CN113828548B - 一种射频芯片测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种射频芯片测试装置和方法。该射频芯片测试装置包括：测试机和多台分选机；所述分选机与所述测试机连接；所述测试机中植入有用于控制分选机的工作模式和测试机资源分配的软件程序；分选机的工作模式包括：同步模式、轮盘模式和异步模式。本发明通过采用一台测试机就可以完成多台分选机工作过程的测试，能够有效解决现有技术中一台测试机只能控制一台分选机的问题，进而在提高测试效率的同时，降低芯片测试成本。

Description

一种射频芯片测试装置及方法

技术领域

本发明涉及射频芯片测试领域，特别是涉及一种射频芯片测试装置及方法。

背景技术

随着射频芯片测试技术的不断提高，工厂对量产测试要求也越来越高，人们当然是希望测试效率能够不断提高，但是现有的国内的技术针对射频芯片测试机的设置只能是一个测试机对应一个分选机，并不能满足测试效率提高的要求，这种情况下如果要提高效率，在测试速度已经很快并没有很大提升空间的情况下，只能通过外部的操作来实现，最显著的就是增加分选机同时操作。现有其他测试机的基础上想提高效率只能再买一套测试机和分选机，速度当然能够提高50%，但是很显然，测试机和分选机的成本都增加了，并且还多了占地空间，看起来并不是很明智的做法。

发明内容

本发明的目的是提供一种射频芯片测试装置及方法，能够提高测试效率。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种射频芯片测试装置，包括：测试机和多台分选机；

所述分选机与所述测试机连接；所述测试机中植入有用于控制分选机的工作模式和测试机资源分配的软件程序；分选机的工作模式包括：同步模式、轮盘模式和异步模式。

优选地，所述分选机的个数为2。

优选地，当所述分选机同时向所述测试机发送测试开始信号时，所述测试机调取所述软件程序使所述分选机的工作模式为同步模式。

优选地，当所述分选机分别向所述测试机发送测试开始信号时，所述测试机调取所述软件程序将资源分配给最先将测试开始信号发送给测试机的分选机；在最先将测试开始信号发送给测试机的分选机完成测试后，所述测试机再调取所述软件程序将资源分配给第二个将测试开始信号发送给测试机的分选机完成测试，依次类推，以使所述分选机的工作模式为轮盘模式。

优选地，当所述分选机分别向所述测试机发送测试开始信号时，所述测试机调取所述软件程序判断当前存储的资源是否满足当前分选机的测试要求，如果满足，则将资源分配给所述当前测试机完成测试，如果不满足，则当有另一个分选机完成测试时，所述测试机释放资源以将释放的资源分配给所述当前分选机完成测试，以使所述分选机的工作模式为异步模式。

根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：

本发明提供的射频芯片测试装置包括：测试机和多台分选机；所述分选机与所述测试机连接；所述测试机中植入有用于控制分选机的工作模式和测试机资源分配的软件程序；分选机的工作模式包括：同步模式、轮盘模式和异步模式。本发明通过采用一台测试机就可以完成多台分选机工作过程的测试，能够有效解决现有技术中一台测试机只能控制一台分选机的问题，进而在提高测试效率的同时，降低芯片测试成本。

对应于上述提供的射频芯片测试装置，本发明还提供了一种射频芯片测试方法，该方法包括：

获取分选机发出的测试开始信号的时序序列；

根据所述测试开始信号的时序序列，调取软件程序控制分选机的工作模式；所述分选机的工作模式包括：同步模式、轮盘模式和异步模式。

优选地，所述根据所述测试开始信号的时序序列，调取软件程序控制分选机的工作模式，具体包括：

当所述时序序列中的测试开始信号发送时间为同一时刻时，调取软件程序以使多台所述分选机的工作模式为同步模式。

优选地，所述根据所述测试开始信号的时序序列，调取软件程序控制分选机的工作模式，具体包括：

当所述时序序列中的测试开始信号发送时间为不同时刻时，调取所述软件程序将资源分配给最先发送测试开始信号的分选机；

在最先将测试开始信号发送给测试机的分选机完成测试后，再调取所述软件程序将资源分配给第二个发送测试开始信号的分选机完成测试，依次类推，以使多台所述分选机的工作模式为轮盘模式。

优选地，所述根据所述测试开始信号的时序序列，调取软件程序控制分选机的工作模式，具体包括：

当分别接收到多台分选机的测试开始信号时，调取所述软件程序判断当前存储的资源是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求；

