、测量量程、灵敏度高且读数时间端，可以实现对待测模数转换芯片接收的多个模拟输入信号进行精准测量，进而避免了待测模数转换器的测试过程受测试机的自身精度和环境的影响，实现了高精度的测试效果。且数字万用表通过通用接口总线可以实现与上位机的连接，进而通过上位机的程序控制能够实现测量量程可调，对多个待测信号的定位测量和自动测量，以及实现测量结果的自动上传。同时在后续校准过程中，能够通过预先设定的校准程序进行自动校准，其测量过程无需手工参与，自动化程度高，有利于实现对多个待测模数转换芯片的批量化高精度测试。

优选地，数字万用表20的型号为3458A。其功能全面且强大，使用方便，测量结果可靠性高。

进一步地，该测量装置还包括由第一电容C1和第二电容C2。电源模块10的第一输出端(即每个待测模数转换芯片的第一输入端)处通过第一电容C1接地，和电源模块10的第二输出端(即每个待测模数转换芯片的第二输入端)处通过第二电容C2接地。通过电容对模拟输入信号进行滤波，可以提高输入和测量时电压信号的稳定性，减少纹波，提高测试结果的精确性。

测试机40分别与数字万用表20和待测模数转换芯片30连接，接收数字万用表20输出的多个测量值和依次接收多个待测模数转换芯片30输出的多组数字信号，用于将多个测试值依次和多组数字信号中的一组数字信号进行对比，以分别获得多个待测模数转换芯片的测试精度。其中，测试机40对多个测量值和对应的多组数字信号中的任一组数字信号进行对比可获得多个测量结果，通过对该多个测量结果进行数据分析(如求均值等)，进而获得对应一个待测模数转换芯片的测量精度。由于采用多组数据对同一芯片进行测试分析，其所获得的芯片的测量精度的准确性更高。

进一步地，测试机40还可在测试过程中实现对电源模块10、数字万用表20和待测模数转换芯片30的实时控制，进而实现对待测自动化待测模数转换芯片的可控自动测试。

进一步地，测试机40中还包括有缓存模块，该缓存模块用于存储数字万用表20上传的多个测量值，以在后续对多个待测模数转换芯片30依次测试时，基于该缓存的多个测量值进行数字对比分析，进而可以避免对多个模拟输入信号的重复测量和对多个测量值的重复上传，在对多个待测模数转换芯片进行批量自动测试时，有助于提高测试效率。

图2示出本发明实施例提供的高精度模数转换芯片的测试方法的流程示意图。

如图2所示，本实施例中，高精度模数转换芯片的测试方法包括执行如下步骤：

在步骤S1中，由电源模块提供高精度的多个模拟输入信号。

由电源模块提供高精度的多个模拟输入信号进一步包括：由参考电源提供标准的第一基准电压和第二基准电压；由可编程电源根据第一基准电压和第二基准电压编程产生高精度的多个模拟输入信号。其中，可编程电源可通过通信接口与上位机如测试机连接，通过编程控制其输出的模拟输入信号的电压时间、精度和分辨率等，进而可以实现任意数值的电压输出，信号获取方法简单，准确度和精度高，有助于提高测试结果的测试精度。同时基于编程控制，也能够提高测试的自动化程度。

在步骤S2中，由数字万用表对所述多个模拟输入信号进行精准测量，以获得多个测量值。

本实施例中，数字万用表分别与待测模数转换芯片的第一输入端和第二输入端连接，通过设置好的测量参数对输入至待测模数转换芯片的多个模拟输入信号进行逐一测量，并对应产生多个测量值。

进一步地，由数字万用表对多个模拟输入信号进行精准测量时，还包括：由测试机通过通用接口总线控制数字万用表，以实现对多个模拟输入信号的自动测试及自动校准。

优选地，数字万用表20的型号为3458A。

需要说明的是，在进行批量测试时，采用数字万用表只需要对测试所需的输入信号(多个模拟输入信号)进行一次精准的测量，即可完成对多个待测模数转换芯片的依次测试，节省了在多个待测模数转换芯片的批量测试过程中对数字万用表的读数时间，相当于将准时对数字万用表的读数时间分配到多个芯片的测试时间中，提高了测试效率，可以达到高精度和高效率的双重效果，有利于实现待测模数转换芯片的量产测试。

