CN114026512A - 用于控制输出安培数的方法和系统 - Google Patents
用于控制输出安培数的方法和系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114026512A CN114026512A CN202080023203.6A CN202080023203A CN114026512A CN 114026512 A CN114026512 A CN 114026512A CN 202080023203 A CN202080023203 A CN 202080023203A CN 114026512 A CN114026512 A CN 114026512A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- amperage
- output
- current
- signal
- output current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
- 239000006249 magnetic particle Substances 0.000 claims abstract description 29
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 23
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 51
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 230000006870 function Effects 0.000 description 9
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000003909 pattern recognition Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 239000006247 magnetic powder Substances 0.000 description 1
- 230000003278 mimic effect Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0256—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults injecting test signals and analyzing monitored process response, e.g. injecting the test signal while interrupting the normal operation of the monitored system; superimposing the test signal onto a control signal during normal operation of the monitored system
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/05—Programmable logic controllers, e.g. simulating logic interconnections of signals according to ladder diagrams or function charts
- G05B19/058—Safety, monitoring
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/83—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields
- G01N27/84—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields by applying magnetic powder or magnetic ink
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0235—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/173—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Programmable Controllers (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
本公开内容提供了一种磁粉检查系统，该磁粉检查系统被配置为生成磁场以对零件进行检查，该磁粉检查系统包括可编程逻辑控制器(PLC)、电流源和电流感测设备。PLC可以被配置为将针对输出电流的安培数的安培数信号传送到电流源，并且将第一信号传送到电流源以输出该输出电流。电流源可以被配置为基于安培数信号调整输出电流的安培数，并在接收到第一信号后输出该输出电流。电流感测设备可以被配置为测量输出电流的输出安培数，并将基于输出安培数的安培数信息传送到信号转换设备。PLC可以响应于来自信号转换设备的反馈而更新安培数信号。
Description
相关申请的优先权/交叉引用
本申请要求于2020年3月26日提交的名称为“Methods and Systems forControlling Output Amperage[用于控制输出安培数的方法和系统]”的美国专利申请序列号16/830,358以及于2019年3月29日提交的名称为“Methods and Systems forControlling Output Amperage[用于控制输出安培数的方法和系统]”的美国临时专利申请序列号62/825,902的权益。美国专利申请序列号16/830,358和美国临时专利申请序列号62/825,902的全部内容明确地通过引用并入本文。
背景技术
本公开内容涉及电流源，并且更具体地，涉及用于在反馈回路中使用可编程逻辑控制器提供高电流水平的方法和装置。
