CN113643387B

CN113643387B - 寻找fpi响应中心点的往复式边界检索的方法及其验证方法

Info

Publication number: CN113643387B
Application number: CN202111195215.XA
Authority: CN
Inventors: 黄锦标; 郭斌
Original assignee: Shenzhen Haippi Nanooptical Technology Co ltd
Current assignee: Shenzhen Haippi Nanooptical Technology Co ltd
Priority date: 2021-10-14
Filing date: 2021-10-14
Publication date: 2022-02-22
Anticipated expiration: 2041-10-14
Also published as: CN113643387A

Abstract

本申请提出了一种寻找FPI响应中心点的往复式边界检索方法及其验证方法，所述方法利用XY滑台数据标定系统对固定在测试平台上的FPI响应圆芯片进行检测，所述XY滑台标定系统包括电机、XY滑台和光谱采集设备，所述光谱采集设备以第一步进值从所述FPI响应圆芯片的响应范围外部向所述FPI响应圆芯片的响应范围内部运行并扫描，获取各采集点的光谱强度值；响应于两相邻的采集点的光谱强度值从小于预设光谱强度阈值变更为大于预设光谱强度阈值，确定第一边界区间。通过利用多分法的思路进行往复式的边界检索，能够减小光谱采集设备的往返路程，进而大大缩短了寻找边界点的时间，提高检索的边界点的精确度，提高了高光谱平台的标定或测试速度，实现快速转产。

Description

寻找FPI响应中心点的往复式边界检索的方法及其验证方法

技术领域

本申请属于于高光谱成像技术领域，具体涉及一种寻找FPI响应中心点的往复式边界检索的方法及其验证方法。

背景技术

在高光谱图像领域使用的FPI响应圆芯片，通常需要标定其透过率、反射率等参数，对芯片上每一个点进行光谱分析，就需要寻找一个基准点对其进行数据测试与标定。

在此之前，判断FPI边界点与中心点是检测人员以目测的方式估计的，一步一步调节XY滑台坐标值，通过观察光谱采集设备在每一个坐标点的光谱曲线图形，判断是否进入FPI响应圆芯片内，从而估计边界点所在坐标值，进而计算FPI中心点。

其缺陷在于：这样采用目测的方式估计边界点，存在着较大的误差，由于判断FPI响应圆芯片边界点与中心基准点不准确，扫描结果中将会有大量无效的数据，浪费了大量的时间。

有鉴于此，提出一种寻找FPI响应中心点的往复式边界检索方法及其验证方法是非常具有意义的。

发明内容

为了解决现有寻找FPI响应中心存在误差较大、边界检索效率低等问题，本申请提供一种寻找FPI响应中心点的往复式边界检索方法及其验证方法，以解决在寻找FPI边界点以及响应中心点时存在的技术缺陷问题。

第一方面，本申请提出了一种寻找FPI响应中心点的往复式边界检索方法，所述方法利用XY滑台数据标定系统对固定在测试平台上的FPI响应圆芯片进行检测，所述XY滑台标定系统包括电机、XY滑台和光谱采集设备，所述方法包括以下步骤：

步骤S1：利用所述光谱采集设备以第一步进值从所述FPI响应圆芯片的响应范围外部向所述FPI响应圆芯片的响应范围内部运行并扫描，获取各采集点的光谱强度值；

步骤S2：响应于两相邻的采集点的光谱强度值从小于预设光谱强度阈值变更为大于预设光谱强度阈值，确定第一边界区间；

步骤S3：以第二步进值从所述第一边界区间中大于预设光谱强度阈值的采集点向小于预设光谱强度阈值的采集点运行并扫描，获取各采集点的光谱强度值；

步骤S4：响应于两相邻的采集点的光谱强度值从大于预设光谱强度阈值变更为小于预设光谱强度阈值，并确定第二边界区间；以及

步骤S5：重复上述步骤S2、S3和S4直至所述边界区间满足预定精度要求，并确定以所述边界区间内大于所述预设光谱强度阈值的采集点作为边界点。

通过利用多分法的思路进行往复式的边界检索，能够减小光谱采集设备的往返路程，进而大大缩短了寻找边界点的时间，提高检索的边界点的精确度，提高了高光谱平台的标定或测试速度，实现快速转产。

进一步优选的，两相邻的采集点之间的间距等于其上一步骤中所述步进值的大小。步进值的大小可以根据实际需求灵活设定，缩短寻找边界点的时间，提高检索效率。

进一步优选的，所述第一边界区间为以所述第一步进值为间距的两采集点之间的区间，所述第二边界区间为以所述第二步进值为间距的两采集点之间的区间。

进一步优选的，取等分第一边界区间后数值作为所述第二步进值的大小。通过往返检索，不断缩小检索区间，逐步逼近边界点的真实位置，仅需增加检索的次数，提高精度至设备极限以实现设备的利用率最大化，降低量产成本。

进一步优选的，所述FPI响应圆芯片的响应范围内部的光谱强度值大于所述预设光谱强度阈值，所述FPI响应圆芯片的响应范围外部的光谱强度值小于所述预设光谱强度阈值。设计光谱强度阈值变量，完成FPI芯片全部或局部筛选，阈值可依据实际应用场景确定或按照客户要求修改，灵活方便。

第二方面，本申请提出了一种寻找FPI响应中心点的方法，采用第一方面任一所述的往复式边界检索方法，该方法还包括以下步骤：

步骤A：取所述FPI响应圆芯片内部的任意一点作为所述光谱采集设备的起始点，扫描得到所述FPI响应圆芯片内的一条水平方向的弦；

步骤B：按所述往复式边界检索方法确定此弦上的两个边界点，则所述FPI响应中心点的水平坐标即为此两个边界点的水平坐标的平均值，并记录此水平坐标的数值；

步骤C：将所述光谱采集设备的水平坐标固定在此所述FPI响应中心的水平坐标上，继续按所述往复式边界检索方法寻找垂直方向上所述FPI响应圆芯片的两个边界点，则所述FPI响应中心的垂直坐标即为此两个边界点的垂直坐标的平均值，记录此垂直坐标的数值；

步骤D：整理并记录保存所述FPI响应中心点的水平坐标与垂直坐标，得到所述FPI响应中心的中心点坐标。

通过往复式的边界检索边界点，过滤掉大部分无关的点，快速寻找边界点，并计算出FPI芯片的响应中心点，大大缩短了边界点以及中心点的寻找时间，提高了高光谱平台的标定以及测试速度，实现快速转产。

第三方面，本申请提出了一种FPI边界点的验证方法，采用第一方面任一所述的往复式边界检索方法，该方法还包括以下步骤：

步骤a：先读取预先保存的边界点坐标值，将所述光谱采集设备的垂直坐标移动到中心点的垂直坐标处；

步骤b：在验证区间内以验证步进值扫描并测量光谱强度值，寻找光谱强度值从小于所述预设光谱强度阈值到大于所述预设光谱强度阈值的点;

步骤c：记录此时左边界点和右边界点的水平坐标数值；

步骤d：将所述光谱采集设备的水平坐标移动到步骤c得到的中心点的水平坐标处，重复步骤b；

步骤e：记录此时上边界点和下边界点的垂直坐标数值；

步骤f：比较记录的各坐标数值与预先保存的边界点坐标值是否一致。

进一步优选的，还包括：

步骤g：若步骤d比较结果不一致则说明此时所述FPI响应圆芯片的边界点与预先保存的边界点存在偏差，将所述光谱采集设备的垂直坐标移动到步骤e得到的中心点的垂直坐标处，重复步骤b和c。

通过往复式检索边界点的方法对FPI芯片的边界点进行快速验证，可以快速寻找到此FPI的边界点，进而快速寻找到FPI的测试基准点，提高批量测定的效率。

进一步优选的，所述方法适用于所述FPI响应圆芯片的中心点坐标的验证。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当一个或多个程序被一个或多个处理器执行，使得一个或多个处理器实现如第一方面中任一实现方式描述的方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如第一方面中任一实现方式描述的方法。

与现有技术相比，本申请的有益成果在于：

（1）通过利用多分法的思路进行往复式的边界检索，能够减小光谱采集设备的往返路程，进而大大缩短了寻找边界点的时间，提高检索的边界点的精确度，提高了高光谱平台的标定或测试速度，实现快速转产。

（2）通过往复式的边界检索边界点，过滤掉大部分无关的点，快速寻找边界点，并计算出FPI芯片的响应中心点，大大缩短了边界点以及中心点的寻找时间，提高了高光谱平台的标定以及测试速度，实现快速转产。

附图说明

包括附图以提供对实施例的进一步理解并且附图被并入本说明书中并且构成本说明书的一部分。附图图示了实施例并且与描述一起用于解释本申请的原理。将容易认识到其它实施例和实施例的很多预期优点，因为通过引用以下详细描述，它们变得被更好地理解。附图的元件不一定是相互按照比例的。同样的附图标记指代对应的类似部件。

图1为本发明的一个实施例一种寻找FPI响应中心点的往复式边界检索方法的流程示意图；

图2为本发明的一个实施例一种寻找FPI响应中心点的往复式边界检索方法的具体步骤的示意图；

图3为本发明的一个实施例一种寻找FPI响应中心点的方法的流程示意图；

图4为本发明的实施例一种寻找FPI响应中心点的方法的示意图；

图5为本发明的实施例一种寻找FPI响应中心点的方法的另一个示意图；

图6为本发明的一个实施例一种FPI边界点的验证方法的流程示意图；

图7为本发明的实施例中验证FPI边界点的与测试基准点的流程示意图；

图8是适于用来实现本申请实施例的电子设备的计算机装置的结构示意图。

具体实施方式

在以下详细描述中，参考附图，该附图形成详细描述的一部分，并且通过其中可实践本申请的说明性具体实施例来示出。对此，参考描述的图的取向来使用方向术语，例如“顶”、“底”、“左”、“右”、“上”、“下”等。因为实施例的部件可被定位于若干不同取向中，为了图示的目的使用方向术语并且方向术语绝非限制。应当理解的是，可以利用其他实施例或可以做出逻辑改变，而不背离本申请的范围。因此以下详细描述不应当在限制的意义上被采用，并且本申请的范围由所附权利要求来限定。

图1示出了本申请的实施例公开了一种寻找FPI响应中心点的往复式边界检索方法的流程示意图，如图1所示，所述方法利用XY滑台数据标定系统对固定在测试平台上的FPI响应圆芯片进行检测，所述XY滑台标定系统包括电机、XY滑台和光谱采集设备，此实施例中的光谱采集设备设置为光谱仪。

所述方法包括以下步骤：

所述FPI响应圆芯片的响应范围内部的光谱强度值大于所述预设光谱强度阈值，所述FPI响应圆芯片的响应范围外部的光谱强度值小于所述预设光谱强度阈值。

两相邻的采集点之间的间距等于其上一步骤中所述步进值的大小，所述第一边界区间为以所述第一步进值为间距的两采集点之间的区间，所述第二边界区间为以所述第二步进值为间距的两采集点之间的区间。

通过利用多分法的思路进行往复式的边界检索，步进值的大小可以根据实际需求灵活设定，能够减小光谱采集设备的往返路程，进而大大缩短了寻找边界点的时间，通过往返检索，不断缩小检索区间，逐步逼近边界点的真实位置，仅需增加检索的次数，提高检索的边界点的精确度，提高精度至设备极限以实现设备的利用率最大化，提高了高光谱平台的标定或测试速度，实现快速转产，降低量产成本。

在具体实施例中，在使用电机、XY滑台和光谱采集设备搭建的XY滑台数据标定系统的二维平面内，设定FPI响应圆芯片的光谱强度阈值为g_SpectrumSum，x_min、x_max、y_min、y_max是X、Y电机寻找FPI响应圆的区域，此区域必须将FPI响应圆包含在内，电机的步进值设定为step。

其具体步骤阐述如下，如图2所示，此实施例为在垂直坐标为yc的弦上，检索其左边界点：

（1）、第1轮检索，将光谱采集设备移动到FPI响应圆外，向圆内按step0步进运行，设小于阈值的点坐标为left1，设大于阈值的点坐标为right1，则right1 - left1 =step0。

例如，从x_min到x_max按照step0 步进运行，x_min = 5，x_max = 28，step0 = 3，光谱采集设备将在X坐标为5、8、11 … 26等8个坐标点检测光谱强度值，发现x = 8处，光谱强度值小于阈值，x = 11处，光谱强度值大于阈值，即可判断边界点在8与11之间，所以left1 = 8，right1 = 11。

（2）、第2轮检索，此时光谱采集设备right1坐标上，将left1到right1的区间等分成m段，设定step1 = (right1 - left1) / m，设小于阈值的点坐标为left2，设大于阈值的点坐标为right2，则right2 - left2 = step1。

例如，从right1 = 11到left1 = 8的区间检索，将区间等分成6份，step1 = (11-8) / 6 = 0.5，光谱采集设备将在X坐标为11、10.5、10 … 8等7个坐标点检测光谱强度值，发现x = 10处，光谱强度值大于阈值，x = 9.5处，光谱强度小于阈值，即可判断边界点在9.5与10之间，所以left2 = 9.5，right2 = 10。

（3）、第3轮检索，此时光谱采集设备在left2坐标上，将left2到right2的区间等分成n份，设定step2 = (right2 - left2) / n，设小于阈值的点坐标为left3，设大于阈值的点坐标为right3，则right3 - left3 = step2。

例如，从left2 = 9.5到right2 = 10的区间检索，将区间等分成5份，step2 =(10- 9.5) / 5 = 0.1，光谱采集设备将在X坐标为9.5、9.6、9.7 … 10等6个坐标点检测光谱强度值，发现x = 9.7处，光谱强度值小于阈值，x = 9.8处，光谱强度大于阈值，即可判断边界点在9.7与9.8之间，所以left3 = 9.7，right3 = 9.8。

（4）、继续执行2、3步骤，直到stepi(i=1,2,3,…) 达到我们需要的准确度，即可停止检索。

并得出结论：边界点的坐标值为最后一轮检索后的FPI响应圆内的坐标点。采用上述方法继续对其他边界点进行检索。

第二方面，本申请的实施例公开了一种寻找FPI响应中心点的方法，采用上述的往复式边界检索方法，如图3所示，该方法还包括以下步骤：

具体步骤如下：

1) 、从y_min到y_max以stepY为步进值间断步进Y电机，每一个Y坐标进行一次粗略行扫描，行扫描时从x_min到x_max连续运行X电机，后台不断读取其光谱强度值，使光谱采集设备走一条S形路线（如图4所示），统计每一个Y坐标行扫描时光谱强度值大于阈值g_SpectrumSum的次数，将次数最多的Y坐标值记为yc，则yc即为最靠近FPI水平直径的一条弦的坐标值；

如图4中实例所示，光谱采集设备运行路线全程为： (x_min, y_min) → (x_max,y_min) → (x_max, y_min + stepY) → (x_min, y_min + stepY) → (x_min, y_min +2stepY) → (x_max, y_min + 2stepY) → (x_max, y_min + 3stepY) → (x_min, y_min + 3stepY)，此运行路线共对4个Y坐标进行了行扫描：y_min、y_min + stepY、y_min +2stepY、y_min + 3stepY，对应的光谱强度大于阈值的次数为：0、7、9、0，可以看出当Y坐标为Y_min + 2stepY时，其光谱强度大于阈值的点数最多，即可确定yc = Y_min + 2stepY。

2) 、将光谱采集设备Y坐标运行到yc，使用往复式边界检索方法寻找FPI在yc上的左、右边界点的X坐标值xl、xr，则垂直方向直径的X坐标为：x0 = (xl + xr) / 2，如图5；

3) 、将光谱采集设备X坐标运行到x0，使用往复式边界检测方法寻找FPI在x0上的上、下边界点的Y坐标值y2、y1，则水平方向直径的Y坐标为：y0 = (y1 + y2) / 2；

4) 、将光谱采集设备Y坐标运行到y0，再次使用往复式边界检测方法寻找FPI在y0上的左、右边界点的X坐标值x1、x2；

5)、则可得出结论 FPI 中心点为(x0, y0)，半径是r = max[(x2 - x1), (y2 -y1)] / 2，FPI的X范围是x1 ~ x2，Y范围是y1 ~ y2。

第三方面，本申请实施例公开了一种FPI边界点的验证方法，采用上述的往复式边界检索方法，如图6所示，该方法还包括以下步骤：

步骤c：记录此时左边界点和右边界点的水平坐标数值；

步骤e：记录此时上边界点和下边界点的垂直坐标数值；

步骤f：比较记录的各坐标数值与预先保存的边界点坐标值是否一致；

将寻找到的上、下、左、右边界点保存下来，在批量测试时，仅需验证此边界点是否符合已保存的标记点即可。由于同批次FPI尺寸差异比较小，验证边界点可以快速寻找到此FPI的边界点，进而快速寻找到FPI的测试基准点。

如图7所示，具体的，在批量测试过程中，验证FPI边界点的与测试基准点的步骤如下：

步骤1：先读取保存的边界点坐标值，设左、右边界点的水平坐标值分别为Bound_Left、Bound_Right，上下边界点的垂直坐标值为Bound_Top、Bound_Bottom, 将所述光谱采集设备的垂直坐标移动到中心点的垂直坐标 (Bound_Top + Bound_Bottom) / 2处, 设定step为寻找边界点需要的准确度，k为FPI边界验证的区间扩展系数；

步骤2：先验证左边界点，在水平坐标为Bound_Left – k*step到Bound_Left + k* step的区间内按step长度步进运行所述光谱采集设备，并测量每个点的所述光谱强度值，寻找所述光谱强度值从小于所述阈值到大于所述阈值的点，将大于所述阈值的坐标点记为所述FPI响应圆芯片的左边界点水平坐标值B_Left；

例如，Bound_Left = 9.8，k = 3，step = 0.1，光谱采集设备将在X坐标为9.5、9.6、9.7 …10.1等7个坐标点检测光谱强度值，发现在x = 9.8处，光谱强度小于阈值，在x= 9.9处，光谱强度大于阈值，即可判定左边界点的水平坐标为B_Left = 9.9。

步骤3：再验证右边界点，在水平坐标为Bound_Right – k*step到Bound_Right +k*step的区间内按step长度从所述FPI响应圆芯片外向内步进运行所述光谱采集设备，并测量每个点的所述光谱强度值，寻找所述光谱强度值从小于所述阈值到大于所述阈值的点，将大于所述阈值的坐标点记为所述FPI响应圆芯片的右边界点水平坐标值B_Right；

步骤4：将所述光谱采集设备的水平坐标移动到中心点的水平坐标(B_Left + B_Right) / 2处，先验证上边界点，在垂直坐标为Bound_ Top – k*step到Bound_ Top + k *step的区间内按step长度步进运行所述光谱采集设备，并测量每个点的所述光谱强度值，寻找所述光谱强度值从小于所述阈值到大于所述阈值的点，将大于所述阈值的坐标点记为所述FPI响应圆芯片的上边界点垂直坐标B_ Top；

步骤5：再验证下边界点，在水平坐标为Bound_Bottom – k*step到Bound_Bottom+ k*step的区间内按step长度从所述FPI响应圆芯片外向内步进运行所述光谱采集设备，并测量每个点的所述光谱强度值，寻找所述光谱强度值从小于所述阈值到大于所述阈值的点，将大于所述阈值的坐标点记为所述FPI响应圆芯片的下边界点垂直坐标值B_Bottom；

步骤6:比较记录的B_Top与Bound_Top或者B_Bottom与Bound_Bottom，如果其两组当中有一组的坐标数值不相等，则需将所述光谱采集设备的垂直坐标移动到(B_Top + B_Bottom) / 2处，继续采用所述的往复式边界检索方法重新扫描一次左、右边界点的坐标值。

最后得到所述FPI响应圆芯片的边界点是否与保存的边界点的坐标值一致。如果在验证边界点过程中没有寻找到边界点，将向测试人员给出一个提示，询问是否扩大区间扩展系数k值，或者重新完整地运行往复式边界检索方法来寻找边界点。

此方法同样适用于对所述FPI响应圆芯片的中心点坐标的验证。

下面参考图8，其示出了适于用来实现本申请实施例的电子设备（例如图1所示的服务器或终端设备）的计算机装置600的结构示意图。图8示出的电子设备仅仅是一个示例，不应对本申请实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图8所示，计算机装置600包括中央处理单元（CPU）601和图形处理器（GPU）602，其可以根据存储在只读存储器（ROM）603中的程序或者从存储部分609加载到随机访问存储器（RAM）606中的程序而执行各种适当的动作和处理。在RAM 604中，还存储有装置600操作所需的各种程序和数据。CPU 601、GPU602、ROM 603以及RAM 604通过总线605彼此相连。输入/输出（I/O）接口606也连接至总线605。

以下部件连接至I/O接口606：包括键盘、鼠标等的输入部分607；包括诸如、液晶显示器（LCD）等以及扬声器等的输出部分608；包括硬盘等的存储部分609；以及包括诸如LAN卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分610。通信部分610经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器611也可以根据需要连接至I/O接口606。可拆卸介质612，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动器611上，以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分609。

特别地，根据本公开的实施例，上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本公开的实施例包括一种计算机程序产品，其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分610从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质612被安装。在该计算机程序被中央处理单元（CPU）601和图形处理器（GPU）602执行时，执行本申请的方法中限定的上述功能。

需要说明的是，本申请所述的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的装置、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、可擦式可编程只读存储器（EPROM或闪存）、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器（CD-ROM）、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本申请中，计算机可读介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行装置、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本申请中，计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行装置、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本申请的操作的计算机程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机（例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接）。

附图中的流程图和框图，图示了按照本申请各种实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的装置来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

描述于本申请实施例中所涉及到的模块可以通过软件的方式实现，也可以通过硬件的方式来实现。所描述的模块也可以设置在处理器中。

作为另一方面，本申请还提供了一种计算机可读介质，该计算机可读介质可以是上述实施例中描述的电子设备中所包含的；也可以是单独存在，而未装配入该电子设备中。上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序，当上述一个或者多个程序被该电子设备执行时，使得该电子设备运行上述边界检索方法。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离上述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的（但不限于）具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims

1.一种寻找 FPI 响应中心点的往复式边界检索方法，其特征在于，所述方法利用 XY滑台数据标定系统对固定在测试平台上的 FPI 响应圆芯片进行检测，所述 XY 滑台标定系统包括电机、XY 滑台和光谱采集设备，所述方法包括以下步骤：

步骤 S1：利用所述光谱采集设备以第一步进值从所述 FPI 响应圆芯片的响应范围外部向所述 FPI 响应圆芯片的响应范围内部运行并扫描，获取各采集点的光谱强度值；

步骤 S2：响应于两相邻的采集点的光谱强度值从小于预设光谱强度阈值变更为大于预设光谱强度阈值，确定第一边界区间；

步骤 S3：以第二步进值从所述第一边界区间中大于预设光谱强度阈值的采集点向小于预设光谱强度阈值的采集点运行并扫描，获取各采集点的光谱强度值；

步骤 S4：响应于两相邻的采集点的光谱强度值从大于预设光谱强度阈值变更为小于预设光谱强度阈值，并确定第二边界区间；以及

步骤 S5：重复上述步骤 S2、S3 和 S4 直至所述边界区间满足预定精度要求，并确定以所述边界区间内大于所述预设光谱强度阈值的采集点作为边界点；

其中，所述第一边界区间为以所述第一步进值为间距的两采集点之间的区间，所述第二边界区间为以所述第二步进值为间距的两采集点之间的区间；取等分第一边界区间后数值作为所述第二步进值的大小。

2.根据权利要求 1 所述的寻找 FPI 响应中心点的往复式边界检索方法，其特征在于，两相邻的采集点之间的间距等于其上一步骤中所述步进值的大小。

3.根据权利要求 2 所述的寻找 FPI 响应中心点的往复式边界检索方法，其特征在于，所述 FPI 响应圆芯片的响应范围内部的光谱强度值大于所述预设光谱强度阈值，所述 FPI 响应圆芯片的响应范围外部的光谱强度值小于所述预设光谱强度阈值。

4.一种寻找 FPI 响应中心点的方法，其特征在于，采用如权利要求 1-3 任一所述的往复式边界检索方法，该方法还包括以下步骤：

步骤 A：取所述 FPI 响应圆芯片内部的任意一点作为所述光谱采集设备的起始点，扫描得到所述 FPI 响应圆芯片内的一条水平方向的弦；

步骤 B：按所述往复式边界检索方法确定此弦上的两个边界点，则所述 FPI 响应中心点的水平坐标即为此两个边界点的水平坐标的平均值，并记录此水平坐标的数值；

步骤 C：将所述光谱采集设备的水平坐标固定在此所述 FPI 响应中心的水平坐标上，继续按所述往复式边界检索方法寻找垂直方向上所述 FPI 响应圆芯片的两个边界点，则所述 FPI 响应中心的垂直坐标即为此两个边界点的垂直坐标的平均值，记录此垂直坐标的数值；

步骤 D：整理并记录保存所述 FPI 响应中心点的水平坐标与垂直坐标，得到所述FPI 响应中心的中心点坐标。

5.一种 FPI 边界点的验证方法，其特征在于，采用如权利要求 1- 3 任一所述的往复式边界检索方法，该方法还包括以下步骤：

步骤 a：先读取预先保存的边界点坐标值，将所述光谱采集设备的垂直坐标移动到中心点的垂直坐标处；

步骤 b：在验证区间内以验证步进值扫描并测量光谱强度值，寻找光谱强度值从小于所述预设光谱强度阈值到大于所述预设光谱强度阈值的点;

步骤 c：记录此时左边界点和右边界点的水平坐标数值；

步骤 d：将所述光谱采集设备的水平坐标移动到步骤 c 得到的中心点的水平坐标处，重复步骤 b；

步骤 e：记录此时上边界点和下边界点的垂直坐标数值；步骤 f：比较记录的各坐标数值与预先保存的边界点坐标值是否一致。

6.根据权利要求 5 所述的 FPI 边界点的验证方法，其特征在于，还包括：

步骤 g：若步骤 d 比较结果不一致则说明此时所述 FPI 响应圆芯片的边界点与预先保存的边界点存在偏差，将所述光谱采集设备的垂直坐标移动到步骤 e 得到的中心点的垂直坐标处，重复步骤 b 和 c。

7.根据权利要求 6 所述的 FPI 边界点的验证方法，其特征在于，所述方法适用于所述 FPI 响应圆芯片的中心点坐标的验证。

8.一种电子设备，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求 1-7 中任一所述的方法。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求 1-7 中任一所述的方法。