CN115981407A - 电压校准方法、装置、介质及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种测试板的电压校准方法，应用于测试板，测试板与校准板通过信号连接器相连接。该方法包括：接收执行电压校准的指令，其中，测试板包括n个校准档位；根据指令，输出与第一校准档位对应的第一电压；从校准板获取与第一校准档位对应的第一采样电压；根据第一电压对第一采样电压进行校准，计算校准精度；当校准精度满足大于第一设定阈值时，重新校准第一校准档位，直至校准精度满足小于或等于所述第一设定阈值；然后对第二校准档位进行校准。该方法通过测试板和校准板的数据互通实现自动的数据调整，且能够在校准过程中对校准档位进行自动切换，能够避免因需要测试不同的电压而需要不断飞线的困扰，降低了测试板校准的时间成本。

Description

电压校准方法、装置、介质及电子设备

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种用于电压校准方法、装置、介质及电子设备。

背景技术

在芯片生产上，每颗芯片封装后都需要针对各种测试项进行测试，测试合格后才能流入市场，而芯片出厂前各测试项中，芯片的工作电压测试尤为重要，电压测试不仅可以测试芯片电压供电是否满足芯片供电的要求，也可通过不同时间段的电压测试判断芯片的工作状态。芯片封装后，使用相应的结构部件(SOCKET)将测试信号引出至芯片测试载板上对应测试电路。由测试载板搭配各功能测试板结合上下位机程序等组成芯片SLT测试系统。

芯片测试过程中，为保证芯片电压测试的准确性，要求测试板卡上的电压测试电路本身需达到一定的精度，所以每个测试板卡都需要进行校准。目前常规的校准方法是，测试板卡生产出来后，测试人员使用仪器仪表逐一对测试板卡上的电压测试电路进行校准，当测试板卡上的电压电路有多个挡位时，在校准过程中测试人员需频繁手动切换仪器与测试板卡的校准连接点。如果没有预留校准接口使用仪器进行校准操作时就会更加麻烦，从而增加校准时间。此方法耗时耗力，占用大量的仪器仪表资源，且人工重复执行测试校准容易引入操作不当造成的误差。此外，仪器仪表一般都比较笨重，且价值较高，有些复杂的仪器仪表要求操作人员具备一定的专业能力，同时仪器仪表的使用环境也有所限制，难以实现在多种场合完成校准工作。因此，有必要提供一种新的电压校准方法以解决上述问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电压校准方法、装置、介质及电子设备，用以实现对测试板上的电压测试电路进行精确校准。

第一方面，本发明提供的测试板的电压校准方法，应用于测试板，所述测试板与校准板通过信号连接器相连接，所述方法包括：S1：接收执行电压校准的指令，其中，所述测试板包括n个校准档位，n为正整数；S2：根据所述指令，输出与第一校准档位对应的第一电压；S3：从所述校准板获取与所述第一校准档位对应的第一采样电压；S4：根据所述第一电压对所述第一采样电压进行校准，计算校准精度；S5：当校准精度满足大于第一设定阈值时，返回执行S2至S4，直至校准精度满足小于或等于所述第一设定阈值；S6：输出与第二校准档位对应的第二电压；S7：从所述校准板获取与所述第二校准档位对应的第二采样电压；S8：根据所述第二电压对所述第二采样电压进行校准，计算校准精度；

S9：当校准精度满足大于第一设定阈值时，返回执行S6至S8，直至校准精度小于或等于所述第一设定阈值。

本发明提供的测试板的电压校准方法的有益效果在于：通过测试板和校准板的数据互通实现自动的数据调整，确保数据精度。进一步，测试板和校准板通过信号连接器连接使得对存在多个档位的测试板进行校准时，能够在校准过程中对校准档位进行自动切换以完成电压校准，能够避免因需要测试不同的电压而需要不断飞线的困扰，降低了测试板校准的时间成本，从而缩短整个SLT测试的周期时间。通过校准板对测试板进行自动化的电压校准，能够省去通过厚重的仪器进行校准的麻烦。