通过将这类方法与在本公开内容的其余部分中参照附图阐述的本方法和系统的一些方面相比较，提供高电流输出的常规方法的局限性和缺点对本领域内的技术人员而言将变得显而易见。
发明内容
提供了用于提供高电流输出的方法和装置，基本上如通过附图中的至少一个附图所展示的和结合附图中的至少一个附图所描述的，以及如权利要求中更完整地阐述的。
附图说明
结合附图，从示例性实施例的以下描述中，这些和/或其他方面将变得显而易见并且更容易理解。
图1A是展示了根据本公开内容的各方面的示例测试系统的框图。
图1B是展示了根据本公开内容的各方面的另一示例测试系统的框图。
图1C是展示了根据本公开内容的各方面的示例测试系统与外部设备进行通信的框图。
图2A是展示了根据本公开内容的各方面的测试系统中的反馈的示例的框图。
图2B是展示了根据本公开内容的各方面的测试系统中的另一示例反馈的框图。
图3是展示了根据本公开内容的各方面的测试系统中的示例控制电路系统的框图。
图4是展示了根据本公开内容的各方面的示例测试系统的使用的流程图。
具体实施方式
尽管公开了示例方法和装置，但可能并未对示例方法和装置的修改进行详细描述，因为这些修改可能是本领域普通技术人员所熟知的。
测试系统可以用于确定零件中是否存在任何缺陷。测试系统可以是例如磁粉检查系统，该磁粉检查系统通过引入电流穿过待测零件而在该零件上生成磁场。在生成磁场之前引入在零件上的磁粉、或在生成磁场时引入在零件上的磁粉可能聚集在缺陷区域。因此，通过检查零件的(多处)磁粉集中，可以发现零件中的缺陷(诸如缺口、裂纹等)。可以通过提供在例如紫外(UV)光或可见光下可见的磁性材料来促进检查。
为了生成磁场，将电流提供给被测零件或磁场发生器，其中，电流可以是AC或DC，并且可以在例如数百安培到高达数千安培的范围内。电流中的安培数可能取决于例如制造零件的材料类型、零件的尺寸、要沉积在零件上的磁粉等。因此，使用反馈信息控制电流以将电流保持在期望的规格内。
虽然所公开的示例方法和装置为测试系统提供了改进的电流控制，但是所公开的方法和装置可以被修改和/或用于可能需要高安培数电流的任何其他类型的设备。
图1A是展示了根据本公开内容的各方面的示例测试系统的框图。参考图1A，示出了用于测试零件130的示例测试系统100。测试系统100可以包括控制器电路系统110、测试工作台120、被配置为固持被测零件130的衬垫122和124、将电流从控制器电路系统110传导到衬垫122的导体112以及将电流从衬垫124传导到控制器电路系统110的导体114。衬垫122处的电流由零件130传导到衬垫124。控制器电路系统110参照图1C、图2A、图2B、图3和图4进行了更详细的描述。
工作台120还可以包括例如具有带有磁粉的液体的储器(未示出)，或者储器可以与工作台120分开。液体可以在用于生成磁场的电流(磁电流)被施加到零件130之前、或在磁电流被施加到零件130之前和之时喷洒在被测零件130上。控制器电路系统110经由导体112和114向零件130提供磁电流。
通过零件130的磁电流允许在零件130周围形成磁场。零件130中的任何缺点都可能使磁场集中在缺点处，从而由于缺点处更强的磁场而在这些缺点处收集磁粉。然后可以检查零件130的具有磁粉集中的区域以确定这些区域是否是非预期区域。然后可以将非预期区域标记为缺点区域。磁粉可以被着色，使得它们在可见光、UV光或其他(多个)电磁(EM)光谱中很容易被检测到。
测试系统100可以从例如诸如测试地点的电网或发电机等来源，从电池、内置发电机等接收电力。
图1B是展示了根据本公开内容的各方面的另一示例测试系统的框图。图1B类似于图1A的示例测试系统100，不同之处在于不是将磁电流施加到零件130，而是将磁电流施加到磁场发生器126。这可以允许生成不同取向的磁场来测试零件130。
图1C是展示了根据本公开内容的各方面的示例测试系统与外部设备进行通信的框图。参考图1C，控制器电路系统110可以包括以无线方式和/或经由有线与外部设备150进行通信的通信能力。通信可以经由诸如例如USB、以太网、火线等一种或多种适当的有线协议或经由诸如蓝牙、近场通信(NFC)、Wi-Fi、蜂窝协议等无线协议进行。
外部设备150可以是例如工业监测/管理设备、个人计算机、膝上型计算机、服务器、平板计算机、智能手表等。外部设备150可以用于向控制器电路系统110提供输入以测试零件130，和/或用于显示来自测试系统100的任何状态。例如，本公开内容的一些实施例可以允许从测试系统100中的相机(例如，342B)向外部设备150提供图片和/或视频。视频可被存储以供稍后观看、实时观看，或由例如软件应用程序监测以检测磁粉的异常聚集。
因此，一些实施例可以在相机342B拍摄图片和/或视频的同时旋转零件130，而其他实施例可以围绕零件130旋转相机342B。在零件130足够大以至于相机342B不能提供零件130的整个长度的良好视图的情况下，相机342B也可以沿着零件130的长度移动，或者可以有多个相机342B。
图2A是展示了根据本公开内容的各方面的测试系统中的反馈的示例的框图。参考图2A，示出了控制器电路系统110中的一些功能块的框图。控制器电路系统110可以包括操作员界面200、可编程逻辑控制器(PLC)210、电流控制电路系统220、电流源230、分流表240和数字电压表(DVM)250。
操作员界面200可以包括例如输入设备202、输出设备204和磁发射按钮206。输出设备204可以包括例如可以用于向用户传达状态/信息的(多个)显示屏、(多个)灯、(多个)扬声器、(多个)触觉电机等中的一者或多者。输入设备202可以包括例如可以用于输入选择、命令等的键盘、鼠标、(多个)按钮、(多个)滑动开关、(多个)拨号盘、(多个)触摸屏等中的一者或多者。
磁发射按钮206可以例如被按下以指示电流源230应该何时发送磁电流。磁发射按钮206也可以被认为是输入设备202之一。因此，磁发射按钮206可以是物理按钮、物理开关、触摸屏上的软按钮、除操作员界面200之外的另一位置上的推杆等。代替操作员界面200上的磁发射按钮206或除了操作员界面200上的磁发射按钮206之外，各种实施例可以在测试系统100的(多个)其他位置具有磁发射按钮。
