CN113866585A - 一种微型激光芯片老化测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种微型激光芯片老化测试系统，涉及微型激光器测试领域，其包括上电模块、温控模块和机架模块，所述上电模块、温控模块均安装于所述机架模块上，所述温控模块包括设置于机架模块上的风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱，老化子箱内设置有微型激光芯片，所述风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱相互电连接；所述温控模块用于控制各个老化子箱的温度；所述上电模块用于为各个老化子箱中的微型激光芯片供电。整个系统能够用于对不同规格型号的微型激光芯片的老化测试，且能够在多个通道集中进行老化测试，同时，操作方便、价格低廉。
Description
技术领域
本发明涉及微型激光器测试领域，尤其涉及一种微型激光芯片老化测试系统。
背景技术
为保证微型光器件中的芯片在使用过程中的可靠、稳定等特性，通常需要对芯片进行老化测试处理，当前的老化系统多数或者过于复杂，或者不能同时在多通道集中进行老化测试。为此，需要一种微型激光芯片老化测试系统。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种微型激光芯片老化测试系统。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
一种微型激光芯片老化测试系统，包括上电模块、温控模块和机架模块，所述上电模块、温控模块均安装于所述机架模块上，所述温控模块包括设置于机架模块上的风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱，老化子箱内设置有微型激光芯片，所述风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱相互电连接；所述温控模块用于控制各个老化子箱的温度；所述上电模块用于为各个老化子箱中的微型激光芯片供电。
优选的，所述机架模块包括安装架，安装架的周边螺钉固定设置有盖板。
优选的，所述安装架为方钢焊接构成，且安装架的底部四角均螺钉固定安装有脚杯和万向轮。
优选的，所述老化子箱内设置有保温层、产品载具、感温层、加热层和供电电路层。
优选的，所述上电模块包括电源模块和电源开关，电源模块和电源开关电连接，所述电源开关包括恒流源供电单元、供电监控采样单元、通信与数据传送单元；
所述恒流源供电单元与供电监控采样单元的输入端连接，所述供电监控采样单元的输出端和通信与数据传送单元的输入端连接，所述通信与数据传送单元的输出端连接有老化电流监控终端。
优选的，所述温控开关为固态继电器。
整个系统能够用于对不同规格型号的微型激光芯片的老化测试，且能够在多个通道集中进行老化测试，同时，操作方便、价格低廉。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
图2为本发明的系统逻辑功能示意图。
图中标号：1上电模块、2风扇、3温控模块、4温控器、5机架模块、6显示器、7温控开关、8老化子箱、9脚杯、10万向轮、11安装架、12电源模块、13电源开关。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-2，一种微型激光芯片老化测试系统，包括上电模块1、温控模块3和机架模块5，上电模块1、温控模块3均安装于机架模块5上，温控模块3包括设置于机架模块5上的风扇2、温控器4、显示器6、温控开关7和多个老化子箱8，老化子箱8内设置有微型激光芯片，风扇2、温控器4、显示器6、温控开关7和多个老化子箱8相互电连接；温控模块3用于控制各个老化子箱8的温度；上电模块1用于为各个老化子箱8中的微型激光芯片供电。
本实施方式中，机架模块5包括安装架11，安装架11的周边螺钉固定设置有盖板，安装架11为方钢焊接构成，且安装架11的底部四角均螺钉固定安装有脚杯9和万向轮10，老化子箱8内设置有保温层、产品载具、感温层、加热层和供电电路层。
本实施方式中，上电模块1包括电源模块12和电源开关13，电源模块12和电源开关13电连接，电源开关13包括恒流源供电单元、供电监控采样单元、通信与数据传送单元；恒流源供电单元与供电监控采样单元的输入端连接，供电监控采样单元的输出端和通信与数据传送单元的输入端连接，通信与数据传送单元的输出端连接有老化电流监控终端，温控开关7为固态继电器。
工作原理：在本发明中，设置的感温层能够感应老化子箱8的温度并将信息传递给温控器4，温控器4对信息处理后控制温控开关7工作，进而控制加热层工作，从而能自动控温，通过设置的上电模块1能够给微型激光芯片供电，供电时通过恒流源供电单元供电，通过供电监控采样单元进行采样并将采样信息传递给通信与数据传送单元，通信与数据传送单元将信息发送给老化电流监控终端，通过老化电流监控终端进行实时监控供电情况，整个系统能够用于对不同规格型号的微型激光芯片的老化测试，且设置的老化子箱8的数量为多个，能够在多个通道集中进行老化测试，而且操作方便、价格低廉。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，包括上电模块(1)、温控模块(3)和机架模块(5)，所述上电模块(1)、温控模块(3)均安装于所述机架模块(5)上，所述温控模块(3)包括设置于机架模块(5)上的风扇(2)、温控器(4)、显示器(6)、温控开关(7)和多个老化子箱(8)，老化子箱(8)内设置有微型激光芯片，所述风扇(2)、温控器(4)、显示器(6)、温控开关(7)和多个老化子箱(8)相互电连接；所述温控模块(3)用于控制各个老化子箱(8)的温度；所述上电模块(1)用于为各个老化子箱(8)中的微型激光芯片供电。
2.根据权利要求1所述的一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，所述机架模块(5)包括安装架(11)，安装架(11)的周边螺钉固定设置有盖板。
3.根据权利要求2所述的一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，所述安装架(11)为方钢焊接构成，且安装架(11)的底部四角均螺钉固定安装有脚杯(9)和万向轮(10)。
4.根据权利要求1所述的一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，所述老化子箱(8)内设置有保温层、产品载具、感温层、加热层和供电电路层。
5.根据权利要求1至4任一项所述的一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，所述上电模块(1)包括电源模块(12)和电源开关(13)，电源模块(12)和电源开关(13)电连接，所述电源开关(13)包括恒流源供电单元、供电监控采样单元、通信与数据传送单元；
所述恒流源供电单元与供电监控采样单元的输入端连接，所述供电监控采样单元的输出端和通信与数据传送单元的输入端连接，所述通信与数据传送单元的输出端连接有老化电流监控终端。
6.根据权利要求1所述的一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，所述温控开关(7)为固态继电器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010608455.7A CN113866585A (zh) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | 一种微型激光芯片老化测试系统 |
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Publications (1)
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|---|---|
| CN113866585A true CN113866585A (zh) | 2021-12-31 |
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| CN202010608455.7A Pending CN113866585A (zh) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | 一种微型激光芯片老化测试系统 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN113866585A (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114609511A (zh) * | 2022-05-10 | 2022-06-10 | 上海菲莱测试技术有限公司 | 一种硅基液晶老化检测设备 |
| CN115656694A (zh) * | 2022-11-10 | 2023-01-31 | 北京凯普林光电科技股份有限公司 | 一种激光器的老化装置 |
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2020
- 2020-06-30 CN CN202010608455.7A patent/CN113866585A/zh active Pending
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