在步骤S3中，将多个模拟输入信号依次输入至多个待测模数转换芯片，以获得多组数字信号。

依次由多个待测模数转换芯片中的一个待测模数转换芯片接收多个模拟输入信号，并对多个模拟输入信号进行转换后输出对应的多个数字信号(即一组数字信号)，进而获得多组数字信号。

进一步地，每个待测模数转换芯片均包括第一输入端和第二输入端，本实施例中，每个待测模数转换芯片的第一输入端和第二输入端均用以接收差分形式的多个模拟输入信号。可以理解的是，待测模数转换芯片所接收的模拟输入信号的幅值不同，转换之后所获得的数字信号也不同。

在步骤S4中，由测试机将多个测试值依次和多组数字信号中一组数字信号进行对比，分别获得多个待测模数转换芯片的测试精度。

本实施例中，数字万用表在对多个模拟输入信号测量完成后，通过与测试机相连的通用接口总线将测量所得的多个测量值上传至测试机中进行缓存。以及多个待测模数转换芯片中的任一待测模数转换芯片在将多个模拟输入信号转换为对应的多个数字信号(即一组数字信号)后，也将该多个数字信号上传至测试机，之后由测试机将缓存的多个测量值和对应上传的一组数字信号进行对比及数据分析后，即可获得该待测模数转换芯片的测试精度。之后采用相同的方式即可分别获得对应多个待测模数转换芯片的测试精度。由于采用多个模拟输入信号对同一芯片进行测试分析，其所获得的芯片的测量精度的准确性更高。

进一步地，测试机还可在测试过程中根据实际需要实现的对电源模块、数字万用表和待测模数转换芯片的实时控制，进而实现对待测自动化待测模数转换芯片的可控自动测试。

进一步地，在进行批量测试的过程中，还包括对测试的待测模数转换芯片的数量进行计数。并在当计数值达到预设阈值(如100)时，控制数字万用表对多个模拟输入信号进行校准测量，以进一步提高批量测试时测试结果的精确性，避免如工艺差异、运行时间过程导致的电路或器件参数差异等其它因素对后续测试结果产生的不良影响，并计数清零，迭代执行校准过程。确保在批量测试过程中每个芯片的测量结果的高精度和高准确性，同时采用上述校准方法相当于将准时对数字万用表的读数时间分配到多个芯片的测试时间中，可以达到高精度和高效率的双重效果，有利于实现待测模数转换芯片的量产测试。

更进一步地，在进行批量测试的过程中还包括：在上述计数值达到预设阈值之前，若检测到对某个待测模数转换芯片的测试失效，则控制所述数字万用表对所述多个模拟输入信号进行校准测量，并计数清零。实现了对测试过程中如出现测试失误、其它因素干扰等情况时的补救，更进一步的确保了批量测试过程中每个芯片测量结果的高精度和高准确性。

示例性的，电源模块10中参考电源11可产生如-2V和+2V的基准电压，可编程电源12接收该-2V和+2V的基准电压后，在预设的程序编码输入所需的高精度的多个测试电压值(如20个高精度电压值，且该20个高精度电压值为以固定的数值递增输出)，即可控制产生-2V至+2V之间的20个高精度电压值。之后，由数字万用表20对该20个模拟输入信号进行测量后可相应获得20个测量值，并将该20个测量值上传至测试机40中进行缓存。以及电源模块10将所产生的20个模拟输入信号依次输入到100个待测模数转换芯片30中，由该100个待测模数转换芯片30对其依次进行模数转换后，获得与该20个模拟输入信号的幅值对应的100组数字信号(其中每组数字信号均包括20个数字信号)，并在测试机40中基于缓存的20个测量值依次和每组数字信号中的20个数字信号进行对比和数据分析后，即可分别获得对应100个待测模数转换芯片的测试精度。之后，在完成对100个待测模数转换芯片的测试后，控制数字万用表20对20个模拟输入信号进行校准和重新测试，并基于校准后的测量值更新测试机40中缓存的测量值，继续进行后100个待测模数转换芯片的测试，并依次类推。

