CN113841219A - 孔板组合件 - Google Patents
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- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 48
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 36
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 26
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 13
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 3
- 238000001871 ion mobility spectroscopy Methods 0.000 claims description 2
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 4
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 3
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 3
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 230000010220 ion permeability Effects 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000004150 penning trap Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 238000004252 FT/ICR mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000013375 chromatographic separation Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 description 1
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/068—Mounting, supporting, spacing, or insulating electrodes
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/067—Ion lenses, apertures, skimmers
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/622—Ion mobility spectrometry
- G01N27/623—Ion mobility spectrometry combined with mass spectrometry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/401—Time-of-flight spectrometers characterised by orthogonal acceleration, e.g. focusing or selecting the ions, pusher electrode
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
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Abstract
一种用于分析仪器的孔板组合件包括第一子组合件和第二子组合件,所述第一子组合件包括孔板,所述第二子组合件包括导向件。所述第一子组合件被配置成附接到所述第二子组合件,使得所述孔板相对于所述第二子组合件定位在第一位置中。所述第一子组合件和所述第二子组合件被配置成使得当所述第一子组合件由所述导向件接合时,所述孔板可以移动到所述第一位置中并且所述第一子组合件可以附接到所述第二子组合件。
Description
相关申请的交叉引用
本申请要求于2019年5月13日提交的英国专利申请第1906701.6号的优先权和权益。本申请的全部内容通过引用并入本文。
技术领域
本发明提供了一种用于如质谱仪和/或离子迁移率谱仪等分析仪器的孔板组合件。
背景技术
如质谱仪和/或离子迁移率谱仪等分析仪器通常包括多个串联布置的功能组件。例如,飞行时间(ToF)质谱仪通常包括飞行时间质量分析器和如一个或多个离子导向件、离子光学器件等布置在飞行时间质量分析器上游的一个或多个功能组件。
在这些布置中,一个或多个孔可以布置在分析仪器的邻近功能组件之间,并且离子可以通过孔在邻近组件之间传输。例如,离子可以通过孔传输到飞行时间质量分析器中。
为了增加或最大化通过具有给定大小的孔的离子透过率,离子束可以被配置成使得其横截面尺寸中的一者或两者的尺寸接近、大约等于或甚至略大于对应的孔大小。然而,这可能导致离子撞击仪器上紧邻孔的部分。这进而导致沉积材料随着时间的推移而堆积,从而影响通过孔的离子透过率。
因此,在这些布置中,通常将孔设置为可移除孔板的一部分,其中孔板可以被取出并清洁或替换。然而,此类孔板的取出、清洁和替换可能是必须由技术精湛的维护工程师执行的复杂且耗时的任务。
申请人认为孔板和孔板组合件仍有改进的余地。
发明内容
根据一方面,提供了一种用于如质谱仪和/或离子迁移率谱仪等分析仪器的孔板组合件,所述组合件包括:
第一子组合件,所述第一子组合件包括孔板;以及
第二子组合件,所述第二子组合件包括导向件,其中所述第一子组合件被配置成附接到所述第二子组合件,使得所述孔板相对于所述第二子组合件定位在第一位置中;
其中所述第一子组合件和所述第二子组合件被配置成使得当所述第一子组合件由所述导向件接合时,所述孔板能移动到所述第一位置中并且所述第一子组合件能附接到所述第二子组合件。
各个实施例涉及用于分析仪器的孔板组合件,所述孔板组合件包括第一子组合件和第二子组合件。
第一子组合件包括孔板,并且因此可以被称为孔板子组合件。孔板可以包括孔,所述孔可以被配置成允许离子穿过孔。第一子组合件还可以包括如手柄等控件,所述控件可以连接到孔板以允许操纵孔板。
第二子组合件可以形成如质谱仪和/或离子迁移率谱仪等分析仪器的一部分或者可以附接到其上。第二子组合件可以被配置成使得第一子组合件可以可移除地附接到第二子组合件(并且因此第二子组合件可以被称为附接子组合件)。
子组合件可以被配置成使得当第一子组合件附接到第二子组合件时,孔板相对于第二子组合件(并且因此相对于分析仪器)定位在第一位置中。第一位置可以使得当孔板定位在第一位置中时,离子(正在被分析仪器处理和/或分析)可以穿过孔板的孔。
第二子组合件包括导向件,如导杆。第一子组合件可以被配置成可与导向件(可移除地)接合,使得当第一子组合件由导向件接合时,第一子组合件(相对于第二子组合件,并且因此相对于分析仪器)的移动受导向件约束。例如,在导向件包括导杆的情况下,第一子组合件可以包括通道或通路,并且通道或通路以及导杆可以被配置成使得当通道或通路被布置成(至少部分地)围绕导杆时,第一子组合件的移动受导杆约束。
根据各个特定实施例,当第一子组合件由导向件接合时,第一子组合件的移动可能受导向件约束,使得当孔板例如通过推动第一子组合件(的手柄)朝向第一位置移动时,孔板由导向件引向或引导到第一位置中。因此,在各个实施例中,子组合件被配置成使得当第一子组合件由导向件接合时,可以(使用控件(手柄))将孔板推动到第一位置中。换句话说,推动如手柄等控件导致孔板被移向或移动到(被引向或引导到)第一位置中。
除此之外,子组合件被配置成使得第一子组合件可以例如使用控件(手柄)附接到(固定到)第二子组合件(使得孔板定位在第一位置中)。例如,如下文更详细描述的,控件(手柄)可以包括或者可以形成如指旋螺钉等附接装置的一部分,由此(当孔板定位在第一位置中时)相对于孔板操纵(例如,旋转)控件(手柄)使得第一子组合件变为附接到(固定到)第二子组合件。
因此,根据各个实施例,孔板组合件包括第一子组合件和第二子组合件,所述第一子组合件包括孔板和如手柄等控件,所述第二子组合件包括导向件,并且孔板组合件被配置成使得当第一子组合件由导向件接合时,孔板可以例如使用控件(手柄)相对于第二子组合件移动(推动)到其适当的(“第一”)位置中,并且还可以使用控件(手柄)连接到(固定到)第二子组合件。
这意味着孔板可以例如仅通过操纵控件(手柄)以特别准确、方便和直接的方式附接、取出和/或替换。这进而意味着当需要清洁或替换孔板时,这可以以特别快速和直接的方式完成。
因此,将理解,各个实施例提供了一种改进的孔板组合件。
各个实施例本身还延伸到第一子组合件和第二子组合件。
因此,根据另一方面,提供了一种用于如质谱仪和/或离子迁移率谱仪等分析仪器的孔板子组合件,所述子组合件包括:
孔板;以及
控件,如手柄;
其中所述子组合件被配置成附接到分析仪器,使得所述孔板相对于所述分析仪器定位在第一位置中;并且
其中所述子组合件被配置成使得当所述子组合件定位在所述第一位置中时,所述子组合件可以使用所述控件(手柄)附接到所述分析仪器。
子组合件可以被配置成由导向件接合。
子组合件可以被配置成使得当子组合件由导向件接合时,孔板可以移动到第一位置中并且子组合件可以例如使用控件(手柄)附接到分析仪器。
根据另一方面,提供了一种用于如质谱仪和/或离子迁移率谱仪等分析仪器的附接子组合件,所述子组合件包括:
导向件;以及
附接装置;
其中所述附接装置被配置成使得孔板子组合件能附接到所述附接子组合件,使得所述孔板子组合件的孔板相对于所述附接子组合件定位在第一位置中;并且
其中所述导向件被配置成使得当所述孔板子组合件由所述导向件接合时,所述孔板能移动到所述第一位置中。
第一子组合件可以包括控制器,如手柄。
第一子组合件和第二子组合件可以被配置成使得当第一子组合件由导向件接合时,可以使用控件例如使用手柄将孔板移动到第一位置中。
第一子组合件和第二子组合件可以被配置成使得当第一子组合件由导向件接合时,孔板可以使用控件例如使用手柄附接到第二子组合件。
第一子组合件和第二子组合件可以被配置成使得当第一子组合件由导向件接合时,可以例如使用控件(手柄)将孔板推动到第一位置中。
导向件可以包括突出部,并且第一子组合件可以包括被配置成容纳突出部的通道或通路。
第一子组合件可以包括突出部,并且导向件可以包括被配置成容纳突出部的通道或通路。
导向件可以包括杆。
第一子组合件可以包括一个或多个第一面。
第二子组合件可以包括一个或多个对应的第二面。
第一面和第二面可以被配置成使得当孔板定位在第一位置中时,所述一个或多个第一面的至少一部分与所述一个或多个第二面的至少一部分接触。
第一子组合件和第二子组合件可以被配置成使得当第一子组合件由导向件接合时,孔板可以通过推动第一子组合件直到所述一个或多个第一面的至少一部分与所述一个或多个第二面的至少一部分接触而移动到第一位置中。
第一子组合件可以被配置成使得第一子组合件可以通过相对于孔板移动控件(手柄)的至少一部分而附接到第二子组合件。
第一子组合件可以被配置成使得第一子组合件可以通过相对于孔板旋转控件(手柄)的至少一部分而附接到第二子组合件。
第一子组合件可以包括附接装置,如附接配件。
第二子组合件可以包括互补附接装置,如互补附接配件。
第一子组合件和第二子组合件可以被配置成使得当孔板定位在第一位置中时,附接装置可以例如使用控件(手柄)附接到互补附接装置。
附接装置可以布置在所述一个或多个第一面中的一个第一面中或从所述一个第一面中突出。
互补附接装置可以布置在所述一个或多个第二面中的一个第二面中或从所述一个第二面中突出。
第一子组合件被配置成使得控件的至少一部分相对于孔板的旋转引起附接装置相对于孔板的旋转。
手柄可以连接到附接装置,使得手柄相对于孔板的旋转引起附接装置相对于孔板的旋转。
第二子组合件可以包括被配置成将孔板保持在第一位置中的夹具。
