CN113721083A - 辐射杂散测试系统及测试方法 - Google Patents

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Abstract

本申请涉及通信领域，尤其涉及一种辐射杂散测试系统及测试方法，包括电波暗室和控制室；电波暗室内设置有具有多种信号通路的调节机构、可供多个测试机同时安装的旋转机构以及能够接收不同测试机发送射频信号的接收机构；控制室内设置有用于分析射频信号的反馈机构和用于调节旋转机构转动角度的控制机构；反馈机构的信号输入端和调节机构的信号输出端通讯连接，调节机构的信号输入端与接收机构的信号输出端通讯连接，旋转机构的控制端与控制机构的信号输出端通讯连接；电波暗室和控制室的侧壁内部均设置有能够屏蔽外部干扰信号的屏蔽层。本申请具有助于提高待测试系统在辐射杂散测试中测试结果的准确性的效果。

Description

辐射杂散测试系统及测试方法
技术领域
本申请涉及通信的领域，尤其是涉及一种辐射杂散测试系统及测试方法。
背景技术
目前诸如智能手机等电子设备在出厂前都需要进行辐射杂散测试，以确定电子设备是否符合辐射杂散标准。当电子设备不符合辐射杂散标准时，需要对电子设备进行调试。
现有技术中，电子设备在进行辐射杂散测试时，将电子设备一般该测试需要在尺寸为9米*6米*6米的电波暗室中进行，工作人员在暗室之外通过操作连接待测试设备的电子开关、系统放大器以及滤波器等设备实现待测试设备的控制；该电波暗室内置有一个接受天线，每一个测试场景下(包括终端设备的不同方向，接收天线不同方向)的测试时间预计20分钟。
针对上述中的相关技术，发明人认为，为了便于工作人员操作，通常会将放大器、滤波和电子开关放置于电波暗室外，由于电波暗室外干扰较多，从而会导致测试结果内底噪很高,从而极大的影响测试结果的准确性。
发明内容
为了有助于提高待测试系统在辐射杂散测试中测试结果的准确性，本申请提供了一种辐射杂散测试系统及测试方法。
第一方面，本申请提供一种辐射杂散测试系统，采用如下的技术方案：
一种辐射杂散测试系统，包括电波暗室和控制室；
所述电波暗室内设置有具有多种信号通路的调节机构、可供多个测试机同时安装的旋转机构以及能够接收不同测试机发送射频信号的接收机构；
所述控制室内设置有用于分析射频信号的反馈机构和用于调节旋转机构转动角度的控制机构；
所述反馈机构的信号输入端和所述调节机构的信号输出端通讯连接，所述调节机构的信号输入端与所述接收机构的信号输出端通讯连接，所述旋转机构的控制端与所述控制机构的信号输出端通讯连接；所述电波暗室和所述控制室的侧壁内部均设置有能够屏蔽外部干扰信号的屏蔽层。
通过采用上述技术方案，将控制室内括入屏蔽范围，从而减少测试结果内的外部干扰，从而提高待测试系统在辐射杂散测试中测试结果的准确性；同时设置不同信号通路的调节机构位于电波暗室内，以便于提高测试系统的适应性；测试系统启动之前将多个待测试的测试机安装于旋转机构上，然后根据当前测试机的配置选择相应的信号通路连通接收机构和反馈机构之间，当前测试机测试完成后，通过控制机构启动旋转机构，替换下一个测试机开始测试，从而提高测试多个测试机时的便捷性。
可选的，所述接收机构包括安装架，所述安装架上安装有第一接收天线和两个第二接收天线；所述第一接收天线和两个第二接收天线的信号输出端分别单独和所述调节机构的信号输入端通讯连接。
通过采用上述技术方案，设置多个接收天线便于根据不同配置的测试机进行选择，从而提高测试系统的适应性。
可选的，所述调节机构包括设置于反馈机构和第一接收天线之间的第一信号通路、设置于反馈机构和两个第二接收天线之间的第二信号通路和第三信号通路；
所述第一信号通路、第二信号通路和第三信号通路内均单独串联有底噪放大器，所述第二信号通路内串联设置有两个多路电子开关和多个不同配置的带阻滤波器；
所述多个滤波器的两端分别串联于两个所述多路电子开关的触点之间，其中一个所述多路电子开关的输入端与任一第二接收天线连接，另一个所述多路电子开关的输出端与底噪放大器的输入端串联。
