CN114113852A - 一种验证光口ac耦合电容是否掉件的测试方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法及系统，包括示波器、待测设备以及计算机，其中示波器和待测设备的光口通过SFP+夹具连接，计算机的网口和示波器网口通过网线连接，所述SFP+夹具插入到待测试样机光口中，将待测试样机光口的电信号传递给示波器。本发明通过基于labview编制的自动控制程序实现自动测试，利用自动控制程序自动设置示波器眼图参数并读取待测设备光口的Vp‑p电压值，从而自动判断光口AC耦合电容是否掉件，具有测试流程简单、测试效率高的特点。
Description
技术领域
本发明属于产品光口测试技术领域，具体涉及一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法及系统。
背景技术
为了保障交换机光口能稳定可靠的运行，AC耦合电容是必不可少的元器件，而在实际生产过程中，会遇到打件不牢固，或者撞件的情况，容易造成AC耦合电容掉件，在生产测试阶段无法通过短时功能验证该问题，因为AC耦合电容只掉件一个的情况下，光口依然能正常工作，只有在长时间验证打流环境下才能发现问题，如果采用长时间打流验证，效率就会极其低，测试流程也比较复杂。所以通过该测试方法能验证出AC耦合电容掉件的问题，并能够通过自动化程序判定，简化测试流程，和提升测试效率。
发明内容
本发明需要解决的技术问题是提供一种简化测试流程，提高测试效率，并能自动检测判定的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法及系统。
为解决上述问题，本发明所采取的技术方案是：
一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试系统，包括示波器、待测设备以及计算机，其中示波器和待测设备的光口通过SFP+夹具连接，计算机的网口和示波器网口通过网线连接，所述SFP+夹具插入到待测试样机光口中，将待测试样机光口的电信号传递给示波器。
进一步的所述待测设备光口至少包括光口1和光口2，光口1和光口2均为普通光口，其物理接口为标准SFP+接口，速率10Gbps。
进一步的，所述计算机中安装有自动测试程序，所述自动测试程序是基于labview编制的自动控制程序，该程序可自动设置示波器参数并读取眼图参数，实现自动测试和判定测试结果。
一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法，其步骤如下：
S1、测试系统搭建
将待测设备用SFP+夹具连接示波器的光线输入输出端，将计算机通过网线与示波器连接；
S2、开启待测设备、示波器以及计算机，计算机自动设置示波器参数，自动测量待测设备光口通讯时的电信号；
S3、自动读取眼图的Vp-p电压值，并判定测试结果，如果Vp-p＜600mv，则判定光口AC耦合电容掉件，如果Vp-p≥600mv，则判定光口AC耦合电容没有掉件；
进一步的，还包括步骤S4、如果光口AC耦合电容掉件，则拆机后重新焊接AC耦合电容，然后再重复步骤S3，如果光口AC耦合电容没有掉件，则更换光口重复步骤S3，直至全部光口测试完成。
进一步的，所述步骤S2自动化设置示波器参数是指计算机依次调出Vp-p、Eyeheight、Eye width、Data rate、Eye jitter测试参数，并且设置示波器垂直刻度为150mV每格，水平刻度为200ns每格。
进一步的，所述计算机中安装有自动测试程序，所述自动测试程序是基于labview编制的自动控制程序，该程序可自动设置示波器参数并读取眼图参数，实现自动测试和判定测试结果。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于：
本发明通过基于labview编制的自动控制程序实现自动测试，利用自动控制程序自动设置示波器眼图参数并读取待测设备光口的Vp-p电压值，从而自动判断光口AC耦合电容是否掉件，具有测试流程简单、测试效率高的特点。
附图说明
图1是本发明系统结构示意图；
图2是本发明测试方法流程图；
其中：1、待测设备，2、SFP+夹具，3、示波器，4、计算机。
具体实施方式
下面结合附图对发明做进一步详细描述：
本发明是一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法及系统，本发明基于labview自动控制程序进行自动测试和判定，通过读取示波器眼图Vp-p电压值，判定光口AC耦合电容是否掉件，具有流程简单、操作方便、效率高的特点。
如图1所示，本发明包括示波器3、待测设备1以及计算机4，其中示波器和待测设备的光口通过SFP+夹具2连接，所述SFP+夹具插入到待测试样机光口中，将待测试样机光口的电信号传递给示波器，计算机的网口和示波器网口通过网线连接，计算机通过网口设置示波器并读取眼图参数。
对于待测设备，其光口至少包括光口1和光口2，光口1和光口2均为普通光口，其物理接口为标准SFP+接口，速率10Gbps。对于计算机，计算机中安装有自动测试程序，所述自动测试程序是基于labview编制的自动控制程序，该程序可自动设置示波器参数并读取眼图参数，实现自动测试和判定测试结果。对于示波器，其主要完成信号眼图测试，并计算眼图Vp-p电压值。
对于本发明，采用上述测试系统验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法步骤如下：
S1、测试系统搭建
将待测设备用SFP+夹具连接示波器的光线输入输出端，将计算机通过网线与示波器连接；
S2、开启待测设备、示波器以及计算机，计算机自动设置示波器参数，自动测量待测设备光口通讯时的电信号；
S3、自动读取眼图的Vp-p电压值，并判定测试结果，如果Vp-p＜600mv，则判定光口AC耦合电容掉件，如果Vp-p≥600mv，则判定光口AC耦合电容没有掉件；
对于本测试方法，还包括步骤S4、如果光口AC耦合电容掉件，则拆机后重新焊接AC耦合电容，然后再重复步骤S3，如果光口AC耦合电容没有掉件，则更换光口重复步骤S3，直至全部光口测试完成。
所述步骤S2自动化设置示波器参数是指计算机依次调出Vp-p、Eye height、Eyewidth、Data rate、Eye jitter测试参数，并且设置示波器垂直刻度为150mV每格，水平刻度为200ns每格。
上述方法的自动化程序执行流程如图2所示，具体为：
1、程序开始运行；2、自动化设置示波器参数，labview自动化程序会依次调出Vp-p、Eye height、Eye width、Data rate、Eye jitter等测试参数，并且设置示波器垂直刻度为150mV每格，水平刻度为200ns每格；3、自动测量眼图参数，读取Vp-p电压值，如数值大于等于600mV，说明光口AC耦合电容没有掉件，保存数据，并测试下一个光口，如数值小于600mV，说明光口AC耦合电容掉件，此时需要拆机后重新焊接AC耦合电容，然后再进行测试。
当使用上述测试方法进行验证时，先将SFP+夹具插入到待测试设备光口上，通过示波器观察眼图波形，然后运行自动化程序，由自动化程序执行测试过程和判定结果，如测试眼图Vp-p小于600mV，程序会自动提示AC耦合电容掉件，请修复，通过此测试方法，能快速的对待测设备进行验证，实现起来比较容易，能够解决生产测试阶段无法验证AC耦合电容掉件的情况。本发明系统结构简单、成本低廉，极具性价比。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围。
Claims (7)
1.一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试系统，其特征在于：包括示波器、待测设备以及计算机，其中示波器和待测设备的光口通过SFP+夹具连接，计算机的网口和示波器网口通过网线连接，所述SFP+夹具插入到待测试样机光口中，将待测试样机光口的电信号传递给示波器。
2.根据权利要求1所述的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试系统，其特征在于：所述待测设备光口至少包括光口1和光口2，光口1和光口2均为普通光口，其物理接口为标准SFP+接口，速率10Gbps。
3.根据权利要求1所述的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试系统，其特征在于：所述计算机中安装有自动测试程序，所述自动测试程序是基于labview编制的自动控制程序，该程序可自动设置示波器参数并读取眼图参数，实现自动测试和判定测试结果。
4.一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法，其步骤如下：
S1、测试系统搭建
将待测设备用SFP+夹具连接示波器的光线输入输出端，将计算机通过网线与示波器连接；
S2、开启待测设备、示波器以及计算机，计算机自动设置示波器参数，自动测量待测设备光口通讯时的电信号；
S3、自动读取眼图的Vp-p电压值，并判定测试结果，如果Vp-p＜600mv，则判定光口AC耦合电容掉件，如果Vp-p≥600mv，则判定光口AC耦合电容没有掉件。
5.根据权利要求4所述的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法，还包括步骤S4、如果光口AC耦合电容掉件，则拆机后重新焊接AC耦合电容，然后再重复步骤S3，如果光口AC耦合电容没有掉件，则更换光口重复步骤S3，直至全部光口测试完成。
6.根据权利要求4或5所述的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法，其特征在于：所述步骤S2自动化设置示波器参数是指计算机依次调出Vp-p、Eye height、Eye width、Data rate、Eye jitter测试参数，并且设置示波器垂直刻度为150mV每格，水平刻度为200ns每格。
7.根据权利要求6所述的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法，其特征在于：所述计算机中安装有自动测试程序，所述自动测试程序是基于labview编制的自动控制程序，该程序可自动设置示波器参数并读取眼图参数，实现自动测试和判定测试结果。
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Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102299739A (zh) * | 2011-07-29 | 2011-12-28 | 深圳市国扬通信股份有限公司 | Sfp模块测试方法及测试终端 |
| US20120087675A1 (en) * | 2010-10-12 | 2012-04-12 | Cisco Technology, Inc. | Compact small form-factor pluggable transceiver |
| CN203859750U (zh) * | 2014-06-10 | 2014-10-01 | 湖北工业大学 | 一种光模块测试系统 |
| CN105049113A (zh) * | 2015-06-17 | 2015-11-11 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种有源光模块多通道自动化测试系统及方法 |
