CN108777600B - 一种无线测试系统及测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种无线测试系统及测试方法。该测试系统包括设置于第一屏蔽容器内的功分器和至少两个第二屏蔽容器，以及设置于第一屏蔽容器外的测试仪器和控制装置；至少两个第二屏蔽容器，用于隔离待测样机和陪测样机；功分器，用于将干扰信号叠加到测试信号，得到目标信号，输出目标信号至待测样机；控制装置，用于控制测试仪器发射测试信号，以及，向陪测样机输出控制命令，控制陪测样机中与控制命令对应的目标对象运行，以及，接收待测样机在不同的目标对象运行时输出的性能参数，根据性能参数确定目标对象是否为干扰源，采用上述方案，有利于干扰现象的稳定复现，快速定位干扰源，提高了测试精度及效率。

Description

一种无线测试系统及测试方法

技术领域

本申请实施例涉及无线通信技术，尤其涉及一种无线测试系统及测试方法。

背景技术

随着无线技术的不断发展，多天线多频段的产品在市场上逐渐成为主流，而无线干扰问题极大地制约和影响着产品的无线性能和用户体验。

相关技术中，对于无线产品是否存在辐射干扰的问题，通常采用可编程衰减测试、工厂地下室远近距离测试或者实际环境远近距离测试等测试方法进行测试。然而，对于工厂地下室远近距离测试或者实际环境远近距离测试均是在开放环境下进行，并不能保证测试环境的一致性，不利于干扰问题的复现与处理，影响测试精度。

发明内容

本申请实施例提供一种无线测试系统及测试方法，可以优化相关技术中的无线干扰测试方案，提高测试精度及效率。

第一方面，本申请实施例提供了一种无线测试系统，包括：第一屏蔽容器、功分器、至少两个第二屏蔽容器、测试仪器和控制装置；

所述至少两个第二屏蔽容器，设置于所述第一屏蔽容器内，用于隔离待测样机和陪测样机，其中，所述待测样机与陪测样机相同；

所述功分器，设置于所述第一屏蔽容器内，分别与所述测试仪器、所述陪测样机以及所述待测样机连接，用于接收所述测试仪器发射的测试信号以及所述陪测样机输出的干扰信号，并将所述干扰信号叠加到所述测试信号，得到目标信号，输出所述目标信号至所述待测样机；

所述控制装置，分别与所述测试仪器、所述陪测样机和所述待测样机连接，用于控制所述测试仪器发射测试信号，以及，向所述陪测样机输出控制命令，控制所述陪测样机中与所述控制命令对应的目标对象运行，以及，接收所述待测样机在不同的目标对象运行时输出的性能参数，其中，所述性能参数用于指示所述目标对象是否为干扰源。

第二方面，本申请实施例还提供了一种无线测试方法，该无线测试方法由如上述第一方面所述的无线测试系统执行，该无线测试系统执行该无线测试方法时实现下述步骤：

控制装置控制测试仪器发射测试信号；

控制装置控制陪测样机输出干扰信号；

功分器将所述干扰信号叠加至所述测试信号得到目标信号，输出所述目标信号至待测样机；

所述待测样机接收所述目标信号，分析所述目标信号确定第一性能参数，并将所述第一性能参数输出至所述控制装置；

所述控制装置根据所述第一性能参数确定干扰源：

本申请实施例提供一种无线测试系统，包括设置于第一屏蔽容器内的功分器和至少两个第二屏蔽容器，以及设置于所述第一屏蔽容器外的测试仪器和控制装置；至少两个第二屏蔽容器，用于隔离待测样机和陪测样机；功分器，分别与该测试仪器、该陪测样机以及该待测样机连接，用于接收测试仪器发射的测试信号以及陪测样机输出的干扰信号，并将干扰信号叠加到测试信号，得到目标信号，输出目标信号至待测样机；控制装置，分别与测试仪器、陪测样机和待测样机连接，用于控制测试仪器发射测试信号，以及，向陪测样机输出控制命令，控制陪测样机中与控制命令对应的目标对象运行，以及，接收待测样机在不同的目标对象运行时输出的性能参数。采用上述技术方案，可以保证测试环境的一致性，有利于干扰现象的稳定复现；此外，通过至少两个屏蔽容器将干扰源与干扰受体隔离开，有利于干扰信号的控制和提取；此外，对陪测样机采用控制变量法，控制单一干扰源的产生，根据不同基带模块的开启/关闭或者不同频段的天线发包对待测样机的天线性能的影响情况，快速定位干扰源，提高了测试精度及效率。

附图说明

图1是本申请实施例提供的一种无线测试系统的结构示意图；

图2是本申请实施例提供的一种无线测试方法的流程图；

图3是本申请实施例提供的另一种无线测试方法的流程图；

图4是本申请实施例提供的又一种无线测试方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。

在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各步骤描述成顺序的处理，但是其中的许多步骤可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各步骤的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。

需要说明的是，无线干扰信号的传播主要分为传导干扰和辐射干扰。传导干扰信号往往是通过PCB板上的媒介进行传播，通常表现为干扰样机接收灵敏度，该问题易发现，一般在对PCBA进行校准或者手动测试接收灵敏度时即可检测到干扰信号，传导干扰信号传播的路径主要包括电源走线，微带线间耦合，屏蔽罩框架以及屏蔽罩上盖耦合等，将干扰信号传送到射频链路，然后进入接收机，影响样机的性能。辐射干扰信号通常通过产品自身的天线接收进入接收机，然后影响LNA(Low Noise Amplifier，低噪声放大器)的信噪比，导致整机的吞吐量变低，辐射干扰信号主要是由于干扰源产生的干扰信号通过PCB板上某种物料充当天线，然后将信号辐射到空间，充当干扰信号发送天线的物料主要有微带走线，散热片、电感、电容、二极管、屏蔽罩缝隙等，一般情况下，内置天线由于和PCBA距离较近，比外置天线更容易受到干扰，干扰源主要包括CPU、DDR、USB、PCIE等。多频段共存产品还包括其它频段的天线信号对使用频段信号的影响。相关技术中的测试方案不能完全保证测试对比环境的完全一致性，存在一定的误差；此外，相关技术中的测试方案无法快速准确地定位到基带模块的干扰源；此外，相关技术的测试方案对多频段共存(如2.4G、 5G band1、5G band4及LTE)干扰问题的干扰测试效果不理想。

基于上述技术问题，本申请实施例提出一种无线测试方案，可以优化相关技术中的测试方案，提高测试精度及效率。

图1是本申请实施例提供的一种无线测试系统的结构示意图，该系统可以通过软件及硬件实现，用于执行本申请实施例提供的无线测试方法。如图1所示，该系统包括：设置于第一屏蔽容器内的功分器和至少两个第二屏蔽容器，以及设置于所述第一屏蔽容器外的测试仪器和控制装置。

示例性的，该无线测试系统包括两个第二屏蔽容器，第二屏蔽容器小于第一屏蔽容器，其中，第二屏蔽容器可以是屏蔽箱，记为第二屏蔽箱；第一屏蔽容器可以是体积大于第二屏蔽容器的屏蔽箱，记为第一屏蔽箱，第一屏蔽容器还可以是屏蔽房。一个第二屏蔽箱内放置有陪测样机，另一个第二屏蔽箱内放置有待测样机。

需要说明的是，陪测样机与待测样机完全相同，即可以选择与待测样机相同的产品作为陪测样机。其中，陪测样机作为干扰源的发生设备。由于待测样机和陪测样机分别放在两个第二屏蔽箱内，陪测样机产生的干扰信号不会与待测样机的正常无线信号或者外界的无线信号相互叠加，保证了干扰信号的单一性和纯净性。

需要说明的是，陪测样机、待测样机及其连接线均置于大屏蔽箱或者屏蔽房内，排除外界干扰信号的影响，可以保证测试对比环境的一致性，有利于干扰问题的复现及处理。

需要说明的是，待测样机和陪测样机可以是智能手机、平板电脑、无线网关或无线路由器等无线终端。

需要说明的是，第一电源适配器为陪测样机供电，第二电源适配器为待测样机供电。可选的，第一电源适配器的电源线顺序穿过第一屏蔽容器和第二屏蔽容器，与陪测样机连接，第一电源适配器的插头位于第一屏蔽容器外；第二电源适配器的电源线顺序穿过第一屏蔽容器和第二屏蔽容器，与待测样机连接，第二电源适配器的插头位于第一屏蔽容器外。从而，在无线测试系统搭建好后，无需打开第一屏蔽容器即可实现待测样机和陪测样机的电源切换(例如，通过插拔电源适配器的方式实现电源切换)，保证第一屏蔽容器的内部环境不变。可选的，该第一适配器的插头内具有第一开关，该第一开关用于控制第一电源适配器接通或断开电源，且该第一开关与控制装置电连接，可以在控制装置的控制下接通或断开电源。相似的，该第二适配器的插头内具有第二开关，该第二开关与控制装置电连接，可以在控制装置的控制下接通或断开电源。

示例性的，功分器(在用作将多路信号能量合成一路输出时，又可以称为合路器)可以是一分二类型的功分器。需要说明的是，分出的支路越多，信号衰减越大。为了避免对干扰信号的衰减过大而影响测试结果的问题发生，可以选择一分二类型的功分器，相应的，选择一个陪测样机进行对比测试。

测试仪器可以是无线测试中用于发射无线信号的仪器。测试仪器可以通过交换机或路由器与控制装置通信连接，并可以在控制装置的控制下发射功率可变的测试信号。例如，控制装置在向陪测样机输出控制命令时，控制该测试仪器发射预设功率的测试信号。控制装置接收待测样机发送的接收灵敏度的相关数据，根据接收灵敏度确定丢包数。需要说明的是，接收灵敏度是接收机能够正确地把有用信号拿出来的最小信号接收功率，也就是说，接收灵敏度是在丢包数满足预设要求时接收机能够接收信号最小门限。在丢包数与预设的目标丢包数的差值超过预设阈值时，控制装置调整测试仪器发射的测试信号的功率，控制测试仪器根据调整后的功率发射测试信号。例如，要求丢包数不能超过10 个，如果测试仪器发射的测试信号的功率是-102dBm，在向该测试信号叠加干扰信号后，丢包数小于10个，则可以确定接收灵敏度为-102dBm。如果测试仪器发射的测试信号的功率是-102dBm，在向该测试信号叠加干扰信号后，丢包数大于10个，则增大测试仪器发射的测试信号的功率，在增大后的测试信号的功率是-95dBm时，丢包数小于10个，则确定接收灵敏度为-95dBm。

