CN1138163C - 阵列波导光栅组件和使用其监视光信号的装置 - Google Patents

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Abstract

一阵列波导光栅(AWG)组件，用于在波分复用系统中监视波分复用多信道光信号的质量而不使用专用测量器，及使用AWG组件监视波分复用光信号的装置。AWG组件包含接收波分复用光信号的输入波导，分路该光信号功率并传送分路光信号的第一星形耦合器，处理分路光信号使其有与AWG单元的波导长度间差值成比例的相位差的AWG单元，将从AWG单元收到的光信号相互干涉的聚焦在不同位置的第二星形耦合器，及产生基于该光信号功率值的电信号的光功率测量器。

Description

阵列波导光栅组件和使用其监视光信号的装置
技术领域
本发明涉及一阵列波导光栅(AWG)组件，其用于在一波分复用(WDM)系统中监视多个信道波分多路复用光学的光学信号的特性，而不必使用一特殊的测量仪器，并且涉及使用该阵列波导光栅组件监视波分复用光信号的一光信号监视装置。
背景技术
在几个光学的信道被多路复用并被传输到一个光学电缆的一个波分复用系统中，在该光学信号光学地多路分路进入信道以前必须监视波分复用光学信号的质量。
通常，每个信道的光学的功率、光学的波长和光学的信噪比(OSNR)必须被检测以监视波分复用多路信道光学的信号。在波分复用光传输装置中，每个信道的波长偏差必须被正确地控制，由于它不只是引起一通信的信道信号传输的错误，而且还引起临近该通信信道的信道的信号的传输错误。而且，控制情形必须实时监视。此外，当使用波分复用光放大器时，对于每一信道光信号的光功率和光学的信噪比可以是不同的，所以每一信道的功率和光学的信噪比必须被监视。
在美国专利No.5,617,234中，透露了利用阵列波导光栅和光电二极管阵列的一结构，每个信道的波长可以被监视，但是阵列波导光栅的温度必须被实时控制，需要提供分离地用作参考波长的一光信号，并且光信号的光功率和光学的信噪比不能被精确地检测。而且，在该波分复用光传输系统中，每个信道信号的光功率、光波长和光学的信噪比必须能够被同时地监视。然而，在使用阵列波导光栅的现有技术中，当三个测量项之中两个任意的项被测量时，剩余项不能被测量。
发明内容
本发明的目的是提供一阵列波导光栅(AWG)组件，用于在波分复用(WDM)光传输系统中监视波分复用(WDM)多信道光信号。
本发明的另一目的是提供一种装置，其不仅用于测量波分复用多路信道信号的每个信道信号的波长、光功率和光信噪比(OSNR)，而且也用于测量相对于整个光信号波带的光谱。
为实现本发明的目的，提供了一种用于监视波分复用(WDM)光信号的装置，该装置包括：
一阵列波导光栅组件，它包括：输入波导，它用于接受通过光信号传输介质的波分复用光信号；第一星形耦合器，用于将从输入波导收到的波分复用光信号的功率分路并且传送该分路的光信号到阵列波导光栅单元的波导；阵列波导光栅单元，用于处理由第一星形耦合器输出的分路的光信号，以使该分路的光信号具有与包括在该阵列波导光栅单元中的波导的长度之间的差值成比例的相位差；以及第二星形耦合器，用于通过使收到的光信号之间产生相互的干涉，将从阵列波导光栅单元收到的光信号聚焦在不同的位置；
与第二星形耦合器连接的光功率测量单元，它包括位于与第二星形耦合器接触的表面上多个位置的多个光测量元件，用于产生取决于第二星形耦合器输出的光信号的功率值的电信号；
模拟/数字转换器，用于将所述电信号转换成数字信号；
数据处理器，其用于处理所述的数字信号，以便分析所述收到的光信号的特性。
通过参照附图对一个优选实施例的详细地描述，将使本发明的上面的目的和优点变得更加明显。
附图说明
图1显示了根据本发明的一阵列波导光栅(AWG)组件；
图2是使用一阵列波导光栅组件的光信号监视装置的方框图；
图3示出了在一光谱检测面上的光谱。
具体实施方式
参见图1，根据本发明的一个实施例的阵列波导光栅(AWG)组件包括：一输入波导100，一个第一星形耦合器110，一阵列波导光栅单元120，一第二星形耦合器130，以及一光功率测量器140。
将被监视的一波分复用(WDM)光信号通过一光纤入射到输入波导100上。引入到输入波导100的波分复用光信号由作为光功率分路器的第一星形耦合器110分路，该分光信号入射到阵列波导光栅单元120。在阵列波导光栅单元120中，波分复用光信号的相位被变化。
已经经过阵列波导光栅单元120的具有不同的波长的分路波分复用光信号具有与在该阵列波导光栅单元120中的波导长度之间的差值成比例的相位差别。即，在这些相位变换的光信号互相地干扰的同时，该波分复用光信号被分路成有不同的波长的光信号。已经经过阵列波导光栅单元120的光信号被施加到第二星形耦合器130。第二星形耦合器130造成收到的光信号之间的相互的干涉，以使不同的波长的光信号根据各个波长聚焦在光谱检测表面135的不同的位置上。光功率测量器140被定位在光谱检测表面135上，通过该光光谱检测表面光功率测量器140直接地连接到第二星形耦合器130。光功率测量器140将由第二星形耦合器130输出的各个波长光信号的功率转换成一电流信号。光功率测量器140可以是一光电二极管阵列或一电荷耦合器件。
图2是使用本发明的阵列波导光栅组件的信道监视装置的方框图。参见图2，信道监视装置包括：一阵列波导光栅组件210，一模/数转换器(ADC)220，以及一数据处理器230。
阵列波导光栅组件210具有上面图1描述的结构。该阵列波导光栅组件210将光信号的功率转换成电信号，比如一电流信号，并且该电信号被施加到ADC220并由ADC220转换成数字数据。数字数据被施加到数据处理器230，整个光波带的光谱被监视，如在下面描述的。数据处理器可以是微处理器等。
在为第二星形耦合器130和光功率测量器140的接触面的光谱检测表面135上的光波长的光谱被显示在图3中。现有的阵列波导光栅组件在不同的通道光信号被聚焦的光谱检测面135的位置上设置光波导，并且各个信道被引入到光纤中。根据本发明的阵列波导光栅组件在光谱检测面135上不设置光波导。作为替代，它使用一光电二极管阵列或一电荷耦合器件。因此，获得相对于整个波带的光信号的光谱并且用于监视波分复用光信号的特性。
由于图1的阵列波导光栅单元120的波分路功能，不同的波长的光信号沿着一水平轴320被聚焦在光谱检测面上的不同的位置。结果，光谱310沿着水平轴320形成在光谱检测面上。当光电二极管阵列或者电荷耦合器件连接到第二星形耦合器130的输出时，具有不同的波长的光线依照她们的波长入射到光电二极管阵列的光电二极管或者电荷耦合器件的象素上。
在一种检测入射在光电二极管阵列或者电荷耦合器件上不同的象素上的光信号的方法中，预先接收具有已知波长的一参考光信号，并且该参考光信号是在被检测的象素上被输出。因此，可以认为检测的像素是用于该参考光信号的波长的。而且，入射在一个像素上的光波长的光功率可以是从该像素输出的电流值推断出。因此，可以为每一波长检测光功率。此外，光信号的光学的信噪比可以通过将从入射光信号已经被检测的一个象素获得的电流值与从其他象素获得的电流值比较获得。
这里，随在光电二极管阵列中光电二极管数目或在电荷耦合器件上像素数目的增加，可以获得更精确的分辩率。
因此，可以获得每一信道的光功率、光波长和光信号的光学的信噪比。还可以获得相对于整个的波长带的波分复用光信号的光谱。

Claims (2)

1.一个用于监视波分复用光信号的装置，其特征在于该装置包括：
一阵列波导光栅组件，它包括：输入波导，它用于接受通过光信号传输介质的波分复用光信号；
第一星形耦合器，用于将从输入波导收到的波分复用光信号的功率分路并且传送该分路的光信号到阵列波导光栅单元的波导；阵列波导光栅单元，用于处理由第一星形耦合器输出的分路的光信号，以使该分路的光信号具有与包括在该阵列波导光栅单元中的波导的长度之间的差值成比例的相位差；以及第二星形耦合器，用于通过使收到的光信号之间产生相互的干涉，将从阵列波导光栅单元收到的光信号聚焦在不同的位置；
与第二星形耦合器连接的光功率测量单元，它包括位于与第二星形耦合器接触的表面上多个位置的多个光测量元件，用于产生取决于第二星形耦合器输出的光信号的功率值的电信号；
模拟/数字转换器，用于将所述电信号转换成数字信号；
数据处理器，其用于处理所述的数字信号，以便分析所述收到的光信号的特性。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于光功率测量单元是光电二极管阵列或电荷耦合器件。
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