CN112437296A - 一种摄像头模组射频干扰测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供的一种摄像头模组射频干扰测试系统，包括：点亮装置、探头和频谱分析装置；探头与所述频谱分析装置连接，探头靠近所述点亮装置活动设置；点亮装置，用于安装待测试的摄像头模组，并按照预设点亮条件驱动所述摄像头模组；探头，用于采集摄像头模组的辐射信号；频谱分析装置，用于对辐射信号进行分析。本发明摄像头模组射频干扰测试系统能够有效且准确的对摄像头模组单体进行射频干扰的测试。

Description

一种摄像头模组射频干扰测试系统

技术领域

本发明涉及摄像头模组测试技术领域，具体而言，涉及一种摄像头模组射频干扰测试系统。

背景技术

摄像头模组工作时，主时钟和内部系统时钟会发出高低频率的电磁波。当手机天线所接收的信号频率非常接近此电磁波频率时，此时摄像头模组工作所产生的电磁波就会对通讯造成干扰。因此，手机生产需要满足相应的射频干扰标准，以使这种干扰降到最小。目前业内一般都是将摄像头模组装进手机后，对整机进行通讯干扰测试。如果摄像头模组的辐射干扰无法解决，且前期已经进行了小批量生产，此时再进行修改会造成较大的经济损失并导致研发周期的延长。

因此，目前如何更好的对摄像头模组进行射频干扰的测试，以避免造成大量经济损失和延长研发周期成为了亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种摄像头模组射频干扰测试系统，能够有效且准确的对摄像头模组单体进行射频干扰的测试。

本申请通过一实施例提供如下技术方案：

一种摄像头模组射频干扰测试系统，包括：点亮装置、探头和频谱分析装置；所述探头与所述频谱分析装置连接，所述探头靠近所述点亮装置活动设置；所述点亮装置，用于安装待测试的摄像头模组，并按照预设点亮条件驱动所述摄像头模组；所述探头，用于采集所述摄像头模组的辐射信号；所述频谱分析装置，用于对所述辐射信号进行分析。

可选的，所述点亮装置包括：滑轨、连接结构和点亮工装，所述滑轨环绕设置在所述点亮工装外侧，所述探头通过所述连接结构与所述滑轨活动连接；所述连接结构用于沿所述滑轨移动和/或相对所述滑轨转动。

可选的，所述滑轨为方形、圆形或椭圆形。

可选的，所述连接结构包括杆体和滑动底座，所述探头设置在所述杆体上，所述杆体与所述滑动底座连接，所述滑动底座与所述滑轨滑动和/或转动连接；所述杆体和所述滑动底座，用于调整所述探头与所述点亮工装之间的相对位置。

可选的，所述杆体为螺杆，所述探头与所述螺杆螺纹连接。

可选的，所述点亮装置还包括：转动轴，所述点亮工装设置在所述转动轴上；所述转动轴，用于将所述点亮工装进行转动。

可选的，所述转动轴连接在所述滑轨上。

可选的，还包括：屏蔽外壳，所述点亮装置和所述探头均设置在所述屏蔽外壳内。

可选的，还包括上位机，所述上位机与所述点亮装置连接；所述上位机，用于按照预设点亮条件控制所述点亮装置驱动所述摄像头模组。

可选的，所述频谱分析装置包括频谱仪和放大器，所述频谱仪与所述放大器连接，所述放大器与所述探头连接。

本发明实施例中提供的一种摄像头模组射频干扰测试系统，其中探头与频谱分析装置连接，探头靠近点亮装置布置；通过安装待测试的摄像头模组，并按照预设点亮条件驱动摄像头模组，以便模拟手机使用时的实际情况；进一步的，探头的位置靠近点亮装置活动设置，可设置在手机整机的天线位置，实现摄像头模组周围不同的天线位置的辐射信号采集。本发明实施例的摄像头模组射频干扰测试系统能够有效且准确的对摄像头模组单体进行射频干扰的测试，将摄像头模组对手机的射频干扰控制在生产整机前，极大的降低了研发风险缩短了研发周期。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本发明较佳实施例提供的一种摄像头模组射频干扰测试系统的一结构示意图；

图2是本发明较佳实施例中示例性的手机天线在手机整机的设置结构示意图；

图3是本发明较佳实施例中点亮装置的结构示意图；

图4是本发明较佳实施例中点亮装置的连接结构的结构示意图；

图5是本发明较佳实施例提供的一种摄像头模组射频干扰测试系统的另一结构示意图。

图标：100-摄像头模组射频干扰测试系统；11-点亮装置；111-滑轨；112-连接结构；112a-杆体；112b-滑动底座；112c-滑动轮；112d-电机；112e-电机；113-点亮工装；114-转动轴；115-屏蔽外壳；116-驱动装置；12-探头；13-频谱分析装置；131-频谱仪；132-放大器；14-上位机；21-摄像头模组；31-天线。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“水平”并不表示要求部件绝对水平，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

请参照图1，本实施例提供一种摄像头模组射频干扰测试系统100，其包括：点亮装置11、探头12和频谱分析装置13。探头12与频谱分析装置13连接，探头12靠近点亮装置11活动设置。

点亮装置11，用于安装待测试的摄像头模组21，并按照预设点亮条件驱动摄像头模组21，本领域技术人员可根据测试条件或摄像头模组21的类型等进行确定预设点亮条件，本实施例不再赘述。探头12，用于采集摄像头模组21的辐射信号；频谱分析装置13，用于对探头12采集的辐射信号进行频谱结构分析。

具体的，点亮装置11可用于模拟手机对摄像头模组21进行驱动，探头12可从不同的方向、距离和角度对摄像头模组21的辐射信号进行采集。

探头12可通过任意的固定装置固定在摄像头模组21周围的不同位置，固定装置如单独的夹具。在固定探头12时，可按照手机天线31的可能布置情况进行布置。也即在手机设计中，手机天线31相对于摄像头模组21具有一个或多个相对的目标位置。例如，天线31为如图2中(a)(b)(c)(d)所示的天线31，多个条形的天线31分布在手机的四周边缘，目标位置即天线31相对于摄像头模组21所在的坐标位置。探头12布置时可模拟布置在手机天线31的目标位置上。并且探头12可分别在手机天线31对应的每个目标位置上逐个采集辐射信号，进而判断摄像头模组21的射频干扰程度。在采集的过程中，可控制探头12一边移动一边采集，保证条形天线31上的每一个位置点均能采集到辐射信号，提高测试准确性。

此外，本实施例中提供如下的实现方案来实现探头12在摄像头模组21的不同方位采集辐射信号。请参阅图3，图3示出了屏蔽外壳115内的点亮装置11的一种具体实现结构，点亮装置11可包括：滑轨111、连接结构112和点亮工装113。滑轨111环绕设置在点亮工装113外侧，探头12通过连接结构112与滑轨111活动连接；连接结构112用于沿滑轨111移动和/或绕滑轨111转动。滑轨111围绕点亮工装113环绕设置，例如滑轨111可为方形、圆形或椭圆形。然后，连接结构112在滑轨111上滑动或相对滑轨111转动，可使得探头12能够布置到摄像头模组21的周围的不同位置。

连接结构112可沿滑轨111滑动和绕滑轨111转动，可采用现有的滑动机构或转动机构进行实现连接结构112沿滑轨111的滑动和转动，本实施例中不再一一列举。例如，连接结构112可由滑动底座112b与设置探头12的杆体112a组成。杆体112a与滑动底座112b连接，滑动底座112b与滑轨111滑动连接；通过杆体112a和滑动底座112b可调整探头12与点亮工装113之间的相对位置。具体的，滑动底座112b可为滑动轮112c，在滑轨111上设置有滑动轮112c滚动的轨道，滑动轮112c可通过电机112d驱动；在驱动滑动轮112c的电机112d设置位置可铰接用于安装探头12的杆体112a，如图4所示。其中的铰接轴可通过一电机112e进行驱动，使得杆体112a可以绕滑轨111转动，实现探头12位置的调整。

进一步的，杆体112a可为螺杆，探头12与螺杆螺纹连接。通过探头12与螺杆之间的螺纹可实现探头12的在螺杆上的位置移动，可调整探头12与摄像头模组21之间的距离。可通过一电机驱动螺杆的转动来调节探头12在螺杆上的位置，具体结构可采用现有技术中的结构进行组合，在本实施例中不做限制。例如，电机的转轴与螺杆的端部进行齿接，从而驱动螺杆转动以调节探头12在螺杆上的位置，如图4所示。

另外，本实施中的杆体112a可以为可伸缩的液压杆装置，通过调节液压杆的伸缩就可实现探头12位置的控制。

进一步的，点亮装置11还包括：转动轴114，点亮工装113设置在转动轴114上；转动轴114可用于将点亮工装113进行转动。当摄像头模组21安装在点亮工装113上后，通过转动轴114的转动可实现摄像头模组21的角度调整，可充分弥补探头12位置调整的限制，使得探头12可测得的摄像头模组21的辐射测试位置更加全面。转动轴114可连接在所述滑轨111上，可便于实现点亮工装113与滑轨111在同一平面内，准确的实现模拟手机使用场景，以对摄像头进行检测。

为了实现自动化控制，在本实施例中还可布置一驱动装置116对点亮装置11中的各个结构的活动和/或对摄像头模组21进行驱动，如图5所示。

此外，本实施例中可设置屏蔽外壳115，点亮装置11、探头12和摄像头模组21均设置在屏蔽外壳115内，避免在测试的时候受到外界的干扰。

在本实施中，可通过一上位机14连接点亮装置11，实现按照预设点亮条件控制点亮装置11驱动摄像头模组21。上位机14可为一计算机，可在计算机内通过编程的方式实现对点亮装置11的控制。