PLC 210可以包括处理器212、数字接口电路系统214、控制输出电路系统216和控制输入电路系统218。虽然电路系统212、214、216和218中的每一个都可以包括单独的板/模块，但是本公开的各种实施例不必限于此。例如，数字接口电路系统214可以与处理器212在同一板/电路系统上，并且控制输出电路系统216可以与控制输入电路系统218在同一板/电路系统上。还设想了各种其他配置。
在实施例中，控制输出电路系统216输出模拟信号并且控制输入电路系统218可以接收模拟信号，然而，除了模拟信号之外或者代替模拟信号，它们可以分别输出和接收数字信号。
处理器212执行代码以执行各种功能，这些功能包括对数字接口电路系统214、控制输出电路系统216和控制输入电路系统218的输入和输出进行控制，以将例如磁电流设置为正确的初始值并根据通过控制输入电路系统218接收的反馈来控制磁电流。
因此，控制输出电路系统216可以向电流控制电路系统220输出控制信号，使得激发板(firing board)226可以输出如由PLC 210确定的磁电流。数字接口电路系统214可以向继电器222和224输出信号以确定是输出AC磁电流还是DC磁电流。例如，到继电器224的适当信号可以确定是输出AC磁电流还是DC磁电流，并且到继电器222的适当信号可以确定激发板226何时输出磁电流。输出的磁电流也可以称为磁发射。在从继电器222接收到适当的信号后，激发板226将向电流源230提供触发信号以输出磁发射。
可以有一个或多个激发板226，并且每个激发板可以被配置为控制由电流源230输出的AC磁电流或DC磁电流，或者可以被配置为控制AC磁电流和DC磁电流两者。因此，激发板226可能能够为多个被测零件130触发磁发射。多个零件130可以在同一个测试工作台120上，或者可以有多个测试工作台120。类似地，电流源230可以包括用于为一个或多个被测零件130输出磁发射的单个电路系统，或者可以有用于为每个零件130和/或每个测试工作台120输出磁发射的专用电路系统。
为了便于描述，单个零件130将被描述为在单个测试工作台120上进行测试。因此，在从继电器222接收到适当的信号后，激发板226将向电流源230输出触发信号。然后，电流源230将输出磁发射。磁发射将经由导体112被提供给测试工作台120，或者将被提供给衬垫122或磁场发生器126。然后，来自磁发射的电流将经由导体114返回到控制器电路系统110。
输出电流将由分流表240测量，并且该测量值将以例如每1000安培若干毫伏(mV)为单位被提供给DVM 250。DVM 250可以用于将来自分流表240的测量值放大到例如1V/1000A以供控制输入电路系统218使用。应当注意，分流表240和/或DVM 250可以输出在电流与电压之间具有其他相关性的信号。例如，分流表240可以输出20mV/1000A、70mV/1000A等的信号，或者DVM 250可以输出0.5V/1000A、1.5V/1000A等的信号。因此，分流表240和/或DVM 250可提供在一定值范围内的输出，其中对于不同的实施例该范围可以变化。
此外，分流表240和/或DVM 250可以允许在支持的范围内选择特定的输出相关性。例如，分流表240可以允许选择在10mA/1000A到200mA/1000A之间的输出。类似地，DVM 250可以允许选择在0.5V/1000A到1.5V/1000A之间的输出。
然后，PLC 210中的处理器212可以使用磁发射的反馈来进一步控制激发板226输出更新后的触发信号，该更新后的触发信号将控制电流源230输出具有不同安培数的磁发射。
可以注意的是，虽然为了便于描述以分流表240和DVM 250命名了特定设备，但是本公开内容的各种实施例不必限于此。分流表240可以是被配置为以高安培数(例如，数十、数百、数千安培或某个范围的安培)测量电流的任何适当的电流感测设备，并且DVM 250可以是被配置为将输入信号放大为其输出信号的任何适当的信号转换设备。例如，信号转换设备可以接收50mV/1000A以输出1V/1000A。
此外，虽然电流控制电路系统220被示出为与电流源230分开的块，但是本公开内容的各种实施例可以例如使电流控制电路系统220成为电流源230的一部分。
图2B是展示了根据本公开内容的各方面的测试系统中的另一示例反馈的框图。图2B的测试系统类似于图2A的测试系统，不同之处在于未使用DVM 250。例如，这可能是因为分流表240和/或控制输入电路系统218被配置为使得控制输入接口218可以接收来自分流表240的反馈。
图3是展示了根据本公开内容的各方面的测试系统中的示例控制电路系统的框图。图3示出了根据本公开内容的实施例的示例控制电路系统的框图。参考图3，示出了可以与本公开内容的各种实施例一起使用的示例控制电路系统300。控制器110可以包括例如控制电路系统300的至少一部分。控制电路系统300可以包括例如处理器310、存储器320、通信电路系统330和IO接口340。处理器310可以包括例如一个或多个处理器和/或每个处理器多个核。处理器310可以类似于例如处理器212。
存储器320可以包括非易失性存储器326和易失性存储器328。用于保存本地数据的存储装置可以是存储器320的一部分或包括分开的存储器。操作系统322和应用程序324可以存储在例如非易失性存储器326中，并且可以被复制到易失性存储器328以由处理器310执行。本公开内容的各方面可以使用依赖于设计和/或实施方式的不同存储器架构。例如，本公开内容的一些方面可以使非易失性存储器326中的操作系统322和应用程序324至少部分地从非易失性存储器326执行。
通信电路系统330可以允许控制电路系统300经由例如诸如USB、以太网、火线等有线协议或诸如蓝牙、近场通信(NFC)、Wi-Fi、蜂窝协议等无线协议与另一设备进行通信。通信协议也可以是例如专有协议。为了简单起见，可以将用于通信的各种类型的无线电称为收发器。例如，可以与外部电子设备(包括传感器)进行通信。通信电路系统330还可以用于与诸如本地网络、蜂窝网络等其他网络进行通信。
控制电路系统300还可以包括用于经由输入设备342与用户进行通信的IO模块340，并且输出要在输出设备344上显示的信息。输入设备342可以包括例如开关、滑动开关、按钮、电位计、触敏屏幕(其可以是显示器的一部分)、麦克风等。触敏屏幕可以具有软按钮、开关、滑动开关等模仿其物理对应物。输入设备342还可以包括例如各种传感器342A、一个或多个相机342B等。传感器342A可以包括例如运动传感器、全球定位系统(GPS)传感器等。输出设备344可以包括例如显示器、扬声器、LED等，并且可以向用户提供状态、指令等。因此，输入设备342可以类似于输入设备电路系统202，并且输出设备344可以类似于输出设备电路系统204。
可以使用各种应用程序(软件、固件等)来处理输入。例如，可以使用语音识别应用程序来处理语音命令，可以使用模式识别应用程序来识别对象、对象上的位置和/或模式。例如，相机342B可以提供由测试系统100测试的零件130的图片或视频。模式识别应用程序然后可以识别零件130中存在磁粉集中的区域，并且然后可以将这些区域与数据库进行比较以确定这些区域是否可以指示零件130中的(多个)缺点。
IO模块340还可以包括控制输入电路系统346和控制输出电路系统348，这些电路系统可以用于接口连接到其他模块和/或电子电路系统。IO模块340还可以包括可以类似于控制输入电路系统218的控制输入电路系统346，并且控制输出电路系统348可以类似于控制输出电路系统216。控制输入电路系统346可以被配置为接收模拟和/或数字信号，并且控制输出电路系统348可以被配置为输出模拟和/或数字信号。
在不同的实施例中，处理器310可以使用不同的架构进行操作。例如，处理器310可以使用存储器320来存储要执行的指令，或者处理器310可以具有其自己的存储器312来存储其指令，其中，存储器312可以包括例如易失性和/或非易失性存储器。
各种实施例可以使用不同功能可以以不同方式被分组的其他架构。例如，分组可以在不同的集成电路芯片中进行。或者该分组可以将诸如IO模块340和通信电路系统330等不同设备组合在一起等等。此外，控制电路系统300在逻辑上可以指代各种物理设备。例如，输出设备344中的一个或多个输出设备可以处于与输入设备342中的一个或多个输入设备不同的位置。
尽管可以使用包括触摸面板的各种物理设备来控制测试系统100的各种功能，但是也可以使用语音来发出命令以控制各种功能。语音输入可以由例如麦克风接收，该麦克风是控制电路系统300的输入设备342的一部分。语音命令可以由例如处理器310处理以确定特定命令。然后可以使用特定命令来控制测试系统100。用于语音识别的软件可以是例如存储器320中的操作系统322和/或应用程序324的一部分。
因此，可以看出，控制电路系统300可以被配置为用于不同的用途，包括例如用于操作员界面200、PLC 210、控制器110，以及根据需要用于测试系统100的任何其他部分。在一些实施例中，控制电路系统300可以用于执行操作员界面200和PLC 210中的至少一些的功能。
还可以注意的是，虽然控制电路系统300被示出为块300，但是本公开内容的各个方面可以规定控制电路系统300的不同部分在物理上是分开的。例如，(多个)相机342B中的一个或多个可以安装到示例测试系统100的不同部分/位置。
图4是展示了根据本公开内容的各方面的示例测试系统的使用的流程图。参考图4，示出了包括框402至412的流程图400。在框402中，可以为例如测试系统100中的磁发射选择参数。所选择的参数可以包括例如磁发射的安培数、磁发射的持续时间、磁发射的频率等。所选择的参数还可以包括例如磁发射是AC还是DC。
参数可以经由例如操作员界面200来选择，或者参数可以在另一电子设备(例如，外部设备150)处选择、并且经由通信电路系统330下载到测试系统100。然后，参数可以传送到PLC 210。
在框404中，参数可以由处理器212处理，并且处理器212可以配置控制输出电路系统216以向(多个)激发板226或电流源230输出适当的信号来控制磁电流安培数。在框406中，PLC 210可以向激发板226或电流源230输出信号以生成到电流源230的触发信号，使得电流源230可以输出磁发射。到激发板226或电流源230的信号可以是，例如，当在手动模式下按下磁发射按钮206时，或从外部设备150接收到磁发射信号时，或者当处理器212或控制输出电路系统216确定应该生成下一个磁发射时。
在框408中，分流表240可以测量磁发射的电流安培数。在框410中，电流安培数可以经由例如控制输入电路系统218反馈到PLC 210。在一些实施例中，分流表240的输出可以提供给DVM 250，其中，DVM 250可以适当地放大反馈信号以输入到控制输入电路系统218。在框412中，处理器212可以使用反馈信息来调整磁发射安培数。
通过在反馈回路中使用PLC 210，当看到输出电流由于例如电气系统上的负载而发生变化时，可以实现快速响应时间。因此，通过PLC 210使用反馈响应来快速调整磁发射安培数是非常有利的。可以看出，PLC 210还允许经由灵活的编程微调响应回路，而需要用户查看磁发射的输出、并且然后手动调整后续磁电流的系统对于某些用途(诸如，例如快速且准确地检查许多零件)来说可能太慢了。此外，由于其设计限制，电路板可能无法提供类似的响应时间。一种这样的限制可能是由于例如将电容器和/或电感器用于一些定时功能或测量功能。此外，先前的设计可能无法实现使用PLC作为反馈回路的一部分的本公开内容的当前实施例的准确性或可重复性。
由于如果磁发射安培数大于指定的限制，则测试系统100可能会损坏零件130，因此快速且准确地控制磁发射安培数以避免损坏零件130是有利的。
本公开内容的各种实施例可以公开一种磁粉检查系统，该磁粉检查系统被配置为生成磁场以对零件进行检查，并且该磁粉检查系统包括可编程逻辑控制器(PLC)，该PLC被配置为将针对输出电流的安培数的安培数信号传送到电流源，并且将第一信号传送到电流源以输出该输出电流。该系统还包括电流源，该电流源被配置为基于安培数信号调整输出电流的安培数，并在接收到第一信号后输出该输出电流。该系统进一步包括电流感测设备，该电流感测设备被配置为测量输出电流的输出安培数，并将基于输出安培数的安培数信息传送到信号转换设备，其中，该信号转换设备被配置为基于安培数信息向PLC提供反馈信息，并且其中，该PLC被配置为基于反馈信息更新安培数信号，并将更新后的安培数信号传送到电流源。
输出电流可以为AC电流或DC电流之一。可以将输出电流提供通过被测零件以生成用于零件的磁场，或者可以将输出电流提供给磁场发生器，该磁场发生器被配置为在至少一个取向上生成磁场以用于测试零件。
该系统可以包括界面，该界面被配置为接收针对输出电流的安培数的第一输入、以及用于输出该输出电流的第二输入，其中，该第一输入和该第二输入中的一者或两者是从磁粉检查系统外部的设备接收的。
该磁粉检查系统可以被配置为经由无线通信或有线通信中的一种或两种与外部设备进行通信。第二输入可以是经由作为界面上的显示器的一部分的软按钮、不属于界面上的显示器的一部分的物理输入设备中的一者接收的，或者是从磁粉检查系统外部的设备接收的。该物理输入设备可以是界面的一部分，或者可以是不属于界面的一部分的第二物理设备。
该电流感测设备可以被配置为以每第二数值安培第一数值mV的方式提供针对输出安培数的安培数信息。该信号转换设备可以被配置为接收安培数信息，并以每第二数值安培第三数值mV的方式将安培数信息转换为反馈信息。
该电流源可以包括被配置为接收安培数信号的激发板，并且该激发板可以被配置为向电流源提供激发板安培数信号以配置输出电流的安培数。该电流源可以包括被配置为接收第一信号的激发板，并且该激发板可以被配置为向电流源提供第二信号以输出该输出电流。电流感测设备可以是例如分流表，而信号转换设备可以是例如数字电压表。
本公开内容的各种实施例还可以公开一种磁粉检查系统，该磁粉检查系统被配置为生成磁场以对零件进行检查，该磁粉检查系统包括可编程逻辑控制器(PLC)，该PLC被配置为：将针对输出电流的安培数的安培数信号传送到电流源；并且将第一信号传送到电流源以输出该输出电流。
该系统还可以包括例如电流源，该电流源被配置为基于安培数信号调整输出电流的安培数，并在接收到第一信号后输出该输出电流。该系统还可以包括电流感测设备，该电流感测设备被配置为测量输出电流的输出安培数，并将基于输出安培数的安培数信息传送到PLC作为反馈信息，其中，该PLC可以被配置为基于反馈信息更新安培数信号，并将更新后的安培数信号传送到电流源。
该系统可以包括界面，该界面被配置为接收针对输出电流的安培数的第一输入、以及用于输出该输出电流的第二输入，其中，该第一输入和该第二输入中的一者或两者可以是从磁粉检查系统外部的设备接收的。
该电流源可以包括激发板，该激发板被配置为：接收安培数信号，并且该激发板被配置为向电流源提供激发板安培数信号以配置输出电流的安培数；并且接收第一信号，并且该激发板可以被配置为向电流源提供第二信号以输出该输出电流。
本公开内容的各种实施例还可以公开一种用于使用磁粉检查系统的方法，该方法包括：接收针对输出电流的安培数的输入，该输出电流用于生成磁场以对零件进行检查；由可编程逻辑控制器(PLC)将该输出电流的安培数传送到电流源；以及在接收到用于提供该输出电流的输入后，由该PLC将信号传送到电流源以输出该输出电流。该方法还可以包括：由电流测量设备测量输出电流的输出安培数；基于该输出安培数向PLC提供反馈信息，以及由PLC基于该反馈信息调整该输出电流的安培数。
该方法可以进一步包括：由电流测量设备将针对输出安培数的安培数信息传送到信号转换设备；以及由信号转换设备基于该安培数信息向PLC提供反馈信息。
因此，可以用硬件、软件、和/或硬件和软件的组合来实现本方法和系统。可以以集中方式在至少一个计算系统中实现本方法和/或系统或者以不同的元件遍布在若干互连计算系统上的分布式方式实现本方法和/或系统。适用于执行本文所描述的方法的任何种类的计算系统或其他装置都是适合的。硬件与软件的组合可以包括具有特定程序或其他代码的通用计算系统，该程序或其他代码当被加载和执行时控制该计算系统以使得该计算系统执行本文所描述的方法。另一种实施方式可以包括一个或多个为切割/研磨工具设计的专用集成电路或芯片。一些实施方式可以包括非暂态机器可读(例如，计算机可读)介质(例如，闪速存储器、光盘、磁性存储盘等)，该非暂态机器可读介质上存储有可由机器执行的一个或多个代码行，由此使机器进行本文中所描述的过程。如本文所使用的，术语“非暂态机器可读介质”被定义为包括所有类型的机器可读存储介质并且排除传播信号。
如本文中所使用的，术语“电路”和“电路系统”是指物理电子部件(即，硬件)以及任何软件和/或固件(“代码”)，该软件和/或固件可以配置硬件、由硬件执行和/或以其他方式与硬件相关联。如本文中所使用的，例如，当执行第一组一行或多行代码时，特定处理器和存储器可以包括第一“电路”，并且当执行第二组一行或多行第二代码时，可以包括第二“电路”。如本文所使用的，“和/或”是指清单中由“和/或”结合的多个项中的任何一项或多项。例如，“x和/或y”是指三元素集合{(x),(y),(x,y)}中的任何元素。换言之，“x和/或y”是指“x和y中的一个或两个”。作为另一示例，“x、y和/或z”是指七元素集合{(x),(y),(z),(x,y),(x,z),(y,z),(x,y,z)}中的任何元素。换言之，“x、y和/或z”是指“x、y和z中的一个或多个”。如本文所使用的，术语“示例性”是指用作非限制性示例、实例、或图示。如本文中所使用的，术语“例如(e.g.)”和“例如(for example)”引发一个或多个示例、实例、或图示的清单。如本文所使用的，当电路系统包括某一执行功能所必需的硬件和代码(如果有必要)时，电路系统“能够操作”以执行该功能，而无论该功能的执行是被禁用或未被启用(例如，通过用户可配置的设置、出厂调整等)。
尽管已经参考某些实施方式描述了本方法和/或系统，但是本领域技术人员将理解，在不脱离本方法和/或系统的范围的情况下，可以进行各种改变并且可以替换等效物。例如，所公开的示例的框和/或部件可以被组合、划分、重新布置和/或以其他方式被修改。附加地，在不脱离本公开内容范围的情况下，可以做出许多修改以使特定情况或材料适应于本公开内容的教导。因此，本方法和/或系统不限于所公开的特定实施方式。替代地，本方法和/或系统将包括无论是从字面上还是依据等同原则都落入所附权利要求的范围内的所有实施方式。
Claims (20)
1.一种磁粉检查系统，被配置为生成磁场以对零件进行检查，所述磁粉检查系统包括：
可编程逻辑控制器(PLC)，被配置为：
将针对输出电流的安培数的安培数信号传送到电流源；并且
将第一信号传送到所述电流源以输出所述输出电流，其中，所述电流源被配置为：
基于所述安培数信号调整所述输出电流的安培数；并且
在接收到所述第一信号后输出所述输出电流；以及
电流感测设备，被配置为：
测量所述输出电流的输出安培数；并且
将基于所述输出安培数的安培数信息传送到信号转换设备，
其中，所述信号转换设备被配置为基于所述安培数信息向所述PLC提供反馈信息，并且
其中，所述PLC被配置为基于所述反馈信息更新所述安培数信号，并将更新后的安培数信号传送到所述电流源。
2.如权利要求1所述的系统，其中，所述输出电流为AC电流或DC电流之一。
3.如权利要求1所述的系统，其中，所述输出电流被提供通过所述零件，从而为所述零件生成所述磁场。
4.如权利要求1所述的系统，包括磁场发生器，被配置为在至少一个取向上生成所述磁场。
5.如权利要求1所述的系统，包括界面，被配置为接收针对所述输出电流的安培数的第一输入、以及用于输出所述输出电流的第二输入。
6.如权利要求5所述的系统，其中，所述第一输入和所述第二输入中的一者或两者是从所述磁粉检查系统外部的设备接收的。
7.如权利要求6所述的系统，其中，所述磁粉检查系统被配置为经由无线通信或有线通信中的一种或两种与所述外部设备进行通信。
8.如权利要求5所述的系统，其中，所述第二输入是经由作为所述界面上的显示器的一部分的软按钮、不属于所述界面上的显示器的一部分的物理输入设备中的一者接收的，或者是从所述磁粉检查系统外部的设备接收的。
9.如权利要求8所述的系统，其中，所述物理输入设备是所述界面的一部分，或者是不属于所述界面的一部分的第二物理设备。
10.如权利要求1所述的系统，其中，所述电流感测设备被配置为以每第二数值安培第一数值mV的方式提供针对所述输出安培数的安培数信息。
11.如权利要求10所述的系统，其中，所述信号转换设备被配置为：
接收所述安培数信息；并且
以每第二数值安培第三数值mV的方式将所述安培数信息转换为反馈信息。
12.如权利要求1所述的系统，其中，所述电流源包括被配置为接收所述安培数信号的激发板，并且所述激发板被配置为向所述电流源提供激发板安培数信号以配置所述输出电流的安培数。
13.如权利要求1所述的系统，其中，所述电流源包括被配置为接收所述第一信号的激发板，并且所述激发板被配置为向所述电流源提供第二信号以输出所述输出电流。
14.如权利要求1所述的系统，其中，所述电流感测设备是分流表。
15.如权利要求1所述的系统，其中，所述信号转换设备是数字电压表。
16.一种磁粉检查系统，被配置为生成磁场以对零件进行检查，所述磁粉检查系统包括：
可编程逻辑控制器(PLC)，被配置为：
将针对输出电流的安培数的安培数信号传送到电流源；并且
将第一信号传送到所述电流源以输出所述输出电流，其中，所述电流源被配置为：
基于所述安培数信号调整所述输出电流的安培数；并且
在接收到所述第一信号后输出所述输出电流；以及
电流感测设备，被配置为：
测量所述输出电流的输出安培数；并且
将基于所述输出安培数的安培数信息传送到所述PLC作为反馈信息，
其中，所述PLC被配置为基于所述反馈信息更新所述安培数信号，并将更新后的安培数信号传送到所述电流源。
17.如权利要求16所述的系统，包括界面，被配置为接收针对所述输出电流的安培数的第一输入、以及用于输出所述输出电流的第二输入，其中，所述第一输入和所述第二输入中的一者或两者是从所述磁粉检查系统外部的设备接收的。
18.如权利要求16所述的系统，其中，所述电流源包括激发板，所述激发板被配置为：
接收所述安培数信号，并且所述激发板被配置为向所述电流源提供激发板安培数信号以配置所述输出电流的安培数；并且
接收所述第一信号，并且所述激发板被配置为向所述电流源提供第二信号以输出所述输出电流。
19.一种用于使用磁粉检查系统对零件进行检查的方法，所述方法包括：
接收针对输出电流的安培数的输入，所述输出电流用于生成磁场以对所述零件进行检查；
由可编程逻辑控制器(PLC)将所述输出电流的安培数传送到电流源；
在接收到用于提供所述输出电流的输入后，由所述PLC将信号传送到所述电流源以输出所述输出电流；
由电流测量设备测量所述输出电流的输出安培数；
基于所述输出安培数向所述PLC提供反馈信息；以及
由所述PLC基于所述反馈信息调整所述输出电流的安培数。
20.如权利要求19所述的方法，包括：
由所述电流测量设备将针对所述输出安培数的安培数信息传送到信号转换设备；以及
由所述信号转换设备基于所述安培数信息向所述PLC提供所述反馈信息。
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US201962825902P | 2019-03-29 | 2019-03-29 | |
| US62/825,902 | 2019-03-29 | ||
| US16/830,358 | 2020-03-26 | ||
| US16/830,358 US11300544B2 (en) | 2019-03-29 | 2020-03-26 | Methods and systems for controlling output amperage |
| PCT/US2020/025115 WO2020205466A1 (en) | 2019-03-29 | 2020-03-27 | Methods and systems for controlling output amperage |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114026512A true CN114026512A (zh) | 2022-02-08 |
Family
ID=72605765
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202080023203.6A Pending CN114026512A (zh) | 2019-03-29 | 2020-03-27 | 用于控制输出安培数的方法和系统 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11300544B2 (zh) |
| EP (2) | EP4395177A2 (zh) |
| JP (1) | JP7514857B2 (zh) |
| KR (1) | KR20210146377A (zh) |
| CN (1) | CN114026512A (zh) |
| CA (1) | CA3134133A1 (zh) |
| MX (1) | MX2021011409A (zh) |
| WO (1) | WO2020205466A1 (zh) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4443759A (en) * | 1981-05-07 | 1984-04-17 | Magnaflux Corporation | Magnetizing current supply for magnetic particle inspection with SCR's connected to three-phase secondary windings for rectification and control |
| US4502004A (en) * | 1980-06-30 | 1985-02-26 | Schindler John A | Current pulse monitor |
| US5534775A (en) * | 1993-03-16 | 1996-07-09 | Ico, Inc. | Method and apparatus for noncontact magnetic particle stray magnetic flux testing of cylindrical members |
| US5689183A (en) * | 1994-08-11 | 1997-11-18 | Kaisei Engineer Co., Ltd. | Electromagnetic-induction type inspection device employing two induction coils connected in opposite phase relation |
| US20100235111A1 (en) * | 2009-03-12 | 2010-09-16 | Sheet Dynamics Ltd. | Managing non-destructive evaluation data |
| CN105866242A (zh) * | 2016-06-22 | 2016-08-17 | 中国人民解放军海军航空工程学院青岛校区 | 智能磁粉探伤机 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN2826426Y (zh) | 2005-10-13 | 2006-10-11 | 曾德文 | 磁粉探伤电流的控制装置 |
| US8945946B2 (en) * | 2006-03-31 | 2015-02-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Sensor element and detection method of magnetic particles using this element, and detection method of target substance |
| US7821220B2 (en) * | 2006-09-29 | 2010-10-26 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Motor having integral programmable logic controller |
| US9530008B2 (en) * | 2013-05-29 | 2016-12-27 | Infineon Technologies Ag | System and method for a processing device with a priority interrupt |
| CN103323521B (zh) | 2013-05-31 | 2016-09-21 | 中国一拖集团有限公司 | 一种具备交直流纵向闭路磁化功能的配置方法及探伤机 |
| CN104931578B (zh) | 2015-06-04 | 2018-07-31 | 上海平野磁气有限公司 | 多工位曲轴磁粉探伤机 |
-
2020
- 2020-03-26 US US16/830,358 patent/US11300544B2/en active Active
- 2020-03-27 EP EP24162188.7A patent/EP4395177A2/en active Pending
- 2020-03-27 EP EP20721884.3A patent/EP3948461A1/en not_active Ceased
- 2020-03-27 MX MX2021011409A patent/MX2021011409A/es unknown
- 2020-03-27 CA CA3134133A patent/CA3134133A1/en active Pending
- 2020-03-27 JP JP2021557918A patent/JP7514857B2/ja active Active
- 2020-03-27 CN CN202080023203.6A patent/CN114026512A/zh active Pending
- 2020-03-27 WO PCT/US2020/025115 patent/WO2020205466A1/en unknown
- 2020-03-27 KR KR1020217035242A patent/KR20210146377A/ko unknown
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4502004A (en) * | 1980-06-30 | 1985-02-26 | Schindler John A | Current pulse monitor |
| US4443759A (en) * | 1981-05-07 | 1984-04-17 | Magnaflux Corporation | Magnetizing current supply for magnetic particle inspection with SCR's connected to three-phase secondary windings for rectification and control |