当当前存储的资源满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则将资源分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试；

当当前存储的资源不满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则调取所述软件程序判断当前存储的资源是否满足第二个发送测试开始信号的分选机的测试要求；

当当前存储的资源满足第二个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则将资源分配给第二个发送测试开始信号的分选机完成测试；

当第二个发送测试开始信号的分选机完成测试时，释放第二个发送测试开始信号的分选机占用的资源，并返回执行“调取所述软件程序判断当前存储的资源是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求”的步骤。

优选地，所述根据所述测试开始信号的时序序列，调取软件程序控制分选机的工作模式，具体包括：

当分别接收到多台分选机的测试开始信号时，调取所述软件程序判断当前空闲的资源是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求；

当当前空闲的资源满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则将资源分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试；

当当前空闲的资源不满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则在接收到另一个分选机的测试结束信号后释放资源，将调取软件程序判断当前空闲的资源和释放资源的总和是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求，如果满足，则将当前空闲的资源和释放资源的总和分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试，如果不满足，则继续接收其他分选机的测试结束信号，释放资源，直至当前空闲的资源和释放资源的总和满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求。

因本发明提供的射频芯片测试方法实现的技术效果与上述通过的射频芯片测试装置达到的技术效果相同，故在此不再进行赘述。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明提供的射频芯片测试装置的结构框图；

图2为本发明提供的射频芯片测试方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的目的是提供一种射频芯片测试装置及方法，能够提高测试效率。

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

如图1所示，本发明提供的射频芯片测试装置，包括：测试机和多台分选机。

分选机与测试机连接。测试机中植入有用于控制分选机的工作模式和测试机资源分配的软件程序。分选机的工作模式包括：同步模式、轮盘模式和异步模式。

具体的，当分选机同时向测试机发送测试开始信号时，测试机调取软件程序使分选机的工作模式为同步模式。

当分选机分别向测试机发送测试开始信号时，测试机调取软件程序将资源分配给最先将测试开始信号发送给测试机的分选机。在最先将测试开始信号发送给测试机的分选机完成测试后，测试机再调取软件程序将资源分配给第二个将测试开始信号发送给测试机的分选机完成测试，依次类推，以使分选机的工作模式为轮盘模式。

当分选机分别向测试机发送测试开始信号时，测试机调取软件程序判断当前存储的资源是否满足当前分选机的测试要求，如果满足，则将资源分配给当前测试机完成测试，如果不满足，则当有另一个分选机完成测试时，测试机释放资源以将释放的资源分配给当前分选机完成测试，以使分选机的工作模式为异步模式。

对应于上述提供的射频芯片测试装置，本发明还提供了一种射频芯片测试方法，该方法包括：

步骤100：获取分选机发出的测试开始信号的时序序列。

步骤101：根据测试开始信号的时序序列，调取软件程序控制分选机的工作模式。分选机的工作模式包括：同步模式、轮盘模式和异步模式。

具体的，当时序序列中的测试开始信号发送时间为同一时刻时，调取软件程序以使多台分选机的工作模式为同步模式。

当时序序列中的测试开始信号发送时间为不同时刻时，调取软件程序将资源分配给最先发送测试开始信号的分选机。

在最先将测试开始信号发送给测试机的分选机完成测试后，再调取软件程序将资源分配给第二个发送测试开始信号的分选机完成测试，依次类推，以使多台分选机的工作模式为轮盘模式。

当分别接收到多台分选机的测试开始信号时，调取软件程序判断当前存储的资源是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求。

当当前存储的资源满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则将资源分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试。

当当前存储的资源不满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则调取软件程序判断当前存储的资源是否满足第二个发送测试开始信号的分选机的测试要求。

当当前存储的资源满足第二个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则将资源分配给第二个发送测试开始信号的分选机完成测试。

当第二个发送测试开始信号的分选机完成测试时，释放第二个发送测试开始信号的分选机占用的资源，并返回执行“调取软件程序判断当前存储的资源是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求”的步骤。

当分别接收到多台分选机的测试开始信号时，调取软件程序判断当前空闲的资源是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求。

当当前空闲的资源满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则将资源分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试。

当当前空闲的资源不满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则在接收到另一个分选机的测试结束信号后释放资源，将调取软件程序判断当前空闲的资源和释放资源的总和是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求，如果满足，则将当前空闲的资源和释放资源的总和分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试，如果不满足，则继续接收其他分选机的测试结束信号，释放资源，直至当前空闲的资源和释放资源的总和满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求。