根据一方面,提供了一种包括上述组合件和子组合件的分析仪器。
孔板可以包括孔。
分析仪器可以被配置成当孔板定位在第一位置中时,离子可以穿过孔。
分析仪器可以包括质量分析器,如飞行时间质量分析器。
组合件或子组合件可以形成质量分析器的一部分和/或可以被布置成邻近质量分析器。
质量分析器可以包括加速组合件。
组合件或子组合件可以形成加速组合件的一部分和/或可以被布置成邻近加速组合件。
分析仪器可以包括接近面板或法兰。
接近面板或法兰可以被配置成允许接近组合件或子组合件。
根据一方面,提供了一种质谱法和/或离子迁移率谱法方法,其包括使离子穿过上述组合件或子组合件的孔。
本文中所描述的方面和实施例中的每个方面和实施例可以且在各个实施例中确实包含本文中所描述的特征中的任何一个或多个或全部特征。
附图说明
现在将仅通过举例并且参考附图来描述本发明的各个实施例,在附图中:
图1示意性地示出了根据各个实施例的分析仪器的一部分的侧视图;
图2示意性地示出了根据各个实施例的分析仪器的一部分的截面视图;
图3示意性地示出了根据各个实施例的分析仪器的一部分的分解侧视图,其中接近面板已被去除;
图4示意性地示出了根据各个实施例的分析仪器的一部分的分解图,其中接近面板和孔板子组合件已被去除;
图5A示意性地示出了根据各个实施例的推动器组合件和孔板子组合件的前视图,并且图5B示意性地示出了根据各个实施例的推动器组合件和孔板子组合件的后视图;并且
图6示意性地示出了根据各个实施例的附接到推动器组合件的孔板子组合件的前视图。
具体实施方式
图1示出了根据各个实施例的如质谱仪和/或离子迁移率谱仪等分析仪器100的侧视图。
分析仪器100可以包括多个串联布置的功能组件。如图1所示,分析仪器100可以包括多个串联布置的真空室,其中真空室中的每个真空室包含功能组件中的一个或多个功能组件。
分析仪器100可以包括离子源,所述离子源被配置成任选地在真空室之一内或在分析仪器100的大气压区域中产生离子(图1中未示出)。离子源可以在大气压下或接近大气压下操作,或者在相对较高的压力下操作。离子源可以包括任何合适的离子源。分析仪器100还可以任选地包括位于离子源上游(并且耦接到离子源)的色谱法分离装置或其它分离装置(图1中未示出)。
在离子源的下游以及在真空室中的一个或多个真空室中,分析仪器100可以根据需要包括任何一个或多个另外的功能组件或装置110。所述一个或多个另外的功能组件或装置110可以在任何合适的压力,例如中间压力下操作。
所述一个或多个另外的功能组件或装置110可以包括例如一个或多个离子导向件、一个或多个离子阱和/或一个或多个滤质器。同样地,所述一个或多个另外的功能组件或装置110可以包括被配置成使离子激活、碎裂或反应的激活、碰撞、碎裂或反应装置。同样地,所述一个或多个另外的功能组件或装置110可以包括被配置成根据离子迁移率分离离子的离子迁移率分离器。
根据各个特定实施例,分析仪器100包括质量分析器120,所述质量分析器可以布置在分析仪器100的最终真空室中。质量分析器120可以在相对较低的压力下操作。
在各个特定实施例中,并且如图1所示,质量分析器120包括正交加速飞行时间质量分析器。然而,更一般地,质量分析器120可以包括如质量分析器等选自由以下组成的组的任何合适的质量分析器:(i)四极杆质量分析器;(ii)2D或线性四极杆质量分析器;(iii)保罗(Paul)或3D四极杆质量分析器;(iv)彭宁阱(Penning trap)质量分析器;(v)离子阱质量分析器;(vi)磁扇形质量分析器;(vii)离子回旋共振(“ICR”)质量分析器;(viii)傅里叶变换离子回旋共振(“FTICR”)质量分析器;(ix)被布置成生成具有四次对数电位分布的静电场的静电质量分析器;(x)傅里叶变换静电质量分析器;(xi)傅立叶变换质量分析器;(xii)飞行时间质量分析器;(xiii)正交加速飞行时间质量分析器;以及(xiv)线性加速飞行时间质量分析器。
因此,根据各个实施例,分析仪器100包括离子源(其可以在相对较高的压力下如在大气压下操作)、布置在离子源下游的质量分析器120(其可以在相对较低的压力下操作)以及布置在离子源与质量分析器120之间的一个或多个另外的功能组件或装置110(其中所述一个或多个另外的装置中的一个或多个或者每一个装置可以在一种或多种中间压力下操作)。
在操作中,离子源产生的离子可以在到达质量分析器120之前例如在总体上水平的方向上从一个功能组件传输到下一个功能组件,于是离子可以正交加速,例如使得离子然后在总体上竖直的方向上行进并且被检测到。
根据各个特定实施例,分析仪器100的一对或多对邻近的功能组件、装置或真空室110通过一个或多个孔连接,并且离子(由离子源产生)可以在邻近的功能组件、装置或真空室之间通过孔传输。
如上所述,并且根据各个实施例,为了增加或最大化通过具有给定大小的孔的离子透过率,离子束可以被配置成(在一个或多个位置中)使得其横截面尺寸中的一者或两者的尺寸接近、大约等于或甚至略大于对应的孔大小。
这可能是就分析仪器100的孔中的任何一个或多个孔而言的情况,而且可能特别是针对离子在进入质量分析器120时穿过的孔而言的情况。
图2示出了图1中所示的分析仪器100的一部分的截面视图。如图2所示,正交加速飞行时间质量分析器120包括加速组合件200,所述加速组合件可以布置在质量分析器120的入口处或附近。加速组合件200可以被配置成使离子正交加速(当离子进入飞行时间质量分析器120时)到飞行时间质量分析器120的漂移区域中。为了做到这一点,加速组合件200可以包括一个或多个加速电极,所述一个或多个加速电极可以连接到一个或多个电压源。
在这些实施例中,可能需要在离子束进入质量分析器120之前对其进行调节,例如使其具有带状形式。这可能是合乎期望的,例如,使得离子束处于被加速组合件200高效地正交加速(并被质量分析器120分析)的适当形式。
在各个实施例中,质量分析器120与紧邻质量分析器120上游的一个或多个功能组件或装置(其可以是例如转移区光学器件和/或离子光学器件)之间的孔可以呈狭槽的形式,并且为了增加或最大化通过狭槽的离子透过率,离子束可以被配置成使得至少其宽度接近、大约等于或略大于狭槽的宽度。