功分器分别与该测试仪器、陪测样机以及待测样机连接，用于接收该测试仪器发射的测试信号以及陪测样机输出的干扰信号，并将干扰信号叠加到测试信号，得到目标信号，输出该目标信号至待测样机。示例性的，在功分器为一分二类型的功分器时，该功分器的第一输入端与测试仪器通信连接，用于接收测试仪器发射的测试信号。需要说明的是，该测试信号可以是功率可变的无线信号，还可以是功率恒定的无线信号。该功分器的第二输入端与陪测样机的天线连接，用于接收天线输出的干扰信号，其中，所述干扰信号包括根据所述控制命令控制目标基带模块运行时产生并被天线接收的无线信号，或者，根据控制命令控制目标天线发射的无线信号；控制命令是由控制装置输入至陪测样机的，用于控制基带目标模块按照预设规则开启，或者控制不同频段的天线在不同时段发射数据包。该功分器的输出端与待测样机的射频接口连接，且射频接口与待测样机的处理器连接(可以通过通信线与CPU连接)，用于接收目标信号，并将目标信号发送至该处理器，该处理器根据目标信号确定性能参数，然后，处理器将该性能参数输出至控制装置。其中，性能参数包括接收灵敏度和丢包数。

控制装置，分别与测试仪器、陪测样机和待测样机连接。控制装置控制测试仪器发射测试信号。以及，向陪测样机输出控制命令，控制陪测样机中与控制命令对应的目标对象运行。在测试仪器发射的数据包的数量超过预设包数时，控制装置还控制测试仪器的功率恢复至预设功率，并向当前运行的目标对象输出关闭命令，按照预设规则确定目标对象，向新确定的目标对象输出开启命令。以及，接收待测样机在不同的目标对象运行时输出的性能参数，根据性能参数确定干扰源。

如图1所示，第一屏蔽箱110内设置有第二屏蔽箱A和第二屏蔽箱B和功分器140。第二屏蔽箱A内放置陪测样机120，第二屏蔽箱B内放置待测样机 130。需要说明的是，陪测样机120与待测样机130是完全相同的产品，具有基带模块122(包括CPU、DDR、USB及PCIE等)和天线121(包括2.4G、5G band1、 5G band4及LTE等)。采用射频同轴线(或称为同轴线缆)连接待测样机130 的射频接口IPEX和功分器140的输出端。可以理解的是，可以采用焊接方式将射频同轴线焊接到待测样机130。陪测样机120的天线121通过射频同轴线与功分器140的第二输入端连接，控制陪测样机120的无线模块处于关闭状态。测试仪器150的射频RF接口通过射频同轴线与功分器140的第一输入端连接。可以理解的是，另外，连接待测样机130和功分器140的线缆并不限于射频同轴线，还可以是USB线等等，此处不作具体限定。测试仪器150可以通过交换机160与控制装置170通信连接，并可以在控制装置170的控制下发射测试信号。控制装置170还通过交换机160分别与陪测样机120和待测样机130连接。控制装置170控制向陪测样机120输出控制命令，控制陪测样机120中与控制命令对应的目标对象运行。控制装置170接收待测样机130发送的性能参数。

示例性的，在无线测试系统搭建完成后，控制装置控制陪测样机的无线模块处于关闭状态，避免陪测样机发送beacon包影响测试结果；并控制待测样机通电，陪测样机断电。然后，控制装置控制测试仪器发射预设功率(待测样机的目标功率)的测试信号，该测试信号通过射频同轴线输入功分器，由于陪测样机处于断电状态，无干扰信号输出，功分器输出的目标信号即为无干扰状态的测试信号，记录待测样机的一组接收灵敏度，记为参考接收灵敏度，得到接收灵敏度的参考曲线，以便CPU将随后测试得到的接收灵敏度与其进行比对。可以理解的是，参考接收灵敏度为完全无任何干扰情况下的最佳性能。可选的，还可以将参考接收灵敏度发送至控制装置，以便控制装置进行比对。

在开始测试后，控制待测样机通电，陪测样机通电，此时，陪测样机的无线模块仍然处于关闭状态。控制装置控制测试仪器发射预设功率的测试信号，该测试信号通过射频同轴线输入功分器。同时，向陪测样机输出打开CPU的控制命令(需要说明的是，仅打开CPU，其它基带模块仍处于关闭状态，其中，其它基带模块包括但不限于DDR、USB、PCIE)。假设CPU运行时产生干扰信号，该干扰信号被辐射到陪测样机所在的第二屏蔽箱限定的空间内，并由陪测样机的天线接收。由于陪测样机的无线模块处于关闭状态，那么通过射频同轴线输出至功分器的无线信号仅包含CPU运行时产生的干扰信号，保证了信号的单一性和纯净性。功分器将干扰信号叠加至测试信号得到目标信号。可以理解的是，若CPU运行时未产生干扰信号，目标信号即为测试信号。待测样机由功分器获取目标信号，由于待测样机的IPEX接口通过通信线与CPU连接，目标信号被传输到CPU。CPU分析目标信号确定接收灵敏度，发送接收灵敏度至控制装置，控制装置根据该接收灵敏度确定丢包数。在该丢包数与预设的目标丢包数的差值超过预设阈值时，调整测试仪器发射的测试信号的功率，控制测试仪器根据调整后的功率发射测试信号。在测试仪器发射的数据包的数量超过预设包数时，向陪测样机输出CPU的关闭命令。例如，在测试仪器发射的数据包超过1000个时，认为完成一次针对一个目标对象的测试。在关于CPU的干扰情况测试过程中，根据待测样机的接收灵敏度得到目标曲线，比对目标曲线与参考曲线，判断接收灵敏度是否变差，若是，则确定CPU为干扰源。可选的，还可以根据参考接收灵敏度和该接收灵敏度的曲线差异确定接收灵敏度变差的程度，从而确定CPU对待测样机的干扰程度。