下面以采用两台分选机和测试机连接为例，对本发明上述提供的射频芯片测试装置和方法的具体实施过程进行说明。

本发明能够实现测试机同时连接多个分选机进行芯片测试，支持三种模式：同步模式，异步模式和轮盘模式。对于一台测试机连接连两台分选机硬件连接方式有两种，一种是TTL的连接方式，每个分选机需要连接10根线，那么一对二连接需要20根线。另一种是GPIB的连接方式，每个分选机只需要连接1根线，那么一对二连接需要2根线。基于上述连接结构，分选机的不同工作模式为：

A、同步模式

测试机简称T，两台分选机简称H1和H2，同步模式下，H1和H2的测试内容是完全相同的，测试机可以同时控制两台分选机H1和H2进行测试。这种情况需要在测试机里配置两套完全一样的资源。H1和H2同时发布测试开始信号SOT（start of time）信息给T，T同时分配资源给H1和H2，测试完成后也同时发送测试结束信号EOT（end of time）信息给对应的分选机H1和H2。

B、轮盘模式

这种模式下，测试机里只配置了一套资源，两台分选机谁先发送SOT给测试机，测试机就分配资源给谁进行测试。测试完成之后返回EOT给对应的分选机，然后再处理另外一台分选机的SOT信息。例如：

分选机H1向测试机T发送SOT信息，测试机T收到信息后，分配资源给H1进行测试。

在分选机H1测试期间，分选机H2向测试机T发送SOT信息，测试机T收到信息，放入队列等待。

分选机H1测试完成后，T释放其资源并发送EOT信息给分选机H1，然后处理分选机H2的SOT信息，测试机T再分配资源给分选机H2，分选机H2正常测试。

假设分选机H1和H2都各自只有一个site进行测试，那么最理想的情况是，分选机转动一格的时间和芯片的测试时间相等，比如都是1s，那么分选机H1花1s时间将芯片压在测试台上，测试机T控制分选机H1测试1s，然后立刻切换到分选机H2，切换的时间非常小，可以忽略不计，分选机H2测试时间也为1s，那么在分选机H2测试的这1s期间，分选机H1也已经刚好转动一格，将芯片放在测试台上了，所以分选机H2测完后，测试机迅速切换到分选机H1，直接进行测试，于此同时，分选机H2也再转动一格将芯片放在测试台上。可以发现，这种模式充分利用了分选机转动一格放置芯片的时间进行了另外一格分选机上的测试，可以保持测试机每一秒都处于工作的状态，可以最大程度的提高测试效率。

C、异步模式

异步模式的两台分选机H1和H2是完全异步进行的，可以测不一样测项，所以对资源的要求也是不一样的，所以就会涉及到资源抢占的问题。测试机配有所有的测试资源的情况下，要设置一套完整的资源分配的机制。

分选机准备好测试之后会向测试机发送SOT信息，测试机会先判断一下当前空置的资源是否能满足该分选机测试需要，满足的话就会分配资源开始测试，不满足的话就排队等待，每当有分选机测试完毕，测试机便会释放其占有的资源，然后遍历现有的未处理的SOT信息队列，满足资源要求的SOT信息优先处理，其他的继续排队。

下面是一种测试情况的详细说明：

如表1，展示了三种测试机的不同测试步骤所需要的资源。

表1 测试步骤所需要的资源列表

分选机H3向测试机T发出SOT信息，测试机T收到信息后进行资源判断，当前空置资源有ABCD，分选机H3的测试步骤1需要资源A，资源满足，则测试机T将资源A分配给H3使用，分选机H3的测试步骤1正常进行，如下表2所示。

表2 分选机H3的测试步骤1正常进行状态表

分选机H3测试步骤1完成，测试机T释放资源A，并返回EOT信息给分选机H3，分选机H3收到信息后随即发出其测试步骤2的SOT信息给测试机T。测试机T处理SOT队列，开始处理分选机H3发来的SOT信息，首先进行资源判断，当前空置资源有ABCD，资源满足，则测试机T将资源BD分配给分选机H3使用，分选机H3的测试步骤2正常进行，如下表3所示。

