CN106160895B - 一种适用于混响室的互干扰测试方法与系统 - Google Patents
一种适用于混响室的互干扰测试方法与系统 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种适用于混响室的互干扰测试方法，根据终端的第二模组在待测频段指定信道上的辐射强度，选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点；在所述待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度；根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值；本发明同时还公开了一种适用于混响室的互干扰测试系统。
Description
技术领域
本发明涉及无线通信技术，尤其涉及一种适用于混响室的互干扰测试方法与系统。
背景技术
目前，移动通信终端支持的制式越来越多，终端的通信形态也越来越多，不仅包括了GSM、TDS-CDMA、WCDMA、TD-LTE、LTE FDD、WLAN等多种制式，而且各制式同时工作的情况也越来越普遍。这导致终端内部不同通信制式间工作时存在多种互干扰场景。互干扰是由于终端同时工作在两种制式导致的发射制式带外辐射信号对接收制式的干扰。目前典型的互干扰测试方案描述如下：
如图1所示，在暗室内建立被干扰制式小区与终端的通信连接，基站仿真器测试终端在各方向的接收灵敏度，找出最优接收灵敏度的方位及极化。根据最优接收灵敏度与标准要求的接收灵敏度指标之差提升下行功率强度，保持通信连接。在所述方位及极化建立干扰制式小区与终端的通信连接，并使终端以最大功率发射，基站仿真器测试终端在被干扰制式的最优接收灵敏度的方位上所有可用频点的误码率。测试完成后，中央控制器控制基站仿真器调整干扰制式的测试频点，再次测试被干扰制式最优接收灵敏度的方位上所有可用频点的误码率。当完成所有的干扰组合的测试后，找出误码率最高的位置、频点组合，基站仿真器测试接收灵敏度情况。此接收灵敏度与无干扰情况下的接收灵敏度之差定义为因互干扰带来的性能损失指标。
在目前的测试方案中需要对干扰制式和被干扰制式同时工作情况下的所有频率组合进行扫描测试以找出干扰最强的频率组合，并以此作为终端互干扰最强场景，测试接收灵敏度的回退情况。由于终端支持的制式、频段组合非常繁多，频率组合扫描将耗费大量时间测试成本巨高，使得该方案无法在实际产业中进行应用。
另外，暗室内构建的是信号直射环境，因此同一时间只能测试终端在某一摆放姿态某一辐射方位的性能。在已有的互干扰测试中选取了终端辐射性能最优的位置，这样，片面恶化了终端的互干扰，无法反映实际互干扰情况。
发明内容
为解决现有存在的技术问题，本发明主要提供一种适用于混响室的互干扰测试方法与系统。
本发明的技术方案是这样实现的：
本发明提供一种适用于混响室的互干扰测试方法，该方法包括：
根据终端的第二模组在待测频段指定信道上的辐射强度，选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点；
在所述待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度；
根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值。
上述方案中，所述选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点包括：按照设定的规则选取第二模组在待测频段指定信道上的待测强干扰频点。
上述方案中，所述规则包括：
设定固定功率强度门限，选取高于所述固定功率强度门限的辐射强度的频点为待测强干扰频点；
或者，根据设定的峰值辐射强度回退值确定待测强干扰频点；
或者，选取辐射强度最强的S个频点为待测强干扰频点。
上述方案中，所述在所述待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，包括：
断开第二模组的通信连接，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，测试第一模组在无干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度，之后，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，并建立第二模组在所述待测强干扰频点对应的待测频段指定信道上的通信连接，测试第一模组在第二模组干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度。
上述方案中，所述根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值，包括：
对于每个待测强干扰频点，将第一模组在无干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度，与第一模组在第二模组干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度的差值，作为对应所述待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，比较对应各待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，确定第一模组的最大的接收灵敏度回退值。
本发明提供一种适用于混响室的互干扰测试系统，该系统包括：基站仿真器、频谱仪、频点选择器、中央控制器、混响室、终端；所述终端放置于混响室中，其中，
基站仿真器，用于在待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度；根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值；
频谱仪，用于测量终端的第二模组在待测频段指定信道上的辐射强度；
频点选择器，用于根据所述辐射强度的分布，选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点；
中央控制器，用于控制基站仿真器、频谱仪、频点选择器和混响室。
上述方案中，所述频点选择器，具体用于根据所述辐射强度的分布，按照设定的规则选取第二模组在待测频段指定信道上的待测强干扰频点。
上述方案中，所述规则包括：
设定固定功率强度门限，选取高于所述固定功率强度门限的辐射强度的频点为待测强干扰频点；
或者，根据设定的峰值辐射强度回退值确定待测强干扰频点；
或者，选取辐射强度最强的S个频点为待测强干扰频点。
上述方案中，所述基站仿真器，具体用于断开第二模组的通信连接，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，测试第一模组在无干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度，之后，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，并建立第二模组在所述待测强干扰频点对应的待测频段指定信道上的通信连接，测试第一模组在第二模组干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度。
上述方案中，所述基站仿真器，具体用于对于每个待测强干扰频点，将第一模组在无干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度，与第一模组在第二模组干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度的差值，作为对应所述待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，比较对应各待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，确定第一模组的最大的接收灵敏度回退值。