一种可能的实施例中，根据所述第一电压对所述第一采样电压进行校准之后，还包括：输出与所述第一校准档位对应的第一验证电压；从所述校准板获取与所述第一验证电压对应的验证采样电压；

所述计算校准精度包括：比较所述第一验证电压和所述验证采样电压，根据比较结果计算校准精度；所述根据所述第二电压对所述第二采样电压进行校准之后，还包括：输出与所述第二校准档位对应的第二验证电压；从所述校准板获取与所述第二验证电压对应的验证采样电压；

所述计算校准精度包括：比较所述第二验证电压和所述验证采样电压，根据比较结果计算校准精度。

另一种可能的实施例中，所述信号连接器为HT3连接器。

第二方面，本发明还提供了一种校准板的电压校准方法，应用于校准板，所述校准板与校准电源相连接，所述方法包括：S10：接收执行电压校准的指令，其中，所述校准板包括k个档位，k为正整数；S20：根据所述指令，采样所述校准电源的与第一档位对应的电压得到第一参考电压；S30：读取所述校准电源的与第一档位对应的第一精确电压；S40：根据所述第一精确电压对所述第一参考电压进行校准，计算校准精度；S50：当校准精度满足大于第二设定阈值时，返回执行S20至S40，直至校准精度满足小于或等于所述第二设定阈值；S60：采样所述校准电源的与第二档位对应的电压得到第二参考电压；S70：读取所述校准电源的与第二档位对应的第二精确电压；S80：根据所述第二精确电压对所述第二参考电压进行校准，计算校准精度；S90：当校准精度满足大于第二设定阈值时，返回执行S60至S80，直至校准精度满足小于或等于所述第二设定阈值。

本发明提供的校准板的电压校准方法的有益效果在于：可以对接外部的校准电源以对校准板自身进行高精度的校准，保证了校准板自身具有相当高精度，提升整个自动化校准的测试质量。

第三方面，本发明还提供了一种测试板的电压校准装置，应用于测试板，所述测试板与校准板通过信号连接器相连接，所述装置包括：第一接收单元，用于接收执行电压校准的指令，其中，所述测试板包括n个校准档位，n为正整数；输出单元，用于根据所述指令输出与n个校准档位对应的电压，包括：输出与第一校准档位对应的第一电压，和，输出与第二校准档位对应的第二电压；获取单元，用于从所述校准板获取与校准档位对应的采样电压，包括：获取与第一校准档位对应的第一采样电压，和，获取与第二校准档位对应的第二采样电压；第一校准单元，用于根据与n个校准档位对应的电压对所述采样电压进行校准，计算校准精度；第一判断单元，用于判断每个校准档位的校准精度是否满足大于第一设定阈值，当校准档位的校准精度满足大于第一设定阈值时，执行所述输出单元输出与该校准档位对应的电压，所述获取单元获取与该校准档位对应的采样电压，所述第一校准单元对该校准档位进行校准的操作，直至该校准单位的校准精度满足小于或等于所述第一设定阈值。

所述输出单元还包括：输出与第一校准档位对应的第一验证电压，和，输出与第二校准档位对应的第二验证电压；所述获取单元还包括：获取与第一校准档位对应的验证采样电压，和获取与第二校准档位对应的验证采样电压；所述第一校准单元计算校准精度，具体用于：比较与校准档位对应的验证电压和验证采样电压，根据比较结果计算校准精度。

所述信号连接器为HT3连接器。

第四方面，本发明还提供了一种校准板的电压校准装置，应用于校准板，其特征在于，所述校准板与校准电源相连接，所述装置包括：第二接收单元，用于接收执行电压校准的指令，其中，所述校准板包括k个档位，k为正整数；采样单元，用于根据所述指令采样所述校准电源的与k个档位对应的电压得到参考电压；读取单元，用于读取所述校准电源的与k个档位对应的精确电压；第二校准单元，用于根据精确电压对参考电压进行校准，计算校准精度；第二判断单元，用于判断校准精度是否满足大于第二设定阈值，当校准精度满足大于第二设定阈值时，执行所述采样单元采样所述校准电源的与该档位对应的电压得到参考电压，所述读取单元读取所述校准电源的与该档位对应的精确电压，所述第二校准单元对该档位进行校准的操作，直至校准精度满足小于或等于第二设定阈值。

