CN114002640A - 智能电表性能评价方法 - Google Patents
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Abstract
智能电表性能评价方法，属于电能表可靠性评价领域。本发明为解决了现有技术中存在对不同产品智能表进行性能检测效率低，且检测过程中检测准确性差的问题。该评价方法包括如下步骤：先将N个智能电表性能检测设备置于N种不同的环境中；再利用每个智能电表性能检测设备获得环境数据采集和每种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据；再计算每种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的每项性能指标数据与其该项性能指标预设最优值之间的关联度值；再得到每种种待测智能表在当前所处环境下的灰色关联度值；再次利用灰色关联算法，获得每种待测智能表综合性能值，完成对智能电表性能评价。主要用于评价智能电表可靠性。
Description
技术领域
本发明属于电能表可靠性评价领域。
背景技术
目前智能电表逐渐普及，针对智能电表性能的评价，目前通常都是简单的进行合格与不合格的判断评价，即获取智能电表的数据与设定标准进行比较，如在设定标准范围内则判定合格，否则判定为不合格，该类方法只能对单一产品的合格情况进行简单的评定，当需要针对不同型号或不同批次的批量产品进行评价时，通常仅能先逐一对单一产品进行合格性判定，再简单的依据各单一产品的合格性情况评判对应型号或对应批次产品的质量水平，操作过程复杂、效率低，难以客观、合理的评价批量产品的综合质量水平。
而针对电能表计量设备可靠性方面评价过程中，仅仅考虑到自身硬件因素所带来的可靠性的问题，并未将环境因素及自身硬件等性能指标作为综合评价的标准，导致针对单一产品的性能评价准确性差。
因此，针对于现有技术中存在对不同产品进行性能检测效率低，且检测过程中检测准确性差的问题，亟需解决。
发明内容
本发明目的是为了解决现有技术中存在对不同产品智能表进行性能检测效率低，且检测过程中检测准确性差的问题，本发明提供了一种智能电表性能评价方法。
智能电表性能评价方法，该评价方法是基于N个智能电表性能检测设备实现的；
每个智能电表性能检测设备的检测对象相同，且检测对象均为M种待检测智能表；M和N均为整数；
该评价方法包括如下步骤：
S1、将N个智能电表性能检测设备置于N种不同的环境中；
S2、利用每个智能电表性能检测设备对当前所处环境进行环境数据采集、及对基于每种待测智能表全寿命周期管理数据，获得该种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据；
S3、在上位机中，利用灰色关联算法计算每种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的每项性能指标数据与其该项性能指标预设最优值之间的关联度值；再将获得的每种待测智能表在当前所处环境下的所有关联度值进行灰色关联度综合运算，得到该种待测智能表在当前所处环境下的灰色关联度值；
S4、再次利用灰色关联算法，对每种待测智能表在所有环境下的灰色关联度值进行关联运算，获得的结果作为该种待测智能表综合性能值，完成对智能电表性能评价。
优选的是，每个智能电表性能检测设备包括M个检测单元；
M个检测单元分别对M种待检测智能表进行环境数据检测；
每个检测单元，用于根据所检测的每种待测智能表全寿命周期管理数据，获得该种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据；还用于对获得的环境数据和该种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据通过无线传输设备发送至上位机。
优选的是，所述的环境数据包括温度、湿度、气压、盐雾和光照信息。
本发明带来的有益效果是，本发明所述的智能电表性能评价方法，将多种待检测智能表置于不同环境中，获得每种环境中的每种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据、以及环境数据；从而获得每种环境置于多种不同环境下的综合性能值，从而完成对智能电表性能评价；其中，综合性能值越大，证明该智能电表的性能越好，综合性能值的值越小，则证明该智能电表的性能越不好。
本发明所述的智能电表性能评价方法，综合考量智能电表在不同环境下的性能和环境因素对性能的影响，进一步提高了性能评价的准确性。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
实施例1：
本实施方式所述的智能电表性能评价方法，该评价方法是基于N个智能电表性能检测设备实现的；
每个智能电表性能检测设备的检测对象相同，且检测对象均为M种待检测智能表；M和N均为整数；
该评价方法包括如下步骤：
S1、将N个智能电表性能检测设备置于N种不同的环境中；
S2、利用每个智能电表性能检测设备对当前所处环境进行环境数据采集、及对基于每种待测智能表全寿命周期管理数据，获得该种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据；
S3、在上位机中，利用灰色关联算法计算每种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的每项性能指标数据与其该项性能指标预设最优值之间的关联度值；再将获得的每种待测智能表在当前所处环境下的所有关联度值进行灰色关联度综合运算，得到该种待测智能表在当前所处环境下的灰色关联度值；
S4、再次利用灰色关联算法，对每种待测智能表在所有环境下的灰色关联度值进行关联运算，获得的结果作为该种待测智能表综合性能值，完成对智能电表性能评价。
本优选实施方式中，将多种待检测智能表置于不同环境中，获得每种环境中的每种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据、以及环境数据；从而获得每种环境置于多种不同环境下的综合性能值，从而完成对智能电表性能评价；其中，综合性能值越大，证明该智能电表的性能越好，综合性能值的值越小，则证明该智能电表的性能越不好。
本实施方式所述的智能电表性能评价方法，综合考量智能电表在不同环境下的性能和环境因素对性能的影响，进一步提高了性能评价的准确性。
本实施方式中，每个智能电表性能检测设备均可采用现有技术实现。
进一步的，每个智能电表性能检测设备包括M个检测单元；
M个检测单元分别对M种待检测智能表进行环境数据检测；
每个检测单元，用于根据所检测的每种待测智能表全寿命周期管理数据，获得该种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据；还用于对获得的环境数据和该种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据通过无线传输设备发送至上位机。
更进一步的，所述的环境数据包括温度、湿度、气压、盐雾和光照信息。
虽然在本文中参照了特定的实施方式来描述本发明，但是应该理解的是，这些实施例仅仅是本发明的原理和应用的示例。因此应该理解的是，可以对示例性的实施例进行许多修改，并且可以设计出其他的布置，只要不偏离所附权利要求所限定的本发明的精神和范围。应该理解的是，可以通过不同于原始权利要求所描述的方式来结合不同的从属权利要求和本文中所述的特征。还可以理解的是，结合单独实施例所描述的特征可以使用在其他所述实施例中。
Claims (3)
1.智能电表性能评价方法，其特征在于，该评价方法是基于N个智能电表性能检测设备实现的；
每个智能电表性能检测设备的检测对象相同，且检测对象均为M种待检测智能表；M和N均为整数；
其特征在于，该评价方法包括如下步骤：
S1、将N个智能电表性能检测设备置于N种不同的环境中；
S2、利用每个智能电表性能检测设备对当前所处环境进行环境数据采集、及对基于每种待测智能表全寿命周期管理数据，获得该种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据；
S3、在上位机中，利用灰色关联算法计算每种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的每项性能指标数据与其该项性能指标预设最优值之间的关联度值；再将获得的每种待测智能表在当前所处环境下的所有关联度值进行灰色关联度综合运算，得到该种待测智能表在当前所处环境下的灰色关联度值；
S4、再次利用灰色关联算法，对每种待测智能表在所有环境下的灰色关联度值进行关联运算，获得的结果作为该种待测智能表综合性能值，完成对智能电表性能评价。
2.根据权利要求1所述的智能电表性能评价方法，其特征在于，每个智能电表性能检测设备包括M个检测单元；
M个检测单元分别对M种待检测智能表进行环境数据检测；
每个检测单元，用于根据所检测的每种待测智能表全寿命周期管理数据，获得该种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据；还用于对获得的环境数据和该种待测智能表在当前所处环境数据下的所需评价的多项性能指标数据通过无线传输设备发送至上位机。
3.根据权利要求1所述的智能电表性能评价方法，其特征在于，所述的环境数据包括温度、湿度、气压、盐雾和光照信息。
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| CN202111274792.8A CN114002640A (zh) | 2021-10-29 | 2021-10-29 | 智能电表性能评价方法 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116626574A (zh) * | 2023-07-19 | 2023-08-22 | 深圳市华测半导体设备有限公司 | 一种信号测试仪的可靠性测试方法、系统及存储介质 |
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Cited By (2)
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| CN116626574A (zh) * | 2023-07-19 | 2023-08-22 | 深圳市华测半导体设备有限公司 | 一种信号测试仪的可靠性测试方法、系统及存储介质 |
| CN116626574B (zh) * | 2023-07-19 | 2023-09-19 | 深圳市华测半导体设备有限公司 | 一种信号测试仪的可靠性测试方法、系统及存储介质 |
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