本发明提供了一种适用于混响室的互干扰测试方法与系统，根据终端的第二模组在待测频段指定信道上的辐射强度，选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点；在所述待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度；根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值；如此，在互干扰测试中可以将天线的全方位性能涵盖进去，另外，通过测量第二模组的干扰分布情况选取部分干扰严重的测试频点，从而提升测试效率，减少测试时间。
附图说明
图1为一种典型的互干扰测试系统的结构示意图；
图2为本发明实现适用于混响室的互干扰测试方法的流程示意图；
图3为本发明实现适用于混响室的互干扰测试系统的结构示意图。
具体实施方式
本发明实施例中，根据终端的第二模组在待测频段指定信道上的辐射强度，选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点；在所述待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度；根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值。
所述第一模组为终端中的被干扰制式模组。
所述第二模组为终端中的干扰制式模组，可以为一个，也可以为多个。
下面通过附图及具体实施例对本发明做进一步的详细说明。
本发明实施例实现一种适用于混响室的互干扰测试方法，终端放置在混响室中，如图2所示，该方法包括以下几个步骤：
步骤201：根据终端的第二模组在待测频段指定信道上的辐射强度，选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点；
具体的，断开第一模组的通信连接，建立第二模组在待测频段指定信道上的连接，并使第二模组以最大功率发射，测量第二模组在第一模组频段各频点的辐射强度；根据所述辐射强度的分布，按照预先设定的规则选取第二模组在待测频段指定信道上的待测强干扰频点，所述规则包括：第一种，预先设定固定功率强度门限，选取高于所述固定功率强度门限的辐射强度的频点为待测强干扰频点，进行后续的互干扰测试；第二种，根据预先设定的峰值辐射强度回退值R确定待测强干扰频点，即只有最强的峰值辐射强度回退值R的频点才进行后续的互干扰测试；第三种，选取辐射强度最强的S个频点为待测强干扰频点，进行后续互干扰测试。
这里，所述待测频段指定信道为M个，第j(j∈M)个指定信道上的待测强干扰频点可以有N个，其中，M为正整数，N为整数。
步骤202：在所述待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度；
具体的，断开第二模组的通信连接，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，测试第一模组在无干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度，之后，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，并建立第二模组在所述待测强干扰频点对应的待测频段指定信道上的通信连接，测试第一模组在第二模组干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度。
例如，在第i(i∈N)个待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，测试第一模组在无干扰下在第i个待测强干扰频点上的接收灵敏度，将i从1取到N，得到第一模组在无干扰下在第1至N个待测强干扰频点上的接收灵敏度，之后，在第i个待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，并建立第二模组在第i个待测强干扰频点对应的第j个待测频段指定信道上的通信连接，测试第一模组在第二模组干扰下在第i个待测强干扰频点上的接收灵敏度，将i从1取到N，j从1取到M，得到第一模组在第二模组干扰下在第1至N个待测强干扰频点上的接收灵敏度。
步骤203：根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值；
具体的，对于每个待测强干扰频点，将第一模组在无干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度，与第一模组在第二模组干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度的差值，作为对应所述待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，比较对应各待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，确定第一模组的最大的接收灵敏度回退值。
为了实现上述方法，本发明还提供一种适用于混响室的互干扰测试系统，如图3所示，该系统包括：基站仿真器31、频谱仪32、频点选择器33、中央控制器34、混响室35、终端36；所述终端36放置于混响室35中，其中，
基站仿真器31，用于在待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度；根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值；
频谱仪32，用于测量终端36的第二模组在待测频段指定信道上的辐射强度；
频点选择器33，用于根据所述辐射强度的分布，选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点；
中央控制器34，用于控制基站仿真器31、频谱仪32、频点选择器33和混响室35；
所述频点选择器33，具体用于根据所述辐射强度的分布，按照预先设定的规则选取第二模组在待测频段指定信道上的待测强干扰频点；
所述规则包括：第一种，预先设定固定功率强度门限，选取高于所述固定功率强度门限的辐射强度的频点为待测强干扰频点，进行后续的互干扰测试；第二种，根据预先设定的峰值辐射强度回退值R确定待测强干扰频点，即只有最强的峰值辐射强度回退值R的频点才进行后续的互干扰测试；第三种，选取辐射强度最强的S个频点为待测强干扰频点，进行后续互干扰测试。
这里，所述频点选择器33可以独立存在，也可以作为一个功能模块集成在中央控制器34中。
所述基站仿真器31，具体用于断开第二模组的通信连接，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，测试第一模组在无干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度，之后，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，并建立第二模组在所述待测强干扰频点对应的待测频段指定信道上的通信连接，测试第一模组在第二模组干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度。