表3 分选机H3的测试步骤1和步骤2正常进行状态表

分选机H1向测试机T发送SOT信息，测试机T收到信息后进行资源判断，当前的空置资源为AC，不能满足分选机H1测试步骤1的资源要求，于是该SOT信息只能排队等待处理，如下表4所示。

表4 排队等待状态表

分选机H2向测试机T发送SOT信息，测试机T收到信息后进行资源判断，当前空置资源为AC，满足分选机H2测试步骤1的资源要求，于是测试机T将资源C分配给分选机H3使用，分选机H3的测试步骤1正常进行，如下表5所示。

表5 分选机H3状态工作表

分选机H3测试步骤2完成，测试机T释放资源BD并返回EOT信息给分选机H3，分选机H3收到信息后随即发出其测试步骤3的SOT信息给测试机T。

测试机T处理SOT队列，发现刚好能够满足分选机H1的测试步骤1的资源要求，于是测试机T将资源AB分配给分选机H1使用，分选机H1测试步骤1正常进行。

分选机H3的测试步骤3需要资源D刚好也能满足要求，则测试机T将资源D分配给H3使用，分选机H3的测试步骤3正常进行，如下表6所示。

表6 分选机H3的测试步骤3正常进行状态表

分选机H2的测试步骤1完成，测试机T释放资源C并返回EOT信息给分选机H2，分选机H2收到信息后随即发出其测试步骤2的SOT信息给测试机T。

测试机T处理SOT队列，开始处理分选机H2的测试步骤2的SOT信息，当前空置资源不能满足要求，该SOT信息继续等待，如下表7所示。

表7 测试机T处理SOT队列状态第一列表

分选机H1测试步骤1测试完成，测试机T释放资源AB并返回SOT信息给分选机H1，分选机H1收到信息后随即发送其测试步骤2的SOT信息给测试机T。

测试机T处理SOT队列，发现当前空置资源能够满足队列中分选机H2的测试步骤2的资源需求，于是将资源AB分配给分选机H2使用，如下表8所示。

表8 测试机T处理SOT队列状态第二列表

分选机H3测试步骤3完成测试，测试机释放资源D并返回EOT信息给分选机H3，分选机H3收到信息后随即发出其测试步骤4的SOT信息给分选机H3。

测试机T处理SOT队列，发现当前空置资源不能满足队列中分选机H3的测试步骤4的资源需求，该SOT信息继续等待处理，如下表9所示。

表9 测试机T处理SOT队列第三列表

采用本发明上述提供的技术方案的场合是分选机的速度成为瓶颈而测试时间比较短的时候。目前转塔式分选机的换料时间大约可以调整到100ms左右，而测试机的测试时间因被测件不同而不同，针对有些被测件可以达到20ms的测试时间。那么如果测试机用20ms的时间做测试，测完以后等100ms的换料再进行20ms的测试显然是有浪费的。用MoreHandler技术可以最多达成5台分选机的轮盘工作，在A分选机换料的时候测试机立刻去做B分选机上的测试工作，20ms之后又去做C分选机上的测试工作，一直到E分选机上的被测件测完，A分选机刚好完成第一次的换料，于是测试机就继续A分选机上的测试。这样可以节省4台测试机，达到完全相同的效果。

多分选机协同工作时，区分是哪一台分选机上的物料并且生成相应的测试报告是需要考虑的一个难点。基本逻辑是：假如是5台分选机协同工作，那么在开始测试之后需要建立5张结果数据表和5张统计数据表，根据SOT信号的引脚来判断测试数据属于哪张表，独立进行结果数据的记录和统计数据的计算，最后生成5组报告。

由于多分选机轮盘工作，在数字信号线上会产生脉冲序列，脉冲序列有可能会对相邻线对产生干扰，产生误触发，本发明可以调取软件程序基于脉冲长度测量来判断是否是误触发。具体的，每10ms轮询一次TTL线上电平（SOT信号会持续40ms时间），如果为高电平，则在接下来的20ms内每10ms轮询一次，如果每次都为高电平，则认为是真实信号，否则为假信号。TTL信号的误触发判断在多个分选机间是独立进行的，以节省时间。

基于本发明上述提供的方案，本发明相较于现有技术还具有以下优点：

1、本发明采用一个测试机控制多个分选机使得射频芯片测试效率更高；

2、通过在测试机中植入软件程序以控制不同测试模式的实施，具有更高的适用性，并且多种测试模式可以满足各种不同的实际的测试要求。

3、本发明可以进行多分选机的多站并测和多站串测，还可以进行多分选机的不同物料的同步测试。如果涉及同一台分选机上的多站测试，可以设置50ms的批次等待时间，确保同一个分选机的多个站的SOT可以在一个批次中到达，避免在串测过程中错过批次导致数据错位。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的系统而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (4)

1.一种射频芯片测试装置，其特征在于，包括：测试机和多台分选机；

所述分选机与所述测试机连接；所述测试机中植入有用于控制分选机的工作模式和测试机资源分配的软件程序；分选机的工作模式包括：同步模式、轮盘模式和异步模式；

当所述分选机同时向所述测试机发送测试开始信号时，所述测试机调取所述软件程序使所述分选机的工作模式为同步模式；

当所述分选机分别向所述测试机发送测试开始信号时，所述测试机调取所述软件程序将资源分配给最先将测试开始信号发送给测试机的分选机；在最先将测试开始信号发送给测试机的分选机完成测试后，所述测试机再调取所述软件程序将资源分配给第二个将测试开始信号发送给测试机的分选机完成测试，依次类推，以使所述分选机的工作模式为轮盘模式；

当所述分选机分别向所述测试机发送测试开始信号时，所述测试机调取所述软件程序判断当前存储的资源是否满足当前分选机的测试要求，如果满足，则将资源分配给当前测试机完成测试，如果不满足，则当有另一个分选机完成测试时，所述测试机释放资源以将释放的资源分配给所述当前分选机完成测试，以使所述分选机的工作模式为异步模式；

当分别接收到多台分选机的测试开始信号时，调取所述软件程序判断当前空闲的资源是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求；

当当前空闲的资源满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则将资源分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试；

当当前空闲的资源不满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则在接收到另一个分选机的测试结束信号后释放资源，将调取软件程序判断当前空闲的资源和释放资源的总和是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求，如果满足，则将当前空闲的资源和释放资源的总和分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试，如果不满足，则继续接收其他分选机的测试结束信号，释放资源，直至当前空闲的资源和释放资源的总和满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求。

2.根据权利要求1所述的射频芯片测试装置，其特征在于，所述分选机的个数为2。

3.一种射频芯片测试方法，其特征在于，包括：

获取分选机发出的测试开始信号的时序序列；

根据所述测试开始信号的时序序列，调取软件程序控制分选机的工作模式；所述分选机的工作模式包括：同步模式、轮盘模式和异步模式；

其中，当所述时序序列中的测试开始信号发送时间为同一时刻时，调取软件程序以使多台所述分选机的工作模式为同步模式；

当所述时序序列中的测试开始信号发送时间为不同时刻时，调取所述软件程序将资源分配给最先发送测试开始信号的分选机；

在最先将测试开始信号发送给测试机的分选机完成测试后，再调取所述软件程序将资源分配给第二个发送测试开始信号的分选机完成测试，依次类推，以使多台所述分选机的工作模式为轮盘模式；

所述根据所述测试开始信号的时序序列，调取软件程序控制分选机的工作模式，具体包括：

当分别接收到多台分选机的测试开始信号时，调取所述软件程序判断当前空闲的资源是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求；

当当前空闲的资源满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则将资源分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试；

当当前空闲的资源不满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则在接收到另一个分选机的测试结束信号后释放资源，将调取软件程序判断当前空闲的资源和释放资源的总和是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求，如果满足，则将当前空闲的资源和释放资源的总和分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试，如果不满足，则继续接收其他分选机的测试结束信号，释放资源，直至当前空闲的资源和释放资源的总和满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求。

4.根据权利要求3所述的射频芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述测试开始信号的时序序列，调取软件程序控制分选机的工作模式，具体包括：

当分别接收到多台分选机的测试开始信号时，调取所述软件程序判断当前存储的资源是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求；

当当前存储的资源满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则将资源分配给第一个发送测试开始信号的分选机完成测试；

当当前存储的资源不满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则调取所述软件程序判断当前存储的资源是否满足第二个发送测试开始信号的分选机的测试要求；

当当前存储的资源满足第二个发送测试开始信号的分选机的测试要求时，则将资源分配给第二个发送测试开始信号的分选机完成测试；

当第二个发送测试开始信号的分选机完成测试时，释放第二个发送测试开始信号的分选机占用的资源，并返回执行“调取所述软件程序判断当前存储的资源是否满足第一个发送测试开始信号的分选机的测试要求”的步骤。

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