通过采用上述技术方案，设置不同配置的滤波器对不同接收天线接收到的射频信号进行初步处理，从而便于工作人员获取需要的频段信号，抑制不需要的频段的信号；设置多个底噪放大器，降低发送至反馈机构的射频信号的底噪；从而进一步提高测试系统的所输出分析结果的精确度。
可选的，所述旋转机构包括屏蔽箱、转动连接于屏蔽箱内的转轴和设置于转轴周壁上的多个支撑组件，所述支撑组件用于承载测试机；所述屏蔽箱上开设有可供支撑组件远离转轴的一端穿过的避让通槽，所述屏蔽箱上设置有能够调节避让通槽启闭/开启程度的密闭组件，所述屏蔽箱内设置有用于调节转轴绕自身轴线周向转动角度的第一驱动组件，所述电波暗室底部设置有驱动屏蔽箱绕自身轴线周向装的第二驱动组件。
通过采用上述技术方案，将多个待测试的测试机分别安装于多个支撑组件上；开启测试前，通过密闭组件开启避让通槽，以便于第一驱动组件通过转动转轴，实现将任一支撑组件从屏蔽箱内转至避让通槽后伸出屏蔽箱外部；随后再次通过密闭组件闭合避让通槽，从而避免屏蔽箱内其余测试机干扰当前测试机的正常测试；开始测试时，通过第二驱动组件带动屏蔽箱整体转动，从而实现对当前测试机的周向转动，从而实现测试机在不同角度向对应的接收天线发射射频信号。
可选的，所述支撑组件包括轴线垂直设置于转轴周壁上的支撑杆、设置于支撑杆远离转轴一端的底台以及对称设置于所述底台远离支撑杆一侧的两个夹持座，所述两个夹持座之间的间距能够调节且形成夹持空间，所述夹持座靠近所述夹持空间的一侧设置有可供测试机外壁抵接的安装座。
通过采用上述技术方案，将测试机卡接于两个安装座之间，然后通过夹持座完成对测试机的夹持；其中两个夹持座之间的间距可调节，便于支撑组件支撑不同尺寸的测试机，从而提高旋转机构的适应性。
可选的，所述密闭组件包括滑移连接于所述避让通槽内的屏蔽板和安装于屏蔽箱内的驱动件，所述驱动件用于带动屏蔽板朝靠近或远离避让通槽中心点方向往复移动；所述屏蔽板至少两个且对称滑移于所述避让通槽内；所述屏蔽板远离驱动件输出端的一侧内凹设置有可供夹持座周壁扣入的凹部。
通过采用上述技术方案，由驱动件带动两个屏蔽板向靠近或远离避让通槽中心点方向往复移动，从而实现调节避让通槽启闭/开启程度；设置凹部供夹持座扣入，避免两个屏蔽板之间存在间隙，从而提高测试结果的精确度。
可选的，所述支撑杆能够沿自身轴线方向进行弹性伸缩，所述夹持座远离底台的一侧可供屏蔽箱内部抵接；所述安装座远离底台的一侧设置有可供屏蔽板侧壁抵接的弧面。
通过采用上述技术方案，测试机位于屏蔽箱内部时，支撑杆呈收缩状态，且夹持座远离底台的一侧与屏蔽箱内壁抵接，从而减少支撑组件在屏蔽箱内所占据的空间；当任一个支撑组件绕转轴转动至朝向避让通槽的方向时，夹持座脱离屏蔽箱内壁，从而实现支撑杆长度拉伸，从而便于安装于安装座上的测试机穿过避让通槽至屏蔽箱的外部；当需替换下一个测试机至屏蔽箱外部时，转轴绕自身轴线周向转动，从而带动安装有当前测试机的安装座的弧面与收缩后的屏蔽板侧壁抵接，从而迫使支撑杆压缩后进入屏蔽箱内部。
可选的，所述屏蔽箱内壁上设置有多个导向块，所述导向块面向屏蔽箱内部的一侧内凹设置有可供夹持座远离底台一侧抵接的导向面。
通过采用上述技术方案，设置导向块避免支撑杆在屏蔽箱内向靠近避让通槽的方向移动时扣入屏蔽箱的内凹棱角处，同时还便于支撑杆向靠近避让通槽的方向移动。
第二方面，本申请提供一种辐射杂散测试方法，采用如下的技术方案：
一种适用于上述权利要求中所述的辐射杂散测试系统的辐射杂散测试方法，包括以下步骤：
准备工作：获取当前测试机的设备信息；所述设备信息包括测试机的检测序号、出厂配置等；
根据当前测试机的设备信息选择相应的信号通路以及接收天线；
开始测试：建立当前测试机与基站之间的通讯连接；
启动当前测试机发射射频信号；
分析结果：分析反馈信号；所述反馈信号为所述接收机构接收射频信号后通过调节机构发送至反馈机构，所述反馈机构根据接收到的信号进行分析。