然而,更一般地,分析仪器100的孔可以具有任何合适的形状(如圆形),并且离子束可以被配置成使得其横截面尺寸中的一者或两者的尺寸接近、大约等于或甚至略大于对应的孔大小。
如上所述,将离子束布置成使得其横截面尺寸中的一者或两者的尺寸接近、大约等于或略大于对应的孔大小会导致离子撞击紧邻孔的仪器的部件,这进而会导致材料随着时间的推移而堆积,从而可能影响通过孔的离子透过率。
因此,根据各个实施例,分析仪器100的孔,如布置在质量分析器120与紧邻质量分析器120上游的一个或多个功能组件或装置之间的孔(狭槽),被设置为可移除孔板的一部分。孔板可以例如定期地或者当足够的材料堆积在孔板上需要清洁或替换时被取出并清洁或替换。
然而,如上所述,在常规布置中,孔板的取出、清洁和替换可能是必须由技术精湛的维护工程师执行的复杂且耗时的任务。
例如,为了在一些常规布置中接近孔板,可能需要拆卸或取出质量分析器组合件中的一些或全部质量分析器组合件。这并不合乎期望,因为质量分析器是以相对较小的公差组装的复杂的组合件。如此,拆卸或取出(以及随后重新组装)质量分析器组合件中的一些或全部不仅本身是一项耗时且复杂的任务,而且通常还需要对仪器进行全面的重新校准。
另外,在常规布置中,孔板通常使用螺钉附接到仪器的其余部分,所述螺钉可能难以接近、可能没有拧好和/或可能会意外丢失。
如图3和4所述,各个实施例涉及包括孔板310的孔板组合件,所述孔板可以通过分析仪器100的接近面板122接近、取出和替换。
因此,根据各个实施例,分析仪器100包括接近面板或法兰122,所述接近面板或法兰被配置成允许接近孔板310(并且更一般地接近孔板组合件300和/或加速组合件200)。接近面板或法兰122可以是分析仪器100的真空室壳体的一部分和/或连接到其上,如质量分析器120的真空室壳体。接近面板或法兰122可以是分析仪器100的真空室壳体的紧邻加速组合件200的部分的一部分和/或连接到其上,如质量分析器120的真空室壳体的紧邻加速组合件200的部分。
接近面板或法兰122可以设置为分析仪器100的顶部或底部(水平)表面的一部分和/或连接到其上,例如作为质量分析器120的真空室壳体的顶部或底部的一部分和/或连接到其上。然而,如图3和4所示,根据各个特定实施例,接近面板或法兰122被设置为分析仪器100的侧(竖直)表面的一部分和/或连接到其上,例如作为质量分析器120的真空室壳体的侧表面的一部分和/或连接到其上。如图1-3所示,这在质量分析器120包括正交加速飞行时间质量分析器120的情况下特别方便,所述正交加速飞行时间质量分析器具有在加速组合件200上方和下方(显著)延伸的飞行时间区域。
接近面板或法兰122可以具有合适的大小和形状以允许接近孔板310、孔板组合件300和/或加速组合件200。例如,接近面板或法兰122可以包括正方形板或矩形板,并且可以可移除地附接到质量分析器120的真空室壳体以覆盖质量分析器120的真空室壳体中的对应(正方形或矩形)接近孔。
如图4所展示的,例如通过首先取出接近面板或法兰122以接近孔板子组合件300,并且然后操纵孔板子组合件300的如手柄320等控件以取出孔板子组合件300,各个实施例允许维护工程师(通过接近孔)直接接近和取出孔板310。
然后可以根据需要清洁和替换孔板310,或者可以将新的孔板310安装在所取出的孔板310的位置中。这可以以特别直接和方便的方式完成,而不必例如取出或拆卸质量分析器组合件120的可能具有相对较小的公差并且可能(显著)影响仪器100的性能的其它部件。
一旦孔板310被替换,然后就可以例如通过使用如螺钉或亚伦螺栓(Allen bolt)等紧固件将接近面板或法兰122附接到质量分析器120的真空室壳体来替换接近面板或法兰。如一个或多个O形环等一个或多个密封件124可以设置在真空室壳体中和/或设置为接近面板或法兰122的一部分,以在接近面板或法兰122与真空室壳体之间提供气密密封。
根据各个特定实施例,孔板子组合件300(和孔板310)可移除地附接到分析仪器100。就这一点而言,根据各个实施例,分析仪器100(的质量分析器120)可以包括(附接)子组合件,孔板子组合件300可以附接到所述子组合件。附接子组合件可以形成质量分析器120(的加速组合件200)的一部分或者可以附接到其上。然而,其它布置也是可能的。
孔板310可以移动到“第一”位置中,并且孔板子组合件300可以附接到附接子组合件而不必从分析仪器100拆卸、取出或干扰附接子组合件。
图5A示出了根据各个实施例的加速组合件200的详细前视图并且图5B示出了对应的详细后视图,其中孔板310未附接到加速组合件200。图6示出了根据各个实施例的加速组合件200的详细前视图,其中孔板310附接到加速组合件200。
尽管根据图5和6展示的实施例,附接子组合件(孔板310可以附接到其上)形成加速组合件200的一部分和/或附接到其上,但是附接子组合件也有可能形成分析仪器100的任何其它合适部分(组合件)的一部分和/或附接到其上。
因此,根据各个实施例,提供了一种包括第一子组合件300和第二子组合件的孔板组合件,所述第一子组合件包括孔板310以及任选地如手柄320等控件,所述第二子组合件包括导向件210。
第一子组合件300包括孔板310,并且因此可以被称为孔板子组合件300。孔板310可以呈(金属,如不锈钢)板的形式,并且可以包括孔312。当安装时(当附接到第二子组合件时(并且当定位在第一位置中时)),孔板310可以以总体上竖直的取向进行布置。
在各个实施例中,孔312被配置成使得离子可以穿过孔312。如图5A-6所示,孔312可以呈(水平)狭槽的形式,但是孔可以具有任何其它合适的形状(如呈圆形)。
第一子组合件300还可以包括如手柄320等控件,所述控件可以连接到孔板310以允许使用控件(手柄320)来操纵(移动)孔板310(如下文将更详细描述的)。