可替换的，在无线测试系统搭建完成后，控制装置控制陪测样机的无线模块处于关闭状态，并控制待测样机通电，陪测样机断电。然后，控制装置控制测试仪器发射预设功率的测试信号，该测试信号通过射频同轴线输入功分器，由于陪测样机处于断电状态，无干扰信号输出，功分器输出的目标信号即为无干扰状态的测试信号，记录待测样机接收的目标信号的一组丢包数(例如，可以在测试仪器发射的数据包超过1000个时确定为完成一组测试，得到一组丢包数)，记为参考丢包数，得到丢包数的参考曲线，以便CPU将随后测试得到的丢包数与其进行比对。

在开始测试后，控制待测样机通电，陪测样机通电，此时，陪测样机的无线模块仍然处于关闭状态。控制装置控制测试仪器发射恒定功率的测试信号，该测试信号通过射频同轴线输入功分器。同时，向陪测样机输出打开CPU的控制命令(需要说明的是，仅打开CPU，其它基带模块仍处于关闭状态，其中，其它基带模块包括但不限于DDR、USB、PCIE)。功分器将干扰信号叠加至测试信号得到目标信号。可以理解的是，若CPU运行时未产生干扰信号，目标信号即为测试信号。待测样机由功分器获取目标信号，由于待测样机的IPEX接口通过通信线与CPU连接，目标信号被传输到CPU。CPU分析目标信号确定丢包数，发送丢包数至控制装置。在测试仪器发射的数据包的数量超过预设包数时，控制装置向陪测样机输出CPU的关闭命令。例如，在测试仪器发射的数据包超过1000个时，认为完成一次针对一个目标对象的测试。在关于CPU的干扰情况测试过程中，根据待测样机的丢包数得到目标曲线，比对目标曲线与参考曲线，判断丢包数是否变大，若是，则确定CPU为干扰源。可选的，还可以根据参考丢包数和该丢包数的曲线差异确定CPU对待测样机的干扰程度。

相似的，可以依次仅运行陪测样机的DDR、USB或PCIE，测试并记录对应基带模块运行时待测样机的接收灵敏度。从而，确定在关于DDR的干扰情况测试过程中，根据待测样机的接收灵敏度得到目标曲线，比对目标曲线与参考曲线，判断接收灵敏度是否变差，若否，则确定DDR非干扰源。此外，确定在关于USB的干扰情况测试过程中，根据待测样机的接收灵敏度得到目标曲线，比对目标曲线与参考曲线，判断接收灵敏度是否变差，若是，则确定USB是干扰源。此外，确定在关于PCIE的干扰情况测试过程中，根据待测样机的接收灵敏度得到目标曲线，比对目标曲线与参考曲线，判断接收灵敏度是否变差，若否，则确定PCIE非干扰源。

需要说明的是，对于多天线多频段的产品，可以分别测试各个频段的天线对应的干扰源。例如，首先开启待测样机的2.4G对应的无线模块，保证LTE、 5G band1和5G band4对应的无线模块处于关闭状态，按照上述方式分别对CPU、 DDR、USB或PCIE等基带模块进行测试，定位干扰源。然后，关闭2.4G对应的无线模块，开启LTE对应的无线模块，并保证5Gband1和5G band4对应的无线模块处于关闭状态，按照上述方式分别对CPU、DDR、USB或PCIE等基带模块进行测试，定位干扰源。采用相似的方式，可以在仅开启5G band1或5G band4场景下定位干扰源。

可选的，对于多天线多频段的产品，在无线测试系统搭建完成后，控制装置控制陪测样机的无线模块处于关闭状态，并控制待测样机通电，陪测样机断电，并控制待测样机开启5G band1。然后，控制装置控制测试仪器发射预设功率的测试信号，记录待测样机的一组接收灵敏度(或丢包数)，记为参考接收灵敏度(或丢包数)，得到接收灵敏度(丢包数)的参考曲线。

可以在开始测试后，控制待测样机通电，陪测样机通电，且控制待测样机开启5Gband1的接收功能，并控制陪测样机的5G band4处于无线发包状态，此时，陪测样机的2.4G、5G band1及LTE处于无线关闭状态。假设5G band4 对5G band1产生干扰，那么，干扰信号通过射频同轴线输出至功分器的无线信号仅包含5G band4产生的干扰信号，保证了信号的单一性和纯净性。功分器将干扰信号叠加至测试信号得到目标信号。待测样机由功分器获取目标信号，采用上述类似的方式测试并记录待测样机的一组接收灵敏度(或丢包数)。通过对比该接收灵敏度的曲线与参考曲线，确定5G band4与5G band1共存时，5G band4对5Gband1是否会造成干扰。或者，通过对比该丢包数的曲线与参考曲线，确定5G band4与5Gband1共存时，5G band4对5G band1是否会造成干扰。采用相似的手段，分别测试在陪测样机的2.4G及LTE处于无线发包状态时，待测样机的接收灵敏度。从而，确定陪测样机的2.4G与5G band1共存时，2.4G 对5G band1是否会造成干扰；以及，确定陪测样机的LTE与5Gband1共存时， LTE对5G band1是否会造成干扰。需要说明的是，对于可变角度的外置天线，需要选取陪测样机的2到3个具有代表性的角度重复上述操作。其中，角度选取与陪测天线不同频段的隔离度相关。可以理解的是，按照同样的方式，可以测试待测样机5G band4、2.4G及LTE的受干扰情况。

