CN113781580A - 一种快速识别盲元的方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种快速识别盲元的方法、装置、电子设备及存储介质。其中，该方法包括：计算出像素偏差矩阵值和像素偏差矩阵均值，计算出高温帧均值和低温帧均值以及温度差像素矩阵值和温度差像素矩阵均值，利用已经建立好的滑窗将上述像素偏差矩阵均值和像素偏差矩阵值以及温度差像素矩阵值和温度差像素矩阵均值做镜像滑窗处理，在滑窗预设的阀值进行对比，大于阀值为异常盲元，通过计算少量的值，能够快速得出计算结果，从而降低了盲元的识别方法的难度，本方法能够识别现有大部分盲元问题，且通过创建滑动窗口也提高了识别盲元的速度，即提高了工作效率。
Description
技术领域
本申请涉及红外成像领域，具体涉及一种快速识别盲元的方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
随着红外焦平面冷探测器的技术发展，红外成像技术的应用逐渐走进人们的生活，由于红外探测器的像元多为微桥型MEMS结构，在实际使用过程中的冲击和振动在所难免会对像元造成不可逆的损坏，从而形成异常像元，无法准确的实现对所有异常像元的标定，而异常像元又及其影响红外的成像的效果，异常像元表现为连续亮点或者暗点形成极值盲元，部分异常像元随时间表现忽明忽暗形成闪烁盲元，还有一些异常像元对热辐射的响应差异较大形成响应盲元，这些异常像元都需要一些特定的方法进行识别，然而现有的识别方法比较复杂、识别不够全面、识别速度也比较慢等问题。
发明内容
针对现有技术中的上述技术问题，本申请实施例提出了一种快速识别盲元的方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有的识别方法比较复杂、识别不够全面、识别速度也比较慢等问题。
本申请实施例的第一方面提供了一种快速识别盲元的方法，包括：
根据采集的N帧数据计算出像素偏差矩阵值，计算像素偏差矩阵值的平均值得出像素偏差矩阵均值，其中，N大于1；
根据高温和低温采集的N帧数据，分别计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值；
创建滑动窗口，将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值做四周镜像，再进行滑窗处理，且与在所述滑窗内预设的阀值作比较，大于阀值为异常盲元。
在一些实施例中，所述根据采集的N帧数据计算出像素偏差矩阵值，计算像素偏差矩阵值的平均值得出像素偏差矩阵均值，其中，N大于1方法还包括：
多次计算此刻的N帧数据与上一刻N帧平均数据进行作差得出多个像素偏差矩阵值，计算多个像素偏差矩阵值的平均得出像素偏差矩阵均值。。
在一些实施例中，所述根据高温和低温采集的N帧数据，分别计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值还包括：
通过对高温和低温黑体采集原始数据得出高温帧值和低温帧值，在预定时间内分别计算高温帧值和低温帧值的平均值得出所述高温帧均值和所述低温帧均值。
在一些实施例中，所述根据高温和低温采集的N帧数据，分别计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值还包括：
根据高温帧均值和低温帧均值分别计算出高温焦平面均值和低温焦平面均值，且通过高温帧均值、低温帧均值、高温焦平面均值和低温焦平面均值计算得出校正系数表。
在一些实施例中，创建滑动窗口，将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值做四周镜像，再进行滑窗处理，且与在所述滑窗内预设的阀值作比较，大于阀值为异常盲元还包括：
将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值的起始行、结束列和起始列、结束列注入阵列均值镜像形成填充像素值，移动滑动窗口，填充像素值在上一行所有元素的平均得到平均填充像素值，填充像素值与平均填充像素值的绝对值差的结果与阀值作比较，大于阀值，判定为盲元，并做标记，小于阀值，则判定正常，做另外标记。
本申请实施例的第二方面提供了一种快速识别盲元的装置，包括：
时域像素与帧均值差值计算模块，用于根据采集的N帧数据计算出像素偏差矩阵值，计算像素偏差矩阵值的平均值得出像素偏差矩阵均值，其中，N大于1；
高温、低温像素均值计算模块，用于计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值；
滑窗定标盲元计算模块，用于将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值四周镜像并做滑窗处理，且与在所述滑窗内预设的阀值作比较，大于阀值为异常盲元。
在一些实施例中，所述装置还包括：
时域闪烁噪声和极值噪声计算模块，用于多次计算此刻的N帧数据与上一刻N帧平均数据进行作差得出多个像素偏差矩阵值，计算多个像素偏差矩阵值的平均得出像素偏差矩阵均值。。
在一些实施例中，所述高温、低温像素均值计算模块包括：
非均匀校正系数计算模块，用于根据高温帧均值和低温帧均值分别计算出高温焦平面均值和低温焦平面均值，且通过高温帧均值、低温帧均值、高温焦平面均值和低温焦平面均值计算得出校正系数表。
本申请实施例的第三方面提供了一种电子设备，包括：
存储器以及一个或多个处理器；
其中，所述存储器与所述一个或多个处理器通信连接，所述存储器中存储有可被所述一个或多个处理器执行的指令，所述指令被所述一个或多个处理器执行时，所述电子设备用于实现如前述各实施例所述的方法。
本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被计算装置执行时，可用来实现如前述各实施例所述的方法。
本申请实施例，通过创建滑动窗口，将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值做四周镜像，再进行滑窗处理，且与在所述滑窗内预设的阀值作比较，大于阀值为异常盲元，从而降低了盲元的识别方法的难度，本方法能够识别现有大部分盲元问题，且通过创建滑动窗口也提高了识别盲元的速度，即提高了工作效率。
附图说明
通过参考附图会更加清楚的理解本申请的特征和优点，附图是示意性的而不应理解为对本申请进行任何限制，在附图中：
图1是根据本申请的一些实施例所示的一种快速识别盲元的方法流程示意图。
具体实施方式
在下面的详细描述中，通过示例阐述了本申请的许多具体细节，以便提供对相关披露的透彻理解。然而，对于本领域的普通技术人员来讲，本申请显而易见的可以在没有这些细节的情况下实施。应当理解的是，本申请中使用“系统”、“装置”、“单元”和/或“模块”术语，是用于区分在顺序排列中不同级别的不同部件、元件、部分或组件的一种方法。然而，如果其他表达式可以实现相同的目的，这些术语可以被其他表达式替换。
应当理解的是，当设备、单元或模块被称为“在……上”、“连接到”或“耦合到”另一设备、单元或模块时，其可以直接在另一设备、单元或模块上，连接或耦合到或与其他设备、单元或模块通信，或者可以存在中间设备、单元或模块，除非上下文明确提示例外情形。例如，本申请所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关所列条目的任何一个和所有组合。
本申请所用术语仅为了描述特定实施例，而非限制本申请范围。如本申请说明书和权利要求书中所示，除非上下文明确提示例外情形，“一”、“一个”、“一种”和/或“该”等词并非特指单数，也可包括复数。一般说来，术语“包括”与“包含”仅提示包括已明确标识的特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件，而该类表述并不构成一个排它性的罗列，其他特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件也可以包含在内。
参看下面的说明以及附图，本申请的这些或其他特征和特点、操作方法、结构的相关元素的功能、部分的结合以及制造的经济性可以被更好地理解，其中说明和附图形成了说明书的一部分。然而，可以清楚地理解，附图仅用作说明和描述的目的，并不意在限定本申请的保护范围。可以理解的是，附图并非按比例绘制。
本申请中使用了多种结构图用来说明根据本申请的实施例的各种变形。应当理解的是，前面或下面的结构并不是用来限定本申请。本申请的保护范围以权利要求为准。
本申请描述了一种快速识别盲元的方法。如图1所示，该快速识别盲元的方法，包括步骤10根据采集的N帧数据计算出像素偏差矩阵值，计算像素偏差矩阵值的平均值得出像素偏差矩阵均值，其中，N大于1，步骤20根据高温和低温采集的N帧数据，分别计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值，步骤30创建滑动窗口，将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值做四周镜像，再进行滑窗处理，且与在所述滑窗内预设的阀值作比较，大于阀值为异常盲元。通过步骤10计算出像素偏差矩阵值和像素偏差矩阵均值，步骤20计算出高温帧均值和低温帧均值以及温度差像素矩阵值和温度差像素矩阵均值，步骤30利用已经建立好的滑窗将上述像素偏差矩阵均值和像素偏差矩阵值以及温度差像素矩阵值和温度差像素矩阵均值做镜像滑窗处理，在滑窗预设的阀值进行对比，大于阀值为异常盲元，通过计算少量的值，能够快速得出计算结果，并对其做出比较，从而降低了盲元的识别方法的难度，本方法能够识别现有大部分盲元问题，且通过创建滑动窗口也提高了识别盲元的速度，即提高了工作效率。
在一种实施例中，步骤10包括多次计算此刻的N帧数据与上一刻N帧平均数据进行作差得出多个像素偏差矩阵值，计算多个像素偏差矩阵值的平均得出像素偏差矩阵均值。
需要说明的是，此刻N帧数据为：Pix(i，j，t) (a)
上一刻N帧平均数据为：AvgPix(t-1) (b)
当(b)-(a)＝像素偏差矩阵值
其中，T为采样的帧数，Pix(i，j，t)为第t帧上第(i，j)位置的输出值，AvgPix(t-1)为t-1帧的帧均值，需要解释的是，步骤10、步骤20和步骤30的方法都是应用在相机已经到达客户手上，即需要客户打开检测异常元的功能即可，相机会自动快速找到异常像元，从而不用返厂检测，为客户以及厂商节省了大量的时间和费用，其中，像素偏差矩阵值应用的基础是相机已经输出弥补非均性的数据(业内称两点校正后数据)，在这个数据上应用这个方法，可以快速标定两种异常点。
通过上述计算多组不同时刻的像素偏差矩阵值，在将多组不同时刻的像素偏差矩阵值求平均值得出像素偏差矩阵均值，其中，像素偏差矩阵值可用ΔV1代表，像素偏差矩阵均值可用Avg_V1代表。从而通过上述公式，即可表征出时域闪烁噪声和极值噪声这两个噪声差异，两个差异分别为，时域闪烁噪声变大后，较周围像素波动偏大，变现为忽明忽暗的像素点，脱离周围相邻像素值，表现为过亮或者过暗的像素点，这两者的表现都能通过上述公式计算得出，若计算出来的数值与预设数值明显差别较大，则为异常。上述计算出来的结果为下步标定出闪烁盲元和极值盲元做出相应的准备。其中，以为一帧只计算个均值AvgPixel(t-1)，不需要保存大量像素。且可以快速计算不需要存储大量数据。可以同时反映出两种噪声类型(极值噪声，时域闪烁噪声)。
在一种实施例中，所述根据高温和低温采集的N帧数据，分别计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值还包括：通过对高温和低温黑体采集原始数据得出高温帧值和低温帧值，在预定时间内分别计算高温帧值和低温帧值的平均值得出所述高温帧均值和所述低温帧均值。
需要说明的是，高温帧均值为：
低温帧均值为：
当(c)-(d)＝温度差像素矩阵值，如下：
温度差像素矩阵均值为：
其中，Avg_VH(i，j)为高温均值矩阵值，VH(i，j，t)为t时刻面对高温输出的像素(i，j)的数据，Avg_VL(i，j)为低温均值矩阵值，VL(i，j，t)为t时刻面对低温输出的像素(i，j)的数据，M，N为行列数，ΔV2为温度差像素矩阵值，Avg_V2为温度差像素矩阵均值，高温帧值为VH，低温帧值为VL。
通过计算出温度差像素矩阵值ΔV2，温度差像素矩阵均值Avg_V2，进一步地确认了整体输出的矩阵空间标准差和时间标准差一般都比较小，平衡后工作温度的波动时很低频的变化，探测器帧间由于温度变化带来的噪声相对于探测器本底噪声可以忽略不记，进而能够快速定位像素与上一帧的帧均值(时域DC分量)的差异，快速定位新出现的极值噪声点和闪烁噪声点。
在一种实施例中，所述根据高温和低温采集的N帧数据，分别计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值还包括：根据高温帧均值和低温帧均值分别计算出高温焦平面均值和低温焦平面均值，且通过高温帧均值、低温帧均值、高温焦平面均值和低温焦平面均值计算得出校正系数表。通过上述方法能够得出高温帧均值Avg_VH和低温帧均值Avg_VL，因此，高温焦平面均值和低温焦平面均值计算方法如下：
校正系数表K具体计算如下：
其中，M，N为行列数，AvgH为高温焦平面均值，AvgL为低温焦平面均值。
通过最终的公式(h)，得出出非均匀性校正系数表，非均匀性校正系数表可以用K表示，可以校正红外焦平面探测器因制造工艺带来的非均匀性和更换镜头带来光路上非均匀性，进而降低出现极值噪声点和闪烁噪声点。
在一种实施例中，创建滑动窗口，将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值做四周镜像，再进行滑窗处理，且与在所述滑窗内预设的阀值作比较，大于阀值为异常盲元还包括：将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值的起始行、结束列和起始列、结束列注入阵列均值镜像形成填充像素值，移动滑动窗口，填充像素值在上一行所有元素的平均得到平均填充像素值，填充像素值与平均填充像素值的绝对值差的结果与阀值作比较，大于阀值，判定为盲元，并做标记，小于阀值，则判定正常，做另外标记。
需要说明的是，创建滑动窗口是创建(M-1)*M滑动窗口，其中,M为奇数，将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值的起始行、结束列和起始列、结束列注入阵列均值镜像形成填充像素值，其中，填充像素值可以用Pixel代替，移动(M-1)*M滑动窗口，在滑动窗口内
的位置的形成填充像素值为
其中，Threshold表示阀值，map为盲元信息表，滑动窗口的核心元素
与相邻像素的平均值Avg_Mask做差的绝对值大于设定阈值Threshold则在该位置判定为盲元，标记为1；反之为正常像元，标记为0。通过将比较判断的结果建立形成的盲元表，能够能够从盲元表中快速查找盲元，提高了查找盲元的速度。
需要说明地是，创建(M-1)*M滑动窗口，其中M为大于2的奇数，M为奇数，滑动窗口可以根据实际硬件资源进行调配，例如2*3或者4*5。本申请采用非典型M*M的滑窗主要因为探测器为逐行输出，那么输出到第二行数据时就可以根据之前所有判定过的数据进行计算，保证其计算均值的正确性。因为少缓存一行数据，节省一行数据保存的硬件逻辑资源开销。
另外，对于上述最终形成的校正系数表和盲元表统一整合形成新的修正盲元表，进而更加准确快速地识别出异常盲元。
本申请实施例的第二方面提供了一种快速识别盲元的装置，包括时域像素与帧均值差值计算模块，用于根据采集的N帧数据计算出像素偏差矩阵值，计算像素偏差矩阵值的平均值得出像素偏差矩阵均值，其中，N大于1；
高温、低温像素均值计算模块，用于计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值；
滑窗定标盲元计算模块，用于将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值四周镜像并做滑窗处理，且与在所述滑窗内预设的阀值作比较，大于阀值为异常盲元。通过时域像素与帧均值差值计算模块、高温、低温像素均值计算模块以及滑窗定标盲元计算模块能够分别计算像素偏差矩阵值Avg_V1和像素偏差矩阵均值ΔV1，计算出高温帧均值Avg_VH和低温帧均值Avg_VL以及以及温度差像素矩阵值ΔV2和温度差像素矩阵均值Avg_V2，利用已经建立好的滑窗将上述像素偏差矩阵值Avg_V1和像素偏差矩阵均值ΔV1，以及温度差像素矩阵值ΔV2和温度差像素矩阵均值Avg_V2做镜像滑窗处理，在滑窗预设的阀值进行对比，大于阀值为异常盲元，通过计算少量的值，能够快速得出计算结果，并对其做出比较，从而降低了盲元的识别方法的难度，本方法能够识别现有大部分盲元问题，且通过创建滑动窗口也提高了识别盲元的速度，即提高了工作效率。
在一种实施例中，所述装置还包括：时域闪烁噪声和极值噪声计算模块，用于多次计算此刻的N帧数据与上一刻N-1帧平均数据进行作差得出多个像素偏差矩阵值，计算多个像素偏差矩阵值的平均得出像素偏差矩阵均值。从而发现时域闪烁噪声和极值噪声这两个噪声差异，两个差异分别为，时域闪烁噪声变大后，较周围像素波动偏大，变现为忽明忽暗的像素点，脱离周围相邻像素值，表现为过亮或者过暗的像素点，这两者的表现都能通过上述公式计算得出，若计算出来的数值与预设数值明显差别较大，则为异常，因此，能够提高识别速度。
在一种实施例中，所述高温、低温像素均值计算模块包括：非均匀校正系数计算模块，用于根据高温帧均值和低温帧均值分别计算出高温焦平面均值和低温焦平面均值，且通过高温帧均值、低温帧均值、高温焦平面均值和低温焦平面均值计算得出校正系数表。通过计算出温度差像素矩阵值ΔV2，温度差像素矩阵均值Avg_V2，进一步地确认了整体输出的矩阵空间标准差和时间标准差一般都比较小，平衡后工作温度的波动时很低频的变化，探测器帧间由于温度变化带来的噪声相对于探测器本底噪声可以忽略不记，进而能够快速定位像素与上一帧的帧均值(时域DC分量)的差异，快速定位新出现的极值噪声点和闪烁噪声点。即提高了识别异常盲元的速度。
本申请实施例的第三方面提供了一种电子设备，包括：存储器以及一个或多个处理器；其中，所述存储器与所述一个或多个处理器通信连接，所述存储器中存储有可被所述一个或多个处理器执行的指令，所述指令被所述一个或多个处理器执行时，所述电子设备用于实现如上述任一项所述的方法。
本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被计算装置执行时，可用来实现上述任一项所述的方法。
应当理解的是，本申请的上述具体实施方式仅仅用于示例性说明或解释本申请的原理，而不构成对本申请的限制。因此，在不偏离本申请的精神和范围的情况下所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。此外，本申请所附权利要求旨在涵盖落入所附权利要求范围和边界、或者这种范围和边界的等同形式内的全部变化和修改例。
Claims (10)
1.一种快速识别盲元的方法，其特征在于，包括：
根据采集的N帧数据计算出像素偏差矩阵值，计算像素偏差矩阵值的平均值得出像素偏差矩阵均值，其中，N大于1；
根据高温和低温采集的N帧数据，分别计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值；
创建滑动窗口，将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值做四周镜像，再进行滑窗处理，且与在所述滑窗内预设的阀值作比较，大于阀值为异常盲元。
2.根据权利要求1所述的快速识别盲元的方法，其特征在于，所述根据采集的N帧数据计算出像素偏差矩阵值，计算像素偏差矩阵值的平均值得出像素偏差矩阵均值，其中，N大于1的方法还包括：
多次计算此刻的N帧数据与上一刻N帧平均数据进行作差得出多个像素偏差矩阵值，计算多个像素偏差矩阵值的平均得出像素偏差矩阵均值。
3.根据权利要求1所述的快速识别盲元的方法，其特征在于，所述根据高温和低温采集的N帧数据，分别计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值还包括：
通过对高温和低温黑体采集原始数据得出高温帧值和低温帧值，在预定时间内分别计算高温帧值和低温帧值的平均值得出所述高温帧均值和所述低温帧均值。
4.根据权利要求1所述的快速识别盲元的方法，其特征在于，根据高温和低温采集的N帧数据，分别计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值还包括：
根据高温帧均值和低温帧均值分别计算出高温焦平面均值和低温焦平面均值，且通过高温帧均值、低温帧均值、高温焦平面均值和低温焦平面均值计算得出校正系数表。
5.根据权利要求1所述的快速识别盲元的方法，其特征在于，创建滑动窗口，将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值做四周镜像，再进行滑窗处理，且与在所述滑窗内预设的阀值作比较，大于阀值为异常盲元还包括：
将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值的起始行、结束列和起始列、结束列注入阵列均值镜像形成填充像素值，移动滑动窗口，填充像素值在上一行所有元素的平均得到平均填充像素值，填充像素值与平均填充像素值的绝对值差的结果与阀值作比较，大于阀值，判定为盲元，并做标记，小于阀值，则判定正常，做另外标记。
6.一种快速识别盲元的装置，其特征在于，包括：
时域像素与帧均值差值计算模块，用于根据采集的N帧数据计算出像素偏差矩阵值，计算像素偏差矩阵值的平均值得出像素偏差矩阵均值，其中，N大于1；
高温、低温像素均值计算模块，用于计算出高温帧均值和低温帧均值，通过高温帧均值和低温帧均值的差值计算出温度差像素矩阵值，计算温度差像素矩阵值平均值得出温度差像素矩阵均值；
滑窗定标盲元计算模块，用于将像素偏差矩阵均值和温度差像素矩阵均值对像素偏差矩阵值和温度差像素矩阵值四周镜像并做滑窗处理，且与在所述滑窗内预设的阀值作比较，大于阀值为异常盲元。
7.根据权利要求6所述的快速识别盲元的装置，其特征在于，所述装置还包括：
时域闪烁噪声和极值噪声计算模块，用于多次计算此刻的N帧数据与上一刻N帧平均数据进行作差得出多个像素偏差矩阵值，计算多个像素偏差矩阵值的平均得出像素偏差矩阵均值。
8.根据权利要求6所述的的快速识别盲元的装置，其特征在于，所述高温、低温像素均值计算模块包括：
非均匀校正系数计算模块，用于根据高温帧均值和低温帧均值分别计算出高温焦平面均值和低温焦平面均值，且通过高温帧均值、低温帧均值、高温焦平面均值和低温焦平面均值计算得出校正系数表。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器以及一个或多个处理器；
其中，所述存储器与所述一个或多个处理器通信连接，所述存储器中存储有可被所述一个或多个处理器执行的指令，所述指令被所述一个或多个处理器执行时，所述电子设备用于实现如权利要求1-5任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被计算装置执行时，可用来实现如权利要求1-5任一项所述的方法。
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