通过采用上述技术方案，测试机与模拟基站进行连接,由测试机发射射频信号时，通过接收机构获取接收信号，并通过调节机构内的信号通路转发至反馈机构，由反馈机构对接收信号进行分析，以获得测试结果；测试之前根据不同的设备选择相应的信号通路以及接收天线，提高测试系统的适应性，同时也可以减少分析结果内的外部干扰，从而实现测试结果精确度的提高。
可选的，所述分析结果的步骤之后还包括以下步骤：
替换测试机：启动驱动件；迫使屏蔽板朝远离彼此的方向移动从而实现避让通槽的开启；
启动第一驱动组件；移动下一个测试机进入避让通槽；
再次启动驱动件，闭合避让通槽；
重复所述开始测试的步骤至所有的测试机测试完成。
通过采用上述技术方案，将多个待测试的测试机分别安装于多个支撑组件上；开启测试前，通过密闭组件开启避让通槽，以便于第一驱动组件通过转动转轴，实现将任一支撑组件从屏蔽箱内转至避让通槽后伸出屏蔽箱外部；随后再次通过密闭组件闭合避让通槽，从而避免屏蔽箱内其余测试机干扰当前测试机的正常测试。
综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
将控制室内括入屏蔽范围，从而减少测试结果内的外部干扰，从而提高待测试系统在辐射杂散测试中测试结果的准确性；同时设置不同信号通路的调节机构位于电波暗室内，以便于提高测试系统的适应性；
测试机与模拟基站进行连接,由测试机发射射频信号时，通过接收机构获取接收信号，并通过调节机构内的信号通路转发至反馈机构，由反馈机构对接收信号进行分析，以获得测试结果；
设置凹部供夹持座扣入，避免两个屏蔽板之间存在间隙，从而提高测试结果的精确度。
附图说明
图1是本申请中辐射杂散测试系统的整体结构示意图；
图2是本申请中辐射杂散测试系统的平面安装结构示意图；
图3是本申请中辐射杂散测试系统的控制电路图；
图4是本申请中接收机构和旋转机构的整体结构示意图；
图5是本申请中旋转机构的内部结构示意图；
图6是本申请中旋转机构的剖视图；
图7是本申请中支撑组件的剖视图；
图8是本申请中旋转机构处于另一状态时的剖视图；
图9是本申请中辐射杂散测试方法的流程图。
附图标记说明：1、电波暗室；2、控制室；3、屏蔽层；4、调节机构；41、第一信号通路；42、第二信号通路；43、第三信号通路；5、旋转机构；51、屏蔽箱；511、避让通槽；52、转轴；53、支撑组件；531、支撑杆；532、底台；533、夹持座；534、安装座；5341、弧面；535、第一弹簧；536、第二弹簧；537、夹持空间；538、导向块；54、密闭组件；541、屏蔽板；542、驱动件；55、第一驱动组件；551、从动齿圈；552、主动齿轮；553、第一电机；56、第二驱动组件；561、齿轮组；562、第二电机；6、接收机构；61、安装架；62、第一接收天线；63、第二接收天线；7、反馈机构；8、控制机构。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图1-9及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本申请实施例公开一种辐射杂散测试系统。
参照图1和图2，辐射杂散测试系统包括电波暗室1和设置于电波暗室1相邻一侧的控制室2；其中电波暗室1和控制室2的侧壁内部均设置有能够屏蔽外部干扰信号的屏蔽层3；电波暗室1内安装有调节机构4、旋转机构5以及接收机构6；控制室2内安装有反馈机构7和控制机构8；
参照图2和图3，调节机构4，信号输入端与接收机构6的信号输出端通讯连接，信号输出端与反馈机构7的信号输入端通讯连接；其包括多种不同规格且的信号通路，用于对接收机构6接收到的射频信号进行初步处理。
旋转机构5，信号输入端与控制机构8的信号输出端通讯连接，用于安装不同的测试机且带动测试机周向转动。
参照图2和图4，接收机构6，用于接收不同测试机在不同的角度发射的射频信号；接收机构6包括安装架61、第一接收天线62以及两个第二接收天线63；
其中安装架61放置于电波暗室1的地面上，第一接收天线62、两个第二接收天线63由上至下依次固定于安装架61上。
参照图3和图4，反馈机构7，用于对进行初步处理后的射频信号进行分析，然后输出分析结果供工作人员进一步使用；
控制机构8，用于控制旋转机构5的启闭。
调节机构4包括第一信号通路41、第二信号通路42和第三信号通路43；其中：
第一信号通路41串联于第一接收天线62和反馈机构7的第一信号输入端之间；第二信号通路42串联于第二接收天线63和反馈机构7的第二信号输入端之间；第三信号通路43串联于另一第二接收天线63和反馈机构7的第三信号输入端之间；
第一信号通路41、第二信号通路42和第三信号通路43内均单独串联有底噪放大器，第一信号通路41、第二信号通路42和第三信号通路43内的三个低噪放大器频率依次分别是30-1GHz/1G-18GHz/18GHz-40GHz；第一信号通路41内串联有第一双控电子开关，第一双控电子开关的第一输出回路于底噪放大器串联，第二输出回路与反馈机构7的输入端通讯连接。
第二信号通路42内串联设置有两个多路电子开关和多个不同配置的带阻滤波器；多个滤波器的两端分别串联于两个多路电子开关的触点之间，其中一个多路电子开关的输入端与任一第二接收天线63连接，另一个多路电子开关的输出端与底噪放大器的输入端串联。
参照图5和图6，旋转机构5包括屏蔽箱51、转轴52、多个支撑组件53、密闭组件54、第一驱动组件55以及第二驱动组件56；屏蔽箱51底端的端部竖直贯穿且转动连接于电波暗室1的地板；转轴52的两端均转动连接于屏蔽箱51内壁且轴线平行于电波暗室1的底板表面，第二驱动组件56安装于屏蔽箱51内部，用于带动转轴52绕自身轴线周向转动；多个支撑组件53以转轴52的轴线为圆心环绕固定于转轴52的周壁上，多个支撑组件53呈等距分布。
参照图5和图6，第二驱动组件56包括同轴固定于转轴52两端中任一端的端部周壁的齿轮组561以及输出端与齿轮组561同轴固定的第二电机562，第二电机562的安装座534与屏蔽箱51的内壁螺栓连接，第二电机562的信号输入端与控制机构8的第一信号输出端线缆连接，该线缆穿过屏蔽箱51底端的端面后再穿过电波暗室1的地板下方进入控制室2内部。
屏蔽箱51的底端端面开设有可供支撑组件53远离转轴52一端的端部穿过的避让通槽511；密闭组件54安装于屏蔽箱51的顶端端部，用于启闭避让通槽511/避让通槽511的开启程度；第一驱动组件55安装于屏蔽箱51穿过电波暗室1地板一端的端部。
参照图4和图5，第一驱动组件55包括从动齿圈551、主动齿轮552和第一电机553，其中，从动齿圈551固定套设于屏蔽箱51底端的端部外壁；主动齿轮552与从动齿圈551外啮合，第一电机553的安装座534螺栓连接于电波暗室1地板的下表面，输出端与主动齿轮552同轴固定；第一电机553的信号输入端与控制机构8的第一信号输入端通讯连接。
参照图5和图7，支撑组件53包括支撑杆531、底台532、两个夹持座533以及两个安装座534；其中，支撑杆531一端固定连接于转轴52的周壁，另一端的端面开设有可供底台532滑移连接的滑腔，滑腔内同轴穿设有第一弹簧535；第一弹簧535一端与滑腔内壁固定连接，另一端于底台532的外壁固定连接。
底台532的内部开设有空腔，空腔内壁对称固定有两个第二弹簧536，两个第二弹簧536远离空腔内壁的一端分别与两个夹持座533的外壁固定连接，两个夹持座533均可沿第二弹簧536的轴向往复移动且夹持座533远离底台532的一端高于底台532的上表面；夹持座533远离底台532的一侧可供屏蔽箱51内部抵接。
两个夹持座533相邻的侧壁之间形成可供不同尺寸测试机扣入的夹持空间537，两个安装座534分别对称安装于夹持座533面向夹持空间537的一侧；安装座534面向夹持空间537的一侧内凹设置有可供测试机扣入的卡槽；安装座534采用弹性材料制成，可以减少安装座534于测试机的硬性接触。