第二子组合件可以形成分析仪器100的加速组合件200的一部分或者可以附接到其上。第二子组合件可以被配置成使得第一子组合件300可以可移除地附接到第二子组合件(并且因此第二子组合件可以被称为附接子组合件)。第二子组合件可以被配置成使得孔板310可以移动到“第一”位置中,并且第一子组合件300可以附接到第二子组合件而不必从加速组合件200拆卸、取出或干扰第二子组合件。
第二子组合件可以包括板或块220,第一子组合件300可以附接(固定)到所述板或块。板或块220可以形成加速组合件200的一部分或者可以例如通过如螺钉或亚伦螺栓等合适的紧固件附接到其上。
板或块220可以呈(金属,如不锈钢)板或块的形式,并且可以包括如狭槽等孔222。板或块220可以以总体上竖直的取向布置在分析仪器100内。
如图6所示,子组合件可以被配置成使得当第一子组合件300附接到第二子组合件时,孔板310相对于第二子组合件(并且因此相对于加速组合件200)定位在“第一”位置中。第一位置可以使得当孔板310定位在第一位置中时,离子(正在被分析仪器处理和/或分析)可以穿过孔板310的孔312并进入加速组合件200。
第一位置可以使得当孔板310定位在第一位置中时,孔板310通常以竖直取向布置。
子组合件可以被配置成使得当第一子组合件300附接到第二子组合件(的板或块220)时(当孔板处于第一位置中时),孔板310的孔312可以与板或块220的孔222对齐。在各个实施例中,这使得离子可以通过孔板310的孔312和板或块220的孔222两者传输到加速组合件200(的加速区域)中。
第二子组合件(的板或块220)的孔222在一个或两个维度上可以比孔板310的孔312大。这防止了离子与第二子组合件的板或块220碰撞,并确保任何材料优先(或仅者仅)堆积在可移除孔板310上。
子组合件可以被配置成使得当孔子组合件300的一个或多个面(的至少一部分)与第二子组合件的一个或多个对应面(的至少一部分)接触(紧贴)时,孔板310可以适当地定位(和定向)在第一位置中。
在各个特定实施例中,孔子组合件300的这些面之一是孔板310的(竖直定向的)面,如孔板310的(竖直定向的)背面。在这些实施例中,第二子组合件的对应面可以是板或块220的(竖直定向的)面,如第二子组合件的板或块220的(竖直定向的)正面。
因此,根据各个实施例,子组合件被配置成使得当孔板310的(竖直定向的)背面(的至少一部分)与第二子组合件的板或块220的(竖直定向的)正面(的至少一部分)接触(紧贴)时,孔板310可以适当地定位(和定向)在第一位置中。
在各个另外的实施例中,孔子组合件300的面之一是孔子组合件300的挡块316的(竖直定向的)面,如孔子组合件300的挡块316的(竖直定向的)侧面。在这些实施例中,第二子组合件的对应面可以是板或块220的(竖直定向的)面,如第二子组合件的板或块220的(竖直定向的)侧面。
因此,在各个实施例中(如图5A和5B所示),第一子组合件300包括可以附接到孔板310或与所述孔板一体形成的挡块316。挡块316可以被配置成具有至少一个被布置为与孔板310的背面(和正面)正交的(竖直定向的)(侧)面。第一子组合件300可以被配置成使得挡块316的这一(侧)面的边缘与孔板310的(背)面的边缘接合,例如使得挡块316的侧面与孔板310的背面形成直角。
相应地,板或块220可以被配置成具有至少一个被布置成与板或块220的正面正交的(竖直定向的)(侧)面。第二子组合件可以被配置成使得板或块220的侧面与板或块220的正面形成直角。
子组合件可以被配置成使得当挡块316的(竖直定向的)侧面(的至少一部分)与第二子组合件的板或块220的(竖直定向的)侧面(的至少一部分)接触(紧贴)时,孔板310可以适当地定位(和定向)在第一位置中。
根据各个特定实施例,子组合件被配置成使得当孔板310的(竖直定向的)背面(的至少一部分)与第二子组合件的板或块220的(竖直定向的)正面(的至少一部分)接触(紧贴)时,并且当挡块316的(竖直定向的)侧面(的至少一部分)与第二子组合件的板或块220的(竖直定向的)侧面(的至少一部分)接触(紧贴)时,孔板310可以适当地定位(和定向)在第一位置中。
如上所述,第二子组合件包括导向件210。第一子组合件300可以被配置成可由导向件210(可移除地)接合,例如使得当第一子组合件300由导向件210接合时,第一子组合件300(相对于第二子组合件,并且因此相对于加速组合件200)的移动受导向件210约束。
根据各个特定实施例,当第一子组合件300由导向件210接合时,第一子组合件300的移动可能受导向件210约束,使得当孔板310例如通过推动第一子组合件300的手柄320朝向第一位置移动时,孔板310由导向件210引向或引导到第一位置中。因此,在各个实施例中,子组合件被配置成使得当第一子组合件300由导向件210接合时,可以例如使用控件如使用手柄320将孔板310推动到第一位置中。换句话说,在这些实施例中,推动手柄320导致孔板310被移向或移动到(被引向或引导到)第一位置中。
导向件210可以采用任何合适的形式。如图5A-6所示,在各个特定实施例中,导向件210可以包括导杆。然而,其它合适类型的导向件包括例如导轨、导槽等。
通常,导向件210可以包括如杆等突出部,并且第一子组合件300可以包括被配置成容纳突出部(杆)的通道或通路314。然而,可替代地,第一子组合件300包括如杆等突出部并且导向件210包括被配置成容纳突出部(杆)的通道或通路也是有可能的。
在这些实施例中,第一子组合件300可以被配置成通过相对于导向件210移动第一子组合件300而由导向件210(可移除地)接合,使得通道或通路314(至少部分地)围绕突出部(杆)(例如使得突出部(杆)插入到通道或通路314中)。突出部(杆)和通道或通路314可以被配置成使得当通道或通路314(至少部分地)围绕突出部(杆)时,第一子组合件300(相对于第二子组合件,并且因此相对于加速组合件200))的移动受通道或通路314(的内壁)与突出部(杆)的相互作用的约束。
