CN113676667B - 抑制比测试方法、装置、电子设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种抑制比测试方法、装置、电子设备和存储介质。所述方法包括：当固定有电子设备的振动台振动时，获取电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及防抖功能关闭时拍摄测试图片得到的多个第二图像，识别各第一图像中的待识别区域以及各第二图像中的待识别区域，确定各第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度，确定各第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度，根据第一集中程度以及第二集中程度，确定电子设备的摄像头的抑制比。实现测试出的抑制比比较稳定，能够真实反映摄像头的防抖能力。

Description

抑制比测试方法、装置、电子设备和存储介质

技术领域

本申请涉及拍摄技术领域，特别是涉及一种抑制比测试方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

随着电子设备的功能越来越强大，部分电子设备已具有防抖能力，能够减轻拍摄时由于电子设备抖动造成的拍摄模糊。

目前，通常依据摄像头的抑制比(Suppression Ratio，SR)来评判摄像头的防抖能力。常用的计算摄像头的抑制比的方式是将智能终端固定在振动台上，并在振动台振动时获取防抖功能开启时拍摄测试图片得到的图像，以及获取在光学防抖功能关闭时拍摄测试图片得到的图像，再根据防抖功能开启时得到的图像中测试图片的待识别区域的中心的最大偏移量以及防抖功能关闭时得到的图像中的待识别区域的中心的最大偏移量确定SR。

然而，由于受振动台、陀螺仪以及马达等的噪声的影响，使获取的最大偏移量的波动较大，从而导致计算的抑制比不稳定的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够计算的抑制比测试方法、装置、电子设备和存储介质。

一种抑制比测试方法，所述方法包括：

当固定有电子设备的振动台振动时，获取所述电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及所述防抖功能关闭时拍摄所述测试图片得到的多个第二图像；

识别各所述第一图像中的待识别区域以及各所述第二图像中的待识别区域；

确定各所述第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度；

确定各所述第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度；

根据所述第一集中程度以及所述第二集中程度，确定所述电子设备的摄像头的抑制比。

一种抑制比测试装置，所述装置包括：

第一获取模块，用于当固定有电子设备的振动台振动时，获取所述电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及所述防抖功能关闭时拍摄所述测试图片得到的多个第二图像；

识别模块，用于识别各所述第一图像中的待识别区域以及各所述第二图像中的待识别区域；

第一确定模块，用于确定各所述第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度；

第二确定模块，用于确定各所述第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度；

第三确定模块，用于根据所述第一集中程度以及所述第二集中程度，确定所述电子设备的摄像头的抑制比。

一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

当固定有电子设备的振动台振动时，获取所述电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及所述防抖功能关闭时拍摄所述测试图片得到的多个第二图像；

识别各所述第一图像中的待识别区域以及各所述第二图像中的待识别区域；

确定各所述第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度；

确定各所述第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度；

根据所述第一集中程度以及所述第二集中程度，确定所述电子设备的摄像头的抑制比。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

当固定有电子设备的振动台振动时，获取所述电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及所述防抖功能关闭时拍摄所述测试图片得到的多个第二图像；

识别各所述第一图像中的待识别区域以及各所述第二图像中的待识别区域；

确定各所述第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度；

确定各所述第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度；

根据所述第一集中程度以及所述第二集中程度，确定所述电子设备的摄像头的抑制比。

上述抑制比测试方法、装置、电子设备和存储介质，当固定有电子设备的振动台振动时，获取电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及防抖功能关闭时拍摄测试图片得到的多个第二图像，识别各第一图像中的待识别区域以及各第二图像中的待识别区域，确定各第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度，确定各第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度，根据第一集中程度以及第二集中程度，确定电子设备的摄像头的抑制比。由于第一集中程度和第二集中程度能够客观地反映待识别区域中参考位置的整体波动程度，不会因个别“冒尖”的最大值或最小值造成抑制比的波动大，从而实现测试出的抑制比比较稳定，能够真实反映摄像头的防抖能力。

附图说明

图1为现有技术中的中心的坐标分布示意图；

图2为一个实施例中抑制比测试方法的流程示意图；

图3为一个实施例中待识别区域的示意图；

图4为一个实施例中第一集中程度确定方法的流程示意图；

图5为一个实施例中第二集中程度确定方法的流程示意图；

图6为另一个实施例中第一集中程度确定方法的流程示意图；

图7为另一个实施例中第二集中程度确定方法的流程示意图；

图8为又一个实施例中第一集中程度确定方法的流程示意图；

图9为又一个实施例中第二集中程度确定方法的流程示意图；

图10为一个实施例中抑制比确定方法的流程示意图；

图11为一个实施例的抑制比测试装置1100的结构框图；

图12为一个实施例中电子设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

目前的防抖技术主要包括光学防抖(Optical Image Stabilization，OIS)以及电子防抖(Electric Image Stabilization，EIS)。其中，OIS通过可移动式的部件，对摄像头发生抖动时偏移的光路进行补偿，从而实现减轻照片模糊的效果。EIS是利用侦测到机身抖动的程度来动态调整摄像头的感光度和快门来做模糊修正。

通常通过防抖测试来判定电子设备上的摄像头的防抖能力，防抖测试中需要计算摄像头的抑制比(Suppression Ratio，SR)，抑制比是用于评判OIS防抖能力的指标。在防抖测试中通常需要借助振动台实现。在此以进行光学防抖测试为例介绍如何测试摄像头的抑制比。首先将将智能终端固定在振动台上，启动振动台振动，并在振动台振动时获取光学防抖功能开启时拍摄测试图片得到的第一组图像，以及获取在光学防抖功能关闭时拍摄测试图片得到的第二组图像，其中，第一组图像和第二组图像分别包括120张图像。再根据第一组图像中待识别区域的中心的最大偏移量以及第二组图像中待识别区域的中心的最大偏移量确定抑制比。抑制比包括水平方向上的抑制比和竖直方向上的抑制比。其中，根据第一组图像中待识别区域的中心在水平方向上的最大偏移量OIS_ON_X以及第二组图像中待识别区域的中心在水平方向上的最大偏移量OIS_ON_X，可以确定水平方向上的抑制比。类似的，根据第一组图像中待识别区域的中心在竖直方向上的最大偏移量OIS_ON_Y以及第二组图像中待识别区域的中心在竖直方向上的最大偏移量OIS_ON_Y，可以确定竖直方向上的抑制比。

其中，OIS_ON_X等于第一组图像中待识别区域的中心的最大横坐标值max_x与最小横坐标值min_x的差值，OIS_ON_Y等于第一组图像中待识别区域的中心的最大纵坐标值max_y与最小纵坐标值min_y的差值。同样，采用与上述计算OIS_ON_X和OIS_ON_Y类似的方法，计算防抖功能关闭时对应的最大偏移量。

最后根据防抖功能关闭时对应的最大偏移量以及防抖功能开启时对应的最大偏移量，计算抑制比。

现有的抑制比测试方案中，水平反向上的最大偏移量和竖直方向上的最大偏移量由对应方向上的最大坐标值与最小坐标值的差值得到，例如，OIS_ON_X由max_x和min_x相减得到，OIS_ON_Y则是由max_y和min_y相减得到，这样的计算方式导致得到的抑制比的稳定性较差，容易“以偏概全”。例如，如图1所示，图1为现有技术中的中心的坐标分布示意图。如图1中的最大横坐标值max_x和最小横坐标值min_x。最大横坐标值和最小横坐标值有可能是振动台、陀螺仪以及马达等的噪声造成的较大的波动值，从而导致测试的抑制比并不能真实反映OIS算法的防抖能力。这里的噪声指振动台、陀螺仪以及马达的不规律运动对图像中待识别区域的中心的位置造成的干扰，例如在某次测试时，振动台发生谐振，振动台的振动幅度比较大，导致待识别区域的中心的位置的变动较大，也即对待识别区域的中心的位置造成干扰。因此，采用目前的方法计算时，导致得到的最大偏移量就比较大，也即对从而得到的也就是说，目前的抑制比测试方法，使获取的最大偏移量的波动较大，从而导致计算的抑制比不稳定，无法真实反映OIS算法的防抖能力。例如如下表1所示，表1中示出了同一频率下各进行6次抑制比测试得到的抑制比的数据，下表1中用X表示每次抑制比测试时的水平方向上的抑制比，用Y表示竖直方向上的抑制比。

表1

如上表1所示，同一个频率下，测试6次，每次得到的抑制比，都存在较大波动，这种波动带来的直接影响就是无法评估当前OIS算法真实的防抖能力。例如振动台震动频率为2Hz时，测试3对应的水平方向上的抑制比X＝16.2，而测试6对应的水平方向上的抑制比X＝35。

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种抑制比测试方法。参照图2，图2为一个实施例中抑制比测试方法的流程示意图，以该方法应用于电子设备，电子设备例如包括平板电脑、笔记本电脑、智能手机、智能手表、照相机等设备，该方法包括以下步骤：

步骤210，当固定有电子设备的振动台振动时，获取电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及防抖功能关闭时拍摄测试图片得到的多个第二图像。

测试图片是用于测试镜头的防抖性能的图卡。测试图片可以包括呈中心对称的待识别区域，待识别区域可以是黑色的圆形区域。当振动台振动带动固定于振动台上的智能终端振动时，摄像头会相对于测试图片运动，即待识别区域的中心相对于摄像头发生偏移。

步骤220，识别各第一图像中的待识别区域以及各第二图像中的待识别区域。

其中，待识别区域的形状包括圆形、椭圆形、长方形、正方形、三角形、十字形中的任意一种。例如，待识别区域为黑色圆形区域时，需要分别识别各第一图像中的黑色圆形区域以及识别各第二图像中的黑色圆形区域。

步骤230，确定各第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度。

本实施例中，参考位置可以为待识别区域的中心。当待识别区域为十字形区域时，参考位置可以为待识别区域的十字形交叉区域的中心，也可以为十字形交叉区域的四个顶点中的任意一个顶点，也可以为例如图3中靠近十字形区域的中心的竖直方向上的任意一条边，如图3所示，图3为一个实施例中待识别区域的示意图。图3中共示出了四条边，四条边中的位于十字形交叉区域左上的一条边301与左上方的黑色方块相邻，四条边中的位于十字形交叉区域左下的一条边302与左下方的黑色方块相邻，四条边中的位于十字形交叉区域右上的一条边303与右上方的黑色方块相邻，四条边中的位于十字形交叉区域右上的一条边304与右下方的黑色方块相邻。

具体的，第一集中程度可以通过数理统计的方法得到，第一集中程度包括各第一图像中的待识别区域中参考位置在水平方向上的集中程度以及在竖直方向上的集中程度。各第一图像中的待识别区域中参考位置在水平方向上的集中程度以及在竖直方向上的集中程度可以通过数理统计的方法来确定，例如可以通过标准差来确定，标准差是反映数据集中程度的一项指标。标准差的计算公式例如为：标准差等于数据集中的各元素与平均值的差的平方和与数据集中的元素的个数的比值，其中，该平均值为数据集中的所有元素的平均值。

本实施例中，可以计算各第一图像中的待识别区域中参考位置的水平方向上的坐标值的标准差，将该标准差作为各第一图像中的待识别区域中参考位置在水平方向上的集中程度。并计算各第一图像中的待识别区域中参考位置的竖直方向上的坐标值的标准差，将该标准差作为各第一图像中的待识别区域中参考位置在竖直方向上的集中程度。

需要说明的是，标准差是对整体数据的数理统计，也即标准差是依据各第一图像中的待识别区域中参考位置的坐标值计算出的统计值，不会因个别“冒尖”的最大值或最小值而造成抑制比的波动大。标准差能够客观地反映待识别区域中参考位置的整体波动程度。其中，个别“冒尖”的最大值或最小值可以参照上述图1所示，图1中的101表示的是最大横坐标值max_x最小横坐标值min_x的差值较大，从而导致计算的抑制比的波动大。

步骤240，确定各第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度。

本步骤与上述步骤230类似，也可以通过算术平均数来确定第二集中程度。

步骤250，根据第一集中程度以及第二集中程度，确定电子设备的摄像头的抑制比。

具体的，根据第二集中程度根据第一集中程度以及第二集中程度，确定电子设备的摄像头的抑制比，可以通过如下方式实现：

根据第二集中程度与第一集中程度的比值，确定电子设备的摄像头的抑制比。

例如，将第二集中程度与第一集中程度的比值作为电子设备的摄像头的抑制比，或者，将该比值乘以某个系数得到摄像头的抑制比。本实施例中对得到抑制比的具体实现方式不进行限制。

本实施例中，当固定有电子设备的振动台振动时，获取电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及防抖功能关闭时拍摄测试图片得到的多个第二图像，识别各第一图像中的待识别区域以及各第二图像中的待识别区域，确定各第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度，确定各第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度，根据第一集中程度以及第二集中程度，确定电子设备的摄像头的抑制比。由于第一集中程度和第二集中程度能够客观地反映待识别区域中参考位置的整体波动程度，不会因个别“冒尖”的最大值或最小值造成抑制比的波动大，从而实现测试出的抑制比比较稳定，能够真实反映摄像头的防抖能力。

参照图4，图4为一个实施例中第一集中程度确定方法的流程示意图。本实施例涉及的是如何确定各第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度的一种可选的实现方式。在上述实施例的基础上，步骤230包括如下步骤：

步骤410，确定各第一图像中参考位置的横坐标值的第一标准差，并确定各第一图像中参考位置的纵坐标值的第二标准差。

其中，第一标准差用于表征第一图像中参考位置在水平方向上的集中程度，第二标准差用于表征第一图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

需要说明的是，第一标准差和第二标准差能够客观地反映第一图像中待识别区域中参考位置的整体波动程度，从而根据第一标准差以及第二标准差来计算抑制比，能够抵抗振动台等的噪声造成计算的抑制比的波动。

步骤420，将第一标准差以及第二标准差作为第一集中程度。

需要说明的是，得到的标准差越小，表示各第一图像中参考位置越稳定。也就是说，第一标准差越小，表示各第一图像中参考位置的横坐标值越稳定；第二标准差越小，表示各第一图像中参考位置的纵坐标值越稳定。第一标准差越大，表示各第一图像中参考位置的横坐标值越离散；第二标准差越大，表示各第一图像中参考位置的纵坐标值越离散。第一标准差越小，得到的水平方向上的抑制比越大，表示电子设备在水平方向上的防抖能力越强，拍摄时得到的画面越稳定。第二标准差越小，得到的竖直方向上的抑制比越大，表示电子设备在竖直方向上的防抖能力越强，拍摄时得到的画面越稳定。

本实施例中，通过确定各第一图像中参考位置的横坐标值的第一标准差，并确定各第一图像中参考位置的纵坐标值的第二标准差，将第一标准差以及第二标准差作为第一集中程度。由于第一标准差和第二标准差能够客观地反映出振动台振动且防抖功能开启时，识别出的待识别区域中参考位置的整体波动程度，不会因个别“冒尖”的最大值或最小值造成抑制比的波动大，进而实现测试出的抑制比比较稳定，能够真实反映摄像头的防抖能力。

参照图5，图5为一个实施例中第二集中程度确定方法的流程示意图。本实施例涉及的是如何确定各第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度的一种可选的实现方式。在上述实施例的基础上，步骤240包括如下步骤：

步骤510，确定各第二图像中参考位置的横坐标值的第三标准差，并确定各第二图像中参考位置的纵坐标值的第四标准差。

其中，第三标准差用于表征各第二图像中参考位置在水平方向上的集中程度，第四标准差用于表征各第二图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

第三标准差越小，表示各第一图像中参考位置的横坐标值越稳定；第四标准差越小，表示各第一图像中参考位置的纵坐标值越稳定。第三标准差越大，表示各第一图像中参考位置的横坐标值越离散；第四标准差越大，表示各第一图像中参考位置的纵坐标值越离散。

需要说明的是，第三标准差和第四标准差能够客观地反映第二图像中待识别区域中参考位置的整体波动程度，从而根据第三标准差以及第四标准差来计算抑制比，能够抵抗振动台等的噪声造成计算的抑制比的波动。

步骤520，将第三标准差以及第四标准差作为第二集中程度。

本实施例中，通过确定各第二图像中参考位置的横坐标值的第三标准差，并确定各第二图像中参考位置的纵坐标值的第四标准差，将第三标准差以及第四标准差作为第二集中程度。由于第三标准差和第四标准差能够客观地反映出振动台振动且防抖功能关闭时，识别出的待识别区域中参考位置的整体波动程度，不会因个别“冒尖”的最大值或最小值造成抑制比的波动大，进而实现测试出的抑制比比较稳定，能够真实反映摄像头的防抖能力。

参照图6，图6为另一个实施例中第一集中程度确定方法的流程示意图。本实施例涉及的是如何确定各第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度的一种可选的实现方式，在上述实施例的基础上，步骤230包括如下步骤：

步骤610，确定各第一图像中参考位置的横坐标值的第一方差，并确定各第一图像中参考位置的纵坐标值的第二方差。

其中，第一方差用于表征第一图像中参考位置在水平方向上的集中程度，第二方差用于表征第一图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

方差等于数据集中各个元素与数据集中所有元素的平均值的差的平方和与所有元素的个数的比值。可以用方差衡量数据集中所有元素的集中程度。方差与上述的标准差均能够客观地反映待识别区域中参考位置的整体波动程度，从而通过根据方差来计算抑制比，能够抵抗振动台等的噪声造成计算的抑制比的波动。

需要说明的是，得到的第一方差越小，表示各第一图像中参考位置越稳定。也就是说，第一方差越小，表示各第一图像中参考位置的横坐标值越稳定；第二方差越小，表示各第一图像中参考位置的纵坐标值越稳定。若第一方差越大，表示各第一图像中参考位置的横坐标值越离散，若第二方差越大，表示各第一图像中参考位置的纵坐标值越离散。第一方差越小，则根据第一方差得到的水平方向上的抑制比越大，表示电子设备在水平方向上的防抖能力越强，拍摄时得到的画面越稳定。第二方差越小，则根据第二方差得到的竖直方向上的抑制比越大，表示电子设备在竖直方向上的防抖能力越强，拍摄时得到的画面越稳定。

步骤620，将第一方差以及第二方差作为第一集中程度。

本实施例中，确定各第一图像中参考位置的横坐标值的第一方差，并确定各第一图像中参考位置的纵坐标值的第二方差，并将第一方差以及第二方差作为第一集中程度，由于第一方差和第二方差能够客观地反映出振动台振动且防抖功能开启时，识别出的待识别区域中参考位置的整体波动程度，不会因个别“冒尖”的最大值或最小值造成抑制比的波动大，进而实现测试出的抑制比比较稳定，能够真实反映摄像头的防抖能力。

参照图7，图7为另一个实施例中第二集中程度确定方法的流程示意图。本实施例涉及的是如何确定各第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度的一种可选的实现方式，在上述实施例的基础上，步骤240包括如下步骤：

步骤710，确定各第二图像中参考位置的横坐标值的第三方差，并确定各第二图像中参考位置的纵坐标值的第四方差。

其中，第三方差用于表征各第二图像中参考位置在水平方向上的集中程度，第四方差用于表征各第二图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

第三方差越小，表示各第二图像中参考位置的横坐标值越稳定；第四方差越小，表示各第二图像中参考位置的纵坐标值越稳定。第三方差越大，表示各第二图像中参考位置的横坐标值越离散；第三方差越大，表示各第二图像中参考位置的纵坐标值越离散。

步骤720，将第三方差以及第四方差作为第二集中程度。

本实施例中，通过确定各第二图像中参考位置的横坐标值的第三方差，并确定各第二图像中参考位置的纵坐标值的第四方差，并将第三方差以及第四方差作为第二集中程度。由于第三方差和第四方差能够客观地反映出振动台振动且防抖功能关闭时，识别出的待识别区域中参考位置的整体波动程度，不会因个别“冒尖”的最大值或最小值造成抑制比的波动大，进而实现测试出的抑制比比较稳定，能够真实反映摄像头的防抖能力。

参照图8，图8为又一个实施例中第一集中程度确定方法的流程示意图。本实施例涉及的是如何确定各第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度的一种可选的实现方式，在上述实施例的基础上，步骤230包括如下步骤：

步骤810，对各第一图像中参考位置的坐标进行直线拟合，获得所拟合的直线的第一斜率。

本实施例中，进行直线拟合时，可以采用最小二乘法或梯度下降法等方法进行直线拟合。拟合出的直线的斜率越小，意味着识别出的待识别区域中参考位置的整体波动程度越小。

本步骤中，拟合得到的第一斜率越小，意味着各第一图像中参考位置越集中。也就是说，得到的第一斜率越小，表示各第一图像中参考位置越稳定。第一斜率越大，表示各第一图像中参考位置越离散。

需要说明的是，通过拟合直线得到的直线的斜率能够客观地反映待识别区域中参考位置的整体波动程度，从而在本实施中，通过根据拟合出的第一斜率来计算抑制比，能够抵抗振动台等的噪声造成计算的抑制比的波动。

步骤820，将第一斜率作为第一集中程度。

需要说明的是，第一斜率越小，则根据第一斜率得到的抑制比越大，表示电子设备的防抖能力越强，拍摄时得到的画面越稳定。

本实施例中，通过对各第一图像中参考位置的坐标进行直线拟合，获得所拟合的直线的第一斜率，并将第一斜率作为第一集中程度。由于第一斜率能够客观地反映出振动台振动且防抖功能开启时，识别出的待识别区域中参考位置的整体波动程度，不会因个别“冒尖”的最大值或最小值造成抑制比的波动大，进而实现测试出的抑制比比较稳定，能够真实反映摄像头的防抖能力。

参照图9，图9为又一个实施例中第二集中程度确定方法的流程示意图。本实施例涉及的是如何确定各第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度的一种可选的实现方式，步骤240包括如下步骤：

步骤910，对各第二图像中参考位置的坐标进行直线拟合，获得所拟合的直线的第二斜率。

本步骤中，拟合得到的第二斜率越小，意味着各第二图像中参考位置越集中。也就是说，得到的第二斜率越小，表示各第一图像中参考位置越稳定。得到的第二斜率越大，表示各第一图像中参考位置越离散。

需要说明的是，通过拟合直线得到的直线的斜率能够客观地反映待识别区域中参考位置的整体波动程度，从而在本实施中，通过根据拟合出的第二斜率来计算抑制比，能够抵抗振动台等的噪声造成计算的抑制比的波动。

步骤920，将第二斜率作为第二集中程度。

本实施例中，对各第二图像中参考位置的坐标进行直线拟合，获得所拟合的直线的第二斜率，并将第二斜率作为第二集中程度。由于第二斜率能够客观地反映出振动台振动且防抖功能关闭时，识别出的待识别区域中参考位置的整体波动程度，不会因个别“冒尖”的最大值或最小值造成抑制比的波动大，进而实现测试出的抑制比比较稳定，能够真实反映摄像头的防抖能力。

参照图10，图10为一个实施例中抑制比确定方法的流程示意图。本实施例涉及的如何根据第一集中程度以及第二集中程度，确定电子设备的摄像头的抑制比的一种可选的实现方式。在上述实施例的基础上，步骤250包括如下步骤：

步骤1010，当振动台静止时，获取拍摄测试图片得到的多个第三图像，并识别各第三图像中的待识别区域。

步骤1020，确定各第三图像中的待识别区域中参考位置的第三集中程度。

本实施例中，第三集中程度可以用标准差、方差、以及对各第三图像中的待识别区域中参考位置进行直线拟合所得到的直线的斜率表示。第三集中程度可以用于排除振动台的稳定性对抑制比测试的影响。在此以将标准差作为第三集中程度为例，第三集中程度包括各第三图像中的待识别区域中参考位置在水平方向上的集中程度以及竖直方向上的集中程度。其中，该水平方向上的集中程度等于各第三图像中的待识别区域中参考位置的横坐标值的标准差，该竖直方向上的集中程度等于各第三图像中的待识别区域中参考位置的纵坐标值的标准差。

本实施例中各第三图像中的待识别区域中参考位置的横坐标值的标准差用STABLE_Y_STD，各第三图像中的待识别区域中参考位置的纵坐标值的标准差用STABLE_Y_STD表示。

步骤1030，获取第二集中程度与第三集中程度的第一差异以及第一集中程度与第三集中程度的第二差异。

需要说明的是，在振动台静止时，电子设备一般不会发生抖动，因此，得到的标准差或者方差或者斜率等于0或者为一个非常接近0的数值。

本实施中，用第一标准差和第二标准差表示第一集中程度。第一标准差用于表征第一图像中参考位置在水平方向上的集中程度，第二标准差用于表征第一图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。为了便于介绍本步骤，第一标准差用OIS_ON_X_STD表示，第二标准差用OIS_OIS_Y_STD表示。

用第三标准差和第四标准差表示第二集中程度。第三标准差用于表征第二图像中参考位置在水平方向上的集中程度，第二标准差用于表征第二图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。第三标准差用OIS_OFF_X_STD表示，第四标准差用OIS_OFF_Y_STD表示。

第一差异包括第二集中程度与第三集中程度在水平方向上的差异和竖直方向上的差异，该水平方向上的差异可以等于OIS_OFF_X_STD与STABLE_X_STD的差值，或者水平方向上的差异等于该差值与OIS_OFF_X_STD的比值。该竖直方向上的差异可以等于OIS_OFF_Y_STD与STABLE_X_STD的差值，或者竖直方向上的差异等于该差值与OIS_OFF_X_STD的比值。

第二差异包括第一集中程度与第三集中程度在水平方向上的差异和竖直方向上的差异，该水平方向上的差异可以等于OIS_ON_X_STD与STABLE_X_STD的差值，或者水平方向上的差异等于该差值与OIS_ON_X_STD的比值。该竖直方向上的差异可以等于OIS_ON_Y_STD与STABLE_X_STD的差值，或者竖直方向上的差异等于该差值与OIS_ON_X_STD的比值。

步骤1040，根据第一差异与第二差异的比值，确定电子设备的摄像头的抑制比。

本实施例中，可以利用上述得到的第一差异中的水平方向上的差异和第二差异中的水平方向上的差异，计算水平方向上的抑制比。水平方向上的抑制比为20×log₁₀((OIS_OFF_X_STD-STABLE_X_STD)/(OIS_ON_X_STD-STABLE_X_STD))。

类似的，可以利用上述得到的第一差异中的竖直方向上的差异和第二差异中的竖直方向上的差异，计算竖直方向上的抑制比。竖直方向上的抑制比为20×log₁₀((OIS_OFF_X_STD-STABLE_X_STD)/(OIS_ON_X_STD-STABLE_X_STD))。

本实施例中，也可以将第一差异中的水平方向上的差异与第二差异中的水平方向上的差异的比值作为水平方向上的抑制比，将第一差异中的竖直方向上的差异与第二差异中的竖直方向上的差异的比值作为竖直方向上的抑制比。本实施例对计算摄像头的抑制比的具体方式不进行限定。

本实施例中，通过获取第二集中程度与第三集中程度的第一差异以及第一集中程度与第三集中程度的第二差异，并根据第一差异与第二差异的比值，确定电子设备的摄像头的抑制比，由于第一集中程度、第二集中程度以及第三集中程度能够客观地反映待识别区域中参考位置的整体波动程度，不会因个别“冒尖”的最大值或最小值造成抑制比的波动大，从而能够进一步提高测试出的抑制比的稳定性，测试出的抑制比能够真实反映摄像头的防抖能力。

在一个实施例中，在上述的步骤250之后，还可以包括如下步骤：

若摄像头的抑制比不小于目标阈值，则确定电子设备的摄像头通过防抖测试。

需要说明的是，若摄像头的抑制比小于目标阈值，则确定电子设备的摄像头未通过防抖测试。

可选的，待识别区域的形状包括圆形、长方形、正方形、三角形、十字形中的任意一种。

应该理解的是，虽然图2以及4-10的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2以及4-10中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

图11为一个实施例的抑制比测试装置1100的结构框图。如图11所示，一种抑制比测试装置1100，应用于电子设备，包括：第一获取模块1101、识别模块1102、第一确定模块1103、第二确定模块1104和第三确定模块1105，其中：

第一获取模块1101，用于当固定有电子设备的振动台振动时，获取所述电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及所述防抖功能关闭时拍摄所述测试图片得到的多个第二图像。

识别模块1102，用于识别各所述第一图像中的待识别区域以及各所述第二图像中的待识别区域。

第一确定模块1103，用于确定各所述第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度。

第二确定模块1104，用于确定各所述第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度。

第三确定模块1105，用于根据所述第一集中程度以及所述第二集中程度，确定所述电子设备的摄像头的抑制比。

本实施例中的抑制比测试装置1100，当固定有电子设备的振动台振动时，获取电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及防抖功能关闭时拍摄测试图片得到的多个第二图像，识别各第一图像中的待识别区域以及各第二图像中的待识别区域，确定各第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度，确定各第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度，根据第一集中程度以及第二集中程度，确定电子设备的摄像头的抑制比。实现测试出的抑制比比较稳定，能够真实反映摄像头的防抖能力。

在一个实施例中，第一确定模块1103，具体用于确定各所述第一图像中参考位置的横坐标值的第一标准差，并确定各所述第一图像中参考位置的纵坐标值的第二标准差；将所述第一标准差以及所述第二标准差作为所述第一集中程度；

其中，所述第一标准差用于表征所述第一图像中参考位置在水平方向上的集中程度，所述第二标准差用于表征所述第一图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

在一个实施例中，第二确定模块1104，具体用于确定各所述第二图像中参考位置的横坐标值的第三标准差，并确定各所述第二图像中参考位置的纵坐标值的第四标准差；将所述第三标准差以及所述第四标准差作为所述第二集中程度；

其中，所述第三标准差用于表征各所述第二图像中参考位置在水平方向上的集中程度，所述第四标准差用于表征各所述第二图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

在一个实施例中，第一确定模块1103，具体用于确定各所述第一图像中参考位置的横坐标值的第一方差，并确定各所述第一图像中参考位置的纵坐标值的第二方差；将所述第一方差以及所述第二方差作为所述第一集中程度；

其中，所述第一方差用于表征所述第一图像中参考位置在水平方向上的集中程度，所述第二方差用于表征所述第一图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

在一个实施例中，第二确定模块1104，具体用于确定各所述第二图像中参考位置的横坐标值的第三方差，并确定各所述第二图像中参考位置的纵坐标值的第四方差；将所述第三方差以及所述第四方差作为所述第二集中程度；

其中，所述第三方差用于表征各所述第二图像中参考位置在水平方向上的集中程度，所述第四方差用于表征各所述第二图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

在一个实施例中，第一确定模块1103，具体用于对各所述第一图像中参考位置的坐标进行直线拟合，获得所拟合的直线的第一斜率；将所述第一斜率作为所述第一集中程度。

在一个实施例中，第二确定模块1104，具体用于对各所述第二图像中参考位置的坐标进行直线拟合，获得所拟合的直线的第二斜率；将所述第二斜率作为所述第二集中程度。

在一个实施例中，第三确定模块1105，具体用于根据所述第二集中程度与所述第一集中程度的比值，确定所述电子设备的摄像头的抑制比。

在一个实施例中，第三确定模块1105，具体用于当所述振动台静止时，获取拍摄所述测试图片得到的多个第三图像，并识别各所述第三图像中的待识别区域；确定各所述第三图像中的待识别区域中参考位置的第三集中程度；获取所述第二集中程度与所述第三集中程度的第一差异以及所述第一集中程度与所述第三集中程度的第二差异；根据所述第一差异与所述第二差异的比值，确定所述电子设备的摄像头的抑制比。

在一个实施例中，装置还可以包括：

第四确定模块，用于若所述摄像头的抑制比不小于目标阈值，则确定所述电子设备的摄像头通过防抖测试。

在一个实施例中，所述待识别区域的形状包括圆形、椭圆形、长方形、正方形、三角形、十字形中的任意一种。

关于抑制比测试装置的具体限定可以参见上文中对于抑制比测试方法的限定，在此不再赘述。上述抑制比测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于电子设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于电子设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种电子设备，其内部结构图可以如图12所示，图12为一个实施例中电子设备的内部结构示意图。该电子设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和麦克风模块。其中，该处理器用于提供计算和控制能力，支撑整个电子设备的运行，处理器可以包括超分辨率处理芯片。存储器可包括非易失性存储介质及内存储器。非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该计算机程序可被处理器所执行，以用于实现以上各个实施例所提供的音频数据处理方法。内存储器为非易失性存储介质中的操作系统计算机程序提供高速缓存的运行环境。麦克风模块用于采集环境声和音频信号。该电子设备可以是有线耳机、蓝牙耳机、可播放音频手表等。

本申请实施例中提供的抑制比测试装置中的各个模块的实现可为计算机程序的形式。该计算机程序可在终端或服务器上运行。该计算机程序构成的程序模块可存储在终端或服务器的存储器上。该计算机程序被处理器执行时，实现本申请实施例中所描述方法的步骤。

本申请实施例还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时执行抑制比测试方法的步骤。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时抑制比测试方法的步骤。

本申请所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)，它用作外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDR SDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (14)

1.一种抑制比测试方法，其特征在于，所述方法包括：

当固定有电子设备的振动台振动时，获取所述电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及所述防抖功能关闭时拍摄所述测试图片得到的多个第二图像；

识别各所述第一图像中的待识别区域以及各所述第二图像中的待识别区域；

确定各所述第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度；

确定各所述第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度；

根据所述第一集中程度以及所述第二集中程度，确定所述电子设备的摄像头的抑制比；

其中，所述第一集中程度和所述第二集中程度采用以下任一种方式表示：

标准差、方差、对相应各图像中的待识别区域中参考位置的坐标进行直线拟合所得到的直线的斜率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定各所述第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度，包括：

确定各所述第一图像中参考位置的横坐标值的第一标准差，并确定各所述第一图像中参考位置的纵坐标值的第二标准差；

将所述第一标准差以及所述第二标准差作为所述第一集中程度；

其中，所述第一标准差用于表征所述第一图像中参考位置在水平方向上的集中程度，所述第二标准差用于表征所述第一图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定各所述第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度，包括：

确定各所述第二图像中参考位置的横坐标值的第三标准差，并确定各所述第二图像中参考位置的纵坐标值的第四标准差；

将所述第三标准差以及所述第四标准差作为所述第二集中程度；

其中，所述第三标准差用于表征各所述第二图像中参考位置在水平方向上的集中程度，所述第四标准差用于表征各所述第二图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定各所述第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度，包括：

确定各所述第一图像中参考位置的横坐标值的第一方差，并确定各所述第一图像中参考位置的纵坐标值的第二方差；

将所述第一方差以及所述第二方差作为所述第一集中程度；

其中，所述第一方差用于表征所述第一图像中参考位置在水平方向上的集中程度，所述第二方差用于表征所述第一图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定各所述第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度，包括：

确定各所述第二图像中参考位置的横坐标值的第三方差，并确定各所述第二图像中参考位置的纵坐标值的第四方差；

将所述第三方差以及所述第四方差作为所述第二集中程度；

其中，所述第三方差用于表征各所述第二图像中参考位置在水平方向上的集中程度，所述第四方差用于表征各所述第二图像中参考位置在竖直方向上的集中程度。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定各所述第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度，包括：

对各所述第一图像中参考位置的坐标进行直线拟合，获得所拟合的直线的第一斜率；

将所述第一斜率作为所述第一集中程度。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述确定各所述第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度，包括：

对各所述第二图像中参考位置的坐标进行直线拟合，获得所拟合的直线的第二斜率；

将所述第二斜率作为所述第二集中程度。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一集中程度以及所述第二集中程度，确定所述电子设备的摄像头的抑制比，包括：

根据所述第二集中程度与所述第一集中程度的比值，确定所述电子设备的摄像头的抑制比。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一集中程度以及所述第二集中程度，确定所述电子设备的摄像头的抑制比，包括：

当所述振动台静止时，获取拍摄所述测试图片得到的多个第三图像，并识别各所述第三图像中的待识别区域；

确定各所述第三图像中的待识别区域中参考位置的第三集中程度；

获取所述第二集中程度与所述第三集中程度的第一差异以及所述第一集中程度与所述第三集中程度的第二差异；

根据所述第一差异与所述第二差异的比值，确定所述电子设备的摄像头的抑制比。

10.根据权利要求1-9任一所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述摄像头的抑制比不小于目标阈值，则确定所述电子设备的摄像头通过防抖测试。

11.根据权利要求1-9任一所述的方法，其特征在于，所述待识别区域的形状包括圆形、椭圆形、长方形、正方形、三角形、十字形中的任意一种。

12.一种抑制比测试装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取模块，用于当固定有电子设备的振动台振动时，获取所述电子设备的防抖功能开启时拍摄测试图片得到的多个第一图像以及所述防抖功能关闭时拍摄所述测试图片得到的多个第二图像；

识别模块，用于识别各所述第一图像中的待识别区域以及各所述第二图像中的待识别区域；

第一确定模块，用于确定各所述第一图像中的待识别区域中参考位置的第一集中程度；

第二确定模块，用于确定各所述第二图像中的待识别区域中参考位置的第二集中程度；

第三确定模块，用于根据所述第一集中程度以及所述第二集中程度，确定所述电子设备的摄像头的抑制比；

其中，所述第一集中程度和所述第二集中程度采用以下任一种方式表示：

标准差、方差、对相应各图像中的待识别区域中参考位置的坐标进行直线拟合所得到的直线的斜率。

13.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至11中任一项所述的方法的步骤。

14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至11中任一项所述的方法的步骤。