综上，本发明通过采用电源模块提供测试所需的高精度的多个模拟输入信号，以及采用数字万用表(如8位半的数字万用表)对待测模数转换芯片接收的多个模拟输入信号进行精准测量，避免了待测模数转换器的测试过程受测试机的自身精度和环境的影响，实现了高精度的测试效果。同时基于数字万用表获得的高精度的多个测量值，能够在只需对测试所需的输入信号进行一次精准测量的基础上，完成对多个待测模数转换芯片的依次测试，节省了在多个待测模数转换芯片的批量测试过程中对数字万用表的读数时间，提高了测试效率。采用测试机将多个测试值依次和多组数字信号中的一组数字信号进行对比以分别获得该多个待测模数转换芯片的测试精度，有助于提高批量测试时的自动化程度，更进一步的提供测试效率。

另一方面，在对多个待测模数转换芯片的测试过程中对测试的芯片数量进行计数，并在计数值达到预设阈值时控制数字万用表进行校准，并控制技术清零，可以在进行待测模数转换芯片的批量测试过程中确保每个芯片的测量结果的高精度和高准确性。同时采用上述校准方法相当于将准时对数字万用表的读数时间分配到多个芯片的测试时间中，可以达到高精度和高效率的双重效果，有利于实现待测模数转换芯片的量产测试。

对测试的芯片数量进行计数时，若在计数值未达到预设阈值的某时刻检测到对某个待测模数转换芯片的测试失效，则控制数字万用表马上对多个模拟输入信号进行校准测量，并计数清零，更进一步的确保了批量测试过程中每个芯片测量结果的高精度和高准确性，避免了由于其它因素对后续测试结果造成的不良影响。

应当说明的是，在本文中，所含术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

最后应说明的是：显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之中。

Claims (10)

1.一种高精度模数转换芯片的测试装置，其特征在于，包括：

电源模块，用于提供高精度的多个模拟输入信号，所述多个模拟输入信号经过多个待测模数转换芯片后被转换为多组数字信号；

数字万用表，与待测模数转换芯片的输入端连接，用于对所述多个模拟输入信号进行精准测量，以获得对应的多个测量值；

测试机，用于将所述多个测试值依次和所述多组数字信号中的一组数字信号进行对比，以分别获得多个待测模数转换芯片的测试精度，

其中，每组数字信号均对应包括多个数字信号。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述电源模块包括：

参考电源，用于提供标准的第一基准电压和第二基准电压；

可编程电源，与所述参考电源连接，用于根据所述第一基准电压和所述第二基准电压编程产生高精度的所述多个模拟输入信号。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试机还通过通用接口总线与所述数字万用表连接，用以控制实现所述数字万用表对所述多个模拟输入信号的电压值的自动测试及自动校准。

4.根据权利要求1和3中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述数字万用表的型号为3458A。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：

第一电容，连接与所述电源模块的第一输出端与接地端之间；

第二电容，连接与所述电源模块的第二输出端与接地端之间，

其中，所述电源模块的第一输出端和第二输出端用于以差分形式输出所述多个模拟输入信号。

6.一种高精度模数转换芯片的测试方法，其特征在于，包括：

由电源模块提供高精度的多个模拟输入信号；

由数字万用表对所述多个模拟输入信号进行精准测量，以获得多个测量值；

将所述多个模拟输入信号依次输入至多个待测模数转换芯片，以获得多组数字信号；

由测试机将所述多个测试值依次和所述多组数字信号中一组数字信号进行对比，分别获得所述多个待测模数转换芯片的测试精度，

其中，所述方法还包括：

对所述多个模拟输入信号输入过的待测模数转换芯片的个数进行计数，并在计数值达到预设阈值时，控制所述数字万用表对所述多个模拟输入信号进行校准测量，并计数清零。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，由电源模块提供高精度的模拟输入信号包括：

由参考电源提供标准的第一基准电压和第二基准电压；

由可编程电源根据所述第一基准电压和所述第二基准电压编程产生高精度的所述多个模拟输入信号。

8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，由数字万用表对所述多个模拟输入信号进行精准测量时，还包括：由所述测试机通过通用接口总线控制所述数字万用表，以实现对所述多个模拟输入信号的自动测试及自动校准。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：在计数值达到预设阈值之前，若检测到对所述多个待测模数转换芯片中某个待测模数转换芯片的测试失效，则控制所述数字万用表对所述多个模拟输入信号进行校准测量，并计数清零。

10.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述数字万用表的型号为3458A。

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