根据各个特定实施例,当通道或通路314(至少部分地)围绕突出部(杆)时,第一子组合件300的移动可能受到通道或通路314(的内壁)与突出部(杆)的相互作用的约束,例如使得当孔板310例如通过推动第一子组合件300的手柄320朝向第一位置移动时,孔板310被通道或通路314和/或突出部(杆)引向或引导到第一位置中。因此,在各个实施例中,子组合件被配置成使得当通道或通路314(至少部分地)围绕突出部(杆)时,可以例如使用控件(手柄320)将孔板310推动到第一位置中。换句话说,在这些实施例中,推动手柄320导致孔板310被移向或移动到(被引向或引导到)第一位置中。
如图5A-6所示,导向件210可以包括具有圆形或椭圆形截面的如杆等突出部(或通道或通路314)。然而,导向件210通常可以具有任何合适的截面形状。在这些实施例中,通道或通路314(或突出部)可以具有对应的(例如圆形或椭圆形)截面。通道或通路314可以具有(略)大于突出部(杆)的截面面积,以便当通道或通路314被布置成(至少部分地)围绕突出部(杆)时允许第一子组合件300相对于第二子组合件移动。
根据各个实施例,导向件210可以具有总体上细长的形状。如图5A-6所示,导向件210可以在总体上水平的方向上延伸。然而,导向件有可能在一些其它非水平方向上延伸。
在各个特定实施例中,导向件210可以被配置成从第二子组合件(从加速组合件200)延伸到或朝向分析仪器100的一侧,例如延伸到或朝向接近面板或法兰122。导向件可以因此被配置成能够将孔板310从接近面板或法兰122引向第二子组合件(引向加速组合件200),并且在实施例中引向或引导到“第一”位置中。
如图5A-6所示,根据各个实施例,导向件210包括如杆等突出部,所述突出部(在其端部之一处)附接到板或块220。具体地,导向件210可以(在其端部之一处)附接到板或块220的上述侧面(的下部)。然而,导向件210也有可能附接到板或块220的任何其它部分或实际上第二子组合件或加速组合件200的任何其它部分。在这些实施例中,突出部(杆)的另一端可以延伸到(指向)分析仪器100的一侧或朝其延伸,例如延伸到(指向)或接近面板或法兰122或朝其延伸。
如图5A-6所示,根据各个实施例,通道或通路314布置在(并且可以延伸穿过)挡块316中。具体地,通道或通路314可以布置在(并且可以延伸穿过)挡块316的上述侧面(的下部)中。然而,通道或通路314有可能布置在(并延伸通过)第一子组合件300的任何其它部分中。因此,第一子组合件300(的挡块316)可以包括大小适合于接收导杆210的通道或通路314。
在这些实施例中,当第一子组合件由导向件210接合时(当导杆210插入到通道或通路314中时),第一子组合件300的移动将因此受导向件210限制,使得第一子组合件300可以朝向或远离第一位置移动,即,沿着导向件210的轴向长度移动。(虽然也有可能围绕导向件210旋转第一子组合件300。)这意味着当第一子组合件300由导向件210接合时,(使用手柄320)推动第一子组合件300将导致孔板310被移动(导向或引导)到或朝向第一位置。
在各个实施例中,子组合件可以被配置成使得当孔板310朝向第一位置移动(推动)或移动到第一位置中时,孔板310(在导向件210的轴向长度的方向上)不能移动(推动)超过第一位置。根据各个特定实施例,这通过当孔板310处于第一位置中时互相干扰(接触)的挡块316(的侧面)和板或块220(的侧面)来实现。
因此,根据各个实施例,第一子组合件包括(侧)面,第二子组合件包括对应的(侧)面,并且子组合件被配置成使得当孔板310定位在第一位置中时,这些面(至少部分地)互相接触。如此,子组合件可以被配置成使得当第一子组合件300由导向件210接合时,可以通过移动(推动)第一子组合件300直到挡块316的(侧)面与板或块220的对应(侧)面接触将孔板310移动到第一位置中。
如上所述,子组合件被配置成使得第一子组合件300可以使用控件例如使用手柄320附接到(固定到)第二子组合件(使得孔板310定位在第一位置中)。
为了实现这一点,控件(手柄320)可以被配置成使得(当孔板310定位在第一位置中时)控件(手柄320)相对于孔板310的操纵(移动,如旋转)导致第一子组合件300变为附接到(固定到)第二子组合件。因此,根据各个实施例,第一子组合件300被配置成使得其可以通过控件例如手柄320的至少一部分相对于孔板310的移动(例如旋转)附接到第二子组合件。
在各个实施例中,控件(手柄320)可以包括以下、可以形成以下的一部分或可以连接到以下:附接装置(配件)324,如(阳或阴)螺钉配件、卡口配件等。在这些实施例中,第二子组合件可以包括互补附接装置(配件)224,如(阴或阳)互补螺钉配件、卡口配件等。
子组合件可以被配置成使得(当孔板310定位在第一位置中时)第一子组合件300可以通过使用控件例如使用手柄320将附接装置324附接到互补附接装置224来附接到第二子组合件。在各个特定实施例中,子组合件被配置成使得(当孔板310定位在第一位置中时)控件(手柄320)的至少一部分相对于孔板310的移动(例如旋转)导致附接装置324附接到互补附接装置224。
例如,控件(手柄320)相对于孔板310的移动(旋转)(当孔板310处于第一位置中时)可以导致附接装置324例如通过拧入或夹入到互补连接装置224中而与互补附接装置224接合并变为附接到所述互补附接装置。
这可以以任何合适的方式来实现。具体地,如图5A-6所示,控件(手柄320)可以包括或可以形成可旋转指旋螺钉或螺母的一部分。手柄320可以例如通过杆322连接到附接装置324。杆322和/或附接装置(配件)324可以形成可旋转指旋螺钉的一部分。控件(手柄320)(可旋转指旋螺钉)还可以例如通过杆322连接到挡块316(的上部)。在各个实施例中,控件(可旋转指旋螺钉)受制于第一子组合件300(的挡块316(的上部))。
如图5A-6所示,附接装置324可以布置在挡块316中(可以从所述挡块中突出),并且具体地可以布置在挡块316的上述(侧)面(的上部)中(可以从其中突出)。相应地,互补附接装置224可以布置在板或块220中,并且具体地可以布置在板或块220的上述(侧)面(的上部)中。
根据各个实施例,附接装置324和互补附接装置224被配置成使得当孔板310定位在第一位置中时,附接装置324与互补附接装置224接合(接触)。
