CN113805040A - 一种具有水平调整机构的集成电路测试设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其结构包括机体、电机、滑枕、输送板、水平调整机构，由于输送板移动时产生震动力，使得部件在输送板上方轻微的移动，通过在卡槽内部设有夹持机构，能够对部件的导电管夹持，保持导电管为垂直角度，减少出现部件受到震动力作用而导电管与导电杆的接触位置脱离，能正常对部件的导电性测试，由于部分部件外壁的壳体为陶瓷材质，快速将部件放置在测试板顶部时，部件外壁与测试板顶部撞击以出现损坏的现象，通过在测试板顶部设有缓冲机构，能够对部件缓冲，减小部件顶部与测试板顶部的撞击力，减少出现部件外壁损坏的现象，有利于部件正常使用。

Description

一种具有水平调整机构的集成电路测试设备
技术领域
本发明属于集成电路测试技术领域，更具体的说，尤其涉及到一种具有水平调整机构的集成电路测试设备。
背景技术
采用电流测试机对集成电路部件的导电性测试，将部件的导电管往测试板的卡槽中插入，使得导电管与卡槽内部的导电杆接触，对部件通电后进行性能测试，为了加快对部件的测试速度，通过输送板与电机活动配合在滑枕上移动，将测试完毕后的部件取下，且在输送板两侧设有水平调整机构，能对输送板的水平角度调节；现有技术中采用电流测试机对集成电路部件的导电性测试时，由于部分部件的导电管直径较小，与导电杆的接触面积减小，输送板移动时产生震动力，使得部件在输送板上方轻微的移动，出现导电管与导电杆的接触位置脱离，不能正常对部件的导电性测试。
发明内容
为了解决上述技术采用电流测试机对集成电路部件的导电性测试时，由于部分部件的导电管直径较小，与导电杆的接触面积减小，输送板移动时产生震动力，使得部件在输送板上方轻微的移动，出现导电管与导电杆的接触位置脱离，不能正常对部件的导电性测试，本发明提供一种具有水平调整机构的集成电路测试设备。
为了实现上述目的，本发明是通过如下的技术方案来实现：一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其结构包括机体、电机、滑枕、输送板、水平调整机构，所述电机安装在机体靠近后方的顶中部，所述滑枕底面水平安装在机体上表面中部，所述输送板后端与电机前端相连接，且底面与滑枕上表面滑动配合，所述水平调整机构底面焊接在机体靠近左右两侧的上表面，且与输送板两侧表面活动配合。
所述输送板包括滑动板、测试板、卡槽、夹持机构、缓冲机构，所述测试板底面与滑动板上表面相连接，所述卡槽凹陷在测试板中部的上表面及内部之间，所述夹持机构左右两端分别固定在卡槽左右两侧的内顶部，所述缓冲机构分别嵌套在测试板上表面，且位于卡槽左右两侧。
作为本发明的进一步改进，所述夹持机构包括支撑环、活动块、夹板，所述活动块外侧面与支撑环内侧面连为一体，所述夹板外侧面与活动块内侧面中部相连接，所述夹板设有四个，围绕组成圆环状，能够增大夹板与部件的导电管外壁的接触面积。
作为本发明的进一步改进，所述活动块包括支撑板、伸缩杆、衔接块、伸缩板、排气口，所述伸缩杆顶端固定在支撑板底面中部，所述衔接块上表面中部安装在伸缩杆底端，所述伸缩板顶端分别与支撑板左右两端的底面铰链连接，且底端与衔接块左右两侧表面连为一体，所述排气口贯穿伸缩板内外侧表面，所述伸缩板整体为橡胶材质，具有伸缩性，能够随着衔接块移动而形变。
作为本发明的进一步改进，所述排气口包括套管、卡板、伸缩条，所述卡板顶端分别与套管两侧内壁衔接连接，所述伸缩条分别设置在卡板底面位置，所述排气口设有两个，呈左右堆成分布，能够增大气流沿着排气口扩散的面积。
作为本发明的进一步改进，所述夹板包括支板、缓冲块、开口，所述缓冲块底面固定在支板上表面，所述开口夹在缓冲块之间，所述缓冲块设有五块，能够增大缓冲块与导电管外壁的配合面积。
作为本发明的进一步改进，所述缓冲机构包括框架、配合槽、移动块、支撑条、卡杆，所述配合槽穿过框架底面及内底部之间，所述移动块套在框架内顶部，所述支撑条上下端分别与框架内顶部和移动块左右两端的上表面相连接，所述卡杆顶端垂直安装在移动块底面，所述移动块底部的宽度较大，能够与框架内壁活动卡合，所述卡杆和配合槽活动卡合，能够增大移动块受到的支撑力。
作为本发明的进一步改进，所述卡杆包括支杆、卡球、扩张块、推条，所述卡球中部嵌固在支杆底端，所述扩张块分别安装在卡球左右两侧，所述推条夹在卡球两侧表面及扩张块内侧面之间，所述扩张块分别和两条相同的推条活动配合，能够增大推条对扩张块的推动力。
作为本发明的进一步改进，所述配合槽包括套环、侧槽、磁板，所述侧槽分别设置在套环两侧内壁，所述磁板嵌套在侧槽内部，所述磁板与扩张块通过磁力活动配合，能够产生吸力。
有益效果
与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：
1、由于输送板移动时产生震动力，使得部件在输送板上方轻微的移动，通过在卡槽内部设有夹持机构，能够对部件的导电管夹持，保持导电管为垂直角度，减少出现部件受到震动力作用而导电管与导电杆的接触位置脱离，能正常对部件的导电性测试。
2、由于部分部件外壁的壳体为陶瓷材质，快速将部件放置在测试板顶部时，部件外壁与测试板顶部撞击以出现损坏的现象，通过在测试板顶部设有缓冲机构，能够对部件缓冲，减小部件顶部与测试板顶部的撞击力，减少出现部件外壁损坏的现象，有利于部件正常使用。
附图说明
图1为本发明一种具有水平调整机构的集成电路测试设备的结构示意图。
图2为本发明一种输送板侧视及侧面剖视的结构示意图。
图3为本发明一种夹持机构俯视的结构示意图。
图4为本发明一种活动块俯视剖面的结构示意图。
图5为本发明一种排气口内部俯视的结构示意图。
图6为本发明一种夹板的结构示意图。
图7为本发明一种缓冲机构侧面剖视的结构示意图。
图8为本发明一种卡杆侧面剖视的结构示意图。
图9为本发明一种配合槽内部侧视的结构示意图。
图中：机体-1、电机-2、滑枕-3、输送板-4、水平调整机构-5、滑动板-41、测试板-42、卡槽-43、夹持机构-44、缓冲机构-45、支撑环-441、活动块-442、夹板-443、支撑板-421、伸缩杆-422、衔接块-423、伸缩板-424、排气口-425、套管-25a、卡板-25b、伸缩条-25c、支板-431、缓冲块-432、开口-433、框架-451、配合槽-452、移动块-453、支撑条-454、卡杆-455、支杆-55a、卡球-55b、扩张块-55c、推条-55d、套环-r1、侧槽-r2、磁板-r3。
具体实施方式
以下结合附图对本发明做进一步描述：
实施例1：
如附图1至附图6所示：
本发明提供一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其结构包括机体1、电机2、滑枕3、输送板4、水平调整机构5，所述电机2安装在机体1靠近后方的顶中部，所述滑枕3底面水平安装在机体1上表面中部，所述输送板4后端与电机2前端相连接，且底面与滑枕3上表面滑动配合，所述水平调整机构5底面焊接在机体1靠近左右两侧的上表面，且与输送板4两侧表面活动配合。
所述输送板4包括滑动板41、测试板42、卡槽43、夹持机构44、缓冲机构45，所述测试板42底面与滑动板41上表面相连接，所述卡槽43凹陷在测试板42中部的上表面及内部之间，所述夹持机构44左右两端分别固定在卡槽43左右两侧的内顶部，所述缓冲机构45分别嵌套在测试板42上表面，且位于卡槽43左右两侧。
其中，所述夹持机构44包括支撑环441、活动块442、夹板443，所述活动块442外侧面与支撑环441内侧面连为一体，所述夹板443外侧面与活动块442内侧面中部相连接，所述夹板443设有四个，围绕组成圆环状，能够增大夹板443与部件的导电管外壁的接触面积，增大对部件的支撑力，保持部件为垂直角度，能够增大导电管与卡槽43内部导电杆的接触面积。
其中，所述活动块442包括支撑板421、伸缩杆422、衔接块423、伸缩板424、排气口425，所述伸缩杆422顶端固定在支撑板421底面中部，所述衔接块423上表面中部安装在伸缩杆422底端，所述伸缩板424顶端分别与支撑板421左右两端的底面铰链连接，且底端与衔接块423左右两侧表面连为一体，所述排气口425贯穿伸缩板424内外侧表面，所述伸缩板424整体为橡胶材质，具有伸缩性，能够随着衔接块423移动而形变，通过伸缩板424将活动块442内部的气流推动往排气口425扩散，气流在卡槽43内部扩散，使得卡槽43内部的热量扩散随着气流扩散。
其中，所述排气口425包括套管25a、卡板25b、伸缩条25c，所述卡板25b顶端分别与套管25a两侧内壁衔接连接，所述伸缩条25c分别设置在卡板25b底面位置，所述排气口425设有两个，呈左右堆成分布，能够增大气流沿着排气口425扩散的面积，进一步加快卡槽43内部的热量扩散。
其中，所述夹板443包括支板431、缓冲块432、开口433，所述缓冲块432底面固定在支板431上表面，所述开口433夹在缓冲块432之间，所述缓冲块432设有五块，能够增大缓冲块432与导电管外壁的配合面积，通过缓冲块432对导电管外壁缓冲，减小支板431对导电管外壁的撞击力，减少出现导电管外壁破损的现象，有利于部件正常使用。
本实施例的具体使用方式与作用：
本发明中，将集成电路部件的导电管往输送板4的测试板42顶部的卡槽43中插入，使得导电管与卡槽43内部的导电杆接触通电，对部件的导电性能测试，且电机2将滑动板41推动，滑动板41底面与机体1顶部的滑枕3滑动配合往前移动，测试完毕后，将部件取下，输送板4的角度改变时，调节水平调整机构5对输送板4的角度调节，当部件导电管的直径较小时，夹持机构44中的活动块442内部的伸缩杆422顶端以支撑板421为支点将衔接块423往下推动，衔接块423带动伸缩板424扩张，且衔接块423将夹板443的支板431推动贴在导电管外壁，使得导电管为垂直角度，增大与导电杆的接触面积，当部件的导电管直径较大时，导电管将夹板443推动，夹板443通过衔接块423将伸缩杆422推动收缩，衔接块423移动将伸缩板424带动移动形变，使得活动块442内部的气流沿着排气口425扩散，排气口425内部的卡板25b受到气流的推力摆动，并将伸缩条25c推动形变，气流扩散在卡槽43内部，加快卡槽43内部的热量扩散，且部分气流沿着开口433作用在导电管外壁，气流的推力减小时，卡板25b受到伸缩条25c的拉力复位，通过卡板25b对外界的粉尘阻挡，伸缩杆422复位通过衔接块423将夹板443推动对导电管夹持，且通过缓冲块432对导电管外壁缓冲，减小夹板443对导电管外壁的撞击力，通过在卡槽43内部设有夹持机构44，能够对部件的导电管夹持，保持导电管为垂直角度，减少出现部件受到震动力作用而导电管与导电杆的接触位置脱离，能正常对部件的导电性测试。
实施例2：
如附图7至附图9所示：
其中，所述缓冲机构45包括框架451、配合槽452、移动块453、支撑条454、卡杆455，所述配合槽452穿过框架451底面及内底部之间，所述移动块453套在框架451内顶部，所述支撑条454上下端分别与框架451内顶部和移动块453左右两端的上表面相连接，所述卡杆455顶端垂直安装在移动块453底面，所述移动块453底部的宽度较大，能够与框架451内壁活动卡合，对移动块453往上移动的位置限位，所述卡杆455和配合槽452活动卡合，能够增大移动块453受到的支撑力，减少出现移动块453受到支撑条454的拉力复位，保持缓冲机构45顶部的部件为水平角度。
其中，所述卡杆455包括支杆55a、卡球55b、扩张块55c、推条55d，所述卡球55b中部嵌固在支杆55a底端，所述扩张块55c分别安装在卡球55b左右两侧，所述推条55d夹在卡球55b两侧表面及扩张块55c内侧面之间，所述扩张块55c分别和两条相同的推条55d活动配合，能够增大推条55d对扩张块55c的推动力，加快扩张块55c的摆动速度，使扩张块55c贴在配合槽452内壁，而卡杆455卡在配合槽452内部，能够对移动块453限位。
其中，所述配合槽452包括套环r1、侧槽r2、磁板r3，所述侧槽r2分别设置在套环r1两侧内壁，所述磁板r3嵌套在侧槽r2内部，所述磁板r3与扩张块55c通过磁力活动配合，能够产生吸力，增大卡杆455受到的支撑力，能够对卡杆455限位。
本实施例的具体使用方式与作用：
本发明中，当部件的重力较大时，部件放置在测试板42顶部，缓冲机构45中的移动块453顶部受到部件的重力作用往框架451内部移动，且移动块453将支撑条454拉动扩张，随着移动块453逐渐往下移动，卡杆455随着往下移动，卡球55b进入到配合槽452中时，推条55d以卡球55b为支点将扩张块55c推动扩张贴在配合槽452内壁，且扩张块55c与侧槽r2内部的磁板r3通过磁力活动配合产生吸力，增大卡杆455受到的支撑力，对移动块453限位，移动块453往下移动与框架451顶部为水平面状，且部件的体积较小时，将部件放置在移动块453顶端的内侧面之间，对部件限位，取下部件后，支撑条454将移动块453拉动复位，卡杆455底端离开配合槽452内部，通过在测试板42顶部设有缓冲机构45，能够对部件缓冲，减小部件顶部与测试板42顶部的撞击力，减少出现部件外壁损坏的现象，有利于部件正常使用。
利用本发明所述技术方案，或本领域的技术人员在本发明技术方案的启发下，设计出类似的技术方案，而达到上述技术效果的，均是落入本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其结构包括机体(1)、电机(2)、滑枕(3)、输送板(4)、水平调整机构(5)，所述电机(2)安装在机体(1)靠近后方的顶中部，所述滑枕(3)底面水平安装在机体(1)上表面中部，所述输送板(4)后端与电机(2)前端相连接，且底面与滑枕(3)上表面滑动配合，所述水平调整机构(5)底面焊接在机体(1)靠近左右两侧的上表面，且与输送板(4)两侧表面活动配合，其特征在于：
所述输送板(4)包括滑动板(41)、测试板(42)、卡槽(43)、夹持机构(44)、缓冲机构(45)，所述测试板(42)底面与滑动板(41)上表面相连接，所述卡槽(43)凹陷在测试板(42)中部的上表面及内部之间，所述夹持机构(44)左右两端分别固定在卡槽(43)左右两侧的内顶部，所述缓冲机构(45)分别嵌套在测试板(42)上表面，且位于卡槽(43)左右两侧。
2.根据权利要求1所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述夹持机构(44)包括支撑环(441)、活动块(442)、夹板(443)，所述活动块(442)外侧面与支撑环(441)内侧面连为一体，所述夹板(443)外侧面与活动块(442)内侧面中部相连接。
3.根据权利要求2所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述活动块(442)包括支撑板(421)、伸缩杆(422)、衔接块(423)、伸缩板(424)、排气口(425)，所述伸缩杆(422)顶端固定在支撑板(421)底面中部，所述衔接块(423)上表面中部安装在伸缩杆(422)底端，所述伸缩板(424)顶端分别与支撑板(421)左右两端的底面铰链连接，且底端与衔接块(423)左右两侧表面连为一体，所述排气口(425)贯穿伸缩板(424)内外侧表面。
4.根据权利要求3所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述排气口(425)包括套管(25a)、卡板(25b)、伸缩条(25c)，所述卡板(25b)顶端分别与套管(25a)两侧内壁衔接连接，所述伸缩条(25c)分别设置在卡板(25b)底面位置。
5.根据权利要求2所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述夹板(443)包括支板(431)、缓冲块(432)、开口(433)，所述缓冲块(432)底面固定在支板(431)上表面，所述开口(433)夹在缓冲块(432)之间。
6.根据权利要求5所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述缓冲机构(45)包括框架(451)、配合槽(452)、移动块(453)、支撑条(454)、卡杆(455)，所述配合槽(452)穿过框架(451)底面及内底部之间，所述移动块(453)套在框架(451)内顶部，所述支撑条(454)上下端分别与框架(451)内顶部和移动块(453)左右两端的上表面相连接，所述卡杆(455)顶端垂直安装在移动块(453)底面。
7.根据权利要求6所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述卡杆(455)包括支杆(55a)、卡球(55b)、扩张块(55c)、推条(55d)，所述卡球(55b)中部嵌固在支杆(55a)底端，所述扩张块(55c)分别安装在卡球(55b)左右两侧，所述推条(55d)夹在卡球(55b)两侧表面及扩张块(55c)内侧面之间。
8.根据权利要求6所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述配合槽(452)包括套环(r1)、侧槽(r2)、磁板(r3)，所述侧槽(r2)分别设置在套环(r1)两侧内壁，所述磁板(r3)嵌套在侧槽(r2)内部。
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WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20211217

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