参照图6和图8，密闭组件54包括两个屏蔽板541和驱动件542；其中两个屏蔽板541对称安装于避让通槽511的内，避让通槽511的内壁内凹设置有可供屏蔽板541划入的空腔；驱动件542的安装座534螺栓连接于屏蔽箱51的内壁，输出端同时与两个屏蔽板541的下表面固定连接。
驱动件542用于带动两个屏蔽板541向靠近或远离空腔的方向往复移动；本实施例中驱动件542采用丝杆；屏蔽板541靠近另一个屏蔽板541的一侧贯穿设置有分别可供两个夹持座533扣入的两个凹部，两个凹部的内壁尺寸均大于夹持座533的外壁尺寸。
参照图6和图8，安装座534远离底台532的一侧对称设置有两个弧面5341，两个弧面5341分别位于安装座534长度方向上的两端端部，且两个弧面5341均可供屏蔽板541的侧壁抵接，屏蔽板541面向安装座534的一侧设置有可供弧面5341抵接的倒角；屏蔽箱51的内壁固定连接有四个导向块538，导向块538面向屏蔽箱51内部的一侧内凹设置有呈弧形设置的导向面；四个导向面的圆心均处于同一水平面内且均可供夹持座533远离底台532的一侧/弧面5341抵接。
本申请实施例还公开一种辐射杂散测试方法。
参照图5和图9，辐射杂散测试方法包括以下步骤：
S100：准备工作：
具体来说，步骤准备工作具体包括以下步骤。
S110：获取当前测试机的设备信息；设备信息包括测试机的检测序号、出厂配置等。
举例来说，可以在每一个测试机的外部贴设二维码，工作人员可以通过扫描二维码获取每一个测试机的设备信息，并将多个测试机的设备信息保存成测试列表。
S120：根据当前测试机的设备信息选择相应的信号通路以及接收天线。
S200：开始测试：
具体来说，步骤开始测试具体包括以下步骤：
S210：建立当前测试机与基站之间的通讯连接；
S220：启动当前测试机发射射频信号。
具体来说，工作人员可以根据测试机的设备信息使用第一接收天线62/两个第二接收天线63可接收当前测试机发射的射频信号。
S300：分析结果：
具体来说，步骤分析结果具体包括以下步骤。
S310：分析反馈信号；该反馈信号为接收机构6接收射频信号后通过调节机构4发送至反馈机构7，反馈机构7根据接收到的信号进行分析。
举例来说，若当前测试机发射的射频信号由第一接收天线62所接收，工作人员根据当前测试机的设备信息，启闭双控开关的触点，选择是否需要由底噪放大器对接收到的射频信号进行处理。
在另一个实施例中，若当前测试机发射的射频信号由第二接收天线63接收，工作人员可以根据当前实况选择由第二通路还是第三通路进行射频信号的初步处理。
S400：替换测试机：
若当前测试机的测试完成需替换下一个测试机进行相应的测试。
具体来说，步骤替换测试机具体包括以下步骤：
S410：启动驱动件542；迫使屏蔽板541朝远离彼此的方向移动从而实现避让通槽511的开启；
S420：启动第一驱动组件55；移动下一个测试机进入避让通槽511；
S430：再次启动驱动件542，闭合避让通槽511；
S500：当前测试机是否已完成测试：
当测试机与基站建立连接时，可以获取到当前测试机的设备信息，将当前测试机的设备信息于测试列表内的测试机进行一一对比，若当前测试机已完成测试，则结束，否则重复步骤S200。
以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，本说明书（包括摘要和附图）中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或者具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。

Claims (10)

1.一种辐射杂散测试系统，其特征在于：包括电波暗室(1)和控制室(2)；
所述电波暗室(1)内设置有具有多种信号通路的调节机构(4)、可供测试机同时安装的旋转机构(5)以及能够接收不同测试机发送射频信号的接收机构(6)；
所述控制室(2)内设置有用于分析射频信号的反馈机构(7)和用于调节旋转机构(5)转动角度的控制机构(8)；