第五方面，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述测试板的电压校准方法或校准板的电压校准方法。

第六方面，本发明还提供了一种电子设备，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序；所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述电子设备执行上述测试板的电压校准方法或校准板的电压校准方法。

关于上述第三方面至第六方面的有益效果可以参见上述第一方面至第二方面的描述。

附图说明

图1为本发明实施例提供的测试板的电压校准方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的测试板和校准板的连接结构示意图；

图3为本发明实施例提供的校准板的电压校准方法的流程示意图；

图4为本发明实施例提供的校准板的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的另一种测试板的电压校准方法的流程示意图；

图6为本发明实施例提供的另一种校准板的电压校准方法的流程示意图；

图7为本发明实施例提供的测试板的电压校准装置的示意图；

图8为本发明实施例提供的校准板的电压校准装置的示意图；

图9为本发明实施例提供的一种电子设备结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。除非另外定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本文中使用的“包括”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。

针对现有技术存在的问题，本发明的实施例提供了一种电压校准方法、装置、介质及电子设备。

本发明的实施例提供了一种测试板的电压校准方法。参见说明书附图1，本实施例的测试板的电压校准方法，应用于测试板，其中，测试板与校准板通过信号连接器相连接。该方法具体包括：

S1：接收执行电压校准的指令，其中，测试板包括n个校准档位，n为正整数。

在S1中，一种可能的实施例中，测试板与上位机相连接，测试板接收上位机发送的执行电压校准的指令。在一个具体的实施例中，上位机可以是计算机。

一种可能的实施例中，测试板连接有电压校准启动开关，触发电压校准启动开关后，测试板接收执行电压校准的指令。

S2：根据指令，输出与第一校准档位对应的第一电压。

S3：从校准板获取与第一校准档位对应的第一采样电压。

在S3中，一种可能的实施例中，在测试板输出与第一校准档位对应的电压后，校准板将对第一电压进行采样，然后校准板将采样得到的电压值回复给测试板，以使测试板能够从校准板获取与第一校准档位对应的第一采样电压。

一种可能的实施例中，测试板输出m个第一电压，m为正整数。当测试板输出一个第一电压后，校准板进行采样，然后校准板将采样得到的电压值回复给测试板以使测试板获取对应的第一采样电压；测试板输出另一个第一电压后校准板进行采样，然后校准板将采样得到的电压值回复给测试板以使测试板获取对应的第一采样电压，直至测试板输出全部的m个第一电压且从校准板获取m个第一电压对应的第一采样电压为止。

在一个具体的实施例中，测试板输出的第一电压为第一校准档位的电压端值。

S4：根据第一电压对第一采样电压进行校准，计算校准精度。

在S4中，一种可能的实施例中，根据第一电压对第一采样电压进行校准的方式为线性校准。

一种可能的实施例中，根据第一电压对第一采样电压进行校准之后，还包括：输出与第一校准档位对应的第一验证电压；从校准板获取与第一验证电压对应的验证采样电压。

计算校准精度包括：比较第一验证电压和验证采样电压，根据比较结果计算校准精度。

S5：当校准精度满足大于第一设定阈值时，返回执行S2至S4，直至校准精度满足小于或等于第一设定阈值。

S6：输出与第二校准档位对应的第二电压。

S7：从校准板获取与第二校准档位对应的第二采样电压。

在S7中，一种可能的实施例中，在测试板输出与第二校准档位对应的电压后，校准板将对第二电压进行采样，然后校准板将采样得到的电压值回复给测试板，以使测试板能够从校准板获取与第二校准档位对应的第二采样电压。

