CN114022478A - 全自动激光器Bar条芯片点数方法及其装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种全自动激光器Bar条芯片点数方法及其装置。本发明提供的Bar条芯片点数方法,包括获取Bar条的芯片初始数据;获取Bar条的图像信息,对图像信息进行灰度处理,得到Bar条的芯片灰度特征值,并判断Bar条两端芯片是否为有效芯片;当Bar条两端的芯片均为有效芯片时,测量Bar条两端有效芯片在Bar条长度方向的最大距离,作为Bar条有效长度;计算得到Bar条芯片数量。本申请提供的全自动激光器Bar条芯片点数方法,利用获取到的Bar条的芯片灰度特征值对Bar条两端的芯片进行判断,提高识别的准确度,减少人工在显微镜下操作带来的误判,同时简化计算过程,提高计算速度,提升工作效率。
Description
技术领域
本发明涉及激光半导体检测的技术领域,特别涉及一种全自动激光器Bar条芯片点数方法及其装置。
背景技术
Bar条,又称为LD(laser diode)Bar条,是一种半导体激光bar条,主要应用于全固态激光器的泵浦源,将多个LD组合在一起,可以提高泵浦的功率。
在Bar条制备完成并准备出货前,需对包装盒内的Bar条条数以及Bar条所包含芯片的总颗数进行确认,现有的确认方式主要是通过人工对Bar条逐条进行清点来确定Bar条条数,并且根据每条Bar条首尾芯片的编号来计算该Bar条所含的芯片颗数,最后计算得出包装盒内的芯片总颗数,然而人工操作时需要在显微镜下查看芯片编号,人工计算速度缓慢,工作效率低下,容易对芯片产生误判,计算准确率低。
发明内容
针对上述现有技术存在的不足之处,本发明提供了一种全自动激光器Bar条芯片点数方法及其装置,主要目的在于解决现有的Bar条芯片点数方法需要人工清点,计算效率低下,计算准确率低的问题。
本发明一方面提供了一种全自动激光器Bar条芯片点数方法,包括:
获取Bar条的芯片初始数据,其中,所述芯片初始数据包括相邻两个芯片之间的缝隙距离和所述芯片的宽度;
获取所述Bar条的图像信息,对所述图像信息进行灰度处理,得到所述Bar条的芯片灰度特征值,根据所述Bar条的芯片灰度特征值判断所述Bar条两端的芯片是否为有效芯片;
当所述Bar条两端的芯片均为有效芯片时,测量所述Bar条两端的有效芯片在所述Bar条长度方向的最大距离,作为所述Bar条的有效长度;
根据所述Bar条的有效长度、所述相邻两个芯片之间的缝隙距离和所述芯片的宽度,得到所述Bar条的芯片数量。
可选的,所述获取Bar条的芯片初始数据包括:
对所述Bar条包装盒上的图形码进行识别,读取所述Bar条的芯片产品信息;
采用所述Bar条的芯片产品信息,确定所述Bar条的芯片初始数据。
可选的,所述获取所述Bar条的图像信息包括:
将所述Bar条置于检测区域内;
对所述检测区域进行照明,使得所述Bar条的芯片亮度提升;
对所述检测区域的所述Bar条的芯片进行拍照。
可选的,所述根据所述Bar条的芯片灰度特征值判断所述Bar条两端的芯片是否为有效芯片包括:
将所述Bar条两端芯片的灰度特征值与预设灰度阈值进行比对,得到比对结果;
若所述比对结果显示所述Bar条两端芯片的灰度特征值不超过所述预设灰度阈值,则所述Bar条两端的芯片均为有效芯片。
进一步的,所述根据所述Bar条的芯片灰度特征值判断所述Bar条两端的芯片是否为有效芯片还包括:
若所述比对结果显示,所述Bar条两端芯片中的一个芯片或者两个芯片的灰度特征值超过所述预设灰度阈值,则所述Bar条两端芯片中的一个芯片或者两个芯片为无效芯片;
以所述Bar条两端芯片中的所述无效芯片为起始芯片,沿所述Bar条的长度方向,依次对所述起始芯片的相邻芯片的灰度特征值与所述预设灰度阈值进行比对;