在本实施中，频谱分析装置13可包括频谱仪131和放大器132，频谱仪131与放大器132连接，放大器132与所述探头12连接。探头12采集的信号通过放大器132放大后传输到频谱仪131，这样频谱仪131可更加准确的进行所采集到的信号的频谱结构分析。

本发明的工作原理如下：

在进行手机整机的生产前，将用于生产手机整机的摄像头模组21安装在点亮装置11上。然后，点亮摄像头模组21。并使摄像头模组21的亮度、帧率、图像尺寸、白平衡等拍照设置的点亮条件的参数达到或尽可能的接近手机的工作状态；以及不同拍照模式的MIPIclock、system clock、Mclock等工作时钟的点亮条件的参数达到或尽可能的接近手机的工作状态。进一步的，摄像头模组21对手机天线31的射频干扰，和摄像头模组21在手机整机中的摆放位置有关，离天线31近则辐射干扰强，反之则干扰弱。本实施例中单独对摄像头模组21工作时的辐射频谱测试前，会参考手机整机的布局和尺寸，根据生产的手机整机的天线31位置控制探头12调整到对应的天线31位置进行辐射信号的采集。调整探头12位置的具体方式可为：调整连接结构112沿所述滑轨滑动，或者调整连接结构112相对所述滑轨转动，或者调整转动轴114进行转动，上述三种调整方式可以任选其中一种实施，也可选择其中多种或全部进行组合实施。然后，通过频谱分析装置13对采集的辐射信号进行频谱结构分析，综合评判摄像头的辐射状态，有效做到不误判不良品。

在采集摄像头模组21的辐射信号时针对手机通讯使用到的有效频段进行分析，例如2G、3G、4G、5G等电话通讯，WIFI、蓝牙等无线通讯，在这些频段内测试摄像头模组21工作时的辐射信号是否形成了干扰源。干扰源的确定可根据客户的需要决定，也可以按照FCC(Federal Communications Commission，美国联邦通信委员会)和3GPP(3rd GenerationPartnership Project，第三代合作伙伴计划)组织制定的标准进行测试，不作限制。例如，可按照如下表1的一种标准进行干扰源测试。

表1中仅示出了一种示例性的标准，不应理解为对本申请的保护范围进行限制的条件。

通过上述方法可实现对摄像头模组21的单体测试，如果单体测试在要求的规格内，则后期组装成手机整机产生的干扰是完全可以通过现有的常规调试解决。如果单体测试超规格，则可以及时修改摄像头模组21单体的硬件和电路。

综上所述，本实施例中提供的一种摄像头模组射频干扰测试系统100，其中探头12与频谱分析装置13连接，探头12靠近点亮装置11布置；通过安装待测试的摄像头模组21，并按照预设点亮条件驱动摄像头模组21，以便模拟手机使用时的实际情况；进一步的，探头12的位置靠近点亮装置11活动设置，可设置在手机整机的天线31位置，实现摄像头模组21周围不同的天线31位置的辐射信号采集。本实施例的摄像头模组射频干扰测试系统100能够有效且准确的对摄像头模组21单体进行射频干扰的测试，将摄像头模组21对手机的射频干扰控制在生产整机前，极大的降低了研发风险缩短了研发周期。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种摄像头模组射频干扰测试系统，其特征在于，包括：点亮装置、探头和频谱分析装置；所述探头与所述频谱分析装置连接，所述探头靠近所述点亮装置活动设置；

所述点亮装置，用于安装待测试的摄像头模组，并按照预设点亮条件驱动所述摄像头模组；

所述探头，用于采集所述摄像头模组的辐射信号；

所述频谱分析装置，用于对所述辐射信号进行分析。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述点亮装置包括：滑轨、连接结构和点亮工装，所述滑轨环绕设置在所述点亮工装外侧，所述探头通过所述连接结构与所述滑轨活动连接；

所述连接结构用于沿所述滑轨移动和/或相对所述滑轨转动。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述滑轨为方形、圆形或椭圆形。

4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述连接结构包括杆体和滑动底座，所述探头设置在所述杆体上，所述杆体与所述滑动底座连接，所述滑动底座与所述滑轨滑动和/或转动连接；

所述杆体和所述滑动底座，用于调整所述探头与所述点亮工装之间的相对位置。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述杆体为螺杆，所述探头与所述螺杆螺纹连接。

6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述点亮装置还包括：转动轴，所述点亮工装设置在所述转动轴上；

所述转动轴，用于将所述点亮工装进行转动。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述转动轴连接在所述滑轨上。

8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：屏蔽外壳，所述点亮装置和所述探头均设置在所述屏蔽外壳内。

9.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括上位机，所述上位机与所述点亮装置连接；

所述上位机，用于按照预设点亮条件控制所述点亮装置驱动所述摄像头模组。

10.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述频谱分析装置包括频谱仪和放大器，所述频谱仪与所述放大器连接，所述放大器与所述探头连接。

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