所述反馈机构(7)的信号输入端和所述调节机构(4)的信号输出端通讯连接，所述调节机构(4)的信号输入端与所述接收机构(6)的信号输出端通讯连接，所述旋转机构(5)的控制端与所述控制机构(8)的信号输出端通讯连接；所述电波暗室(1)和所述控制室(2)的侧壁内部均设置有能够屏蔽外部干扰信号的屏蔽层(3)。
2.根据权利要求1所述的辐射杂散测试系统，其特征在于：所述接收机构(6)包括安装架(61)，所述安装架(61)上安装有第一接收天线(62)和两个第二接收天线(63)；所述第一接收天线(62)和两个第二接收天线(63)的信号输出端分别单独和所述调节机构(4)的信号输入端通讯连接。
3.根据权利要求2所述的辐射杂散测试系统，其特征在于：所述调节机构(4)包括设置于反馈机构(7)和第一接收天线(62)之间的第一信号通路(41)、设置于反馈机构(7)和两个第二接收天线(63)之间的第二信号通路(42)和第三信号通路(43)；
所述第一信号通路(41)、第二信号通路(42)和第三信号通路(43)内均单独串联有底噪放大器，所述第二信号通路(42)内串联设置有两个多路电子开关和多个不同配置的带阻滤波器；
所述多个滤波器的两端分别串联于两个所述多路电子开关的触点之间，其中一个所述多路电子开关的输入端与任一第二接收天线(63)连接，另一个所述多路电子开关的输出端与底噪放大器的输入端串联。
4.根据权利要求1所述的辐射杂散测试系统，其特征在于：所述旋转机构(5)包括屏蔽箱(51)、转动连接于屏蔽箱(51)内的转轴(52)和设置于转轴(52)周壁上的多个支撑组件(53)，所述支撑组件(53)用于承载测试机；所述屏蔽箱(51)上开设有可供支撑组件(53)远离转轴(52)的一端穿过的避让通槽(511)，所述屏蔽箱(51)上设置有能够调节避让通槽(511)启闭/开启程度的密闭组件(54)，所述屏蔽箱(51)内设置有用于调节转轴(52)绕自身轴线周向转动角度的第一驱动组件(55)，所述电波暗室(1)底部设置有驱动屏蔽箱(51)绕自身轴线周向装的第二驱动组件(56)。
5.根据权利要求4所述的辐射杂散测试系统，其特征在于：所述支撑组件(53)包括轴线垂直设置于转轴(52)周壁上的支撑杆(531)、设置于支撑杆(531)远离转轴(52)一端的底台(532)以及对称设置于所述底台(532)远离支撑杆(531)一侧的两个夹持座(533)，所述支撑组件(53)包括轴线垂直设置于转轴(52)周壁上的支撑杆(531)、设置于支撑杆(531)远离转轴(52)一端的底台(532)以及对称设置于所述底台(532)远离支撑杆(531)一侧的两个夹持座(533)，所述两个夹持座(533)之间的间距能够调节且形成夹持空间(537)，所述夹持座(533)靠近所述夹持空间(537)的一侧设置有可供测试机外壁抵接的安装座(534)。
6.根据权利要求5所述的辐射杂散测试系统，其特征在于：所述密闭组件(54)包括滑移连接于所述避让通槽(511)内的屏蔽板(541)和安装于屏蔽箱(51)内的驱动件(542)，所述驱动件(542)用于带动屏蔽板(541)朝靠近或远离避让通槽(511)中心点方向往复移动；所述屏蔽板(541)至少两个且对称滑移于所述避让通槽(511)内；所述屏蔽板(541)远离驱动件(542)输出端的一侧内凹设置有可供夹持座(533)周壁扣入的凹部。
7.根据权利要求6所述的辐射杂散测试系统，其特征在于：所述支撑杆(531)能够沿自身轴线方向进行弹性伸缩，所述夹持座(533)远离底台(532)的一侧可供屏蔽箱(51)内部抵接；所述安装座(534)远离底台(532)的一侧设置有可供屏蔽板(541)侧壁抵接的弧面(5341)。
8.根据权利要求7所述的辐射杂散测试系统，其特征在于：所述屏蔽箱(51)内壁上设置有多个导向块(538)，所述导向块(538)面向屏蔽箱(51)内部的一侧内凹设置有可供夹持座(533)远离底台(532)一侧抵接的导向面。
9.一种适用于权利要求1-8任一项所述的辐射杂散测试系统的辐射杂散测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
准备工作：获取当前测试机的设备信息；所述设备信息包括测试机的检测序号、出厂配置等；
根据当前测试机的设备信息选择相应的信号通路以及接收天线；
开始测试：建立当前测试机与基站之间的通讯连接；
启动当前测试机发射射频信号；
分析结果：分析反馈信号；所述反馈信号为所述接收机构(6)接收射频信号后通过调节机构(4)发送至反馈机构(7)，所述反馈机构(7)根据接收到的信号进行分析。
10.根据权利要求9所述的一种辐射杂散测试方法，其特征在于，所述分析结果的步骤之后还包括以下步骤：
替换测试机：启动驱动件(542)；迫使屏蔽板(541)朝远离彼此的方向移动从而实现避让通槽(511)的开启；
启动第一驱动组件(55)；移动下一个测试机进入避让通槽(511)；
再次启动驱动件(542)，闭合避让通槽(511)；
重复所述开始测试的步骤至所有的测试机测试完成。
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Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6814065B1 (en) * 2003-09-24 2004-11-09 Delphi Technologies, Inc. Control apparatus for staggered spark plug firing in a dual-plug spark ignition engine
CN101685073A (zh) * 2008-09-26 2010-03-31 青岛高校软控股份有限公司 载重轮胎x光机测试装置及其方法
CN103901290A (zh) * 2012-12-28 2014-07-02 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电磁兼容性测试系统
JP2014190830A (ja) * 2013-03-27 2014-10-06 Murata Mfg Co Ltd 伝送路の輻射ノイズ測定設備
CN204129077U (zh) * 2014-09-23 2015-01-28 湖北三江航天险峰电子信息有限公司 一种微波测试暗箱
CN204462286U (zh) * 2015-03-18 2015-07-08 苏州市沃特测试技术服务有限公司 一种电磁兼容性测试间
KR20180079968A (ko) * 2017-01-03 2018-07-11 한국수력원자력 주식회사 베타 방사선 조사장치
CN108366161A (zh) * 2018-02-09 2018-08-03 广东欧珀移动通信有限公司 辐射杂散的测试方法及装置、电子装置及可读存储介质
CN209513925U (zh) * 2018-11-01 2019-10-18 德凯认证服务（苏州）有限公司 一种新能源汽车电机电控电磁检测系统
US10520534B1 (en) * 2018-07-02 2019-12-31 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Integrated shielding for motor and test antenna de-coupling
CN111351991A (zh) * 2020-02-17 2020-06-30 中国信息通信研究院 辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法
CN112009721A (zh) * 2020-07-22 2020-12-01 中国工程物理研究院应用电子学研究所 一种微小型多旋翼无人机的高功率微波效应试验装置
CN112014650A (zh) * 2020-07-14 2020-12-01 深圳捷豹电波科技有限公司 一种天线性能的检测装置及检测方法
CN112505435A (zh) * 2020-12-09 2021-03-16 上海航天电子通讯设备研究所 大型圆柱形相控阵天线等效远场测试装置和方法

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6814065B1 (en) * 2003-09-24 2004-11-09 Delphi Technologies, Inc. Control apparatus for staggered spark plug firing in a dual-plug spark ignition engine
CN101685073A (zh) * 2008-09-26 2010-03-31 青岛高校软控股份有限公司 载重轮胎x光机测试装置及其方法
CN103901290A (zh) * 2012-12-28 2014-07-02 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电磁兼容性测试系统
JP2014190830A (ja) * 2013-03-27 2014-10-06 Murata Mfg Co Ltd 伝送路の輻射ノイズ測定設備
CN204129077U (zh) * 2014-09-23 2015-01-28 湖北三江航天险峰电子信息有限公司 一种微波测试暗箱
CN204462286U (zh) * 2015-03-18 2015-07-08 苏州市沃特测试技术服务有限公司 一种电磁兼容性测试间
KR20180079968A (ko) * 2017-01-03 2018-07-11 한국수력원자력 주식회사 베타 방사선 조사장치
CN108366161A (zh) * 2018-02-09 2018-08-03 广东欧珀移动通信有限公司 辐射杂散的测试方法及装置、电子装置及可读存储介质
US10520534B1 (en) * 2018-07-02 2019-12-31 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Integrated shielding for motor and test antenna de-coupling
CN209513925U (zh) * 2018-11-01 2019-10-18 德凯认证服务（苏州）有限公司 一种新能源汽车电机电控电磁检测系统
CN111351991A (zh) * 2020-02-17 2020-06-30 中国信息通信研究院 辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法
CN112014650A (zh) * 2020-07-14 2020-12-01 深圳捷豹电波科技有限公司 一种天线性能的检测装置及检测方法
CN112009721A (zh) * 2020-07-22 2020-12-01 中国工程物理研究院应用电子学研究所 一种微小型多旋翼无人机的高功率微波效应试验装置
CN112505435A (zh) * 2020-12-09 2021-03-16 上海航天电子通讯设备研究所 大型圆柱形相控阵天线等效远场测试装置和方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ROB ARMSTRONG: "On-site EMC testing for railways — The ins and outs of live measurements", IEEE, pages 71 *
安伟: "一种多功能半电波暗室的性能评价方法", 《江苏科技信息》, no. 32, pages 66 - 68 *

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