本实施例的技术方案，采用无线测试系统进行无线干扰源定位及测试，可以保证测试环境的一致性，有利于干扰现象的稳定复现；此外，通过至少两个屏蔽容器将干扰源与干扰受体隔离开，有利于干扰信号的控制和提取；此外，对陪测样机采用控制变量法，控制单一干扰源的产生，根据不同基带模块的开启/关闭或者不同频段的天线发包对待测样机的天线性能的影响情况，快速定位干扰源，提高了测试精度及效率。

图2是本申请实施例提供的一种无线测试方法的流程图，该无线测试方法由本申请实施例提供的无线测试系统执行，且执行该无线测试方法时实现如下步骤：

步骤210、控制装置控制测试仪器发射测试信号。

需要说明的是，测试信号包括数据包，测试信号的发射功率可以是待测样机的目标功率，由于陪测样机是与待测样机相同的产品，所以也可以是陪测样机的目标功率。

示例性的，控制装置控制测试仪器发射功率恒定的测试信号，以便在随后的测试步骤中根据丢包数确定干扰源的干扰情况。

可替换的，控制装置控制测试仪器发射功率可变的测试信号。例如，在向陪测样机输出控制命令时，控制装置控制测试仪器发射预设功率的测试信号；控制装置根据接收到的接收灵敏度确定丢包数；在丢包数与预设的目标丢包数的差值超过预设阈值时，控制装置调整测试仪器发射的测试信号的功率，控制测试仪器根据调整后的功率发射测试信号。在测试仪器发射的测试信号满足预设条件时，控制装置控制所述测试仪器的功率恢复至预设功率，并向当前运行的目标对象输出关闭命令，按照预设规则确定新的目标对象，向新确定的目标对象输出开启命令。其中，预设条件可以是发射的数据包数达到预设包数，或者发射时间达到预设时间。

步骤220、控制装置控制陪测样机输出干扰信号。

需要说明的是，控制装置向陪测样机发送相关控制命令，可以控制陪测样机仅提供单一干扰源，输出单一干扰信号。

示例性的，控制装置向陪测样机输出控制命令，控制所述陪测样机中目标基带模块运行以及关闭所述陪测样机的无线模块，以输出干扰信号，其中，所述干扰信号是所述目标基带模块运行时产生并被所述天线接收的无线信号。可选的，控制装置向陪测样机输出控制命令，控制所述陪测样机中目标天线发射干扰信号及关闭剩余天线的无线模块。例如，向陪测样机输出打开PCIE的控制命令(需要说明的是，仅打开PCIE，其它基带模块仍处于关闭状态，其中，其它基带模块包括但不限于CPU、DDR、USB)。假设PCIE运行时产生干扰信号，该干扰信号被辐射到陪测样机所在的第二屏蔽箱限定的空间内，并由陪测样机的天线接收。由于陪测样机的无线模块处于关闭状态，那么通过射频同轴线输出至功分器的无线信号仅包含PCIE运行时产生的干扰信号，保证了信号的单一性和纯净性。又如，控制待测样机开启5G band1的接收功能，并控制陪测样机的5G band4处于无线发包状态，此时，陪测样机的2.4G、5G band1及LTE处于无线关闭状态。假设5G band4对5G band1产生干扰，那么，干扰信号通过射频同轴线输出至功分器的无线信号仅包含5G band4产生的干扰信号，保证了信号的单一性和纯净性。

步骤230、功分器将所述干扰信号叠加至所述测试信号得到目标信号，输出所述目标信号至待测样机。

该功分器的第一输入端与测试仪器通信连接，接收测试仪器发射的测试信号。该功分器的第二输入端与陪测样机的天线连接，接收天线输出的干扰信号，其中，所述干扰信号包括根据控制命令控制目标基带模块运行时产生并被天线接收的无线信号，或者，根据控制命令控制目标天线发射的无线信号。该功分器将干扰信号叠加至测试信号，得到目标信号，输出该目标信号至待测样机。

步骤240、所述待测样机接收所述目标信号，分析所述目标信号确定第一性能参数，并将所述第一性能参数输出至所述控制装置。

示例性的，在测试仪器发射恒定功率的测试信号时，该待测样机接收目标信号，根据该目标信号确定丢包数。将丢包数作为第一性能参数输出至控制装置。

可替换的，若测试仪器发射可变功率的测试信号，则该待测样机接收目标信号，根据该目标信号确定接收灵敏度。将接收灵敏度作为第一性能参数输出至控制装置。

可选的，待测样机的CPU还可以根据一组测试中得到的丢包数(或接收灵敏度)，确定陪测样机的目标对象运行对待测样机的干扰程度。例如，在测试仪器发射的数据包的数量超过预设包数时，控制装置向陪测样机输出CPU的关闭命令，确定完成一组测试。根据待测样机的丢包数得到目标曲线，比对目标曲线与参考曲线，判断丢包数是否变大，若是，则确定CPU为干扰源。可选的，还可以根据参考丢包数和该丢包数的曲线差异确定CPU对待测样机的干扰程度。将丢包数作为第一性能参数发送至控制装置，同时将CPU为干扰源及干扰程度等分析结果发送至控制装置显示。

可选的，待测样机的CPU将丢包数作为第一性能参数输出至控制装置。由控制装置采用上述方式，比对目标曲线与参考曲线，判断丢包数是否变大，若是，则确定CPU为干扰源，显示分析结果。

步骤250、所述控制装置根据所述第一性能参数确定干扰源。

需要说明的是，控制装置向陪测样机输出控制命令之前，需要预先确定无干扰情况下的待测样机的参考性能参数。示例性的，可以控制装置控制待测样机接通电源且陪测样机切断电源；功分器获取测试仪器发射的测试信号，输出测试信号至待测样机；此时，陪测样机处于断电状态，对于待测样机无干扰。待测样机根据测试信号确定第二性能参数，将第二性能参数发送至控制装置，作为参考性能参数。例如，开启待测样机的2.4G接收功能，控制陪测样机断电，将待测样机的接收灵敏度(或丢包数)作为参考性能参数。在一次测试过程中 (将测试仪器发射的数据包的数量达到预设包数，记为一次测试)，记录一组待测样机的接收灵敏度(或丢包数)，得到2.4G天线的参考曲线。采用相同的方式，分别得到5Gband1、5G band4及LTE天线的参考曲线。

所述控制装置比较所述第一性能参数与所述参考性能参数，根据比较结果判断目标对象是否为干扰源。可选的，可以根据第一性能参数的曲线与参考曲线的差异判断目标对象是否为干扰源。在两条曲线的相似度小于预设阈值时，确定目标对象是干扰源。可选的，还可以确定两条曲线的相似度，根据相似度判断目标对象对待测样机的干扰程度。可以理解的是，相似度越高，目标对象对待测样机的干扰程度越小。若相似度超过预设阈值，则认为目标对象不是干扰源。

示例性的，开启待测样机的2.4G接收功能，分别控制陪测样机的CPU、 DDR、USB极PCIE等基带模块运行，记录待测样机的第一性能参数(接收灵敏度或丢包数)，通过比对待测样机的第一性能参数的曲线与参考曲线，确定基带模块运行对待测样机2.4G天线的干扰情况。对多天线多频段的产品，分别开启待测样机的各频段的接收功能，按照上述方式测试CPU、DDR、USB极PCIE 等基带模块运行对待测样机的干扰情况。可选的，还可以开启待测样机的5G band1的接收功能，控制陪测样机的各个天线中仅5G band4天线处于无线发包状态，测试5G band1与5G band4共存时，5G band4对5G band1的干扰情况。例如，在5G band1与5G band4共存时，记录接收样机的一组第一性能参数，将第一性能参数的曲线与参考曲线进行对比，根据对比结果确定5G band4对5G band1是否存在干扰。采用相同的方式，分别测试待测样机的5G band1与陪测样机的2.4G或LTE共存时的干扰情况。

类似的，可以分别开启待测样机的2.4G的接收功能、5G band4的接收功能或LTE的接收功能，分别测试不同频段的天线收发数据包时的干扰情况，从而，能够对基带模块的干扰信号，如CPU、DDR、USB等基带模块和2.4G、5G band1、 5G band4、LTE多频段共存方面的干扰进行定位和测试。

可替换的，还可以由待测样机采用上述方式根据第一性能参数确定干扰源，并将确定结果发送给控制装置进行显示。确定结果包括目标对象是否为干扰源，以及，待测样机在目标对象运行时的第一性能参数对应的曲线。可选的，将参考性能参数的参考曲线发送给控制装置，在显示时，同时显示第一性能参数的曲线与参考曲线，以便更直观的显示干扰程度。

需要说明的是，在搭建好无线测试系统后，可以先对待测样机和陪测样机进行传到测试，在传到测试结果满足相关通信协议的要求时，再对测试样机进行本申请实施例公开的辐射干扰测试，以排除传导干扰对测试结果的影响。

本实施例的技术方案，通过控制装置控制测试仪器发射测试信号；控制装置控制陪测样机输出干扰信号；功分器将所述干扰信号叠加至所述测试信号得到目标信号，输出所述目标信号至待测样机；所述待测样机接收所述目标信号，分析所述目标信号确定第一性能参数，并将所述第一性能参数输出至所述控制装置；所述控制装置根据所述第一性能参数确定干扰源。采用上述技术方案，能够排除不稳定无线环境的影响，保证测试环境的一致性，有利于干扰现象的稳定复现和解决，并且，能够快速定位出无线干扰源所属模块。

图3是本申请实施例提供的另一种无线测试方法的流程图。该无线测试方法由本申请实施例提供的无线测试系统执行，包括如下步骤：

步骤310、控制装置控制待测样机接通电源且陪测样机切断电源。

需要说明的是，待测样机和陪测样机是完全相同的产品，分别置于第二屏蔽箱A和第二屏蔽箱B。陪测样机的天线和测试仪器的RF接口分别与功分器的第一输入端和第二输入端连接，功分器的输出端通连接待测样机的IPEX接口，其中，可以采用射频同轴线连接功分器、待测样机和陪测样机。

待测样机和陪测样机通过开关外部电源适配器的方式实现电源切换，确保测试系统搭建完成后无需打开屏蔽箱，保证屏蔽箱内部环境不变。

步骤320、功分器获取测试仪器发射的测试信号，输出测试信号至待测样机。

步骤330、待测样机根据所述测试信号确定第二性能参数，将所述第二性能参数发送至所述控制装置，作为参考性能参数。

步骤340、控制装置控制陪测样机接通电源。

需要说明的是，控制装置控制陪测样机的适配器接通电源，以实现待测样机和陪测样机均上电。

步骤350、控制陪测样机的无线关闭，采用控制命令分别启动预设基带模块，测试并记录不同预设基带模块运行时的待测样机的接收灵敏度。

需要说明的是，预设基带模块包括CPU、DDR、USB、PCIE等可能产生干扰的模块。测试方式可以参见上述示例，此处不再赘述。

步骤360、控制装置比较接收灵敏度与参考性能参数，根据比较结果判断基带模块是否为干扰源。

以陪测样机的CPU运行为例，测试并记录陪测样机的CPU运行场景下待测样机的接收灵敏度的一组数据，比较接收灵敏度与作为参考性能参数的接收灵敏度。若待测样机存在接收灵敏度变差的情况，则确定待测样机天线收到干扰信号，则确定CPU为干扰源。可选的，还可以根据接收灵敏度的变差程度来判断CPU运行对于待测样机的干扰程度大小。