| CN204836171U (zh) * | 2015-07-08 | 2015-12-02 | 四川泰瑞创通讯技术有限公司 | 检测光模块输出差分信号完整性的测试装置 |
| CN106228171A (zh) * | 2016-07-14 | 2016-12-14 | 电子科技大学 | 一种基于K‑means聚类算法的眼图参数提取方法 |
| CN108365888A (zh) * | 2018-02-01 | 2018-08-03 | 四川泰瑞创通讯技术股份有限公司 | 测试光模块性能的装置 |
| CN109600163A (zh) * | 2018-12-04 | 2019-04-09 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | Qsfp56光模块的测试治具 |
| CN209181997U (zh) * | 2018-12-27 | 2019-07-30 | 上海航天科工电器研究院有限公司 | 一种用于多通道光模块自动切换的高低温眼图测试装置 |
| CN209387775U (zh) * | 2019-01-09 | 2019-09-13 | 泰瑞创通讯(成都)有限公司 | 光模块老化监控装置 |
| CN110635967A (zh) * | 2019-08-27 | 2019-12-31 | 深圳市菲菱科思通信技术股份有限公司 | 自动测试网口指标的方法 |
| CN111221084A (zh) * | 2018-04-02 | 2020-06-02 | 3M创新有限公司 | 光纤连接结构、通信设备 |
| CN214154732U (zh) * | 2021-02-20 | 2021-09-07 | 太仓市同维电子有限公司 | 一种验证10g多模光模块光眼图的装置 |
| CN113541778A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-10-22 | 深圳恒朴光电科技有限公司 | 一种光模块自动化测试系统及测试方法 |
-
2021
- 2021-11-25 CN CN202111412296.4A patent/CN114113852A/zh active Pending
Patent Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20120087675A1 (en) * | 2010-10-12 | 2012-04-12 | Cisco Technology, Inc. | Compact small form-factor pluggable transceiver |
| CN102299739A (zh) * | 2011-07-29 | 2011-12-28 | 深圳市国扬通信股份有限公司 | Sfp模块测试方法及测试终端 |
| CN203859750U (zh) * | 2014-06-10 | 2014-10-01 | 湖北工业大学 | 一种光模块测试系统 |
| CN105049113A (zh) * | 2015-06-17 | 2015-11-11 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种有源光模块多通道自动化测试系统及方法 |
| CN204836171U (zh) * | 2015-07-08 | 2015-12-02 | 四川泰瑞创通讯技术有限公司 | 检测光模块输出差分信号完整性的测试装置 |
| CN106228171A (zh) * | 2016-07-14 | 2016-12-14 | 电子科技大学 | 一种基于K‑means聚类算法的眼图参数提取方法 |
| CN108365888A (zh) * | 2018-02-01 | 2018-08-03 | 四川泰瑞创通讯技术股份有限公司 | 测试光模块性能的装置 |
| CN111221084A (zh) * | 2018-04-02 | 2020-06-02 | 3M创新有限公司 | 光纤连接结构、通信设备 |
| CN109600163A (zh) * | 2018-12-04 | 2019-04-09 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | Qsfp56光模块的测试治具 |
| CN209181997U (zh) * | 2018-12-27 | 2019-07-30 | 上海航天科工电器研究院有限公司 | 一种用于多通道光模块自动切换的高低温眼图测试装置 |
| CN209387775U (zh) * | 2019-01-09 | 2019-09-13 | 泰瑞创通讯(成都)有限公司 | 光模块老化监控装置 |
| CN110635967A (zh) * | 2019-08-27 | 2019-12-31 | 深圳市菲菱科思通信技术股份有限公司 | 自动测试网口指标的方法 |
| CN214154732U (zh) * | 2021-02-20 | 2021-09-07 | 太仓市同维电子有限公司 | 一种验证10g多模光模块光眼图的装置 |
| CN113541778A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-10-22 | 深圳恒朴光电科技有限公司 | 一种光模块自动化测试系统及测试方法 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 付英华;许国良;: "基于Simulink的通信系统眼图测试仿真", 电子设计工程, no. 04, 20 February 2017 (2017-02-20), pages 147 - 149 * |
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