所述基站仿真器31，具体用于对于每个待测强干扰频点，将第一模组在无干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度，与第一模组在第二模组干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度的差值，作为对应所述待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，比较对应各待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，确定第一模组的最大的接收灵敏度回退值。
所述中央控制器34，具体用于控制基站仿真器31进行第一模组和第二模组的通断，设置第一模组的工作频点为待测强干扰频点，并控制频谱仪32和频点选择器33进行待测强干扰频点的选取以及混响室35的开关。
所述混响室35中包括金属反射壁、通信天线和搅拌器。
下面通过具体的应用场景对本发明进行详细阐述。
本实施例中，设终端具有两个射频模组，分别为模组A和模组B，下面以测量模组B对模组A的干扰说明具体测试步骤。当终端有三个或三个以上射频模组时，可以将需测试的被干扰制式模组作为模组A，其它干扰制式模组均作为模组B，分别测试模组B对模组A的干扰，同样按以下步骤进行测试。
1)依次建立模组B在待测频段最低、中间、最高信道上的连接，并使模组B以最大功率发射，测量模组B在模组A频段各频点的辐射强度；
2)根据设定规则选取待测强干扰频点；
所述规则包括：第一种，预先设定固定功率强度门限，选取高于所述固定功率强度门限的辐射强度的频点为待测强干扰频点，进行后续的互干扰测试；第二种，根据预先设定的峰值辐射强度回退值R确定待测强干扰频点，即只有最强的峰值辐射强度回退值R的频点才进行后续的互干扰测试；第三种，选取辐射强度最强的S个频点为待测强干扰频点，进行后续互干扰测试。
3)在步骤2)选取的待测强干扰频点上建立模组A的通信连接，测试模组A的接收灵敏度。
4)建立模组B在待测频段最低信道上的通信连接，并保持最大功率发射，在待测强干扰频点上再次测试模组A的接收灵敏度；
5)建立模组B在待测频段中间信道以及最高信道上的通信连接，重复步骤4)；
6)将步骤4)～5)中模组A的接收灵敏度回退值最大者作为最终测试结果。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种适用于电波混响室的互干扰测试方法，其特征在于，该方法包括：
根据终端的第二模组在待测频段指定信道上的辐射强度，选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点；其中，所述第二模组为终端中的干扰制式模组；
在所述待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度；其中，所述第一模组为终端中的被干扰制式模组；
根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值；
其中，所述根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值，包括：
对于每个待测强干扰频点，将第一模组在无干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度，与第一模组在第二模组干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度的差值，作为对应所述待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，比较对应各待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，确定第一模组的最大的接收灵敏度回退值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点包括：按照设定的规则选取第二模组在待测频段指定信道上的待测强干扰频点。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述规则包括：
设定固定功率强度门限，选取高于所述固定功率强度门限的辐射强度的频点为待测强干扰频点；
或者，设定最强的峰值辐射强度回退值的频点为待测强干扰频点；
或者，选取辐射强度最强的S个频点为待测强干扰频点。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，包括：
断开第二模组的通信连接，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，测试第一模组在无干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度，之后，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，并建立第二模组在所述待测强干扰频点对应的待测频段指定信道上的通信连接，测试第一模组在第二模组干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度。
5.一种适用于电波混响室的互干扰测试系统，其特征在于，该系统包括：基站仿真器、频谱仪、频点选择器、中央控制器、混响室、终端；所述终端放置于混响室中，其中，
基站仿真器，用于在待测强干扰频点上，测试第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度；根据第一模组在无干扰下的接收灵敏度和第一模组在第二模组干扰下的接收灵敏度，获得第一模组的最大的接收灵敏度回退值；其中，所述第一模组为终端中的被干扰制式模组；所述第二模组为终端中的干扰制式模组；
频谱仪，用于测量终端的第二模组在待测频段指定信道上的辐射强度；
频点选择器，用于根据所述辐射强度的分布，选取在待测频段指定信道上的待测强干扰频点；
中央控制器，用于控制基站仿真器、频谱仪、频点选择器和混响室；
其中，所述基站仿真器，具体用于对于每个待测强干扰频点，将第一模组在无干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度，与第一模组在第二模组干扰下在所述待测强干扰频点上的接收灵敏度的差值，作为对应所述待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，比较对应各待测强干扰频点的第一模组的接收灵敏度回退值，确定第一模组的最大的接收灵敏度回退值。
6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述频点选择器，具体用于根据所述辐射强度的分布，按照设定的规则选取第二模组在待测频段指定信道上的待测强干扰频点。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述规则包括：
设定固定功率强度门限，选取高于所述固定功率强度门限的辐射强度的频点为待测强干扰频点；
或者，设定最强的峰值辐射强度回退值的频点为待测强干扰频点；
或者，选取辐射强度最强的S个频点为待测强干扰频点。
8.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述基站仿真器，具体用于断开第二模组的通信连接，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，测试第一模组在无干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度，之后，分别在各待测强干扰频点上，建立第一模组的通信连接，并建立第二模组在所述待测强干扰频点对应的待测频段指定信道上的通信连接，测试第一模组在第二模组干扰下在各待测强干扰频点上的接收灵敏度。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |