CN113708857B - 远端干扰检测方法、装置及存储介质 - Google Patents

远端干扰检测方法、装置及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明实施例提供一种远端干扰检测方法、装置及存储介质，所述方法包括：根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；基于每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历。本发明实施例提出了基于天线子集的天线选择和遍历方法，成倍降低每个检测时机需要检测的天线数，在确保检测性能的前提下，可以大幅降低远端干扰检测算法的复杂度。

Description

远端干扰检测方法、装置及存储介质
技术领域
本发明涉及通信技术领域，更具体地，涉及一种远端干扰检测方法、装置及存储介质。
背景技术
在一定的气象条件下，大气对流层中存在逆温或水汽随高度急剧变小的层次，在该层中电波形成超折射传播，传播损耗很小，可实现超远距离传播，大部分电波辐射被限制在这一层内，类似于在波导中传播，这种现象称为电磁波的大气波导传播。在TDD(TimeDivision Duplex，时分双工)无线网络中发生大气波导时，远端基站的下行信号经数十或数百公里的超远距离传输后仍具有较高强度，信号传播时延超过上行时隙的GP(GuardPeriod，保护间隔)长度，落入近端基站上行子帧内，造成严重的上行干扰，这种干扰称为远端干扰或大气波导干扰。
远端干扰在TDD无线网络广泛存在，对现网性能造成非常恶劣的影响。对于TD-LTE(Time Division Long Term Evolution，分时长期演进)，中移动TD-LTE现网已经实施远端干扰解决方案；对于5G(the5th Generation，第五代移动通信技术)TDD，采用RIM(RemoteInterference Management，远端基站干扰管理)方案来解决远端干扰。
但是，无论是TD-LTE还是5G TDD，远端干扰检测算法的复杂度都非常高，特别是5GNR(New Radio，新空口)，需要做时域、频域和码域三个维度的盲检测，而且需要检测天线阵的所有天线以及进行多天线合并，检测算法的复杂度非常高，对基站设备的资源消耗非常大。
发明内容
为了解决或者至少部分地解决上述问题，本发明实施例提供一种远端干扰检测方法、装置及存储介质。
第一方面，本发明实施例提供一种远端干扰检测方法，包括：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；
确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；
基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；
其中，所述天线遍历周期为遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期，所述检测时机为完成检测窗口内连续检测的时间点。
可选地，所述天线子集图案和遍历方式具体为：
第一种图案和遍历方式：等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式；或者，
第二种图案和遍历方式：连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式；或者，
所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行。
可选地，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000021
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000031
其中，
Figure BDA0002502762460000032
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；
其中，监测周期为检测周期的上级周期，检测周期为天线遍历周期的上级周期。
可选地，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000033
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000034
其中，
Figure BDA0002502762460000035
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数。
可选地，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000041
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000042
其中，
Figure BDA0002502762460000043
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量；nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；Nat为一个检测周期内包含的天线遍历周期数。
可选地，所述根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数，具体为：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，采用如下公式计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数：
Figure BDA0002502762460000044
其中，
Figure BDA0002502762460000045
为天线阵的天线总数，
Figure BDA0002502762460000046
为预配置的一个天线子集所包含的天线数，
Figure BDA0002502762460000047
第二方面，本发明实施例提供一种远端干扰检测装置，包括：
计算模块，用于根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；
选择模块，用于确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；
遍历模块，用于基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；
其中，所述天线遍历周期为遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期，所述检测时机为完成检测窗口内连续检测的时间点。
第三方面，本发明实施例提供一种基站，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如下步骤：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；
确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；
基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；
其中，所述天线遍历周期为遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期，所述检测时机为完成检测窗口内连续检测的时间点。
可选地，所述天线子集图案和遍历方式具体为：
第一种图案和遍历方式：等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式；或者，
第二种图案和遍历方式：连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式；或者，
所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行。
可选地，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000061
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000062
其中，
Figure BDA0002502762460000063
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；
其中，监测周期为检测周期的上级周期，检测周期为天线遍历周期的上级周期。
可选地，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000064
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000071
其中，
Figure BDA0002502762460000072
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数。
可选地，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000073
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000074
其中，
Figure BDA0002502762460000075
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量；nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；Nat为一个检测周期内包含的天线遍历周期数。
可选地，所述根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数，具体为：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，采用如下公式计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数：
Figure BDA0002502762460000081
其中，
Figure BDA0002502762460000082
为天线阵的天线总数，
Figure BDA0002502762460000083
为预配置的一个天线子集所包含的天线数，
Figure BDA0002502762460000084
第四方面，本发明实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所提供的远端干扰检测方法的步骤。
本发明实施例提供的远端干扰检测方法、装置及存储介质，提出了基于天线子集的天线选择和遍历方法，成倍降低每个检测时机需要检测的天线数，在确保检测性能的前提下，可以大幅降低远端干扰检测算法的复杂度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的远端干扰检测方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的等间距分布的天线子集图案以及遍历方式示意图；
图3为本发明实施例提供的连续分布的天线子集图案以及遍历方式示意图；
图4为本发明实施例提供的远端干扰检测装置的结构示意图；
图5为本发明一实施例提供的基站的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的远端干扰检测方法的流程示意图，包括：
步骤100、根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；
具体地，为了显著降低基站执行远端干扰检测算法的复杂度，本发明实施例中基站在进行远端干扰检测时不是一次性检测天线阵内的所有天线，而是每次只检测天线阵的一个子集。
在本发明实施例中，将遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期称为天线遍历周期，一个天线遍历周期内包括多个检测时机，检测时机具体为完成检测窗口内连续检测的时间点。
在每个检测时机，需要选择一个天线子集来进行遍历检测，可以理解的是，确定了每个检测时机对应的需要检测的天线子集，则可以进一步实现遍历检测。
在确定每个检测时机对应的需要检测的天线子集之前，首先基站根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数。
其中，一个天线子集所包含的天线数可以根据实际需要进行预先配置。
步骤101、确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；
具体地，为了确保远端干扰检测算法的可靠性和鲁棒性，本发明实施例中天线子集图案和遍历方式需要满足以下两个条件：
(1)天线阵内的每根天线在一个检测周期内可以等概率遍历到，即在一个检测周期内，天线阵内的每根天线被检测的概率是相等的；
(2)用于检测的天线子集可以等概率遍历到，即在一个检测周期内，每个天线子集被检测的概率是相等的。
其中，检测周期为检测完所有远端干扰源所需的时间。一个检测周期包含多个天线遍历周期。
基站确定满足上述两个条件的天线子集图案和遍历方式，并计算出一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，其中，天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定。
步骤102、基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；
最后，基于每个检测时机对应的需要检测的天线子集，完成一个天线遍历周期的多天线遍历检测，重复上述步骤101和102，执行下一个天线遍历周期的多天线遍历检测，依次类推，循环遍历下去直至完成一个检测周期的多天线遍历检测。
本发明实施例提供的远端干扰检测方法，提出了基于天线子集的天线选择和遍历方法，成倍降低每个检测时机需要检测的天线数，在确保检测性能的前提下，可以大幅降低远端干扰检测算法的复杂度。
基于上述实施例的内容，所述根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数，具体为：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，采用如下公式计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数：
Figure BDA0002502762460000111
其中，
Figure BDA0002502762460000112
为天线阵的天线总数，
Figure BDA0002502762460000113
为预配置的一个天线子集所包含的天线数，
Figure BDA0002502762460000114
具体地，天线阵的天线总数
Figure BDA0002502762460000115
与基站配置有关，一个天线子集所包含的天线数
Figure BDA0002502762460000116
也是预先配置的，
Figure BDA0002502762460000117
的取值与天线阵的天线总数
Figure BDA0002502762460000118
有关，具体为
Figure BDA0002502762460000119
根据天线阵的天线总数
Figure BDA00025027624600001110
和预配置的一个天线子集所包含的天线数
Figure BDA00025027624600001111
可计算出一个天线遍历周期内包含的检测时机数Ndo：
Figure BDA00025027624600001112
本发明实施例提供了根据基站已有的配置参数计算出天线遍历周期内包含的检测时机数的具体方法。
基于上述实施例的内容，所述天线子集图案和遍历方式具体为：
第一种图案和遍历方式：等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式；或者，
第二种图案和遍历方式：连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式；或者，
所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行。
具体地，本发明实施例对于天线子集的组合，提出了如下两种天线子集图案和遍历方式。
等间距分布的天线子集图案是指天线子集内各天线的索引位置在天线阵内等间距分布，并且遍历步长为1。
图2为本发明实施例提供的等间距分布的天线子集图案以及遍历方式示意图。图2中天线阵的天线总数为16，一个天线子集所包含的天线数
Figure BDA0002502762460000121
则可以获知一个天线遍历周期内包含的检测时机数Ndo＝4，即需要4个检测时机将所有天线遍历完：第1个检测时机需要检测的天线子集为{0,4,8,12}，第2个检测时机需要检测的天线子集为{1,5,9,13}，第3个检测时机需要检测的天线子集为{2,6,10,14}，第4个检测时机需要检测的天线子集为{3,7,11,15}。在下一个天线遍历周期，即第5～8个检测时机重复上述过程，依次类推，采用遍历步长为1的移动循环遍历。
连续分布的天线子集图案是指天线子集内各天线的索引位置在天线阵内连续分布，且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数
Figure BDA0002502762460000122
图3为本发明实施例提供的连续分布的天线子集图案以及遍历方式示意图。图3中天线阵的天线总数为16，一个天线子集所包含的天线数
Figure BDA0002502762460000123
则可以获知一个天线遍历周期内包含的检测时机数Ndo＝4，即需要4个检测时机将所有天线遍历完：第1个检测时机需要检测的天线子集为{0,1,2,3}，第2个检测时机需要检测的天线子集为{4,5,6,7}，第3个检测时机需要检测的天线子集为{8,9,10,11}，第4个检测时机需要检测的天线子集为{12,13,14,15}，在下一个天线遍历周期，即第5～8个检测时机重复上述过程，依次类推，采用遍历步长为
Figure BDA0002502762460000124
的移动循环遍历。
除了分别采用上述两种天线子集图案中的一个天线子集图案方案外，还可以将上述两种天线子集图案融合起来，作为检测周期内两个连续的天线遍历周期，前一个天线遍历周期采用等间距分布的天线子集图案，后一个天线遍历周期采用连续分布的天线子集图案，或者，前一个天线遍历周期采用连续分布的天线子集图案，后一个天线遍历周期采用等间距分布的天线子集图案，两个天线遍历周期图案在检测周期内交替循环进行。
需要说明的是，在实际应用本发明实施例提供的远端干扰检测方法时，在对远端干扰检测可靠性要求较高时，可以优先考虑采用等间距分布与连续分布融合的天线子集图案且通过一个检测周期内两个连续的天线遍历周期来实现遍历，因为融合的方式所遍历的天线子集数比单独采用等间距分布或连续分布的天线子集图案所遍历的天线子集数更多，可靠性更高。
本发明实施例提供的远端干扰检测方法，提供了多种天线子集图案以及遍历方式，在确保检测性能的前提下，均可以大幅降低远端干扰检测算法的复杂度。
基于上述实施例的内容，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000131
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000132
其中，
Figure BDA0002502762460000133
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；
其中，监测周期为检测周期的上级周期，检测周期为天线遍历周期的上级周期。
具体地，本发明实施例给出了在采用等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式时，计算天线子集内的每根天线索引的具体公式，计算出每个检测时机对应的需要检测的天线子集的每根天线索引，也就获知了每个检测时机对应的需要检测的天线子集。
根据上述公式可知，每执行一个检测周期，天线遍历的起始天线子集索引需要循环递增，这样设计的目的是保证每个检测周期的天线遍历是循环变化的，避免选择的天线子集与时域位置绑定，从而使得远端干扰检测算法更加鲁棒。
监测周期为用于将远端干扰检测结果上报给高层或OAM(OperationAdministration and Maintenance)的周期。
基于上述实施例的内容，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000141
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000142
其中，
Figure BDA0002502762460000143
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数。
具体地，本发明实施例给出了在采用连续分布的天线子集图案且遍历步长为一个天线子集所包含的天线数的遍历方式时，计算天线子集内的每根天线索引的具体公式，计算出每个检测时机对应的需要检测的天线子集的每根天线索引，也就获知了每个检测时机对应的需要检测的天线子集。
根据上述公式可知，每执行一个检测周期，天线遍历的起始天线子集索引需要循环递增，这样设计的目的是保证每个检测周期的天线遍历是循环变化的，避免选择的天线子集与时域位置绑定，从而使得远端干扰检测算法更加鲁棒。
基于上述实施例的内容，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000151
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000152
其中，
Figure BDA0002502762460000153
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量；nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；Nat为一个检测周期内包含的天线遍历周期数。
具体地，本发明实施例给出了在采用等间距分布与连续分布融合的天线子集图案且通过一个检测周期内两个连续的天线遍历周期来实现遍历时，计算天线子集内的每根天线索引的具体公式，计算出每个检测时机对应的需要检测的天线子集的每根天线索引，也就获知了每个检测时机对应的需要检测的天线子集。
根据上述公式可知，每执行完一个检测周期，天线遍历的起始天线子集索引需要循环递增，这样设计的目的是保证每个检测周期的天线遍历是循环变化的，避免选择的天线子集与时域位置绑定，从而使得远端干扰检测算法更加鲁棒。
图4为本发明实施例提供的远端干扰检测装置的结构示意图，包括：计算模块410、选择模块420和遍历模块430，其中，
计算模块410，用于根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；
具体地，为了显著降低基站执行远端干扰检测算法的复杂度，本发明实施例中基站在进行远端干扰检测时不是一次性检测天线阵内的所有天线，而是每次只检测天线阵的一个子集。
在本发明实施例中，将遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期称为天线遍历周期，一个天线遍历周期内包括多个检测时机，检测时机具体为完成检测窗口内连续检测的时间点。
在每个检测时机，需要选择一个天线子集来进行遍历检测，可以理解的是，确定了每个检测时机对应的需要检测的天线子集，则可以进一步实现遍历检测。
在确定每个检测时机对应的需要检测的天线子集之前，首先计算模块410根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数。
其中，一个天线子集所包含的天线数可以根据实际需要进行预先配置。
选择模块420，用于确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；
具体地，为了确保远端干扰检测算法的可靠性和鲁棒性，本发明实施例中天线子集图案和遍历方式需要满足以下两个条件：
(1)天线阵内的每根天线在一个检测周期内可以等概率遍历到，即在一个检测周期内，天线阵内的每根天线被检测的概率是相等的；
(2)用于检测的天线子集可以等概率遍历到，即在一个检测周期内，每个天线子集被检测的概率是相等的。
其中，检测周期为检测完所有远端干扰源所需的时间。一个检测周期包含多个天线遍历周期。
选择模块420确定满足上述两个条件的天线子集图案和遍历方式，并计算出一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，其中，天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定。
遍历模块430，用于基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；
其中，所述天线遍历周期具体为遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期，所述检测时机具体为完成检测窗口内连续检测的时间点。
具体地，遍历模块430基于每个检测时机对应的需要检测的天线子集，完成一个天线遍历周期的多天线遍历检测，并继续执行下一个天线遍历周期的多天线遍历检测，循环遍历下去直至完成一个检测周期的多天线遍历检测。
本发明实施例提供的远端干扰检测装置，利用了基于天线子集的天线选择和遍历方法，成倍降低每个检测时机需要检测的天线数，在确保检测性能的前提下，可以大幅降低远端干扰检测算法的复杂度。
进一步地，所述计算模块410具体用于：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，采用如下公式计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数：
Figure BDA0002502762460000181
其中，
Figure BDA0002502762460000182
为天线阵的天线总数，
Figure BDA0002502762460000183
为预配置的一个天线子集所包含的天线数，
Figure BDA0002502762460000184
基于上述实施例的内容，所述天线子集图案和遍历方式具体为：
第一种图案和遍历方式：等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式；或者，
第二种图案和遍历方式：连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式；或者，
所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行。
基于上述实施例的内容，所述选择模块420具体用于：
若确定采用所述等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000185
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000186
其中，
Figure BDA0002502762460000187
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；
其中，监测周期为检测周期的上级周期，检测周期为天线遍历周期的上级周期。
基于上述实施例的内容，所述选择模块420具体用于：
若确定采用连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000191
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000192
其中，
Figure BDA0002502762460000193
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数。
基于上述实施例的内容，所述选择模块420具体用于：
若确定采用所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000194
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000195
其中，
Figure BDA0002502762460000196
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量；nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；Nat为一个检测周期内包含的天线遍历周期数。
本发明实施例提供的远端干扰检测装置，用于实现前述远端干扰检测方法实施例，因此，在前述各方法实施例中的描述和定义，可以用于本发明实施例中各功能模块的理解，在此不再赘述。
图5为本发明一实施例提供的基站的结构示意图，如图5所示，该基站500可以包括至少一个处理器510、存储器520、至少一个用户接口530，以及收发机540。基站500中的各个组件通过总线系统550耦合在一起。可理解，总线系统550用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统550除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图5中将各种总线都标为总线系统550，总线系统可以包括任意数量的互联的总线和桥，具体由处理器510代表的一个或多个处理器和存储器520代表的存储器的各种电路链接在一起。总线系统还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路链接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本发明实施例不再对其进行进一步描述。总线接口提供接口。收发机540可以是多个元件，即包括发送机和接收机，提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。针对不同的用户设备，用户接口530还可以是能够外接内接需要设备的接口，连接的设备包括但不限于小键盘、显示器、扬声器、麦克风、操纵杆等。
可以理解，本发明实施例中的存储器520可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、可编程只读存储器(Programmable ROM，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable PROM，EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically EPROM，EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(Static RAM，SRAM)、动态随机存取存储器(Dynamic RAM，DRAM)、同步动态随机存取存储器(Synchronous DRAM，SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(Double Data RateSDRAM，DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(Enhanced SDRAM，ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(Synchlink DRAM，SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(DirectRambus RAM，DRRAM)。本发明各实施例所描述的存储器520包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
处理器510负责管理总线系统和通常的处理，存储器520可以存储处理器510在执行操作时所使用的计算机程序或指令，具体地，处理器510执行如下步骤：根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；其中，所述天线遍历周期具体为遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期，所述检测时机具体为完成检测窗口内连续检测的时间点。
本发明实施例中处理器执行前述各方法实施例提供的远端干扰检测方法，因此，在前述各方法实施例中的描述和定义，可以用于本发明实施例中对处理器510的理解，在此不再赘述。
上述本发明实施例揭示的方法步骤可以应用于处理器510中，或者由处理器510实现。处理器510可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器510中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器510可以是通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(FieldProgrammable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器520，处理器510读取存储器520中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。
可以理解的是，本发明描述的这些实施例可以用硬件、软件、固件、中间件、微码或其组合来实现。对于硬件实现，处理单元可以实现在一个或多个专用集成电路(Application Specific Integrated Circuits，ASIC)、数字信号处理器(Digital SignalProcessing，DSP)、数字信号处理设备(DSP Device，DSPD)、可编程逻辑设备(ProgrammableLogic Device，PLD)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)、通用处理器、控制器、微控制器、微处理器、用于执行本申请所述功能的其它电子单元或其组合中。
对于软件实现，可通过执行本发明实施例中所述功能的模块(例如过程、函数等)来实现所述的技术。软件代码可存储在存储器中并通过处理器执行。存储器可以在处理器中或在处理器外部实现。
本发明实施例提供的基站，采用基于天线子集的天线选择和遍历方法，成倍降低每个检测时机需要检测的天线数，在确保检测性能的前提下，可以大幅降低远端干扰检测算法的复杂度。
可选地，在上述实施例的基础上，所述天线子集图案和遍历方式具体为：
第一种图案和遍历方式：等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式；或者，
第二种图案和遍历方式：连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式；或者，
所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行。
可选地，在上述实施例的基础上，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000231
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000232
其中，
Figure BDA0002502762460000233
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；
其中，监测周期为检测周期的上级周期，检测周期为天线遍历周期的上级周期。
可选地，在上述实施例的基础上，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000241
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000242
其中，
Figure BDA0002502762460000243
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数。
可选地，在上述实施例的基础上，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure BDA0002502762460000244
则确定的天线子集为：
Figure BDA0002502762460000245
其中，
Figure BDA0002502762460000251
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量；nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；Nat为一个检测周期内包含的天线遍历周期数。
可选地，在上述实施例的基础上，所述根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数，具体为：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，采用如下公式计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数：
Figure BDA0002502762460000252
其中，
Figure BDA0002502762460000253
为天线阵的天线总数，
Figure BDA0002502762460000254
为预配置的一个天线子集所包含的天线数，
Figure BDA0002502762460000255
本发明实施例中基站执行前述各方法实施例提供的远端干扰检测方法，因此，在前述各方法实施例中的描述和定义，可以用于本发明实施例中对基站的理解，在此不再赘述。
本发明实施例还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例提供的远端干扰检测方法，例如包括：根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；其中，所述天线遍历周期具体为遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期，所述检测时机具体为完成检测窗口内连续检测的时间点。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (14)

1.一种远端干扰检测方法，其特征在于，包括：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；
确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；
基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；
其中，所述天线遍历周期为遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期，所述检测时机为完成检测窗口内连续检测的时间点；
所述天线子集图案和遍历方式需要满足以下两个条件：天线阵内的每根天线在一个检测周期内可以等概率遍历到；用于检测的天线子集可以等概率遍历到；其中，检测周期为检测完所有远端干扰源所需的时间；一个检测周期包含多个天线遍历周期。
2.根据权利要求1所述的远端干扰检测方法，其特征在于，所述天线子集图案和遍历方式具体为：
第一种图案和遍历方式：等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式；或者，
第二种图案和遍历方式：连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式；或者，
所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行。
3.根据权利要求2所述的远端干扰检测方法，其特征在于，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure FDA0003707607790000021
则确定的天线子集为：
Figure FDA0003707607790000022
其中，
Figure FDA0003707607790000023
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；
其中，监测周期为检测周期的上级周期，检测周期为天线遍历周期的上级周期。
4.根据权利要求2所述的远端干扰检测方法，其特征在于，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure FDA0003707607790000024
则确定的天线子集为：
Figure FDA0003707607790000025
其中，
Figure FDA0003707607790000026
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；
Figure FDA0003707607790000031
为天线阵的天线总数。
5.根据权利要求2所述的远端干扰检测方法，其特征在于，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure FDA0003707607790000032
则确定的天线子集为：
Figure FDA0003707607790000033
其中，
Figure FDA0003707607790000034
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量；nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；Nat为一个检测周期内包含的天线遍历周期数；
Figure FDA0003707607790000035
为天线阵的天线总数。
6.根据权利要求1所述的远端干扰检测方法，其特征在于，所述根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数，具体为：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，采用如下公式计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数：
Figure FDA0003707607790000041
其中，
Figure FDA0003707607790000042
为天线阵的天线总数，
Figure FDA0003707607790000043
为预配置的一个天线子集所包含的天线数，
Figure FDA0003707607790000044
7.一种远端干扰检测装置，其特征在于，包括：
计算模块，用于根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；
选择模块，用于确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；
遍历模块，用于基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；
其中，所述天线遍历周期为遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期，所述检测时机为完成检测窗口内连续检测的时间点；
所述天线子集图案和遍历方式需要满足以下两个条件：天线阵内的每根天线在一个检测周期内可以等概率遍历到；用于检测的天线子集可以等概率遍历到；其中，检测周期为检测完所有远端干扰源所需的时间；一个检测周期包含多个天线遍历周期。
8.一种基站，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如下步骤：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；
确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；
基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；
其中，所述天线遍历周期为遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期，所述检测时机为完成检测窗口内连续检测的时间点；
所述天线子集图案和遍历方式需要满足以下两个条件：天线阵内的每根天线在一个检测周期内可以等概率遍历到；用于检测的天线子集可以等概率遍历到；其中，检测周期为检测完所有远端干扰源所需的时间；一个检测周期包含多个天线遍历周期。
9.根据权利要求8所述的基站，其特征在于，所述天线子集图案和遍历方式具体为：
第一种图案和遍历方式：等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式；或者，
第二种图案和遍历方式：连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式；或者，
所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行。
10.根据权利要求9所述的基站，其特征在于，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure FDA0003707607790000051
则确定的天线子集为：
Figure FDA0003707607790000061
其中，
Figure FDA0003707607790000062
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；
其中，监测周期为检测周期的上级周期，检测周期为天线遍历周期的上级周期。
11.根据权利要求9所述的基站，其特征在于，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure FDA0003707607790000063
则确定的天线子集为：
Figure FDA0003707607790000064
其中，
Figure FDA0003707607790000065
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n0由如下公式计算得到：
n0＝(nm·Ndp+ndp)mod Ndo
其中，nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；
Figure FDA0003707607790000071
为天线阵的天线总数。
12.根据权利要求9所述的基站，其特征在于，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：
若确定采用所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：
Figure FDA0003707607790000072
则确定的天线子集为：
Figure FDA0003707607790000073
其中，
Figure FDA0003707607790000074
为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；Ndo为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；ndo为一个检测周期内的检测时机索引；n0为一个检测周期内天线子集的起始偏移量；nm为监测周期索引；ndp为监测周期内的检测周期索引；Ndp为一个监测周期内包含的检测周期数；Nat为一个检测周期内包含的天线遍历周期数；
Figure FDA0003707607790000075
为天线阵的天线总数。
13.根据权利要求8所述的基站，其特征在于，所述根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数，具体为：
根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，采用如下公式计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数：
Figure FDA0003707607790000081
其中，
Figure FDA0003707607790000082
为天线阵的天线总数，
Figure FDA0003707607790000083
为预配置的一个天线子集所包含的天线数，
Figure FDA0003707607790000084
14.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述远端干扰检测方法的步骤。
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