本实施例的技术方案提供一种无线测试方法，通过在测试系统中引入与待测样机完全相同的陪测样机作为干扰源的发生设备，并用两个屏蔽箱将待测样机与陪测样机进行隔离，使得陪测样机产生的干扰源信号不会与待测样机的正常无线信号或者外界的无线信号相互叠加，保证了干扰信号的单一性和纯净性，并在定位干扰源时对陪测样机采用控制变量法，控制单一干扰源的产生，单独让CPU、DDR、PCIE、USB等模块工作，根据不同模块的开启关闭状态对产品无线性能的影响程度即可确定干扰源具体的产生模块。

图4是本申请实施例提供的又一种无线测试方法的流程图。该方法适用于同时具有2.4G、5G band1、5G band4、LTE等多天线多频段的产品。该无线测试方法由本申请实施例提供的无线测试系统执行，包括如下步骤：

步骤401、控制装置控制待测样机接通电源且陪测样机切断电源。

需要说明的是，待测样机和陪测样机是完全相同的产品，分别置于第二屏蔽箱A和第二屏蔽箱B。陪测样机的天线和测试仪器的RF接口分别与功分器的第一输入端和第二输入端连接，功分器的输出端通连接待测样机的IPEX接口，其中，可以采用射频同轴线连接功分器、待测样机和陪测样机。

待测样机和陪测样机通过开关外部电源适配器的方式实现电源切换，确保测试系统搭建完成后无需打开屏蔽箱，保证屏蔽箱内部环境不变。

步骤402、功分器获取测试仪器发射的测试信号，输出测试信号至待测样机。

步骤403、待测样机根据所述测试信号确定第二性能参数，将所述第二性能参数发送至所述控制装置，作为参考性能参数。

步骤404、控制装置控制陪测样机接通电源，并控制待测样机开启5G band1 的接收功能，控制陪测样机5G band4天线处于无线发包状态。

需要说明的是，陪测样机仅5G band4处于无线发包状态，其余频段(如2.4G、 5Gband1及LTE等)的天线处于无线关闭状态。此处的天线包括无线模块和射频天线。

可选的，控制装置显示频段设置界面，供用户手动属于控制命令，该控制命令用于使能某一频段。控制装置在检测到用户的输入操作时，确定输入操作对应的待测样机及陪测样机开启的频段，生成控制命令，并将控制命令分别发送至待测样机和陪测样机。

步骤405、功分器获取测试仪器发射的测试信号，将陪测样机5G band4天线发射的干扰信号叠加至所述测试信号得到目标信号，输出目标信号至待测样机，测试并记录待测样机的接收灵敏度。

步骤406、待测样机比较接收灵敏度与参考性能参数，根据比较结果判断 5Gband4天线是否对待测样机5G band1天线造成干扰，记录测试结果。

步骤407、控制陪测样机5G band4天线恢复无线关闭状态，控制2.4G天线处于无线发包状态。

步骤408、功分器获取测试仪器发射的测试信号，将陪测样机2.4G天线发射的干扰信号叠加至所述测试信号得到目标信号，输出目标信号至待测样机，测试并记录待测样机的接收灵敏度。

步骤409、待测样机比较接收灵敏度与参考性能参数，根据比较结果判断 2.4G天线是否对待测样机5G band1天线造成干扰，记录测试结果。

步骤410、控制陪测样机2.4G天线恢复无线关闭状态，控制LTE天线处于无线发包状态。

步骤411、功分器获取测试仪器发射的测试信号，将陪测样机LTE天线发射的干扰信号叠加至所述测试信号得到目标信号，输出目标信号至待测样机，测试并记录待测样机的接收灵敏度。

步骤412、待测样机比较接收灵敏度与参考性能参数，根据比较结果判断 LTE天线是否对待测样机5G band1天线造成干扰，记录测试结果。

本实施例的技术方案提供一种无线测试方法，通过在测试系统中引入与待测样机完全相同的陪测样机作为干扰源的发生设备，并用两个屏蔽箱将待测样机与陪测样机进行隔离，使得陪测样机产生的干扰源信号不会与待测样机的正常无线信号或者外界的无线信号相互叠加，保证了干扰信号的单一性和纯净性，并在定位干扰源时对陪测样机采用控制变量法，控制单一干扰源的产生，控制待测样机分别工作于2.4G、5G band1、5G band4或LTE接收状态，在每个状态下，依次控制陪测样机的预设频段的天线处于无线发包状态，根据不同频段的天线对接收样机的无线性能的影响程度即可确定多频段共存时的干扰情况。

注意，上述仅为本申请的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本申请不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本申请的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本申请进行了较为详细的说明，但是本申请不仅仅限于以上实施例，在不脱离本申请构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本申请的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (11)

1.一种无线测试系统，其特征在于，包括：第一屏蔽容器、功分器、至少两个第二屏蔽容器、测试仪器和控制装置；

所述至少两个第二屏蔽容器，设置于所述第一屏蔽容器内，用于隔离待测样机和陪测样机，其中，所述待测样机与陪测样机相同；

所述功分器，设置于所述第一屏蔽容器内，分别与所述测试仪器、所述陪测样机以及所述待测样机连接，用于接收所述测试仪器发射的测试信号以及所述陪测样机输出的干扰信号，并将所述干扰信号叠加到所述测试信号，得到目标信号，输出所述目标信号至所述待测样机；

所述控制装置，分别与所述测试仪器、所述陪测样机和所述待测样机连接，用于控制所述测试仪器发射测试信号，以及，向所述陪测样机输出控制命令，控制所述陪测样机中与所述控制命令对应的目标对象运行，以及，接收所述待测样机在不同的目标对象运行时输出的性能参数，其中，所述性能参数用于指示所述目标对象是否为干扰源，此外，还用于：在向陪测样机输出控制命令时，控制所述测试仪器发射预设功率的测试信号；根据接收到的接收灵敏度确定丢包数；在所述丢包数与预设的目标丢包数的差值超过预设阈值时，调整所述测试仪器发射的测试信号的功率，控制所述测试仪器根据调整后的功率发射测试信号；在所述测试仪器发射的数据包的数量超过预设包数时，控制所述测试仪器的功率恢复至预设功率，并向当前运行的目标对象输出关闭命令，按照预设规则确定新的目标对象，向新确定的目标对象输出开启命令。

2.根据权利要求1所述的无线测试系统，其特征在于，包括：

所述功分器的第一输入端与测试仪器通信连接，用于接收所述测试仪器发射的测试信号；

所述功分器的第二输入端与所述陪测样机的天线连接，用于接收所述天线输出的干扰信号，其中，所述干扰信号包括根据所述控制命令控制目标基带模块运行时产生并被所述天线接收的无线信号，或者，根据所述控制命令控制所述天线发射的无线信号；

所述功分器的输出端与所述待测样机的射频接口连接，所述射频接口与所述待测样机的处理器连接，用于接收所述目标信号，并将所述目标信号发送至所述处理器，所述处理器根据所述目标信号确定性能参数。

3.根据权利要求1所述的无线测试系统，其特征在于，包括：

所述测试仪器，用于在所述控制装置的控制下发射功率恒定的测试信号。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的无线测试系统，其特征在于，包括：

第一电源适配器，所述第一电源适配器的电源线顺序穿过所述第一屏蔽容器和第二屏蔽容器，与陪测样机连接，所述第一电源适配器的插头位于所述第一屏蔽容器外，用于为所述陪测样机供电；

第二电源适配器，所述第二电源适配器的电源线顺序穿过所述第一屏蔽容器和第二屏蔽容器，与待测样机连接，所述第二电源适配器的插头位于所述第一屏蔽容器外，用于为所述待测样机供电。

5.一种无线测试方法，其特征在于，由如权利要求1至4中任一项所述的无线测试系统执行，包括：

控制装置控制测试仪器发射测试信号；

控制装置控制陪测样机输出干扰信号；

功分器将所述干扰信号叠加至所述测试信号得到目标信号，输出所述目标信号至待测样机；

所述待测样机接收所述目标信号，分析所述目标信号确定第一性能参数，并将所述第一性能参数输出至所述控制装置；

所述控制装置根据所述第一性能参数确定干扰源。

6.根据权利要求5所述的无线测试方法，其特征在于，在控制装置向陪测样机输出控制命令之前，还包括：

控制装置控制待测样机接通电源且陪测样机切断电源；

功分器获取所述测试仪器发射的测试信号，输出所述测试信号至待测样机；

待测样机根据所述测试信号确定第二性能参数，将所述第二性能参数发送至所述控制装置，作为参考性能参数。

7.根据权利要求6所述的无线测试方法，其特征在于，所述控制装置根据所述第一性能参数确定干扰源，包括：

所述控制装置比较所述第一性能参数与所述参考性能参数，根据比较结果判断目标对象是否为干扰源。

8.根据权利要求5所述的无线测试方法，其特征在于，控制装置控制测试仪器发射测试信号，包括：

控制装置控制测试仪器发射功率恒定的测试信号；

以及，所述待测样机接收所述目标信号，分析所述目标信号确定第一性能参数，包括：

所述待测样机接收所述目标信号，根据所述目标信号确定丢包数。

9.根据权利要求5所述的无线测试方法，其特征在于，控制装置控制测试仪器发射测试信号，包括：

在向陪测样机输出控制命令时，控制装置控制所述测试仪器发射预设功率的测试信号；

控制装置根据接收到的接收灵敏度确定丢包数；

在所述丢包数与预设的目标丢包数的差值超过预设阈值时，控制装置调整所述测试仪器发射的测试信号的功率，控制所述测试仪器根据调整后的功率发射测试信号。

10.根据权利要求9所述的无线测试方法，其特征在于，还包括：

在所述测试仪器发射的测试信号满足预设条件时，控制装置控制所述测试仪器的功率恢复至预设功率，并向当前运行的目标对象输出关闭命令，按照预设规则确定新的目标对象，向新确定的目标对象输出开启命令。

11.根据权利要求5至10中任一项所述的无线测试方法，其特征在于，控制装置控制陪测样机输出干扰信号，包括：

控制装置向陪测样机输出控制命令，控制所述陪测样机中目标基带模块运行以及关闭所述陪测样机的无线模块，以输出干扰信号，其中，所述干扰信号是所述目标基带模块运行时产生并被所述陪测样机的天线接收的无线信号；

或者，

控制装置向陪测样机输出控制命令，控制所述陪测样机中目标天线发射干扰信号及关闭剩余天线的无线模块。

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