第一子组合件300(具体地,手柄320、杆322和挡块316)可以被配置成使得控件(手柄320)相对于孔板310(以及相对于挡块316)例如围绕由杆322的轴向长度限定的轴线的如旋转(例如,指旋螺钉或螺母的旋转)等移动会引起附接装置324(相对于孔板310)的如旋转等(对应的)移动。此移动(旋转)(当孔板310定位在第一位置中时,并且当附接装置324与互补附接装置224接合(接触)时)可以导致附接装置324例如通过拧入或夹入到互补附接装置224中而变为附接到互补附接装置224。
因此应当理解,第一子组合件300(和孔板310)也可以使用控件例如通过使用手柄320附接到(固定到)第二子组合件。
根据各个实施例,第二子组合件可以进一步包括夹具230,所述夹具可以被配置成将孔板310保持在第一位置中。夹具230可以被配置成使得当第一子组合件300(例如通过推动手柄320)移动到第一位置中时,孔板310可以变为与夹具230接合并由所述夹具保持。
如图5A-6所示,夹具230可以被配置成(当孔板310处于第一位置中时)在孔板310的边缘处或附近与孔板310接触,所述边缘与孔板310的附接有控件(手柄320)的边缘相对(即,在孔板310的与挡块316相对的边缘处或附近)。夹具230可以被配置成与孔板310的边缘中的一些、大部分或全部边缘接触。
夹具230可以被配置成使孔板310的边缘保持抵靠第二子组合件的块或板220的正面。这确保了孔板310平行于第二子组合件的块或板220的正面。
通过上文可以理解,根据各个实施例,提供了一种包括第一子组合件300和第二子组合件的孔板组合件,所述第一子组合件包括孔板310以及任选地如手柄320等控件,所述第二子组合件包括导向件210,并且所述孔板组合件被配置成使得当第一子组合件300由导向件210接合时,孔板310可以例如使用控件(手柄320)相对于第二子组合件移动(推动)到其适当的(“第一”)位置中,并且还可以使用控件如使用手柄320附接到(固定到)第二子组合件。
在各个实施例中,可以通过相对于导向件210(使用手柄320)操纵(移动)第一子组合件300使得通道或通路314(至少部分地)围绕导向件210,并且然后将第一子组合件300(使用手柄320)朝向第二子组合件移动直到挡块316的(侧)面与第二子组合件的板或块220的侧面接触、孔板310的背面与第二子组合件的板或块220的正面接触、附接装置324变为与互补附接装置224接合(接触)以及直到孔板310变为与夹具230接合(接触)来将第一子组合件300附接到第二子组合件。此移动可以以上述方式受导向件210约束。
一旦孔板310适当地定位在第一位置中,如手柄320等控件就可以相对于孔板310(以及相对于第二子组合件)旋转,从而导致附接装置324相对于互补附接装置224旋转,并且导致附接装置324例如通过拧入到互补附接装置224中而变为附接到互补附接装置224。
同样地,在各个实施例中,第一子组合件300可以通过相对于孔板310(以及相对于第二子组合件)(沿相反方向)旋转如手柄320等控件从第二子组合件中分离,从而导致附接装置324相对于互补附接装置224旋转,并且导致附接装置324例如通过从互补附接装置224中拧下而变为与互补附接装置224分离。
然后可以(使用手柄320)移动(拉动)第一子组合件300远离第二子组合件,直到第一子组合件300不再由导向件210接合,使得通道或通路314不再围绕突出部(杆)。
这意味着孔板可以例如仅通过操纵控件如仅通过操纵手柄320以特别准确、方便和直接的方式附接、取出和/或替换。这进而意味着当需要清洁或替换孔板310时,这可以以特别快速和直接的方式完成。
因此,将理解,各个实施例提供了一种改进的孔板组合件。
尽管已经参考优选实施例对本发明进行了描述,但是本领域的技术人员应当理解,在不脱离所附权利要求中所示的本发明的范围的情况下,可以在形式和细节上作出各种改变。
Claims (20)
1.一种用于分析仪器的孔板组合件,所述组合件包括:
第一子组合件,所述第一子组合件包括孔板;以及
第二子组合件,所述第二子组合件包括导向件,其中所述第一子组合件被配置成附接到所述第二子组合件,使得所述孔板相对于所述第二子组合件定位在第一位置中;
其中所述第一子组合件和所述第二子组合件被配置成使得当所述第一子组合件由所述导向件接合时,所述孔板能移动到所述第一位置中并且所述第一子组合件能附接到所述第二子组合件。
2.根据权利要求1所述的孔板组合件,其中所述第一子组合件和所述第二子组合件被配置成使得当所述第一子组合件由所述导向件接合时,所述孔板能推动到所述第一位置中。
3.根据权利要求1或2所述的孔板组合件,其中:
所述导向件包括突出部,并且所述第一子组合件包括被配置成容纳所述突出部的通道或通路;或者
所述第一子组合件包括突出部,并且所述导向件包括被配置成容纳所述突出部的通道或通路。
4.根据前述权利要求中任一项所述的孔板组合件,其中所述导向件包括杆。
5.根据前述权利要求中任一项所述的孔板组合件,其中:
所述第一子组合件包括一个或多个第一面;并且
所述第二子组合件包括一个或多个对应的第二面;
其中所述第一面和所述第二面被配置成使得当所述孔板定位在所述第一位置中时,所述一个或多个第一面的至少一部分与所述一个或多个第二面的至少一部分接触。
6.根据权利要求5所述的孔板组合件,其中所述第一子组合件和所述第二子组合件被配置成使得当所述第一子组合件由所述导向件接合时,所述孔板能通过推动所述第一子组合件直到所述一个或多个第一面的至少一部分与所述一个或多个第二面的至少一部分接触而移动到所述第一位置中。
7.根据前述权利要求中任一项所述的孔板组合件,其中所述第一子组合件包括控件并且被配置成使得所述第一子组合件能通过相对于所述孔板移动所述控件的至少一部分而附接到所述第二子组合件。
8.根据权利要求7所述的孔板组合件,其中所述第一子组合件被配置成使得所述第一子组合件能通过相对于所述孔板旋转所述控件的至少一部分而附接到所述第二子组合件。
9.根据前述权利要求中任一项所述的孔板组合件,其中:
所述第一子组合件包括附接装置;
所述第二子组合件包括互补附接装置;并且
所述第一子组合件和所述第二子组合件被配置成使得当所述孔板定位在所述第一位置中时,所述附接装置能附接到所述互补附接装置。
10.根据权利要求5和9所述的孔板组合件,其中所述附接装置布置在所述一个或多个第一面中的一个第一面中或从所述一个第一面突出,并且所述互补附接装置布置在所述一个或多个第二面中的一个第二面中或从所述一个第二面突出。
11.根据权利要求7和9所述的孔板组合件,其中所述第一子组合件被配置成使得所述控件的至少一部分相对于所述孔板的旋转引起所述附接装置相对于所述孔板的旋转。
12.根据前述权利要求中任一项所述的孔板组合件,其中所述第二子组合件进一步包括夹具,所述夹具被配置成将所述孔板保持在所述第一位置中。
13.一种用于分析仪器的孔板子组合件,所述子组合件包括:
孔板;以及
控件;
其中所述子组合件被配置成附接到分析仪器,使得所述孔板相对于所述分析仪器定位在第一位置中;并且
其中所述子组合件被配置成使得当所述子组合件定位在所述第一位置中时,所述子组合件能使用所述控件附接到所述分析仪器。
14.一种用于分析仪器的附接子组合件,所述子组合件包括:
导向件;以及
附接装置;
其中所述附接装置被配置成使得孔板子组合件能附接到所述附接子组合件,使得所述孔板子组合件的孔板相对于所述附接子组合件定位在第一位置中;并且
其中所述导向件被配置成使得当所述孔板子组合件由所述导向件接合时,所述孔板能移动到所述第一位置中。
15.一种分析仪器,其包括根据前述权利要求中任一项所述的组合件或子组合件。
16.根据权利要求15所述的分析仪器,其中所述孔板包括孔,并且其中所述分析仪器被配置成使得当所述孔板定位在所述第一位置中时,离子能穿过所述孔。
17.根据权利要求15或16所述的分析仪器,其中所述分析仪器包括质量分析器,并且其中所述组合件或子组合件形成所述质量分析器的一部分和/或被布置成邻近所述质量分析器。
18.根据权利要求17所述的分析仪器,其中所述质量分析器包括加速组合件,并且其中所述组合件或子组合件形成所述加速组合件的一部分和/或被布置成邻近所述加速组合件。
19.根据权利要求15到18中任一项所述的分析仪器,其进一步包括接近面板或法兰,其中所述接近面板或法兰被配置成允许接近所述组合件或子组合件。
20.一种质谱法和/或离子迁移率谱法方法,其包括使离子穿过根据前述权利要求中任一项所述的组合件或子组合件的孔。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GBGB1906701.6A GB201906701D0 (en) | 2019-05-13 | 2019-05-13 | Aperture plate assembly |
GB1906701.6 | 2019-05-13 | ||
PCT/GB2020/051164 WO2020229819A1 (en) | 2019-05-13 | 2020-05-13 | Aperture plate assembly |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113841219A true CN113841219A (zh) | 2021-12-24 |
CN113841219B CN113841219B (zh) | 2024-03-08 |
Family
ID=67384743
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202080035576.5A Active CN113841219B (zh) | 2019-05-13 | 2020-05-13 | 孔板组合件 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20220208537A1 (zh) |
EP (1) | EP3970182A1 (zh) |
CN (1) | CN113841219B (zh) |
GB (2) | GB201906701D0 (zh) |
WO (1) | WO2020229819A1 (zh) |
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- 2019-05-13 GB GBGB1906701.6A patent/GB201906701D0/en not_active Ceased
-
2020
- 2020-05-13 EP EP20728144.5A patent/EP3970182A1/en active Pending
- 2020-05-13 WO PCT/GB2020/051164 patent/WO2020229819A1/en unknown
- 2020-05-13 CN CN202080035576.5A patent/CN113841219B/zh active Active
- 2020-05-13 US US17/610,843 patent/US20220208537A1/en active Pending
- 2020-05-13 GB GB2007014.0A patent/GB2586686B/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB202007014D0 (en) | 2020-06-24 |
GB201906701D0 (en) | 2019-06-26 |
US20220208537A1 (en) | 2022-06-30 |
EP3970182A1 (en) | 2022-03-23 |
GB2586686B (en) | 2023-08-16 |
GB2586686A (en) | 2021-03-03 |
CN113841219B (zh) | 2024-03-08 |
WO2020229819A1 (en) | 2020-11-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |