CN113658237B - 一种套准结果校正方法及装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种套准结果的校正方法，所述方法在利用视觉图像计算所得套偏值的基础上，融合印材的拉伸形变量以及印刷机加速度等因素生成校正套偏值，从而提高套偏值精度，通过不断调整套偏值获得高精度印刷产品。

Description

一种套准结果校正方法及装置

技术领域

本申请属于印刷方法领域，特别涉及一种套准结果校正方法及装置。

背景技术

多色组印刷机印刷颜色复杂图案一般通过不同色组套叠印刷而形成，在正式印刷之前，需要调试印刷机使多个色组精准配合，从而使印刷而得的印刷品满足印刷精度的要求，这一过程称为套准。高品质印刷品通常要求更高的套准精度，为实现套准精度控制，需要对套偏值进行及时准确的测量，从而不断修正套色参数。

现有技术中，实时检测套偏值的方法包括基于视觉方法的套准方案，通常，基于视觉方法的套准方案首先对色标组进行拍照，再从拍照所得的图像中识别色标影像，再根据所述色标影像确定单个色标区域，后续根据识别的区域在固定时机拍照。

图1示出传统视觉套准方案所用靶标图样，其包括圆形基准靶标和套设于其外部的环形目标靶标，通常套偏值的计算方法为计算目标靶标与基准靶标之间的X方向偏差和Y方向偏差，但是传统套偏值计算方法仅基于图像结果进行计算而没有考虑导致其它因素，因此，直接使用所述套偏值始终存在难以将套色参数调整至高精度的要求。

发明内容

为解决现有技术中的技术问题，本申请提供一种套准结果的校正方法及装置，所述方法在利用视觉图像计算所得套偏值的基础上，融合印材的拉伸形变量以及印刷机加速度等因素生成校正套偏值，从而提高套偏值精度，通过不断调整套偏值获得高精度印刷产品。

本申请的目的在于提供一种套准结果的校正方法，所述方法包括：

获取前次版周的校正套偏值；

根据机器视觉图像获取当次版周的测量套偏值；

根据所述前次版周的校正套偏值与当次版周的校正套偏值计算当次版周的校正套偏值；

获取印材相对拉伸量；

根据所述当次版周的校正套偏值、所述印材相对拉伸量以及印刷机的加速度计算最终套偏值。

在一种可实现的方式中，根据机器视觉图像获取当次版周的套偏值包括：

获取相应版周的目标套准靶标图像；

对所述目标套准靶标图像进行预处理；

在预处理后的目标套准靶标图像上定位基准靶标影像和目标靶标影像；

根据基准靶标影像和目标靶标影像分别确定基准靶标拟合影像与目标靶标拟合影像；

根据所述基准靶标拟合影像与所述目标靶标拟合影像确定相应版周的套偏值。

在一种可实现的方式中，所述根据前次版周的校正套偏值以及当次版周套偏值计算当次版周的校正套偏值，可以根据下式(1)计算：

A'＝preA+(A-preA)×α 式(1)

其中，A'为当次版周的校正套偏值；preA为前次版周的校正套偏值，A为当次版周的测量套偏值，α为滤波系数，并且，0.1≤α≤1。

在本申请中，所述方法使用机组式多色组印刷设备实现，所述机组式印刷机包括个相互独立的色组，沿走纸方向，自第二个色组起，在每个色组的下游均配置一个套准模块，每个套准模块包括色标传感器、图像采集器、延时触发板和处理器，其中，各色组模块的处理器可互相通信。

在本申请中，两个套准模块形成一个拉伸量测量组，每个拉伸量测量组中位于上游的套准模块被标记为第一套准模块，该套准模块中各器件相应地被标记为第一器件，其所处理的物理量被标记为第一物理量，位于下游的套准模块被标记为第二套准模块，该套准模块中各器件相应地被标记为第二器件，其所处理的物理量被标记为第二物理量。

在一种可实现的方式中，所述获取印材相对拉伸量包括：

第一处理器获取第一时间间隔并发送至第二处理器，所述第一时间间隔为第一延时触发板两次被触发的时间间隔；

第二处理器获取第二时间间隔，所述第二时间间隔为第二延时触发板两次被触发的时间间隔，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同；

第一处理器获取第一纵向偏差，并发送至第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；

第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；

第二处理器获取走纸速度；

第二处理器根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

在本实现方式中，根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量，具体可根据下式(2)计算：

Δl＝(Δt₂-Δt₁)×v+y₂-y₁ 式(2)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt₁表示第一时间间隔，Δt₂表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差。

在本可实现的方式中，所述获取第一纵向偏差的方法包括：

获取第一目标靶标图像几何中心坐标；

获取第一目标靶标影像几何中心坐标；

计算第一纵向偏差，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心纵坐标与第一目标靶标影像几何中心纵坐标之差。

相应地，所述获取第二纵向偏差的方法包括：

获取第二目标靶标图像几何中心坐标；

获取第二目标靶标影像几何中心坐标；

计算第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心纵坐标与第二目标靶标影像几何中心纵坐标之差。

在本实现方式中，所述印材相对拉伸量还可以包括：

获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离；

获取本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离；

获取第一校正偏差和第二校正偏差；

根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

可选地，所述根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(3)计算：

Δl＝(Δt₂-Δt₁)×v+y₂-y₁+N₂-M₂+M₁-N₁ 式(3)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt₁表示第一时间间隔，Δt₂表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差，N₁表示第一校正触发距离，M₁表示第一实际触发距离，N₂表示第二校正触发距离，M₂表示第二实际触发距离。

在本实现方式中，所述第一校正触发距离为基于获取第一校正触发距离的版周，在前次版周的第一实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离；相应地，所述第二校正触发距离为基于获取第二校正触发距离的版周，在前次版周的第二实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离。

在另一种可实现的方式中，所述印材相对拉伸量包括：

第一处理器获取第一距离间隔并发送至第二式处理器，所述第一距离间隔为第一延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离；

第二处理器获取第二距离间隔，所述第二距离间隔为第二延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同；

第一处理器获取第一纵向偏差并发送至第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；

第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；

第二处理器获取走纸速度；

第二处理器根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

在本实现方式中，根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(4)计算：

Δl＝ΔL₂-ΔL₁+y₂-y₁ 式(4)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL₁表示第一距离间隔，ΔL₂表示第二距离间隔，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差。

进一步地，获取第一纵向偏差以及第二纵向偏差的方法与前一实现方式中获取相应纵向偏差的方法相同。

在本实现方式中，所述印材相对拉伸量还可以包括：

获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离；

获取当次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离；

获取第一校正偏差和第二校正偏差；

根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

可选地，所述根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(5)计算：

Δl＝ΔL₂-ΔL₁+y₂-y₁+N₂-M₂+M₁-N₁ 式(5)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL₁表示第一距离间隔，ΔL₂表示第二距离间隔，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差，N₁表示第一校正触发距离，M₁表示第一实际触发距离，N₂表示第二校正触发距离，M₂表示第二实际触发距离。

在本实现方式中，所述第一校正触发距离为基于获取第一校正触发距离的版周，在前次版周的第一实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离；相应地，所述第二校正触发距离为基于获取第二校正触发距离的版周，在前次版周的第二实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离。

在一种可实现的方式中，所述根据所述当次版周的校正套偏值与所述印材相对拉伸量计算最终套偏值可以根据下式(6)计算：

B＝A'+Δv/Δt×k×l 式(6)

其中，B表示最终套偏值，Δv/Δt表示印刷机的加速度，即，如果印刷机加速度为正值，则校正方向为正，并且加速度越大，校正强度越大，l表示印材相对拉伸量，即相对拉伸量越大，校正强度越大，k表示版周长与相邻色组走纸长度之商，即相邻色组间走纸长度越长，拉伸或缩短被分散到更多版周，校正强度越弱。

第二方面，本申请还提供一种套准结果校正的程序，所用程序用于执行时实现上述第一方面所述套准结果校正方法的步骤。

第三方面，一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述第一方面所述套准结果校正方法的步骤。

第四方面，一种检测设备，所述检测设备包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行上述第一方面所述套准结果校正方法。

与现有技术相比，本申请提供的方法将基于视觉图像获得的套偏值、印材相对拉伸量以及印刷机的加速度进行有机融合，所获得的套偏值相比于单纯依据视觉图像所获得的套偏值更为准确，采用本方案提供方法所获得的套偏值的准确度可达到0.5像素以上。

附图说明

图1示出传统视觉套准方案所用靶标图样；

图2示出本申请一种套准结果校正方法的流程图；

图3示出本申请优选的单周期靶标图案；

图4示出本申请提供一种印材相对拉伸量的测量方法的流程图；

图5示出本申请提供另一种印材相对拉伸量的测量方法的流程图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致方法的例子。

下面通过具体的实施例对本申请提供的套准结果的校正方法及装置进行详细阐述。

首先，对本方案的使用场景作简要介绍。

在本申请中，所述方法使用机组式多色组印刷设备实现，所述机组式印刷机包括个相互独立的色组，沿走纸方向，自第二个色组起，在每个色组的下游均配置一个套准模块，每个套准模块包括色标传感器、图像采集器、延时触发板和处理器，其中，各套准模块的处理器可互相通信。

在本实例中，两个套准模块形成一个拉伸量测量组，每个拉伸量测量组中位于上游的套准模块被标记为第一套准模块，该套准模块中各器件相应地被标记为第一器件，其所处理的物理量被标记为第一物理量，位于下游的套准模块被标记为第二套准模块，该套准模块中各器件相应地被标记为第二器件，其所处理的物理量被标记为第二物理量。可以理解的是，为获得更为准确和及时的校正套偏值，以相邻两个套准模块为优选。

图2示出本申请一种套准结果校正方法的流程图，如图2所示，所述方法包括以下步骤S100至步骤S500：

步骤S100，获取前次版周的校正套偏值。

在本申请中，所述前次版周的校正套偏是根据所述前次版周之前的一个版周或者多个版周的校正套偏值以及前次版周的套偏值计算而得的。

在本申请中，前次版周可以为当次版周之前的任意一个版周，即，前次版周与当次版周可间隔至少一个版周。当次版周的套偏值计算也可以采用前多个版周的校正套偏值校正与当次版周测量值计算而得到。可以理解的是，选用与当次版周相邻的前一次版周能够获得更为及时准确的校正套偏值，例如，当次版周为第五版周，则选用第四版周的校正套偏值能够获得更为及时准确的校正套偏值，从而在后续版周中获得更高的套色精度。当然，也可以选用与当次版周相隔几个版周作为前次版周，但是这可能会导致当次版周的校正套偏值准确性降低。

相应地，所述前次版周之前次版周可以为所述前次版周之前的任意一个版周，优选地，所述前次版周与其之前次版周之间的间隔版周数量和前次版周与当次版周之间的间隔版周数量相等。

在本申请中，第一次测量时，由于没有前次版周，前次版周校正套偏值可以为预设值，例如，预设为0或者与当次版周的测量套偏值相等；后续版周测量，其校正套偏值均可根据当次版周测量套偏值和前次版周的校正套偏值计算得到。

步骤S200，根据机器视觉图像获取当次版周的测量套偏值。

在本实例中，本步骤可以具体包括以下步骤S201至步骤S205：

步骤S201，获取当次版周的目标套准靶标图像。

在本实例中，所述当次版周的目标套准靶标图像可以由图像采集器采集而得。

可以理解的是，所述目标套准靶标图像中包括基准靶标影像以及套印于其外的目标靶标影像。

可选地，所述图像采集器被延时触发板触发而启动，而延时触发板可以被光电靶标触发。

图3示出本申请优选的单周期靶标图案，如图3所示，在每个靶标周期中，均以光电靶标作为该周期的起始，以标定靶标作为第二个靶标，其余为基准靶标，其中，所述光电靶标用于触发延时触发板，使其可根据预设延时时长/距离触发相应各器件，例如，根据预设延时时长/距离触发图像采集器，所述标定靶标用于校正图像采集器的方向。

特别地，本申请所用图像采集器的视野仅略大于目标套准靶标，使得所采集到的目标套准靶标图像中仅包括唯一一个目标套准靶标的影像，从而提高套偏值的准确度。

在本实例中，所述基准靶标以及目标靶标均为环形，以便于后续的图像处理。

步骤S202，对所述目标套准靶标图像进行预处理。

在本实例中，所述预处理包括对目标套准靶标图像进行滤波处理以及增强对比度等，以除去噪音，提高后续处理的准确度。

在本实例中，所述预处理所用方法可以采用现有技术中任意一种对采集所得图像进行预处理的方案，本申请不做特别限定。

步骤S203，在预处理后的目标套准靶标图像上定位基准靶标影像和目标靶标影像。

在本实例中，本步骤可以采用现有技术中任意一种在可图像中确定特定影像的方法，例如，圆轮廓拟合，Hough找圆等。

可以理解的是，如果所述目标套准靶标图像中目标套准靶标影像不完整，则所确定的是所述目标套准靶标图像中所呈现的影像。

步骤S204，根据基准靶标影像和目标靶标影像分别确定基准靶标拟合影像与目标靶标拟合影像。

在本实例中，对于双环式的目标套准靶标影像，两个环形影像分别确定，也可以同时确定，本申请不做特别限定，以能够更快更准确地确定两个环形影像为优选。

步骤S205，根据所述基准靶标拟合影像与所述目标靶标拟合影像确定相应版周的套偏值。

在本实例中，所述套偏值是指目标靶标拟合影像的几何中心与相应基准靶标拟合影像的几何中心的距离偏差。

在本实例中，两个所述几何中心的偏差包括在X轴方向上(即，与走纸方向相垂直的方向)的偏差以及在Y轴方向上(即，沿走纸方向)的偏差，由于通过调整套色参数仅能够调整在Y轴方向上的偏差。

可以理解的是，根据印刷原理，承印材料仅可能在目标套准靶标图像的Y方向上会产生拉伸或者缩短，而图像中影像的X坐标仅与图像采集器的物理位置有关，因此，在本申请中，图像X方向不需要进行此调整。

进一步地，本申请提供的方案只计算在Y轴方向上的校正套偏值，以下示例如无特别说明，所述偏差、套偏值等表述均仅表示在Y轴方向上的偏差和套偏值。

在本实例中，所述套偏值可以为两个所述几何中心在所述目标套准靶标图像上的像素距离，如前所述，所述像素距离为在Y轴方向上的像素距离，例如，基准靶标的几何中心的坐标为(3，5)，而目标靶标的几何中心的坐标为(2，7)，则两个几何中心的像素距离为7-5＝2个像素。

步骤S300，根据所述前次版周的校正套偏值与当次版周的测量套偏值计算当次版周的校正套偏值。

在本实例中，本步骤可以根据下式(1)计算：

A'＝preA+(A-preA)×α 式(1)

其中，A'为当次版周的校正套偏值；preA为前次版周的校正套偏值，A为当次版周的测量套偏值，α为滤波系数，并且，0.1≤α≤1。

步骤S400，获取印材相对拉伸量。

在本实例中，本步骤包括两种具体实现方式，其中，第一实现方式包括步骤S411至步骤S416，第二种实现方式包括步骤S421至步骤S426。以下分别介绍两种实现方式。

图4示出本申请提供一种印材相对拉伸量的测量方法的流程图，如图4所示，所述方法以距离间隔为基准进行测量，具体包括以下步骤S411至步骤S416：

步骤S411，第一处理器获取第一时间间隔并发送至第二处理器，所述第一时间间隔为第一延时触发板两次被触发的时间间隔。

在本实例中，所述时间间隔是指同一色组在两个版周被触发的时间间隔，这两个版周可以是相邻的两个版周，也可以是不相邻的两个版周，具体如何选择则依据测算对象而具体选取，例如，如果计算相邻两个版周期间承印材料的印材相对拉伸量，则时间间隔的起止时刻分别为所述两个相邻版周该色组分别被触发的时刻，如果计算第一和第三版周期间承印材料的印材相对拉伸量，则时间间隔的起止时刻分别为第一版周以及第三版周该色组分别被触发的时刻。

可以理解的是，为能够更及时准确地调整套色参数，本领域通常会测量相邻版周间承印材料的印材相对拉伸量。

在本实例中，所述第一时间间隔为第一色组在两个当次版周被触发时刻的差值，该差值可被第一处理器获取并被发送至第二处理器。

步骤S412，第二处理器获取第二时间间隔，所述第二时间间隔为第二延时触发板两次被触发的时间间隔，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同。

在本实例中，获取第二时间间隔的方式与获取第一时间间隔的方式相同，在此不再赘述。

特别需要说明的是，获取第二时间间隔的起止时刻与获取第一时间间隔的起止时刻的版周分别相同。例如，如果第一时间间隔为相差一个版周的时间间隔，则第二时间间隔也为相差一个版周的时间间隔；如果第一时间间隔为相差两个版周的时间间隔，则第二时间间隔也为相差两个版周的时间间隔。

步骤S413，第一处理器获取第一纵向偏差，并发送至第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差。

在本实例中，所述纵向是指沿走纸方向。基于此，可以理解的是，纵向偏差是指在走纸方向上的偏差。

在本可实现的方式中，所述获取第一纵向偏差的方法包括步骤S4131至步骤S4133：

步骤S4131，获取第一目标靶标图像几何中心坐标。

在本实例中，本步骤具体可以包括：

获取第一目标靶标图像；

确定第一目标靶标图像几何中心坐标。

其中，所述第一目标靶标图像为图像采集器采集所得图像，该图像承载有第一目标靶标影像，所述第一目标靶标影像可能是完整的，也可能是不完整的，但是随着印制版周的增加，套色参数不断地被修正，第一目标靶标影像越来越趋近位于所述第一目标靶标图像的中央。

进一步地，根据第一目标靶标图像确定其几何中心坐标则可采用现有技术中任意一种确定图像几何中心坐标的方法，本申请对此不做特别限定。

步骤S4132，获取第一目标靶标影像几何中心坐标。

在本实例中，本步骤可以具体包括：

确定第一目标靶标影像；

确定第一目标靶标影像几何中心坐标。

在本实例中，对在第一目标靶标图像中确定第一目标靶标影像的方法不做特别限定，可以使用现有技术中任意一种在图像中确定特定目标影像的方法。

进一步地，本实例示例性地使用环形或者圆形目标靶标进行说明，可以使用现有技术中任意一种确定几何图像几何中心的方法来确定第一目标靶标影像的几何中心，并在与第一靶标图像相同的坐标系中确定第一目标靶标影像几何中心的坐标。

可以理解的是，即使第一目标靶标影像不完整，也可利用几何手段来确定其几何中心，该几何中心可以第一目标靶标图像之外，但是其坐标仍在前述坐标系中确定。

进一步地，对于其它形状可用的目标靶标，亦可使用与示例相同的方式或者等价变换的方式确定其几何中心坐标。

步骤S4133，计算第一纵向偏差，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心纵坐标与第一目标靶标影像几何中心纵坐标之差。

在本实例中，所述第一纵向偏差仅考虑两个几何中心的纵坐标之差，横坐标偏差不会随材料拉伸变化而改变。

步骤S414，第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差。

与获取第一纵向偏差相似地，所述获取第二纵向偏差的方法可以包括如下步骤：

获取第二目标靶标图像几何中心坐标；

获取第二目标靶标影像几何中心坐标；

计算第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心纵坐标与第二目标靶标影像几何中心纵坐标之差。

其中，各步骤的实现方式与计算第一纵向偏差相对应的各步骤的实现方式相同，在此不再赘述。

步骤S415，第二处理器获取走纸速度。

在本实例中，所述走纸速度可以为预设值，也可以为实测量，测量走纸速度的方法可以现有技术中任意一种测量印刷机走纸速度的方法，本申请不做特别限定。

步骤S416，第二处理器根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

在本实例中，本步骤具体可根据下式(2)计算：

Δl＝(Δt₂-Δt₁)×v+y₂-y₁ 式(2)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt₁表示第一时间间隔，Δt₂表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差。

在本实现方式中，所述印材相对拉伸量还可以包括以下步骤S417至步骤S4110：

步骤S417，获取前次版周的第一校正触发距离N₁和第二校正触发距离N₂。

在本实现方式中，所述第一校正触发距离为基于获取第一校正触发距离的版周，在前次版周的第一实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离，例如，本次计算的是第四版周与第五版周期间承印材料的印材相对拉伸量，则第一校正触发距离为第三版周与第四版周之间实际的触发距离加之理论校正量，这个理论校正量由根据套偏值等参数确定，因此，第一校正触发距离是个理论值，该值作为本次版周，在本例中，即作为第四版周与第五版周之间触发距离的理想值。

相应地，所述第二校正触发距离为基于获取第二校正触发距离的版周，在前次版周的第二实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离。

步骤S418，获取本次版周的第一实际触发距离M₁和第二实际触发距离M₂。

本次版周的第一实际触发距离为实测值。理想情况下，第一实际触发距离与第一校正触发距离相等。

可以理解的是，所述第二实际触发距离与所述第一实际触发距离相似。

步骤S419，获取第一校正偏差和第二校正偏差。

在本实例中，所述第一校正偏差为第一校正触发距离N₁与第一实际触发距离M₁之差。

相似地，所述第二校正偏差为第二校正触发距离N₂与第二实际触发距离M₂之差。

步骤S4110，根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

本步骤具体可根据下式(3)计算：

Δl＝(Δt₂-Δt₁)×v+y₂-y₁+N₂-M₂+M₁-N₁ 式(3)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt₁表示第一时间间隔，Δt₂表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差，N₁表示第一校正触发距离，M₁表示第一实际触发距离，N₂表示第二校正触发距离，M₂表示第二实际触发距离。

图5示出本申请提供另一种印材相对拉伸量的测量方法的流程图，如图5所示，所述方法以距离间隔为基准进行测量，具体包括以下步骤S421至步骤S426：

步骤S421，第一处理器获取第一距离间隔并发送至第二处理器，所述第一距离间隔为第一延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离。

在本实例中，采集时机如步骤S411所述，在此不再赘述。

进一步地，走纸距离可使用现有技术中任意一种测量特定时间段内承印材料走纸距离的方法，本申请不做特别限定。

步骤S422，第二处理器获取第二距离间隔，所述第二距离间隔为第二延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同。

本步骤的采集时机如步骤S422所述，在此不再赘述。

进一步地，走纸距离的采集方式与步骤S421相同，以便减小系统误差。

步骤S423，第一处理器获取第一纵向偏差并发送至第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差。

本步骤的实现方式与步骤S413相同，在此不再赘述。

步骤S424，第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差。

本步骤的实现方式与步骤S414相同，在此不再赘述。

步骤S425，第二处理器获取走纸速度。

本步骤的实现方式与步骤S415相同，在此不再赘述。

步骤S426，第二处理器根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

在本实现方式中，根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(4)计算：

Δl＝ΔL₂-ΔL₁+y₂-y₁ 式(4)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL₁表示第一距离间隔，ΔL₂表示第二距离间隔，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差。

进一步地，获取第一纵向偏差以及第二纵向偏差的方法与前一实现方式中获取相应纵向偏差的方法相同。

在本实现方式中，所述印材相对拉伸量还可以包括步骤S207至步骤S210：

步骤S427，获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离；

步骤S428，获取本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离；

步骤S429，获取第一校正偏差和第二校正偏差；

步骤S420，根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量，具体可根据下式(5)计算：

Δl＝ΔL₂-ΔL₁+y₂-y₁+N₂-M₂+N₁-M₁ 式(5)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL₁表示第一距离间隔，ΔL₂表示第二距离间隔，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差，N₁表示第一校正触发距离，M₁表示第一实际触发距离，N₂表示第二校正触发距离，M₂表示第二实际触发距离。

步骤S500，根据所述当次版周的校正套偏值、所述印材相对拉伸量以及印刷机的加速度计算最终套偏值。

在本实例中，所述第一校正触发距离为基于获取第一校正触发距离的版周，在前次版周的第一实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离；相应地，所述第二校正触发距离为基于获取第二校正触发距离的版周，在前次版周的第二实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离。

具体地，本步骤可以根据下式(6)计算：

B＝A'+Δv/Δt×k×l 式(6)

其中，B表示校正套偏值，Δv/Δt表示印刷机的加速度，即，如果印刷机加速度为正值，校正方向为正，并且加速度越大，校正强度越大，l表示印材相对拉伸量，即相对拉伸量越大，校正强度越大，k表示版周长与相邻色组走纸长度之商，即相邻色组间走纸长度越长，拉伸或缩短被分散到更多版周，校正强度越弱。

在本实例中，所述印刷机的加速度可以为实测值，其可为正也可为负，其测量方法可以采用现有技术中任意一种实时测量印刷机加速度的方法。

进一步地，所述版周长或者相邻色组走纸长度为预设值，所述相邻色组指用于计算印材相对拉伸量的两个色组，而非物理上靠近的两个色组。

本申请还提供一种套准结果校正的程序，所用程序用于执行时实现上述第一方面所述套准结果校正方法的步骤。

本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述第一方面所述套准结果校正方法的步骤。

本申请还提供一种检测设备，所述检测设备包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行上述第一方面所述套准结果校正方法。

以上结合具体实施方式和范例性实例对本申请进行了详细说明，不过这些说明并不能理解为对本申请的限制。本领域技术人员理解，在不偏离本申请精神和范围的情况下，可以对本申请技术方案及其实施方式进行多种等价替换、修饰或改进，这些均落入本申请的范围内。本申请的保护范围以所附权利要求为准。

Claims (8)

1.一种套准结果的校正方法，其特征在于，所述方法包括：

获取前次版周的校正套偏值；

根据机器视觉图像获取当次版周的测量套偏值；

根据所述前次版周的校正套偏值与当次版周的测量套偏值计算得到当次版周的校正套偏值；

所述根据前次版周的校正套偏值以及当次版周的测量套偏值计算当次版周的校正套偏值根据下式(1)计算：

A'＝preA+(A-preA)×α 式(1)

其中，A'为当次版周的校正套偏值；preA为前次版周校正套偏值，A为当次版周的测量套偏值，α为滤波系数，并且，0.1≤α≤1；

获取印材相对拉伸量；

根据所述当次版周的校正套偏值、所述印材相对拉伸量以及印刷机的加速度计算最终套偏值；

所述根据所述校正套偏值与所述印材相对拉伸量计算最终套偏值根据下式(6)计算：

B＝A'+Δv/Δt×k×l 式(6)

其中，B表示最终校正套偏值，Δv/Δt表示印刷机的加速度，l表示印材相对拉伸量，k表示版周长度与相邻色组走纸长度之商。

2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，根据机器视觉图像获取当次版周的套偏值包括：

获取当次版周的目标套准靶标图像；

对所述目标套准靶标图像进行预处理；

在预处理后的目标套准靶标图像上定位基准靶标影像和目标靶标影像；

根据基准靶标影像和目标靶标影像分别确定基准靶标拟合影像与目标靶标拟合影像；

根据所述基准靶标拟合影像与所述目标靶标拟合影像确定相应版周的套偏值。

3.根据权利要求1或2所述的校正方法，其特征在于，所述获取印材相对拉伸量包括：

第一处理器获取第一时间间隔并发送至第二处理器，所述第一时间间隔为第一延时触发板两次被触发的时间间隔；

第二处理器获取第二时间间隔，所述第二时间间隔为第二延时触发板两次被触发的时间间隔，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同；

第一处理器获取第一纵向偏差，并发送至第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；

第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；

第二处理器获取走纸速度；

第二处理器根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

4.根据权利要求3所述的校正方法，其特征在于，根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量，具体根据下式(2)计算：

Δl＝(Δt₂-Δt₁)×v+y₂-y₁ 式(2)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt₁表示第一时间间隔，Δt₂表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差。

5.根据权利要求1或2所述的校正方法，其特征在于，所述印材相对拉伸量包括：

第一处理器获取第一距离间隔并发送至第二处理器，所述第一距离间隔为第一延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离；

第二处理器获取第二距离间隔，所述第二距离间隔为第二延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同；

第一处理器获取第一纵向偏差并发送至第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；

第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；

第二处理器获取走纸速度；

第二处理器根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

6.根据权利要求5所述的校正方法，其特征在于，根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体根据下式(4)计算：

Δl＝ΔL₂-ΔL₁+y₂-y₁ 式(4)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL₁表示第一距离间隔，ΔL₂表示第二距离间隔，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述套准结果校正方法的步骤。

8.一种检测设备，所述检测设备包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有被所述一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行权利要求1至6任一项所述套准结果校正方法。