当存在所述相邻芯片的灰度特征值不超过所述预设灰度阈值时停止比对,直至所述Bar条两端均为有效芯片。
可选的,所述全自动激光器Bar条芯片点数方法还包括:
依次对所述Bar条的包装盒内的Bar条进行点数,得到结果数据,其中,所述结果数据包括所述包装盒内的所述Bar条的数量和所述包装盒内Bar条包含的芯片颗数;
显示并存储所述结果数据。
本发明提供的一种全自动激光器Bar条芯片点数方法,首先获取Bar条的芯片初始数据,再获取Bar条的图像信息以得到Bar条的芯片灰度特征值,根据Bar条的芯片灰度特征值来判断Bar条两端的芯片是否为有效芯片,当Bar条两端的芯片均为有效芯片时,测量得到Bar条的有效长度,最后根据Bar条的有效长度和Bar条的芯片初始数据计算得到Bar条的芯片数量。上述方法利用获取到的Bar条的芯片灰度特征值对Bar条两端的芯片的类型进行判断,提高识别的准确度,减少人工在显微镜下操作带来的误判,同时根据测量得到的Bar条的有效长度来计算Bar条的芯片数量,简化计算过程,提高计算速度,更快速的得到计算结果。
本发明另一方面提供了一种全自动激光器Bar条芯片点数装置,用于实现全自动激光器Bar条芯片点数方法,包括:
固定组件,包括底座和支架,所述支架与所述底座垂直连接;
拍摄组件,所述拍摄组件与所述支架连接;
光源组件,所述光源组件与所述支架连接,设在所述拍摄组件的底部,且与所述拍摄组件同轴设置;
夹具,所述夹具设在所述底座上,且位于所述拍摄组件竖直投影的范围内。
可选的,所述拍摄组件包括工业相机和镜头,所述工业相机设在所述镜头的顶部,并与所述镜头可拆卸连接,其中,所述镜头为双远心镜头。
可选的,所述全自动激光器Bar条芯片点数装置还包括滑台,所述拍摄组件通过所述滑台与所述支架滑动连接。
可选的,所述光源组件包括同轴光源、光源固定架和光源控制器,所述同轴光源通过所述光源固定架与所述支架连接,所述光源控制器设在所述支架上,且与所述同轴光源电连接。
本发明提供的全自动激光器Bar条芯片点数装置,包括固定组件、拍摄组件、光源组件和夹具,其中固定组件包括底座和支架,支架与底座垂直连接;拍摄组件与支架连接;光源组件与支架连接,设在拍摄组件的底部,且与拍摄组件同轴设置;夹具设在底座上且位于拍摄组件竖直投影的范围内。上述装置可将待检测的Bar条放置在夹具内,夹具位于拍摄组件的范围内,通过拍摄组件与光源组件配合使用,仅需要一次拍照便可直接获取到包装盒内所有的Bar条图像信息,取代人工在显微镜下多次移动相机或者Bar条进行点数,加快点数进程,提高工作效率和识别准确率。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1为本发明实施例提供的全自动激光器Bar条芯片点数方法的流程示意图;
图2为本发明实施例提供的全自动激光器Bar条芯片点数装置的结构示意图;
图3为本发明实施例提供的全自动激光器Bar条芯片点数装置的同轴光源的内部结构图。
图中:
1-底座,2-支架,3-工业相机,4-镜头,5-滑台,6-同轴光源,7-光源固定架,8-光源控制器,9-夹具。
具体实施方式
本发明下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在Bar条制备完成并准备出货前,需对包装盒内的Bar条条数以及Bar条所包含芯片的总颗数进行确认,现有的确认方式主要是通过人工对Bar条逐条进行清点来确定Bar条条数,并且根据每条Bar条首尾芯片的编号来计算该Bar条所含的芯片颗数,最后计算得出包装盒内的芯片总颗数,然而人工操作时需要在显微镜下查看芯片编号,人工计算速度缓慢,工作效率低下,容易对芯片产生误判,计算准确率低。
本发明在一个实施例中,一方面提供了一种全自动激光器Bar条芯片点数方法,如图1所示,以该方法应用于计算机设备为例,该方法包括以下步骤:
S101、获取Bar条的芯片初始数据,其中,芯片初始数据包括相邻两个芯片之间的缝隙距离和芯片的宽度;
Bar条的芯片初始数据包含同一批次下不同类型、不同型号的基本尺寸信息,其中,基本尺寸信息包括相邻两个芯片之间的缝隙距离和芯片的宽度的尺寸数据等。
S102、获取Bar条的图像信息,对图像信息进行灰度处理,得到Bar条的芯片灰度特征值,根据Bar条的芯片灰度特征值判断Bar条两端的芯片是否为有效芯片;
对图像信息进行灰度处理又称为灰度化,是指在RGB模型中,如果R=G=B时,则彩色表示一种灰度颜色,其中R=G=B的值叫灰度特征值,因此,灰度图像每个像素只需一个字节存放灰度特征值,灰度特征值又称强度值或者亮度值,灰度特征值范围为0-255,获取到Bar条的所有芯片的灰度特征值,进而对Bar条两端芯片的芯片类型进行判断。
S103、当Bar条两端的芯片均为有效芯片时,测量Bar条两端的有效芯片在Bar条长度方向的最大距离,作为Bar条的有效长度;
在对Bar条进行切割时,Bar条的两端会有切断的痕迹,痕迹处的芯片可能已经损伤也可能无损伤,对Bar条两端的芯片进行识别,当Bar条两端的芯片均为有效芯片时,可以确保Bar条两端之间的芯片皆为有效芯片,测量Bar条两端芯片最外侧边缘之间的距离即可得到Bar条的有效长度。
S104、根据Bar条的有效长度、相邻两个芯片之间的缝隙距离和芯片的宽度,得到Bar条的芯片数量。
通过测量得到的Bar条的有效长度以及最初获取到的Bar条的芯片初始数据中的相邻两个芯片之间的缝隙距离和芯片的宽度,利用公式:
L=N*d+(N-1)*w
其中,L为Bar条的有效长度,d为芯片的宽度,w为相邻两个芯片之间的缝隙距离,N为有效芯片的芯片数量,通过计算便可准确的获取Bar条的芯片数量。
本实施例提供的全自动激光器Bar条芯片点数方法,利用获取到的Bar条的芯片灰度特征值对Bar条两端的芯片的类型进行判断,提高识别的准确度,减少人工在显微镜下操作带来的误判,同时根据测量得到的Bar条的有效长度来计算Bar条的芯片数量,简化计算过程,提高计算速度,更快速的得到计算结果。
在一个实施例中,上述步骤101中获取Bar条的芯片初始数据可以通过以下方式实现:对Bar条包装盒上的图形码进行识别,读取Bar条的芯片产品信息;采用Bar条的芯片产品信息,确定Bar条的芯片初始数据。
在上述实施例中,使用扫码枪扫描包装盒上的图形码,得到Bar条的芯片产品信息,产品信息包括此包装盒内芯片的型号、批次号以及工单号等,利用获取到的Bar条的芯片产品信息,便可获得Bar条的芯片初始数据,芯片初始数据包括该批次下芯片的基本尺寸信息,通过扫描包装盒上的图形码,使得获取芯片的基本尺寸信息更加方便。
在一个实施例中,上述步骤102中获取Bar条的图像信息可以通过以下方式实现:将Bar条置于检测区域内;对检测区域进行照明,使得Bar条的芯片亮度提升;对检测区域的Bar条的芯片进行拍照识别。
在上述实施例中,将Bar条放置在检测区域内,Bar条的芯片也全部位于检测区域内,对检测区域进行照明,使得Bar条的芯片亮度提升,便于识别,最后对Bar条的芯片进行拍照识别,便可获取Bar条的图像信息,通过对检测区域进行照明,使得对Bar条的芯片的识别更加准确。
在一个实施例中,上述步骤102中根据Bar条的芯片灰度特征值判断Bar条两端的芯片是否为有效芯片可以通过以下方式实现:将Bar条两端芯片的灰度特征值与预设灰度阈值进行比对,得到比对结果;若比对结果显示Bar条两端芯片的灰度特征值不超过预设灰度阈值,则Bar条两端的芯片均为有效芯片。
在上述实施例中,对Bar条的图像信息进行灰度处理后,得到Bar条的所有芯片的灰度特征值,由于Bar条整体进行产出后,经过多段切割,生成多段Bar条,每条Bar条两端的芯片受切割影响而损坏,具体表现为芯片表面涂层受损,会出现蓝黑色的损伤痕迹,所以损伤的芯片灰度特征值较高,对Bar条两端的芯片灰度特征值与预设灰度阈值进行比对,当灰度特征值不超过预设灰度阈值,则可判定此芯片为有效芯片,例如,预设灰度阈值为70,当检测到一个芯片的灰度特征值是50,则该芯片为有效芯片,而当检测到一个芯片的灰度特征值是100,则该芯片为无效芯片,其中,预设灰度阈值可以采用系统默认数值,也可以由相关工作人员根据具体运行情况进行设置,本申请对预设阈值的数值大小的设置方式不进行具体限定,仅通过检测Bar条两端芯片的灰度特征值可以简化判断流程,快速确定整个Bar条整体有效芯片的个数。
在一个实施例中,根据Bar条的芯片灰度特征值判断Bar条两端的芯片是否为有效芯片还可以通过以下方式实现:若比对结果显示,Bar条两端芯片中的一个芯片或者两个芯片的灰度特征值超过预设灰度阈值,则Bar条两端芯片中的一个芯片或者两个芯片为无效芯片;以Bar条两端芯片中的无效芯片为起始芯片,沿Bar条的长度方向,依次对起始芯片的相邻芯片的灰度特征值与预设灰度阈值进行比对;当存在相邻芯片的灰度特征值不超过预设灰度阈值时停止比对,直至Bar条两端均为有效芯片。
在上述实施例中,当出现Bar条两端的芯片灰度特征值超过预设灰度阈值,说明Bar条两端的芯片包含无效芯片,无效芯片无法作为计算Bar条数量的其实芯片,以检测到的Bar条端部的无效芯片作为起始芯片,沿Bar条的长度方向,依次对起始芯片的相邻芯片的灰度特征值与预设灰度阈值进行比对,直到找到一个相邻芯片的灰度特征值不超过预设灰度阈值,停止比对过程,以距离起始的无效芯片最近的有效芯片作为Bar条新的端点,两端同时进行检测过程,最后确定Bar条新的两端,确保Bar条新的两端之间的芯片均为有效芯片,进而继续进行点数计算过程,同时当Bar条端部或者有效芯片与无效芯片的边界刚好处于包装盒内白色条上面时,人工利用显微镜下很难进行准确观测,而采用本申请的判别方法则可以准确进行识别。
在一个实施例中,全自动激光器Bar条芯片点数方法还包括依次对Bar条的包装盒内的Bar条进行点数,得到结果数据,其中,结果数据包括包装盒内的Bar条的数量和包装盒内Bar条包含的芯片颗数;显示并存储结果数据。
在上述实施例中,当一个Bar条包装盒内装有多条芯片时,按照预设的顺序依次对Bar条包装盒内所有芯片进行点数,最终可获取到包装盒内的Bar条的数量和包装盒内Bar条包含的芯片颗数,将最后得到的点数结果进行储存,并将结果显示在输出设备上,便于工作人员第一时间直观获得点数结果,同时,在获取到Bar条的图像信息后,根据得到的Bar条的图像信息对Bar条进行编号,例如,将包装盒内Bar条按照横向3列,纵向至少100行的方式进行排列,对所有的Bar条按照图像视野内从上到下,从左到右依次进行编号,获得每个Bar条专属的编号,点数结果中Bar条专属的编号与Bar条包含的芯片颗数一一对应,便于后续根据Bar条的编号对Bar条的芯片颗粒数目进行查询。
本发明另一方面提供了一种全自动激光器Bar条芯片点数装置,用于实现上述的全自动激光器Bar条芯片点数方法,参见图2,包括固定组件、拍摄组件、光源组件和夹具9,其中固定组件包括底座1和支架2,支架2与底座1垂直连接;拍摄组件与支架2连接;光源组件与支架2连接,设在拍摄组件的底部,且与拍摄组件同轴设置;夹具9,夹具9设在底座1上,且位于拍摄组件竖直投影的范围内。
本发明提供的全自动激光器Bar条芯片点数装置,将待检测的Bar条放置在夹具9内,夹具9位于拍摄组件的范围内,通过拍摄组件与光源组件配合使用,仅需要一次拍照便可直接获取到包装盒内所有的Bar条图像信息,取代人工在显微镜下多次移动相机或者Bar条进行点数,加快点数进程,提高工作效率和识别准确率。
其中,夹具9优选为兼容式夹具,兼容式夹具的大小可以调节,夹持范围可调,能够在一定范围内可以匹配多种尺寸的包装盒,并且可以调整夹具9四周的间隙,便于轻松的将Bar条包装盒放置在夹具9内以及取下,并且可选用较大尺寸的Bar条包装盒。可以一次性装载更多的Bar条,其中,Bar条包装盒的尺寸优选为110mm*75mm。
具体地,在上述实施例中,拍摄组件包括工业相机3和镜头4,工业相机3设在镜头4的顶部,并与镜头4可拆卸连接,其中,镜头4为双远心镜头。
在本实施方式中,工业相机3不仅能够用于拍照,还可将光信号转变成有序的电信号,再将电信号传递至预设的视觉识别软件内,进而将拍照获得图像信息通过视觉识别软件进行处理,当被测的Bar条包装盒尺寸较大的情况下,传统方式多采用工业相机3移动进行多次拍照来实现,这样对Bar条包装盒摆放要求较高,且相邻两次拍照边缘处需要在物理上有明显区分,具有一定局限性且存在误判的可能,而本申请采用大视野的镜头4并匹配相应的光源,可以避免上述缺陷,其中,镜头4优选为双远心大视野镜头,型号为XF-PTL13716-C,选用大视野的镜头4可通过一次拍照便取得包装盒内所有Bar条的图像信息,提升装置工作效率,避免人工多次移动相机或者移动Bar条造成取得的图像信息出现误差,提升了识别的精准度。
具体地,在上述实施例中,全自动激光器Bar条芯片点数装置还包括滑台5,拍摄组件通过滑台5与支架2滑动连接。
在本实施方式中,滑台5可以带动拍摄组件沿着支架2的竖直方向内移动,可根据实际拍摄状况以及拍摄需求,调节拍摄组件的镜头4与被测Bar条之间的间距,获得更好的拍摄效果,使得视觉识别软件可以更准确的处理图像信息,其中,全自动激光器Bar条芯片点数装置还包括电源模块,用于对拍摄组件和光源组件进行供电,当滑台5为电动滑台时,电源模块同时对滑台5进行供电。
具体地,在上述实施例中,光源组件包括同轴光源6、光源固定架7和光源控制器8,同轴光源6通过光源固定架7与支架2连接,光源控制器8设在支架2上,且与同轴光源6电连接。
在本实施方式中,参见图2和图3,同轴光源6设在镜头4和被测的Bar条包装盒之间且尽量靠近镜头4,光源控制器8用于控制同轴光源6工作,当光源控制器8接受到控制信号时,光源控制器8控制光源组件为夹具9内的待检测的Bar条包装盒提供照明,由于本申请的Bar条芯片点数方法需要对Bar条边缘处的芯片进行识别,因此采用同轴光源6,提供了比传统光源更均匀的照明,能够凸显物体表面不平整,克服表面反光造成的干扰,因此提高了机器视觉的准确性和重现性。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
通过本发明提供的全自动激光器Bar条芯片点数装置用于实现全自动激光器Bar条芯片点数方法的步骤如下:
(1)使用扫码枪扫描Bar条包装盒上的图形码,得到包装盒内的Bar条的芯片初始数据。
(2)将Bar条包装盒放入到夹具内,通过控制光源组件为Bar条包装盒提供照明,利用拍摄组件对Bar条包装盒内的Bar条进行拍摄,获取Bar条的图像信息,对图像信息进行处理,获得Bar条的有效长度。
(3)根据Bar条的有效长度以及包装盒内的Bar条的芯片初始数据,计算得到Bar条包装盒内的Bar条条数以及Bar条芯片的总颗数,显示结果数据并将结果数据进行储存。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种全自动激光器Bar条芯片点数方法,其特征在于,所述方法包括:
获取Bar条的芯片初始数据,其中,所述芯片初始数据包括相邻两个芯片之间的缝隙距离和所述芯片的宽度;
获取所述Bar条的图像信息,对所述图像信息进行灰度处理,得到所述Bar条的芯片灰度特征值,根据所述Bar条的芯片灰度特征值判断所述Bar条两端的芯片是否为有效芯片;
当所述Bar条两端的芯片均为有效芯片时,测量所述Bar条两端的有效芯片在所述Bar条长度方向的最大距离,作为所述Bar条的有效长度;
根据所述Bar条的有效长度、所述相邻两个芯片之间的缝隙距离和所述芯片的宽度,得到所述Bar条的芯片数量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取Bar条的芯片初始数据包括:
对所述Bar条包装盒上的图形码进行识别,读取所述Bar条的芯片产品信息;
采用所述Bar条的芯片产品信息,确定所述Bar条的芯片初始数据。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述Bar条的图像信息包括:
将所述Bar条置于检测区域内;
对所述检测区域进行照明,使得所述Bar条的芯片亮度提升;
对所述检测区域的所述Bar条的芯片进行拍照。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述Bar条的芯片灰度特征值判断所述Bar条两端的芯片是否为有效芯片包括:
将所述Bar条两端芯片的灰度特征值与预设灰度阈值进行比对,得到比对结果;
若所述比对结果显示所述Bar条两端芯片的灰度特征值不超过所述预设灰度阈值时,则所述Bar条两端的芯片均为有效芯片。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,根据所述Bar条的芯片灰度特征值判断所述Bar条两端的芯片是否为有效芯片还包括:
若所述比对结果显示,所述Bar条两端芯片中的一个芯片或者两个芯片的灰度特征值超过所述预设灰度阈值,则所述Bar条两端芯片中的一个芯片或者两个芯片为无效芯片;
以所述Bar条两端芯片中的所述无效芯片为起始芯片,沿所述Bar条的长度方向,依次对所述起始芯片的相邻芯片的灰度特征值与所述预设灰度阈值进行比对;
当存在所述相邻芯片的灰度特征值不超过所述预设灰度阈值时停止比对,直至所述Bar条两端均为有效芯片。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
依次对所述Bar条的包装盒内的Bar条进行点数,得到结果数据,其中,所述结果数据包括所述包装盒内的所述Bar条的数量和所述包装盒内Bar条包含的芯片颗数;
显示并存储所述结果数据。
7.一种全自动激光器Bar条芯片点数装置,用于实现如权利要求1-6中任一所述的全自动激光器Bar条芯片点数方法,其特征在于,包括:
固定组件,包括底座(1)和支架(2),所述支架(2)与所述底座(1)垂直连接;
拍摄组件,所述拍摄组件与所述支架(2)连接;
光源组件,所述光源组件与所述支架(2)连接,设在所述拍摄组件的底部,且与所述拍摄组件同轴设置;
夹具(9),所述夹具(9)设在所述底座(1)上,且位于所述拍摄组件竖直投影的范围内。
8.根据权利要求7所述的全自动激光器Bar条芯片点数装置,其特征在于,所述拍摄组件包括工业相机(3)和镜头(4),所述工业相机(3)设在所述镜头(4)的顶部,并与所述镜头(4)可拆卸连接,其中,所述镜头(4)为双远心镜头。
9.根据权利要求7所述的全自动激光器Bar条芯片点数装置,其特征在于,所述全自动激光器Bar条芯片点数装置还包括滑台(5),所述拍摄组件通过所述滑台(5)与所述支架(2)滑动连接。
10.根据权利要求7所述的全自动激光器Bar条芯片点数装置,其特征在于,所述光源组件包括同轴光源(6)、光源固定架(7)和光源控制器(8),所述同轴光源(6)通过所述光源固定架(7)与所述支架(2)连接,所述光源控制器(8)设在所述支架(2)上,且与所述同轴光源(6)电连接。
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