一种可能的实施例中，测试板输出m个第二电压，m为正整数。

S8：根据第二电压对第二采样电压进行校准，计算校准精度。

根据第二电压对第二采样电压进行校准之后，还包括：输出与第二校准档位对应的第二验证电压；从校准板获取与第二验证电压对应的验证采样电压。

计算校准精度包括：比较第二验证电压和验证采样电压，根据比较结果计算校准精度。

S9：当校准精度满足大于第一设定阈值时，返回执行S6至S8，直至校准精度小于或等于第一设定阈值。

一种可能的实施例中，对一个测试板的n个校准档位均校准至校准精度小于或等于第一设定阈值，以完成对该测试板的校准。

一种可能的实施例中，第一设定阈值为0.1％。

参见说明书附图2，在一个具体的实施例中，连接测试板与校准板的信号连接器为HT3连接器。HT3连接器的设置使得校准板和测试板能够直接扣接，在对测试板进行校准时可以方便地更换测试板。

本发明的测试板的电压校准方法通过测试板和校准板的数据互通实现自动的数据调整，确保数据精度。进一步，测试板和校准板通过信号连接器连接使得对存在多个档位的测试板进行校准时，能够在校准过程中对校准档位进行自动切换以完成电压校准，能够避免因需要测试不同的电压而需要不断飞线的困扰，降低了测试板校准的时间成本，从而缩短整个SLT测试(system level test，即系统级别测试)的周期时间。通过校准板对测试板进行自动化的电压校准，能够省去通过厚重的仪器进行校准的麻烦。

参见说明书附图3，本发明的实施例还提供了一种校准板的电压校准方法。该校准板的电压校准方法，应用于校准板，其中，校准板与校准电源相连接。该方法具体包括：

S10：接收执行电压校准的指令，其中，校准板包括k个档位，k为正整数。

S20：根据指令，采样校准电源的与第一档位对应的电压得到第一参考电压。

S30：读取校准电源的与第一档位对应的第一精确电压。

在S30中，一种可能的实施例中，校准板和校准电源还与上位机相连接，校准电源输出与第一档位对应的电压后，校准板采样与第一档位对应的电压，上位机通过校准电源读取对应的精确电压，然后上位机将精确电压发送至校准板以使校准板能够读取校准电源的与第一档位对应的第一精确电压。

一种可能的实施例中，校准板采样校准电源的与第一档位对应的y个电压，y为正整数。校准电源输出一个与第一档位对应的电压后，校准板进行采样，然后校准板读取当前所采样电压的精确电压值以得到精确电压；校准电源输出另一个与第一档位对应的电压后，校准板进行采样，然后校准板读取当前所采样电压的精确电压值以得到精确电压，直至校准板采样校准电源的全部y个与第一档位对应的电压且读取到y个电压的精确电压为止。

在一个具体的实施例中，校准板采样的与第一档位对应的电压为第一档位的电压端值。

S40：根据第一精确电压对第一参考电压进行校准，计算校准精度。

S50：当校准精度满足大于第二设定阈值时，返回执行S20至S40，直至校准精度满足小于或等于第二设定阈值。

S60：采样校准电源的与第二档位对应的电压得到第二参考电压。

S70：读取校准电源的与第二档位对应的第二精确电压。

在S70中，一种可能的实施例中，校准板和校准电源还与上位机相连接，校准电源输出与第二档位对应的电压后，校准板采样与第二档位对应的电压，上位机通过校准电源读取对应的精确电压，然后上位机将精确电压发送至校准板以使校准板能够读取校准电源的与第二档位对应的第二精确电压。

一种可能的实施例中，校准板采样校准电源的与第二档位对应的y个电压，y为正整数。

S80：根据第二精确电压对第二参考电压进行校准，计算校准精度。

S90：当校准精度满足大于第二设定阈值时，返回执行S60至S80，直至校准精度满足小于或等于第二设定阈值。

一种可能的实施例中，对一个校准板的k个校准档位均校准至校准精度小于或等于第二设定阈值，以完成对该校准板的校准。

一种可能的实施例中，校准板的电压校准是对测试板进行电压校准的前提，因此，校准板的电压校准精度需比测试板的电压校准精度更为精确。

在一个具体的实施例中，第二设定阈值为0.01％。

一种可能的实施例中，本发明的实施例中应用的校准板包括信号连接器、通道切换模块、采样模块、模数转换模块和控制模块。其中，信号连接器用于接收来自校准电源或测试板的电压并进行传输。通道切换模块连接信号连接器，用于切换校准挡位。采样模块连接通道切换模块，用于采集与来自校准电源的电压对应的模拟信号。模数转换模块连接采样模块，用于接收模拟信号，并将模拟信号转换为数字信号输出。控制模块连接模数转换模块，用于接收数字信号，并将数字信号发送至上位机或测试板。

参见说明书附图4，在一个具体的实施例中，校准板的信号连接器为HT3连接器。通道切换模块包括3级通道切换。模数转换模块应用ADC7768。控制模块可以包括微控制器和存储器，负责电流校准流程的控制、数据采集、存储，与其他设备通讯等。进一步，校准板上还采用了校准座子(外接香蕉头座)，可以对接外部的仪器以对校准板自身进行高精度的校准，保证了校准板自身具有相当高精度，提升整个自动化校准的测试质量。本实施例所提供的校准板应用时，4路DAC(数模转换器)电压和VBAT(电源电压)输出通过3级通道切换，输入到运放。运放前段放置测试点和SMA(射频电路中的接头)，应用接万用表和电压外灌。经过运放后输送到ADC7768和校准座子。

在一个具体的实施例中，校准板能够与上位机实现通信，可以实现校准流程的自动开启和关闭，校准数据采集、分析，校准参数传输、储存等功能。

为了更加系统的描述上述测试板的电压校准流程，本发明进一步结合图5所示的方法实施例对上述测试板的电压校准方法的执行流程进行描述。

S501：测试板和校准板通过12V电源上电。

S502：测试板和校准板的微控制单元(MCU)均初始化配置。

S503：测试板接收上位机发送的执行电压校准的指令，开始校准第一校准档位，其中，测试板包括4个校准档位，第一校准档位对应的电压为0.1V-4.5V。

S504：测试板输出一个第一电压(0.1V)，并发送输出信息给校准板。

S505：测试板从校准板获取对应的第一采样电压。

S506：测试板输出另一个第一电压(4.5V)，并发送输出信息给校准板。

S507：测试板从校准板获取对应的第一采样电压。

S508：测试板根据第一电压和第一采样电压线性校准0.1V-4.5V，并保存校准信息。

S509：测试板输出第一验证电压(2.5V)，并发送输出信息给校准板。

S510：测试板从校准板获取验证采样电压，计算校准精度。

S511：若校准精度满足小于或等于0.1％的精度要求，则校准下一个校准档位；若校准精度大于0.1％，则返回执行S504至S510以重新校准第一校准档位。

为了更加系统的描述上述校准板的电压校准流程，本发明进一步结合图6所示的方法实施例对上述校准板的电压校准方法的执行流程进行描述。

S601：校准板通过12V电源上电。

S602：微控制单元初始化配置。

S603：将校准座子接到校准电源(6705B)上。

S604：校准板USB(通用串行总线)连接上位机，开始校准第一档位。其中校准板包括4个档位，4个档位分别为对应的电压为：0.45V-4.5V，0.045V-0.45V，0,0045V-0.045V，0.00045V-0.0045V，第一档位为0.45V-4.5V。

S605：校准板采样校准电源的与第一档位对应的一个电压得到第一参考电压。

S606：校准板读取来自上位机的对应的校准电源第一精确电压(0.45V)。

S607：校准板采样校准电源的与第一档位对应的另一个电压得到第一参考电压。

S608：校准板读取来自上位机的对应的校准电源第一精确电压(4.5V)。

S609：校准板根据第一参考电压和第一精确电压线性校准0.45V-4.5V，计算校准精度。

S6010：若校准精度满足小于或等于0.01％的精度要求，则校准下一个档位；若校准精度大于0.01％，则返回执行S605至S609以重新校准第一档位。

参见说明书附图7，本实施例还提供了一种测试板的电压校准装置，该装置用于实现上述测试板的电压校准方法的实施例。该装置包括：

第一接收单元701，用于接收执行电压校准的指令，其中，测试板包括n个校准档位，n为正整数。

输出单元702，用于根据指令输出与n个校准档位对应的电压，包括：输出与第一校准档位对应的第一电压，和，输出与第二校准档位对应的第二电压。

获取单元703，用于从校准板获取与校准档位对应的采样电压，包括：获取与第一校准档位对应的第一采样电压，和，获取与第二校准档位对应的第二采样电压。

第一校准单元704，用于根据与n个校准档位对应的电压对采样电压进行校准，计算校准精度。

第一判断单元705，用于判断每个校准档位的校准精度是否满足大于第一设定阈值，当校准档位的校准精度满足大于第一设定阈值时，执行输出单元输出与该校准档位对应的电压，获取单元获取与该校准档位对应的采样电压，第一校准单元对该校准档位进行校准的操作，直至该校准单位的校准精度满足小于或等于所述第一设定阈值。

一种可能的实施例中，输出单元702还包括：输出与第一校准档位对应的第一验证电压，和，输出与第二校准档位对应的第二验证电压。

获取单元703还包括：获取与第一校准档位对应的验证采样电压，和获取与第二校准档位对应的验证采样电压。

第一校准单元704计算校准精度，具体用于：比较与校准档位对应的验证电压和验证采样电压，根据比较结果计算校准精度。

参见说明书附图8，本实施例还提供了一种校准板的电压校准装置，该装置用于实现上述校准板的电压校准方法的实施例。该装置包括：

第二接收单元801，用于接收执行电压校准的指令，其中，校准板包括k个档位，k为正整数。

采样单元802，用于根据指令采样所述校准电源的与k个档位对应的电压得到参考电压。

读取单元803，用于读取校准电源的与k个档位对应的精确电压。

第二校准单元804，用于根据精确电压对参考电压进行校准，计算校准精度。

第二判断单元805，用于判断校准精度是否满足大于第二设定阈值，当校准精度满足大于第二设定阈值时，执行采样单元采样校准电源的与该档位对应的电压得到参考电压，读取单元读取校准电源的与该档位对应的精确电压，第二校准单元对该档位进行校准的操作，直至校准精度满足小于或等于第二设定阈值。

上述方法实施例涉及的各步骤的所有相关内容均可以援引到对应功能模块的功能描述，在此不再赘述。

在本申请的另一些实施例中，本申请实施例公开了一种电子设备，如图9所示，该电子设备900可以包括：一个或多个处理器901；存储器902；显示器903；一个或多个应用程序(未示出)；以及一个或多个计算机程序904，上述各器件可以通过一个或多个通信总线905连接。其中该一个或多个计算机程序904被存储在上述存储器902中并被配置为被该一个或多个处理器901执行，该一个或多个计算机程序包括指令，上述指令可以用于执行如图1、图3、图5、图6及相应实施例中的各个步骤。

通过以上的实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请实施例各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：快闪存储器、移动硬盘、只读存储器、随机存取存储器、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本申请实施例的具体实施方式，但本申请实施例的保护范围并不局限于此，任何在本申请实施例揭露的技术范围内的变化或替换，都应涵盖在本申请实施例的保护范围之内。因此，本申请实施例的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种测试板的电压校准方法，应用于测试板，其特征在于，所述测试板与校准板通过信号连接器相连接，所述方法包括：

S1：接收执行电压校准的指令，其中，所述测试板包括n个校准档位，n为正整数；

S2：根据所述指令，输出与第一校准档位对应的第一电压；

S3：从所述校准板获取与所述第一校准档位对应的第一采样电压；

S4：根据所述第一电压对所述第一采样电压进行校准，计算校准精度；

S5：当校准精度满足大于第一设定阈值时，返回执行S2至S4，直至校准精度满足小于或等于所述第一设定阈值；

S6：输出与第二校准档位对应的第二电压；

S7：从所述校准板获取与所述第二校准档位对应的第二采样电压；

S8：根据所述第二电压对所述第二采样电压进行校准，计算校准精度；

S9：当校准精度满足大于第一设定阈值时，返回执行S6至S8，直至校准精度小于或等于所述第一设定阈值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一电压对所述第一采样电压进行校准之后，还包括：

输出与所述第一校准档位对应的第一验证电压；

从所述校准板获取与所述第一验证电压对应的验证采样电压；

所述计算校准精度包括：

比较所述第一验证电压和所述验证采样电压，根据比较结果计算校准精度；

所述根据所述第二电压对所述第二采样电压进行校准之后，还包括：

输出与所述第二校准档位对应的第二验证电压；

从所述校准板获取与所述第二验证电压对应的验证采样电压；

所述计算校准精度包括：

比较所述第二验证电压和所述验证采样电压，根据比较结果计算校准精度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述信号连接器为HT3连接器。

4.一种校准板的电压校准方法，应用于校准板，其特征在于，所述校准板与校准电源相连接，所述方法包括：

S10：接收执行电压校准的指令，其中，所述校准板包括k个档位，k为正整数；

S20：根据所述指令，采样所述校准电源的与第一档位对应的电压得到第一参考电压；

S30：读取所述校准电源的与第一档位对应的第一精确电压；

S40：根据所述第一精确电压对所述第一参考电压进行校准，计算校准精度；

S50：当校准精度满足大于第二设定阈值时，返回执行S20至S40，直至校准精度满足小于或等于所述第二设定阈值；

S60：采样所述校准电源的与第二档位对应的电压得到第二参考电压；

S70：读取所述校准电源的与第二档位对应的第二精确电压；

S80：根据所述第二精确电压对所述第二参考电压进行校准，计算校准精度；

S90：当校准精度满足大于第二设定阈值时，返回执行S60至S80，直至校准精度满足小于或等于所述第二设定阈值。

5.一种测试板的电压校准装置，应用于测试板，其特征在于，所述测试板与校准板通过信号连接器相连接，所述装置包括：

第一接收单元，用于接收执行电压校准的指令，其中，所述测试板包括n个校准档位，n为正整数；

输出单元，用于根据所述指令输出与n个校准档位对应的电压，包括：输出与第一校准档位对应的第一电压，和，输出与第二校准档位对应的第二电压；

获取单元，用于从所述校准板获取与校准档位对应的采样电压，包括：获取与第一校准档位对应的第一采样电压，和，获取与第二校准档位对应的第二采样电压；

第一校准单元，用于根据与n个校准档位对应的电压对所述采样电压进行校准，计算校准精度；

第一判断单元，用于判断每个校准档位的校准精度是否满足大于第一设定阈值，当校准档位的校准精度满足大于第一设定阈值时，执行所述输出单元输出与该校准档位对应的电压，所述获取单元获取与该校准档位对应的采样电压，所述第一校准单元对该校准档位进行校准的操作，直至该校准单位的校准精度满足小于或等于所述第一设定阈值。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述输出单元还包括：输出与第一校准档位对应的第一验证电压，和，输出与第二校准档位对应的第二验证电压；

所述获取单元还包括：获取与第一校准档位对应的验证采样电压，和获取与第二校准档位对应的验证采样电压；

所述第一校准单元计算校准精度，具体用于：比较与校准档位对应的验证电压和验证采样电压，根据比较结果计算校准精度。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述信号连接器为HT3连接器。

8.一种校准板的电压校准装置，应用于校准板，其特征在于，所述校准板与校准电源相连接，所述装置包括：

第二接收单元，用于接收执行电压校准的指令，其中，所述校准板包括k个档位，k为正整数；

采样单元，用于根据所述指令采样所述校准电源的与k个档位对应的电压得到参考电压；

读取单元，用于读取所述校准电源的与k个档位对应的精确电压；

第二校准单元，用于根据精确电压对参考电压进行校准，计算校准精度；

第二判断单元，用于判断校准精度是否满足大于第二设定阈值，当校准精度满足大于第二设定阈值时，执行所述采样单元采样所述校准电源的与该档位对应的电压得到参考电压，所述读取单元读取所述校准电源的与该档位对应的精确电压，所述第二校准单元对该档位进行校准的操作，直至校准精度满足小于或等于第二设定阈值。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至3或权利要求4中任一项所述的电压校准方法。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器及存储器；

所述存储器用于存储计算机程序；

所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述电子设备执行权利要求1至3或权利要求4中任一项所述的电压校准方法。

Images