| US5534775A (en) * | 1993-03-16 | 1996-07-09 | Ico, Inc. | Method and apparatus for noncontact magnetic particle stray magnetic flux testing of cylindrical members |
| US5689183A (en) * | 1994-08-11 | 1997-11-18 | Kaisei Engineer Co., Ltd. | Electromagnetic-induction type inspection device employing two induction coils connected in opposite phase relation |
| US20100235111A1 (en) * | 2009-03-12 | 2010-09-16 | Sheet Dynamics Ltd. | Managing non-destructive evaluation data |
| CN105866242A (zh) * | 2016-06-22 | 2016-08-17 | 中国人民解放军海军航空工程学院青岛校区 | 智能磁粉探伤机 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA3134133A1 (en) | 2020-10-08 |
| KR20210146377A (ko) | 2021-12-03 |
| JP7514857B2 (ja) | 2024-07-11 |
| MX2021011409A (es) | 2021-10-13 |
| WO2020205466A1 (en) | 2020-10-08 |
| US20200309736A1 (en) | 2020-10-01 |
| JP2022527106A (ja) | 2022-05-30 |
| US11300544B2 (en) | 2022-04-12 |
| EP4395177A2 (en) | 2024-07-03 |
| EP3948461A1 (en) | 2022-02-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN107305234B (zh) | 测量设备 | |
| CN108508343A (zh) | 一种印制电路板的检测装置及方法 | |
| CN107462821B (zh) | 晶圆测试机台的远端监控方法及系统 | |
| US20110112999A1 (en) | Method for predicting and warning of wafer acceptance test value | |
| JP2006204013A (ja) | 電源投入順序制御装置、方法及びプログラム | |
| JP7514857B2 (ja) | 出力アンペア数を制御する方法及びシステム | |
| US10178450B2 (en) | High-speed converter, measurement system, and computer-readable medium | |
| CN208270727U (zh) | 一种控制板测试装置及其测试系统 | |
| JP6867002B2 (ja) | Ｅｍｃ試験タイミング発生システム | |
| CN109541443A (zh) | 实时时钟检测装置及方法 | |
| CN112666868B (zh) | 一种具有自标定自检验功能的数据采集装置及其使用方法 | |
| RU137698U1 (ru) | Программно-аппаратный комплекс контроля параметров радиостанций р-168-100у | |
| US20220011364A1 (en) | Wireless electronic-control system | |
| KR101721825B1 (ko) | 반도체 및 엘시디 공정 설비 검사 방법 및 장치 | |
| US11809146B2 (en) | Machine learning device, prediction device, and control device for preventing collision of a moveable part | |
| US11016059B2 (en) | Magnetic wet benches with automated sample collection | |
| CN103944653A (zh) | 一种针对低功率射频电路的测试方法及装置 | |
| JP6798834B2 (ja) | 検査装置、検査システム、検査方法、及び検査プログラム | |
| CN117193233A (zh) | 主控板测试方法、电子设备及测试系统 | |
| BORGDen et al. | Quality validation of PCB-mounted sensors to prevent counterfeit components | |
| US20190025789A1 (en) | Hot cutover box | |
| Sultana et al. | Microcontroller Based Assembly Check and Built-In Self Test | |
| KR20240036299A (ko) | 전원 변동 시험 장치 및 방법 | |
| Dolotov et al. | Automation of testing modules of controller ELSY-ТМК | |
| CN116879827A (zh) | 实时电压校准系统及方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |